JP2018003094A - Substrate-pinching apparatus, film deposition apparatus, and film deposition method - Google Patents
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- 238000000151 deposition Methods 0.000 title 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 title 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 102
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims abstract description 84
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 5
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 3
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
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- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/0226—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
- H01L21/02263—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract
Description
本発明は、基板挟持装置、成膜装置及び成膜方法に関するものである。 The present invention relates to a substrate holding apparatus, a film forming apparatus, and a film forming method.
例えば、特許文献1に開示されるような、クランプ部材を基板に押し付けて基板の外周部を挟持する基板挟持機構において、基板を挟持した状態から、クランプ部材を基板から離間させて基板を挟持しない解放状態にする際、基板に押し付けていたクランプ部材の接触面に剥離帯電が生じ、離間するクランプ部材に基板が貼り付いてしまう場合がある。 For example, in a substrate holding mechanism that presses a clamp member against a substrate and holds the outer peripheral portion of the substrate as disclosed in Patent Document 1, the clamp member is not separated from the substrate from the state in which the substrate is held. In the release state, peeling electrification may occur on the contact surface of the clamp member that has been pressed against the substrate, and the substrate may stick to the separated clamp member.
この場合、基板の落下や破損のおそれがあることから、剥離帯電が生じない構成が要望されている。 In this case, since there is a risk of the substrate falling or being damaged, a configuration in which peeling electrification does not occur is desired.
本発明は、上述のような現状に鑑みなされたもので、基板を押圧具に貼り付かせることなく、挟持状態から解放状態に移行できる基板挟持装置、成膜装置及び成膜方法を提供するものである。 The present invention has been made in view of the above-described situation, and provides a substrate clamping apparatus, a film forming apparatus, and a film forming method capable of shifting from a clamped state to a released state without attaching the substrate to a pressing tool. It is.
基板を支持する支持具と、この支持具に対向配置され、前記基板を押圧する押圧具とを有し、前記支持具と前記押圧具とで前記基板を挟持する基板挟持装置であって、前記押圧具の基板との対向面には、前記基板側に向かって突出する押圧部が3つ以上設けられ、且つ、前記押圧部は、いずれかの前記押圧部の頂部に対し他の2つ以上の前記押圧部の頂部が前記対向面と平行な平面方向において異なる方向に離間した状態で設けられており、これらの押圧部で前記基板を押圧するように構成されていることを特徴とする基板挟持装置に係るものである。 A substrate holding apparatus that has a support that supports a substrate, and a pressing tool that is disposed opposite to the support and presses the substrate, and holds the substrate between the support and the pressing tool, Three or more pressing portions projecting toward the substrate side are provided on the surface of the pressing tool facing the substrate, and the other two or more pressing portions with respect to the top of any of the pressing portions. The top portion of the pressing portion is provided in a state of being separated in different directions in a plane direction parallel to the facing surface, and the substrate is configured to press the substrate with these pressing portions. The present invention relates to a clamping device.
本発明は上述のように構成したから、基板を押圧具に貼り付かせることなく、挟持状態から解放状態に移行できる基板挟持装置、成膜装置及び成膜方法となる。 Since the present invention is configured as described above, it becomes a substrate holding apparatus, a film forming apparatus, and a film forming method capable of shifting from a holding state to a released state without attaching the substrate to a pressing tool.
好適と考える本発明の実施形態を、図面に基づいて本発明の作用を示して簡単に説明する。 An embodiment of the present invention which is considered to be suitable will be briefly described with reference to the drawings showing the operation of the present invention.
