JP2018119950A - 磁気結合型接地基準プローブ - Google Patents

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Abstract

【課題】試験機器(例えば、デジタルマルチメータ(DMM))と共に使用するための磁気結合型接地基準プローブを提供する。【解決手段】磁気結合型接地基準プローブ116は磁石132を囲繞する絶縁筐体120Aを含む。磁石132は、オペレータによって扱われているときに磁石132が高電位供給源と接触しないように、接地基準に結合されていないときに絶縁筐体120Aの空洞の中へ自律的に退避し得る。少なくともいくつかの実装例では、筐体120Aの絶縁材料の少なくとも一部分は、磁石132が接地基準面と物理的に接触する一方で、十分な沿面経路及び空間経路を提供できるように圧縮可能であってもよい。【選択図】図7

Description

本開示は、全般的には、電気測定機器及び/又は電子測定機器の試験に関し、より詳しくは、かかる測定機器のための磁気結合型接地基準プローブに関する。
高エネルギ環境下における作業は、使用され得る用具の種類を制限する多くの安全予防策を必要とする。この環境内のエンジニア又は技術者(「オペレータ」)はまた、用具を操作するための能力を阻害し得る、重く分厚い個人用防護具(personal protective equipment、PPE)の装備を着用することが求められる場合がある。多くの種類の測定機器が適切に機能するために、接地基準が必要である。例えば、これは、デジタルマルチメータ(digital multimeter、DMM)のための試験リード線の形態であることができる。試験リード線は、典型的に、接続のためのプローブ又はアリゲータクリップを収容することができる。プローブ及びアリゲータクリップは、不適切に使用された場合、潜在的に危険であり得る金属接続点を有し、重い手袋を着用しながら把持することは難しい。
プローブなどの測定具を備えた電気試験リード線は、DMMと共に使用されて、パネル又は回路の端子ブロックとDMMを手動で接続し、電気測定値を取得する。本試験リード線によって電気測定値を得る場合、オペレータは、通常、両手、つまり共通プローブ又は接地プローブ(典型的には黒色)を把持するための手、及び正電圧プローブ(典型的には赤色)を把持するための手、を使用する必要がある。このため、DMMを把持及び/又は操作するか、又は書き留めるか若しくはメモを取るための自由になる手がない。
したがって、使用者に安全かつ効率的な接地接続を提供しつつ、制御パネル又は他の回路の電圧測定値を取るときに少なくとも片手が自由であることも可能にすることは有利であろう。
特開2015−064357
測定装置と共に使用するための接地基準プローブは、筐体であって、底部周縁部及び底部周縁部から筐体の中へ上方に延在する下向きの凹部を有し、絶縁材料から形成されている、筐体と、筐体に移動可能に結合された導電性磁石であって、磁石は、底面を有し、磁石は、磁石の底面が底部周縁部の上の凹部内に配置される上昇位置と、磁石の底面が底部周縁部の近接に配置される下降位置との間で移動可能である、導電性磁石と、上昇位置において磁石を付勢するように動作可能に結合された付勢駆動装置であって、付勢駆動装置が磁石上に上方向の磁力を及ぼし、その磁力が、筐体の底部表面が強磁性材料に隣接して配置されたときに磁石上に及ぼされる下方向の磁力よりも小さい、付勢駆動装置と、磁石と電気的に結合された結合導体であって、測定装置と電気的に結合可能である試験リード線と電気的に結合するようにサイズ決定及び寸法決定されている、結合導体と、を含むと要約することができる。付勢駆動装置は、圧縮ばねを含み得る。
接地基準プローブは、結合導体と磁石との間で電気的に結合された可撓性ワイヤを更に含み得る。筐体は、基部部分及び被覆部分を含み得、基部部分が少なくとも1つの締結具によって被覆部分に固設されている。筐体は、オペレータが筐体を握持することを可能にする対向する凹部を含み得る側壁を有し得る。結合導体は、筐体の上部表面内の凹部の中に成形され得る。筐体の凹部は、開口を含み得、磁石は、筐体内の凹部の中の開口を通って延在する突起を含み得る。付勢駆動装置は、突起の少なくとも一部分の周囲に配置された圧縮ばねを含み得る。
磁石の突起は、開口を含み得、接地基準プローブは、磁石の開口を介して磁石に結合された締結具を更に含み得、締結具が磁石の突起の少なくとも一部分の周囲に配置された圧縮ばねを保持する。
