JP2018098788A - 逐次比較レジスタ型ad変換器における利得較正方法、及び逐次比較レジスタ型アナログデジタル変換器 - Google Patents

逐次比較レジスタ型ad変換器における利得較正方法、及び逐次比較レジスタ型アナログデジタル変換器 Download PDF

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Abstract

【課題】逐次比較レジスタ型AD変換器における利得較正方法、及び逐次比較レジスタ型アナログデジタル変換器を提供する。【解決手段】SARADC(700)における利得較正方法であって、アナログ入力信号(VIN)のビット数を決定するステップと、アナログ入力信号(VIN)から決定されたバイナリコードが少なくとも1つのトリガコードと一致するか否かを検出するステップと、較正残差信号(V*RES)及び較正ビット(B*LSB)を決定するために少なくとも1つの設定コードを使用するステップと、デジタル信号(COUT)及び較正ビット(B*LSB)の最下位ビットを解析するステップと、前記利得モジュールにおける利得誤差の存在の指示子を決定するステップと、利得誤差を較正するステップとを含む。較正ビット(B*LSB)の決定は1つの追加の比較しか必要としないので、通常の動作と比較して、通常の操作を中断する必要はない。【選択図】図6A

Description

本発明は、逐次近似レジスタ型アナログデジタル変換器(SARADC)における利得較正方法に関する。本発明はまた、逐次比較レジスタ型アナログデジタル変換器に関する。
アナログデジタル変換器(ADC)は一般に知られており、アナログフロントエンドと後続のデジタル処理ブロックとの間のインターフェースとして使用されている。現代の無線通信システムは、通常、高分解能(すなわち、12〜14ビット)の低電力を必要とする。十分に高い電力効率を提供するために、本質的に電力効率が高いので、SARADCが使用される。SARADCの欠点は、DACキャパシタのミスマッチと比較器のノイズのためにわずか8〜12ビットの分解能に制限されていることである。
近年、解像度を高めることができる2段パイプラインSARADCが提案されている。2段パイプラインSARADCは、2つの独立した中分解能SARADCと段間残差増幅器で構成されている。このパイプライン構造は第2段のノイズ要件を緩和するが、段間増幅器には低ノイズで正確な利得条件を課す。
2段SARADCに関する既知の問題は、一般に高分解能ADCを有する場合、最高の性能を達成するために較正が必要である。具体的には、
(1)各段のDACは互いに較正する必要がある。
(2)増幅器は、較正する必要があるオフセットを有することができる。
(3)各段のADCの比較器をオフセットすることができる。
(4)増幅器は、較正する必要がある利得誤差を有することができる。
しかしながら、既知の較正プロセスでは、SARADCの通常の動作を停止させる必要がある。このように、SARADCは入力信号を連続的に変換することができない。別の利点は、既知の較正プロセスが、環境影響による経時変化を考慮していないことである。
本開示の目的は、SARADCの通常動作を中断しない、逐次近似レジスタ型アナログデジタル変換器(SARADC)における利得較正方法を提供することにある。
開示の概要
前記目的は、SARADCにおける以下の利得較正方法によって達成され、前記方法は、
a)第1段のADCが、アナログ入力信号に対応するデジタル信号の複数の最上位ビットを決定するステップと、
b)利得モジュールが、第1段のADCから出力された残差信号を増幅するステップと、
c)第2段のADCが、アナログ入力信号に対応するデジタル信号の複数の最下位ビットを決定するステップと、
d)前記アナログ入力信号(VIN)から決定されたバイナリコードが少なくとも1つのトリガコードと一致するか否かを検出するステップと、
e)少なくとも1つのトリガコードに対応する少なくとも1つの設定コードを用いて、前記第1段のADCにおける較正残差信号と、第2段のADCにおける較正ビットとを決定するステップと、
f)デジタル信号の最下位ビット及び較正ビットを解析するステップと、
g)前記解析から、前記利得モジュールにおける利得誤差の存在の表示を決定するステップと、
h)利得誤差の存在が決定されたときに、利得モジュールにおける利得誤差を較正するステップとを含む。
較正ビットの決定は、第2段のADCにおいて1つの追加の比較しか必要としないので、通常の動作と比較して、SARADCの正常動作に大きな影響はない。具体的には、通常の操作を中断する必要はなく、ただ1つの追加の比較ステップが存在する。さらに、利得誤差があるか否かを決定すること、誤差がある場合に較正することは、SARADCの通常の動作に影響を与えるプロセスではない。従って、較正はバックグラウンドで行うことができ、それ故、頻繁に行うことができ、それによって、環境効果による経時変化を考慮に入れることができる。
一実施形態では、前記ステップe)はさらに、アナログ入力信号と、少なくとも1つの設定コードの一部を表すアナログ信号との間の差を計算することによって、較正残差信号を決定するステップを含む。
一実施形態では、前記ステップe)はさらに、増幅された較正残差信号を、少なくとも1つの設定コードの一部を表す別のアナログ信号と比較することによって、較正ビットを決定するステップを含む。
一実施形態では、前記ステップe)はさらに、利得モジュールが、較正残差信号を一時的に記憶することを、最下位ビットが決定されるまで繰り返すステップを含む。
一実施形態では、前記ステップg)はさらに、最下位ビットと較正ビットが異なるか否かを決定し、利得モジュールにおける利得誤差の存在を示すステップを含む。好ましくは、前記ステップg)はさらに、最下位ビットの値を決定し、前記値が「1」の値を有するときに下方較正を示し、前記値が「0」の値を有するときに上方較正を示すステップを含む。
代替実施形態では、前記ステップg)はさらに、最下位ビット及び較正ビットの値を決定し、
最下位ビットと較正ビットの両方の値が「0」であるときに、利得モジュールに利得誤差の存在を示さず、
最下位ビットと較正ビットの両方の値が「1」であるときに、利得モジュールに利得誤差の存在を示さず、
最下位ビットの値が「0」でありかつ較正ビットの値が「1」であるときに、利得モジュールにおける利得誤差の存在を上方較正で示し、
最下位ビットの値が「1」でありかつ較正ビットの値が「0」であるときに、利得モジュール内に利得誤差の存在を下方較正で示すステップを含む。
一実施形態では、前記ステップh)はさらに、利得モジュールにおける利得誤差の存在が検出されたときに、複数の調整可能なキャパシタのうちの少なくとも1つを調整することによって第2段のADCを較正するステップを含む。
本開示の別の目的は、SARADCの通常の動作を中断することなく利得誤差較正を受けることができる、逐次比較レジスタ型アナログデジタル変換器(SARADC)を提供することにある。
前記目的は、以下のSARADCによって達成され、前記SARADCは、
アナログ入力信号に対応するデジタル信号の複数の最上位ビットを決定し、前記デジタル信号の複数の最下位ビットに対応する残差信号を出力するように構成された第1段のADCと、
前記第1段のADCから出力された残差信号を受信し、残差信号を増幅して出力する利得モジュールと、
増幅された残差信号を受信し、増幅された残差信号から入力アナログ信号に対応するデジタル信号の複数の最下位ビットを決定するように構成された第2段のADCと、
前記第1段のADC、前記利得モジュール、及び前記第2段のADCを制御するように構成された制御モジュールとを備え、
前記制御モジュールは、
入力されたアナログ信号に対応するデジタル出力信号を出力し、
少なくとも1つのトリガコードを格納し、
アナログ入力信号から決定されたバイナリコードが少なくとも1つのトリガコードと一致するか否かを検出し、
少なくとも1つのトリガコードに対応する少なくとも1つの設定コードを、較正残差信号を決定するようにさらに構成された第1段のADC、並びに、較正ビットを決定するようにさらに構成された第2段のADCに提供し、
デジタル信号の最下位ビット及び較正ビットを解析し、
