JP2018103213A - レーザ加工装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本実施形態に係るレーザ加工装置1の概略構成について図1を用いて説明する。本実施形態に係るレーザ加工装置1は、PC(Personal Computer)7、レーザ加工部2、レーザコントローラ5などを備える。また、レーザ加工部2は、レーザヘッド部3および電源ユニット6などを有する。レーザ加工部2は、レーザコントローラ5から送信される情報に基づいて、加工対象物Wの加工面WAに対してレーザ光Lを2次元走査して文字、記号、図形等をマーキングするレーザ加工を行う。以下の説明において、レーザ加工を印字と記載する場合がある。
次に、レーザ加工装置1の電気的構成について、図2を用いて説明する。PC7は、図1で示した構成の他に、制御部70、制御回路74などを有する。制御部70は、CPU71、RAM72、ROM73、およびHDD(Hard Disk Drive)75等を有する。CPU71はROM73に記憶されている各種のプログラムを実行することによって、制御回路74等を制御する。RAM72はCPU71が各種の処理を実行するための主記憶装置として用いられる。ROM73には制御プログラム、文字パラメータ情報、および反射率情報などが記憶されている。文字パラメータ情報とは、フォント毎のパラメータ情報であり、例えばストロークフォントの場合には、文字の中心の点の座標と、各点を結ぶ線を表す式のパラメータなどの情報である。また、アウトラインフォントの場合には、文字の輪郭線を構成する点の座標と、各点を結ぶ線を表す式のパラメータなどの情報である。HDD75は、後述する設定実行処理のプログラム、各種アプリケーションソフトウェアのプログラム、各種データファイル、および保護処理テーブル79(図9)などを記憶している。CPU71、RAM72、およびROM73は、不図示のバス線により相互に接続されている。また、CPU71とHDD75は、不図示の入出力インターフェースを介して接続されている。
次に、CPU71が実行するレーザ照射処理について図3〜9を用いて説明する。レーザ加工装置1の電源がONされ、PC7にてレーザ照射処理のためのアプリケーションが起動されると、PC7は受付画面をLCD77に表示する。ユーザは受付画面にて、加工したい文字、記号、図形などの情報である印字情報を入力する。ここで、ユーザが入力する、加工したい文字、記号、図形などのパターンを加工パターンと称する。例えば、「ABC」の文字を加工したい場合、ユーザは印字情報として、「ABC」の文字列、「ABC」の加工領域における位置、文字の大きさ、フォントなどを入力する。
CPU71はステップS7において、保護処理を要しないと判断した場合、ステップS19のレーザ照射処理において、保護処理を行わない。また、ステップS7において、CPU71は材料毎の保護処理の要・不要の値を有する保護処理テーブル79に基づいて判断する。これにより、レーザ加工装置1は保護処理が不要の材料である場合には、レーザ照射処理において、保護処理を省略することができる。一方、レーザ加工装置1は保護処理を要する材料である場合であって、保護処理チェックボックス81に保護処理を行うことを示すチェックがあると判断した場合(S9:YES)には、レーザ照射処理において、保護処理を実行する。これにより、レーザ加工装置1は材料に応じて効率良く保護処理を施すことができる。
次に、条件設定処理の別例1について説明する。上記では、保護処理テーブル79は保護処理を要する材料の行に、エネルギー密度の値と、当該エネルギー密度を実現するパワーおよび走査速度の値を有していると説明したが、エネルギー密度に替えて、加工処理におけるエネルギー密度と保護処理におけるエネルギー密度との比率を項目としたテーブルを記憶する構成としても良い。具体的には、図11に示すように、保護処理テーブル300の保護処理におけるエネルギー密度の値は比率で表記される。ここで比率とは、保護処理におけるエネルギー密度を加工処理におけるエネルギー密度で除した値である。この構成によれば、加工処理におけるエネルギー密度が規定値から変更された場合に、加工処理におけるエネルギー密度の変更に応じて、保護処理におけるエネルギー密度を変更することができる。尚、保護処理におけるエネルギー密度は、レーザ光Lのパルス周波数およびガルバノスキャナ18の走査速度を調整することによって実現される。次に、所望のエネルギー密度とするために、走査速度およびパルス周波数を求める方法について説明する。
保護処理におけるエネルギー密度を実現する走査速度およびパルス周波数の値を予め記憶していない場合であっても、CPU71は保護処理におけるエネルギー密度を、走査速度およびパルス周波数を変更することにより実現することができる。
