JP2018084670A - Electro-optical device and electronic apparatus - Google Patents

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修 中島
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electro-optical device that can prevent leakage of light in a black display area provided on the periphery of a display area, and an electronic apparatus.SOLUTION: In an electro-optical device 100, an element substrate 10 has a reflecting electrode 9b to which the same potential as that for a common electrode 21 is applied formed in a black display area 10b surrounding a display area in order to perform black display. The reflecting electrode 9b has an opening 9u formed therein, and a light absorption layer 7d overlapped with the opening 9u in plan view is provided between the reflecting electrode 9b and a metal wire 6d provided on the opposite side of an opposing substrate 20 with respect to the reflecting electrode 9b. Thus, even when light made incident on the opposing substrate 20 passes through the opening 9u due to disturbance of orientation in an electro-optical layer 50, such light is blocked by the light absorption layer 7d and does not reach the metal wire 6d.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、表示領域の周りに黒表示領域が設けられた電気光学装置、および電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electro-optical device in which a black display area is provided around a display area, and an electronic apparatus.

反射型液晶装置等の電気光学装置では、素子基板と対向基板との間のシール材で囲まれた領域に電気光学層が設けられている。かかる電気光学装置では、平面視においてシール材で囲まれた領域内に、素子基板の反射性の画素電極が配列する表示領域が設けられている。また、表示領域で表示された画像の品位を高めるために、表示領域の周りに黒表示領域が設けられることがあり、かかる黒表示領域には、共通電極と同一電位が印加される反射電極が設けられている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載の反射電極には開口部が設けられている。   In an electro-optical device such as a reflective liquid crystal device, an electro-optical layer is provided in a region surrounded by a sealing material between an element substrate and a counter substrate. In such an electro-optical device, a display region in which reflective pixel electrodes of an element substrate are arranged is provided in a region surrounded by a sealing material in a plan view. In addition, in order to improve the quality of an image displayed in the display area, a black display area may be provided around the display area, and a reflective electrode to which the same potential as the common electrode is applied is provided in the black display area. (For example, refer to Patent Document 1). The reflective electrode described in Patent Document 1 is provided with an opening.

一方、反射型液晶装置の素子基板において、反射性の画素電極の間から入射した光が画素スイッチング素子に到達することを抑制するために、隣り合う画素電極の間と重なる領域に遮光層を設けた構成が提案されている(特許文献2、3参照)。   On the other hand, in the element substrate of the reflective liquid crystal device, a light shielding layer is provided in a region overlapping between adjacent pixel electrodes in order to prevent light incident from between the reflective pixel electrodes from reaching the pixel switching element. Have been proposed (see Patent Documents 2 and 3).

特開2014−92726号公報JP 2014-92726 A 特開2000−269473号公報JP 2000-269473 A 特開2002−40482号公報JP 2002-40482 A

特許文献1に記載の構成のように、黒表示用の反射電極に開口部が設けられている場合、開口部の縁や反射電極の端部に起因する段差等によって液晶分子の配向が乱れると、対向基板側から入射した光源光が開口部を通り抜けることがある。その場合、開口部と平面視で重なる領域に金属配線が存在すると、反射電極の開口部を通り抜けきた光が金属配線で反射し、開口部を通って対向基板の側から出射されてしまう。その結果、表示領域で暗い画像を表示した際、黒表示領域の黒が目立ってしまうという問題点がある。   When the opening is provided in the black display reflective electrode as in the configuration described in Patent Document 1, the alignment of the liquid crystal molecules is disturbed by a step or the like caused by the edge of the opening or the end of the reflective electrode. The light source light incident from the counter substrate side may pass through the opening. In that case, if the metal wiring exists in a region overlapping with the opening in plan view, the light that has passed through the opening of the reflective electrode is reflected by the metal wiring and is emitted from the counter substrate side through the opening. As a result, there is a problem that when a dark image is displayed in the display area, black in the black display area becomes conspicuous.

一方、特許文献2、3には、共通電極と同一電位が印加される反射電極を利用した黒表示領域についての記載がない。また、特許文献2、3には、画素電極の間から入射した光が画素スイッチング素子に到達することを抑制するための遮光層が記載されているだけであり、黒表示用の反射電極からの光の漏れについては記載がない。   On the other hand, Patent Documents 2 and 3 do not describe a black display region using a reflective electrode to which the same potential as the common electrode is applied. Patent Documents 2 and 3 only describe a light shielding layer for suppressing light incident between the pixel electrodes from reaching the pixel switching element. There is no description of light leakage.

以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、表示領域の周りに設けた黒表示領域での光の漏れを防止することができる電気光学装置、および電子機器を提供することにある。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide an electro-optical device and an electronic apparatus that can prevent light leakage in a black display region provided around a display region.

上記課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置の一態様は、素子基板と、前記素子基板に対向する面側に透光性の共通電極を備えた対向基板と、前記素子基板と前記対向基板とを貼り合せるシール材と、前記素子基板と前記対向基板との間で前記シール材により囲まれた領域に配置された電気光学層と、を有し、前記シール材で囲まれた領域内に、前記素子基板の前記対向基板と対向する一方面側に複数の反射性の画素電極が形成された表示領域と、前記共通電極と同一電位が印加される反射電極が前記表示領域を囲むように前記素子基板の前記一方面側に形成された黒表示領域と、を有し、前記反射電極には開口部が設けられ、前記素子基板の前記反射電極に対して前記対向基板とは反対側に設けられた金属配線と前記反射電極との間には、前記開口部と平面視で重なる光吸収層が設けられていることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems, an aspect of the electro-optical device according to the invention includes an element substrate, a counter substrate provided with a light-transmitting common electrode on a surface facing the element substrate, and the element substrate. A sealing material for bonding the counter substrate, and an electro-optical layer disposed in a region surrounded by the sealing material between the element substrate and the counter substrate, and surrounded by the sealing material A display region in which a plurality of reflective pixel electrodes are formed on one side of the element substrate facing the counter substrate, and a reflective electrode to which the same potential as the common electrode is applied A black display region formed on the one surface side of the element substrate so as to surround, the reflective electrode is provided with an opening, and the counter substrate with respect to the reflective electrode of the element substrate is Metal wiring provided on the opposite side and the reflective electrode; Between, and a light absorbing layer that overlaps with the opening in plan view is provided.

本発明の一態様において、素子基板には、表示領域を囲む黒表示領域に、共通電極と同一電位が印加される反射電極が形成されているため、黒表示を行うことができる。また、反射電極には開口部が形成されているが、反射電極に対して対向基板とは反対側に設けられた金属配線と反射電極との間には、開口部と平面視で重なる光吸収層が設けられている。このため、電気光学層における配向の乱れ等が原因で対向基板側から入射した光が開口部を通り抜けた場合でも、かかる光は光吸収層で遮られるので、金属配線に到達しない。従って、金属配線での反射によって黒表示領域から光が漏れることを防止することができる。   In one embodiment of the present invention, a black electrode can be displayed because a reflective electrode to which the same potential as the common electrode is applied is formed in the element substrate in a black display region surrounding the display region. In addition, an opening is formed in the reflective electrode, but light absorption that overlaps with the opening in plan view is between the reflective electrode and the metal wiring provided on the opposite side of the counter substrate from the reflective electrode. A layer is provided. For this reason, even when light incident from the counter substrate side passes through the opening due to disorder of orientation in the electro-optic layer, the light is blocked by the light absorption layer and does not reach the metal wiring. Therefore, it is possible to prevent light from leaking from the black display area due to reflection on the metal wiring.

本発明において、前記複数の画素電極の各間、および前記開口部からは、ボロンシリケートガラス層が露出している態様を採用することができる。かかる態様によれば、電気光学層に水分が含まれている場合でも、電気光学層の水分をボロンシリケートガラス層によって吸着することができる。従って、電気光学層の水分に起因する特性劣化を抑制することができる。   In the present invention, a mode in which a boron silicate glass layer is exposed between each of the plurality of pixel electrodes and from the opening can be employed. According to this aspect, even when the electro-optic layer contains moisture, the moisture of the electro-optic layer can be adsorbed by the boron silicate glass layer. Accordingly, it is possible to suppress deterioration of characteristics due to moisture in the electro-optic layer.

本発明において、前記光吸収層は、前記共通電極と同一電位が印加された導電層からなる態様を採用することができる。かかる態様によれば、黒表示領域において光吸収層が電気光学層を駆動することを防止することができる。   In the present invention, the light absorption layer may be formed of a conductive layer to which the same potential as the common electrode is applied. According to this aspect, it is possible to prevent the light absorption layer from driving the electro-optic layer in the black display region.

本発明において、前記光吸収層は、前記画素電極に対して前記対向基板とは反対側で配線を構成する金属層または金属化合物層からなる態様を採用することができる。かかる態様によれば、光吸収層を設けるための層を追加する必要がない。   In the present invention, the light absorption layer may adopt a mode formed of a metal layer or a metal compound layer that constitutes a wiring on the side opposite to the counter substrate with respect to the pixel electrode. According to this aspect, there is no need to add a layer for providing the light absorption layer.

本発明において、前記光吸収層は、チタン窒化膜からなる態様を採用することができる。チタン窒化膜であれば、素子基板において各種配線に用いられ、かつ、光吸収性に優れている。   In the present invention, the light absorption layer may employ an aspect made of a titanium nitride film. If it is a titanium nitride film, it is used for various wirings in the element substrate and is excellent in light absorption.