前記解析から、前記利得モジュールにおける利得誤差の存在の指示子を決定し、
前記利得誤差の存在が決定された場合、利得モジュールにおける較正利得誤差を開始するように構成される。
このSARADCは、既に上述した方法と同じ利点を有する。
一実施形態では、前記第1段のADCは、アナログ入力信号と、少なくとも1つの設定コードの一部を表すアナログ信号との間の差を計算することによって較正残差信号を決定するように構成される残差生成モジュールを備える。
一実施形態では、前記第2段のADCは、増幅された較正残差信号を、少なくとも1つの設定コードの一部を表す別のアナログ信号と比較することによって、較正ビットを決定するように構成された比較器を備える。
一実施形態では、前記利得モジュールは、
第1の増幅器と、
第2の増幅器と、
第1の増幅器と第2の増幅器との間の第1のスイッチと、
第2の増幅器の後段の第2のスイッチとを備え、
前記制御モジュールは、較正残差信号を、第1のスイッチの後段のコンデンサに一時的に格納することを、前記第2段のADCが最下位ビットを決定するまで繰り返すように、第1のスイッチ及び第2のスイッチを制御する。
一実施形態では、前記制御モジュールはさらに、最下位ビットと較正ビットとが異なるか否かを決定し、利得モジュール内の利得誤差の存在を示す差分計算モジュールを備える。好ましくは、前記制御モジュールは、最下位ビットの値を決定し、前記値が「1」の値を有するときに下方較正を示し、前記値が「0」の値を有するときに上方較正を示すように構成された利得較正モジュールを備える。
代替実施形態では、前記制御モジュールは、最下位ビット及び較正ビットの値を決定するように構成された利得較正モジュールを備え、
最下位ビットと較正ビットの両方の値が「0」であるときに、利得モジュールに利得誤差の存在を示さず、
最下位ビットと較正ビットの両方の値が「1」であるときに、利得モジュールに利得誤差の存在を示さず、
最下位ビットの値が「0」でありかつ較正ビットの値が「1」であるときに、利得モジュールにおける利得誤差の存在を上方較正で示し、
最下位ビットの値が「1」でありかつ較正ビットの値が「0」であるときに、利得モジュールにおける利得誤差の存在を下方較正で示す。
一実施形態では、前記制御モジュールは、利得モジュール内の利得誤差の存在を示す信号を、前記信号に応じて調整されるように構成された複数の調整可能なキャパシタを備えた第2段のADCに送るようにさらに構成される。
本開示は、以下の説明及び添付の図面によってさらに説明される。
従来の2段パイプライン逐次比較レジスタ(SAR)型アナログデジタル変換器(ADC)のブロック図を示す。 本開示にかかる2段パイプラインSARADCのブロック図を示す。 図2Aの2段パイプラインSARADCの制御モジュールのブロック図を示す。 図2Aの2段パイプラインSARADCの第1のSARADCのブロック図を示す。 図2Aの2段パイプラインSARADCの利得モジュールのブロック図を示す。 図2Aの2段パイプラインSARADCの第2のSARADCのブロック図を示す。 通常動作中の図2Aの2段パイプラインSARADCのタイミング図を示す。 DACミスマッチの較正、増幅器利得の較正、又は第2の比較器のオフセット較正中の、図2Aの2段パイプラインSARADCのタイミング図を示す。 第1の比較器のオフセット較正中の図2Aの2段パイプラインSARADCのタイミング図を示す。 利得誤差の較正を伴う本開示にかかる2段パイプラインSARADCのブロック図を示す。 図6Aの2段パイプラインSARADCの制御モジュールのブロック図を示す。 図6Aの2段パイプラインSARADCの第1のSARADCのブロック図を示す。 図6Aの2段パイプラインSARADCの利得モジュールのブロック図を示す。 図6Aの2段パイプラインSARADCの第2のSARADCのブロック図を示す。
本開示の説明
本開示は、特定の実施形態に関して、及び特定の図面を参照して説明されるが、本開示はそれに限定されず、請求項によってのみ限定される。記載された図面は概略的なものに過ぎず、限定的ではない。図面において、要素のいくつかのサイズは、説明のために誇張されており、縮尺通りに描かれていない場合がある。寸法及び相対的な寸法は、本開示の実施のための実際の縮小に必ずしも対応していない。
さらに、明細書及び特許請求の範囲における第1、第2、第3などの用語は、類似の要素を区別するために使用され、必ずしも逐次的又は時間的な順序を説明するためではない。これらの用語は、適切な状況下で交換可能であり、本開示の実施形態は、本明細書に記載又は例示されている以外の順序で動作することができる。
さらに、説明及び特許請求の範囲における上部、下部、上、下などの用語は、説明目的で使用され、必ずしも相対的な位置を説明するためではない。そのように使用される用語は、適切な状況下で交換可能である。本明細書に記載された開示の実施形態は、本明細書に記載又は図示されている以外の向きで動作することができる。
さらに、様々な実施形態は、「好ましい」と呼ばれるが、例示的な方法として解釈されるべきである。この開示は、本開示の範囲を限定するものではなく実装されてもよい。
図1は、従来の2段パイプライン逐次近似レジスタ(SAR)型アナログデジタル変換器(ADC)100のブロック図を示す。2段パイプラインSARADC100は、第1のSARADC110と、第2のSARADC120と、第1のSARADC110の出力信号を増幅する利得モジュール130と、2段パイプラインSARADC100を制御する制御モジュール140とを備える。図1では、フルラインは、第1のSARADC110がその動作を終了するまで送信される信号を示すために使用され、破線は、第1のSARADC110がその動作を終了した後、第2のSARADC120がその動作を終了するまでの送信される信号を示すために使用され、一点鎖線は、第2のSARADC120がその動作を終了した後に送信される信号を示すために使用される。
動作中、アナログ入力信号VINは、複数の最上位ビット(Most Significant Bits:MSB)を決定する第1のSARADC110に入力される。複数のMSBは、アナログ入力信号VINを、入力信号VINをサンプリングする第1の追跡及び保持モジュール112に供給することで決定される。制御モジュール140は、デジタルコードCMSBを第1のデジタルアナログ変換器(DAC)114に入力し、第1のデジタルアナログ変換器(DAC)114はデジタルコードCMSBを対応するアナログ信号VMSBに変換する。第1の比較器116は、入力信号VINとアナログ信号VMSBとを比較して、2つの信号のうちのどちらが大きいかを決定する。比較結果に応じて、第1の比較器116はバイナリ値BMSBを出力する。
バイナリ値BMSBが「1」であるとき、入力信号VINはアナログ信号VMSBより大きい。同様に、バイナリ値BMSBが「0」の場合、入力信号VINはアナログ信号VMSBより小さい。バイナリ検索アルゴリズムを使用して、制御モジュール140は、入力信号VINに対応するデジタル信号のMSBが決定されるまで、デジタルコードCMSBを変更する。
少なくとも1つのクロック信号(図1には図示せず)は、2段パイプラインSARADC100のタイミングを制御して、アナログ入力信号VINに対応するデジタル信号のMSB及びLSBの決定の反復を提供するために設けられることが容易に理解されるであろう。
例えば、一実施形態では、制御モジュール140は、デジタルコードCMSBを「1000」として初期化する。バイナリ値BMSBに応じて、次の反復において、制御モジュール140は、デジタルコードCMSBを、バイナリ値BMSBが「1」であるときに「1100」にセットし、バイナリ値BMSBが「0」であるときに「0100」にセットする。この実施形態では、4回の反復が実行されて、入力信号VINに対応する4個のMSBを決定する。
当業者であれば、任意の数のMSBが、あらかじめ設定された回数の反復を使用することで、第1のSARADC110によって決定され得ることが明らかである。
