JP2018055777A - 表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】封止層に水分が侵入しても、その光学特性の変化に起因した視認性の劣化を抑えることができる表示装置を提供する。
【解決手段】本発明による表示装置は、表示領域を有する基板と、前記表示領域に配列された複数の画素と、少なくとも前記表示領域全域を覆う封止層とを備え、前記封止層は、第1無機絶縁層、前記第1無機絶縁層上に設けられた第1有機絶縁層、前記第1有機絶縁層上に設けられ、前記第1有機絶縁層よりも水蒸気透過率が高い第2有機絶縁層、及び前記第2有機絶縁層上に設けられた第2無機絶縁層を有することを特徴とする。
【選択図】図2

Description

有機エレクトロルミネッセンス(以下、有機ELと呼ぶ。)表示装置は、各画素に発光素子が設けられ、個別に発光を制御することで画像を表示する。発光素子は、一方をアノード、他方をカソードとして区別される一対の電極間に有機EL材料を含む層(以下、「発光層」ともいう)を挟んだ構造を有している。発光層に、カソードから電子が注入され、アノードから正孔が注入されると、電子と正孔が再結合する。これにより放出される余剰なエネルギーによって発光層中の発光分子が励起し、その後脱励起することによって発光する。
有機EL表示装置においては、発光素子の各々のアノードは画素毎に画素電極として設けられ、カソードは複数の画素に跨がって共通の電位が印加される共通電極として設けられている。有機EL表示装置は、この共通電極の電位に対し、画素電極の電位を画素毎に印加することで、画素の発光を制御している。
しかしながら、有機EL表示装置の発光層は、水分が侵入すると容易に劣化し、ダークスポットと呼ばれる非点灯領域が発生してしまうという課題がある。このような課題を解決するため、多くの有機EL表示装置には、水分の侵入を防止するための封止層が設けられている。
例えば特許文献1には、基板と、前記基板に順に積層された、電子素子、第1バリア層、有機層及び第2バリア層とを備え、前記有機層は、前記第1バリア層に接触して積層され、かつ、水蒸気透過率が前記第1バリア層より高く、前記第2バリア層は、前記有機層に接触して積層され、かつ、水蒸気透過率が前記有機層より高い電子デバイスが開示されている。
特開2015−228314号公報
しかしながら、上記の従来技術においては、第2バリア層が有機材料から構成される場合に、そこに水分が侵入した際の表示特性の劣化について考慮されていない。有機材料に侵入した水分の密度が一定以上になると、当該有機材料の光学特性が変化し、例えば白色のムラとなって視認性が劣化するという課題がある。
本発明は、封止層に水分が侵入しても、その光学特性の変化に起因した視認性の劣化を抑えることができる表示装置を提供することを目的の一つとする。
本発明の一実施形態に係る表示装置は、表示領域を有する基板と、前記表示領域に配列された複数の画素と、少なくとも前記表示領域全域を覆う封止層とを備え、前記封止層は、第1無機絶縁層、前記第1無機絶縁層上に設けられた第1有機絶縁層、前記第1有機絶縁層上に設けられ、前記第1有機絶縁層よりも水蒸気透過率が高い第2有機絶縁層、及び前記第2有機絶縁層上に設けられた第2無機絶縁層を有することを特徴とする。
本発明の一実施形態に係る表示装置の概略構成を説明する斜視図である。 本発明の一実施形態に係る表示装置の構成を説明する断面図である。 本発明の一実施形態に係る封止層に対して第2有機絶縁層を有さない封止層を用いた場合において、水分の侵入を説明する図である。 本発明の一実施形態に係る封止層を用いた場合において、水分の侵入を説明する図である。 本発明の一実施形態に係る表示装置の構成を説明する断面図である。 本発明の一実施形態に係る表示装置の構成を説明する断面図である。
以下、図面を参照して、本発明のいくつかの実施形態に係る表示装置について詳細に説明する。なお、本発明の表示装置は以下の実施形態に限定されることはなく、種々の変形を行ない実施することが可能である。全ての実施形態においては、同じ構成要素には同一符号を付して説明する。また、図面の寸法比率は、説明の都合上、実際の比率とは異なったり、構成の一部が図面から省略されたりする場合がある。
<第1実施形態>
[概略構成]