本発明に係る電気光学装置の別態様は、素子基板と、前記素子基板に対向する面側に透光性の共通電極を備えた対向基板と、前記素子基板と前記対向基板とを貼り合せるシール材と、前記素子基板と前記対向基板との間で前記シール材により囲まれた領域に配置された電気光学層と、を有し、前記シール材で囲まれた領域内に、前記素子基板の前記対向基板と対向する一方面側に複数の反射性の画素電極が形成された表示領域と、前記共通電極と同一電位が印加される反射電極が前記表示領域を囲むように前記素子基板の前記一方面側に形成された黒表示領域と、を有し、前記反射電極は、開口部が形成されずに前記黒表示領域の全面に形成されていることを特徴とする。   Another aspect of the electro-optical device according to the invention includes an element substrate, a counter substrate having a light-transmitting common electrode on a surface facing the element substrate, and a seal that bonds the element substrate and the counter substrate together. And an electro-optic layer disposed in a region surrounded by the sealing material between the element substrate and the counter substrate, and in the region surrounded by the sealing material, A display region having a plurality of reflective pixel electrodes formed on one side facing the counter substrate, and a reflective electrode to which the same potential as the common electrode is applied surround the display region. A black display region formed on one surface side, and the reflective electrode is formed on the entire surface of the black display region without an opening.

本発明の別態様において、素子基板には、表示領域を囲む黒表示領域に、共通電極と同一電位が印加される反射電極が形成されているため、黒表示を行うことができる。また、反射電極には開口部が形成されていないため、電気光学層における配向の乱れ等が原因で対向基板側から入射した光が反射電極に到達しても、開口部から通り抜けるという現象が発生しない。従って、金属配線での反射によって黒表示領域から光が漏れることを防止することができる。   In another aspect of the present invention, the element substrate is provided with a reflective electrode to which the same potential as the common electrode is applied in a black display region surrounding the display region, so that black display can be performed. In addition, since the opening is not formed in the reflective electrode, even if light incident from the counter substrate side reaches the reflective electrode due to disorder of orientation in the electro-optic layer, a phenomenon occurs that the light passes through the opening. do not do. Therefore, it is possible to prevent light from leaking from the black display area due to reflection on the metal wiring.

本発明に係る電気光学装置は、直視型表示装置や投射型表示装置等の各種電子機器に用いることができる。電子機器が投射型表示装置である場合、投射型表示装置は、前記電気光学装置に供給される光を出射する光源部と、前記電気光学装置によって変調された光を投射する投射光学系と、を有している。   The electro-optical device according to the present invention can be used in various electronic apparatuses such as a direct-view display device and a projection display device. When the electronic apparatus is a projection display device, the projection display device includes a light source unit that emits light supplied to the electro-optical device, a projection optical system that projects light modulated by the electro-optical device, and have.

本発明の実施の形態1に係る電気光学装置の平面図である。1 is a plan view of an electro-optical device according to Embodiment 1 of the present invention. 図1に示す電気光学装置のH−H′断面図である。It is HH 'sectional drawing of the electro-optical apparatus shown in FIG. 図1に示す電気光学装置の画素の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a pixel of the electro-optical device shown in FIG. 1. 図3に示す画素のF−F′断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view of the pixel shown in FIG. 3 taken along the line FF ′. 図1に示す電気光学装置の黒表示領域の一部を拡大して示す平面図である。FIG. 2 is an enlarged plan view showing a part of a black display region of the electro-optical device shown in FIG. 1. 図5に示す黒表示領域のG1−G1′断面図である。FIG. 6 is a G1-G1 ′ sectional view of the black display region shown in FIG. 5. 本発明の実施の形態2に係る電気光学装置の黒表示領域の一部を拡大して示す平面図である。FIG. 6 is an enlarged plan view showing a part of a black display region of an electro-optical device according to a second embodiment of the invention. 図7に示す黒表示領域のG2−G2′断面図である。It is G2-G2 'sectional drawing of the black display area | region shown in FIG. 本発明を適用した電気光学装置を用いた投射型表示装置(電子機器)の概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of a projection display device (electronic device) using an electro-optical device to which the present invention is applied.

図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の説明で参照する図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。また、以下の説明において「平面視」とは、素子基板10の表示面に対して垂直な方向からみた様子を意味する。また、素子基板に形成される層を説明する際、上層側あるいは表面側とは素子基板の基板本体が位置する側とは反対側(対向基板が位置する側)を意味し、下層側とは素子基板の基板本体が位置する側を意味する。また、対向基板に形成される層を説明する際、上層側あるいは表面側とは対向基板の基板本体が位置する側とは反対側(素子基板が位置する側)を意味し、下層側とは対向基板の基板本体が位置する側を意味する。   Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings to be referred to in the following description, the scales are different for each layer and each member so that each layer and each member have a size that can be recognized on the drawing. In the following description, “plan view” means a state viewed from a direction perpendicular to the display surface of the element substrate 10. Further, when explaining the layers formed on the element substrate, the upper layer side or the surface side means the side opposite to the side where the substrate body of the element substrate is located (the side where the counter substrate is located), It means the side where the substrate body of the element substrate is located. In describing the layers formed on the counter substrate, the upper layer side or the surface side means the side opposite to the side where the substrate body of the counter substrate is located (the side where the element substrate is located), and the lower layer side is It means the side where the substrate body of the counter substrate is located.

[実施の形態1]
(全体構成)
図1は、本発明の実施の形態1に係る電気光学装置100の平面図であり、液晶パネル100pを各構成要素と共に対向基板の側から見た図である。図2は、図1に示す電気光学装置100のH−H′断面図である。図1および図2において、電気光学装置100は、TN(Twisted Nematic)モードやVA(Vertical Alignment)モードの液晶パネル100pを備えた反射型液晶装置である。液晶パネル100pでは、素子基板10と対向基板20とが所定の隙間を介してシール材107によって貼り合わされており、シール材107は対向基板20の外縁に沿うように枠状に設けられている。シール材107は、光硬化樹脂や熱硬化性樹脂等からなる接着剤であり、両基板間の距離を所定値とするためのグラスファイバー、あるいはガラスビーズ等のギャップ材107aが配合されている。液晶パネル100pにおいて、素子基板10と対向基板20との間のうち、シール材107によって囲まれた領域内には、電気光学層50としての液晶層が設けられている。本実施形態において、シール材107には、液晶注入口として利用される途切れ部分107cが形成されており、かかる途切れ部分107cは、液晶材料の注入後、封止材108によって塞がれている。なお、液晶材料を滴下法で封入する場合は、途切れ部分107cは形成されない。
[Embodiment 1]
(overall structure)
FIG. 1 is a plan view of the electro-optical device 100 according to Embodiment 1 of the present invention, in which the liquid crystal panel 100p is viewed from the side of the counter substrate together with each component. 2 is a cross-sectional view of the electro-optical device 100 shown in FIG. 1 and 2, the electro-optical device 100 is a reflective liquid crystal device including a liquid crystal panel 100p in a TN (Twisted Nematic) mode or a VA (Vertical Alignment) mode. In the liquid crystal panel 100p, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are bonded to each other with a sealant 107 through a predetermined gap, and the sealant 107 is provided in a frame shape along the outer edge of the counter substrate 20. The sealing material 107 is an adhesive made of a photo-curing resin, a thermosetting resin, or the like, and is mixed with a gap material 107a such as glass fiber or glass beads for setting the distance between both substrates to a predetermined value. In the liquid crystal panel 100p, a liquid crystal layer as the electro-optical layer 50 is provided in a region surrounded by the sealing material 107 between the element substrate 10 and the counter substrate 20. In this embodiment, the sealing material 107 is formed with a discontinuous portion 107c used as a liquid crystal injection port, and the discontinuous portion 107c is closed by the sealing material 108 after the liquid crystal material is injected. Note that when the liquid crystal material is sealed by a dropping method, the discontinuous portion 107c is not formed.

液晶パネル100pにおいて、素子基板10および対向基板20はいずれも四角形であり、液晶パネル100pの略中央には、複数の反射性の画素電極9aがマトリクス状に配列された表示領域10aが四角形の領域として設けられている。かかる形状に対応して、シール材107も略四角形に設けられ、表示領域10aの外側に四角枠状の外周領域10cが存在している。   In the liquid crystal panel 100p, each of the element substrate 10 and the counter substrate 20 is a quadrangle, and a display region 10a in which a plurality of reflective pixel electrodes 9a are arranged in a matrix is formed in a square region at the approximate center of the liquid crystal panel 100p. It is provided as. Corresponding to such a shape, the sealing material 107 is also provided in a substantially square shape, and a rectangular frame-shaped outer peripheral region 10c exists outside the display region 10a.

素子基板10において、対向基板20から張り出している側では、素子基板10の一辺に沿ってデータ線駆動回路101および複数の端子102が形成されており、この一辺に隣接する他の辺に沿って走査線駆動回路104が形成されている。端子102は、シール材107より外周側に設けられている。端子102には、フレキシブル配線基板(図示せず)が接続されており、素子基板10には、フレキシブル配線基板を介して各種電位や各種信号が入力される。本形態において、データ線駆動回路101および走査線駆動回路104は一部がシール材107と平面視で重なっている。   In the element substrate 10, on the side protruding from the counter substrate 20, a data line driving circuit 101 and a plurality of terminals 102 are formed along one side of the element substrate 10, and along another side adjacent to this one side. A scanning line driving circuit 104 is formed. The terminal 102 is provided on the outer peripheral side from the sealing material 107. A flexible wiring board (not shown) is connected to the terminal 102, and various potentials and various signals are input to the element substrate 10 through the flexible wiring board. In this embodiment, the data line driver circuit 101 and the scanning line driver circuit 104 partially overlap with the sealant 107 in plan view.

詳しくは後述するが、素子基板10の一方面10sおよび他方面10tのうち、対向基板20と対向する一方面10sの側において、表示領域10aには、画素トランジスター(図示せず)、および画素トランジスターに電気的に接続する画素電極9aがマトリクス状に形成されており、かかる画素電極9aの上層側には第1配向膜16が形成されている。   As will be described in detail later, on one side 10s and the other side 10t of the element substrate 10 on the side of the one surface 10s facing the counter substrate 20, a pixel transistor (not shown) and a pixel transistor are provided in the display region 10a. Pixel electrodes 9a electrically connected to are formed in a matrix, and a first alignment film 16 is formed on the upper layer side of the pixel electrodes 9a.

