JP2018077108A - 回転検出装置 - Google Patents

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拓海 吉谷
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Abstract

【課題】キャリブレーションの手順増加を抑制するとともに、回転体の回転角度を連続的に検出する回転検出装置を提供する。
【解決手段】回転検出装置5は、回転軸方向を法線とする面に歯先3h及び歯底3lを有する回転体3と、回転体3の歯先3h及び歯底3lの歯面に向けて磁場を形成する磁石2と、回転体3と磁石2との間であって、回転体3の回転軸上以外に配置され、少なくとも2つの位置で回転体3の回転軸方向における磁束密度を検出する磁気検出素子と、磁気検出素子によって2つの位置において検出される回転体3の回転軸方向における磁束密度の差分と、2つの位置において検出される回転体3の回転軸方向及び径方向に直交する方向における磁束密度の差分とに応じて回転体3の回転角度を算出する信号処理部とを有する磁気センサ1とを備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、回転検出装置に関する。
従来の技術として、回転体に設けられたギア歯の通過をカウントすることで回転体の回転角度を検出する回転検出装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に開示された回転検出装置は、円筒状のバイアス磁石と、回転体に設けられたギア歯が回転体の回転に伴って通過する際に変化する磁界を検出する3つの磁気抵抗素子と、3つの磁気抵抗素子のうち2つずつの出力のそれぞれから差動信号を検出する検出部と、検出部が検出した差動信号のそれぞれの振幅が一致するように調整する振幅調整部と、振幅調整部で振幅が調整された差動信号のそれぞれの差分値を取得する差分値取得部と、差分値取得部が取得した差分値から閾値に基づいて二値化信号を生成する判定回路部とを有し、判定回路部が生成した二値化信号の波形に基づいてギア歯の通過をカウントし、回転体の回転角度を検出する。円筒状のバイアス磁石によって生成される磁束の対称性に対して3つの磁気抵抗素子の配置が傾いている場合、差動信号のそれぞれの振幅は一方が大きく他方が小さくなるため、それぞれの振幅が一致しないが、振幅調整部によりそれぞれの振幅が一致するように調整されるため、二値化信号がギア歯の通過に一致したものとなる。
特開2015‐215342号公報
しかし、特許文献1に示す回転検出装置は、円筒状のバイアス磁石によって生成される磁束の対称性に対して3つの磁気抵抗素子の配置が傾けて配置された場合であっても、ギア歯の通過に一致した二値化信号が得られるため、回転検出装置のキャリブレーションが不要となるものの、あくまでも二値化信号を出力するものであるから、ギア歯の通過をカウントするだけであり、回転体の回転角度の分解能には限界があり、回転角度を連続的に検出することはできない、という問題がある。
従って、本発明の目的は、回転体の回転角度を連続的に検出する回転検出装置を提供することにある。
本発明の一態様は、上記目的を達成するため、以下の回転検出装置を提供する。
[1]回転軸方向を法線とする面に歯先及び歯底を有し、前記歯先は第1の回転角度の範囲に設けられ、前記歯底は前記第1の回転角度の範囲以外に設けられる軟磁性体である回転体と、
前記回転体の前記歯先及び前記歯底の歯面に向けて磁場を形成する磁石と、
前記回転体と前記磁石との間であって、前記回転体の回転軸上以外に配置され、少なくとも2つの位置で前記回転体の回転軸方向における磁束密度を検出する磁気検出素子と、前記磁気検出素子によって前記2つの位置において検出される前記回転体の回転軸方向における磁束密度の差分と、前記2つの位置において検出される前記回転体の回転軸方向及び径方向に直交する方向における磁束密度の差分とに応じて前記回転体の回転角度を算出する信号処理部とを有する磁気センサとを備える回転検出装置。
[2]前記磁気センサの前記信号処理部は、前記回転体の歯面との距離を無限遠にした場合の前記磁気検出素子の出力する信号に基づいて第1の補正値を設定するとともに、前記第1の補正値によって前記磁気検出素子の出力値を補正した後に前記回転体を一回転以上させた際の出力値の振幅に基づいて第2の補正値を設定し、前記磁気検出素子によって前記2つの位置において検出される前記回転体の回転軸方向における磁束密度の差分を前記第1の補正値によって補正した値と、前記2つの位置において検出される前記回転体の回転軸方向及び径方向に直交する方向における磁束密度の差分を前記第2の補正値によって補正した値とに応じて前記回転体の回転角度を算出する前記[1]に記載の回転検出装置。