MSBが第1のSARADC110によって決定された後、すなわち、予め設定された反復回数が実行された後、第1のSARADC110は、入力信号VINと、デジタルコードCMSBに対応するアナログ信号VMSBとの差を表すアナログ残差信号VRESを出力する。このアナログ信号VRESは、入力信号VINのLSB(Least Significant Bits)に関する情報を含む。信号VRESは、当該信号を増幅するために利得モジュール130を介して送信される。
動作中に、利得モジュール130からの増幅された信号VAMPは、複数のLSBを決定する第2のSARADC120に入力される。具体的には、増幅された信号VAMPを、増幅された信号VAMPをサンプリングする第2の追跡及び保持モジュール122に供給することで複数のLSBが決定される。制御モジュール140は、デジタルコードCLSBを第2のDAC124に入力し、第2のDAC124はデジタルコードCLSBを対応するアナログ信号VLSBに変換する。第2の比較器126は、増幅された信号VAMPとアナログ信号VLSBとを比較して、2つの信号のどちらが大きいかを決定する。比較結果に応じて、第2の比較器126はバイナリ値BLSBを出力する。
バイナリ値BLSBが「1」であるとき、増幅信号VAMPはアナログ信号VLSBより大きい。同様に、バイナリ値BLSBが「0」の場合、入力信号VAMPはアナログ信号VLSBより小さい。バイナリ検索アルゴリズムを用いて、制御モジュール140は、入力信号VINに対応するデジタル信号のLSBが決定されるまで、デジタルコードCLSBを変更する。
第2のSARADC120が予め設定された反復回数を終了した後、制御モジュール140は、入力信号VINに対応するデジタルコードCOUTを出力する。COUTは、第1のSARADC110によって決定されたMSBに関する情報と、及び第2のSARADC120によって決定されたLSBに関する情報とを組み合わせることで、制御モジュールによって決定される。
図2Aは、以下を修正するバックグラウンド較正を有する2段パイプラインSARADC200のブロック図を示す。
(1)SARADC210,220間のDACミスマッチ誤差;
(2)利得モジュール230のプロセス、電圧及び温度(PVT)変動に起因する増幅器利得誤差;及び
(3)比較器216,226のオフセット誤差。
図2Aでは、フルラインは、2段パイプラインSARADC200の通常動作中に発生する信号を示すために使用される一方、点線は、バックグラウンド較正のために実行されていた、又は実行された余分なステップに関連している、送信される信号を示すために使用される。
2段パイプラインSARADC200の通常の動作は、図1に示す従来の2段パイプラインSARADC100と同一のである。具体的には、入力信号VINが第1のSARADC210に入力され、第1のSARADC210は上記のように多数のMSBを反復的に決定する。第1のSARADC210は、残差信号VRES=VIN−VMSBを出力し、残差信号VRESは利得モジュール230で増幅され、増幅された信号VAMPは第2のSARADC220に入力される。第2のSARADC220は、増幅された信号VAMPに基づいて入力信号VINのLSBを決定する。MSBとLSBの両方が制御モジュール240に格納され、ここで、それらが結合され、制御モジュール240は、入力信号VINに対応するデジタルコードCOUTを出力する。
一実施形態では、第1のSARADC210は、7ビットデジタルコードCMSBを使用し、7つの比較を行って、入力信号VINに対応するデジタル信号の7ビットを決定し、第2のSARADC220は8ビットデジタルコードCLSBを使用し、従って8つの比較を実行する。しかしながら、第2のSARADC220は、2段パイプラインSARADC200の冗長性のために、入力信号VINの7ビットだけを決定する。このように、この実施形態では、入力信号VINに対応する14ビットデジタル信号を決定するために合計15個の比較が実行される。これにより、第1のSARADC210のLSBが利得モジュール230によって第2のSARADC220のMSBに直接リンクされるので、段間冗長性が生じ、すなわち次式を得る。
Gain*LSB1st=MSB2nd (1)
この実施形態のタイミング図は、変換プロセスの2サイクルにわたって図3に示されている。外部クロック信号(制御モジュール240のタイミングモジュール(図示せず)によって生成される)は、変換プロセスを開始する。
第1の比較器クロック信号は、第1のSARADC210の第1の比較器(図2Aには図示せず)の動作を制御する。第1の比較器は7つの動作サイクルを有することは明らかである。第1の比較器がその動作を終了した後、利得モジュール230が起動される。
以下に説明するように、利得モジュール230は2段増幅器を備える。このように、第1の増幅器クロック信号は、2段増幅器の第1の増幅器がアクティブであるときを示す(すなわち、第1の増幅器クロック信号のハイからローへの遷移と、ローからハイへの遷移との間の期間を示す)。
同様に、第2の増幅器クロック信号は、2段増幅器の第2の増幅器がアクティブであることを示す(すなわち、第2の増幅器制御(又はクロック信号)のハイからローへの遷移と、ローからハイへの遷移との間の期間を示す)。
第2の比較器クロック信号は、第2のSARADC220の第2の比較器(図2Aには図示せず)の動作を制御する。第2の比較器は、第2の増幅器クロック信号によって示される第2の増幅器がアクティブであると同時に8つの動作サイクルを有することは明らかなである。
各SARADC210,220はまた、2段パイプラインSARADC200が使用されるアーキテクチャに応じて別の数の比較を実行してもよいことは理解されるであろう。しかしながら、直接にリンクする段間の冗長性が維持されていなければならず、第1のSARADC210のLSBは、第2のSARADC220のMSBに直接リンクされることが重要である。
図2Aに戻ると、本開示の2段パイプラインSARADC200では、制御モジュール240は、MSBが第2のSARADC220によって決定された後に、検出ステップを実行する。具体的には、制御モジュール240は、第1のSARADC210のMSB及び第2のSARADC220のLSBのMSBを含むバイナリコードが、プリセットバイナリコードと一致するか否かを決定する。以下ではCDET(図示せず)と呼ばれるこのコードが実際にプリセットされたバイナリコードと一致する場合、以下で説明するように、較正プロセスがトリガされる。一方、このコードがあらかじめ設定されたバイナリコードと一致しない場合は、較正プロセスがトリガされず、2段パイプラインSARADC200の標準動作が、アナログ入力信号VIN全体がデジタル信号に変換されるまで、もしくは、又はコードCDETがプリセットバイナリコードと一致するまで、継続される。
図2Bは、図2Aの2段パイプラインSARADC200の制御モジュール240のブロック図を示す。制御モジュール240は、インターフェースモジュール241を備え、インターフェースモジュール241は、様々な入力信号を受信し、様々な出力信号を2段パイプラインSARADC200の他のモジュールに送信するために使用される。
制御モジュール240は、メモリモジュール242を備え、メモリモジュール242は、入力信号VINの逐次近似の間において、各SARADC210,220によって検出されたバイナリコードを格納することができる。さらに、メモリモジュール242はまた、後述するように較正プロセスをトリガする適切なプリセットバイナリコードを格納してもよい。
制御モジュール240はまた、検出モジュール243を備える。検出モジュール243は、コードCDETがメモリモジュール242に記憶されているプリセットバイナリコードと一致するか否かを検出する。プリセットバイナリコードが検出された場合、この検出は関連する較正モジュールに伝達され、すなわち、関連する較正モジュールは、DACミスマッチ較正モジュール244、増幅器利得較正モジュール245、及びオフセット較正モジュール246のうちの1つである。
さらに、制御モジュール240は、2つのビット値の間の差を決定する差分計算モジュール247を備える。差分計算モジュール247は、後述するように較正に使用される。