対向基板20の一方面20sおよび他方面20tのうち、素子基板10と対向する一方面20sの側には共通電極21が形成されている。共通電極21は、対向基板20の略全面あるいは複数の帯状電極として複数の画素に跨って包含した領域として形成されている。本実施形態において、共通電極21は、対向基板20の略全面に形成されている。   A common electrode 21 is formed on the side of the one surface 20 s facing the element substrate 10 out of the one surface 20 s and the other surface 20 t of the counter substrate 20. The common electrode 21 is formed as a region encompassing a plurality of pixels as a substantially entire surface of the counter substrate 20 or a plurality of strip electrodes. In the present embodiment, the common electrode 21 is formed on substantially the entire surface of the counter substrate 20.

また、対向基板20の一方面20sの側には、共通電極21の下層側に遮光層29が形成され、共通電極21の電気光学層50(電気光学層)側の表面には第2配向膜26が積層されている。遮光層29は、表示領域10aの外周縁に沿って延在する額縁部分29aとして形成されている。遮光層29は、隣り合う画素電極9aにより挟まれた画素間領域10fに重なるブラックマトリクス部29bを含んで形成してもよい。ここで、額縁部分29aは、表示領域10aとシール材107との間に形成されている。額縁部分29aの外周縁は、シール材107の内周縁との間に隙間を隔てた位置にあり、シール材107とは重なっていない。   A light shielding layer 29 is formed on the lower side of the common electrode 21 on the one surface 20s side of the counter substrate 20, and a second alignment film is formed on the surface of the common electrode 21 on the electro-optic layer 50 (electro-optic layer) side. 26 are stacked. The light shielding layer 29 is formed as a frame portion 29a extending along the outer peripheral edge of the display region 10a. The light shielding layer 29 may be formed to include a black matrix portion 29b that overlaps the inter-pixel region 10f sandwiched between the adjacent pixel electrodes 9a. Here, the frame portion 29 a is formed between the display region 10 a and the sealing material 107. The outer peripheral edge of the frame portion 29 a is at a position spaced apart from the inner peripheral edge of the sealing material 107 and does not overlap the sealing material 107.

本形態において、第1配向膜16および第2配向膜26は、SiO(x≦2)、TiO、MgO、Al等の斜方蒸着膜からなる無機配向膜であり、カラムと称せられる柱状体が素子基板10および対向基板20に対して斜めに形成された柱状構造体層からなる。従って、第1配向膜16および第2配向膜26は、電気光学層50に用いた負の誘電異方性を備えたネマチック液晶分子を素子基板10および対向基板20に対して斜め傾斜配向させ、液晶分子にプレチルトを付している。このようにして、電気光学装置100は、ノーマリブラックのVAモードの液晶装置として構成されている。 In this embodiment, the first alignment film 16 and the second alignment film 26 are inorganic alignment films made of oblique vapor deposition films such as SiO X (x ≦ 2), TiO 2 , MgO, Al 2 O 3 , A columnar body referred to is composed of a columnar structure layer formed obliquely with respect to the element substrate 10 and the counter substrate 20. Accordingly, the first alignment film 16 and the second alignment film 26 obliquely align nematic liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy used for the electro-optic layer 50 with respect to the element substrate 10 and the counter substrate 20. The liquid crystal molecules are given a pretilt. In this manner, the electro-optical device 100 is configured as a normally black VA mode liquid crystal device.

液晶パネル100pにおいて、シール材107より外側には、対向基板20の一方面20sの側の4つの角部分に基板間導通用電極部24tが形成されており、素子基板10の一方面10sの側には、対向基板20の4つの角部分(基板間導通用電極部24t)と対向する位置に基板間導通用電極部6tが形成されている。基板間導通用電極部6tは、共通電位Vcomが印加された定電位線6sに導通しており、定電位線6sは、端子102のうち、共通電位印加用の端子102aに導通している。基板間導通用電極部6tと基板間導通用電極部24tとの間には、導電粒子を含んだ基板間導通材109が配置されており、対向基板20の共通電極21は、基板間導通用電極部6t、基板間導通材109および基板間導通用電極部24tを介して、素子基板10側に電気的に接続されている。このため、共通電極21は、素子基板10の側から共通電位Vcomが印加されている。シール材107は、略同一の幅寸法をもって対向基板20の外周縁に沿って設けられている。   In the liquid crystal panel 100p, the inter-substrate conduction electrode portions 24t are formed on the four corners on the one surface 20s side of the counter substrate 20 outside the sealing material 107, and the element substrate 10 side on the one surface 10s side. The inter-substrate conduction electrode portion 6t is formed at a position facing the four corners of the counter substrate 20 (inter-substrate conduction electrode portion 24t). The inter-substrate conducting electrode portion 6t is conducted to the constant potential line 6s to which the common potential Vcom is applied, and the constant potential line 6s is conducted to the terminal 102a for applying the common potential among the terminals 102. An inter-substrate conducting material 109 containing conductive particles is disposed between the inter-substrate conducting electrode portion 6t and the inter-substrate conducting electrode portion 24t, and the common electrode 21 of the counter substrate 20 serves as the inter-substrate conducting electrode. It is electrically connected to the element substrate 10 side via the electrode portion 6t, the inter-substrate conducting material 109, and the inter-substrate conducting electrode portion 24t. Therefore, the common potential Vcom is applied to the common electrode 21 from the element substrate 10 side. The sealing material 107 is provided along the outer peripheral edge of the counter substrate 20 with substantially the same width dimension.

かかる構成の電気光学装置100において、共通電極21はITO(Indium Tin Oxide)膜やIZO(Indium Zinc Oxide)膜等の透光性導電膜により形成されている。これに対して、画素電極9aは、アルミニウム膜やアルミニウム合金膜等の反射性導電膜により形成れている。従って、電気光学装置100では、図2に矢印Lで示すように、対向基板20の側から入射した光が素子基板10で反射して出射される間に変調されて画像を表示する。   In the electro-optical device 100 having such a configuration, the common electrode 21 is formed of a light-transmitting conductive film such as an ITO (Indium Tin Oxide) film or an IZO (Indium Zinc Oxide) film. On the other hand, the pixel electrode 9a is formed of a reflective conductive film such as an aluminum film or an aluminum alloy film. Therefore, in the electro-optical device 100, as indicated by an arrow L in FIG. 2, light incident from the counter substrate 20 side is modulated while being reflected by the element substrate 10 and emitted to display an image.

電気光学装置100は、モバイルコンピューター、携帯電話機等といった電子機器のカラー表示装置として用いることができ、この場合、対向基板20あるいは素子基板10には、カラーフィルター(図示せず)が形成される。また、電気光学装置100は、後述する投射型表示装置(液晶プロジェクター)において、RGB用のライトバルブとして用いることができる。この場合、RGB用の各電気光学装置100の各々には、RGB色分解用のダイクロイックミラーを介して分解された各色の光が投射光として各々入射されることになるので、カラーフィルターは形成されない。   The electro-optical device 100 can be used as a color display device of an electronic apparatus such as a mobile computer or a mobile phone. In this case, a color filter (not shown) is formed on the counter substrate 20 or the element substrate 10. The electro-optical device 100 can be used as an RGB light valve in a projection type display device (liquid crystal projector) described later. In this case, each of the RGB electro-optical devices 100 receives light of each color separated through RGB color separation dichroic mirrors as projection light, so that no color filter is formed. .

(黒表示領域10bの構成)
本実施形態の電気光学装置100において、表示領域10aと額縁部分29aとに挟まれた四角枠状の周辺領域は、素子基板10に反射電極9bが形成された黒表示領域10bになっている。従って、電気光学装置100は、平面視において、シール材107で囲まれた領域内に、画素電極9aが形成された表示領域10aと、反射電極9bが表示領域10aを囲むように形成された黒表示領域10bとを有している。ここで、反射電極9bは、定電位線6sと電気的に接続されている。従って、反射電極9bは、定電位線6sを介して共通電極21と同一の電位(共通電位Vcom)が印加される。それ故、本実施形態の電気光学装置100は、ノーマリブラックのVAモードで構成されているので、表示領域10aで画像が表示される間、黒表示領域10bは常に黒表示を行う。なお、表示領域10aと黒表示領域10bとの間に、表示領域10aの画素と、同じ構成、同じサイズ、同じ配列のダミー画素を数列(5列以下)および数行(5行以下)を配置してもよい。この場合、画像信号により黒表示とすることもできる。
(Configuration of the black display area 10b)
In the electro-optical device 100 of the present embodiment, a rectangular frame-shaped peripheral region sandwiched between the display region 10 a and the frame portion 29 a is a black display region 10 b in which the reflective electrode 9 b is formed on the element substrate 10. Therefore, the electro-optical device 100 includes a display region 10a in which the pixel electrode 9a is formed and a black electrode in which the reflective electrode 9b is formed to surround the display region 10a in a region surrounded by the sealant 107 in plan view. Display area 10b. Here, the reflective electrode 9b is electrically connected to the constant potential line 6s. Therefore, the same potential (common potential Vcom) as that of the common electrode 21 is applied to the reflective electrode 9b via the constant potential line 6s. Therefore, since the electro-optical device 100 according to the present embodiment is configured in the normally black VA mode, the black display area 10b always displays black while an image is displayed in the display area 10a. In addition, several columns (5 columns or less) and several rows (5 rows or less) of dummy pixels having the same configuration, the same size, and the same arrangement as the pixels of the display region 10a are arranged between the display region 10a and the black display region 10b. May be. In this case, black display can be performed by an image signal.

