JP2017504041A - 円形に配置された複数の縦型ホール素子のオフセット成分を減少させるための回路および方法 - Google Patents

円形に配置された複数の縦型ホール素子のオフセット成分を減少させるための回路および方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2017504041A
JP2017504041A JP2016563878A JP2016563878A JP2017504041A JP 2017504041 A JP2017504041 A JP 2017504041A JP 2016563878 A JP2016563878 A JP 2016563878A JP 2016563878 A JP2016563878 A JP 2016563878A JP 2017504041 A JP2017504041 A JP 2017504041A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vertical hall
contacts
hall elements
magnetic field
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016563878A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6513701B2 (ja
JP2017504041A5 (ja
Inventor
ロメロ,エルナン・デー
Original Assignee
アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー filed Critical アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー
Publication of JP2017504041A publication Critical patent/JP2017504041A/ja
Publication of JP2017504041A5 publication Critical patent/JP2017504041A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6513701B2 publication Critical patent/JP6513701B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0017Means for compensating offset magnetic fields or the magnetic flux to be measured; Means for generating calibration magnetic fields
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0023Electronic aspects, e.g. circuits for stimulation, evaluation, control; Treating the measured signals; calibration
    • G01R33/0029Treating the measured signals, e.g. removing offset or noise
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • G01R33/077Vertical Hall-effect devices

Abstract

2つ以上の縦型ホール素子が順序付けられて、順序付けられた出力信号を生成するとき、円形に配置された2つ以上の縦型ホール素子からの出力信号が、オフセット電圧を減少させる方法で組み合わされる。

Description

本発明は、一般に磁場センサに関し、より詳細にはオフセット成分を減少させるように組み合わされる複数の縦型ホール素子(vertical Hall element)を有する磁場センサに関する。
磁場検知素子は、様々な用途で使用することができる。1つの用途では、磁場検知素子は、磁場の方向、すなわち磁場の方向の角度を検出するために使用することができる。
平面ホール素子(planar Hall element)および縦型ホール素子は、既知のタイプの磁場検知素子である。平面ホール素子は、平面ホール素子がその上に形成された基板の表面に対して垂直な磁場に反応する傾向がある。縦型ホール素子は、縦型ホール素子がその上に形成された基板の表面に対して平行な磁場に反応する傾向がある。
他のタイプの磁場検知素子が知られている。たとえば、いわゆる「円形縦型ホール(circular vertical Hall)」(CVH)検知素子が既知であり、それは、複数の縦型ホール素子を含み、「Magnetic Field Sensor for Measuring Direction of a Magnetic Field in a Plane(平面上の磁場の方向を測定するための磁場センサ)」と題する2008年5月28日に出願され、PCT公開第WO2008/145662号として英語で公開されたPCT特許出願第PCT/EP2008/056517号で、述べられており、その出願およびその公開は、その全体が参照によって本明細書に援用される。CVH検知素子は、基板中の共通の円形の注入拡散領域の上に配置された円形配置の縦型ホール素子である。共通の注入拡散領域は、半導体隔離構造によって境界を画された、基板上の共通のエピタキシャル(epitaxial)領域(たとえば層)とすることができる。CVH検知素子は、基板の平面上で磁場の方向(すなわち角度)(および任意選択で強さ)を検知するために使用することができる。
様々なパラメータが、磁場検知素子および磁場検知素子を使用する磁場センサの性能を特徴付ける。これらのパラメータは、感度および線形性を含み、感度は、磁気検知素子が被る磁場の変化に応じた磁場検知素子の出力信号の変化であり、線形性は、磁場検知素子の出力信号が磁場に正比例して変化する度合いである。また、これらのパラメータは、オフセットを含み、それは、磁場検知素子がゼロ磁場を受けているときゼロ磁場であることを表さない磁場検知素子からの出力信号によって特徴付けられる。
上記に述べたCVH検知素子は、関連回路とともに、磁場の方向の角度を表す出力信号を供給するように動作可能である。したがって、以下で述べるように、磁石がいわゆる「対象物」、たとえばエンジン中のカムシャフト上に配置されている、または別の方法で結合されている場合、CVH検知素子は、対象物の回転の角度を表す出力信号を供給するために使用することができる。
CVH検知素子は、磁場の角度を表す出力信号を供給することができるほんの1素子、すなわち角度センサである。たとえば、角度センサは、複数の離れた縦型ホール素子または円形に配置された複数の磁気抵抗素子である。総称的に、磁場の角度と関連する出力信号を生成する磁場検知素子(複数可)は、本明細書では「角度検知素子」という。
さらなるパラメータによって角度検知素子(複数可)、たとえばCVH検知素子の性能を特徴付けることができる。1つのそのようなパラメータは、角度検知素子(複数可)によって生成される出力信号の角度の正確さである。角度の正確さは、すべての磁場指示角度で同じである平均角度エラーと、また異なる磁場角度において異なる角度エラー(すなわち非線形性エラー)とを有する可能性がある。別のパラメータは、角度検知素子(複数可)が磁場の角度を伝えることができる速度である。速度は、磁場の角度が迅速に変化している可能性がある用途にとって特に重要であることを理解されたい。
角度検知素子を特徴付けることができるいくつかのパラメータが、温度とともに変化する傾向があることが知られている。
高いレベルの角度の正確さおよび比較的速い速度を有する出力信号を供給するように角度検知素子からの出力信号を処理することができる回路および技法を提供することは、望ましいことになるはずである。
本発明は、高いレベルの角度の正確さおよび比較的速い速度を有する出力信号を供給するように角度検知素子からの出力信号を処理することができる回路および技法を提供する。
本発明の態様を理解するのに役立つ例によれば、磁場センサは、円形に配置され、基板上に配置された複数のコンタクトの中の対応する複数のセットのコンタクトとして形成された複数の縦型ホール素子を含む。複数の縦型ホール素子は、対応する複数の縦型ホール素子の出力信号を生成するように構成される。複数の縦型ホール素子のそれぞれが、外部磁場方向を有する外部磁場に反応する。縦型ホール素子の出力信号のそれぞれが、外部磁場に反応する個別の外部磁場成分および個別のオフセットエラー成分を含む。また、磁場センサは、複数の縦型ホール素子の出力信号を受信するように結合され、複数の縦型ホール素子の中から第1および第2の縦型ホール素子を選択するように構成されるシーケンススイッチ回路を含む。第1の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第1の選択されたセットのコンタクトを有し、第2の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第2の選択されたセットのコンタクトを有する。第1および第2の縦型ホール素子は、第1および第2の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成される。第1の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第1の外部磁場成分および第1のオフセット成分を有し、第2の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第2の外部磁場成分および第2のオフセット成分を有する。シーケンススイッチ回路は、さらに、第1および第2の磁場成分が強め合うように(constructively)加算されて強め合う信号を生成するように、第1および第2の縦型ホール素子の出力信号を組み合わせるように構成される。磁場センサは、電流信号を受信するように結合され、第1の1つまたは複数の電流信号を、第1の選択されたセットのコンタクトの第1の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するように構成される電流スイッチ回路をさらに含む。第1の1つまたは複数の電流信号は、第1の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出する。また、電流スイッチ回路は、第2の1つまたは複数の電流信号を、第2の選択されたセットのコンタクトの第2の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するように構成される。第2の1つまたは複数の電流信号は、第2の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出する。第1および第2の縦型ホール素子の第1および第2の選択された1つまたは複数のコンタクトは、第1および第2の異なる結合位相を個別に表す。シーケンススイッチ回路および電流スイッチ回路は、複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けるように構成され、強め合う順序付けられた信号を生成するために、第1および第2の縦型ホール素子を、複数の縦型ホール素子の異なるものとして順次に選択する。