支持具2に支持された基板1を押圧具3で押圧することで基板1を挟持する際、押圧具3の押圧部4により基板1が押圧される。この押圧部4は、その頂部4aが押圧具3の基板1との対向面に夫々離間した状態で3つ以上設けているから、押圧具3が基板1に与える力が局所的にならず、基板の破損を防止できる。即ち、3つの押圧部4の各頂部4aが平面方向において離間し、且つ、いずれかの押圧部4の頂部4aに対し他の2つ以上の押圧部4の頂部4aが異なる方向に離間することで、3つ以上の押圧部4の頂部4aが一直線上にのみ配置される構成とはならず、基板1の所定範囲を多数点で分散して押圧できる構成となる。
When the substrate 1 is held by pressing the substrate 1 supported by the
また、挟持状態から、押圧具3を離間させて押圧を解除して解放状態とする際、押圧具3の基板1との対向面の前記押圧部4が基板1を押圧しているから、押圧部4がない押圧具3の基板1との対向面を基板1に押圧する場合に比べ、基板1と押圧具3との接触面積を小さくすることができる。従って、押圧具3を基板1から離間する際に基板1から離れ易く、また、接触面の帯電を減少させることができ、よって、押圧具3を離間する際に基板1が貼り付くことを防止できることになる。
Further, when the
本発明の具体的な実施例について図面に基づいて説明する。 Specific embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
本実施例は、図1に図示したように、真空槽7内に、基板1とマスク8とを配置して蒸発源9等から成る成膜機構を用いて成膜を行う成膜装置に本発明を適用した例である。この成膜装置には、蒸発源9から射出された蒸発粒子の蒸発レートをモニタする膜厚モニタ、真空槽7外に設けたモニタした蒸発粒子の量を膜厚に換算する膜厚計、換算された膜厚が所望の膜厚になるように成膜材料の蒸発レートを制御するために蒸発源9を加熱するヒータ用電源等が設けられる。この成膜装置は、例えば、有機エレクトロルミネッセンス表示装置のための表示パネルの製造に用いられる。
In this embodiment, as shown in FIG. 1, the substrate 1 and the mask 8 are arranged in a vacuum chamber 7 and a film forming apparatus for forming a film using a film forming mechanism including an
具体的には、真空槽7には、マスク8がマスク支持体10に支持された状態で配置され、このマスク8と基板1との相対距離を変化させる移動機構6が設けられている。
Specifically, the vacuum chamber 7 is provided with a mask 8 that is supported by a
移動機構6は、その固定部が真空槽7の壁面に取り付けられ、真空槽7の壁面に対して接離移動するように固定部に進退自在に設けられた移動部の先端部に基板支持体11が設けられている。従って、移動部を進退移動させることで、基板支持体11に支持された基板11がマスク8に対して接離移動する。
The
基板支持体11には、基板1の下面外周部と接触して基板1を支持する支持具2と、この支持具2と対向配置され、即ち、基板1を挟むように基板1の上面側に設けられ基板1を支持具2に押圧する押圧具3とを備えている。
The
また、基板支持体11は、胴部の左右に袖部が垂設された断面視略コ字状体であり、袖部の先端から内方に突出するように支持具2が設けられている。また、この支持具2に夫々対向するように押圧具3の軸部13が突没自在に設けられた基部12が設けられている。
The
押圧具3は、基部12から突出して基板1を支持具2に押し付けることで基板1を挟持するように構成されている。この支持具2及び押圧具3により、押圧具3を基板1に押圧した挟持状態と、基板1から押圧具3を後退させて基板1を挟持しない解放状態とに適宜切り替えることが可能となる。
The
支持具2及び押圧具3は、基板1の複数の辺部に当接するように複数設けられている。本実施例では、支持具2及び押圧具3は基板1の対向する一対の辺部に当接するように一対設けられている。
A plurality of
また、本実施例では、1つの辺部に対して当該辺部の長手方向略全体に当接するように前記一対の支持具2及び押圧具3が夫々構成されている。なお、1つの辺部に対して複数の支持具2及び押圧具3を設けて1つの辺部を多数点で支持及び挟持する構成としても良い。また、基板1の角部を複数箇所挟持する構成としても良い。
Further, in the present embodiment, the pair of
押圧具3には、基板1の端部と対向し、矩形状で所定面積の平坦な対向面が設けられている。この対向面に基板1側に向かって突出する押圧部4が、その頂部4aが離間した状態で3つ以上突設されている。具体的には、いずれかの押圧部4の頂部4aに対し他の2つ以上の押圧部4の頂部4aが前記対向面と平行な平面方向において異なる方向に離間した状態で設けられている。
The
押圧部4は先端程先細る突起状に構成される。例えば、円錐や角錐の頭頂部を水平に切り落としたような形状を採用できる。本実施例においては、四角錐の頭頂部を水平に切り落とした形状としている。 The pressing portion 4 is formed in a protruding shape that tapers toward the tip. For example, a shape obtained by horizontally cutting off the top of a cone or a pyramid can be employed. In this embodiment, the top of the quadrangular pyramid is cut horizontally.
図2,3に図示したように、本実施例の押圧具3の基板1との対向面は、基板1の挟持する辺部に沿って設けられる長辺部と、この長辺部より短い短辺部とを有し、この長辺部及び短辺部の縁部5夫々に沿って押圧部4を多数配列した構成である。
As shown in FIGS. 2 and 3, the surface of the
即ち、本実施例の押圧部4は、基板1との対向面の縁部5と平行に複数並設され、且つ、挟持する基板1の辺部と平行に複数列(2列)設けられている。従って、基板1を挟持する辺部に沿って多数の押圧部4が複数列存在し、それだけ基板1を良好に挟持することが可能となる。 That is, a plurality of pressing portions 4 of the present embodiment are provided in parallel with the edge portion 5 of the surface facing the substrate 1 and are provided in a plurality of rows (two rows) in parallel with the side portion of the substrate 1 to be sandwiched. Yes. Accordingly, there are a plurality of rows of the pressing portions 4 along the side portions that sandwich the substrate 1, and the substrate 1 can be favorably sandwiched accordingly.