(画素の具体的構成)
図3は、図1に示す電気光学装置100の画素の平面図である。図4は、図3に示す画素のF−F′断面図である。なお、図3では、各層を以下の線で示してある。また、図3では、互いの端部が重なり合う層については、層の形状等が分かりやすいように、端部の位置をずらしてある。
遮光層8a=細くて長い破線
半導体層1a=細くて短い点線
走査線3a=太い実線
ドレイン電極4a=細い実線
データ線6aおよび中継電極6b、6c=細い一点鎖線
容量電極5b=太い一点鎖線
容量線7aおよび中継電極7b=細い二点鎖線
画素電極9a=太い破線
(Specific pixel configuration)
FIG. 3 is a plan view of a pixel of the electro-optical device 100 shown in FIG. 4 is a cross-sectional view of the pixel shown in FIG. 3 taken along the line FF ′. In addition, in FIG. 3, each layer is shown with the following lines. Further, in FIG. 3, the positions of the end portions of the layers overlapping with each other are shifted so that the shape of the layer can be easily understood.
Light shielding layer 8a = thin and long broken line Semiconductor layer 1a = thin and short dotted line Scanning line 3a = thick solid line Drain electrode 4a = thin solid line Data line 6a and relay electrode 6b, 6c = thin dotted line Capacitance electrode 5b = thick dashed line Capacitor line 7a and relay electrode 7b = thin two-dot chain line Pixel electrode 9a = thick broken line

図3に示すように、素子基板10において対向基板20と対向する一方面10sには、複数の画素の各々に画素電極9aが形成されており、隣り合う画素電極9aにより挟まれた画素間領域10fに沿ってデータ線6aおよび走査線3aが形成されている。本実施形態において、画素間領域10fは縦横に延在しており、走査線3aは画素間領域10fのうち、X方向(第1方向)に延在する第1画素間領域10gに沿って直線的に延在し、データ線6aは、Y方向(第2方向)に延在する第2画素間領域10hに沿って直線的に延在している。また、データ線6aと走査線3aとの交差に対応して画素トランジスター30が形成されており、本形態において、画素トランジスター30は、データ線6aと走査線3aとの交差領域およびその付近を利用して形成されている。素子基板10には容量線7aが形成されており、かかる容量線7aには共通電位Vcomが印加されている。本形態において、容量電極5bは、走査線3aおよびデータ線6aに重なるように延在して格子状に形成されている。画素トランジスター30の上層側には容量線7aが形成されており、容量線7aは、データ線6aに重なるように延在している。画素トランジスター30の下層側には遮光層8aが形成されており、かかる遮光層8aは、走査線3aと重なるように直線的に延びた主線部分と、データ線6aと走査線3aとの交差部分でデータ線6aに重なるように延びた副線部分とを備えている。   As shown in FIG. 3, on one surface 10 s of the element substrate 10 facing the counter substrate 20, a pixel electrode 9 a is formed in each of a plurality of pixels, and an inter-pixel region sandwiched between adjacent pixel electrodes 9 a. A data line 6a and a scanning line 3a are formed along 10f. In the present embodiment, the inter-pixel region 10f extends vertically and horizontally, and the scanning line 3a is a straight line along the first inter-pixel region 10g extending in the X direction (first direction) in the inter-pixel region 10f. The data line 6a extends linearly along the second inter-pixel region 10h extending in the Y direction (second direction). Further, a pixel transistor 30 is formed corresponding to the intersection of the data line 6a and the scanning line 3a. In this embodiment, the pixel transistor 30 uses the intersection region of the data line 6a and the scanning line 3a and its vicinity. Is formed. A capacitance line 7a is formed on the element substrate 10, and a common potential Vcom is applied to the capacitance line 7a. In this embodiment, the capacitor electrode 5b is formed in a lattice shape extending so as to overlap the scanning line 3a and the data line 6a. A capacitor line 7a is formed on the upper layer side of the pixel transistor 30, and the capacitor line 7a extends so as to overlap the data line 6a. A light shielding layer 8a is formed on the lower layer side of the pixel transistor 30, and the light shielding layer 8a is an intersection between the main line portion linearly extending so as to overlap the scanning line 3a and the data line 6a and the scanning line 3a. And a sub-line portion extending so as to overlap the data line 6a.

図4に示すように、素子基板10は、石英基板やガラス基板等の透光性の基板本体10wを有しており、かかる基板本体10wの対向基板20と対向する一方面10s側に形成された画素電極9aや画素トランジスター30等が形成されている。また、対向基板20は、石英基板やガラス基板等の透光性の基板本体20wを有しており、基板本体20wの素子基板10と対向する一方面20s側に形成された遮光層29や共通電極21等が形成されている。   As shown in FIG. 4, the element substrate 10 has a light-transmitting substrate body 10w such as a quartz substrate or a glass substrate, and is formed on the one surface 10s side of the substrate body 10w facing the counter substrate 20. The pixel electrode 9a, the pixel transistor 30, and the like are formed. The counter substrate 20 has a light-transmitting substrate main body 20w such as a quartz substrate or a glass substrate. The light-shielding layer 29 formed on the one surface 20s side of the substrate main body 20w facing the element substrate 10 is common. An electrode 21 and the like are formed.

より具体的には、素子基板10において、基板本体10wの一方面10s側には、導電性のポリシリコン膜、金属シリサイド膜、金属膜あるいは金属化合物膜等の導電膜からなる下層側の遮光層8aが形成されている。本実施形態において、遮光層8aは、タングステンシリサイド(WSi)等の遮光膜からなり、電気光学装置100を通り通り抜けた光が他の部材で反射した際、かかる反射光が半導体層1aに入射して画素トランジスター30で光電流に起因する誤動作が発生することを防止する。なお、遮光層8aを走査線として構成する場合もあり、この場合、後述するゲート電極3cと遮光層8aを導通させた構成とする。遮光層8aの上層側には、透光性の絶縁膜12が形成されており、かかる絶縁膜12の表面側に、半導体層1aを備えた画素トランジスター30が形成されている。本形態において、絶縁膜12はシリコン酸化膜等からなる。   More specifically, in the element substrate 10, on the one surface 10s side of the substrate body 10w, a lower light shielding layer made of a conductive film such as a conductive polysilicon film, a metal silicide film, a metal film, or a metal compound film. 8a is formed. In the present embodiment, the light shielding layer 8a is made of a light shielding film such as tungsten silicide (WSi), and when the light passing through the electro-optical device 100 is reflected by another member, the reflected light is incident on the semiconductor layer 1a. This prevents the pixel transistor 30 from malfunctioning due to photocurrent. The light shielding layer 8a may be configured as a scanning line. In this case, the gate electrode 3c described later and the light shielding layer 8a are electrically connected. A light-transmitting insulating film 12 is formed on the upper side of the light shielding layer 8a, and a pixel transistor 30 including the semiconductor layer 1a is formed on the surface side of the insulating film 12. In this embodiment, the insulating film 12 is made of a silicon oxide film or the like.

画素トランジスター30は、データ線6aの延在方向に長辺方向を向けた半導体層1aと、半導体層1aの長さ方向と直交する方向に延在して半導体層1aの長さ方向の中央部分に重なるゲート電極3cとを備えており、本形態において、ゲート電極3cは走査線3aの一部からなる。画素トランジスター30は、半導体層1aとゲート電極3cとの間に透光性のゲート絶縁層2を有している。半導体層1aは、ゲート電極3cに対してゲート絶縁層2を介して対向するチャネル領域1gを備えているとともに、チャネル領域1gの両側にソース領域1bおよびドレイン領域1cを備えている。本形態において、画素トランジスター30は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有している。従って、ソース領域1bおよびドレイン領域1cは各々、チャネル領域1gの両側に低濃度領域を備え、低濃度領域に対してチャネル領域1gとは反対側で隣接する領域に高濃度領域を備えている。   The pixel transistor 30 includes a semiconductor layer 1a having a long side direction in the extending direction of the data line 6a, and a central portion in the length direction of the semiconductor layer 1a extending in a direction orthogonal to the length direction of the semiconductor layer 1a. In this embodiment, the gate electrode 3c is formed of a part of the scanning line 3a. The pixel transistor 30 has a translucent gate insulating layer 2 between the semiconductor layer 1a and the gate electrode 3c. The semiconductor layer 1a includes a channel region 1g opposed to the gate electrode 3c via the gate insulating layer 2, and includes a source region 1b and a drain region 1c on both sides of the channel region 1g. In this embodiment, the pixel transistor 30 has an LDD (Lightly Doped Drain) structure. Therefore, each of the source region 1b and the drain region 1c includes a low concentration region on both sides of the channel region 1g, and includes a high concentration region in a region adjacent to the low concentration region on the opposite side to the channel region 1g.

半導体層1aは、ポリシリコン膜(多結晶シリコン膜)等によって構成されている。ゲート絶縁層2は、半導体層1aを熱酸化したシリコン酸化膜からなる第1ゲート絶縁層2aと、温度が700〜900℃の高温条件での減圧CVD法により形成されたシリコン酸化膜からなる第2ゲート絶縁層2bとの2層構造からなる。ゲート電極3cおよび走査線3aは、導電性のポリシリコン膜、金属シリサイド膜、金属膜あるいは金属化合物膜等の導電膜からなる。本形態において、ゲート電極3cは、導電性のポリシリコン膜とタングステンシリサイド膜との2層構造を有している。   The semiconductor layer 1a is composed of a polysilicon film (polycrystalline silicon film) or the like. The gate insulating layer 2 includes a first gate insulating layer 2a made of a silicon oxide film obtained by thermally oxidizing the semiconductor layer 1a and a silicon oxide film made of a low pressure CVD method under a high temperature condition of 700 to 900 ° C. It has a two-layer structure with a two-gate insulating layer 2b. The gate electrode 3c and the scanning line 3a are made of a conductive film such as a conductive polysilicon film, a metal silicide film, a metal film, or a metal compound film. In this embodiment, the gate electrode 3c has a two-layer structure of a conductive polysilicon film and a tungsten silicide film.