当業者であれば、制御モジュール240は、他のモジュールとの間で信号を送受信し、かつ/又は他のモジュールから信号を受信するために、異なるモジュール間に適切な内部接続(図示せず)をさらに備えることは明らかである。
図2Cは、本開示の2段パイプラインSARADC200の第1のSARADC210のブロック図を示す。図1に示す従来のSARADC110のように、第1のSARADC210は、アナログ入力信号VINのm個のMSBを決定するために使用され、追跡及び保持モジュール212と、第1のDAC214と、第1の比較器216とを備える。追跡及び保持モジュール212は、入力信号VINをサンプリングして、第1の比較器オフセット補正モジュール218(その動作は以下に説明される)を介して第1の比較器216に供給する。
第1のDAC214は、m個のキャパシタ214a,214b,…,214mを備え、各キャパシタは、決定されるm個のMSBのビットに関連する。第1のDAC214で受信されたデジタルコードCMSBに応じて、キャパシタ214a,214b,…,214mの1つ以上がスイッチオンされ、デジタルコードCMSBをアナログ信号VMSBに変換する。
通常動作時には、第1の比較器216は、VINとVMSBとの比較に基づいてバイナリ値BMSBを出力する。MSBが決定された後、第1のSARADC210の残差生成モジュール219は、残差信号VRES=VIN−VMSBを生成し、残差信号VRESは第1のSARADC210から出力される。
図2Aに関して上述したように、検出モジュール243が、コードCDETがDACミスマッチ較正に関連するプリセットバイナリコードと一致することを検出するとき、検出モジュール243は、DACミスマッチ較正モジュール244に較正が行われることを示す信号を送る。次に、DACミスマッチ較正モジュール244は、特定のデジタル較正コードC MSBを第1のDAC214に送り、アナログ較正信号V MSBを生成する。
第1のSARADC210がMSBの決定を終了した後、コードCDETが決定されるだけなので、信号VRESは既に第1のSARADC210から出力されている。しかしながら、DACミスマッチ較正がトリガされると、DACミスマッチ較正モジュール244は、第1のSARADC210における追加のステップをトリガする。この追加のステップは、較正残差信号を計算し、すなわち、V RES=VIN−V MSBを計算し、これは、入力信号VINとアナログ較正信号V MSBとの間の差である。この計算の出力は、図2Cに点線で示され、これは、通常の動作中には発生しない付加的な動作である。較正残差信号V RESの出力後、第1のSARADC210は再び入力信号VINのサンプリングを開始し、次の通常動作サイクルを開始する。
DACミスマッチ較正中の2段パイプラインSARADCのタイミング図を図4に示します。図3に示すように、外部クロック信号は制御モジュールにより発生され、第1の比較器クロック信号は、第1のSARADC210の第1の比較器216の動作を制御し、第1の増幅器クロック信号は、2段増幅器の第1の増幅器がアクティブであるときを示し、第2の増幅器クロック信号は、2段増幅器の第2の増幅器がアクティブであることを示し、第2の比較器クロック信号は、第2のSARADC220における第2の比較器の動作を制御する。
図4から、DACミスマッチ較正の間に、第1及び第2の増幅器クロック信号が変更されることが明らかである。具体的には、コードCDETが決定された後に第1の増幅器がリセットされ、すなわち、第2のSARADC220のLSBのMSBが決定された後である。
図2Dは、本開示の2段パイプラインSARADC200の利得モジュール230のブロック図を示す。上記のように、利得モジュール230は、2段増幅器の形態であり、第1の増幅器232と第2の増幅器236とを備える。増幅器232,236の間には、回路を開閉することができる第1のスイッチ234がある。キャパシタCは、第1のスイッチ234の後段に配置され、閉じたときにアナログ信号を記憶することができるように配置される。
第2の増幅器232の後に、利得モジュール230は、回路を開閉することができる第2のスイッチ238を備える。第2のスイッチ238が閉じられると、増幅された信号VAMPが利得モジュール230から出力される。利得モジュール230はまた、オフセット補正モジュール231を備え、その動作を以下に説明する。
図3から、通常動作時には、第1及び第2のスイッチ234及び238は、信号VRESが中断されることなく利得モジュール230内で増幅され、VAMPがLSBを決定することができる第2のSARADC220に出力されるように、第1及び第2の増幅器クロック信号のそれぞれに従って閉じられることができることは明らかである。
しかしながら、DACミスマッチ較正プロセスの間に、第2のSARADC220が入力信号VINのLSBの決定を終了する前に、較正残差信号V RESは既に決定されている。このため、第2のSARADC220がVRESに対応する増幅された信号VAMPのビットを決定できることを確実にするために、そのビットは入力信号VINのLSBに対応し、較正残差信号V RESに対応する増幅された較正信号V AMPは、第2のSARADC220がLSBの決定を終了する前に、利得モジュール230から出力され得ない。較正残差信号V RESを受信してから増幅された較正信号V AMPを出力するまでのレイテンシを達成するために、図2Dに示す2段増幅器が有利である。
図4に示すように、VRESが第1のSARADC210によって決定された後、第1の増幅器232はアクティブになり、信号VRESを増幅し、直ちにVAMPを生成する第2の増幅器236に通す。このように、第1及び第2のスイッチ234及び238の両方が閉じられる。しかしながら、第1のSARADC210が較正残差信号V RESを決定しているとき、第1のスイッチ234が開き、第1の増幅器232がリセットされる。第1のSARADC210が較正残差信号V RESを出力すると、第1のスイッチ234は再び閉じられ、第1の増幅器232は較正残差信号V RESを増幅する。この中間増幅された信号は、その後、蓄積キャパシタC上に記憶され、第1のスイッチ234は再び閉じられる。このように、第1のSARADC210は、蓄積キャパシタCに蓄積された中間増幅信号に影響を与えることなく、次のサイクルの通常のサンプリング動作を継続することができる。第2のSARADC220が最後の比較を終了すると、すなわち、入力信号VINのすべてのLSBを決定した後、第2のスイッチ238を開くことによって第2の増幅器236がリセットされる。リセットされた後、第2の増幅器236は、蓄積キャパシタCに蓄積された中間増幅信号を増幅し、増幅された較正信号V AMPを第2のSARADC220に出力する。以下に説明するように、第2のSARADC220は、余分な比較を実行する。
図2Eは、本開示の2段パイプラインSARADC200の第2のSARADC220のブロック図を示す。図1に示す従来のSARADC120のように、第2のSARADC220は、アナログ入力信号VINの複数n個のLSBを決定するために使用され、追跡及び保持モジュール222と、第2のDAC224と、第2の比較器226とを備える。
追跡及び保持モジュール222は、入力信号VAMPをサンプリングして第2の比較器226に供給する。第2のDAC224は、n個のキャパシタ224a,224b,…,224nを備え、各キャパシタは、決定されるべきn個のLSBのビットに関連する。第2のDAC224で受信されるデジタルコードCLSBに依存して、キャパシタ224a,224b,…,224nのうちの1つ以上がスイッチオンされ、デジタルコードCLSBをアナログ信号VLSBに変換する。通常動作時には、第2の比較器226は、VAMPとVLSBの比較に基づいてバイナリ値BLSBを出力する。
上記のように、検出モジュール243が、コードCDETがDACミスマッチ較正に関連するプリセットバイナリコードと一致することを検出するとき、検出モジュール243は、「開始」信号を用いて図2Aの点線で示されるように較正が行われることを示す信号をDACミスマッチ較正モジュール244に送る。