いくつかの実施形態では、上記の磁場センサは、いずれかの組み合わせで次の態様の1つまたは複数を含むことができる。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、複数のコンタクトは、基板中の共通の注入拡散領域の上に配置されて、円形縦型ホール(CVH)検知素子を形成する。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、シーケンススイッチ回路は、さらに、複数の縦型ホール素子の中から第3および第4の縦型ホール素子を選択するように構成され、第3の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第3の選択されたセットのコンタクトを有し、第4の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第4の選択されたセットのコンタクトを有し、第3および第4の縦型ホール素子は、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、第3の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第3の外部磁場成分および第3のオフセット成分を有し、第4の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第4の外部磁場成分および第4のオフセット成分を有し、シーケンススイッチ回路は、さらに、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせるように構成されて、補償する信号を生成する。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、シーケンススイッチ回路は、第3および第4の外部磁場成分が弱め合うように(destructively)加算されるように、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせるように構成される。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、シーケンススイッチ回路は、第3および第4の外部磁場成分が強め合うように加算されるように、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせるように構成される。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、電流スイッチ回路は、さらに、第3の1つまたは複数の電流信号を、第3の選択されたセットのコンタクトの第3の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給し、第4の1つまたは複数の電流信号を、第4の選択されたセットのコンタクトの第4の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するように構成され、シーケンススイッチ回路および電流スイッチ回路は、複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けるように構成され、補償する順序付けられた信号を生成するために、第3および第4の縦型ホール素子を、複数の縦型ホール素子の異なるものとして順次に選択し、磁場センサは、シーケンススイッチ回路に結合され、強め合う順序付けられた信号を表す第1の信号と補償する順序付けられた信号を表す第2の信号を組み合わせるように構成されて組み合わされた順序付けられた信号を生成する組み合わせ回路をさらに含む。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第3の1つまたは複数の電流信号が、第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、第4の1つまたは複数の電流信号が、第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、第3および第4の縦型ホール素子の第3および第4の選択された1つまたは複数のコンタクトが、同じ結合位相を表す。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第3の1つまたは複数の電流信号が、第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、第4の1つまたは複数の電流信号が、第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出する。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第3の1つまたは複数の電流信号が、第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、第4の1つまたは複数の電流信号が、第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、第3および第4の縦型ホール素子の第3および第4の選択された1つまたは複数のコンタクトが、異なる結合位相を表す。
いくつかの実施形態では、上記の磁場センサは、シーケンススイッチ回路と組み合わせ回路の間に結合され、予め定めた位相調節を、強め合う順序付けられた信号または補償する順序付けられた信号の選択された1つに適用するように構成されて、第1の信号または第2の信号の単一の信号を生成する位相調節モジュールをさらに含む。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第1および第2の縦型ホール素子は、円のまわりで180度離れて配置される。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第3および第4の縦型ホール素子は、円のまわりで180度離れて配置され、第1および第2の縦型ホール素子の中心の間の線および第3および第4の縦型ホール素子の中心の間の線が、ほぼ90度離れている。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第1および第2の縦型ホール素子は、互いに直接隣接し、第3および第4の縦型ホール素子は、互いに直接隣接する。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第1および第4の縦型ホール素子は、円のまわりで180度離れて配置され、第2および第3の縦型ホール素子は、円のまわりで180度離れて配置される。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第1および第4の縦型ホール素子は、円のまわりで180度離れて配置され、第2および第3の縦型ホール素子は、円のまわりで180度離れて配置される。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、第1および第2の縦型ホール素子は、円のまわりで180度離れて配置される。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、シーケンススイッチ回路は、さらに、複数の縦型ホール素子の中から第3および第4の縦型ホール素子を選択するように構成され、第3の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第3の選択されたセットのコンタクトを有し、第4の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第4の選択されたセットのコンタクトを有し、第3および第4の縦型ホール素子は、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、第3の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第3の外部磁場成分および第3のオフセット成分を有し、第4の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第4の外部磁場成分および第4のオフセット成分を有し、シーケンススイッチ回路は、さらに、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせるように構成されて、補償する信号を生成する。
上記の磁場センサのいくつかの実施形態では、電流スイッチ回路は、さらに、第3の1つまたは複数の電流信号を、第3の選択されたセットのコンタクトの第3の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給し、第4の1つまたは複数の電流信号を、第4の選択されたセットのコンタクトの第4の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するように構成され、シーケンススイッチ回路および電流スイッチ回路は、複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けるように構成されて、補償する順序付けられた信号を生成するために、第3および第4の縦型ホール素子を、複数の縦型ホール素子の異なるものとして選択し、磁場センサは、シーケンススイッチ回路に結合され、強め合う順序付けられた信号を表す第1の信号と、補償する順序付けられた信号を表す第2の信号を組み合わせるように構成されて、組み合わされた順序付けられた信号を生成する組み合わせ回路をさらに含む。
いくつかの実施形態では、上記の磁場センサは、シーケンススイッチ回路と組み合わせ回路の間に結合され、予め定めた位相調節を、強め合う順序付けられた信号または補償する順序付けられた信号の選択された1つに適用するように構成されて、第1の信号または第2の信号の単一の信号を生成する位相調節モジュールをさらに含む。