測定装置は、測定装置本体と、筐体であって、底部周縁部及び底部周縁部から筐体の中へ上方に延在する下向きの凹部を有し、絶縁材料から形成されている、筐体、筐体に移動可能に結合された導電性磁石であって、磁石は、底面を有し、かつ磁石は、磁石の底面が底部周縁部の上の凹部内に配置される上昇位置と、磁石の底面が底部周縁部の近接に配置される下降位置との間で移動可能である、導電性磁石、及び上昇位置において磁石を付勢するように動作可能に結合された付勢駆動装置、を備える、接地基準プローブと、接地基準プローブの磁石を測定装置本体に物理的かつ電気的に結合する試験リード線と、を備えると要約することができる。接地基準プローブの付勢駆動装置は、圧縮ばねを含み得る。接地基準プローブの筐体は、基部部分及び被覆部分を含み得、基部部分が少なくとも1つの締結具によって被覆部分に固設されている。接地基準プローブの筐体は、オペレータが筐体を握持することを可能にする対向する凹部を含む側壁を有し得る。接地基準プローブの筐体の凹部は、開口を含み得、磁石は、筐体の凹部の中の開口を通って延在する突起を含み得る。接地基準プローブの付勢駆動装置は、突起の少なくとも一部分の周囲に配置された圧縮ばねを含み得る。
接地基準プローブの磁石の突起は、開口を含み得、接地基準プローブは、磁石の開口を介して磁石に結合された締結具を更に含み得、締結具が磁石の突起の少なくとも一部分の周囲に配置された圧縮ばねを保持する。
測定装置と共に使用するための接地基準プローブは、基部部分及び被覆部分を有する絶縁筐体であって、基部部分が被覆部分に結合され、基部部分が底部周縁部及び底部周縁部から上方に延在する下向きの凹部を備える、絶縁筐体と、筐体の基部部分に移動可能に結合された導電磁石であって、磁石が底面を有し、磁石は、磁石の底面が底部周縁部の上の凹部内に配置される上昇位置と、磁石の底面が底部周縁部の近接に配置される下降位置との間で移動可能である、導電性磁石と、上昇位置において磁石を付勢するように動作可能に結合された付勢駆動装置と、を含むと要約することができる。
接地基準プローブは、磁石と電気的に結合された結合導体であって、測定装置と電気的に結合可能である試験リード線と電気的に結合するようにサイズ決定及び寸法決定されている、結合導体を更に含み得る。
接地基準プローブは、結合導体と磁石との間で電気的に結合された可撓性ワイヤを更に含み得る。筐体の凹部は、開口を含み得、磁石は、筐体の凹部の中の開口を通って延在する突起を含み得、ばねは、突起の少なくとも一部分の周囲に配置され得る。
磁石の突起は、開口を含み得、接地基準プローブは、磁石の開口を介して磁石に結合された締結具を更に含み得、締結具が磁石の突起の少なくとも一部分の周囲に配置されたばねを保持する。
図面において、同一の参照番号は、同様の要素又は作用を特定する。図面における構成要素のサイズ及び相対位置は、必ずしも尺度どおりに描かれていない。例えば、様々な要素の形状及び角度は、必ずしも尺度どおりに描かれてはおらず、これらの要素のいくつかは、図面の読みやすさを高めるように任意に拡大され、位置付けられている場合がある。更に、描かれるような要素の特定の形状は、必ずしも特定の要素の実際の形状に関する任意の情報を示唆することを意図するものではなく、単に、図面の認識のしやすさのために選択されている場合がある。
図1は、例証の一実装例に従う、磁気結合型接地基準プローブが回路の測定値を取得するためにオペレータによって使用され得る環境の絵図である。 図2は、図1に示される磁気結合型接地基準プローブの上部斜視図である。 図3は、磁気結合型接地基準プローブの底部斜視図である。 図4は、磁気結合型接地基準プローブの上部平面図である。 図5は、磁気結合型接地基準プローブの底部平面図である。 図6は、磁気結合型接地基準プローブの立面図である。 図7は、磁気結合型接地基準プローブの移動可能な磁石が上昇位置に配置されたときに図4の線7−7の沿って取られた、磁気結合型接地基準プローブの部分的な立面図である。 図8は、磁気結合型接地基準プローブの移動可能な磁石が下降位置に配置されたときに図4の線7−7に沿って取られた、磁気結合型接地基準プローブの部分的な立面図である。 図9は、磁気結合型接地基準プローブの移動可能な磁石が上昇位置に配置されたときに図4の線7−7に沿って取られた、磁気結合型接地基準プローブの部分的な上部立面図である。 図10は、中の様々な構成要素を示す磁気結合型接地基準プローブの展開された上部斜視図である。 図11は、中の様々な構成要素を示す磁気結合型接地基準プローブの展開された底部斜視図である。 図12は、例証の一実装例に従う、磁気結合型接地基準プローブの立面図である。 図13は、図12の磁気結合型接地基準プローブの底部平面図である。 図14は、磁気結合型接地基準プローブが強磁性材料の表面に隣接して配置されたときの図12の磁気結合型接地基準プローブの立面図である。
以下の説明では、開示される様々な実装例を完全に理解するために、特定の詳細を記載する。しかしながら、実装例が、これらの具体的な詳細のうちの1つ以上を伴わないか、又は他の方法、構成要素、材料などを伴って、実施され得ることを当業者は理解するであろう。他の例では、コンピュータシステム、サーバコンピュータ及び/又は通信ネットワークに関連付けられる周知の構造体は、実装例の説明を必要以上に不明瞭にすることを避けるために、詳細には示されていないか又は記載されていない。