請求項1に係る発明によれば、回転体の回転角度を連続的に検出することができる。
請求項2に係る発明によれば、キャリブレーションの手順増加を抑制することができる。
図1は、実施の形態に係る回転検出装置の構成例を示す側面図である。 図2(a)‐(c)は、回転検出装置の構成を示す正面図、側面図及び平面図である。 図3(a)及び(b)は、磁気センサの構成を示す斜視図及び断面図である。 図4は、回転検出装置の磁気センサの動作を説明するための概略図である。 図5A(a)‐(c)は、磁石によって形成される磁場の様子を表す概略図である。 図5B(d)及び(e)は、磁石によって形成される磁場の様子を表す概略図である。 図6は、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するx方向の磁束密度の変化例を示すためのグラフ図である。 図7は、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するz方向の磁束密度の変化例を示すためのグラフ図である。 図8は、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するx方向及びz方向の磁束密度の変化例を示すためのグラフ図である。 図9は、磁気センサ及び磁石の配置を説明するための概略図である。 図10(a)及び(b)は、ギアの回転に伴い磁気センサが検出する磁束密度の変化を示すためのグラフ図である。 図11は、z方向のオフセットを修正した、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するx方向及びz方向の磁束密度の変化例を示すためのグラフ図である。 図12は、x方向のオフセットを修正した、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するx方向及びz方向の磁束密度の変化例を示すためのグラフ図である。 図13は、ホール素子及び磁石の配置を説明するための概略図である。
[実施の形態]
(回転検出装置の構成)
図1は、実施の形態に係る回転検出装置の構成例を示す側面図である。図2(a)‐(c)は、回転検出装置の構成を示す正面図、側面図及び平面図である。図3(a)及び(b)は、磁気センサの構成を示す斜視図及び断面図である。
回転検出装置5は、回転体3の歯先3hからエアギャップAghを設けて配置される磁気センサ1と、磁化方向をDとして磁気センサ1の裏面側(基板100側)に配置される磁石2とを有し、磁気センサ1と磁石2は樹脂等によりモールドされている。
磁石2は、フェライト、サマリウムコバルト、ネオジウム等の材料を用いて形成された永久磁石である。なお、磁石2は、一例として、平面視において四角形状を有しているが、円形状としてもよい。また、磁石の大きさは、一例として、直径10mm×高さ5mmであるが、磁気センサ1の大きさに応じて印加する磁場を調整するため、適宜変更することができる。
回転体3は、軟磁性体材料を用いて形成され、z軸方向を回転軸方向とし、D方向に回転するものであり、磁気センサ1との距離の近い歯先3h及び距離の遠い歯底3lとを有する。様々なサイズのものを用いることができるが、一例として、半径2.5mm、磁気センサ1から歯先3hとの距離がAgh=2mm、歯底3lとの距離がAgl=5mm、磁気センサ1が配置される位置が回転軸から径方向にR=2mm離れた位置とする。なお、回転体3は、歯先3hと歯底3lとの境界を、図示するように歯先3h及び歯底3lの面に対して直交する面とするが、磁気センサ1が後述する出力を得られるならば、直交しない面としてもよく、連続的に接続するような曲面にしてもよい。また、歯先3hは角度範囲(第一の回転角度の範囲)を180°、歯底3lの角度範囲を180°とするが、互いに適宜変更してもよい。また、回転体3は、回転する被検出物に接続されて回転するものであってもよい。