ゲート電極3cの上層側にはシリコン酸化膜等からなる透光性の層間絶縁膜41が形成され、層間絶縁膜41の上層には、ドレイン電極4aが形成されている。ドレイン電極4aは、導電性のポリシリコン膜、金属シリサイド膜、金属膜あるいは金属化合物膜等の導電膜からなり、本形態において、ドレイン電極4aはチタン窒化膜からなる。ドレイン電極4aは、半導体層1aのドレイン領域1c(画素電極側ソースドレイン領域)と一部が重なるように形成されており、層間絶縁膜41およびゲート絶縁層2を貫通するコンタクトホール41aを介してドレイン領域1cに導通している。   A translucent interlayer insulating film 41 made of a silicon oxide film or the like is formed on the upper layer side of the gate electrode 3c, and a drain electrode 4a is formed on the upper layer of the interlayer insulating film 41. The drain electrode 4a is made of a conductive film such as a conductive polysilicon film, a metal silicide film, a metal film, or a metal compound film. In this embodiment, the drain electrode 4a is made of a titanium nitride film. The drain electrode 4 a is formed so as to partially overlap the drain region 1 c (pixel electrode side source / drain region) of the semiconductor layer 1 a, and through a contact hole 41 a penetrating the interlayer insulating film 41 and the gate insulating layer 2. It is electrically connected to the drain region 1c.

ドレイン電極4aの上層側には、シリコン酸化膜等からなる透光性の絶縁膜49、および透光性の誘電体層40が形成されており、かかる誘電体層40の上層側には容量電極5bが形成されている。誘電体層40としては、シリコン酸化膜やシリコン窒化膜等のシリコン化合物を用いることができる他、アルミニウム酸化膜、チタン酸化膜、タンタル酸化膜、ニオブ酸化膜、ハフニウム酸化膜、ランタン酸化膜、ジルコニウム酸化膜等の高誘電率の誘電体層を用いることができる。容量電極5bは、導電性のポリシリコン膜、金属シリサイド膜、金属膜あるいは金属化合物膜等の導電膜からなる。本形態において、容量電極5bは、チタン窒化膜、アルミニウム膜、およびチタン窒化膜との3層構造を有している。ここで、容量電極5bは、誘電体層40を介してドレイン電極4aと重なっており、蓄積容量55を構成している。   A translucent insulating film 49 made of a silicon oxide film or the like and a translucent dielectric layer 40 are formed on the upper layer side of the drain electrode 4a. A capacitive electrode is formed on the upper layer side of the dielectric layer 40. 5b is formed. As the dielectric layer 40, a silicon compound such as a silicon oxide film or a silicon nitride film can be used, and an aluminum oxide film, a titanium oxide film, a tantalum oxide film, a niobium oxide film, a hafnium oxide film, a lanthanum oxide film, zirconium A dielectric layer having a high dielectric constant such as an oxide film can be used. The capacitor electrode 5b is made of a conductive film such as a conductive polysilicon film, a metal silicide film, a metal film, or a metal compound film. In this embodiment, the capacitor electrode 5b has a three-layer structure of a titanium nitride film, an aluminum film, and a titanium nitride film. Here, the capacitor electrode 5 b overlaps the drain electrode 4 a through the dielectric layer 40, and constitutes a storage capacitor 55.

容量電極5bの上層側にはシリコン酸化膜等からなる層間絶縁膜42が形成されており、かかる層間絶縁膜42の上層側には、データ線6aと中継電極6b、6cとが同一の導電膜により形成されている。データ線6aおよび中継電極6b、6cは、導電性のポリシリコン膜、金属シリサイド膜、金属膜あるいは金属化合物膜等の導電膜からなり、本形態において、データ線6aおよび中継電極6b、6cは、例えば、アルミニウム膜とチタン膜との積層膜等からなる金属配線である。データ線6aは、層間絶縁膜42、絶縁膜49、層間絶縁膜41およびゲート絶縁層2を貫通するコンタクトホール42aを介してソース領域1b(データ線側ソースドレイン領域)に導通している。中継電極6bは、層間絶縁膜42および絶縁膜49を貫通するコンタクトホール42bを介してドレイン電極4aに導通している。中継電極6cは、層間絶縁膜42を貫通するコンタクトホール42cを介して容量電極5bに導通している   An interlayer insulating film 42 made of a silicon oxide film or the like is formed on the upper side of the capacitor electrode 5b. On the upper layer side of the interlayer insulating film 42, the data line 6a and the relay electrodes 6b and 6c are the same conductive film. It is formed by. The data line 6a and the relay electrodes 6b and 6c are made of a conductive film such as a conductive polysilicon film, a metal silicide film, a metal film, or a metal compound film. In this embodiment, the data line 6a and the relay electrodes 6b and 6c are For example, it is a metal wiring made of a laminated film of an aluminum film and a titanium film. The data line 6a is electrically connected to the source region 1b (data line side source / drain region) through a contact hole 42a penetrating the interlayer insulating film 42, the insulating film 49, the interlayer insulating film 41 and the gate insulating layer 2. The relay electrode 6 b is electrically connected to the drain electrode 4 a through a contact hole 42 b that penetrates the interlayer insulating film 42 and the insulating film 49. The relay electrode 6c is electrically connected to the capacitor electrode 5b through a contact hole 42c that penetrates the interlayer insulating film 42.

データ線6aおよび中継電極6bの上層側にはシリコン酸化膜等からなる透光性の層間絶縁膜44が形成されており、かかる層間絶縁膜44の上層側には、容量線7aおよび中継電極7bが同一の導電膜によって形成されている。層間絶縁膜44は、例えば、テトラエトキシシランと酸素ガスとを用いたプラズマCVD法や、シランガスと亜酸化窒素ガスとを用いたプラズマCVD法等により形成したシリコン酸化膜からなり、その表面は平坦化されている。容量線7aおよび中継電極7bは、導電性のポリシリコン膜、金属シリサイド膜、金属膜あるいは金属化合物膜等の導電膜からなり、本形態において、容量線7aおよび中継電極7bは、アルミニウム合金膜や、チタン窒化膜とアルミニウム膜との2層乃至4層の積層膜からなる。   A light-transmitting interlayer insulating film 44 made of a silicon oxide film or the like is formed on the upper side of the data line 6a and the relay electrode 6b. On the upper layer side of the interlayer insulating film 44, the capacitor line 7a and the relay electrode 7b are formed. Are formed of the same conductive film. The interlayer insulating film 44 is made of, for example, a silicon oxide film formed by a plasma CVD method using tetraethoxysilane and oxygen gas or a plasma CVD method using silane gas and nitrous oxide gas, and the surface thereof is flat. It has become. The capacitor line 7a and the relay electrode 7b are made of a conductive film such as a conductive polysilicon film, a metal silicide film, a metal film, or a metal compound film. In this embodiment, the capacitor line 7a and the relay electrode 7b are made of an aluminum alloy film, And a laminated film of two to four layers of a titanium nitride film and an aluminum film.

本形態において、容量線7aおよび中継電極7bはいずれも、下層側のアルミニウム膜7eと、アルミニウム膜7eに積層された上層側のチタン窒化膜7fからなり、チタン窒化膜7fは光吸収性を有する遮光膜である。中継電極7bは、層間絶縁膜44を貫通するコンタクトホール44bを介して中継電極6bに導通している。容量線7aは、層間絶縁膜44を貫通するコンタクトホール44cを介して中継電極6cに導通している。容量線7aは共通電位Vcomが印加されており、中継電極6cを介して容量電極5bに共通電位Vcomを印加する。容量線7aは、データ線6aと重なるように延在しており、遮光層として機能している。   In this embodiment, each of the capacitor line 7a and the relay electrode 7b includes a lower layer aluminum film 7e and an upper layer titanium nitride film 7f stacked on the aluminum film 7e. The titanium nitride film 7f has light absorption. It is a light shielding film. The relay electrode 7 b is electrically connected to the relay electrode 6 b through a contact hole 44 b that penetrates the interlayer insulating film 44. The capacitor line 7 a is electrically connected to the relay electrode 6 c through a contact hole 44 c that penetrates the interlayer insulating film 44. A common potential Vcom is applied to the capacitor line 7a, and the common potential Vcom is applied to the capacitor electrode 5b via the relay electrode 6c. The capacitor line 7a extends so as to overlap the data line 6a, and functions as a light shielding layer.

容量線7aおよび中継電極7bの上層側には、シリコン酸化膜等からなる透光性の層間絶縁膜45が形成されている。層間絶縁膜45は、全体あるいは上層側(電気光学層50の側)がボロンシリケートガラス(BSG)層45sからなる。ボロンシリケートガラス層45sは、例えば、常圧CVD法等によって成膜することができ、その際の成膜温度は、例えば、350〜450℃である。なお、ボロンシリケートガラス層45sを形成する場合、使用する原料ガスは、SiH4、B26、O3等である。 A translucent interlayer insulating film 45 made of a silicon oxide film or the like is formed on the upper side of the capacitor line 7a and the relay electrode 7b. The entire interlayer insulating film 45 or the upper layer side (the electro-optic layer 50 side) is made of a boron silicate glass (BSG) layer 45s. The boron silicate glass layer 45s can be formed by, for example, an atmospheric pressure CVD method, and the film formation temperature at that time is, for example, 350 to 450 ° C. In addition, when forming the boron silicate glass layer 45s, the source gas used is SiH 4 , B 2 H 6 , O 3 or the like.