文脈上別段の解釈が必要でない限り、次に続く明細書及び特許請求の範囲を通して、語彙「備える(comprising)」は、「含む(including)」と同義であり、かつ包含的又は非限定的である(例えば、追加の列挙されていない要素又は方法の作用を排除しない)。
本明細書を通じて「一実装例」又は「実装例」への言及は、実装例に関して記述された特定の特徴部、構造体、又は特性が少なくとも1つの実装例に含まれることを意味する。このため、本明細書を通じて様々な位置で語句「一実装例では」又は「実装例では」が見られるが、必ずしも同じ実装例を指しているとは限らない。更に、特定の特徴部、構造体、又は特性が、1つ以上の実装例において任意の好適な方法で組み合わされてもよい。
本明細書及び添付の特許請求の範囲において使用するときに、単数形「a」、「an」及び「the」は、その内容について別段の明確な指示がない限り、複数の指示対象を含む。用語「又は」は、全般的に、その内容について別段の明確な指示がない限り、「及び/又は」を含む趣旨で用いられることにも留意しなければならない。
本明細書に提供の見出し及び要約は、便宜上のためだけであり、実装例の範囲又は意味を解釈するものではない。
本開示の1つ以上の実装例は、試験機器(例えば、DMM)と共に使用するための磁気結合型接地基準プローブを提供するシステム及び方法を対象とする。本開示の磁気結合型接地基準プローブは、典型的な試験プローブ又はアリゲータクリップの代わりに使用されてもよい。少なくともいくつかの実装例では、磁気結合型接地基準プローブが提供され、これは、導電磁石(例えば、永久磁石、電磁石)を囲繞する絶縁筐体を含む。筐体は、任意の高電位供給源とオペレータとの間に絶縁体を提供し、それに従って、接地基準(例えば、パネル筐体)を試験機器に接続する安全な方法を提供する。少なくともいくつかの実装例では、磁石は、オペレータによって扱われているときに導電磁石が高電位供給源と接触しないように、接地基準に結合されていないときに絶縁筐体の空洞の中へ自律的に退避し得る。少なくともいくつかの実装例では、筐体の絶縁材料の少なくとも一部分は、磁石が接地基準面(例えば、パネル筐体の平面)と物理的に接触する一方で、十分な沿面経路及び空間経路を提供できるように圧縮可能であってもよい。有利には、少なくともいくつかの実装例では、絶縁筐体のサイズ及び寸法により、オペレータが分厚い手袋を着用したままでも、オペレータによる磁気結合型接地基準プローブの容易な取り扱いを可能にする。更に、磁石及び絶縁筐体は、磁気結合型接地基準プローブが外れるか、又はオペレータによって意図せずに落とされた場合に、通電回路に対してプローブがショートする可能性を最小限に抑えるようにサイズ決定され得る。
図1は、DMM 102の形態の測定装置が、回路の電圧、電流、抵抗又は他の測定値を取得するためにオペレータ104によって使用され得る環境100を示し、これは、接地パネル筐体106の中に収容され得る。第1の電気試験リード線108は、DMM 102の本体上の正極側コンセントに差し込まれ得、正極側試験リード線と考慮される場合がある。第2の電気試験リード線110は、DMM 102の本体上の負極側コンセント、中性コンセント、共通コンセント又は接地コンセントに差し込まれ得、接地試験リード線と考慮される場合がある。
従来の試験リード線のプローブ112は、正極側試験リード線108に取り付けられ、かつオペレータ104によって把持され、回路114の端子又は接点との接触を保つようにサイズ決定及び寸法決定される。DMM 102が非接触電圧測定システムである実装例では、DMMは、試験中、絶縁導体の近位に位置付けられ得るセンサ(例えば、静電容量センサ)を含む前端を含み得る。接地試験リード線110は、選択的に、磁気結合型接地基準プローブ116に物理的かつ電気的に結合され得、これは、順番に、選択的に、接地されるパネル筐体106の平坦な導電面118に物理的かつ電気的に結合される。このため、磁気結合型接地基準プローブ116は、接地接続をDMM 102に提供する。以下で更に詳述されるように、少なくともいくつかの実装例では、磁気結合型接地基準プローブ116は、接地リード線110が接地基準に結合されたままとどまる「手を使わずにすむ」ように、磁力を利用して、パネル筐体106の平面118又は他の接地強磁性材料に物理的かつ電気的に結合される磁気結合型接地基準プローブを保持する。