本発明の別の態様を理解するために役立つ別の例によれば、方法が磁場センサにおいて使用される。磁場センサは、円のように配置され、基板上に配置された複数のコンタクトの中の対応する複数のセットのコンタクトとして形成された複数の縦型ホール素子を含む。複数の縦型ホール素子は、対応する複数の縦型ホール素子の出力信号を生成するように構成される。複数の縦型ホール素子のそれぞれが、外部磁場方向を有する外部磁場に反応する。縦型ホール素子の出力信号のそれぞれが、外部磁場に反応する個別の外部磁場成分および個別のオフセットエラー成分を有する。この方法は、複数の縦型ホール素子の中から第1および第2の縦型ホール素子を選択するステップを含む。第1の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第1の選択されたセットのコンタクトを有し、第2の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第2の選択されたセットのコンタクトを有する。第1および第2の縦型ホール素子は、第1および第2の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成される。第1の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第1の外部磁場成分および第1のオフセット成分を有し、第2の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第2の外部磁場成分および第2のオフセット成分を有する。また、方法は、第1および第2の磁場成分が強め合うように加算されて、強め合う信号を生成するように、第1および第2の縦型ホール素子の出力信号を組み合わせるステップを含む。また、方法は、第1の1つまたは複数の電流信号を、第1の選択されたセットのコンタクトの第1の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップを含む。第1の1つまたは複数の電流信号が、第1の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出する。また、方法は、第2の1つまたは複数の電流信号を、第2の選択されたセットのコンタクトの第2の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップを含む。第2の1つまたは複数の電流信号が、第2の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出する。第1および第2の縦型ホール素子の第1および第2の1つまたは複数のコンタクトが、第1および第2の異なる結合位相を個別に表す。また、方法は、複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けて、強め合う順序付けられた信号を生成するために、第1および第2の縦型ホール素子を、複数の縦型ホール素子の異なるものとして選択するステップを含む。
いくつかの実施形態では、上記の方法は、次の態様の1つまたは複数をいずれかの組み合わせで含む。
上記の方法のいくつかの実施形態では、複数のコンタクトは、基板中の共通の注入拡散領域の上に配置されて、円形縦型ホール(CVH)検知素子を形成する。
いくつかの実施形態では、上記の方法は、
複数の縦型ホール素子の中から第3および第4の縦型ホール素子を選択するステップであって、
第3の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第3の選択されたセットのコンタクトを有し、第4の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第4の選択されたセットのコンタクトを有し、
第3および第4の縦型ホール素子は、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、
第3の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第3の外部磁場成分および第3のオフセット成分を有し、
第4の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第4の外部磁場成分および第4のオフセット成分を有する、ステップと、
第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせて、補償する信号を生成するステップとをさらに含む。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を組み合わせると、第3および第4の外部磁場成分が弱め合うように加算されることになる。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を組み合わせると、第3および第4の外部磁場成分が強め合うように加算されることになる。
いくつかの実施形態では、上記の方法は、
第3の1つまたは複数の電流信号を、第3の選択されたセットのコンタクトの第3の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップと、
第4の1つまたは複数の電流信号を、第4の選択されたセットのコンタクトの第4の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップと、
複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けて、補償する順序付けられた信号を生成するために、第3および第4の縦型ホール素子を、複数の縦型ホール素子の異なるものとして選択するステップと、
強め合う順序付けられた信号を表す第1の信号と補償する順序付けられた信号を表す第2の信号を組み合わせるステップとをさらに含む。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第3の1つまたは複数の電流信号が、第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、第4の1つまたは複数の電流信号が、第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、第3および第4の縦型ホール素子の第3および第4の選択された1つまたは複数のコンタクトは、同じ結合位相を表す。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第3の1つまたは複数の電流信号が、第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、第4の1つまたは複数の電流信号が、第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出する。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第3の1つまたは複数の電流信号が、第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、第4の1つまたは複数の電流信号が、第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、第3および第4の縦型ホール素子の第3および第4の選択された1つまたは複数のコンタクトは、異なる結合位相を表す。
いくつかの実施形態では、上記の方法は、
予め定めた位相調節を、強め合う順序付けられた信号または補償する順序付けられた信号の選択された1つに適用して、第1の信号または第2の信号の単一の信号を生成するステップをさらに含む。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第1および第2の縦型ホール素子は、円のまわりに180度離れて配置される。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第3および第4の縦型ホール素子は、円のまわりに180度離れて配置され、第1および第2の縦型ホール素子の中心の間の線と第3および第4の縦型ホール素子の中心の間の線とが、ほぼ90度離れている。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第1および第2の縦型ホール素子は、互いに直接隣接し、第3および第4の縦型ホール素子は、互いに直接隣接している。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第1および第4の縦型ホール素子は、円のまわりに180度離れて配置され、第2および第3の縦型ホール素子は、円のまわりに180度離れて配置される。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第1および第4の縦型ホール素子は、円のまわりに180度離れて配置され、第2および第3の縦型ホール素子は、円のまわりに180度離れて配置される。
上記の方法のいくつかの実施形態では、第1および第2の縦型ホール素子は、円のまわりに180度離れて配置される。
いくつかの実施形態では、上記の方法は、
複数の縦型ホール素子の中から第3および第4の縦型ホール素子を選択するステップであって、
第3の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第3の選択されたセットのコンタクトを有し、第4の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第4の選択されたセットのコンタクトを有し、
第3および第4の縦型ホール素子は、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、
第3の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第3の外部磁場成分および第3のオフセット成分を有し、
第4の縦型ホール素子の出力信号は、外部磁場に反応する第4の外部磁場成分および第4のオフセット成分を有する、ステップと、
第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせて、補償する信号を生成するステップとをさらに含む。
いくつかの実施形態では、上記の方法は、
第3の1つまたは複数の電流信号を、第3の選択されたセットのコンタクトの第3の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップと、
第4の1つまたは複数の電流信号を、第4の選択されたセットのコンタクトの第4の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップと、
複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けて、補償する順序付けられた信号を生成するために、第3および第4の縦型ホール素子を、複数の縦型ホール素子の異なるものとして選択するステップと、
