JP2018041581A - 二次電池の検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】二次電池群についての検査を短時間で正確に行うことができる二次電池の検査方法の提供。
【解決手段】二次電池群２００の各二次電池１００についてそれぞれインピーダンスを測定する測定工程と，取得したインピーダンスに基づいて良否判定とを行う検査方法。そして，測定工程におけるインピーダンスの測定を，印加導線および測定導線の一方の二又区間に，二次電池１００から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた第１の湾曲区間を形成するとともに，他方の二又区間に，第１の湾曲区間から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた第２の湾曲区間を形成した状態で，二次電池群２００における隣り合う二次電池１００同士が異なるグループに属するように二次電池２００群を分けた，複数の分割グループごとに行う二次電池の検査方法。
【選択図】図２

Description

本発明は，二次電池の検査方法に関する。さらに詳細には，高い精度で検査を行うことができるリチウムイオン二次電池の検査方法に関する。

リチウムイオン二次電池などの二次電池は，一般的に，品質等の検査を経て出荷される。すなわち，検査によって不良品を選別し，良品のみが出荷されるようにされている。これにより，不良品が市場に流通してしまうことが抑制されている。

例えば，組み立て後の二次電池は，良品と不良品とで，インピーダンスが異なる。このため，例えば，特許文献１に記載されているように，出荷前にインピーダンスを測定し，そのインピーダンスの測定値に基づいて，二次電池の良否を判定することが可能である。

特開２００４−１７１９６０号公報

ところで，上記の従来技術においては，二次電池の１つずつについてインピーダンスの測定を行っている。このため，多くの二次電池についてインピーダンスを測定するためには，長い時間を要してしまうという問題があった。

このような問題は，複数の二次電池により二次電池群を構成し，二次電池群の各二次電池について同時にインピーダンスの測定を行うことで解消できるようにも考えられる。しかし，二次電池群について同時にインピーダンスの測定を行った場合，各二次電池のインピーダンスを正確に測定できないおそれがあった。

すなわち，二次電池のインピーダンスの測定時には，二次電池に交流電流を流す導線と，二次電池の電池電圧を測定するための導線とに電流が流れる。また，これらの導線に電流が流れた際には，磁場が形成される。形成される磁場は，導線の取り回し経路によっては，強度の高いものとなってしまう。そして，二次電池群の各二次電池について同時にインピーダンスの測定を行う際に，強度の高い磁場が形成されてしまった場合には，二次電池群における他の二次電池に接続された回路に電磁誘導，誘導電圧によって影響を及ぼしてしまう。このため，各二次電池のインピーダンスを正確に測定できないおそれがあった。

本発明は，前記した従来の技術が有する問題点の解決を目的としてなされたものである。すなわちその課題とするところは，二次電池群についての検査を短時間で正確に行うことができる二次電池の検査方法を提供することである。

この課題の解決を目的としてなされた本発明の二次電池の検査方法は，並べて配置された複数の二次電池よりなる二次電池群の各二次電池についてそれぞれインピーダンスを測定する測定工程と，測定工程で取得したインピーダンスに基づいて各二次電池について良否判定を行う判定工程とを有する二次電池の検査方法であって，測定工程では，二次電池の正負の外部端子にそれぞれ接続した印加導線を介して二次電池に交流電流を印加しつつ，二次電池の正負の外部端子にそれぞれ接続した測定導線を介して，交流電流が印加されている間の二次電池の電池電圧を取得することでインピーダンスの測定を行い，印加導線および測定導線としてともに，二次電池の正負の外部端子への接続側に，２つの導線に分かれてなる二又区間を有するものを用い，インピーダンスの測定を，印加導線および測定導線の一方の二又区間に，二次電池から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた第１の湾曲区間を形成するとともに，他方の二又区間に，一方の第１の湾曲区間から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた第２の湾曲区間を形成した状態で，二次電池群における隣り合う二次電池同士が異なるグループに属するように二次電池群を分けた，複数の分割グループごとに行うことを特徴とする二次電池の検査方法である。

