JP2017519991A - イオン移動度分光計用シャッタ - Google Patents
イオン移動度分光計用シャッタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017519991A JP2017519991A JP2016574008A JP2016574008A JP2017519991A JP 2017519991 A JP2017519991 A JP 2017519991A JP 2016574008 A JP2016574008 A JP 2016574008A JP 2016574008 A JP2016574008 A JP 2016574008A JP 2017519991 A JP2017519991 A JP 2017519991A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- shutter
- electrode surface
- ion
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 9
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 68
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 241001670157 Gymnura Species 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000001871 ion mobility spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/622—Ion mobility spectrometry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
第1の平面内に互いに離間して配置された複数の第1の電極要素を有する第1の電極表面と、
前記第1の電極表面に平行に且つ前記第1の電極表面から離間して配置される第2の電極表面であって、第2の平面内に互いに離間して配置された複数の第2の電極要素を有する第2の電極表面と、
前記第1の電極要素と前記第2の電極要素との間に電位差を印加する手段と
を備えるイオン移動度分光計用シャッタに関する。
多数の開口部を備える第1の板状キャリアと、
前記板状キャリアの第1の側に配置され、前記第1の電極要素を形成する導電層と、
前記第1の側とは反対の第2の側に配置され、前記第2の電極要素を形成する導電層と、
多数の開口部を備え、前記第3の電極要素を形成する導電層が両面に設けられた第2の板状キャリアと、
前記第1の板状キャリアと前記第2の板状キャリアとの間に配置されるスペーサと
をさらに備える。
本発明によるシャッタと、
前記第2の電極表面に平行に且つ前記第2の電極表面から離間して配置され、イオンスウォームの到達を検出するコレクタプレートと
を備える。
Claims (9)
- 第1の平面内に互いに離間して配置された複数の第1の電極要素を有する第1の電極表面と、
前記第1の電極表面に平行に且つ前記第1の電極表面から離間して配置される第2の電極表面であって、第2の平面内に互いに離間して配置された複数の第2の電極要素を有する第2の電極表面と、
前記第1の電極要素と前記第2の電極要素との間に電位差を印加する手段と
を備えるイオン移動度分光計用シャッタであり、
第3の平面内に互いに離間して配置された複数の第3の電極要素を有する第3の電極表面をさらに備え、該第3の電極表面は、前記第1の電極表面と平行に且つ前記第1の電極表面から離間して配置され、かつ、前記第1の電極表面の、前記第2の電極表面とは反対側に配置されることを特徴とするシャッタ。 - 前記第1の電極要素、第2の電極要素、及び/又は第3の電極要素が細長いことを特徴とする請求項1に記載のシャッタ。
- 前記第1の電極要素、第2の電極要素、及び/又は第3の電極要素は、それぞれの前記平面内で相互接続され、格子状電極を形成することを特徴とする請求項2に記載のシャッタ。
- 前記第2の電極要素と前記第3の電極要素の電位を等しく保つ手段を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のシャッタ。
- 前記第1の電極要素間のピッチ間隔は、前記第2の電極要素間のピッチ間隔と等しいことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のシャッタ。
- 前記第3の電極要素間のピッチ間隔は、前記第1の電極要素間のピッチ間隔の1/3〜1/10であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載のシャッタ。
- 請求項1〜6のいずれか一項に記載のシャッタであり、
多数の開口部を備えた第1の板状キャリアと、
前記板状キャリアの第1の側に配置され、前記第1の電極要素を形成する導電層と、
前記第1の側とは反対の第2の側に配置され、前記第2の電極要素を形成する導電層と、
多数の開口部を備え、前記第3の電極要素を形成する導電層が両面に設けられた第2の板状キャリアと、
前記第1の板状キャリアと前記第2の板状キャリアとの間に配置されるスペーサと
をさらに備えることを特徴とするシャッタ。 - イオン移動度分光計であり、
請求項1〜7のいずれか一項に記載のシャッタと、
前記第2の電極表面に平行に且つ前記第2の電極表面から離間して配置され、イオンスウォームの到達を検出するコレクタプレートと
を備えることを特徴とするイオン移動度分光計。 - 前記シャッタと前記コレクタプレートとの間に配置される第2のスペーサを備えることを特徴とする請求項8に記載のイオン移動度分光計及び請求項7に記載のシャッタ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL2013000 | 2014-06-16 | ||
NL2013000A NL2013000B1 (nl) | 2014-06-16 | 2014-06-16 | Sluiter voor een ionenmobiliteitsspectrometer. |
PCT/NL2015/050427 WO2015194943A1 (en) | 2014-06-16 | 2015-06-11 | Shutter for an ion mobility spectrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017519991A true JP2017519991A (ja) | 2017-07-20 |
JP6605510B2 JP6605510B2 (ja) | 2019-11-13 |
Family