磁気結合型接地基準プローブ116(「プローブ」)の様々な図を図1〜11に示す。プローブ116は、基部部分120A及び被覆部分120Bを備える、実質的に円筒形の形状をした筐体120(図2)を含む。この実施例では、被覆部分120Bは、3つの井戸状の穴119(図2及び図7参照)を含み、各々が被覆部分の上部表面123から下方に延在する。各井戸状の穴119の底部には、ねじ山付きねじ152又は他の締結具のシャフトを受容するようにサイズ決定されている開口121がある。基部部分120Aは、3つの対応する上昇部分125を含み、各々が、ねじ152のうちの1つをねじ式に受容するためのねじ山付き開口127を含み、基部部分120Aを被覆部分120Bに物理的に結合する。他の実装例では、筐体120は、単片を備え得るか、又は任意の好適な方法(例えば、ねじ、超音波溶着)によって一緒に締結される2つ又は3つ以上の片を備え得る。
図7に示されるように、基部部分120Aは、底部周縁部又は底部表面122、及び底部周縁部から筐体の中へ上方に延在する下向きの凹部124を有する。筐体120は、絶縁材料(例えば、プラスチック)から形成され得る。筐体120の被覆部分120Bは、被覆部分の側壁上の対向する側壁の凹部又は湾入部130(図2、図3及び図6)を含み得、これらは、使用者が筐体を握持して、プローブ116を、プローブが磁気結合される強磁性の表面(例えば、図1の表面118)から選択的に取り外すことを可能にする。
プローブ116はまた、筐体120の基部部分120Aに移動可能に結合される導電性磁石132を含む。磁石132は、平坦な形状をした底面又は表面134を有し得、磁石は、磁石の底面が底部周縁部122の上の凹部124内に配置される上昇位置(図7)と磁石の底面が底部周縁部と近接(例えば、少なくとも実質的に同一平面上)に配置される下降位置(図8)との間で移動可能であり得る。
プローブ116はまた、上昇位置において磁石132を付勢するように動作可能に結合される付勢駆動装置136(例えば、圧縮ばね)を含み得る。付勢駆動装置136は、磁石132上に(図7及び図8で示されるような)上方向の磁力を及ぼし、その磁力は、筐体120の底部周縁部122が強磁性の表面に隣接して配置されたときに磁石上に及ぼされる下方向の磁力よりも小さい。このため、磁石132の底面134は、底部周縁部が磁石と表面との間の吸引磁力のために強磁性の表面に隣接して位置付けられたときに、底部周縁部122の近接(例えば、実質的に同一平面上)に配置され、付勢駆動装置136は、プローブ116がオペレータによって強磁性の表面から分離された際に磁石を凹部124の中に自動的に退避させる。
プローブ116はまた、磁石132と電気的に結合される結合導体138を含み得る。結合導体138は、電子試験機器(例えば、DMM 102)と電気的に結合可能である試験リード線(例えば、図1の試験リード線110)と電気的に結合するようにサイズ決定及び寸法決定され得る。可撓性ワイヤ140は、ねじ142及び144を使用して結合導体136を磁石132に電気的に結合し得る。結合導体136は、ねじ142を受容するねじ山付き開口143を含み、磁石132は、ねじ144を受容するねじ山付き開口145を含む。少なくともいくつかの実装例では、結合導体136の少なくとも一部分は、筐体120内の凹部146の中に成形され得る。
少なくともいくつかの実装例では、磁石132は、筐体120の凹部124の中の開口156を通って上方に延在する突起154を有し得る。突起154の最上部分は、ねじ144をねじ式に受容するねじ山付き開口145を含む。付勢駆動装置136は、上昇位置又は凹部位置において磁石132を付勢するように、突起の少なくとも一部分(例えば、2つの座金158と160との間)の周囲に配置され得る。この実施例では、付勢駆動装置136は、磁石132に結合されたねじ144によって保持されている座金158によって、突起154上で保持される。
図12〜14は、例証の一実装例に従う、磁気結合型接地基準プローブ200の別の実装例を示す。この実装例では、プローブ200は、導電磁石202及び少なくとも一部分が圧縮可能な絶縁材料から形成されている筐体204を含む。筐体204は、柄部分206及び柄部分の底端部に結合される磁石支持部分208を含む。導電磁石202は、例えば、筐体204の中に埋め込まれた導電接点212を介して絶縁導電ワイヤ210に結合され得る。図12に示されるように、プローブ200が、図1のパネル筐体118などの強磁性の表面214から分離されると、磁石202の底部表面218は、筐体204の下部周縁部216より上に上昇する。かかる特徴により、使用者は分厚い手袋を着用したままプローブ200を容易に扱うことができ、プローブが取り付けられている電気機器から外れるか、又はオペレータによってうっかり落とされた場合、通電回路に対してプローブがショートする可能性が最小限に抑えられる。
図14に最適に示されるように、オペレータが磁石支持部分208を強磁性の表面214に隣接して位置付けると、磁石が磁気吸引により強磁性の表面214の方へ引っ張られ、これにより筐体204の下部周縁部216が圧縮され、磁石202の平坦な底部表面218が強磁性の表面と物理的に接触して、接地基準を提供することを可能にする。筐体204の下部周縁部216のサイズ、寸法及び圧縮率は、十分な沿面経路及び空間経路を提供するようなものであってもよい。
