CN213843321U - 测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种测试工装，包括：壳体，以及设于壳体上的磁吸式测试组件和探针式测试组件；其中，磁吸式测试组件包括：测试头，测试头的一端为接线端，接线端嵌设有第一磁体；第一套筒，第一套筒套设于测试头的周面并固定在壳体上，且测试头可沿第一套筒的轴向滑动；弹性件，弹性件连接测试头和第一套筒。本实用新型技术方案可以解决传统接线方式费时费力的问题，实现测试头与测试端子的快速连接，保证测试工装的整体结构小巧，以便于搬运，实现电子产品的在线测试，降低测试工装的管理成本，实现耐压和接地阻抗的同时测试，兼容性更好，测试效率更高。

Description

测试工装

技术领域

本实用新型涉及电气测试设备领域，特别涉及一种测试工装。

背景技术

在电子类的产品中，如变频器、伺服驱动器、电梯柜等产品，整机制作完成后都要进行性能和耐压检测，以确保产品合格。通常，测试人员使用测试工装将电子产品连接到测试设备上，以进行测试。现有技术中，测试工装可以采用线缆端子、专用接线板、专用下压工装或鳄鱼夹等方法对接产品的测试端子。

其中，线缆端子直接的方式需要人工操作螺栓刀锁紧线缆端子，耗时耗力；专用接线板用PCB板或其他方式制成集成式的接线板端子，测试时也需要人工使用螺丝刀将接线板端子与测试端子打紧，存在耗时耗力、效率低下的问题；专用下压工装体积大、重量大，一般做成台式机放置在流水线旁，难以配套自动生产线测试，这无疑增加了管理成本，而且测试时，需要人工将产品从生产线搬运至专用下压工装上进行测试，耗时耗力；鳄鱼夹夹持方式同样有耗时耗力的问题，且测试时鳄鱼夹存在容易脱落的风险。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种测试工装，旨在解决传统接线方式费时费力的问题，实现测试头与测试端子的快速连接，保证测试工装的整体结构小巧，以便于搬运，实现电子产品的在线测试，降低测试工装的管理成本，实现耐压和接地阻抗的同时测试，兼容性更好，测试效率更高。

为实现上述目的，本实用新型提出一种测试工装，包括：壳体，以及设于壳体上的磁吸式测试组件和探针式测试组件；其中，磁吸式测试组件包括：测试头，测试头的一端为接线端，接线端嵌设有第一磁体；第一套筒，第一套筒套设于测试头的周面并固定在壳体上，且测试头可沿第一套筒的轴向滑动；弹性件，弹性件连接测试头和第一套筒。

可选地，测试头远离接线端的一端为安装端，安装端从第一套筒伸出，安装端沿测试头的径向设有凸部，弹性件套接于测试头上，且弹性件的两端分别与凸部和第一套筒抵接。

可选地，磁吸式测试组件还包括：第一螺母，第一套筒上相互远离的两端分别为第一连接端和第一卡持端，且第一连接端的外径小于第一卡持端的外径，壳体具有底板，第一套筒穿设于底板中，且第一连接端和第一卡持端分别位于底板上相背的两侧，第一螺母套设于第一连接端上，且第一螺母与第一连接端螺纹连接。

可选地，磁吸式测试组件还包括：第一连接件，第一连接件与第一套筒固定连接；第一接线件，第一接线件固定设于第一连接件上。

可选地，探针式测试组件包括：测试探针；针管，针管套设于测试探针的周面；第二套筒，第二套筒套设于针管的周面，且第二套筒固定在壳体上。

可选地，探针式测试组件还包括：第二螺母，第二套筒上相互远离的两端分别为第二连接端和第二卡持端，且第二连接端的外径小于第二卡持端的外径，壳体具有底板，第二套筒穿设于底板中，且第二连接端和第二卡持端分别位于底板上相背的两侧，第二螺母套设于第二连接端上，且第二螺母与第二连接端螺纹连接。