また、磁気センサ1は、図3(a)及び(b)に示すように、一例として、z方向に厚みを有する平板状の基板100と、基板100上に設けられてxy面に平行な検出面を有し、磁気検出素子として検出方向を感磁方向Dszとするホール素子100l、100l及びホール素子100r、100rと、ホール素子100l、100l上に一部が重なるように設けられてx方向の磁束をz方向に変換してホール素子100l、100lに検出させる磁気コンセントレータ101lと、ホール素子100r、100r上に一部が重なるように設けられてx方向の磁束をz方向に変換してホール素子100r、100rに検出させる磁気コンセントレータ101rと、ホール素子100l、100l、100r、100rの出力する信号を処理する信号処理部(図示せず)を有し、x、z方向の磁束密度を検出するホールICである。なお、x方向は回転体3の回転軸方向及び径方向に直交する方向であり、z方向は回転体3の回転軸方向である。
磁気センサ1は、ホール素子100l及び100l並びに磁気コンセントレータ101lにより感磁方向Dsx及びDszにおいて磁束密度を検出し、ホール素子100r及び100r並びに磁気コンセントレータ101rにより感磁方向Dsx及びDszにおいて磁束密度を検出する。
具体的には、ホール素子100lと100lとの出力の差分、ホール素子100rと100rとの出力の差分をとることで感磁方向Dsxの磁束密度に比例した出力を得る。また、ホール素子100lと100lとの出力の和、ホール素子100rと100rとの出力の和をとることで感磁方向Dszの磁束密度に比例した出力を得る。詳細は、「磁気検出動作」において述べる。
また、磁気センサ1は、例えば、メレキシス製MLX90371等を用い、ホール素子100lと100lとの間隔、ホール素子100rと100rとの間隔は、d=0.2mmであり、パッケージモールド部はz方向の厚みが1.5mm、x方向の幅が5.2mm、y方向の幅が4.5mmである。磁気センサ1の磁気コンセントレータ101l及び101rの間隔d=2mmであり、パーマロイを用いることができる。また、磁気センサ1は、さらにy方向の磁束密度を検出するホール素子を設けるものであってもよい。
なお、磁気センサ1は、検出方向がx方向であればMR素子等の他の種類の素子を用いてもよいし、検出方向がx方向を含めば複数の軸方向にそれぞれ磁気検出素子を配置した多軸磁気検出ICを用いてもよい。
図9は、磁気センサ1及び磁石2の配置を説明するための概略図である。
磁気センサ1は、理想的には磁気センサ1の検出中心Cを磁石2の外形上の中心Cに一致させて樹脂等によりモールドすることで製作されるが、製作誤差等により検出中心Cと中心CとはギャップGだけずれているものとする。ギャップGは、一例として、0.25mmである。また、ホール素子100l及び100l並びに磁気コンセントレータ101lによる検出中心をCclとし、ホール素子100r及び100r並びに磁気コンセントレータ101rによる検出中心をCcrとする。
(回転検出装置の動作)
次に、実施の形態の作用を、図1‐図13を用いて説明する。まず、磁気センサ1の磁気検出動作を説明し、次に回転検出装置5が回転体3の回転を検出する回転検出動作について説明した後、回転検出装置5のキャリブレーション動作について説明する。
(磁気検出動作)
図4は、回転検出装置5の磁気センサ1の動作を説明するための概略図である。
磁気センサ1を透過する磁束はホール素子100l、100l、100r、100rによって感知され、磁束密度に比例した信号を出力する。以下、代表してホール素子100l、100lによって検出される磁束について説明するが、ホール素子100r、100rについても同様である。
磁束fのうち、平行成分B//は磁気コンセントレータ101lに誘導されることで、磁束密度の大きさが平行成分B//に比例する垂直成分B⊥に変換され、1対のホール素子100l及び100lによって測定される。垂直成分であるBも1対のホール素子100l及び100lによって測定される。
つまり、図面左側のホール素子100lは“B‐B”を測定する一方、図面右側のホール素子100lは“‐B‐B”を測定する。従って、ホール素子100lの出力とホール素子100lの出力との差をとれば2Bが得られ、和をとれば‐2Bが得られる。
以下において磁気センサ1は、ホール素子100lの出力とホール素子100lの出力との差(以下、2Bx⊥lとする。)及びホール素子100lの出力とホール素子100lの出力との和2Bzlを得、同様にホール素子100r及び100rにより2Bx⊥r及び2Bzrを得る。また、これらの差分からΔB=Bx⊥l‐Bx⊥rと、ΔB=Bzl‐Bzrとを得る。磁気センサ1は、当該ΔB及びΔBに基づいて、次に説明する「回転検出動作」のように回転体3の回転を検出する。
(回転検出動作)