非接触測定器具については、有効な接地基準は、強磁性材料のアース接地(例えば、図1のパネル筐体118)と測定器具との間のインピーダンス結合(すなわち、静電容量と抵抗との組み合わせ)を介して達成され得る。これは、オペレータの手と足との間にある内在的な人体の静電容量を介して達成され得る。人体の静電容量が正確な電圧測定を提供するには低過ぎるレベルまで低下している程度まで、使用者が完全に絶縁されている場合、本開示のプローブ116又は200は、器具と強磁性のアース接地面(例えば、パネル筐体118)との間で接続されて、好適な接地基準を提供することができる。
上述の詳細な説明は、ブロック図、回路図及び実施例の使用によって、装置及び/又はプロセスの様々な実施例を記載した。かかるブロック図、回路図、及び実施例が1つ以上の機能及び/又は動作を含む限りにおいて、かかるブロック図、フローチャート又は実施例の範囲内で各機能及び/又は動作を、幅広い変形例又は組み合わせによって、個々及び/又は集合的に実装することができることが当業者によって理解されるであろう。本明細書に提示の多くの方法又はアルゴリズムは、追加の作用を用い得、いくつかの作用を除外し得、かつ/又は作用を指定とは異なる順番で実行し得ることを当業者は理解するであろう。
上述の様々な実装例は、更なる実装例を提供するために組み合わせてもよい。本明細書の具体的な教示及び定義に反しない限り、2016年11月11日出願の米国仮特許出願第62/421,124号を含む、本明細書で言及される米国特許、米国特許出願公開、米国特許出願、外国特許、外国特許出願、及び非特許刊行物のすべては、参照によりその全体が本明細書に組み込まれる。本実装例の態様は、必要に応じて、様々な特許、特許出願、及び刊行物のシステム、回路、及び概念を用いて、尚更なる実装例を提供するように修正することができる。
上記の説明を考慮して、実装例へのこれらの及び他の変更を行うことができる。概して、次の特許請求の範囲において使用される用語は、請求項を、明細書及び特許請求の範囲に開示された特定の実装例に制限するように解釈されるべきではなく、かかる請求項が権利を有する等価物の全範囲と共に、すべての考えられる実装例を含むものと解釈すべきである。したがって、請求項が、本開示によって制限されることはない。

Claims (21)

  1. 測定装置と共に使用するための接地基準プローブであって、前記接地基準プローブが、
    筐体であって、底部周縁部及び前記底部周縁部から前記筐体の中へ上方に延在する下向きの凹部を有し、絶縁材料から形成されている、筐体と、
    前記筐体に移動可能に結合された導電性磁石であって、前記磁石は、底面を有し、かつ前記磁石は、前記磁石の前記底面が前記底部周縁部の上の前記凹部内に配置される上昇位置と、前記磁石の前記底面が前記底部周縁部の近接に配置される下降位置との間で移動可能である、導電性磁石と、
    前記上昇位置において前記磁石を付勢するように動作可能に結合された付勢駆動装置であって、前記付勢駆動装置が、前記磁石上に上方向の磁力を及ぼし、その磁力が、前記筐体の前記底部周縁部が強磁性材料に隣接して配置されたときに前記磁石上に及ぼされる下方向の磁力よりも小さい、付勢駆動装置と、
    前記磁石と電気的に結合された結合導体であって、前記測定装置と電気的に結合可能である試験リード線と電気的に結合するようにサイズ決定及び寸法決定されている、結合導体と、を備える、接地基準プローブ。
  2. 前記付勢駆動装置が、圧縮ばねを含む、請求項1に記載の接地基準プローブ。
  3. 前記結合導体と前記磁石との間で電気的に結合された可撓性ワイヤを更に備える、請求項1に記載の接地基準プローブ。
  4. 前記筐体が、基部部分及び被覆部分を備え、前記基部部分が少なくとも1つの締結具によって前記被覆部分に固設されている、請求項1に記載の接地基準プローブ。
  5. 前記筐体が、オペレータが前記筐体を握持することを可能にする対向する凹部を含む側壁を有する、請求項1に記載の接地基準プローブ。
  6. 前記結合導体が、前記筐体の上部表面内の凹部の中に成形されている、請求項1に記載の接地基準プローブ。
  7. 前記筐体の前記凹部が、開口を含み、前記磁石が、前記筐体の前記凹部の中の前記開口を通って延在する突起を含む、請求項1に記載の接地基準プローブ。
  8. 前記付勢駆動装置が、前記突起の少なくとも一部分の周囲に配置された圧縮ばねを含む、請求項7に記載の接地基準プローブ。
  9. 前記磁石の前記突起が、開口を含み、前記接地基準プローブが、前記磁石の前記開口を介して前記磁石に結合された締結具を更に備え、前記締結具が、前記磁石の前記突起の少なくとも一部分の周囲に配置された前記圧縮ばねを保持する、請求項8に記載の接地基準プローブ。