ID=51541252
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016574008A Active JP6605510B2 (ja) | 2014-06-16 | 2015-06-11 | イオン移動度分光計用シャッタ |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9772307B2 (ja) |
EP (1) | EP3155635B1 (ja) |
JP (1) | JP6605510B2 (ja) |
CN (1) | CN106716122B (ja) |
AU (1) | AU2015278346B2 (ja) |
CA (1) | CA2952412C (ja) |
ES (1) | ES2748280T3 (ja) |
NL (1) | NL2013000B1 (ja) |
PL (1) | PL3155635T3 (ja) |
RU (1) | RU2687233C2 (ja) |
WO (1) | WO2015194943A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7503949B2 (ja) | 2020-07-14 | 2024-06-21 | 理研計器株式会社 | イオン移動度分析装置およびイオン移動度分析方法 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016124900B4 (de) | 2016-12-20 | 2019-12-12 | Bruker Daltonik Gmbh | Schaltelement in Ionenmobilitätsspektrometern |
JP7102733B2 (ja) * | 2018-01-04 | 2022-07-20 | 株式会社リコー | イオン検出装置及び電界非対称波形イオン移動度分光分析システム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05242858A (ja) * | 1992-02-27 | 1993-09-21 | Hitachi Ltd | ガス分析装置 |
JP2005174619A (ja) * | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Hitachi Ltd | イオン移動度分光計及びイオン移動度分光法 |
US20140084155A1 (en) * | 2011-08-09 | 2014-03-27 | Dalian Institute Of Chemical Physics, Chenese Academy Of Sciences | Spatial focusing ion gate assembly and spatial focusing ion mobility spectrometer |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1146632A (en) * | 1979-10-01 | 1983-05-17 | John F. Wroten, Jr. | Apparatus for simultaneous detection of positive and negative ions in ion mobility spectrometry |
KR0156602B1 (ko) * | 1994-07-08 | 1998-12-01 | 황해웅 | 이온이동도 분석기 |
US6509562B1 (en) * | 1999-09-16 | 2003-01-21 | Rae Systems, Inc. | Selective photo-ionization detector using ion mobility spectrometry |
US7105808B2 (en) * | 2004-03-05 | 2006-09-12 | Massachusetts Institute Of Technology | Plasma ion mobility spectrometer |
US20070187591A1 (en) * | 2004-06-10 | 2007-08-16 | Leslie Bromberg | Plasma ion mobility spectrometer |
US7538320B2 (en) * | 2006-06-27 | 2009-05-26 | The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | Ion detection device and method with compressing ion-beam shutter |
GB0625479D0 (en) * | 2006-12-20 | 2007-01-31 | Smiths Group Plc | Detection apparatus |
GB0704547D0 (en) * | 2007-03-09 | 2007-04-18 | Smiths Detection Watford Ltd | Ion mobility spectrometers |
CN101937824B (zh) * | 2009-06-30 | 2012-06-27 | 同方威视技术股份有限公司 | 离子迁移谱仪及利用离子迁移谱仪的检测方法 |
JP6015623B2 (ja) * | 2013-10-21 | 2016-10-26 | 株式会社島津製作所 | イオン移動度分光計 |
-
2014
- 2014-06-16 NL NL2013000A patent/NL2013000B1/nl active
-
2015
- 2015-06-11 JP JP2016574008A patent/JP6605510B2/ja active Active
- 2015-06-11 WO PCT/NL2015/050427 patent/WO2015194943A1/en active Application Filing
- 2015-06-11 US US15/319,239 patent/US9772307B2/en active Active
- 2015-06-11 RU RU2016149817A patent/RU2687233C2/ru active
- 2015-06-11 PL PL15732988T patent/PL3155635T3/pl unknown
- 2015-06-11 CA CA2952412A patent/CA2952412C/en active Active
- 2015-06-11 AU AU2015278346A patent/AU2015278346B2/en not_active Ceased