図5A(a)‐(c)は、磁石によって形成される磁場の様子を表す概略図である。また、図5B(d)及び(e)は、磁石によって形成される磁場の様子を表す概略図である。
図5A(a)に示すように、磁気センサ1が回転体3の位置P上にいる場合(θ=0°)において、磁石2から回転体3の歯先3hへと誘引される磁束は図中の矢印のようになり、磁気センサ1のホール素子100l及び100l(以下、総称して「ホール素子100l」という。)並びにホール素子100r及び100r(以下、総称して「ホール素子100r」という。)が検出する磁束密度のx成分は正並びに負であるため、その差分ΔBは回転体3の回転範囲内において最も大きくなる。また、ホール素子100l及び100rが検出する磁束密度のz成分は同等であるため、z成分の差分ΔBは0となる。
次に、図5A(b)に示すように、磁気センサ1が回転体3の位置P上にいる場合(θ=90°)において、図中左半分の磁束は歯先3hに引き寄せられ、右半分の磁束は歯底3lに向かうような磁場が形成されるため、ホール素子100lが検出する磁束密度は図5A(a)の場合と同等であるが、ホール素子100rが検出する磁束は図5A(a)の場合より小さくなり、磁気センサ1が検出する磁束密度のx成分の差分が図5A(a)の場合に比べて小さくなる。また、ホール素子100rが検出する磁束密度のz成分は図5A(a)の場合に比べて小さくなるため、z成分の差分ΔBは負の方向でθ=0°の状態より小さい値となる。
次に、図5A(c)に示すように、磁気センサ1が回転体3の位置P上にいる場合(θ=180°)において、磁石2から回転体3の歯底3lへと誘引される磁束は図中の矢印のようになり、ホール素子100l及び100rが検出する磁束密度のx成分は正及び負であるが、図5A(a)の場合に比べて、それぞれの絶対値は小さくなる。従って、磁束密度のx成分の差分は最小となる。また、ホール素子100l及び100rが検出する磁束密度のz成分は同等であるため、z成分の差分ΔBは0となる。
次に、図5B(d)に示すように、磁気センサ1が回転体3の位置P上にいる場合(θ=270°)において、図5A(b)と左右反転した状態となり、磁気センサ1が検出する磁束密度のx成分の差分が図5A(b)の場合と同等となる。また、ホール素子100rが検出する磁束密度のz成分の差分は図5A(b)の場合の正負を反転させたものとなる。
また、図5B(e)に示すように、回転体3が1回転して磁気センサ1が再び回転体3の位置P上にいる場合(θ=360°)において、図5A(a)と同様の状態となり、磁気センサ1が検出する磁束密度のx成分の差分は回転体3の回転範囲内において最も大きくなる。また、z成分の差分ΔBは0となる。
ただし、上記したように磁気センサ1が磁束密度を検出するのは、図9に示す磁気センサ1の検出中心C及び磁石2の中心Cが一致しており、ギャップG=0の場合であり、ギャップG≠0の場合はΔB及びΔBにはオフセットが生じる。
以上に説明したように、磁気センサ1の検出する磁束密度を、ギャップGに起因するオフセットを考慮したグラフにすると以下の図6及び図7のようになる。
図6は、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するx方向の磁束密度の差分の変化例を示すためのグラフ図である。また、図7は、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するz方向の磁束密度の差分の変化例を示すためのグラフ図である。また、図8は、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するx方向及びz方向の磁束密度の差分の変化例を示すためのグラフ図である。
図6に示すように、磁気センサ1が検出する磁束密度のx成分の差分ΔBは、回転体3の位置がP(θ=0°、360°)においてΔBは最大となり、変位量の中間点P(θ=180°)においてΔBは最小となる。なお、ΔBxoffsetは、ホール素子100l及び100rに対して常に外に開く向きの磁界がバイアスされているため、及びギャップG≠0であるために生じるものである。なお、磁石2の磁気特性は温度に依存するため、ΔBxoffsetの値も温度に依存するものとなる。
図7に示すように、磁気センサ1が検出する磁束密度のz成分の差分ΔBは、回転体3の位置がP(θ=0°、360°)、中間点P(θ=180°)は0となり、経過点P(θ=90°)で最大に、経過点P(θ=270°)で最小になる。なお、ΔBzoffsetは、ホール素子100l及び100rに対して常に外に開く向きの磁界がバイアスされている状態で、ギャップG≠0であることによりホール素子100lが検出するz方向の磁束密度とホール素子100rが検出するx方向の磁束密度とが等しくなくなるために生じるものである。なお、磁石2の磁気特性は温度に依存するため、ΔBzoffsetの値も温度に依存するものとなる。