  10. 測定装置本体と、
    筐体であって、底部周縁部及び前記底部周縁部から前記筐体の中へ上方に延在する下向きの凹部を有し、絶縁材料から形成されている、筐体、
    前記筐体に移動可能に結合された導電性磁石であって、前記磁石は、底面を有し、かつ前記磁石は、前記磁石の前記底面が前記底部周縁部の上の前記凹部内に配置される上昇位置と、前記磁石の前記底面が前記底部周縁部の近接に配置される下降位置との間で移動可能である、導電性磁石、及び
    前記上昇位置において前記磁石を付勢するように動作可能に結合された付勢駆動装置、を備える、接地基準プローブと、
    前記接地基準プローブの前記磁石を前記測定装置本体に物理的かつ電気的に結合する試験リード線と、を備える、測定装置。
  11. 前記接地基準プローブの前記付勢駆動装置が、圧縮ばねを含む、請求項10に記載の測定装置。
  12. 前記接地基準プローブの前記筐体が、基部部分及び被覆部分を備え、前記基部部分が少なくとも1つの締結具によって前記被覆部分に固設されている、請求項10に記載の測定装置。
  13. 前記接地基準プローブの前記筐体が、オペレータが前記筐体を握持することを可能にする対向する凹部を含む側壁を有する、請求項10に記載の測定装置。
  14. 前記接地基準プローブの前記筐体の前記凹部が、開口を含み、前記磁石が、前記筐体の前記凹部の中の前記開口を通って延在する突起を含む、請求項10に記載の測定装置。
  15. 前記接地基準プローブの前記付勢駆動装置が、前記突起の少なくとも一部分の周囲に配置された圧縮ばねを含む、請求項14に記載の測定装置。
  16. 前記接地基準プローブの前記磁石の前記突起が、開口を含み、前記接地基準プローブが、前記磁石の前記開口を介して前記磁石に結合された締結具を更に備え、前記締結具が、前記磁石の前記突起の少なくとも一部分の周囲に配置された前記圧縮ばねを保持する、請求項15に記載の測定装置。
  17. 測定装置と共に使用するための接地基準プローブであって、
    基部部分及び被覆部分を有する絶縁筐体であって、前記基部部分は、前記被覆部分に結合され、前記基部部分は、底部周縁部及び前記底部周縁部から上方に延在する下向きの凹部を備える、絶縁筐体と、
    前記筐体の前記底部部分に移動可能に結合された導電性磁石であって、前記磁石は、底面を有し、かつ前記磁石は、前記磁石の前記底面が前記底部周縁部の上の前記凹部内に配置される上昇位置と、前記磁石の前記底面が前記底部周縁部の近接に配置される下降位置との間で移動可能である、導電性磁石と、
    前記上昇位置において前記磁石を付勢するように動作可能に結合されたばねと、を備える、接地基準プローブ。
  18. 前記磁石と電気的に結合された結合導体であって、前記測定装置と電気的に結合可能である試験リード線と電気的に結合するようにサイズ決定及び寸法決定されている、結合導体を更に備える、請求項17に記載の接地基準プローブ。
  19. 前記結合導体と前記磁石との間で電気的に結合された可撓性ワイヤを更に備える、請求項18に記載の接地基準プローブ。
  20. 前記筐体の前記凹部が、開口を含み、前記磁石が、前記筐体の前記凹部の中の前記開口を通って延在する突起を含み、前記ばねが、前記突起の少なくとも一部分の周囲に配置されている、請求項17に記載の接地基準プローブ。
  21. 前記磁石の前記突起が、開口を含み、前記接地基準プローブが、前記磁石の前記開口を介して前記磁石に結合された締結具を更に備え、前記締結具が、前記磁石の前記突起の少なくとも一部分の周囲に配置された前記ばねを保持する、請求項20に記載の接地基準プローブ。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113238089B (zh) * 2021-06-11 2022-07-01 广西电网有限责任公司电力科学研究院 非接触电压测量方法、装置、计算机设备和存储介质

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08273727A (ja) * 1995-03-29 1996-10-18 Kanden Kogyo Kk 端子ネジ接続用クリップ
JP2006127966A (ja) * 2004-10-29 2006-05-18 Chugoku Electric Power Co Inc:The 接点パス用クリップ
US7298136B1 (en) * 2005-07-06 2007-11-20 Kevin Mark Curtis Magnetically coupled electrical test lead
JP2015047430A (ja) * 2013-09-04 2015-03-16 富士フイルム株式会社 光音響計測用プローブおよびそれを備えた光音響計測装置
JP2015121525A (ja) * 2013-11-21 2015-07-02 株式会社希望電機 検電器

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5473244A (en) 1992-09-17 1995-12-05 Libove; Joel M. Apparatus for measuring voltages and currents using non-contacting sensors
JPH06222087A (ja) 1993-01-27 1994-08-12 Hamamatsu Photonics Kk 電圧検出装置
US5973501A (en) 1993-10-18 1999-10-26 Metropolitan Industries, Inc. Current and voltage probe for measuring harmonic distortion
US6004029A (en) * 1995-07-10 1999-12-21 Cvc Products, Inc. Method for automated calibration of temperature sensors in rapid thermal processing equipment
US6118270A (en) 1998-02-17 2000-09-12 Singer; Jerome R. Apparatus for fast measurements of current and power with scaleable wand-like sensor
IL127699A0 (en) 1998-12-23 1999-10-28 Bar Dov Aharon Method and device for non contact detection of external electric or magnetic fields
US6812685B2 (en) 2001-03-22 2004-11-02 Actuant Corporation Auto-selecting, auto-ranging contact/noncontact voltage and continuity tester
JP3761470B2 (ja) 2001-04-04 2006-03-29 北斗電子工業株式会社 非接触電圧計測方法及び装置並びに検出プローブ
GB0207912D0 (en) * 2002-04-05 2002-05-15 Renishaw Plc Kinematic coupling
US7178253B2 (en) * 2002-10-29 2007-02-20 Koninklijke Philips Electronics N.V. Coordinate measuring device with a vibration damping system
JP4436665B2 (ja) * 2003-12-24 2010-03-24 パナソニック株式会社 測定用プローブ及び形状測定方法
US7256588B2 (en) 2004-04-16 2007-08-14 General Electric Company Capacitive sensor and method for non-contacting gap and dielectric medium measurement
JP4585434B2 (ja) * 2005-11-30 2010-11-24 富士通株式会社 プローブカード
GB0614261D0 (en) 2006-07-18 2006-08-30 Univ Sussex The Electric Potential Sensor
US20100090682A1 (en) 2008-02-14 2010-04-15 Armstrong Eric A Multi-Meter Test Lead Probe For Hands-Free Electrical Measurement of Control Panel Industrial Terminal Blocks
US8476905B2 (en) * 2008-12-11 2013-07-02 Hitachi, Ltd. Signal transmitting and receiving circuit, a NMR probe, and a nuclear magnetic resonance equipment
US8680845B2 (en) 2011-02-09 2014-03-25 International Business Machines Corporation Non-contact current and voltage sensor
US9063184B2 (en) 2011-02-09 2015-06-23 International Business Machines Corporation Non-contact current-sensing and voltage-sensing clamp
US9151818B2 (en) * 2011-11-08 2015-10-06 Analog Devices Global Voltage measurement
WO2014018681A2 (en) * 2012-07-24 2014-01-30 Cryoxtract Instruments, Llc Apparatus and methods for aliquotting frozen samples
US9228674B2 (en) * 2012-08-23 2016-01-05 Fisher Controls International, Llc Methods and apparatus to assemble actuators
US9194888B2 (en) * 2012-10-11 2015-11-24 Tektronix, Inc. Automatic probe ground connection checking techniques
US9671448B2 (en) * 2012-12-28 2017-06-06 Illinois Tool Works Inc. In-tool ESD events monitoring method and apparatus
JP2014181937A (ja) * 2013-03-18 2014-09-29 Fujitsu Semiconductor Ltd 試験装置、クリーニング方法、及び半導体装置の製造方法
JP5842188B2 (ja) 2013-10-15 2016-01-13 株式会社サンセイアールアンドディ 遊技機
CN203705493U (zh) * 2013-12-23 2014-07-09 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司 一种测试纹波的示波器探头
EP3179256A4 (en) * 2014-08-08 2018-03-28 Iida Electronics Co., Ltd. Non-contact ac voltage measurement device
US9614320B2 (en) 2014-08-26 2017-04-04 Google Inc. Dongle for quick release
JP2016053569A (ja) * 2014-09-01 2016-04-14 学校法人東北学院 磁性体の計測装置および磁性体の計測方法
JP2016161526A (ja) * 2015-03-05 2016-09-05 株式会社ミツトヨ 接触型プローブ
WO2017053881A1 (en) * 2015-09-24 2017-03-30 Systems, Machines, Automation Components Corporation Magnetically-latched actuator
CN105891611B (zh) * 2016-04-08 2018-03-02 北京航空航天大学 一种宽频带的微型近场电场测试探头
CN105938160B (zh) * 2016-06-23 2019-02-12 南京协辰电子科技有限公司 阻抗测试装置
CN105911317A (zh) * 2016-07-05 2016-08-31 国网辽宁省电力有限公司丹东供电公司 新型接地电阻测量仪接地探针

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08273727A (ja) * 1995-03-29 1996-10-18 Kanden Kogyo Kk 端子ネジ接続用クリップ
JP2006127966A (ja) * 2004-10-29 2006-05-18 Chugoku Electric Power Co Inc:The 接点パス用クリップ
US7298136B1 (en) * 2005-07-06 2007-11-20 Kevin Mark Curtis Magnetically coupled electrical test lead
JP2015047430A (ja) * 2013-09-04 2015-03-16 富士フイルム株式会社 光音響計測用プローブおよびそれを備えた光音響計測装置
JP2015121525A (ja) * 2013-11-21 2015-07-02 株式会社希望電機 検電器

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