強め合う順序付けられた信号を表す第1の信号と補償する順序付けられた信号を表す第2の信号を組み合わせるステップとをさらに含む。
いくつかの実施形態では、上記の方法は、
予め定めた位相調節を、強め合う順序付けられた信号または補償する順序付けられた信号の選択された1つに適用して、第1の信号または第2の信号の単一の信号を生成するステップをさらに含む。
本発明の先の特徴、さらにまた本発明自体は、次の図面のより詳細な記述からより完全に理解することができる。
図1は、基板上の共通の注入領域の上に円形で配置された複数の縦型ホール素子と、円形縦型ホール(CVH)検知素子に近接して配置された2極磁石とを有するCVH検知素子を示す絵図である。図1Aは、複数の磁場検知素子を示す絵図である。 図1のCVH検知素子によって、または図1Aの複数の磁場検知素子によって生成することができるような出力信号を示すグラフである。 CVH検知素子を有する例示の磁場センサのブロック図である。 各位相が図3のCVH検知素子の縦型ホール素子の1つの動作と関連する、4つの電流回転位相で結合されたときの、図3のCVH検知素子の縦型ホール素子を示すブロック図である。 各位相が図3のCVH検知素子の縦型ホール素子の1つの動作と関連する、4つの電流回転位相で結合されたときの、図3のCVH検知素子の縦型ホール素子を示すブロック図である。 各位相が図3のCVH検知素子の縦型ホール素子の1つの動作と関連する、4つの電流回転位相で結合されたときの、図3のCVH検知素子の縦型ホール素子を示すブロック図である。 各位相が図3のCVH検知素子の縦型ホール素子の1つの動作と関連する、4つの電流回転位相で結合されたときの、図3のCVH検知素子の縦型ホール素子を示すブロック図である。 図3の磁場センサの理想的および非理想的な動作を示すグラフである。 円形に配置された2つの縦型ホール素子の例示の結合を示すブロック図である。 図6の2つの縦型ホール素子の電気的特性を示すグラフである。 円形に配置された4つの縦型ホール素子の例示の結合を示すブロック図である。 図8の4つの縦型ホール素子の電気的特性を示すグラフである。 円形に配置された4つの縦型ホール素子の別の例示の結合を示すブロック図である。 第1の位相構成で結合された縦型ホール素子の5つのコンタクトを示し、そのコンタクトの間の抵抗を示すブロック図である。 第2の異なる位相構成で結合された縦型ホール素子の5つのコンタクトを示し、そのコンタクトの間の抵抗を示す別のブロック図である。 図6の配置で結合されたときの、図11および12の縦型ホール素子の等価回路を示す電気回路図である。 図8の一部によって表された配置でともに結合されたときの、図12の縦型ホール素子の等価回路を示す電気回路図である。 円形に配置された4つの縦型ホール素子の別の例示の結合を示すブロック図である。 円形に配置された4つの縦型ホール素子のまた別の例示の結合を示すブロック図である。 図15または16の結合配置によって使用することができる磁場センサのブロック図である。
本明細書で使用するとき、用語「磁場検知素子(magnetic field sensing element)」は、磁場を検知することができる様々な電子的要素を述べるために使用される。磁場検知素子は、ただしこれらに限定されないが、ホール効果素子、磁気抵抗素子または磁気トランジスタとすることができる。知られているように、異なるタイプのホール効果素子、たとえば平面ホール素子、縦型ホール素子および円形縦型ホール(CVH)素子が存在する。また知られているように、異なるタイプの磁気抵抗素子、たとえばアンチモン化インジウム(InSb)、巨大磁気抵抗(GMR)素子などの半導体磁気抵抗素子、たとえばスピンバルブ、異方性磁気抵抗素子(AMR)、トンネル磁気抵抗(TMR)素子および磁気トンネル接合(MTJ)が存在する。磁場検知素子は、単一素子とすることができる、またはあるいは、様々な構成で、たとえばハーフブリッジまたはフル(ホイートストン)ブリッジで配置された2つ以上の磁場検知素子を含むことができる。デバイスタイプおよび他の用途の要件に応じて、磁場検知素子は、シリコン(Si)またはゲルマニウム(Ge)などのタイプIV半導体材料、またはガリウムヒ素(GaAs)またはインジウム化合物、たとえばアンチモン化インジウム(InSb)のようなタイプIII−V半導体材料から作られるデバイスとすることができる。
知られているように、上記に述べた磁場検知素子のいくつかは、磁場検知素子を支持する基板に対して平行な軸が最大感度を有する傾向があり、上記に述べた磁場検知素子の他は、磁場検知素子を支持する基板に対して垂直な軸が最大感度を有する傾向がある。具体的には、平面ホール素子は、基板に対して垂直な軸が感度を有する傾向があり、一方金属ベースの、または金属を含む磁気抵抗素子(たとえばGMR、TMR、AMR)および縦型ホール素子は、基板に対して平行な軸が感度を有する傾向がある。
本明細書で使用するとき、用語「磁場センサ(magnetic field sensor)」は、一般に他の回路と組み合わせて磁場検知素子を使用する回路を記述するために使用される。磁場センサは、様々な用途で使用され、ただしこれらに限定されないが、磁場の方向の角度を検知する角度センサ、通電導体を流れる電流によって生成された磁場を検知する電流センサ、強磁性体の近接を検知する磁気スイッチ、通過する強磁性品物、たとえばリング磁石または強磁性対象物(たとえばギアの歯)の磁気領域を検知する回転検出器を含み、磁場センサは、逆バイアスされた、または他の磁石および磁場の磁場密度を検知する磁場センサとの組み合わせで使用される。
本明細書で使用するとき、用語「プロセッサ(processor)」は、機能、動作または一連の動作を果たす電子回路を記述するために使用される。機能、動作または一連の動作は、電子回路中にハード的にコード化することができる、またはメモリ装置中に保持される命令の形でソフト的にコード化することができる。「プロセッサ」は、デジタル値を使用して、またはアナログ信号を使用して、機能、動作または一連の動作を果たすことができる。
いくつかの実施形態では、「プロセッサ」は、特定用途向け集積回路(ASIC)で具体化することができ、それは、アナログASICまたはデジタルASICとすることができる。いくつかの実施形態では、「プロセッサ」は、付随するプログラムメモリとともにマイクロプロセッサで具体化することができる。いくつかの実施形態では、「プロセッサ」は、ディスクリート電子回路で具体化することができ、それは、アナログまたはデジタルとすることができる。
本明細書で使用するとき、用語「モジュール(module)」は、「プロセッサ」を記述するために使用される。
プロセッサは、内部プロセッサまたは内部モジュールを含むことができ、それは、プロセッサの機能、動作または一連の動作の一部を果たす。同様に、モジュールは、内部プロセッサまたは内部モジュールを含むことができ、それは、モジュールの機能、動作または一連の動作の一部を果たす。
図1を参照すると、円形縦型ホール(CVH)素子12は、基板(図示せず)中に円形注入拡散領域18を含む。CVH検知素子12は、複数の縦型ホール素子を有し、その縦型ホール素子12aは、ただの一例である。いくつかの実施形態では、共通の注入拡散領域18は、基板上の、半導体隔離構造によって境界を画された共通のエピタキシャル領域として特徴付けることができる。
各縦型ホール素子は、複数のホール素子のコンタクト(たとえば、4または5つのコンタクト)、たとえば12aaを有する。各縦型ホール素子のコンタクトは、共通の注入拡散領域18中に拡散された、コンタクト拡散領域(ピックアップ)の上の金属コンタクトから成ることができる。
CVH検知素子12内の特定の縦型ホール素子(たとえば12a)は、たとえば5つの隣接コンタクトを有することができ、5つのコンタクトの中のいくつか、たとえば4つを次の縦型ホール素子(たとえば、12b)と共有することができる。それゆえ、次の縦型ホール素子は、前の縦型ホール素子から1つのコンタクトだけずらすことができる。1つのコンタクトだけ、そのようにずらすために、縦型ホール素子の数が縦型ホール素子のコンタクトの数、たとえば、32または64と等しいことを理解されたい。しかし、また、次の縦型ホール素子は、前の縦型ホール素子から2以上のコンタクトだけずらすことができ、その場合、縦型ホール素子は、CVH検知素子中の縦型ホール素子のコンタクトより数が小さいことを理解されたい。
示すように、縦型ホール素子0の中心は、x軸20に沿って位置付けることができ、縦型ホール素子8の中心は、y軸22に沿って位置付けることができる。例示のCVH検知素子12では、32個の縦型ホール素子および32個の縦型ホール素子のコンタクトが存在する。しかし、CVHは、32個より多い、またはそれより少ない縦型ホール素子、および32個より多い、またはそれより少ない縦型ホール素子のコンタクトを有することができる。
いくつかの用途では、N極14bおよびS極14aを有する円形磁石14をCVH12の上に配置することができる。円形磁石14は、ここではx軸20に対して約45度の方向を指示するように示す、N極14bからS極14aへの方向の磁場16を生成する傾向がある。
いくつかの用途では、円形磁石14は、回転対象物、たとえば自動車のカムシャフトの自動車のステアリングシャフトに機械的に結合され、CVH検知素子12に相対的な回転に晒される。この配置の場合、CVH検知素子12は、以下で述べる電子回路との組み合わせで、磁石14の回転の角度、すなわち磁石が結合された対象物の回転の角度に関する信号を生成することができる。
ここで図1Aを参照すると、複数の磁場検知素子30a〜30hは、一般の場合、いずれかのタイプの磁場検知素子とすることができる。磁場検知素子30a〜30hは、たとえば離れた縦型ホール素子または離れた磁気抵抗素子とすることができ、それぞれが基板34の表面に対して平行な軸が最大反応を示す。これらの磁場検知素子は、図3および6と併せて以下で述べる電子回路と同じ、または同様の電子回路に結合することができる。また、磁場検知素子30a〜30hに最も近く配置された図1の磁石14と同じ、または同様の磁石が存在することができる。
ここで図2を参照すると、グラフ200は、スケールの単位が、CVH検知素子、たとえば図1のCVH検知素子12のまわりのCVH縦型ホール素子の位置、nである水平軸を有する。また、グラフ200は、振幅のスケールの単位がミリボルトである垂直軸を有する。垂直軸は、複数の縦型ホール素子からの、CVH検知素子のコンタクトのリングのまわりで一度に1つ順次に取られるCVH検知素子の出力信号のレベルを表す。
グラフ200は、複数の縦型ホール素子からの、図1の磁場が45度の方向を指示する状態で取られるCVHの出力信号のレベルを表す信号202を含む。