図1は、本実施形態に係る表示装置100の概略構成を説明する斜視図である。本実施形態に係る表示装置100は、第1基板102と、複数の画素106と、第2基板104と、複数の接続端子108と、ドライバIC112とを有している。
第1基板102は、複数の画素106及び複数の接続端子108の支持体としての 役割を果たす。第1基板102において、複数の画素106が配列される領域が表 示領域102aであり、表示領域102aの外周部と第1基板102の端縁部の間 が周辺領域102bであり、複数の接続端子108が配列される領域が端子領域1 02cである。第1基板102としては、ガラス基板、アクリル樹脂基板、アルミ ナ基板等を用いることができる。また、第1基板102は、可撓性を有する基板で あってもよい。可撓性を有する基板としては、樹脂材料が用いられる。樹脂材料と しては、繰り返し単位にイミド結合を含む高分子材料を用いるのが好ましく、例え ば、ポリイミドが用いられる。具体的には、基板として、ポリイミドをシート状に 成形したフィルム基板が用いられる。
第2基板104は、第1基板102の表示領域102aの上面に、第1基板102と対向するように設けられている。第2基板104は、第2基板104の周辺部を囲むシール材110によって、第1基板102に固定されている。
第2基板104としては、第1基板102と同様の基板を用いてもよい。尚、本実施形態に係る表示装置100は前述のような第2基板104を有しているが、板状の部材に限定されず、フィルム基材、樹脂等がコーティングされた封止基材に置換えられてもよい。
第2基板104には、カラーフィルタ、遮光層、偏光板、位相板等が配置されていてもよい。カラーフィルタは、複数の画素106の各々に対向した位置に配置される。遮光層(ブラックマトリクスとも呼ばれる)は、複数の画素106の各々を区画する位置に配置される。偏光板及び位相板は、複数の画素106を覆い、第2基板104外側の表面に配置される。偏光板及び位相板は、表示装置100に入射した外光が、画素電極で反射することによる視認性の劣化を抑制するために配置される。
複数の画素106は、第1基板102上の表示領域102aに行列状に配列されている。複数の画素106の各々は、画素回路を有している。図示はしないが、画素回路は、少なくとも駆動トランジスタ、選択トランジスタ、発光素子及び保持容量を有している。
複数の接続端子108は、第1基板102の端子領域102cに配置されている。端子領域102cは、第1基板102の一端部、且つ第2基板104の外側に設けられている。第1基板102において、複数の接続端子108が配置される領域が端子領域102cである。複数の接続端子108には、映像信号を出力する機器や電源などと表示装置100とを接続する配線基板(図示せず)が接続される。配線基板と接続される複数の接続端子108との接点は、外部に露出している。
ドライバIC112は、第1基板102上、且つ第2基板104の外側に配置されている。ドライバIC112は、接続端子108から入力された映像信号を表示領域102aに配列された複数の画素106に出力する。
以上、本実施形態に係る表示装置100の概略構成について説明した。次いで、図面を参照して本実施形態に係る表示装置100の詳細な構成について説明する。
[詳細な構成]
図2は、本実施形態に係る表示装置100の構成を説明する断面図である。図2は、図1に示すA−A´の断面を示している。本実施形態に係る表示装置100は、第1基板102と、複数の画素106と、封止層124と、第2基板104と、シール材110とを備えている。
第1基板102は、複数の画素106の支持体としての役割を果たす。第1基板102上に設けられた表示領域102aには、複数の画素106が配列されている。第1基板102として用いることができる材料については既に説明した。
複数の画素106の各々は、第1基板102上の表示領域102aに配列されている。複数の画素106の各々は、少なくとも選択トランジスタ、駆動トランジスタ、発光素子及び保持容量を有する画素回路から構成される。図2においては、これらの内、発光素子114のみが示されている。
発光素子114は、第1基板102側から、少なくとも画素電極116、発光層118及び共通電極120の順に積層された層構造を有している。発光素子114としては、自発光型の発光素子114を用いることができる。本実施形態においては、自発光型の発光素子114として、発光層118に有機発光層を用いた有機EL発光素子を用いることを前提としている。
画素電極116は、複数の画素106の各々に対して配置されている。画素電極116の材料としては、発光層118で発生した光を共通電極120側に反射させるために、反射率の高い金属層を含むことが好ましい。反射率の高い金属層としては、例えば銀(Ag)や銀を含有する合金、アルミニウムやアルミニウムを含有する合金などを用いることができる。
更に、前述の反射率の高い金属層に加え、透明導電層が積層されてもよい。透明導電層としては、透光性を有し、且つ導電性を有するITO(酸化スズ添加酸化インジウム)やIZO(酸化インジウム・酸化亜鉛)等を用いることが好ましい。また、それらの任意の組み合わせを用いてもよい。
発光層118は、画素電極116及び共通電極120に挟持されて配置されている。発光層118の材料としては、電流が供給されると発光する有機EL材料を用いることができる。有機EL材料としては、低分子系又は高分子系の有機材料を用いることができる。低分子系の有機材料を用いる場合、発光層118は発光性の有機材料に加え、発光性の有機材料を挟持するように正孔注入層や電子注入層、更に正孔輸送層や電子輸送層等を含んで構成されてもよい。また、発光層118は各画素106毎に夫々独立して形成されてもよい。
共通電極120は、本実施形態においては、複数の画素106に亘って配置されている。共通電極120の材料としては、発光層118で発生した光を透過させるために、透光性を有し、且つ導電性を有するITO(酸化スズ添加酸化インジウム)やIZO(酸化インジウム・酸化亜鉛)等が好ましい。又は、共通電極120として、出射光が透過できる程度の膜厚を有する金属層を用いても良い。なお共通電極120は各画素電極116毎に個別に形成されることがあってもよい。
隣接する2つの画素電極116間にはバンク122が設けられ、隣接する2つの画素106を区画している。バンク122は、画素電極116と発光層118との間の層に設けられ、画素電極116の周縁部を覆うように設けられている。
バンク122の材料としては、絶縁材料を用いることが好ましい。絶縁材料としては、無機絶縁材料又は有機絶縁材料を用いることができる。無機絶縁材料としては、例えば酸化珪素、窒化珪素、又はそれらの組み合わせ等を用いることができる。有機絶縁材料としては、例えばポリイミド樹脂、アクリル樹脂、またはそれらの組み合わせ等を用いることができる。無機絶縁材料と有機絶縁材料との組み合わせを用いてもよい。
絶縁材料で形成されたバンク122が設けられることによって、画素電極116の端部において、共通電極120と画素電極116とが短絡することを防止することができる。更に、隣接する画素106間を確実に絶縁することができる。
封止層124は、表示領域102aに亘って配置され、複数の画素106を覆っている。つまり、封止層124は、表示領域102a全域を覆っている。本実施形態においては、封止層124は、少なくとも第1無機絶縁層126a、第2無機絶縁層126b、第1有機絶縁層128a及び第2有機絶縁層128bを有している。封止層124を構成するこれらの層は、下層から、第1無機絶縁層126a、第1有機絶縁層128a、第2有機絶縁層128b及び第2無機絶縁層126bの順で積層されている。これらの層について、第1基板102側の層から順に説明する。
第1無機絶縁層126aは、上層の第1有機絶縁層128aまたは第2有機絶縁層128bが水分を含む場合に、発光素子114への水分の侵入経路を遮断するために設けられている。よって、第1無機絶縁層126aの材料としては、透湿性の低い絶縁材料が好ましい。第1無機絶縁層126aの具体的な材料としては、例えば、酸化珪素(SiOx)、窒化珪素(SiNx)、酸化窒化珪素(SiOxy)、窒化酸化珪素(SiNxy)、酸化アルミニウム(AlOx)、窒化アルミニウム(AlNx)、酸化窒化アルミニウム(AlOxy)、窒化酸化アルミニウム(AlNxy)等の層を使用することができる(x、yは任意)。また、これらの層を積層した構造を使用してもよい。第1無機絶縁層126aの、成膜方法としてはプラズマCVD法又はスパッタリング法などを用いることができる。
第1有機絶縁層128aは、第1無機絶縁層126a上に設けられている。第1有機絶縁層128aは、平面視において複数の画素106を覆うように設けられている。換言すると、第1有機絶縁層128aは、平面視において、表示領域102b全域を覆うように設けられている。更に換言すると、第1有機絶縁層128aは、平面視において、発光層118よりも広く、発光層118を完全に覆うように設けられている。
第1有機絶縁層128aは、封止層124の下層に配置された複数の発光素子114やバンク122等に起因する凹凸を平坦化するために設けられる。このような凹凸が十分に平坦化されずに後述する第2無機絶縁層126bが設けられてしまうと、第2無機絶縁層126bが凹凸を十分に被覆できず、第2無機絶縁層126bにクラックやピンホール等の水分の侵入経路が発生する場合がある。
第1有機絶縁層128aは、膜厚が10μm以上50μm以下であることが好ましい。第1有機絶縁層128aの膜厚がこの範囲よりも小さいと、前述のような凹凸を十分に平坦化することができない場合がある。そのような場合、上層に設けられる第2無機絶縁層126bの被覆性が十分ではなくなり、第2無機絶縁層126bにクラック等の水分の侵入経路が発生する場合がある。一方、第1有機絶縁層128aの膜厚がこの範囲よりも大きいと、封止層124の透光性が低下し、視認される輝度の低下を招く。
第1有機絶縁層128aの材料としては、詳細は後述するが、その上層に設けれらる第2有機絶縁層128bよりも水蒸気透過率が低い材料を用いる。具体的には、水蒸気透過率が10−2g/m2/day以上100g/m2/day以下である材料を用いる。そのような材料としては例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂等を用いることができる。第1有機絶縁層128aの成膜方法としては、塗布法又は蒸着法等を用いることができる。
尚、水蒸気透過率とは、所定の温度及び湿度の条件で単位時間に単位面積の試験片を通過する水蒸気の量と定義される。本明細書においては、水蒸気透過率として、24時間に1m2の試験片を通過する水蒸気量としている。
第2有機絶縁層128bは、第1有機絶縁層128a上に設けられている。第2有機絶縁層128bは、平面視において複数の画素106を覆うように設けられている。換言すると、第2有機絶縁層128bは、平面視において、表示領域102b全域を覆うように設けられている。更に換言すると、第2有機絶縁層128bは、平面視において、発光層118よりも広く、発光層118を覆うように設けられている。本実施形態においては、第2有機絶縁層128bは、第1有機絶縁層128a上に接して設けられている。ここで、第1有機絶縁層128aと、第2有機絶縁層128bとが接触する領域は、平面視において少なくとも複数の画素106を含む表示領域全面を覆う。
第2有機絶縁層128bの材料としては、第1有機絶縁層128aよりも水蒸気透過率が高い材料を用いることが好ましい。具体的には、水蒸気透過率が102g/m2/day以上103g/m2/day以下である材料を用いることが好ましい。
第2有機絶縁層128bの水蒸気透過率がこの範囲よりも大きいと、封止層124のクラックやピンホール等を介して多量の水分が侵入してしまい、表示領域に亘って白色のムラ等が発生してしまう。一方、第2有機絶縁層128bの水蒸気透過率がこの範囲よりも小さいと、第2有機絶縁層128b内における拡散によって水分の密度が十分に均一化されず、前述の視認性の劣化が生じやすくなる。
そのような材料としては例えば、ポリエチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマー、ポリカーボネート、ポリイミドのいずれかを含む材料を用いることができる。第1有機絶縁層128aの成膜方法としては、塗布法又は蒸着法等を用いることができる。
第2無機絶縁層126bは、第2有機絶縁層128b上に設けられている。第2無機絶縁層126bは、平面視において第1無機絶縁層126aと接触する領域を有している。当該接触する領域は、平面視において、複数の画素106を囲む。つまり、第1有機絶縁層128a及び第2有機絶縁層128bは、第1無機絶縁層126a及び第2無機絶縁層126bによって密封されている。このような構成を有することによって、第1有機絶縁層128a又は第2有機絶縁層128bは表示装置100の周縁部において露出しない。これによって、第1有機絶縁層128a又は第2有機絶縁層128bを介して、表示装置100の周縁部から内部への水分の侵入経路を遮断することができる。