図8に示すように、縦軸をΔB、横軸をΔBとすると、中心の座標を(ΔBxoffset,ΔBzoffset)とする円となる。なお、図6及び図7に示したΔB及びΔBの振幅は適宜正規化するものとする。
上記した図8に示した円の中心座標(ΔBxoffset,ΔBzoffset)を補正して原点にすることができれば、補正後のΔB’及びΔB’から、Arctan(ΔB’/ΔB’)を演算して、回転体3の回転角度θを算出することができる。従って、以下では当該補正に該当するキャリブレーション動作について説明する。
(キャリブレーション動作)
まず、キャリブレーション動作を説明する前に、オフセットが生じる理由について説明する。図10(a)及び(b)は、ギアの回転に伴い磁気センサが検出する磁束密度の変化を示すためのグラフ図である。また、図13は、ホール素子100l及び磁石2の配置を説明するための概略図である。
仮に、図13に示すように、ホール素子100l及び磁気コンセントレータ101lの検出中心Cclと磁石2の中心Cを一致させた場合に、ギャップGclが生じているとした場合、ホール素子100lが検出する磁束密度は図10(a)及び(b)に説明するようになる。
図10(a)に示すように、回転体3の歯底3lの中心が最もホール素子100lに近づいた状態においてはz軸に対称な磁場が形成されるため、図10(b)に示すように、ホール素子100lが検出する磁束密度のx成分はギャップGcl=0であれば0となる。しかし、Gcl≠0の場合は有限の値(Bxoffset)となる。また、回転体3が回転方向Dに回転するにつれて歯先3hが近づくとx成分は負へと傾き、ホール素子100lが検出する磁束密度のx成分は負の値をとる。また、歯先3hがホール素子100lに最も近づいた状態において、z軸に対称な磁場が形成されてホール素子100lが検出する磁束密度のx成分はギャップGcl=0であれば0となる。しかし、Gcl≠0の場合は有限の値(Bxoffset)となる。
さらに、回転体3が回転方向Dに回転するにつれて歯先3hがホール素子100l上を通り過ぎていくと、通り過ぎるタイミングでx成分は負から正へと反転し、その後歯先3hが最もホール素子100lから遠ざかった状態に近づくにつれてBxoffsetに戻っていく。
つまり、図10(a)及び(b)に示すように、回転体3の回転に伴い、ホール素子100l上を歯が通過する場合であって、歯先3hから歯底3lに変化するタイミングに、ホール素子100lの出力信号レベルは最小となる(実線、Agh=1.9mm)。また、歯底3lから歯先3hに変化するタイミングに、ホール素子100lの出力信号レベルは最大となる。
次に、エアギャップAghを変化させた場合について述べる。エアギャップAgh=1.4mm及び2.4mmの場合であっても、図10(a)及び(b)に示すように、回転体3の回転に伴い、ホール素子100l上を歯が通過する場合であって、歯先3hから歯底3lに変化するタイミングに、ホール素子100lの出力信号レベルは最小となり、歯底3lから歯先3hに変化するタイミングに、ホール素子100lの出力信号レベルは最大となる。これはエアギャップAghの数値に関わらず多少の誤差とともに生じる現象である。
また、歯底3lがホール素子100lに最も近づいた状態において、ホール素子100l上にz軸に対称な磁場が形成されて、ホール素子100lが検出する磁束密度のx成分がBxoffsetとなるタイミングはエアギャップAghが異なっていても一致する(一致点P、図10(b))。
一方、歯先3hがホール素子100lに最も近づいた状態においては、ホール素子100l上にz軸に対称な磁場が形成されて、ホール素子100lが検出する磁束密度のx成分がBxoffsetとなるタイミングはエアギャップAghが異なることでずれる。
一方、一致点Pは、エアギャップAghが無限遠の場合のホール素子100lが検出する磁束密度と一致するものであるため、回転体3がない状態でのホール素子100lの出力からBxoffsetが得られる。
Bxはホール素子100lと100lの出力の差分から求まるものであり、ΔBはホール素子100lと100rの出力の差分から求まるものであるため、再び図9に示す状態に話を戻すと、上記した図10及び図13で説明した方法と同様の方法から、回転体3がない状態での磁気センサ1の出力である差分ΔBからΔBzoffsetが得られることとなる(第1の補正値)。