簡単に図1を参照すると、上記に述べたように、縦型ホール素子0は、x軸20に沿って中心を置き、縦型ホール素子8は、y軸22に沿って中心を置く。例示のCVH検知素子12では、32個の縦型ホール素子のコンタクトおよびそれに対応する32個の縦型ホール素子が存在し、各縦型ホール素子が、複数の縦型ホール素子のコンタクト、たとえば、5つのコンタクトを有する。他の実施形態では、64個の縦型ホール素子のコンタクトおよびそれに対応する64個の縦型ホール素子が存在する。
図2では、正の45度を指示する磁場16について、最大正信号が、位置4に中心を置く縦型ホール素子から得られ、それは、図1の磁場16と一直線になり、したがって位置4にある縦型ホール素子の縦型ホール素子のコンタクト(たとえば5つのコンタクト)の間に引かれた線が、磁場に対して垂直である。最大負信号が、位置20に中心を置く縦型ホール素子から得られ、それは、また、図1の磁場16と一直線になり、したがって位置20にある縦型ホール素子の縦型ホール素子のコンタクト(たとえば5つのコンタクト)の間に引かれた線が、磁場に対して垂直である。
信号202の理想的な動きをよりはっきりと示すために、正弦波204が提示されている。信号202は、縦型ホール素子のオフセットのために変動を示し、それは、出力信号の対応する変動を引き起こす傾向があり、その変動のために、出力信号は、素子ごとのオフセットエラーによって正弦波204に対して高すぎる、または低すぎることになる。オフセット信号エラーは、不要である。
図1のCVH検知素子12の全動作および図2の信号202の生成は、上記に述べた、「Magnetic Field Sensor for Measuring Direction of a Magnetic Field in a Plane(平面上の磁場の方向を測定するための磁場センサ)」と題する、2008年5月28日出願のPCT特許出願第PCT/EP2008/056517号により詳細に述べられており、それは、PCT公開第WO2008/145662号として英語で公開されている。
各縦型ホール素子のコンタクトのグループを、各縦型ホール素子からチョッピングされた出力信号を生成するために、チョッピング配置(chopped arrangement)(また本明細書で電流回転(current spinning)という)で使用することができる。その後、隣接する縦型ホール素子のコンタクトの新しいグループ(すなわち新しい縦型ホール素子)を選択することができ、それは、前のグループから1つの素子だけずらすことができる。新しいグループは、次のグループから別のチョッピングされた出力信号を生成するために、チョッピング配置で使用することができる、等々である。
信号202の各段は、チョッピングされていない出力信号、すなわち縦型ホール素子のコンタクトの1つの個別のグループからの、すなわち1つの個別の縦型ホール素子からの出力信号を表す。それゆえ、順次に取られる32個の縦型ホール素子を有するCVH検知素子には、電流回転が使用されないとき、信号202中に32個の段が存在する。しかし、電流回転が使用される実施形態には、信号202の各段は、いくつかの部分的な段(図示せず、たとえば、4つの部分的な段)から構成することができ、各部分的な段は、電流回転「位相(phase)」を示す。
電流回転および電流回転位相は、図4〜4Dと併せて以下でより十分に述べる。
信号202の位相は、CVH検知素子12の位置ゼロに対する図1の磁場16の角度に関連することを理解されたい。また、信号202のピーク振幅が、一般に、磁場16の強さを表すことを理解されたい。PCT特許出願第PCT/EP2008/056517号中で上記に述べた電子回路技法を使用すると、または以下で述べる他の技法を使用すると、信号202の位相(たとえば信号204の位相)は、見つけ出すことができ、CVH検知素子12に対する図1の磁場16の指示方向を識別するために使用することができる。
ここで、図3を参照すると、磁場センサ300は、複数の縦型ホール素子を有するCVH検知素子302を含み、各縦型ホール素子が、縦型ホール素子のコンタクトのグループ(たとえば5つの縦型ホール素子のコンタクト)から成る。いくつかの実施形態では、CVH検知素子302は、図1と併せて上記に述べたCVH検知素子12と同じ、または同様とすることができ、対象物322に結合された2極磁石320に最も近く配置することができ、その磁石320は、図1の磁石14と同じ、または同様とすることができる。しかし、いくつかの実施形態では、CVH検知素子302は、図1Aと併せて上記に述べたそれらと同じ、または同様の磁場検知素子のグループと置き換えることができる。
磁場センサ300は、電流信号306a〜306dをCVH検知素子302に供給するために、電流スイッチ回路306を含むことができる。4つの電流信号306a〜306dを示しているが、他の実施形態では、電流信号は、4つより多く、またはそれより少なく存在することができる。基本的に、電流スイッチ回路306は、CVH検知素子302内の縦型ホール素子のいずれか、またはすべてにアクセスし、いずれかの組み合わせで電流を供給することができる。
また、磁場センサ300は、シーケンススイッチ回路304を含むことができる。シーケンススイッチ回路304は、CVH検知素子302から信号302aを受信するように結合される。いくつかの実施形態では、信号302aは、CVH検知および302内のすべての縦型ホール素子への信号結合経路を表す。
図1と併せた上記の議論から、動作の際、シーケンススイッチ回路304および電流スイッチ回路306は、CVH検知素子302のまわりで順次切り替えるように構成することができて、電流信号306a〜306dを、CVH検知素子302内の縦型ホール素子の異なる順番のものに供給し、CVH検知素子302から信号302aの異なる順番のものを受信することが正しく認識されるはずである。いくつかの実施形態では、順序付けは、CVH検知素子302内の縦型ホール素子の各選択された1つまたは複数のための電流回転を含むことができる。電流回転は、図4〜4Cと併せて以下でより十分に述べる。
シーケンススイッチ回路304から、ここでは2つの差動信号304a、304bとして示す、1つまたは複数の差動出力信号が供給される。両方の差動信号304a、304bは、図2の信号202と同様のサンプリングされたアナログ信号とすることができることを理解されたい。
位相調節モジュール307は、どちらかの信号経路に結合することができるが、しかし、ここでは、差動信号304bを受信し、位相が調節された差動信号307aを供給するように示す。位相調節は、図9と併せて以下でより十分に述べる。差動増幅器308を、差動信号304aおよび位相が調節された差動信号307aを受信するように結合し、増幅された信号308aを生成するように構成することができる。
帯域フィルタ310を、増幅された信号308aを受信するように結合し、フィルタリングされた信号300aを生成するように構成する。フィルタリングされた信号310aは、図2の信号204と同様な正弦曲線とすることができることを理解されたい。
アナログデジタル変換器(ADC)312を、フィルタリングされた信号310aを受信するように結合し、デジタルの変換された信号312aを生成するように構成することができる。角度計算モジュール314を、変換されたデジタル信号312aを受信するように結合し、xy角度信号314aを生成するように構成する。磁石320が回転するにつれて、xy角度信号314aの値が、CVH検知素子302の平面中の磁石320によって生成された磁場の角度に従って変化する。
また、角度計算モジュール314は、発振器およびロジックモジュール316からクロック信号316c、316dを受信するように結合される。クロック信号316c、316dは、変換されたデジタル信号312aの位相、すなわちフィルタリングされた信号310aの位相を識別するために、角度計算モジュール314によって基準として使用される。たとえば、クロック信号316c、316dの1つは、フィルタリングされた信号310aの周波数、すなわち図2の信号204の周波数と周波数が同じクロック信号とすることができる。動作の際、クロック信号および変換された信号312aの位相は、比較することができて、xy角度信号314aを生成し、それは、磁石320によって生成された磁場の角度を示す。
また、発振器およびロジックモジュール360は、クロック制御信号316a、316bを、シーケンススイッチ回路304に、電流スイッチ回路306に個別に供給することができる。クロック316a、316bによって、シーケンススイッチ回路304および電流スイッチ回路306が、チョッピングまたは電流回転の有無にかかわらず、CVH検知素子302のまわりを1段ごとに進んで、CVH検知素子302内の縦型ホール素子の順次に選択された異なるものがもたらされる。
図3に示していないが、CVH検知素子302内の縦型ホール素子の若干のものは、図6〜16と併せて以下でより十分に述べる方法でシーケンススイッチ回路304によって組み合わせることができる。
図4〜4Cは、5つのコンタクトを有する縦型ホール素子のために使用することができる4つの位相の電流回転またはチョッピングを表す。それゆえ、そのような電流回転は、図1のCVH検知素子12および図3のCVH検知素子302内の各選択された縦型ホール素子のために使用することができることを正しく認識すべきである。また、そのような電流回転も、離れた磁場検知素子、たとえば図1Aの磁場検知素子30a〜30hのために使用することができ、磁場検知素子30a〜30hは、その時の選択されたチョッピングされたものであることを正しく認識すべきである。
本明細書に述べる実施形態のすべてが5つのコンタクトを備える縦型ホール素子を使用しているが、他の実施形態では、縦型ホール素子は、任意の奇数のコンタクトを有する。本明細書で使用するとき、用語「中央コンタクト(central contact)」は、奇数のコンタクトの中央のコンタクトをいう。
図4〜4Aの電流駆動ノードおよび信号の記号の配向は、縦型ホール素子のリングの外側から、たとえばCVH検知素子の外側から見る透視図法から示されている。0、90、180および270度の位相に関して以下で述べる命名法は、いささか恣意的であることを理解されたい。これらの命名法は、平面ホール効果素子について使用される同様の命名法の使用に由来し、電流回転のシーケンスの間、電流は、物理的に90度離れているノード中に順次に注入される。縦型ホール素子に関して、90度離れているというそのような物理的角度が存在しない。そうは言うものの、図4、4A、4Bおよび4Cは、本明細書では0、90、180、270度の位相として個別に参照される。