更に、第2無機絶縁層126bは、平面視において、周辺領域102bにおいて、第1無機絶縁層126aと接触しない領域を有する。換言すると、第2無機絶縁層126bは、平面視において、周辺領域102bにおいて、第1無機絶縁層126aと離隔した領域を有する。更に換言すると、第2無機絶縁層126bは、平面視において、周辺領域102bにおいて、第1有機絶縁層128a及び第2有機絶縁層128bの少なくともいずれか一方が介在して第1無機絶縁層126aと重畳する領域を有する。
第2無機絶縁層126bの材料としては、第1無機絶縁層126aと同様に、透湿性の低い絶縁材料を用いることが好ましく、第1無機絶縁層126aと同様の材料を用いることができる。第2無機絶縁層126bの成膜方法としては、プラズマCVD法又はスパッタリング法などを用いることができる。
有機絶縁層は水分の侵入経路となりやすいため、第2有機絶縁層128bに水分が侵入すると、第1無機絶縁層126aに到達し、更に発光層118に侵入してしまうことが懸念される。本実施形態においては、第1有機絶縁層128aによって高い平坦性を確保しているため、第2無機絶縁層126bは被覆性に優れ、そのため水分の侵入経路が発生しにくい。しかしながら何らかの原因により、もし水分が侵入した場合であっても段落[0039]に記載のように第2有機絶縁膜128bに、第1有機絶縁層128aよりも水蒸気透過率が高い材料を用いることにより、後述のように水分侵入の影響が局所に集中することなく表示品位への影響を小さくすることができる。
以上、本実施形態に係る表示装置100が備える封止層124の構成について説明した。以下では、封止層124がこのような構成を有することによる作用及び効果について、図面を用いて説明する。
図3Aは、本実施形態に係る封止層124に対して第2有機絶縁層128bを有さない封止層124を用いた場合において、第2無機絶縁層126bに生じたクラック130に起因した水分の侵入を説明する図である。図3Bは、本実施形態に係る封止層124を用いた場合において、第2無機絶縁層に生じたクラック130に起因した水分の侵入を説明する図である。図3A及び図3Bで示すように、第2無機絶縁層126bにクラック130が生じ、当該クラック130を介して封止層124に水分が侵入する場合を考える。
図3Aの構成では、第2無機絶縁層126bに生じたクラック130から第1有機絶縁層128aに水分が侵入すると、当該クラック130近傍に水分が局在する。ここで、局在した水分の密度が、第1有機絶縁層128aの光学特性が変化し、透明性が低下し、例えば白色のムラとなって表示装置100の視認性が劣化するという問題が生じる場合がある。
一方、図3Bに示した本実施形態に係る封止層124の構成によれば、第2無機絶縁層126bに生じたクラック130から第2有機絶縁層128bに水分が侵入すると、先ず第2有機絶縁層128bの面方向への水分の拡散が優位になる。これは、第1有機絶縁層128aに比べて高い第2有機絶縁層の128b水蒸気透過率に起因する。つまり、水分は第2有機絶縁層128b内に局在しにくく、密度が均一になるように第2有機絶縁層128bの面方向へ拡散される。
第2有機絶縁層128bの面方向への水分の拡散が十分に進んだ後、封止層124の厚さ方向への水分の拡散が優位になる。このとき、第2有機絶縁層128b内において水分の密度は十分に均一化されているため、第1有機絶縁層128a内に水分が侵入しても、水分の密度は十分に均一化される。
これによって、前述のような第1有機絶縁層128aの光学特性の変化が生じさせる水分の密度に到達し、視認性が劣化するまでの時間を遅延させることができる。これによって、表示装置100の寿命が長期化し、信頼性が向上する。
尚、第2有機絶縁層128bは、膜厚が0.1μm以上5μm以下であることが好ましい。第2有機絶縁層128bの膜厚がこの範囲よりも小さいと、第2無機絶縁層126b側から水分が侵入した直後に、封止層124の面方向よりも厚さ方向の拡散が優位になってしまう。これによって第1有機絶縁層128a内に水分が局在しやすくなり、前述の視認性の劣化が生じやすくなる。一方、第2有機絶縁層128bの膜厚がこの範囲よりも大きいと、封止層124の透光性が低下し、視認される輝度の低下を招く。
尚、本実施形態においては、第1有機絶縁層128aと第2有機絶縁層128bとは接して積層されている態様を示した。上述のような作用及び効果を奏するための封止層の構成はこれに限定されるわけではない。