上記のように、第1のSARADC210は、利得モジュール230によって較正信号V AMPに増幅された較正残差信号V RESを出力し、当該増幅された較正残差信号V RESは、入力信号VINに対応するデジタル信号のLSBを決定することが終了した後、第2のSARADC220に入力される。次に、DACミスマッチ較正モジュール244は、特定のデジタル較正コードC LSBを第2のDAC224に送り、アナログ較正信号V LSBを生成する。さらに、第2のSARADC220において追加の比較サイクルがトリガされる。次いで、この追加のサイクルは、入力信号、すなわち増幅された残差信号V AMPを、アナログ較正信号V LSBと比較する。この比較の出力は、B LSBで示される較正ビットであり、制御モジュール240に送られる。
次に、差分計算モジュール247は、COUTの最後のビットと較正ビットB LSBとの差を計算する。この比較の結果に応じて、第1のDAC214のキャパシタ214a,214b,…,214mの容量値は、第1のSARADC210の第1のDACと第2のSARADC220の第2のDACとの間のキャパシタミスマッチに対応するように変更される。
この種の較正の利点は、それはバックグラウンドで実行することができ、すなわち、2段パイプラインSARADC200の通常動作が中断されない。第2のSARDAC220には1つの追加の比較サイクルしか存在しないが、図3及び図4のタイミング図に示すように、2段パイプラインSARADC200の合計タイミングに大きな影響はない。
DACミスマッチ較正は、正しいプリセットバイナリコードCDETの選択に基づいている。既に上述したように、第1のSARADC210の残差信号は次式で与えられる。
RES=VIN−VMSB、及び
RES=VIN−V MSB
さらに、同様の式が第2のSARADC220の残差信号に適用される。
RES2=Gain*VRES−VLSB、及び
RES2=Gain*V RES−V LSB
これらの式を組み合わせると、次式を得る。
RES2−VRES
=Gain*(VMSB−V MSB)−(V LSB−VLSB
(2)
増幅器の利得が理想的であると仮定すると、すなわち、方程式(1)が有効であると仮定することによって、これにより、次の式が導かれる。
RES2−VRES
=(MSB2nd/LSB1st)*(VMSB−V MSB)−(V LSB−VLSB
(3)
プリセットコードCDETの値、及びそれに応答してバイナリ較正コードC MSB及びC LSBが設定される値に応じて、式(3)の符号は既知である。
一実施形態では、第1のDACの第1のキャパシタ214aを較正して第2のDACの第1のキャパシタ224aと良好に一致させるときに、次式を得る。
プリセットコードCDET=1000000 0XXXXXXX
ここで、Xは、第2のSARADC220によってまだ決定されていないバイナリ値を示す。この実施形態では、第1のSARADC210は、7ビットデジタルコードCMSBを使用して7つの比較を行って、入力信号VINに対応するデジタル信号の7ビットを決定する一方、第2のSARADC220は、8ビットデジタルコードCLSBを使用して、従って8つの比較を実行する。上記のように、段間の冗長性のために、第1のSARADC210のLSBは、第2のSARADC220のMSBに直接リンクされる。この特定コードCDETが入力信号VINの変換中に遭遇すると、検出モジュール243は、DACミスマッチ較正モジュール244を起動し、C MSB=0111111を第1のDACに入力する。この較正コードに基づいて、較正残差信号V RESが生成される。第2のSARADC220が入力信号VINに対応するデジタルコードの最後のLSBを決定した後、DACミスマッチ較正モジュール244は、較正コードC LSB=1YYYYYYYを第2のDACに入力し、ここで、Yは、第2のSARADC220によって決定されたバイナリ値を示す。これらのバイナリコードに基づいて、理想的には、利得誤差とオフセット誤差が正しく較正されていると仮定すると、次式を得る。
MSB−V MSB=LSB1st、及び
LSB−VLSB=MSB2nd
このことは、V RES2−VRES=0であることを示す。
このため、VRES2とV RES2の符号は同一のでなければならず、COUTとB LSBの最後のビットに反映されるのは、まさにこれらの符号である。このため、これらのビットの差が非ゼロである場合、第1のDACの第1のキャパシタ214aと第2のDACの第1のキャパシタ224aとの間にDAC較正ミスマッチが存在する。
誤差が検出された後、すなわち、最後の2ビット、すなわちCOUT及びB LSBの最後のビットが「01」又は「10」のいずれかを形成する場合、誤差を修正する必要がある。この補正は、第1のDACの第1のキャパシタ214aの容量を調整することによって行われる。具体的には、ビットが「01」を形成する場合、第1のキャパシタ214aに補正信号を送って静電容量を減少させる一方、ビットが「10」を形成する場合、第1のキャパシタ214aに補正信号を送り、容量を増加させる。この信号は、図2Aの点線で示され、「補正」と呼ばれる。
同様の方法で、他のプリセットされたバイナリコードが第1のDACの他のキャパシタに使用され、その結果、これらの特定のキャパシタに対して同一の容量調整が行われる。具体的には、
DET=0100000 0XXXXXXX、及び
DET=0011111 1YYYYYYY
である。ここで、C DETは、第1のDACの第2のキャパシタ214bのための、CDETに対する事前に設定された較正応答コードである。第1のDACの第3のキャパシタ214cのために、
DET=0110000 0XXXXXXX、及び
DET=0101111 1YYYYYYY
である。
第1のDACの第4のキャパシタ214dのために、
DET=0111000 0XXXXXXX、及び
DET=0110111 1YYYYYYY
である。
第1のDACの第5のキャパシタ214eのために、
DET=0111100 0XXXXXXX、及び
DET=0111011 1YYYYYYY
などである。
ここで、Xは、第2のSARADC220によってまだ決定されていないバイナリ値を示し、Yは第2のSARADC220によって決定されたバイナリ値を示す。
これらのプリセットコードは、それぞれのSARADCで決定される他のビット数に対して発生されることができることが理解されるであろう。
本開示の2段パイプラインSARADC200は、PVT変動に起因する増幅器利得の変化を補正するために使用することもできる。上述した増幅器利得較正とDACミスマッチ較正の主な違いは、プリセットバイナリコードCDET及びC DETであり、補正が第2のSARADCモジュール220の第2のDACで実行されることである。具体的には、第1のDACと第2のDACとの間にキャパシタミスマッチがないと仮定すると、式(2)は以下の式となる。
RES2−VRES=MSB2nd−Gain*LSB1st
(4)
利得が正しく較正されている場合は0になる。しかしながら、利得が正確に較正されない場合、式(4)の符号は利得誤差の方向を示す。従来通り、VRES2とV RES2の符号はCOUTとB LSBの最後のビットに反映され、これらのビットの差が非ゼロである場合、利得較正誤差が存在する。
利得較正のために、プリセットコードは次式で表される。
DET=1001000 1XXXXXXX、及び
DET=1001001 0YYYYYYY。
ここで、Xは、第2のSARADC220によってまだ決定されていないバイナリ値を示し、Yは第2のSARADC220によって決定されたバイナリ値を示す。これらのコードの場合において、利得誤差がなければ同一のアナログ値が得られることが予想される。
しかしながら、他のプリセットコードも可能であり、例えば、
DET=ZZZZZ01 1XXXXXXX、及び
DET=ZZZZZ10 0YYYYYYY
である。ここで、Xは、第2のSARADC220によってまだ決定されていないバイナリ値を示し、Yは、第2のSARADC220によって決定されたバイナリ値を示し、Zは未指定の2進数を示す。CDETとC DETの選択における唯一の他の制限は、それらがDACミスマッチ較正をトリガするプリセットバイナリコードと一致してはならないことである。