ここで図4を参照すると、図3のCVH検知素子102の縦型ホール素子400が、5つの縦型ホール素子のコンタクト、すなわち第1、第2、第3、第4および第5の縦型ホール素子のコンタクト402a、402b、402c、402d、402eから個別に成る。第1のチョッピングまたは電流回転の位相(ゼロ度位相)では、電流源408は、図3の電流源305と同じ、または同様とすることができ、第1および第5の縦型ホール素子のコンタクト402a、402eに個別に結合することができ、それらは、ともに結合され、第1の縦型ホール素子のコンタクト402aに流れるIの全電流、電流の半分I/2を供給し、第5の縦型ホール素子のコンタクト402eに流れる電流の半分I/2を供給することができる。第3の縦型ホール素子のコンタクト402cは、電圧基準410、たとえばグラウンドに結合される。電流源408からの電流は、破線によって示すように、第1および第5の縦型ホール素子のコンタクト402a、402eから個別にCVH検知素子400の基板406を通じて(たとえば基板上のエピタキシャル層を通じて)第3の縦型ホール素子のコンタクト402cに流れる。
外部磁場に反応する信号、Vmが、第2および第4の縦型ホール素子のコンタクト402b、402dの間に個別に生じる。それゆえ、第1の電流回転位相では、図3の電流回転回路306が、第2および第4の縦型ホール素子のコンタクト402b、402dを選択することができて、出力信号105aを供給し、そして第1、第5および第3の縦型ホール素子のコンタクト402a、402e、402cを個別に、図3の電流源305に結合されるそれらのコンタクトとして選択することができる。以下で述べる他の電流回転位相の間の結合は、明らかなはずである。
ここで図4Aを参照すると、図4の同様の要素が、同様の参照記号表示を有して、CVH検知素子102の同じ縦型ホール素子400(同じ5つの縦型ホール素子のコンタクト)の第2の電流回転位相(180度位相)で示されており、結合が、図3の電流スイッチ回路306によって変えられている。第2の位相では、電流源408は、第3の縦型ホール素子のコンタクト402cに結合され、第1および第5の縦型ホール素子のコンタクト402a、402eは、ともに、そして基準電圧410に個別に結合される。それゆえ、電流は、基板406を通じて図4に示すそれらから反対方向に流れる。
図4でのように、外部磁場に反応する信号、Vmは、第2および第4の縦型ホール素子のコンタクト402b、402dの間に個別に生じる。図4Aの信号Vmは、図4の信号Vmと同様である。しかし、信号内のオフセット電圧が、異なり得る、たとえば符号が異なる、および振幅がいくらか異なり得る。
ここで図4Bを参照すると、図4および4Aの同様の要素が、同様の参照記号表示を有して、CVH検知素子102の同じ縦型ホール素子400(同じ5つの縦型ホール素子コンタクト)に対する第3の電流回転位相(90度位相)で示されており、結合がやはり電流スイッチ回路306によって変えられている。第3の位相では、電流源408は、第2の縦型ホール素子のコンタクト402bに結合され、第4の縦型ホール素子のコンタクト402dは、基準電圧410に結合される。それゆえ、電流は、第2の縦型ホール素子のコンタクト402bから基板406を通じて第4の縦型ホール素子のコンタクト402dに流れる。
第1および第5の縦型ホール素子のコンタクト402a、402eは、個別に、ともに結合される。また、いくらか電流が、第2の縦型ホール素子のコンタクト402bから基板406を通じて第1の縦型ホール素子のコンタクト402aに流れ、相互結合を通じて第5の縦型ホール素子のコンタクト402eに流れる。また、いくらか電流が、第5の縦型ホール素子のコンタクト402eから基板406を通じて第4の縦型ホール素子のコンタクト402dに流れる。
外部磁場に反応する信号Vmが、まず第1の縦型ホール素子のコンタクト402a(および第5の縦型ホール素子のコンタクト402e)と第3の縦型ホール素子のコンタクト402cの間に生じる。図4Bの信号Vmは、図4および4Aの信号Vmと同様である。しかし、信号内のオフセット電圧が、異なり得る、たとえば符号が異なる、および振幅がいくらか異なり得る。
ここで図4Cを参照すると、図4〜4Bの同様の要素が、同様の参照記号表示を有して、CVH検知素子102の同じ縦型ホール素子400(同じ5つの縦型ホール素子のコンタクト)に対して第4の電流回転位相(270度位相)で示されており、結合が、やはり電流スイッチ回路306によって変えられている。第4の位相では、電流は、図4Bで示すそれから反転されている。電流源408は、第4の縦型ホール素子のコンタクト402dに結合され、第2の縦型ホール素子のコンタクト402bは、基準電圧410に結合される。それゆえ、電流は、第4の縦型ホール素子のコンタクト402dから基板406を通じて第2の縦型ホール素子のコンタクト402bに流れる。
第1および第5の縦型ホール素子のコンタクト402a、402eは、個別に、ともに結合される。また、いくらかの電流が、第4の縦型ホール素子のコンタクト402dから基板406を通じて第5の縦型ホール素子のコンタクト402eに流れ、相互結合を通じて第1の縦型ホール素子のコンタクト402aに流れる。また、いくらかの電流が、第1の縦型ホール素子のコンタクト402aから基板406を通じて第2の縦型ホール素子のコンタクト402bに流れる。
外部磁場に反応する信号Vmが、第1の縦型ホール素子のコンタクト402a(および第5の縦型ホール素子のコンタクト402e)と第3の縦型ホール素子のコンタクト402cの間に生じる。図4Cの信号Vmは、図4〜4Bの信号、Vmと同様である。しかし、信号内のオフセット電圧が、異なり得る、たとえば符号が異なる、および振幅がいくらか異なり得る。
図4〜4Cの4つの位相のチョッピングによって供給される信号Vmは、外部磁場に反応する。
上記に述べたように、図3のシーケンススイッチ回路304の順序付け動作によってCVH検知素子302内のいずれか1つの縦型ホール素子に対して4つの電流回転位相を生成した後、図4〜4Cの電流回転配置は、次の縦型ホール素子、たとえば図4〜4Cに示すそれらから1つの(またはそれより多くの)縦型ホール素子のコンタクトだけずらされた5つの縦型ホール素子のコンタクトに移ることができ、4つの電流回転位相は、図3の電流スイッチ回路306およびシーケンススイッチ回路304の動作によって新しい縦型ホール素子に対して実施することができる。
電流回転位相のシーケンスは、電流回転動作の間、任意の順序とすることができることを理解されたい。
ここで図5を参照すると、グラフ500は、水平軸のスケールの単位が角度であり、垂直軸のスケールの値の単位がxy角度値の大きさ、たとえば図3のxy角度値314aの大きさである。
線502は、角度エラーがないxy角度値を表す。xy角度値に角度エラーがないとき、xy角度値は、実際の角度に対して完全に線形になる、すなわち、xy角度値は、図3の磁石320によって生成された磁場の角度を完全に真に表し、線502は、ゼロを通る。
線504は、平均またはDC角度エラーのみがあるxy角度値を表し、したがってxy角度値によって表されるすべての角度は、一定の度数だけずれている。線504は、ゼロを通らない。
曲線506は、磁石320によって生成された磁場の真の角度を表す際にエラー、すなわち平均またはDCエラーおよび正弦曲線の様子を示すエラーも含むxy角度値を表す。
曲線508は、磁石320によって生成された磁場の真の角度を表す際に他のエラーを含むxy角度値を表す。
磁場センサ300の様々な回路特性は、エラー、すなわち曲線506、508によって表されるDC(または平均)角度エラーと曲線506、508の正弦曲線形状との両方の一因になる。エラーの原因になる1つの要因は、図3のシーケンススイッチ回路304によって、および/または電流スイッチ回路306によって生成されたスイッチングノイズである。別の要因は、CVH検知素子302内の縦型ホール素子の間でオフセット電圧が異なる、たとえば図2の信号202と併せて上記に述べたオフセット電圧が異なることである。別の要因は、様々な縦型ホール素子の感度が異なることである。
まず、シーケンススイッチ回路304に関し、シーケンススイッチ回路304によって生成された電荷注入またはスイッチングスパイク(ともにノイズという)は、各縦型ホール素子がCVH検知素子302から順次に選択されたとき、必ずしも厳密に同じでないことを理解されたい。シーケンススイッチ回路304によって生成されたノイズは、各縦型ホール素子が選択されたときと同じでないとき、DC(または平均)角度エラーが生成し、また曲線506、508によって表されるようなものなど、正弦曲線タイプのエラーが生成する。正弦曲線エラーの特性は、部分的に、シーケンススイッチがCVH検知素子302のまわりでサイクルごとに繰り返されることによって生成されるノイズの結果であり得、それゆえノイズは、図2の信号202の周波数における角度エラーの周波数成分を有することになり、信号502(図3の304a)に加わることになる。角度エラーの周波数成分は、信号304a、304bに対する位相が基本的に一定であり、したがって角度エラーが加わると、信号304a、304bの位相に応じて、加算された信号中に様々な位相シフトエラーが引き起こされる。より高い高調波もノイズから生じ得る。
次に、電流スイッチ回路306に関し、電流スイッチ回路306によって生成された電荷注入またはスイッチングスパイク(ともにノイズという)は、各縦型ホール素子がCVH検知素子302中で順次に選択されたとき、必ずしも厳密に同じでないことを理解されたい。電流スイッチ回路306によって生成されたノイズは、各縦型ホール素子が選択されたときと同じでないとき、DC(または平均)角度エラーが生成し、また曲線506、508によって表されるものなどの正弦曲線タイプのエラーも生成する。正弦曲線エラー特性は、電流スイッチ回路306がCVH検知素子のまわりでサイクルごとに繰り返されることによって生成されるノイズから部分的に生じ得る。
また、他の回路特性は、角度エラー、すなわちエラー曲線506、508によって表されるDC(または平均)角度エラーとエラー曲線506、508の正弦曲線形状との両方の一因になることができる。すなわち、図3のデュアル差動増幅器308および図3の他の回路要素も、シーケンススイッチ回路304がCVH検知素子302の縦型ホール素子の間で切り替えたとき、また電流スイッチ回路306が様々な電流回転位相の間で切り替えたとき、そのような速度で最終値に落ち着くことができないということが、エラーの一因になる。
ただしこれらに限定されないが、図3のCVH検知素子302内の様々な縦型ホール素子の異なるオフセット電圧(異なる電流回転位相におけるオフセット不整合を含む、または含まない)、様々な縦型ホール素子の感度の差、スイッチングノイズおよび回路要素が最終値に落ち着かないことを含む上記に述べた回路特性は、ただしこれらに限定されないが、図3の磁場センサ300の温度、CVH検知素子302のまわりの順序付けの速度、磁石320が回転するときCVH検知素子302が被る磁場のピークの大きさ、および様々な縦型ホール素子の間で選択された電流回転のシーケンス(複数可)を含む様々な要因によって影響される(すなわち変えられる)傾向がある。