つまり、水蒸気透過率の比較的低い有機絶縁層と、クラックの比較的生じやすい無機絶縁層とが接して積層されていなければよい。水蒸気透過率の比較的低い有機絶縁層と、クラックの比較的生じやすい無機絶縁層とが接して積層されていると、無機絶縁層のクラックを介して有機絶縁層に水分が侵入した場合、当該クラック付近で局在してしまうことが有り得る。このことから、本実施形態に係る封止層に対して、第1有機絶縁層128aと第2有機絶縁層128bとの間に、更に絶縁層を介在させても構わないが、この場合は有機絶縁層を介在させる方が好ましい。以上、本実施形態に係る封止層124の詳細な構成について説明した。
第2基板104は、第1基板102の表示領域102aの上面に、第1基板102と対向するように設けられている。第2基板104は、シール材110によって、第1基板102に固定されている。第2基板104として用いることができる材料については既に説明した。
シール材110は、第2基板104の周辺部を囲み、第1基板102と第2基板104とを固定する。第1基板102に配列された複数の画素106は、第2基板104とシール材110とによって大気に晒されないように封止されている。このような封止構造により、複数の画素106の各々が有する発光素子114の劣化を抑制している。なお、第1基板102と第2基板104の固定に際し、シール材110を用いない手段が用いられる場合は、シール材110は形成されない。しかしながら代替手段で用いられる構成部材の少なくとも一部が第2基板104の周辺部を囲み形成されるので、同様に複数の画素106の各々が有する発光素子114の劣化を抑制できる。
以上、本実施形態に係る表示装置100の構成について説明した。本実施形態に係る表示装置100の構成によれば、封止層124内における水分の局在を抑えることができる。これによって、前述のような第1有機絶縁層128aの光学特性の変化が生じさせる水分の密度に到達し、視認性が劣化するまでの時間を遅延させることができる。これによって、表示装置100の寿命が長期化し、信頼性が向上する。
<第2実施形態>
図面を参照して、本実施形態に係る表示装置200の構成について詳細に説明する。尚、本実施形態に係る表示装置200の概略構成は第1実施形態に係る表示装置200と同様であるため、ここでも図1を用いて説明する。図4は、本実施形態に係る表示装置200の構成を説明する断面図である。図4は、図1に示すA−A´の断面を示している。
本実施形態に係る表示装置200は、第1実施形態に係る表示装置100と比較すると、第2有機絶縁層128bの構成が異なっている。つまり、本実施形態においては、第2有機絶縁層128bは、第1有機絶縁層128aの端部を被覆する。このような構成を有することによって、封止層124の端部から水分が侵入した場合において、第1有機絶縁層128aの端部近傍に水分が局在することを抑制することができる。これによって、水分の局在に起因した封止層124の光学特性の変化を抑え、表示不良を抑え、表示装置200の寿命を長期化することができる。なお第1実施形態と同様に、シール材110は必ずしも必要ではない。
<第3実施形態>
図面を参照して、本実施形態に係る表示装置300の構成について詳細に説明する。尚、本実施形態に係る表示装置300の概略構成は第1実施形態に係る表示装置300と同様であるため、ここでも図1を用いて説明する。図5は、本実施形態に係る表示装置300の構成を説明する断面図である。図5は、図1に示すA−A´の断面を示している。
本実施形態に係る表示装置300は、第1実施形態に係る表示装置100と比較すると、封止層124は、第3有機絶縁層128cを更に有している点で異なっている。第3有機絶縁層128cは、第1無機絶縁層126a及び第1有機絶縁層128aの間に設けられている。更に、第3有機絶縁層128cは、第1有機絶縁層128aよりも水蒸気透過率が高い。なお第1実施形態と同様に、シール材110は必ずしも必要ではない。
第3有機絶縁層128cの材料としては、第2有機絶縁層128bと同様の材料を用いることができる。第3有機絶縁層128cの膜厚についても、第2有機絶縁層128bと同様とすることができる。