可选地，探针式测试组件还包括：第二连接件，第二连接件与第二套筒固定连接；第二接线件，第二接线件设于第二连接件上。

可选地，测试工装还包括：插头，插头设于壳体上，测试头和测试探针均与插头电性连接。

可选地，壳体上开设有贯穿壳体的通槽，壳体对应通槽背离磁吸式测试组件的一侧形成手持部。

可选地，壳体的表面嵌设有第二磁体。

本实用新型技术方案中，测试工装包括磁吸式测试组件和探针式测试组件，磁吸式测试组件中，测试头的接线端嵌设有第一磁体，测试头装入第一套筒内，通过弹性件连接测试头和第一套筒，测试头可沿第一套筒的轴向滑动。测试时，测试工装放置到电子产品的端子台上，并将磁吸式测试组件对准端子台上的测试端子，测试头通过第一磁体的吸力作用能够与电子产品上金属材质的测试端子吸附，从而实现测试头与测试端子的快速连接，操作简单方便，省时省力，大幅提高了电子产品在测试时的便利性和效率，可取代传统的测试方式，实现快速测试的目的；而且，磁吸式测试组件结构简单小巧，因而包含该磁吸式测试组件的测试工装的整体结构小巧，能够方便电子产品进行在线测试，减少产品的搬运时间，节省工人的体能，降低工人作业强度，由于测试工装体积小巧，存储占地也小，因而能够降低管理成本；此外，探针式测试组件可有效解决磁吸式测试组件的接触电阻大的问题，通过磁吸式测试组件和探针式测试组件的合理组合，能够实现耐压和接地阻抗的同时测试，兼容性更好，测试效率更高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型测试工装一实施例的结构示意图；

图2为图1测试工装移除盖板后的结构示意图；

图3为图1测试工装与端子台对接的结构示意图；

图4为图1测试工装在磁吸式测试组件处的剖视结构示意图；

图5为图1测试工装的磁吸式测试组件的结构示意图；

图6为图1测试工装的探针式测试组件的结构示意图。

附图标号说明：

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种测试工装100。

在本实用新型实施例中，如图1所示，该测试工装100，包括：壳体30，以及设于壳体30上的磁吸式测试组件10和探针式测试组件20；其中，如图4至5所示，磁吸式测试组件10包括：测试头11，测试头11的一端为接线端，接线端嵌设有第一磁体13；第一套筒12，第一套筒12套设于测试头11的周面并固定在壳体30上，且测试头11可沿第一套筒12的轴向滑动；弹性件14，弹性件连接测试头11和第一套筒12。

具体地，请参阅图4至5，测试头11大致呈圆柱形，测试头11沿竖直方向延伸设置，测试头11的上端为安装端，测试头11的下端为接线端。第一套筒12沿竖直方向设置，测试头11装入第一套筒12内，且测试头11的上下两端分别从第一套筒12的上下两个端口伸出。并且，测试头11与第一套筒12间隙配合，测试头11借由该间隙可沿第一套筒12上下滑动。其中，第一磁体13与测试头11的接线端的具体安装方式，可以是测试头11的接线端的底面开设有安装槽，通过第一磁体13压装在安装槽内，第一磁体13与安装槽形成紧配合的连接关系。进一步地，为保证第一磁体13的磁吸力，第一磁体13可从安装槽内显露出来。其中，弹性件14可以为螺旋弹簧，螺旋弹簧的弹性系数可以根据实际需要进行选用。容易理解的是，当测试头11受外力(磁力)作用且外力大于弹性件14的弹力时，测试头11会沿套筒的轴向相对套筒滑动，当撤去外力后，在弹性件14的弹力作用下，测试头11能够回复到初始的位置。

请参阅图1至2，在测试工装100中，壳体包括顶板311、底板312、左侧板313、右侧板314、背板315和盖板316，顶板311、底板312、左侧板313、右侧板314、背板315和盖板316围合形成壳体30，并使壳体30的内部形成一安装腔32。壳体30前侧的盖板316可通过螺丝与壳体30连接，使得盖板316可从壳体30上取下，以便于安装腔32内零件的安装和维护。