次に、条件設定処理の別例2について説明する。上記では、材料種別とエネルギー密度の対応関係の情報を保護処理テーブル79として記憶していると説明したが、材料種別よりも細分化した材料名とエネルギー密度との関係を情報として記憶する構成としても良い。具体的には、HDD75は、図14に示す保護処理テーブル301を記憶している。保護処理テーブル301は、保護処理テーブル79の項目に加え、「材料名」を項目として有する。CPU71は加工設定処理において、例えば加工設定画面80(図6)にて、材料名の選択を受付ける材料名プルダウンメニューを追加して表示させる。材料名プルダウンメニューの選択肢は保護処理テーブル301が有する材料名の値とする。ユーザは、加工材料プルダウンメニュー83にて鉄鋼を選択した場合には、さらに、材料名を選択する。CPU71は条件設定処理(S15)のステップS31でYESと判断した場合、保護処理テーブル301の選択された材料名に対応するエネルギー密度の値を保護処理のエネルギー密度の値に決定する。尚、所望のエネルギー密度を実現するパワー、走査速度、周波数の値は、保護処理テーブル79と同様に予め保護処理テーブル301が有する構成として、保護処理テーブル301を参照して決定しても良く、条件設定処理の別例1と同様に決定しても良い。材料種別が鉄鋼の場合であっても、保護処理におけるエネルギー密度の最適値は、組成が異なるため、材料の種類によって、異なる場合がある。例えば、SUS304の保護処理におけるエネルギー密度の最適値aは、SUS410の保護処理におけるエネルギー密度の最適値bよりも小さい。
CPU71は保護処理におけるエネルギー密度を、鉄鋼などの材料種別よりも細分化された材料名に応じた値に決定することができる。
例えば、上記では、保護処理において、印字データに基づいて、即ち加工パターンと同じ領域に、レーザ光Lを照射すると説明したが、これに限定されない。保護処理におけるレーザ光Lの照射領域を、加工パターンよりも大きい領域としても良い。加工処理において、レーザ光Lの照射領域の近傍もレーザ光Lの影響を受け、保護膜がダメージを受けている場合がある。そこで、加工パターンよりも大きい領域に保護処理を行うことで、影響を受けている近傍の領域においても、保護膜の形成を行うことができる。
2 レーザ加工部
3 レーザヘッド部
5 レーザコントローラ
7 PC
12 レーザ光出射部
18 ガルバノスキャナ
40 励起用レーザ光出射部
41,71 CPU
51 励起用レーザドライバ
70 制御部
75 HDD
Claims (7)
- レーザ光を出射するレーザ光出射部と、
前記レーザ光を走査する走査部と、
前記レーザ光出射部および前記走査部を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
加工パターンに基づいて、加工対象物に第1エネルギー密度の前記レーザ光を用いたレーザ加工を行う加工処理と、
前記加工処理の後、前記加工パターンに基づいて、前記加工対象物に前記第1エネルギー密度よりも小さい第2エネルギー密度の前記レーザ光を照射する保護処理と、
前記保護処理の実行に先立ち、前記加工対象物の材料種別に応じて前記保護処理を要するか否かを判断する判断処理と、を実行し、
前記判断処理において、前記保護処理を要しないと判断した場合、前記保護処理を実行しないことを特徴とするレーザ加工装置。 - 前記制御部は、
前記判断処理において、前記保護処理を要すると判断した場合、前記保護処理を実行するか否かの選択を受け付ける受付処理を実行することを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工装置。 - 前記材料種別と前記第2エネルギー密度とを対応付ける対応データを記憶する記憶部を備え、
前記制御部は、前記対応データに基づいて、前記保護処理において前記加工対象物に照射する前記第2エネルギー密度を、決定することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のレーザ加工装置。 - 前記制御部は、前記保護処理において、
前記走査部の走査速度および前記レーザ光のパルス周波数の少なくとも何れか一方を変更することより前記第2エネルギー密度を調整することを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかに記載のレーザ加工装置。 - 前記制御部は、
前記保護処理における前記走査部の走査方向を、前記加工パターンに基づいた方向に決定する決定処理を実行することを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れかに記載のレーザ加工装置。 - 前記制御部は、前記決定処理において、
前記加工パターンの外接矩形を算出し、前記外接矩形の長辺方向を前記走査部の走査方向として決定することを特徴とする請求項5に記載のレーザ加工装置。 - 前記制御部は、前記決定処理において、
前記加工パターンの外接矩形を算出し、算出された前記外接矩形の長辺方向と、前記加工処理における走査方向とに基づいて、前記走査部の走査方向を決定することを特徴とする請求項5に記載のレーザ加工装置。
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