曲線506、508の間の差は、同じ要因の変化、すなわち温度の変化、磁石320が回転するときCVH検知素子302が被る磁場のピーク振幅の変化または差、CVH検知素子302内の縦型ホール素子のオフセット電圧の変化、様々な縦型ホール素子の感度の変化、CVH検知素子302のまわりの順序付けの速度の変化または差、およびCVH検知素子302内の様々な縦型ホール素子の中で選択された電流回転のシーケンス(複数可)の変化または差に帰することができる。これらの要因の中で、温度の変化は、いつでも起き得ることを理解されたい。磁場のピーク振幅の変化は、位置の変化、すなわち図3の磁石320とCVH検知素子302の間のエアギャップ変化によって影響され得る。また、磁場のピーク振幅の変化は、機械的な考慮事項、たとえば磁石320がその上で回転するベアリングまたはシャフトの摩耗によって影響され得る。しかし、順序付け速度の変化および電流回転シーケンスの変化は、一定であり得て、磁場センサ300の用途が異なる場合のみ、変化する。オフセット電圧の変化および縦型ホール素子の感度の変化は、温度の変化によって影響される傾向がある。
一般に、支配的な角度エラーの周波数成分は、信号202(すなわち304a、304b)の周波数の第1および第2の高調波で生じると判断されてきた。曲線506、508は、信号202(すなわち304a、304b)の周波数の第1および第2の高調波によって支配される角度エラー関数を表す。
エラー曲線506、508は、数学的に次のように記述することができる。
数学的に、曲線506、508によって表される角度エラーは、
として表すことができる、
ただし、
α=エラーを含む測定角度、
n=n番目の高調波を示す変数、
T=磁場センサ300の温度、
OFF=磁気対象物の位置付けエラー、すなわち図3の磁石320に対するCVH検知素子302の機械的ミスアラインメント、これは、温度、Tと通常無関係である、
DC(T)=DC角度エラーの平均値、これは、温度、Tの関数である、
nA(T)=エラーのn番目の高調波成分の振幅、これは、温度、Tの関数である、
nP(T)=n番目の高調波成分の位相、これは、温度、Tの関数である。
上記に述べた、温度以外の他の要因は、角度エラーに影響を及ぼし、式1では考慮されていない。すなわち、CVH検知素子302のまわりの順序付けの速度は、上記の表現中で、考慮されておらず、CVH検知素子302が被る、磁石320によって生成された磁場のピーク振幅は、考慮されておらず、そして電流回転シーケンス選択モジュール119によって生成された電流回転位相シーケンスは、考慮されていない。
推定された量子化された角度エラー(むしろ式(1)の非量子化エラー)は、数学的に、
として表すことができる、
ただし、
qは、量子化された値を表す。
また、不要なオフセット電圧を考慮する別の方法は、以下の式で与えられる、
ただし、
σν=以下で述べる技法によって単独で、または組み合わせで取られたのかどうかにかかわらず、順次に選択された縦型ホール素子についてのオフセット電圧の標準偏差(すなわち変動)、
N=単独で、または組み合わせで取られたのかどうかにかかわらず、複数の縦型ホール素子のまわりで順番にサンプルリングされる縦型ホール素子数、
=図3の信号308aまたは310a中のオフセットエラーベクトルの第1高調波の大きさ。
式(3)から、以下で述べる技法によって順次サンプルリングされる複数の縦型ホール素子の中でオフセット電圧の変動をより小さくすると、その結果得られる第1高調波のオフセットエラーベクトルの大きさをより小さくする傾向があることが明らかなはずである。オフセットエラーベクトルの第1高調波は、やはり所望の磁場方向測定値に加えられるが、しかし磁場方向測定値のエラーがより小さくなる。
図6〜16は、CVH検知素子、たとえば図3のCVH検知素子302内の個々の縦型ホール素子を、縦型ホール素子の組み合わせのいずれか1つからのオフセット電圧がより低くなるように、またCVH検知素子が異なる縦型ホール素子に順序付けられたとき、オフセット電圧変動がより低くなるように、たとえば図2の信号202の変動がより低くなるように、組み合わすことができる様々な方法を以下で述べる。言い換えると、磁場センサ300がCVH検知素子302のまわりで順序付けられたとき、オフセット変動が減少して、図3のxy角度信号314aで伝えられるとき、磁場の真の方向をより正確に示すことになる。
ここで図6を参照すると、2つの縦型ホール素子602、604の結合配置600が示されている。
第1の縦型ホール素子602は、図4のゼロ度位相配置で配置され、第2の縦型ホール素子604は、図4Bの90度位相配置で配置されている。第1および第2の縦型ホール素子は、強め合うようにともに結合される。
用語「強め合うように(constructively)」および「弱め合うように(destructively)」は、信号の磁場成分の加算または減算をそれぞれ指すために本明細書で使用している。
いくつかの実施形態では、2つの縦型ホール素子602、604は、CVH検知素子内の、たとえば図1のCVH検知素子12または図3のCVH検知素子302内の縦型ホール素子である。他の実施形態では、2つの縦型ホール素子602、604は、図1Aの配置によって表すことができるように、離れた切り離された縦型ホール素子である。
本明細書で使用する符号(+、−)は、ここでは、矢印606の方向で指示される磁場に反応して2つの縦型ホール素子602、604からの出力信号の磁場成分の極性を表す。個々の縦型ホール素子からの出力信号は、差動信号とすることができ、上記の慣例に従って、一方の出力コンタクトがプラスであり、他方の出力コンタクトがマイナスであることを理解されたい。矢印606と反対方向の磁場については、各縦型ホール素子の符号は反転する。
例示の静的、すなわち動いていない磁場、たとえば606に反応して、2つの縦型ホール素子602、604からの出力信号は、DC信号である。動いている、または回転している磁場に反応して、2つの縦型ホール素子602、604からの出力信号は、変化するAC成分を含む変化する信号である。どちらの場合も、2つの縦型ホール素子602、604からの出力信号は、それぞれ2つの成分、すなわち外部磁場(静的または回転)に反応する所望の外部磁場成分(たとえばVext、DCまたはACのどちらか)とオフセット成分(たとえばVoff)を含み、オフセット成分は常にDC成分である。オフセット電圧のDC成分は、縦型ホール素子の接続位相(たとえば図4〜4C参照)に応じて符号が変わる。
例示の静的磁場606に反応して、第1の縦型ホール素子602からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第1の外部磁場成分と第1のオフセット成分の組み合わせ、Vext1+Voff1である。第2の縦型ホール素子604からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第2の外部磁場成分と第2のオフセット成分の組み合わせ、Vext2−Voff2である。2つの縦型ホール素子602、604からの2つの出力信号を、示すようにそれらを強め合うようにともに結合することによって組み合わせると、組み合わされた差動信号を生じることになる、
Vm+、Vm−=[(Vext1+Voff1)+(Vext2−Voff2)]/2
=(Vext1+Vext2)/2+(Voff1−Voff2)/2
Voff1がVoff2とほぼ等しいと仮定し、Vext1がVext2とほぼ等しいと仮定すると、組み合わされた差動信号Vm+、Vm−の結果として生じる外部磁場成分は、ほぼVextになり、組み合わされた信号中のオフセット電圧は、ほぼキャンセルされてゼロになる。しかし、Voff1がVoff2と厳密に同じでないので、残余の小さなオフセット、Voffresaが残る。
上記の式中および次の式中の2つのファクタは、2つの縦型ホール素子が抵抗と直列の個別の電圧源と同様に振る舞うことのそれぞれの結果である。2つの縦型ホール素子は、ともに結合されたとき、2つの出力信号の平均である出力信号をもたらす傾向がある。
それゆえ、2つの縦型ホール素子602、604は、示すように接続位相がゼロおよび90度で、示すように結合することができ、したがって外部磁場成分が強め合うように加算され、かつオフセット成分がほぼキャンセルされる。
図2および5から、それぞれ順次に選択された縦型ホール素子のDCオフセット電圧がより低くなると、結局、磁場センサによって生成されたxy角度信号がより正確になる、たとえば図3の磁場センサ300によって生成されたxy角度信号314aがより正確になることが正しく認識されるはずである。
2つの縦型ホール素子の間に示す結合は、たとえば図3のシーケンススイッチ回路304および図3の電流スイッチ回路306によって達成することができる。
いくつかの実施形態では、2つの縦型ホール素子602、604(およびまた他の図と併せて以下の縦型ホール素子)は、チョッピングされるまたは電流が回転させられる。他の実施形態では、チョッピングまたは電流回転がない。
縦型ホール素子602、604を特定の配置で静的に結合されていると示しているが、チョッピングまたは電流回転が用いられている実施形態には、2つの縦型ホール素子602、604は、電流回転が進むとき、ただ結合位相中で90度離れたままでいることが必要である。上記に述べたように、結合配置に与えられる度の名称は、縦型ホール素子に関しいくらか恣意的であり、平面ホール素子の結合配置から導かれる。それゆえ、図6に示す結合は、4つの位相チョッピング中の第1のチョッピング配置を表すことができる。第2のチョッピング配置には、縦型ホール素子602は、図4Bによる90度結合配置に配置することができ、縦型ホール素子604は、図4Aによる180度結合配置に配置することができる。第3のチョッピング配置には、縦型ホール素子602は、図4Aによる180度結合配置に配置することができ、縦型ホール素子604は、図4Cによる270度結合配置に配置することができる。第4のチョッピング配置には、縦型ホール素子602は、図4Cによる270度結合配置に配置することができ、縦型ホール素子604は、図4によるゼロ度結合配置に配置することができる。チョッピング配置のすべてには、縦型ホール素子602、604の信号出力コンタクトは、信号出力コンタクト上の信号の磁場成分が強め合うように加算され、信号出力コンタクト上の信号のオフセット成分が互いにキャンセルされるように、ともに結合される。
上記のチョッピングまたは電流回転は、たとえば図3のシーケンススイッチ回路304および電流スイッチ回路306によって達成することができる。
チョッピングまたは電流回転がない実施形態には、一度出力サンプルが図6に示す配置によって得られると、シーケンススイッチ回路304および電流スイッチ回路306は、単に次の縦型ホール素子に1段進められ、それは、図6の右側への回転または左側への回転とすることができる。2つの縦型ホール素子602、604がCVH検知素子内のセットの縦型ホール素子のメンバである実施形態には、CVH検知素子の1つまたは複数のコンタクトだけの右側または左側へのシフトとすることができる。