層間絶縁膜45は、表面が平坦化されている。層間絶縁膜45の上層側(電気光学層50の側)には、アルミニウム膜やアルミニウム合金膜等の反射性導電膜からなる画素電極9aが形成されており、ボロンシリケートガラス層45sは、隣り合う画素電極9aの間9cから露出している。画素電極9aは、中継電極7bと部分的に重なっており、層間絶縁膜45を貫通するコンタクトホール45aを介して中継電極7bに導通している。その結果、画素電極9aは、中継電極7b、中継電極6bおよびドレイン電極4aを介してドレイン領域1cに電気的に接続している。画素電極9aの表面には、ポリイミド膜や無機配向膜等の第1配向膜16が形成されている。但し、第1配向膜16は、斜方蒸着により形成した無機配向膜であり、複数の凸部を有するカラム構造を有しているため、凸部(カラム)の間では、底部でボロンシリケートガラス層45sが電気光学層50に露出している。   The interlayer insulating film 45 has a flat surface. A pixel electrode 9a made of a reflective conductive film such as an aluminum film or an aluminum alloy film is formed on the upper layer side of the interlayer insulating film 45 (on the electro-optic layer 50 side), and the boron silicate glass layer 45s is adjacent to the other. The pixel electrode 9a is exposed from 9c. The pixel electrode 9 a partially overlaps the relay electrode 7 b and is electrically connected to the relay electrode 7 b through a contact hole 45 a that penetrates the interlayer insulating film 45. As a result, the pixel electrode 9a is electrically connected to the drain region 1c through the relay electrode 7b, the relay electrode 6b, and the drain electrode 4a. A first alignment film 16 such as a polyimide film or an inorganic alignment film is formed on the surface of the pixel electrode 9a. However, the first alignment film 16 is an inorganic alignment film formed by oblique vapor deposition, and has a column structure having a plurality of protrusions. Therefore, between the protrusions (columns), boron silicate glass is formed at the bottom. The layer 45s is exposed to the electro-optic layer 50.

(黒表示領域10bの詳細構成)
図5は、図1に示す電気光学装置100の黒表示領域10bの一部を拡大して示す平面図である。図6は、図5に示す黒表示領域10bのG1−G1′断面図である。図5および図6に示すように、黒表示領域10bには、画素電極9aと同層の反射性導電膜からなる反射電極9bが形成されており、反射電極9bの上層には第1配向膜16が形成されている。また、反射電極9bは、対向基板20の共通電極21に対して電気光学層50を介して対向している。ここで、反射電極9bには複数の開口部9uが形成されている。開口部9uは、例えば、X方向およびY方向に延在するスリットが交差した平面形状になっている。従って、反射電極9bは、開口部9uによって画素電極9aと同一の形状の複数の領域9b0に仕切られた形状になっているが、複数の領域9b0は全て繋がっている。
(Detailed configuration of the black display area 10b)
FIG. 5 is an enlarged plan view showing a part of the black display region 10b of the electro-optical device 100 shown in FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line G1-G1 ′ of the black display region 10b shown in FIG. As shown in FIGS. 5 and 6, a reflective electrode 9b made of a reflective conductive film in the same layer as the pixel electrode 9a is formed in the black display region 10b, and a first alignment film is formed above the reflective electrode 9b. 16 is formed. Further, the reflective electrode 9 b faces the common electrode 21 of the counter substrate 20 via the electro-optic layer 50. Here, a plurality of openings 9u are formed in the reflective electrode 9b. The opening 9u has, for example, a planar shape in which slits extending in the X direction and the Y direction intersect. Therefore, the reflective electrode 9b has a shape partitioned by the opening 9u into a plurality of regions 9b0 having the same shape as the pixel electrode 9a, but the plurality of regions 9b0 are all connected.

図示を省略するが、反射電極9bは、黒表示領域10bより外側で、図1に示す定電位線6sと電気的に接続されている。例えば、黒表示領域10bより外側で、定電位線6sから分岐した配線部分と、反射電極9bとは直接、あるいは中継電極を介して電気的に接続している、また、反射電極9bの下層側には、画素トランジスター30を構成する層と同一の層を積層し、大きな段差が発生することを防止することもある。   Although not shown, the reflective electrode 9b is electrically connected to the constant potential line 6s shown in FIG. 1 outside the black display region 10b. For example, the wiring portion branched from the constant potential line 6s outside the black display region 10b and the reflective electrode 9b are electrically connected directly or via a relay electrode, and the lower layer side of the reflective electrode 9b In some cases, the same layer as that constituting the pixel transistor 30 is laminated to prevent a large step from occurring.

かかる黒表示領域10bにおいて、反射電極9bの下層側では、データ線6aと同層の金属膜からなる金属配線6dが延在し、金属配線6dは開口部9uと平面視で部分的に重なっている。本実施形態において、金属配線6dは、アルミニウム膜とチタン膜との積層膜等からなる。なお、金属配線6dの下層側では、導電性のポリシリコン膜とタングステンシリサイド膜との積層膜等からなる走査線3aが延在している。   In the black display region 10b, on the lower layer side of the reflective electrode 9b, a metal wiring 6d made of a metal film in the same layer as the data line 6a extends, and the metal wiring 6d partially overlaps the opening 9u in plan view. Yes. In the present embodiment, the metal wiring 6d is made of a laminated film of an aluminum film and a titanium film. Note that a scanning line 3a made of a laminated film of a conductive polysilicon film and a tungsten silicide film extends on the lower layer side of the metal wiring 6d.

これに対して、金属配線6dの上層側には、金属配線6dと反射電極9bとの間に、光吸収層7dが形成されている。光吸収層7dは、容量線7aと同層の導電膜であり、下層側のアルミニウム膜7eと、アルミニウム膜7eに積層された上層側のチタン窒化膜7fとの積層膜からなる。従って、光吸収層7dは、少なくとも開口部9uの側に位置する表面が光吸収性の遮光層になっている。本実施形態では、光吸収層7dは、黒表示領域10bの全体に形成されている。光吸収層7dは、反射電極9bの開口部9uと平面視で重なる領域のみに形成されることもある。いずれの場合も、光吸収層7dは、反射電極9bの開口部9uと平面視で重なる領域の全体に形成されている。   On the other hand, on the upper layer side of the metal wiring 6d, a light absorption layer 7d is formed between the metal wiring 6d and the reflective electrode 9b. The light absorption layer 7d is a conductive film in the same layer as the capacitor line 7a, and is formed of a laminated film of a lower layer aluminum film 7e and an upper layer titanium nitride film 7f laminated on the aluminum film 7e. Therefore, at least the surface of the light absorbing layer 7d located on the opening 9u side is a light absorbing light shielding layer. In the present embodiment, the light absorption layer 7d is formed over the entire black display region 10b. The light absorption layer 7d may be formed only in a region overlapping the opening 9u of the reflective electrode 9b in plan view. In any case, the light absorption layer 7d is formed over the entire region overlapping the opening 9u of the reflective electrode 9b in plan view.

(本実施形態の主な効果)
以上説明したように、本実施形態の電気光学装置100において、素子基板10には、表示領域10aを囲む黒表示領域10bに、共通電極21と同一電位が印加される反射電極9bが形成されているため、黒表示を行うことができる。また、反射電極9bには開口部9uが形成されているが、反射電極9bに対して対向基板20とは反対側に設けられた金属配線6dと反射電極9bとの間には、開口部9uと平面視で重なる光吸収層7dが設けられている。このため、電気光学層50における配向の乱れ等が原因で対向基板20側から入射した光が開口部9uを通り抜けた場合でも、かかる光は光吸収層7dで遮られるので、金属配線6dに到達しない。従って、金属配線6dでの反射によって黒表示領域10bから光が漏れることを防止することができる。それ故、表示領域10aで暗い画像を表示した際、黒表示領域10bの黒が目立ってしまうという事態が発生しにくい。
(Main effects of this embodiment)
As described above, in the electro-optical device 100 of the present embodiment, the element substrate 10 is formed with the reflective electrode 9b to which the same potential as the common electrode 21 is applied in the black display region 10b surrounding the display region 10a. Therefore, black display can be performed. Moreover, although the opening 9u is formed in the reflective electrode 9b, the opening 9u is provided between the reflective electrode 9b and the metal wiring 6d provided on the side opposite to the counter substrate 20 with respect to the reflective electrode 9b. And a light absorption layer 7d overlapping in plan view. For this reason, even when light incident from the counter substrate 20 side passes through the opening 9u due to disorder of orientation in the electro-optic layer 50, the light is blocked by the light absorption layer 7d, and thus reaches the metal wiring 6d. do not do. Therefore, it is possible to prevent light from leaking from the black display region 10b due to reflection on the metal wiring 6d. Therefore, when a dark image is displayed in the display area 10a, it is difficult for the black display area 10b to become conspicuous.

また、複数の画素電極9aの各間、および反射電極9bの開口部9uからは、ボロンシリケートガラス層45sが露出しており、かかるボロンシリケートガラス層45sは水分の吸着性が高い。従って、電気光学層50に水分が侵入した場合でも、電気光学層50の水分をボロンシリケートガラス層45sによって吸着することができる。それ故、電気光学層50の水分に起因する特性劣化を抑制することができる。   Further, the boron silicate glass layer 45s is exposed between each of the plurality of pixel electrodes 9a and from the opening 9u of the reflective electrode 9b, and the boron silicate glass layer 45s has high moisture adsorptivity. Therefore, even when moisture enters the electro-optic layer 50, the moisture in the electro-optic layer 50 can be adsorbed by the boron silicate glass layer 45s. Therefore, it is possible to suppress characteristic deterioration due to moisture in the electro-optic layer 50.

また、光吸収層7dは、共通電極21と同一電位が印加された導電層からなるため、黒表示領域10bにおいて光吸収層7dが電気光学層50に電気的な影響を及ぼさない。   In addition, since the light absorption layer 7d is made of a conductive layer to which the same potential as that of the common electrode 21 is applied, the light absorption layer 7d does not affect the electro-optic layer 50 in the black display region 10b.