このため、プリセット利得較正コードが検出されると、検出モジュール243は、増幅器利得較正モジュール245を起動する。次に、このモジュールは、検出されたコードCDETに対応する較正コードC DETを決定し、較正コードC DETをインターフェースモジュール241に送り、インターフェースモジュール241は、第1のSARADC210、第2のSARADC220、及び利得モジュール230への「開始」信号と共に第1及び第2のDACのそれぞれに送る。
DACミスマッチ較正と同様の方法で、較正ビットB LSBが第2のSARADC220から出力され、制御モジュール240に送られる。差分計算モジュール247は、差分を計算し、誤りがあるか否かを検出する。誤差が検出された後、すなわち、最後の2ビット、すなわち、COUT及びB LSBの最後のビットが「01」又は「10」を形成したときに、誤差を修正する必要がある。この補正は、第2のDAC224のキャパシタ224a,224b,…,224nの容量値を調整することによって行われる。具体的には、ビットが「01」を形成する場合、容量を増加させるために補正信号が送られ、ビットが「10」を形成する場合には、静電容量を減少させるために補正信号が送られる。この信号は、図2Aの点線で示され、「補正」と呼ばれる。
本開示の2段パイプラインSARADC200は、第1の比較器216、利得モジュール230、及び第2の比較器226のうちの少なくとも1つのオフセットのために、誤りを訂正するために使用することもできる。第1の比較器216、利得モジュール230、及び第2の比較器226のオフセットをそれぞれV,V,Vとすると、最終残差VRES2上のオフセットは次式で表される。
+V−V/Gain
ここで、Gainは増幅器の利得を示す。このオフセット値が冗長度より大きい場合、2段パイプラインSARADC200が間違ったデジタルコードを出力することが予想される。従って、第2のSARADC220の残差は次式で表される。
RES2=Gain*(VIN+V)−VLSB−V
本開示の一実施形態では、利得モジュール230と第2の比較器226による累積オフセット誤差が同時に補正され、DACミスマッチ較正及び利得較正と同様の方法で実行される。このオフセット較正のために、プリセットコードは任意のバイナリ値をとることができるが、DACミスマッチ較正又は利得誤差較正のいずれかに使用されるプリセットコードのいずれとも一致しないプリセットバイナリコードが選択される。
プリセットオフセット較正コードCDETが検出された場合、検出モジュール243は、オフセット較正モジュール246に信号を送信し、オフセット較正モジュールは対応する較正コードC DETをインターフェース241に送る。次いで、インターフェース241は、このコード対応コードを「開始」信号とともに第1のSARADC210、第2のSARADC220、及び利得モジュール230に送る。
オフセット較正では、CMSBとCLSBのDACコードをそれぞれC MSBとC LSBに変更するだけでなく、利得モジュール230のオフセット補正モジュール231にも信号が送られる。具体的には、この信号はオフセット補正モジュール231の交差モジュール231aに送られる(図2D参照)。この信号を受信すると、交差モジュール231aは入力を切り替える。
一実施形態では、2段パイプラインSARADC200は差動回路として実現される。この実施形態では、交差モジュール231aは単に正の信号と負の信号と交差し、これらの信号をオフセット補正モジュール231に入力する。
代替実施形態では、2段パイプラインSARADC200は、非差動回路として実現される。この実施形態では、交差モジュール231aは入力信号と交差し、オフセット補正モジュールに供給される基準信号と共にオフセット補正モジュール231に入力される。
到来する信号を横切るのに続いて、第1及び第2のDACもまた反転される。言い換えると、較正コードC DETはCDETの論理逆数である。従って、第2のSARDAC220の残差は次式で表される。
RES2
=Gain*(−VIN+V)−V LSB−V
これにより、次式が導かれる。
RES2+VRES=2*Gain*(V−V/Gain)
(5)
DACミスマッチ較正と同様の方法で、較正ビットB LSBが第2のSARADC220から出力され、制御モジュール240に送られる。そして、差分計算モジュール247は、式(5)の符号に対応する差分を計算し、誤差があるか否かを検出する。誤差が検出された後、すなわち、COUT及びB LSBの最後の2ビットが「00」又は「11」のいずれかを形成する場合、誤差を修正する必要がある。この修正は、図2Dに示すように、利得モジュール230のオフセット補正モジュール231の第2の可変キャパシタモジュール231bを調整することによって(「第2」という用語は、回路の第2の部分、すなわち、この場合は利得モジュール230を指す)実行される。具体的には、ビットが「00」を形成する場合、容量を増加させるために補正信号が送られる一方、ビットが「11」を形成する場合、静電容量を減少させるために補正信号が送られる。この信号は、図2Aの点線で示され、「補正」と呼ばれる。
誤差が現在2ビットによって検出された理由、すなわち、COUTとB LSBの最後のビットは同一のである理由は、信号を交差させることによって、利得モジュール230又は第2の比較器226のいずれにもオフセット誤差がない場合、両方のビットは互いに反対であるためである。このため、そうでない場合は、すなわち、両方のビットが等しい場合、利得モジュール230及び第2の比較器226の少なくとも一方にオフセット誤差が存在する。
補正信号は、第1の増幅器232及び第2の増幅器236の前段であって、第2のADC段220の第2の比較器226の前段において配置された可変キャパシタモジュール231bに送られるので、オフセット信号のこれらの可能なソースのすべてを同時に補正するために同一の信号を使用できる。
上記のように、第1の比較器216のオフセット誤差も較正することができる。原則として、利得モジュール230及び第2の比較器226におけるオフセットを較正するのと同一の技術が使用され、本開示にかかる2段パイプラインSARADC200のタイミングは、上記の較正プロセスに関して異なる。
図2Cに示すように、第1のSARADC210は、交差モジュール218a及び第1の可変キャパシタモジュール218bを備える(「第1の」という用語は、回路の第1の部分、すなわち、この場合は第1のSARADC210を指す)第1の比較器オフセット補正モジュール218を備える。
利得モジュール230及び第2の比較器226におけるオフセットを較正することに関しては、交差モジュール218aは、較正がトリガされたときに入力信号を切り替える。このことは、ここでも、2段パイプラインSARADC200が差動回路又は到来信号であり、非差動回路に対する基準である場合には、正の信号及び負の信号であることができる。従来通り、プリセットバイナリコードCDETの必要もなく、他の較正方法のためのプリセットコードのいずれとも一致しないプリセットバイナリコードを割り当てることが勧められる。信号を交差させると、第1のDAC214も反転され、すなわち、較正コードC DETはコードCDETのバイナリ逆数となる。
この較正では、較正残差信号V RESは生成されず、第1のSARADC210には1つの追加の比較サイクルしか存在しない。従って、他の較正方法に関して上述した、利得モジュール230における複雑なタイミングの必要もない。
この較正方法における2段パイプラインSARADC200のタイミング図を図5に示す。第1の比較器216によって実行される余分な比較は1つだけである一方、残りのタイミングは通常の動作(図3参照)と同一のであることが明らかである。追加の比較の結果は、1つの較正ビットB MSB(図2Aに点線で示す)を得て差分計算モジュール247に送られる。
そして、差分計算モジュール247は、誤差があるか否かを検出する。誤差が検出された後、すなわち、最後の2ビットすなわちCOUT及びB MSBにおけるMSBの最後のビットが「00」又は「11」のいずれかを形成した後、誤差を修正する必要がある。この補正は、第1のSARADC210のオフセット補正モジュール218の第1の可変キャパシタモジュール218bを調整することによって行われる。具体的には、ビットが「00」を形成する場合、静電容量を減少させるために補正信号が送られる一方、ビットが「11」を形成する場合、容量を増加させるために補正信号が送られる。この信号は、図2Aの点線で示され、「補正」と呼ばれる。