其中，如图4至5所示，第一套筒12沿竖直方向固定在壳体30上。具体地，第一套筒12可固定在壳体30的底板312上，第一套筒12的上端伸入壳体30的安装腔32内，第一套筒12的下端伸出至壳体30外，相应地，测试头11的安装端位于壳体30的安装腔32内，测试头11的接线端受外力(磁力)作用时可伸出于壳体30外。该测试工装100的具体使用方法如下：测试人员将测试工装100放置在电子产品的端子台200上，并让测试头11对准端子台200上的测试端子210，此时，测试头11的接线端靠近测试端子210。因为测试端子210为金属材质，当测试头11的接线端与测试端子210靠近时，测试头11的第一磁体13和测试端子210之间会产生磁吸力，同时，由于测试头11可沿套筒滑动，测试头11在第一磁体13的磁吸力的作用下能够朝向测试端子210移动，并最终吸附在测试端子210的螺栓帽上。测试头11通过第一磁体13的吸力作用下压至测试端子210的螺栓帽上，二者形成可靠有效的接触式连接。同时，因为测试头11是与测试设备电性连接的，也即电子产品通过测试头11实现与测试设备电性连接，因而可以对各测试端子210进行耐压和阻抗测试。测试完毕后，测试人员将测试工装100从电子产品的端子台200上拔出，测试头11在弹性件14的复位作用下，能够回收入第一套筒12内，从而起到保护测试头11的作用。进一步地，为增强测试头11与电子产品的测试端子210的电性连接，保证良好的电气导通效果，第一磁体13可采用具有导电性的磁石。

其中，探针式测试组件20是专门用于阻抗测试的，探针式测试组件20的具体结构可以采用现有技术中的标准形式。针对接地阻抗测试，要求测试端和接地端子之间的接触电阻尽量小，对接触电阻的要求较高，若使用磁吸式测试组件10来测试，会导致接触电阻变大，进而影响测试结果。本实施例在接地端子测试上改用探针式测试组件20，通过测试探针21与接地端子接触进行测试，可以有效解决磁吸式测试组件10的接触电阻大的问题。因此，通过磁吸式测试组件10和探针式测试组件20的合理组合，能够实现耐压和接地阻抗的同时测试，兼容性更好，测试效率更高。

综上，本实用新型技术方案中，测试头11通过第一磁体13的吸力作用能够与电子产品上金属材质的测试端子210吸附，从而实现测试头11与测试端子210的快速连接，操作简单方便，省时省力，大幅提高了电子产品在测试时的便利性和效率，可取代传统的测试方式，实现快速测试的目的；而且，磁吸式测试组件10结构简单小巧，因而包含该磁吸式测试组件10的测试工装100的整体结构小巧，能够方便电子产品进行在线测试，减少产品的搬运时间，节省工人的体能，降低工人作业强度，由于测试工装100体积小巧，存储占地也小，因而能够降低管理成本；此外，探针式测试组件2可有效解决磁吸式测试组件10的接触电阻大的问题，通过磁吸式测试组件10和探针式测试组件20的合理组合，能够实现耐压和接地阻抗的同时测试，兼容性更好，测试效率更高。

在本实用新型的一实施例中，请参阅图5，测试头11远离接线端的一端为安装端，安装端从第一套筒12伸出，安装端沿测试头11的径向设有凸部，弹性件14套接于测试头11上，且弹性件14的两端分别与凸部和第一套筒12抵接。

本实施例中，凸部为卡套在测试头11安装端的卡簧15，弹性件14抵接在卡簧15和第一套筒12之间。当第一磁体13与测试端子210磁吸时，测试头11向下伸出，卡簧15和第一套筒12上端之间的间距减小，弹性件14压缩，此时，测试头11与测试端子210连接，可对电子产品进行耐压和阻抗测试；测试完成将第一磁体13与测试端子210分开后，弹性件14因压缩产生的弹力使弹性件14回弹，并带动测试头11向上回收，则卡簧15和固定套上端之间的间距增大，最终弹性件14恢复至初始长度。本实施例中，弹性件14的安装结构简单，便于磁吸式测试组件10的制造，且能够保证磁吸式测试组件10结构小巧、轻便。