また、光吸収層7dは、画素電極9aに対して対向基板20とは反対側で容量線7a等の配線を構成する金属層または金属化合物層からなるため、光吸収層7dを設けるための層を追加する必要がない。また、光吸収層7dの表面がチタン窒化膜7fからなり、チタン窒化膜7fであれば、素子基板10において各種配線に用いられ、かつ、光吸収性に優れている。それ故、反射電極9bの開口部9uを遮光するのに適している。   Further, the light absorption layer 7d is made of a metal layer or a metal compound layer that forms wiring such as the capacitor line 7a on the side opposite to the counter substrate 20 with respect to the pixel electrode 9a. Therefore, the layer for providing the light absorption layer 7d. There is no need to add. Further, if the surface of the light absorption layer 7d is made of a titanium nitride film 7f, and the titanium nitride film 7f is used for various wirings in the element substrate 10, it is excellent in light absorption. Therefore, it is suitable for shielding the opening 9u of the reflective electrode 9b.

[実施の形態2]
図7は、本発明の実施の形態2に係る電気光学装置100の黒表示領域10bの一部を拡大して示す平面図である。図8は、図7に示す黒表示領域10bのG2−G2′断面図である。なお、本形態の基本的な構成は実施の形態1と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付して、それらの説明を省略する。
[Embodiment 2]
FIG. 7 is an enlarged plan view showing a part of the black display region 10b of the electro-optical device 100 according to Embodiment 2 of the present invention. FIG. 8 is a G2-G2 ′ cross-sectional view of the black display region 10b shown in FIG. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that of Embodiment 1, common portions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

実施の形態1では、反射電極9bに開口部が形成されていたが、本形態では、図7および図8に示すように、黒表示領域10bには、画素電極9aと同層の反射性導電膜からなる反射電極9bが形成されている。ここで、反射電極9bは、開口部が形成されずに、黒表示領域10bの全面に形成されている。従って、電気光学層50における配向の乱れ等が原因で対向基板20側から入射した光が反射電極9bに到達しても、開口部から通り抜けるという現象が発生しない。従って、金属配線6dでの反射によって黒表示領域10bから光が漏れることを防止することができる。   In Embodiment 1, an opening is formed in the reflective electrode 9b. In this embodiment, as shown in FIGS. 7 and 8, the black display region 10b has a reflective conductive layer in the same layer as the pixel electrode 9a. A reflective electrode 9b made of a film is formed. Here, the reflective electrode 9b is formed on the entire surface of the black display region 10b without an opening. Therefore, even when light incident from the counter substrate 20 side reaches the reflective electrode 9b due to disorder of orientation in the electro-optic layer 50, the phenomenon of passing through the opening does not occur. Therefore, it is possible to prevent light from leaking from the black display region 10b due to reflection on the metal wiring 6d.

[他の実施の形態]
実施の形態1では、金属配線6dとしてデータ線6aと同層の配線が反射電極9bの開口部9uと平面視で重なっていたが、他の配線と同層の金属配線が反射電極9bの開口部9uと平面視で重なっている場合に本発明を適用してもよい。実施の形態1では、光吸収層7dが容量線7aと同層であったが、他の配線と同層の光吸収層を光吸収層7dとして用いてもよい。また、上記実施の形態では、光吸収層7dが、アルミニウム膜7eとチタン窒化膜7fとの積層膜であったが、光吸収層7dとしては、チタン窒化膜7fの単体膜や、タングステンやモリブデンのシリサイド膜等を用いてもよい。
[Other embodiments]
In the first embodiment, as the metal wiring 6d, the wiring in the same layer as the data line 6a overlaps the opening 9u of the reflective electrode 9b in a plan view. The present invention may be applied to the case where the portion 9u overlaps in plan view. In the first embodiment, the light absorption layer 7d is the same layer as the capacitor line 7a. However, a light absorption layer of the same layer as other wirings may be used as the light absorption layer 7d. In the above embodiment, the light absorption layer 7d is a laminated film of the aluminum film 7e and the titanium nitride film 7f. However, as the light absorption layer 7d, a single film of the titanium nitride film 7f, tungsten, molybdenum or the like. Alternatively, a silicide film or the like may be used.

また、本発明が適用される電気光学装置100はVAモードの液晶装置に限定されない。例えば、電気光学装置100がTN(Twisted Nematic)モードやOCB(Optically Compensated Bend)モードの液晶装置である場合に本発明を適用してもよい。   The electro-optical device 100 to which the present invention is applied is not limited to a VA mode liquid crystal device. For example, the present invention may be applied when the electro-optical device 100 is a liquid crystal device in a TN (Twisted Nematic) mode or an OCB (Optically Compensated Bend) mode.

[電子機器への搭載例]
上述した実施形態に係る電気光学装置100を用いた電子機器について説明する。図9は、本発明を適用した電気光学装置100を用いた投射型表示装置(電子機器)の概略構成図である。
[Example of mounting on electronic devices]
An electronic apparatus using the electro-optical device 100 according to the above-described embodiment will be described. FIG. 9 is a schematic configuration diagram of a projection display device (electronic apparatus) using the electro-optical device 100 to which the present invention is applied.

図9に示す投射型表示装置1000は、光源光を発生する光源部1021と、光源部1021から出射された光源光を赤、緑、青の3色に分離する色分離導光光学系1023と、色分離導光光学系1023から出射された各色の光源光によって照明される光変調部1025とを有している。光変調部1025は、電気光学装置100を含んで構成される。また、投射型表示装置1000は、光変調部1025から出射された各色の像光を合成するクロスダイクロイックプリズム1027(合成光学系)と、クロスダイクロイックプリズム1027を経た像光をスクリーン(不図示)に投射するための投射光学系である投射光学系1029とを備えている。   A projection display apparatus 1000 shown in FIG. 9 includes a light source unit 1021 that generates light source light, a color separation light guide optical system 1023 that separates the light source light emitted from the light source unit 1021 into three colors of red, green, and blue. And a light modulator 1025 that is illuminated by the light source light of each color emitted from the color separation light guide optical system 1023. The light modulation unit 1025 includes the electro-optical device 100. Further, the projection display apparatus 1000 uses a cross dichroic prism 1027 (combining optical system) that synthesizes the image light of each color emitted from the light modulation unit 1025 and the image light that has passed through the cross dichroic prism 1027 on a screen (not shown). A projection optical system 1029 which is a projection optical system for projecting.

かかる投射型表示装置1000において、光源部1021は、光源1021aと、一対のフライアイ光学系1021d、1021eと、偏光変換部材1021gと、重畳レンズ1021iとを備えている。本形態においては、光源部1021は、放物面からなるリフレクタ1021fを備えており、平行光を出射する。フライアイ光学系1021d、1021eは、システム光軸と直交する面内にマトリクス状に配置された複数の要素レンズからなり、これらの要素レンズによって光源光を分割して個別に集光・発散させる。偏光変換部材1021gは、フライアイ光学系1021eから出射した光源光を、例えば図面に平行なp偏光成分のみに変換して光路下流側光学系に供給する。重畳レンズ1021iは、偏光変換部材1021gを経た光源光を全体として適宜収束させることにより、光変調部1025に設けた複数の電気光学装置100を各々均一に重畳照明可能とする。   In the projection display apparatus 1000, the light source unit 1021 includes a light source 1021a, a pair of fly-eye optical systems 1021d and 1021e, a polarization conversion member 1021g, and a superimposing lens 1021i. In the present embodiment, the light source unit 1021 includes a reflector 1021f having a paraboloid and emits parallel light. The fly-eye optical systems 1021d and 1021e are composed of a plurality of element lenses arranged in a matrix in a plane orthogonal to the system optical axis, and the light source light is divided and condensed and diverged individually by these element lenses. The polarization conversion member 1021g converts the light source light emitted from the fly-eye optical system 1021e into, for example, only a p-polarized component parallel to the drawing, and supplies it to the optical path downstream optical system. The superimposing lens 1021i allows the plurality of electro-optical devices 100 provided in the light modulation unit 1025 to be uniformly superimposed and illuminated by appropriately converging the light source light that has passed through the polarization conversion member 1021g as a whole.

色分離導光光学系1023は、クロスダイクロイックミラー1023aと、ダイクロイックミラー1023bと、反射ミラー1023j、1023kとを備える。色分離導光光学系1023において、光源部1021からの略白色の光源光は、クロスダイクロイックミラー1023aに入射する。クロスダイクロイックミラー1023aを構成する一方の第1ダイクロイックミラー1031aで反射された赤色(R)の光は、反射ミラー1023jで反射されダイクロイックミラー1023bを透過して、入射側偏光板1037r、p偏光を透過させ、s偏光を反射するワイヤーグリッド偏光板1032r、および光学補償板1039rを介して、p偏光のまま、赤色(R)用の電気光学装置100に入射する。   The color separation light guide optical system 1023 includes a cross dichroic mirror 1023a, a dichroic mirror 1023b, and reflection mirrors 1023j and 1023k. In the color separation light guide optical system 1023, the substantially white light source light from the light source unit 1021 enters the cross dichroic mirror 1023a. The red (R) light reflected by one of the first dichroic mirrors 1031a constituting the cross dichroic mirror 1023a is reflected by the reflecting mirror 1023j, passes through the dichroic mirror 1023b, and passes through the incident side polarizing plate 1037r and the p-polarized light. Then, the light enters the electro-optical device 100 for red (R) as p-polarized light through the wire grid polarizing plate 1032r that reflects s-polarized light and the optical compensation plate 1039r.

また、第1ダイクロイックミラー1031aで反射された緑色(G)の光は、反射ミラー1023jで反射され、その後、ダイクロイックミラー1023bでも反射されて、入射側偏光板1037g、p偏光を透過させ、s偏光を反射するワイヤーグリッド偏光板1032g、および光学補償板1039gを介して、p偏光のまま、緑色(G)用の電気光学装置100に入射する。   Further, the green (G) light reflected by the first dichroic mirror 1031a is reflected by the reflection mirror 1023j, and then also reflected by the dichroic mirror 1023b to transmit the incident side polarizing plate 1037g and p-polarized light, and s-polarized light. Is incident on the electro-optical device 100 for green (G) as p-polarized light via the wire grid polarizing plate 1032g and the optical compensation plate 1039g.