バックグラウンドDACミスマッチ較正、バックグラウンド利得誤差較正、及びバックグラウンド比較器オフセット誤差較正について、別々に、より詳細に説明する。各タイプのバックグラウンド較正は、単独で、又は1つ又は複数の他のタイプのバックグラウンド較正と組み合わせて使用することができることが容易に理解されるであろう。
図2A〜図2Eを参照して先に説明した要素又は構成要素は、同じ最後の2桁を有するが、「7」が先行する符号を有する(図6A〜6E)。
図6Aは、本開示にかかる2段パイプラインSARADC700のブロック図を示す。2段パイプラインSARADC700は、利得誤差較正のみを備える。2段パイプラインSARADC700は、第1のSARADC710、第2のSARADC720、利得モジュール730、及び制御モジュール740を備える。2段パイプラインSARADC700の通常の動作は、図2A〜図2Eを参照して上述し、図3に示すタイミング図と同一のタイミング図を有して、2段パイプラインSARADC200の通常の動作と同じである。
さらに、利得誤差較正中の2段パイプラインSARADC700の動作もまた、2段パイプラインSARADC200に関して上述したものと同じである。従って、同じタイミング図(図4に示す)が適用される。2段パイプラインSARADC700と2段パイプラインSARADC200の主な違いは、2段パイプラインSARADC700は、少ないモジュール数を有し、モジュール間の少ない接続数を有する。
具体的には、利得誤差較正中に、入力信号VINは、第1のSARADC710に送られ、第1のSARADC710は入力信号に対応するデジタル信号のMSBを生成し、残差信号VRESを出力する。さらに、第1のSARADC710は較正コードC MSBも受信し、それに基づいて較正残差信号V RESが計算される。利得モジュール730は、これらの両方を残差信号と較正残差信号とを増幅し、増幅された信号VAMP及び増幅された較正残差信号V AMPの両方を第2のSARADC720に出力する。増幅された信号に基づいて、第2のSARADC720は、入力信号VINのLSBを決定する。第1のLSBを決定した後、制御モジュール740は、較正コードC MSBを含む較正コードC DETを決定し、すべてのLSBが決定された後、C LSBとなる。較正コードC LSB及び増幅された較正信号V AMPを受信すると、第2のSARADC720は、利得誤差があるか否かを決定するために制御モジュール内で使用される較正ビットB LSBを計算する。利得誤差がある場合、制御モジュール740はまた、第2のSARADC720に送信される補正信号を提供する。
図6Bに示すように、制御モジュール740は、インターフェースモジュール741、メモリモジュール742、検出モジュール743、増幅器利得較正モジュール745、及び差分計算モジュール747を備える。これらのモジュールは、2段パイプラインSARADC200の利得誤差較正に関して既に説明したのと同じ機能を実行する。しかしながら、メモリモジュール742は、利得誤差較正をトリガするコードCDET及びC DETのみを記憶する。コードCDET及びC DETは、利得誤差の較正に関して上記で説明したのと同じコードとすることができる。しかしながら、利得誤差校正のみが行われるため、コードCDET及びC DETは、それらが、予め設定されたバイナリコードと一致しないことという制限を満たす必要はない。ここで、予め設定されたバイナリコードは、DACミスマッチ較正がないために、これらのコードは2段パイプラインSARADC700で使用されないので、DACミスマッチ較正をトリガするものである。
図7Cは、第1のSARADC710の詳細を示す。この第1のSARADC710は、第1のSARADC610に非常に類似している。第1のSARADC710と第1のSARADC210の主な違いは、第1の比較器オフセット較正モジュール218は、2段パイプラインSARADC700にオフセット較正がないので存在しないことである。
第1のSARADC710は、トラックアンドホールドモジュール712と、キャパシタ714a,714b,…,714mを有する第1のDAC714と、第1の比較器716と、残差生成モジュール719とを備える。特に、DACミスマッチ較正がないので、コンデンサ714a,714b,…,714mはこの実施形態では調整可能である必要はない。従って、入力される「補正」信号も存在しない。さらに、これらのモジュールは、2段パイプラインSARADC200(図2C)の利得誤差較正に関して既に説明したのと同じ機能を果たす。
図6Dは、利得モジュール730の詳細を示す。この利得モジュール730は、利得モジュール630と同一であり、このように、利得モジュール730と利得モジュール230との間の主な差異は、比較器オフセット較正モジュール231は、2段パイプラインSARADC700にオフセット較正が存在しないので存在しないことである。
利得モジュール730は、第1の増幅器732と、第2の増幅器736と、第1のスイッチ734と、コンデンサCと、第2のスイッチ738とを備える。利得モジュール230に関して説明したように、これらのモジュールは、残差信号を増幅し、一時的にコンデンサCsに信号を蓄積することができ、第2のSARADC720が、較正ビットB LSBを決定するために追加の比較を実行する必要がある入力信号のLSBの決定を終了することを可能にする。
図6Eは、第2のSARADC720を示す。このSARADC720は、第2のSARADC220と同一である。第2のSARADC720は、トラックアンドホールドモジュール722と、第2のDAC724と、第2の比較器726とを備える。さらに、第2のDAC724のコンデンサ724a,724b,…,724nは、利得誤差補正として調整可能であり、補正信号に送られ、コンデンサ724a,724b,…,724nの少なくとも1つの容量を増減するために使用される。
特定の実施形態に関して本開示の態様を説明したが、これらの態様は他の形態で実施されてもよいことは容易に理解されるであろう。

Claims (15)

  1. 逐次近似レジスタ型アナログデジタル変換器であるSARADC(200;700)における利得較正方法であって、
    a)アナログ入力信号(VIN)に対応するデジタル信号(COUT)の複数の最上位ビット(BMSB)を決定する第1段のADC(210;710)と、
    b)第1段のADC(210;710)から出力される残差信号(VRES)を増幅する利得モジュール(230;730)と、
    c)アナログ入力信号(VIN)に対応するデジタル信号(COUT)の複数の最下位ビット(BLSB)を決定する第2段のADC(220;720)とを備えたSARADC(200;700)における利得較正方法において、
    前記方法はさらに、
    d)前記アナログ入力信号(VIN)から決定されたバイナリコードが少なくとも1つのトリガコードと一致するか否かを検出するステップと、
    e)前記少なくとも1つのトリガコードに対応する少なくとも1つの設定コードを使用して、前記第1段のADC(210;710)の較正残差信号(V RES)及び前記第2段のADC(220;720)の較正ビット(B LSB)を決定するステップと、
    f)デジタル信号(COUT)の最下位ビット及び較正ビット(B LSB)を解析するステップと、
    g)前記解析から、前記利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在の表示を決定するステップと、
    h)利得誤差の存在が決定されたときに、利得モジュール(230;730)における利得誤差を較正することを特徴とするSARADC(200;700)における利得較正方法。