进一步地，请参阅图1、2、4和5，磁吸式测试组件10还包括：第一螺母16，第一套筒12上相互远离的两端分别为第一连接端121和第一卡持端122，且第一连接端121的外径小于第一卡持端122的外径，壳体30具有底板312，第一套筒12穿设于底板312中，且第一连接端121和第一卡持端122分别位于底板312上相背的两侧，第一螺母16套设于第一连接端121上，且第一螺母16与第一连接端121螺纹连接。

本实施例中，磁吸式测试组件10是通过第一螺母16锁定在壳体30上的。具体地，壳体30的底板312上对应第一套筒12开设有第一安装孔，且第一安装孔的孔径大小与第一套筒12的第一连接端121的外径适配，也即，第一安装孔的孔径大于第一连接端121的外径且小于第一卡持端122的外径。如此，第一套筒12的第一连接端121可以从底板312的下方穿过第一安装孔伸入到壳体30的安装腔32内，而第一套筒12的第一卡持端122会抵住在第一安装孔的边沿，当第一螺母16与第一连接端121螺接旋紧时，第一螺母16和第一卡持端122夹住壳体30底板312，从而使第一套筒12固定安装在底板312上。因此，通过第一螺母16和第一套筒12的配合，可实现磁吸式测试组件10的更换与维护，安装方式灵活。

进一步地，请参阅图4，磁吸式测试组件10还包括：第一连接件17，第一连接件17与第一套筒12固定连接；第一接线件18，第一接线件18固定设于第一连接件17上。

其中，第一连接件17呈片状，第一连接件17贴合在壳体30的底板312上，第一套筒12穿过壳体30的底板312时，第一套筒12也同时穿过第一连接件17，且第一连接件17与第一套筒12固定连接。第一接线件18垂直设于第一连接件17上，第一接线件18呈六棱柱状，第一接线件18上可设置有接线端子19。测试时，将电源线的一端连接到第一接线件18上的接线端子19，将电源线的另一端连接到测试设备上，便可实现磁吸式测试组件10与测试设备之间的电性连接，而磁吸式测试组件10与电子产品电性连接，因此可进行电子产品的耐压测试。本实施例中，通过第一连接件17和第一接线件18的设置，可方便接线。

在本实用新型的一实施例中，请参阅图1、2和6，探针式测试组件20包括：测试探针21；针管22，针管22套设于测试探针21的周面；第二套筒23，第二套筒23套设于针管22的周面，且第二套筒23固定在壳体30上。

其中，测试探针21采用标准的测试探针21安装，内置小弹簧，使测试探针21具有一定弹性，测试探针21安装在专用的针管22内，并一同安装于第二套筒23内。本实施例中，端子台200上两边的测试端子210为接地端子，是专门用于阻抗测试的。针对接地阻抗测试，要求测试端和接地端子之间的接触电阻尽量小，对接触电阻的要求较高，若使用磁吸式测试组件10来测试，会导致接触电阻变大，进而影响测试结果。本实施例在接地端子测试上改用探针式测试组件20，通过测试探针21与接地端子接触进行测试，可以有效解决磁吸式测试组件10的接触电阻大的问题。因此，通过磁吸式测试组件10和探针式测试组件20的合理组合，可以实现耐压和接地阻抗的同时测试，兼容性更好，测试效率更高。容易理解地，因为测试探针21是直接与接地端子接触的，故测试探针21伸出壳体30的长度大于测试头11在未受磁力作用时伸出壳体30的长度。

进一步地，请参阅图1、2和6，探针式测试组件20还包括：第二螺母24，第二套筒23上相互远离的两端分别为第二连接端231和第二卡持端232，且第二连接端231的外径小于第二卡持端232的外径，壳体30具有底板312，第二套筒23穿设于底板312中，且第二连接端231和第二卡持端232分别位于底板312上相背的两侧，第二螺母24套设于第二连接端231上，且第二螺母24与第二连接端231螺纹连接。