これに対して、クロスダイクロイックミラー1023aを構成する他方の第2ダイクロイックミラー1031bで反射された青色(B)の光は、反射ミラー1023kで反射されて、入射側偏光板1037b、p偏光を透過する一方でs偏光を反射するワイヤーグリッド偏光板1032b、および光学補償板1039bを介して、p偏光のまま、青色(B)用の電気光学装置100に入射する。なお、光学補償板1039r、1039g、1039bは、電気光学装置100への入射光および出射光の偏光状態を調整することで、液晶層の特性を光学的に補償している。   On the other hand, the blue (B) light reflected by the other second dichroic mirror 1031b constituting the cross dichroic mirror 1023a is reflected by the reflection mirror 1023k and passes through the incident side polarizing plate 1037b and the p-polarized light. On the other hand, it enters the electro-optical device 100 for blue (B) as p-polarized light through the wire grid polarizing plate 1032b that reflects s-polarized light and the optical compensation plate 1039b. The optical compensation plates 1039r, 1039g, and 1039b optically compensate for the characteristics of the liquid crystal layer by adjusting the polarization state of the incident light and the emitted light to the electro-optical device 100.

このように構成した投射型表示装置1000では、光学補償板1039r、1039g、1039bを経て入射した3色の光は各々、各電気光学装置100において変調される。その際、電気光学装置100から出射された変調光のうち、s偏光の成分光は、ワイヤーグリッド偏光板1032r、1032g、1032bで反射し、出射側偏光板1038r、1038g、1038bを介してクロスダイクロイックプリズム1027に入射する。クロスダイクロイックプリズム1027には、X字状に交差する第1誘電体多層膜1027aおよび第2誘電体多層膜1027bが形成されており、一方の第1誘電体多層膜1027aはR光を反射し、他方の第2誘電体多層膜1027bはB光を反射する。従って、3色の光は、クロスダイクロイックプリズム1027において合成され、投射光学系1029に出射される。そして、投射光学系1029は、クロスダイクロイックプリズム1027で合成されたカラーの像光を、所望の倍率でスクリーン(図示せず。)に投射する。   In the projection display apparatus 1000 configured as described above, the three colors of light incident through the optical compensation plates 1039r, 1039g, and 1039b are modulated by the electro-optical devices 100, respectively. At this time, of the modulated light emitted from the electro-optical device 100, the s-polarized component light is reflected by the wire grid polarizers 1032r, 1032g, and 1032b, and cross-dichroic via the exit-side polarizers 1038r, 1038g, and 1038b. Incident on the prism 1027. In the cross dichroic prism 1027, a first dielectric multilayer film 1027a and a second dielectric multilayer film 1027b intersecting in an X shape are formed, and the first dielectric multilayer film 1027a reflects R light, The other second dielectric multilayer film 1027b reflects B light. Therefore, the three colors of light are combined by the cross dichroic prism 1027 and emitted to the projection optical system 1029. The projection optical system 1029 projects the color image light combined by the cross dichroic prism 1027 onto a screen (not shown) at a desired magnification.

(他の投射型表示装置)
なお、投射型表示装置については、光源部として、各色の光を出射するLED光源等を用い、かかるLED光源から出射された色光を各々、別の液晶装置に供給するように構成してもよい。
(Other projection display devices)
In addition, about a projection type display apparatus, you may comprise the LED light source etc. which radiate | emit the light of each color as a light source part, and supply each color light radiate | emitted from this LED light source to another liquid crystal device. .

(他の電子機器)
本発明を適用した電気光学装置100を備えた電子機器は、上記実施形態の投射型表示装置1000に限定されない。例えば、投射型のHUD(ヘッドアップディスプレイ)や直視型のHMD(ヘッドマウントディスプレイ)、パーソナルコンピューター、デジタルスチルカメラ、液晶テレビ等の電子機器に用いてもよい。
(Other electronic devices)
The electronic apparatus including the electro-optical device 100 to which the present invention is applied is not limited to the projection display device 1000 of the above embodiment. For example, you may use for electronic devices, such as a projection type HUD (head-up display), a direct view type HMD (head mounted display), a personal computer, a digital still camera, and a liquid crystal television.

3a…走査線、3c…ゲート電極、5b…容量電極、6a…データ線、6b、6c、7b…中継電極、6d…金属配線、6s…定電位線、7d…光吸収層、7e…アルミニウム膜、7f…チタン窒化膜、9a…画素電極、9b…反射電極、9u…開口部、10…素子基板、10a…表示領域、10b…黒表示領域、20…対向基板、21…共通電極、30…画素トランジスター、45s…ボロンシリケートガラス層、50…電気光学層、100…電気光学装置、100p…液晶パネル、107…シール材、1000…投射型表示装置、1021…光源部、1029…投射光学系。 3a ... scanning line, 3c ... gate electrode, 5b ... capacitance electrode, 6a ... data line, 6b, 6c, 7b ... relay electrode, 6d ... metal wiring, 6s ... constant potential line, 7d ... light absorption layer, 7e ... aluminum film , 7f ... titanium nitride film, 9a ... pixel electrode, 9b ... reflective electrode, 9u ... opening, 10 ... element substrate, 10a ... display region, 10b ... black display region, 20 ... counter substrate, 21 ... common electrode, 30 ... Pixel transistor, 45s ... Boron silicate glass layer, 50 ... Electro-optical layer, 100 ... Electro-optical device, 100p ... Liquid crystal panel, 107 ... Sealing material, 1000 ... Projection type display device, 1021 ... Light source unit, 1029 ... Projection optical system.

Claims (7)

素子基板と、
前記素子基板に対向する面側に透光性の共通電極を備えた対向基板と、
前記素子基板と前記対向基板とを貼り合せるシール材と、
前記素子基板と前記対向基板との間で前記シール材により囲まれた領域に配置された電気光学層と、
を有し、
前記シール材で囲まれた領域内に、前記素子基板の前記対向基板と対向する一方面側に複数の反射性の画素電極が形成された表示領域と、前記共通電極と同一電位が印加される反射電極が前記表示領域を囲むように前記素子基板の前記一方面側に形成された黒表示領域と、を有し、
前記反射電極には開口部が設けられ、前記素子基板の前記反射電極に対して前記対向基板とは反対側に設けられた金属配線と前記反射電極との間には、前記開口部と平面視で重なる光吸収層が設けられていることを特徴とする電気光学装置。
An element substrate;
A counter substrate provided with a translucent common electrode on the side facing the element substrate;
A sealing material for bonding the element substrate and the counter substrate;
An electro-optic layer disposed in a region surrounded by the sealing material between the element substrate and the counter substrate;
Have
A display region in which a plurality of reflective pixel electrodes are formed on one side of the element substrate facing the counter substrate in the region surrounded by the sealing material, and the same potential as the common electrode is applied. A black display region formed on the one surface side of the element substrate so that a reflective electrode surrounds the display region,
An opening is provided in the reflective electrode, and the opening is seen in a plan view between the reflective electrode and the metal wiring provided on the side opposite to the counter substrate with respect to the reflective electrode of the element substrate. An electro-optical device characterized in that a light-absorbing layer overlapping with each other is provided.
請求項1に記載の電気光学装置において、
前記複数の画素電極の各間、および前記開口部からは、ボロンシリケートガラス層が露出していることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1.
An electro-optical device, wherein a boron silicate glass layer is exposed between each of the plurality of pixel electrodes and from the opening.
請求項1または2に記載の電気光学装置において、
前記光吸収層は、前記共通電極と同一電位が印加された導電層からなることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1,
The electro-optical device, wherein the light absorption layer includes a conductive layer to which the same potential as that of the common electrode is applied.
請求項3に記載の電気光学装置において、
前記光吸収層は、前記画素電極に対して前記対向基板とは反対側で配線を構成する金属層または金属化合物層からなることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 3.
The electro-optical device, wherein the light absorption layer is made of a metal layer or a metal compound layer constituting a wiring on the opposite side of the counter substrate with respect to the pixel electrode.
請求項4に記載の電気光学装置において、
前記光吸収層は、チタン窒化膜からなることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 4.
The electro-optical device, wherein the light absorption layer is made of a titanium nitride film.
素子基板と、
前記素子基板に対向する面側に透光性の共通電極を備えた対向基板と、
前記素子基板と前記対向基板とを貼り合せるシール材と、
前記素子基板と前記対向基板との間で前記シール材により囲まれた領域に配置された電気光学層と、
を有し、
前記シール材で囲まれた領域内に、前記素子基板の前記対向基板と対向する一方面側に複数の反射性の画素電極が形成された表示領域と、前記共通電極と同一電位が印加される反射電極が前記表示領域を囲むように前記素子基板の前記一方面側に形成された黒表示領域と、を有し、
前記反射電極は、開口部が形成されずに前記黒表示領域の全面に形成されていることを特徴とする電気光学装置。
An element substrate;
A counter substrate provided with a translucent common electrode on the side facing the element substrate;
A sealing material for bonding the element substrate and the counter substrate;
An electro-optic layer disposed in a region surrounded by the sealing material between the element substrate and the counter substrate;
Have
A display region in which a plurality of reflective pixel electrodes are formed on one side of the element substrate facing the counter substrate in the region surrounded by the sealing material, and the same potential as the common electrode is applied. A black display region formed on the one surface side of the element substrate so that a reflective electrode surrounds the display region,
The electro-optical device is characterized in that the reflective electrode is formed on the entire surface of the black display region without forming an opening.
請求項1から6までのいずれか一項に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to any one of claims 1 to 6.
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