  2. 前記ステップe)はさらに、アナログ入力信号(VIN)と少なくとも1つの設定コードの一部を表すアナログ信号(V MSB)との間の差を計算することによって、較正残差信号(V RES)を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記ステップe)はさらに、増幅された較正残差信号(V AMP)を、前記少なくとも1つの設定コードの一部を表す別のアナログ信号(V LSB)と比較することによって、較正ビット(B LSB)を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。
  4. 前記ステップe)はさらに、前記利得モジュール(230;730)が較正残差信号(V RES)を一時的に記憶することを最下位ビットが決定されるまで繰り返すステップを含むことを特徴とする請求項1〜3のうちのいずれか1つに記載の方法。
  5. 前記ステップg)はさらに、最下位ビットと較正ビット(B LSB)が異なるか否かを決定して利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在を示すステップを含むことを特徴とする請求項1〜4のうちのいずれか1つに記載の方法。
  6. 前記ステップg)はさらに、最下位ビットの値を決定するステップを含み、前記値が1の値を有するときに下方較正を示し、前記値が0の値を有するときに上方較正を示すことを特徴とする請求項5に記載の方法。
  7. 前記ステップg)はさらに、最下位ビット及び較正ビット(B LSB)の値を決定することを含み、
    最下位ビットと較正ビット(B LSB)の両方の値が0であるときに、前記利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在を示さず、
    最下位ビットと較正ビット(B LSB)の両方の値が1であるときに、前記利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在を示さず、
    最下位ビットの値が0でありかつ較正ビット(B LSB)の値が1であるときに、前記利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在を上方較正で示し、
    最下位ビットの値が1でありかつ較正ビット(B LSB)の値が0であるときに、利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在を下方較正で示すことを特徴とする請求項1〜4のうちのいずれか1つに記載の方法。
  8. 前記ステップh)はさらに、前記利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在が検出されたときに、複数の調整可能なキャパシタ(224a,224b,…,224n;724a,724b,…,724n)の少なくとも1つを調整することによって、前記第2段のADC(220;720)を較正するステップを含むことを特徴とする請求項1〜7のうちのいずれか1つに記載の方法。
  9. 逐次比較型アナログ−デジタル変換器であるSARADC(200;700)であって、
    アナログ入力信号(VIN)に対応するデジタル信号(COUT)の複数の最上位ビット(BMSB)を決定し、デジタル信号(COUT)の複数の最下位ビット(BLSB)に対応する残差信号(residual signal:VRES)を出力するように構成された第1段のADC(210;710)と、
    前記第1段のADC(210;710)から出力された残差信号(VRES)を受信し、前記残差信号(VRES)を増幅し、前記増幅された残差信号(VAMP)を出力するように構成された利得モジュール(230;730)と、
    前記増幅された残差信号(VAMP)を受信し、増幅された残差信号(VAMP)から、入力アナログ信号(VIN)に対応するデジタル信号(COUT)の複数の最下位ビット(BLSB)を決定するように構成された第2段のADC(220;720)と、
    前記第1段のADC(210;710)、利得モジュール(230;730)、及び第2段のADC(220;720)を制御し、入力されたアナログ信号(VIN)に対応するデジタル出力信号(COUT)を出力するように構成された制御モジュール(240;740)とを備えたSARADC(200;700)において、
    前記制御モジュール(240;740)はさらに、
    少なくとも1つのトリガコードを格納し、
    アナログ入力信号(VIN)から決定されたバイナリコードが少なくとも1つのトリガコードと一致するか否かを検出し、
    前記少なくとも1つのトリガコードに対応する少なくとも1つの設定コードを、較正残差信号(V RES)を決定するようにさらに構成された前記第1段のADC(210;710)、並びに、較正ビット(B LSB)を決定するようにさらに構成された第2段のADC(220;720)に提供し、
    デジタル信号(COUT)の最下位ビット及び較正ビット(B LSB)を解析し、
    前記解析から、前記利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在の指示子を決定するステップと、
    前記利得誤差の存在が決定されたときに、前記利得モジュール(230;730)における較正利得誤差を開始するように構成されたことを特徴とするSARADC(200;700)。
  10. 前記第1段のADC(210;710)は、アナログ入力信号(VIN)と、少なくとも1つの設定コードの一部を表すアナログ信号(V MSB)との間の差を計算することによって、較正残差信号(V RES)を決定するように構成された残差生成モジュール(219;719)を備えたことを特徴とする請求項9に記載のSARADC(200;700)。
  11. 前記第2段のADC(220;720)は、増幅された較正残差信号(V AMP)を、前記少なくとも1つの設定コードの一部を表す別のアナログ信号(V LSB)と比較することによって、前記較正ビット(B LSB)を決定するように構成された比較器(226;726)を備えたことを特徴とする請求項9又は10に記載のSARADC(200;700)。
  12. 前記利得モジュール(230;730)は、
    第1の増幅器(232;732)と、
    第2の増幅器(236;736)と、
    前記第1の増幅器(232;732)と前記第2増幅器(236;736)との間の第1のスイッチ(234;734)と、
    前記第2の増幅器(236;736)の後段の第2のスイッチ(238;738)とを備え、
    前記制御モジュール(240;;734)は、前記較正残差信号(V RES)をコンデンサ(C)に一時的に格納するように前記第2段のADC(220;720)が最下位ビットを決定するまで繰り返すように、前記第1のスイッチ(234;734)及び前記第2のスイッチ(238;738)を制御することを特徴とする請求項9〜11のうちのいずれか1つに記載のSARADC(200;700)。
  13. 前記制御モジュール(240;740)はさらに、最下位ビットと較正ビット(B LSB)とが異なるか否かを決定し、前記差分計算モジュール(230;730)における利得誤差の存在を示すように構成された差分計算モジュール(247;747)をさらに備えたことを特徴とする請求項9〜12のうちのいずれか1つに記載のSARADC(200;700)。
  14. 前記制御モジュールは、最下位ビットの値を決定し、前記値が1の値を有するときに下方較正を示し、前記値が0の値を有するときに上方較正を示すように構成された利得較正モジュール(245;745)を備えたことを特徴とする請求項13に記載のSARADC(200;700)。
  15. 前記制御モジュール(240;740)は、前記利得モジュール(230;730)における利得誤差の存在を示す信号を、前記信号に応じて調整されるように構成された複数の調整可能なキャパシタ(224a,224b,…,224n;724a,724b,…,724n)を備えた前記第2段のADC(220;720)に送るように構成されたことを特徴とする請求項9〜14のうちのいずれか1つに記載のSARADC(200;700)。
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