本实施例中，探针式测试组件20通过是通过第二螺母24锁定在壳体30上的。具体地，壳体30的底板312上对应第二套筒23开设有第二安装孔，且第二安装孔的孔径大小与第二套筒23的第二连接端231的外径适配，也即，第二安装孔的孔径大于第二连接端231的外径且小于第二卡持端232的外径。如此，第二套筒23的第二连接端231可以从底板312的下方穿过第二安装孔伸入到壳体30的安装腔32内，而第二套筒23的第二卡持端232会抵住在第二安装孔的边沿，当第二螺母24与第二连接端231螺接旋紧时，第二螺母24和第二卡持端232夹住壳体30底板312，从而使第二套筒23固定安装在底板312上。因此，通过第二螺母24和第二套筒23的配合，可实现探针式测试组件20的更换与维护，安装方式灵活。

进一步地，请参阅图2，探针式测试组件20还包括：第二连接件25，第二连接件25与第二套筒23固定连接；第二接线件26，第二接线件26设于第二连接件25上。

探针式测试组件20的接线结构与磁吸式测试组件10类似。第二连接件25呈片状，第二连接件25贴合在壳体30的底板312上，第二套筒23穿过壳体30的底板312时，第二套筒23也同时穿过第二连接件25，且第二连接件25与第二套筒23的固定连接，当然，为保证准确测试，第二连接件25与第一连接件17分隔设置。第二接线件26垂直设有第二连接件25上，第二接线件26呈六棱柱状，第二接线件26上可设置有接线端子19。测试时，将电源线的一端连接到第二接线件26上的接线端子19，将电源线的另一端连接到测试设备上，便可以实现探针式测试组件20与测试设备之间的电性连接，而探针式测试组件20与电子产品电性连接，因此可进行电子产品的阻抗测试。当然，在壳体30设置有插头33的情况下，可以将电源线连接到插头33，插头33再通过外接引线连接到测试设备上。本实施例中，通过第二连接件25和第二接线件26的设置，可以方便接线。同样地，为了实现插头33和测试探针21的电性连接，针管22、第二套筒23、第二连接件25、第二接线件26均应采用导电材料比如金属制成。

作为一种实施方式，磁吸式测试组件10有多组，壳体30具有长度，多组磁吸式测试组件10沿壳体30的长度方向间隔设置。

本实施例中，如图3所示，电子产品的端子台200上设有多个隔板，多个隔板将端子台200划分为多个容置腔，每个容置腔内均设有一个测试端子210。将测试工装100放置到端子台200上时，需要将端子台200上的隔板和测试工装100上多组磁吸式测试组件10的间隔对正装入。如此，可以使多组磁吸式测试组件10的测试头11与端子台200上的多个测试端子210一一对应连接，从而实现电子产品与测试设备之间的电性连接，以完成电子产品的耐压和阻抗测试。其中，通过一个第一连接件17同时与多组磁吸式测试组件10的第一套筒12固定连接，可减少零件，以节省测试工装100的结构空间。

在本实用新型的一实施例中，请参阅图1至2，测试工装100还包括：插头33，插头33设于壳体30上，测试头11和测试探针21均与插头33电性连接。

本实施例中，插头33为航空插头33，航空插头33作为连接电气线路的机电元件，是连接器的一种。第一接线件18和第二接线件26上分别连接有导线，导线与插头33连接，导线为专用电源线。通过导线将第一连接件17上的第一接线件18以及第二连接件25上的第二接线件26与插头33连接，可实现测试头11和测试探针21与插头33的电性连接，插头33则可以通过外接引线连接到对应的测试设备上，而测试头11和测试探针21又是与电子产品连接的，如此，便可实现电子产品与测试设备之间的电性连接，以完成电子产品的耐压和阻抗测试。容易理解的是，为了实现插头33和测试头11的电性连接，第一套筒12、第一连接件17、第一接线件18均应采用导电材料比如金属制成。此外，壳体30整体采用绝缘材料制成，绝缘材料能满足耐压测试的基本绝缘性能要求。