本発明に係る二次電池の検査方法では，インピーダンスの測定を，第２の湾曲区間を第１の湾曲区間から遠ざかる向きの凸状に形成した状態で行う。このため，強度の高い磁場を発生させることなく，インピーダンスの測定を行うことができる。また，インピーダンスの測定を，隣り合う二次電池同士を異なるグループに振り分けた複数の分割グループごとに行う。このため，二次電池のインピーダンスを，隣の二次電池のインピーダンスの測定時に発生する磁場の影響を受けることなく，測定することができる。これにより，二次電池群についての検査を短時間で正確に行うことができる。

本発明によれば，二次電池群についての検査を短時間で正確に行うことができる二次電池の検査方法が提供されている。

本形態に係る二次電池の斜視図である。 インピーダンスを測定する測定部の斜視図である。 本形態の配線の取り回し経路を説明するための図である。 一般的な配線の取り回し経路を説明するための図である。 本形態におけるインピーダンスの測定中に磁場が形成される領域を示した図である。 実施例と比較するための比較例のインピーダンスの測定結果を示した図である。 図６とは異なる比較例のインピーダンスの測定結果を示した図である。 実施例のインピーダンスの測定結果を示した図である。 実施例のインピーダンスの測定結果を図８よりも広い範囲で示した図である。

以下，本発明を具体化した最良の形態について，図面を参照しつつ詳細に説明する。

図１に，本形態に係る検査の対象である二次電池１００の斜視図を示す。二次電池１００は，リチウムイオン二次電池等の二次電池である。また，本形態の二次電池１００は，電池ケース１１０の外形が矩形形状をした扁平型のものである。また，二次電池１００は，外面のうちの１つである端子面１１１に正極端子１２０と負極端子１３０とを有している。

正極端子１２０および負極端子１３０はともに，二次電池１００を外部の回路に接続し，二次電池１００を充放電するための外部端子である。また，正極端子１２０および負極端子１３０はそれぞれ，最終製品における充放電回路に接続するための柱状部１２１，１３１を有している。

本形態では，複数の二次電池１００よりなる二次電池群について検査を行う。そして，検査により二次電池群に不良品が含まれている場合には，その不良品を製造工程において除去する。これにより，不良品が市場に流通してしまうことを防止する。また，製造工程より除去された不良品は，解体後に再利用されるか破棄される。

また本形態では，「１．測定工程」と「２．判定工程」とをこの順で行うことにより，二次電池１００の検査を行う。以下，「１．測定工程」より順に説明する。

「１．測定工程」では，二次電池１００のインピーダンスを測定する。具体的には，交流インピーダンス法によって二次電池１００のインピーダンスを測定する。図２に，「１．測定工程」を行う測定部１の斜視図を示している。本形態では，図２に示すように，測定部１の下側に複数の二次電池１００よりなる二次電池群２００を配置した状態でインピーダンスの測定を行う。

二次電池群２００において，複数の二次電池１００は厚み方向に並べて配置されている。二次電池群２００における二次電池１００はいずれも，その正極端子１２０および負極端子１３０を，測定部１に向けた状態で配置されている。また，図２には，厚み方向に配列された二次電池群２００の各二次電池１００について，配置番号ＳＮを付している。つまり，配置番号ＳＮは，図２に示すように，右端の二次電池１００から順に，１からｍ（自然数）の順に付されている。

測定部１には，図２に示すように，電流印加部１０および電圧測定部２０が複数，設けられている。電流印加部１０および電圧測定部２０は，二次電池群２００の二次電池１００の個数ｍの分だけ，設けられている。また，測定部１は，図２に矢印で示すように，二次電池群２００に近づく下向きと二次電池群２００から遠ざかる上向きとに移動することができるものである。なお，図２には，測定部１が上昇端まで上昇し，二次電池群２００から離れた状態を示している。測定部１は，二次電池群２００についてインピーダンスを測定する際には，電流印加部１０および電圧測定部２０の先端が二次電池１００に接触する下降端まで下降する。

図３は，本形態の電流印加部１０および電圧測定部２０の配線の取り回し経路について説明するための図である。図３は，図２に示す矢印Ｘから見たときの測定部１である。なお，図３においては，二次電池群２００のうち，配置番号ＳＮが１である二次電池１００のみを示している。また，図３は，インピーダンスの測定中を示したものであり，測定部１が二次電池群２００に向けて下降端まで下降した状態を示している。

電流印加部１０は，印加正ピン３０，印加負ピン３５，印加導線４０を有している。印加正ピン３０および印加負ピン３５はともに，コンタクトプローブであり，測定部１に固定されている。なお，図２には，電流印加部１０のうち，印加正ピン３０および印加負ピン３５のみを示している。

測定部１の下降端を示す図３において，印加正ピン３０は，その先端３１が，二次電池１００の正極端子１２０に接触している。印加負ピン３５は，その先端３６が，二次電池１００の負極端子１３０に接触している。

印加導線４０は，柔軟性を有する導電性の配線部材である。印加導線４０は，印加束区間４１，印加正区間４３，印加負区間４４を有している。印加導線４０は，印加正区間４３では，一端側が印加正ピン３０に接続されており，他端側が分岐箇所４２まで延びている。また，印加負区間４４では，一端側が印加負ピン３５に接続されており，他端側が分岐箇所４２まで延びている。そして，印加導線４０の印加束区間４１では，印加正区間４３および印加負区間４４にそれぞれ繋がっている２つの導線が束ねられ，１本とされている。つまり，印加導線４０は，分岐箇所４２よりも二次電池１００側に，印加正区間４３と印加負区間４４との２つに分かれてなる二又区間を有している。

また，電流印加部１０は，交流電流を印加することができる交流電源を有している。交流電源は，印加導線４０の印加束区間４１における分岐箇所４２とは反対側に接続されている。

電圧測定部２０は，測定正ピン５０，測定負ピン５５，測定導線６０を有している。測定正ピン５０および測定負ピン５５はともに，コンタクトプローブであり，測定部１に固定されている。なお，図２には，電圧測定部２０のうち，測定正ピン５０および測定負ピン５５のみを示している。

測定部１の下降端を示す図３において，測定正ピン５０は，その先端５１が，二次電池１００の正極端子１２０に接触している。測定負ピン５５は，その先端５６が，二次電池１００の負極端子１３０に接触している。

測定導線６０は，柔軟性を有する導電性の配線部材である。測定導線６０は，測定束区間６１，測定正区間６３，測定負区間６４を有している。測定導線６０は，測定正区間６３では，一端側が測定正ピン５０に接続されており，他端側が分岐箇所６２まで延びている。また，測定負区間６４では，一端側が測定負ピン５５に接続されており，他端側が分岐箇所６２まで延びている。そして，測定導線６０の測定束区間６１では，測定正区間６３および測定負区間６４にそれぞれ繋がっている２つの導線が束ねられ，１本とされている。つまり，測定導線６０についても，印加導線４０と同様に，分岐箇所６２よりも二次電池１００側に，測定正区間６３と測定負区間６４との２つに分かれてなる二又区間を有している。

また，電圧測定部２０は，電池電圧を測定することができる電圧計を有している。電圧計は，測定導線６０の測定束区間６１における分岐箇所６２とは反対側に接続されている。

なお，図３には，二次電池群２００のうちの１つの二次電池１００についてのみ，電流印加部１０および電圧測定部２０を示している。しかし，その他の二次電池１００に係る電流印加部１０および電圧測定部２０についても，図３と同様にして設けられている。

そして，本形態では，二次電池１００のインピーダンスの測定の際には，電流印加部１０の交流電源により，印加正ピン３０，印加負ピン３５，印加導線４０を介して二次電池１００に交流電流を印加する。さらに，交流電源が印加されている間の二次電池１００の電池電圧を，測定正ピン５０，測定負ピン５５，測定導線６０を介して，電圧測定部２０の電圧計によって測定することで取得する。そして，二次電池１００に印加した交流電流に係る電流値と電圧値とにより，二次電池群２００の各二次電池１００についてインピーダンスを取得する。

さらに，本形態では，二次電池１００のインピーダンスの測定を，二次電池群２００をさらに分割した複数の分割グループごとに行う。分割グループは，少なくとも，二次電池群２００における隣り合う二次電池１００同士が異なる分割グループに属するように定める。

例えば，二次電池群２００を２つに分ける場合には，配置番号ＳＮが奇数の二次電池１００を第１の分割グループに定め，配置番号ＳＮが偶数の二次電池１００を第２の分割グループに定めることとすればよい。つまり，二次電池群２００を２つに分ける場合には，配置番号ＳＮが，Ｎをゼロ以上の整数として増加させたときの（２×Ｎ）＋１，（２×Ｎ）＋２のものをそれぞれ，第１の分割グループ，第２の分割グループに定めることとすればよい。なお，分割グループはいずれも，複数の二次電池１００が含まれるように定めるものとする。

そして，定めた分割グループごとに，インピーダンスの測定を行う。すなわち，ある分割グループについてインピーダンスの測定を行っている間，その他の分割グループについては，交流電流が印加されていない状態とする。よって，インピーダンスの測定は，定めた分割グループについてそれぞれ，タイミングをずらして行う。

ここで，本形態の１つ目の特徴は，電流印加部１０の印加導線４０と電圧測定部２０の測定導線６０との取り回しの経路にある。具体的に，本形態では，図３に示すように，印加導線４０の印加正区間４３および印加負区間４４に，二次電池１００から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた湾曲区間４５が形成されるように配線されている。一方，測定導線６０においては，その測定負区間６４に，印加導線４０の湾曲区間４５から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた湾曲区間６５が形成されるように配線されている。また，本形態では，測定導線６０の測定負区間６４の湾曲区間６５が，印加導線４０の湾曲区間４５から遠ざかるとともに，二次電池１００に近づく向きの凸状に湾曲し形成されている。

これにより，電流印加部１０の経路は，二次電池１００の正極端子１２０および負極端子１３０からそれぞれ，印加正ピン３０，印加負ピン３５，印加導線４０によって，二次電池１００から遠ざかる向きに延びるように形成されつつ，閉じられている。一方，電圧測定部２０の経路は，二次電池１００の正極端子１２０および負極端子１３０からそれぞれ，測定正ピン５０，測定負ピン５５によって，一旦は二次電池１００から遠ざかる向きに延びるように形成されている。しかし，電圧測定部２０の経路は，測定導線６０によって，測定正ピン５０および測定負ピン５５からそれぞれ，二次電池１００へと近づく向きに延びるように形成されつつ，閉じられている。すなわち，上記のように配線された印加導線４０と測定導線６０とは，それぞれの湾曲区間４５，６５が並行にはならない経路で配線されている。

図４には，本形態とは異なる一般的な配線の例として，湾曲区間同士を並行に形成したものを示している。すなわち，図４は，図３と測定導線６０の取り回しの経路が異なるだけであり，その他は同じである。つまり，二次電池１００や，電流印加部３１０，電圧測定部３２０に使用している配線用の部材そのものについては，本形態と同じである。また，印加導線４０の湾曲区間３４５についても，その形状が同じである。

しかし，図４では，図３と異なり，測定導線６０の湾曲区間３６５を，印加導線４０と同じように，二次電池１００から遠ざかる向きの凸状に湾曲するように形成している。このため，図４では，図３と異なり，測定導線６０の湾曲区間３６５が，印加導線４０の湾曲区間３４５と並行に形成されている。このように配線した場合，インピーダンスの測定中，図４に二点鎖線で示す領域Ｚに，強度の高い磁場が発生する。そして，領域Ｚに強度の高い磁場が発生してしまった場合，電磁誘導および誘導電圧の影響により，インピーダンスを正確に測定することができない。

これに対し，本形態では，図３に示すように，測定導線６０の湾曲区間６５を，印加導線４０の湾曲区間４５から遠ざかる向きの凸状に湾曲するように形成している。そして，本形態においては，測定導線６０の取り回しの経路をこのようにしておくことで，インピーダンスの測定中に，図４のような強度の高い磁場が形成されてしまうことがない。

図５には，本形態において，インピーダンスの測定中に磁場が形成される領域Ｙを示している。ただし，領域Ｙに形成される磁場は，強度が低く，この後の良否判定が正確に行うことができないほど，インピーダンスの測定値に影響をおよぼしてしまうものではない。また，磁場が形成される領域Ｙは小さく，他の二次電池１００のインピーダンスの測定値に大きな影響をおよぼしてしまうほどのものでもない。なお，図５においては，見やすさのために測定部１側の一部構成を省略して示している。

また，本形態の２つ目の特徴は，インピーダンスの測定を，二次電池群２００をさらに分割した複数の分割グループごとに行うことにある。すなわち，インピーダンスの測定時には，図５に領域Ｙで示すように，強度は低いものの，磁場が形成される。このため，距離が近い，隣り合う二次電池１００同士については，同時にインピーダンスの測定を行うと，互いの磁場の影響を受け，わずかながら測定値に誤差が生じるおそれがある。

このような問題に対し，本形態では，隣り合う二次電池１００同士が異なるグループに属するように分割グループを定め，定めた分割グループごとに，インピーダンスの測定を行っている。このため，隣り合う二次電池１００について同時にインピーダンスの測定が行われることがなく，測定値に誤差が生じてしまうことを抑制することができる。つまり，本形態では，分割グループごとにインピーダンスの測定を行うことで，インピーダンスの測定値を，より正確に取得することができる。

よって，上記の２つの特徴を備える本形態の「１．測定工程」においては，二次電池群２００における各二次電池１００のインピーダンスを，正確に測定することができる。そして，「１．測定工程」後の，「２．判定工程」では，正確に測定されたインピーダンスの測定値に基づいて，二次電池群２００の各二次電池１００についての良否判定を行う。

良否判定では，二次電池群２００のうち，インピーダンスの測定値が許容範囲内であるものを良品とする。一方，インピーダンスの測定値が許容範囲外であるものを不良品とする。本形態の良否判定は，上記のように各二次電池１００について正確に測定されたインピーダンスによって行うため，正確なものである。よって，本形態では，「１．測定工程」と「２．判定工程」とにより，二次電池１００の検査を正確に行うことができる。

また，「１．測定工程」では，複数の二次電池１００より構成された二次電池群２００を対象としている。つまり，測定部１に，複数の二次電池１００を１度でセットできる。さらに，二次電池群２００を分けて構成する分割グループについても，複数の二次電池１００が含まれるように定めている。そして，インピーダンスの測定を，複数の分割グループについて，立て続けに行うことができる。このため，本形態では，二次電池１００の検査を，短時間で行うことができる。

次に，上記の実施形態に係る検査方法の実施例について，比較例とともに説明する。比較例としては，上記の実施形態とは異なる比較例１，２，３，４を行った。なお，実施例および比較例ではいずれも，測定対象である二次電池群の各二次電池として，同じ良品のものを用いている。

まず，実施例の測定工程では，インピーダンスの測定を，印加導線および測定導線の取り回し経路を図３で説明した通りとして行った。さらに，実施例では，インピーダンスの測定を，二次電池群を，二次電池群における隣り合う二次電池同士が異なる分割グループに属するように４つに分け，４つの分割グループごとに行った。具体的に，実施例において，二次電池群における配列方向の通し番号である配置番号が，Ｎをゼロ以上の整数として増加させたときの（４×Ｎ）＋１，（４×Ｎ）＋２，（４×Ｎ）＋３，（４×Ｎ）＋４のものをそれぞれ，第１から第４の分割グループに定めた。つまり，３つ飛ばしで隣り合う複数の二次電池を，同じ分割グループに定めた。

比較例１の測定工程では，インピーダンスの測定を，上記の実施形態とは異なり，１つの二次電池について行った。このため，比較例１では，他の二次電池のインピーダンスの測定時に発生する磁場による影響を全く受けることがない状態で，二次電池のインピーダンスを測定した。また，比較例１では，インピーダンスの測定を，印加導線および測定導線の取り回し経路を図３で説明した通りとして行った，このため，比較例１は，インピーダンスの測定時に発生する磁場そのものについても，強度の低いものである。なお，比較例１では，インピーダンスの測定を１つの二次電池についてのみ行っているため，多くの二次電池のインピーダンスを短時間で取得することはできない。

比較例２の測定工程では，インピーダンスの測定を，上記の実施形態とは異なり，印加導線および測定導線の取り回し経路を図４で説明した通りとして行った。このため，比較例２では，インピーダンスの測定時に，強度の高い磁場が発生する。さらに，比較例２では，インピーダンスの測定を，二次電池群を分割グループに分けることなく，二次電池群のすべての二次電池について同時に行った。このため，特に隣接する二次電池同士についてのインピーダンスの測定値がそれぞれ，隣の二次電池のインピーダンスの測定によって発生した磁場の影響を受けやすいものである。

比較例３，４の測定工程では，インピーダンスの測定を，上記の実施形態とは異なり，印加導線および測定導線の取り回し経路を図４で説明した通りとして行った。このため，比較例３，４では，インピーダンスの測定時に，強度の高い磁場が発生する。

ただし，比較例３では，インピーダンスの測定を，二次電池群を，二次電池群における隣り合う二次電池同士が異なる分割グループに属するように３つに分け，３つの分割グループごとに行った。具体的に，比較例３では，配列番号が，Ｎをゼロ以上の整数として増加させたときの（３×Ｎ）＋１，（３×Ｎ）＋２，（３×Ｎ）＋３のものをそれぞれ，第１から第３の分割グループに定めた。つまり，２つ飛ばしで隣り合う複数の二次電池を，同じ分割グループに定めた。また，比較例４では，インピーダンスの測定を，二次電池群を，実施例と同じ４つの分割グループに分けて，４つの分割グループごとに行った。

このため，比較例２，３，４はこの順で，インピーダンスの測定時における，他の二次電池のインピーダンスの測定によって発生した磁場の影響が小さいものである。また，実施例および比較例のうち，比較例１が，インピーダンスを最も正確に取得できる方法で測定工程を行ったものである。一方，比較例２については，発生する磁場の強度が高く，さらに，発生した磁場の影響を最も受けやすい方法で測定工程を行ったものである。

図６から図９に，実施例，比較例の測定結果を示している。これらの図においては，インピーダンスの実数成分を横軸に虚数成分を縦軸にとって示している。

図６には，比較例１，２，３の測定工程により得られたインピーダンスの測定結果をそれぞれ示している。図６に示すように，発生する磁場の強度が高く，さらに発生した磁場の影響を最も受けやすい方法である比較例２においては，最も正確に測定結果を得られている比較例１と大きく異なる結果であることがわかる。そして，他の二次電池の測定時に発生する磁場の影響が比較例２よりも少ない比較例３においては，比較例２の測定結果よりも，比較例１に近い測定結果を得られていることがわかる。

図７には，比較例１，２，４の測定工程により得られたインピーダンスの測定結果をそれぞれ示している。図６と図７とを比較すると，他の二次電池の測定時に発生する磁場の影響が比較例３よりも少ない比較例４においては，比較例３の測定結果よりも，比較例１に近い測定結果を得られていることがわかる。つまり，同時に測定を行う二次電池が離れているほど，測定結果を正確に得られていることがわかる。

図８には，実施例および比較例１，２の測定工程により得られたインピーダンスの測定結果をそれぞれ示している。そして，図８に示すように，実施例においては，比較例１と非常に近い測定結果を得られていることがわかる。つまり，実施例においては，比較例４よりも正確なインピーダンスの測定結果を，比較例１よりも短時間で取得できることが確認された。

図９には，実施例および比較例１，２の測定工程により得られたインピーダンスの測定結果を，図８よりも縦軸および横軸の範囲を広くとって示している。そして，図９から，磁場の影響を大きく受けた状態で測定工程を行った比較例２では，磁場により受ける影響が少ない状態で測定工程を行った比較例１よりも，高周波数側（虚数軸における３００Ｈｚよりも下側）の長さが長いことがわかる。これは，比較例２においては，磁場の影響を大きく受けた状態で測定工程を行っていることで，高周波数側の位相変化が生じたためである。一方，実施例では，比較例２よりも，高周波数側の長さが短くなっていることがわかる。これにより，実施例では，磁場により受ける影響が少ない状態で，インピーダンスの測定を実施できていたことがわかる。