なお、押圧部4の配列は上述の配列に限らず、求める挟持力と貼り付き防止性から適宜設定して良い。例えば円環状に配列しても良いし、前記対向面の四隅にのみ設ける構成としても良いし、千鳥状に配列しても良いし、三角形の頂点に夫々設けるような三角形配列としても良いし、基板中心側の上底を長辺とし下底を短辺とする台形の頂点に夫々設けるような台形配列としても良い。 Note that the arrangement of the pressing portions 4 is not limited to the above arrangement, and may be set as appropriate from the required clamping force and sticking prevention property. For example, it may be arranged in an annular shape, it may be provided only at the four corners of the facing surface, it may be arranged in a staggered manner, or it may be a triangular arrangement that is provided at each vertex of the triangle, A trapezoidal arrangement may be adopted in which the upper base of the substrate center side has a long side and the lower base has a short side.
また、押圧部4の頂部4aは、押圧具3の基板1との対向面の縁部5から内方に後退した位置に設けられている。具体的には、押圧部4の底部と頂部4aとを繋ぐ側面部4bが傾斜面に設定されている。本実施例では、側面部4bが頂部4a側ほど先細るテーパ面に設定されている。従って、本実施例は、押圧部4の底部が隣り合う押圧部4の底部と当接するように多数の押圧部4を密集状態で並設しているが、基板1と接触する頂部4aは平面方向に離間して配置される。
Further, the
また、押圧部4の頂部4aと側面部4bとの間の角部が鈍角となって挟持した基板1がバタついても角が立ちにくく、基板1の破損を可及的に防止できる構成となる。なお、図4に図示したように、押圧部4の頂部4aと側面部4bとの間の角部4cをR形状としても良い。この場合、一層基板1が破損し難い構成となる。
Moreover, even if the board | substrate 1 pinched by the corner | angular part between the
また、押圧具3の押圧部4は、アルミニウム等の金属材料製であり、表面にフッ素コーティングが施された構成としている。なお、フッ素コーティングに替えて表面にブラスト処理を施しても良いし、フッ素コーティング及びブラスト処理の双方を施しても良い。
Moreover, the pressing part 4 of the
本発明は、本実施例に限られるものではなく、各構成要件の具体的構成は適宜設計し得るものである。 The present invention is not limited to this embodiment, and the specific configuration of each component can be designed as appropriate.
1 基板
2 支持具
3 押圧具
4 押圧部
4a 頂部
4b 側面部
5 縁部
7 真空槽
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board |
Claims (9)
前記基板を挟持する挟持工程と、
前記挟持工程で挟持された基板を挟持しない解放状態とする解放工程とを有し、
前記挟持工程及び前記解放工程は、請求項1〜7のいずれか1項に記載の基板挟持装置を用いて行うことを特徴とする成膜方法。 A film forming method for forming a film on a substrate,
A clamping step of clamping the substrate;
A releasing step for releasing the substrate sandwiched in the sandwiching step so as not to be sandwiched,
The film-forming method characterized by performing the said clamping process and the said releasing process using the board | substrate clamping apparatus of any one of Claims 1-7.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016131734A JP6309047B2 (en) | 2016-07-01 | 2016-07-01 | Substrate clamping apparatus, film forming apparatus and film forming method |
KR1020170075909A KR101960169B1 (en) | 2016-07-01 | 2017-06-15 | Substrate clamping apparatus, film formation apparatus and film formation method |
CN201710518668.9A CN107557746B (en) | 2016-07-01 | 2017-06-30 | Substrate clamping device, film forming device and film forming method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016131734A JP6309047B2 (en) | 2016-07-01 | 2016-07-01 | Substrate clamping apparatus, film forming apparatus and film forming method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018003094A true JP2018003094A (en) | 2018-01-11 |
JP6309047B2 JP6309047B2 (en) | 2018-04-11 |
Family
ID=60945316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016131734A Active JP6309047B2 (en) | 2016-07-01 | 2016-07-01 | Substrate clamping apparatus, film forming apparatus and film forming method |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6309047B2 (en) |
KR (1) | KR101960169B1 (en) |
CN (1) | CN107557746B (en) |
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- 2016-07-01 JP JP2016131734A patent/JP6309047B2/en active Active
-
2017
- 2017-06-15 KR KR1020170075909A patent/KR101960169B1/en active IP Right Grant
- 2017-06-30 CN CN201710518668.9A patent/CN107557746B/en active Active
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---|---|
KR101960169B1 (en) | 2019-03-19 |
CN107557746A (en) | 2018-01-09 |
CN107557746B (en) | 2020-11-10 |
JP6309047B2 (en) | 2018-04-11 |
KR20180003993A (en) | 2018-01-10 |
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Date | Code | Title | Description |
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A975 | Report on accelerated examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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