上記方法により得られたΔBzoffsetによって図8に示したΔBを補正することで以下に示す図11のような出力が得られる。
図11は、z方向のオフセットを修正した、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するx方向及びz方向の磁束密度の変化例を示すためのグラフ図である。
差分ΔB、ΔB’は、ΔB軸上に中心を有する円となる。従って、回転体3を一回転させることで得られるΔBxmax及びΔBxminから中間点を求めることでΔBxoffsetが得られる(第2の補正値)。
上記方法により得られたΔBxoffsetによって図11に示したΔBを補正することで以下に示す図12のような出力が得られる。
図12は、x方向のオフセットを修正した、ギアの回転に伴い磁気センサが検出するx方向及びz方向の磁束密度の変化例を示すためのグラフ図である。
上記したキャリブレーション動作により、図12に示すように、円の中心座標(ΔBxoffset,ΔBzoffset)を補正して原点にすることができる。補正後のΔB’及びΔB’から、Arctan(ΔB’/ΔB’)を演算して、回転体3の回転角度θが算出される。
(実施の形態の効果)
上記した実施の形態によれば、歯先及び歯底が1つずつの設けられた形状の回転体3を用いるようにしたため、回転角度θを連続的に検出することができる。
また、エアギャップAghが無限の場合における磁気センサ1の出力値からΔBzoffsetを定めるようにしたため、工場出荷時にはΔBがΔB’に補正されており、各回転体3に合わせるためにΔBxoffsetを求めればよく、磁気検出装置5のキャリブレーションが簡略化される。
[他の実施の形態]
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々な変形が可能である。例えば、回転検出装置5の検出方向Dszを回転体3の回転軸に正確に合わせて組み付けできない場合は、磁気センサ1の信号処理部によって適宜ΔB及びΔBを補正してもよい。また、y方向に並べて配置されたホール素子をさらに設け、これらのホール素子の出力を用いてΔB及びΔBを補正してもよい。
また、上記した実施の形態のセンサ、磁石、ギアは例示であって、位置検出の機能が損なわれず、本発明の要旨を変更しない範囲内で、これらをそれぞれ適宜選択して新たな組み合わせに変更して用いてもよい。
1 :磁気センサ
2 :磁石
3 :回転体
3h :歯先
3l :歯底
5 :回転検出装置
100 :基板
100l :ホール素子
100r :ホール素子
101l :磁気コンセントレータ
101r :磁気コンセントレータ

Claims (2)

  1. 回転軸方向を法線とする面に歯先及び歯底を有し、前記歯先は第1の回転角度の範囲に設けられ、前記歯底は前記第1の回転角度の範囲以外に設けられる軟磁性体である回転体と、
    前記回転体の前記歯先及び前記歯底の歯面に向けて磁場を形成する磁石と、
    前記回転体と前記磁石との間であって、前記回転体の回転軸上以外に配置され、少なくとも2つの位置で前記回転体の回転軸方向における磁束密度を検出する磁気検出素子と、前記磁気検出素子によって前記2つの位置において検出される前記回転体の回転軸方向における磁束密度の差分と、前記2つの位置において検出される前記回転体の回転軸方向及び径方向に直交する方向における磁束密度の差分とに応じて前記回転体の回転角度を算出する信号処理部とを有する磁気センサとを備える回転検出装置。
  2. 前記磁気センサの前記信号処理部は、前記回転体の歯面との距離を無限遠にした場合の前記磁気検出素子の出力する信号に基づいて第1の補正値を設定するとともに、前記第1の補正値によって前記磁気検出素子の出力値を補正した後に前記回転体を一回転以上させた際の出力値の振幅に基づいて第2の補正値を設定し、前記磁気検出素子によって前記2つの位置において検出される前記回転体の回転軸方向における磁束密度の差分を前記第1の補正値によって補正した値と、前記2つの位置において検出される前記回転体の回転軸方向及び径方向に直交する方向における磁束密度の差分を前記第2の補正値によって補正した値とに応じて前記回転体の回転角度を算出する請求項1に記載の回転検出装置。

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