このような構成を有することによって、封止層124の下層から、つまり封止層124の画素106側から水分が侵入した場合において、第1有機絶縁層128a内に水分が局在することを抑制することができる。これによって、前述のような第1有機絶縁層128aの光学特性の変化が生じさせる水分の密度に到達し、視認性が劣化するまでの時間を遅延させることができる。これによって、表示装置100の寿命が長期化し、信頼性が向上する。
以上、本発明の好ましい態様を説明した。しかし、これらは単なる例示に過ぎず、本発明の技術的範囲はそれらには限定されない。当業者であれば、本発明の要旨を逸脱することなく、種々の変更が可能であろう。よって、それらの変更も当然に、本発明の技術的範囲に属すると解されるべきである。
表示装置・・・100、200、300 第1基板・・・102 第2基板・・・104 画素・・・106 接続端子・・・108 シール材・・・110 ドライバIC・・・112 発光素子・・・114 画素電極・・・116 発光層・・・118 共通電極・・・120 バンク・・・122 封止層・・・124 第1無機絶縁層・・・126a 第2無機絶縁層・・・126b 第1有機絶縁層・・・128a 第2有機絶縁層・・・128b 第3有機絶縁層・・・128c クラック・・・130

Claims (12)

  1. 表示領域を有する基板と、
    前記表示領域に配列された複数の画素と、
    少なくとも前記表示領域全域を覆う封止層とを備え、
    前記封止層は、
    第1無機絶縁層、
    前記第1無機絶縁層上に設けられた第1有機絶縁層、
    前記第1有機絶縁層上に設けられ、前記第1有機絶縁層よりも水蒸気透過率が高い第2有機絶縁層、及び
    前記第2有機絶縁層上に設けられた第2無機絶縁層を有することを特徴とする表示装置。
  2. 前記第1有機絶縁層及び前記第2有機絶縁層は、平面視において前記表示領域全域を覆うことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記第2無機絶縁層は、平面視において前記第1無機絶縁層と接触する領域を有し、前記接触する領域は、前記表示領域全域を囲むことを特徴とする請求項2に記載の表示装置。
  4. 前記基板は、前記表示領域の外周部と前記基板の端縁部との間の領域である周辺領域を更に有し、
    前記第2無機絶縁層は、平面視において表示領域より外側の外周部において、前記第1無機絶縁層と離隔した領域を有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の表示装置
  5. 前記第2有機絶縁層は、前記第1有機絶縁層の端部を被覆することを特徴とする請求項2または請求項3に記載の表示装置。
  6. 前記封止層は、前記第1無機絶縁層及び前記第1有機絶縁層の間に設けられ、前記第1有機絶縁層よりも水蒸気透過率が高い第3有機絶縁層を更に有することを特徴とする請求項2または請求項3に記載の表示装置。
  7. 前記第2有機絶縁層は、膜厚が0.1μm以上5μm以下であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の表示装置。
  8. 前記第1有機絶縁層は、膜厚が10μm以上50μm以下であることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の表示装置。
  9. 前記第2有機絶縁層は、水蒸気透過率が102g/m2/day以上103g/m2/day以下であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の表示装置。
  10. 前記第1有機絶縁層は、水蒸気透過率が10−2g/m2/day以上100g/m2/day以下であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の表示装置。
  11. 前記第2有機絶縁層は、ポリエチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマー、ポリカーボネート、ポリイミドのいずれかを含むことを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の表示装置。
  12. 前記第2有機絶縁層は、前記第1有機絶縁層上に接して設けられることを特徴とする請求項1から請求項6いずれか1項に記載の表示装置。
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