- 2015-06-11 EP EP15732988.9A patent/EP3155635B1/en active Active
- 2015-06-11 CN CN201580040961.8A patent/CN106716122B/zh active Active
- 2015-06-11 ES ES15732988T patent/ES2748280T3/es active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05242858A (ja) * | 1992-02-27 | 1993-09-21 | Hitachi Ltd | ガス分析装置 |
JP2005174619A (ja) * | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Hitachi Ltd | イオン移動度分光計及びイオン移動度分光法 |
US20140084155A1 (en) * | 2011-08-09 | 2014-03-27 | Dalian Institute Of Chemical Physics, Chenese Academy Of Sciences | Spatial focusing ion gate assembly and spatial focusing ion mobility spectrometer |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7503949B2 (ja) | 2020-07-14 | 2024-06-21 | 理研計器株式会社 | イオン移動度分析装置およびイオン移動度分析方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6605510B2 (ja) | 2019-11-13 |
US20170138903A1 (en) | 2017-05-18 |
CA2952412C (en) | 2023-03-14 |
AU2015278346A1 (en) | 2017-01-12 |
WO2015194943A1 (en) | 2015-12-23 |
RU2016149817A3 (ja) | 2018-12-06 |
AU2015278346B2 (en) | 2020-09-17 |
CA2952412A1 (en) | 2015-12-23 |
RU2016149817A (ru) | 2018-07-16 |
EP3155635B1 (en) | 2019-07-31 |
RU2687233C2 (ru) | 2019-05-08 |
CN106716122B (zh) | 2019-06-18 |
NL2013000B1 (nl) | 2016-07-04 |
PL3155635T3 (pl) | 2019-12-31 |
CN106716122A (zh) | 2017-05-24 |
EP3155635A1 (en) | 2017-04-19 |
US9772307B2 (en) | 2017-09-26 |
ES2748280T3 (es) | 2020-03-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Kirk et al. | High-resolution high kinetic energy ion mobility spectrometer based on a low-discrimination tristate ion shutter | |
RU2687963C2 (ru) | Модификация ионов | |
JP6605510B2 (ja) | イオン移動度分光計用シャッタ | |
JP2009522750A (ja) | イオン選択装置および方法 | |
KR102220784B1 (ko) | 하전 물질 운반 챔버를 구비한 이온 이동도 분광 분석(ims) 디바이스 | |
JP2005302728A5 (ja) | ||
US9734998B2 (en) | AC gate ion filter method and apparatus | |
US20170248546A1 (en) | Duel mode ion mobility spectrometer | |
US20100200745A1 (en) | Ion gate method and apparatus | |
CN107923876A (zh) | 离子迁移率分析装置 | |
KR102608387B1 (ko) | 이온 셔터를 사용한 이온 분리, 특히 ims를 위한 장치 및 방법 | |
JPWO2015008371A1 (ja) | イオン移動度分離装置 | |
JP2016507127A5 (ja) | ||
JP2012212870A5 (ja) | ||
JP2015519717A5 (ja) | ||
JP5914657B2 (ja) | イオン移動度分離装置 | |
RU142744U1 (ru) | Электростатический фильтр для линейного сканирования распределенных в пространстве потоков заряженных частиц | |
CN111739784B (zh) | 离子迁移谱仪的离子源 | |
JP6330154B2 (ja) | 電界非対称性イオン移動度分光計、およびそれを用いた混合物分離方法 | |
US10365245B2 (en) | Gating element in ion mobility spectrometers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180424 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190122 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190123 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190416 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191001 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191016 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6605510 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |