JP2018025440A - 位置測定部を備えた部品 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】平面(203)を有する部品であって、該平面は、該平面上に、該平面を特定できるように互いに十分な間隔をあけて配置された少なくとも3個の位置測定部(101A,101B,101C,101D)を備え、それぞれの位置測定部は、該平面上の拡散反射を生じる面として形成された部品において、該平面の位置を定める位置測定方法であって、該平面の画像から該少なくとも3個の位置測定部の境界線の位置を定めるステップと、該少なくとも3個の位置測定部の境界線の位置を使用して該平面の位置を定めるステップと、を含む。
【選択図】 図1
Description
Claims (15)
- 平面を有する部品であって、該平面は、該平面上に、該平面を特定できるように互いに十分な間隔をあけて配置された少なくとも3個の位置測定部を備え、それぞれの位置測定部は、該平面上の拡散反射を生じる面として形成された部品において、該平面の位置を定める位置測定方法であって、
該平面の画像から該少なくとも3個の位置測定部の境界線の位置を定めるステップと、
該少なくとも3個の位置測定部の境界線の位置を使用して該平面の位置を定めるステップと、を含む位置測定方法。 - 該少なくとも3個の位置測定部の境界線の位置を、該画像の複数の画素を使用して求める請求項1に記載の位置測定方法。
- 第1の平面と該第1の平面に対して所定の角度をなす第2の平面とを有する部品であって、該第2の平面は、該第2の平面上に、該第2の平面を特定できるように互いに十分な間隔をあけて配置された少なくとも3個の位置測定部を備え、それぞれの位置測定部は、該平面上の拡散反射を生じる面として形成された部品において、該第1の平面と該第2の平面との間の角度を定める角度測定方法であって、
該第2の平面の画像から該少なくとも3個の位置測定部の境界線の位置を定めるステップと、
該少なくとも3個の位置測定部の境界線の位置を使用して該第2の平面の位置を定めるステップと、
該第2の平面の位置を使用して該第1の平面と該第2の平面との間の角度を定めるステップとを含む、角度測定方法。 - 該少なくとも3個の位置測定部の境界線の位置を、該画像の複数の画素を使用して求める請求項3に記載の角度測定方法。
- 第1の平面と該第1の平面に対して所定の角度をなす第2の平面とを有する部品であって、
該第2の平面は、該第2の平面上に、該第2の平面を特定できるように互いに十分な間隔をあけて配置された少なくとも3個の位置測定部を備え、
それぞれの位置測定部は、該平面上の拡散反射を生じる面として形成された部品。 - 該位置測定部は、該第2の平面の周縁部に配置された請求項5に記載の部品。
- 4個の位置測定部を備えた請求項5または6に記載の部品。
- 光学用に使用される請求項5から7のいずれかに記載の部品。
- 該第1の平面及び該第2の平面の少なくとも一つがプリズム面である請求項8に記載の部品。
- 該第1の平面及び該第2の平面の少なくとも一つにレンズが配置された請求項8に記載の部品。
- 該第1の平面及び該第2の平面の少なくとも一つが光ファイバー設置用の面である請求項8に記載の部品。
- それぞれ、1個の位置測定部に対応する少なくとも3個の位置マーカを備えた請求項1から11のいずれかに記載の部品。
- それぞれの位置マーカの境界線の長さが0.1ミリメータから3.0ミリメータであり、それぞれの位置マーカの境界線の方向の長さが境界線の長さと同じである請求項12に記載の部品。
- 複数の位置測定部に対応する少なくとも1個の位置マーカを含む少なくとも2個の位置マーカを備えた請求項1から11のいずれかに記載の部品。
- 複数の位置測定部を備えた対象面の位置を測定する測定方法であって、該複数の位置測定部は、該対象面上において拡散反射を生じる面であり、
該対象面の画像から該複数の位置測定部の境界線の位置を定めるステップと、
該複数の位置測定部の境界線の位置から、該対象面の位置を定めるステップと、を含む測定方法。
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JP6248244B1 (ja) * | 2016-08-09 | 2017-12-20 | ナルックス株式会社 | 位置測定部を備えた部品 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5263032A (en) * | 1975-11-19 | 1977-05-25 | Daido Steel Co Ltd | Automatic mark detector |
JPH11328404A (ja) * | 1998-05-08 | 1999-11-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像認識装置および画像認識方法 |
JP2005030793A (ja) * | 2003-07-08 | 2005-02-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 基板検査装置および検査方法 |
JP2006058149A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Nikon Corp | 位置計測装置、露光装置、位置計測方法、及び露光方法 |
US20090141275A1 (en) * | 2007-12-03 | 2009-06-04 | Samsung Electronics Co., Ltd | Alignment inspection method and alignment inspection apparatus |
JP2011179885A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | Seiko Epson Corp | キャリブレーション装置及びキャリブレーション方法及び位置検出用治具及び部品検査装置 |
JP2013545972A (ja) * | 2010-10-14 | 2013-12-26 | コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド | 基板検査方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4837449A (en) * | 1988-05-16 | 1989-06-06 | Maltby Jr Robert E | Inspecting for matching of paired sheets of transparent material |
US5767960A (en) * | 1996-06-14 | 1998-06-16 | Ascension Technology Corporation | Optical 6D measurement system with three fan-shaped beams rotating around one axis |
JP4652883B2 (ja) * | 2005-04-28 | 2011-03-16 | 日本発條株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
JP4910788B2 (ja) | 2007-03-07 | 2012-04-04 | ソニー株式会社 | 光モジュール及び光導波路の製造方法 |
JP5206344B2 (ja) * | 2008-11-14 | 2013-06-12 | オムロン株式会社 | 光学式計測装置 |
US8355122B2 (en) * | 2010-07-30 | 2013-01-15 | Chien-Chung Jeng | Non-contacting aligning method for planes in three-dimensional environment |
JP2012063321A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Hamamatsu Photonics Kk | 反射率測定装置、反射率測定方法、膜厚測定装置及び膜厚測定方法 |
JP2014137410A (ja) | 2013-01-15 | 2014-07-28 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光モジュール、光モジュールの製造方法 |
JP5944843B2 (ja) * | 2013-02-04 | 2016-07-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光測定装置及び分光測定方法 |
JP6248236B2 (ja) * | 2015-03-11 | 2017-12-20 | ナルックス株式会社 | 位置測定部を備えた部品及び測定方法 |
EP3258211B1 (en) * | 2016-06-17 | 2023-12-13 | Hexagon Technology Center GmbH | Determining object reflection properties with respect to particular optical measurement |
JP6248244B1 (ja) * | 2016-08-09 | 2017-12-20 | ナルックス株式会社 | 位置測定部を備えた部品 |
-
2016
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5263032A (en) * | 1975-11-19 | 1977-05-25 | Daido Steel Co Ltd | Automatic mark detector |
JPH11328404A (ja) * | 1998-05-08 | 1999-11-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像認識装置および画像認識方法 |
JP2005030793A (ja) * | 2003-07-08 | 2005-02-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 基板検査装置および検査方法 |
JP2006058149A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Nikon Corp | 位置計測装置、露光装置、位置計測方法、及び露光方法 |
US20090141275A1 (en) * | 2007-12-03 | 2009-06-04 | Samsung Electronics Co., Ltd | Alignment inspection method and alignment inspection apparatus |
JP2011179885A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | Seiko Epson Corp | キャリブレーション装置及びキャリブレーション方法及び位置検出用治具及び部品検査装置 |
JP2013545972A (ja) * | 2010-10-14 | 2013-12-26 | コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド | 基板検査方法 |
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