在可选的实施方式中，请参阅图1至2，壳体30上开设有贯穿壳体30的通槽34，壳体30对应通槽34背离磁吸式测试组件10的一侧形成手持部35。

本实施例中，壳体30的顶板311上端设有手持部35，具体地，壳体30的顶板311上端设有长条状的通槽34，通槽34用于供手指穿过，壳体30位于通槽34的上侧部分即形成手持部35，手持部35加工成手把型。通过手指穿过通槽34，测试人员可以握住手持部35，从而方便测试人员抓取测试工装100，且移动测试工装100更轻松省力。

在可选的实施方式中，请参阅图1至2，壳体30的表面嵌设有第二磁体36。

具体地，手持部35的表面排列嵌设有多个第二磁体36，该第二磁体36具体可以为磁石。因为流水线线体上有金属件，通过该第二磁体36的磁吸作用，可以将壳体30整体吸附在流水线线体上，从而方便测试工装100的取放。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种测试工装，其特征在于，包括：壳体，以及设于所述壳体上的磁吸式测试组件和探针式测试组件；

其中，所述磁吸式测试组件包括：

测试头，所述测试头的一端为接线端，所述接线端嵌设有第一磁体；

第一套筒，所述第一套筒套设于所述测试头的周面并固定在所述壳体上，且所述测试头可沿所述第一套筒的轴向滑动；

弹性件，所述弹性件连接所述测试头和所述第一套筒。

2.如权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述测试头远离所述接线端的一端为安装端，所述安装端从所述第一套筒伸出，所述安装端沿所述测试头的径向设有凸部，所述弹性件套接于所述测试头上，且所述弹性件的两端分别与所述凸部和所述第一套筒抵接。

3.如权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述磁吸式测试组件还包括：

第一螺母，所述第一套筒上相互远离的两端分别为第一连接端和第一卡持端，且所述第一连接端的外径小于所述第一卡持端的外径，所述壳体具有底板，所述第一套筒穿设于所述底板中，且所述第一连接端和所述第一卡持端分别位于所述底板上相背的两侧，所述第一螺母套设于所述第一连接端上，且所述第一螺母与所述第一连接端螺纹连接。

4.如权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述磁吸式测试组件还包括：

第一连接件，所述第一连接件与所述第一套筒固定连接；

第一接线件，所述第一接线件固定设于所述第一连接件上。

5.如权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述探针式测试组件包括：

测试探针；

针管，所述针管套设于所述测试探针的周面；

第二套筒，所述第二套筒套设于所述针管的周面，且所述第二套筒固定在所述壳体上。

6.如权利要求5所述的测试工装，其特征在于，所述探针式测试组件还包括：

第二螺母，所述第二套筒上相互远离的两端分别为第二连接端和第二卡持端，且所述第二连接端的外径小于所述第二卡持端的外径，所述壳体具有底板，所述第二套筒穿设于所述底板中，且所述第二连接端和所述第二卡持端分别位于所述底板上相背的两侧，所述第二螺母套设于所述第二连接端上，且所述第二螺母与所述第二连接端螺纹连接。

7.如权利要求5所述的测试工装，其特征在于，所述探针式测试组件还包括：

第二连接件，所述第二连接件与所述第二套筒固定连接；

第二接线件，所述第二接线件设于所述第二连接件上。

8.如权利要求5所述的测试工装，其特征在于，所述测试工装还包括：

插头，所述插头设于所述壳体上，所述测试头和所述测试探针均与所述插头电性连接。

9.如权利要求1至8中任一项所述的测试工装，其特征在于，所述壳体上开设有贯穿所述壳体的通槽，所述壳体对应所述通槽背离所述磁吸式测试组件的一侧形成手持部。

10.如权利要求1至8中任一项所述的测试工装，其特征在于，所述壳体的表面嵌设有第二磁体。

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