JP2018004324A - 欠陥検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
まず、本発明に係る実施の形態1について説明する。
次に、本発明に係る実施の形態2について説明する。まず、本実施の形態2に係る装置の構成は、本実施の形態1において図1に例示した欠陥検査装置10の構成と同じである。
11 撮像部
12 PC
13 照明部
14 レンズ
15 検査対象物
30 整列画像
31 検査画像
G(i,j) 領域
B(i,j) 平均輝度値
Claims (2)
- 所定の光の照射パターンが投影された検査対象物の検査画像を撮影する撮影手段と、
前記撮影手段によって撮影された前記検査画像を画像処理する処理手段と、
を備え、
前記処理手段は、
前記検査画像と、当該検査画像と同一の部位を前記撮影手段によって撮影した複数の良品画像と、を並べて第1の整列画像を作成し、
前記第1の整列画像を複数の領域に分割し、
前記領域の平均輝度値をそれぞれ算出し、
互いに隣接する前記領域の前記平均輝度値を比較し、前記平均輝度値の差が基準値を超えた場合に前記領域に点数を加算し、
前記第1の整列画像の、前記検査画像及び前記複数の良品画像を並べ替えて第2の整列画像を作成し、
前記第2の整列画像に対して前記領域の分割から前記点数の加算までを繰り返し、
累積した前記点数に基づいて、前記検査画像の中に欠陥が含まれるか否かを出力する、
欠陥検査装置。 - 前記処理手段は、
前記点数の加算をした後、
前記領域のサイズを変更して前記平均輝度値の算出から前記点数の加算までを繰り返し、
さらに前記第1の整列画像の、前記検査画像及び前記複数の良品画像を並べ替えて第2の整列画像を作成する、
請求項1に記載の欠陥検査装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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