すなわち，実施例では，インピーダンスの測定を，インピーダンスの測定時に生じる磁場の影響を低減しつつ，二次電池群の分割グループごとに行うことで，短時間で正確に実施できることが確認された。

以上詳細に説明したように，本実施の形態の二次電池１００の検査方法では，測定工程と判定工程とを行う。測定工程では，並べて配置された複数の二次電池１００よりなる二次電池群２００の各二次電池１００についてそれぞれインピーダンスの測定を行う。また，測定工程では，二次電池１００の正極端子１２０，負極端子１３０にそれぞれ接続された印加導線４０を介して二次電池１００に交流電流を印加する。さらに，正極端子１２０，負極端子１３０にそれぞれ接続された測定導線６０を介して，交流電流が印加されている間の二次電池１００の電池電圧を取得することでインピーダンスを測定する。印加導線４０および測定導線６０としてはともに，二次電池１００の正極端子１２０，負極端子１３０への接続側に，二又区間を有するものを用いる。そして，インピーダンスの測定を，図３に示すように，印加導線４０の二又区間に湾曲区間４５を形成するとともに，測定導線６０の二又区間に湾曲区間６５を形成した状態で，二次電池群を複数に分けた分割グループごとに行う。これにより，二次電池群についての検査を短時間で正確に行うことができる二次電池の検査方法が実現されている。

なお，本実施の形態は単なる例示にすぎず，本発明を何ら限定するものではない。従って本発明は当然に，その要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良，変形が可能である。例えば，上記の実施形態では，測定工程において，印加導線の二又区間に，二次電池から遠ざかる向きに凸状に湾曲させた湾曲区間を形成し，測定導線の二又区間に，印加導線の湾曲区間から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた湾曲区間を形成している。しかし，逆であっても良い。すなわち，測定導線の二又区間に，二次電池から遠ざかる向きに凸状に湾曲させた湾曲区間を形成し，印加導線の二又区間に，測定導線の湾曲区間から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた湾曲区間を形成してもよい。

また，二次電池群における二次電池の数は，４以上であればよい。二次電池群における隣り合う二次電池同士を異なるグループに振り分け，複数の二次電池を含む分割グループを複数，形成することができるからである。これにより，測定工程を短時間で行うことができるからである。

１ 測定部
１０ 電流印加部
２０ 電圧測定部
４０ 印加導線
４１ 印加束区間
４３ 印加正区間
４４ 印加負区間
４５ 湾曲区間（印加導線）
６０ 測定導線
６１ 測定束区間
６３ 測定正区間
６４ 測定負区間
６５ 湾曲区間（測定導線）
１００ 二次電池
１２０ 正極端子
１３０ 負極端子
２００ 二次電池群

Claims (1)

1. 並べて配置された複数の二次電池よりなる二次電池群の各二次電池についてそれぞれインピーダンスを測定する測定工程と，
   前記測定工程で取得したインピーダンスに基づいて各二次電池について良否判定を行う判定工程とを有する二次電池の検査方法において，
   前記測定工程では，
   二次電池の正負の外部端子にそれぞれ接続した印加導線を介して二次電池に交流電流を印加しつつ，二次電池の正負の外部端子にそれぞれ接続した測定導線を介して，交流電流が印加されている間の二次電池の電池電圧を取得することでインピーダンスの測定を行い，
   前記印加導線および前記測定導線としてともに，二次電池の正負の外部端子への接続側に，２つの導線に分かれてなる二又区間を有するものを用い，
   インピーダンスの測定を，
   前記印加導線および前記測定導線の一方の前記二又区間に，二次電池から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた第１の湾曲区間を形成するとともに，他方の前記二又区間に，前記一方の前記第１の湾曲区間から遠ざかる向きの凸状に湾曲させた第２の湾曲区間を形成した状態で，
   二次電池群における隣り合う二次電池同士が異なるグループに属するように二次電池群を分けた，複数の分割グループごとに行うことを特徴とする二次電池の検査方法。

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