縦型ホール素子の組み合わせの他の配置は、以下の図に述べる。チョッピングまたは電流回転がこれらの図のそれぞれと併せて述べていないが、しかし、以下で図に示す配置のそれぞれは、チョッピングまたは電流回転を用いて使用することができ、電流回転シーケンス中の各段について図4〜4Cごとの電流回転配置の示した相対な位相差を維持し、各図に示す極性に従った出力信号コンタクトの結合を維持し、それぞれのシーケンスの段において縦型ホール素子の間で物理的角度関係を維持することを理解されたい。
ここで図7を参照すると、グラフ700は、水平軸のスケールの位相の単位が度である。また、グラフ700は、垂直軸のスケールの振幅の単位が正規化された単位である。
曲線702は、円のまわりで選択された縦型ホール素子の1つの完全な回転について、第1高調波、すなわち順次にサンプリングされてフィルタリングされた出力信号(たとえば図3の信号310a)中の上記に述べた残余オフセット、Voffresaを表し、選択された縦型ホール素子は、結合位相(602、604、図6)中で90度離れており、図6の2つの静的に選択された縦型ホール素子602、604によって表すように、組み合わされている。曲線702は、基本的に、オフセット電圧だけから生じたエラー信号を表し、それは、動作の際、外部磁場から生じる逐次信号に加算されて、観測された逐次信号中に位相エラーをもたらすことになる。エラー信号702は、単独で観測することができる。たとえば縦型ホール素子が図6に示すように結合された状態で、ゼロ外部磁場中に図3の磁場センサ300を置き、図3の信号310aを観測することによって、観測することができる。外部磁場がない場合、信号310aは、ゼロであるはずであるが、しかし、それは、むしろ、電流702によって表されるようなエラー信号とすることができる。
エラー信号702の位相は、ゼロ度として任意に示す。通常、エラー信号702の大きさは、その代りに7.5ガウスの外部磁場を用いて、しかしオフセット成分がない状態で得られるはずのそれと同様であることが観測されている。1000ガウスの外部磁場に関し、7.5ガウスに相当するエラー成分は、図3のxy角度信号314a中の約0.43度の最大またはピークエラーになる。このエラーは、簡単なベクトル加算によって計算することができる、つまりいずれかの1つの選択された位相角度で7.5ガウスによる静的エラーベクトルを取り、そのエラーベクトルを、図6の配置に最も近い回転磁場から生じる1000ガウスによる回転外部磁場ベクトルに加算する。
図6の結合配置が使用されないが、しかしその代りに、円のまわりのシーケンスの間、一度に1つだけの縦型ホール素子からの出力信号が使用される場合、エラー信号は、通常、より大きくなるはずであり、図3のxy角度信号314a中の結果として生じる角度エラーは、通常、より大きくなるはずである。
ここで図8を参照すると、別の結合配置800が示されている。
第1の縦型ホール素子802は、図4のゼロ度位相配置で配置され、第2の縦型ホール素子804は、図4Bの90度位相配置で配置され、第3の縦型ホール素子806は、図4のゼロ度位相配置で配置され、第4の縦型ホール素子808は、図4のゼロ度位相配置で配置されている。
4つの縦型ホール素子の間に示す結合は、たとえば図3のシーケンススイッチ回路304および図3の電流スイッチ回路306によって達成することができる。
いくつかの実施形態では、4つの縦型ホール素子802、804、806、808は、CVH検知素子内の、たとえば図1のCVH検知素子12または図3のCVH検知素子302内の縦型ホール素子である。他の実施形態では、4つの縦型ホール素子802、804、806、808は、図1Aの配置によって表すことができるように、離れた切り離された縦型ホール素子である。
第1および第2の縦型ホール素子802、804は、図6の縦型ホール素子602、604と同じ方法で強め合うようにともに結合される。それゆえ、例示の静的磁場810に反応して、第1の縦型ホール素子802からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第1の外部磁場成分と第1のオフセット成分の組み合わせ、Vext1+Voff1である。第2の縦型ホール素子804からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第2の外部磁場成分と第2のオフセット成分の組み合わせ、Vext2−Voff2である。2つの縦型ホール素子802、804からの2つの出力信号を、示すようにそれらを強め合うようにともに結合することによって組み合わせると、組み合わされた差動信号、
Vm+、Vm−=[(Vext1+Voff1)+(Vext2−Voff2)]/2
=(Vext1+Vext2)/2+(Voff1−Voff2)/2
を生じることになる。
上記の図6と同様に、Voff1がVoff2とほぼ等しいと仮定し、Vext1がVext2とほぼ等しいと仮定すると、組み合わされた差動信号Vm+、Vm−の結果として生じる外部磁場成分は、ほぼVextであり、組み合わされた信号中のオフセット電圧は、ほぼキャンセルされてゼロである。しかし、Voff1がVoff2と厳密に等しくないので、残余の小さいオフセット、Voffresaが残る。
第3および第4の縦型ホール素子806、808は、それぞれ図4の配置によるゼロ度の位相配置を有する。出力信号の極性(+、−)によって示されるように、縦型ホール素子806、808の出力信号コンタクトは、出力信号の磁場信号成分が弱め合うように加算されるように、結合される。
第1および第2の縦型ホール素子802、804は、縦型ホール素子の円のまわりに、たとえば円形縦型ホール素子のまわりに、または離れた切り離された縦型ホール素子の円のまわりに、180度離れて物理的に配置される。また、第3および第4の縦型ホール素子806、808は、縦型ホール素子の円のまわりに180度離れて物理的に配置される。
第3および第4の縦型ホール素子806、808の間の線は、第1および第2の縦型ホール素子802、804の間の線から90である。また、他の物理的な配置が可能であり、そのいくつかが本明細書に述べられている。
例示の静的磁場810に反応して、第3の縦型ホール素子806からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第3の外部磁場成分と第3のオフセット成分の組み合わせ、−Vext3−Voff3である。第4の縦型ホール素子808からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第4の外部磁場成分と第4のオフセット成分組み合わせ、Vext4+Voff4である。2つの縦型ホール素子806、808からの2つの出力信号を、示すようにそれらを弱め合うようにともに結合することによって組み合わせると、組み合わされた差動信号、
Vs+、Vs−=[(−Vext3−Voff3)+(Vext4+Voff4)]/2
=(Vext4−Vext3)/2+(Voff4−Voff3)/2
を生じることになる。
Voff3がVoff4とほぼ等しいと仮定し、Vext3がVext4とほぼ等しいと仮定すると、組み合わされる差動信号Vs+、Vs−の結果として生じる外部磁場成分は、ほぼゼロであり、オフセット電圧は、キャンセルされてほぼゼロになる。しかし、やはり、小さな残余オフセット電圧、Voffresbが残る。
図9と併せて以下で、動的に第1および第2の縦型ホール素子802、804の組み合わせによって個別に生成される残余オフセット電圧、Voffresaは、縦型ホール素子が縦型ホール素子の円のまわりに順序付けられたとき、第3および第4の縦型ホール素子806、808の組み合わせによって個別に生成される残余オフセット電圧、Voffresbと同様の大きさを有することができるが、しかし位相が異なることを述べる。VoffresaおよびVoffresbは、2つのペアの縦型ホール素子によって生成された信号を組み合わせることによって、互いにキャンセルすることができる、または互いにほとんどキャンセルすることができることを述べることにする。
第1および第2の縦型ホール素子802、804からの差動信号Vm+、Vm−は、第3および第4の縦型ホール素子806、808からの差動信号Vs+、Vs−と個別に、たとえば図3の差動増幅器308によって個別に組み合わすことができる。そのような組み合わせの結果は、図9と併せて以下により完全に述べる。
縦型ホール素子の円のまわりの順序付けまたは1段ごとの進み、および縦型ホール素子のチョッピングまたは電流回転は、図6と併せて上記に述べたそれと同じ、または同様とすることができる。縦型ホール素子802、804、806、808は、図1と併せて上記に述べたような円形縦型ホール素子(CVH)として、または図1Aに示したように離れた切り離された縦型ホール素子の円形に配置されたセットとして配置することができる。
ここで図9を参照すると、グラフ900は、水平軸のスケールの位相の単位が度である。また、グラフ900は、垂直のスケールの振幅の単位が正規化された単位である。
曲線902は、図7の曲線702と同様で、第1高調波、すなわち円のまわりで選択された縦型ホール素子の1つの完全な回転について順次にサンプリングされてフィルタリングされた出力信号(たとえば、図3の信号310a)中の上記に述べた残余オフセット、Voffresaを表し、選択された縦型ホール素子は、図3の縦型ホール素子802、804によって表されるように結合位相中で90度離れている。
曲線904は、第1高調波、すなわち円のまわりで選択された縦型ホール素子の1つの完全な回転について順次にサンプリングされてフィルタリングされた出力信号(たとえば、図3の信号310a)中の上記に述べた残余オフセット、Voffresbを表し、選択された縦型ホール素子は、図8の縦型ホール素子806、808によって表されているように、それぞれゼロ度の結合位相にある。
曲線902、904は、約90度離れていることができ、それは、縦型ホール素子806、808に対する縦型ホール素子802、804の90度の相対的位置によって決定される。曲線902、904、すなわち、信号902、904を最善に組み合わせるために、信号902、904が加算される場合、信号902、904が180度の位相ずれになるように、信号902、904の1つまたは両方の位相をシフトすることが、または信号902、904が減算される場合、信号902、904が同位相になるように、信号902、904の1つまたは両方の位相をシフトすることが有利である。この目的を達成するために、シーケンススイッチ回路304によって供給される差動信号の1つに、図3の位相調節モジュール307によって位相調節を適用する。
他の実施形態では、縦型ホール素子806、808に対する縦型ホール素子802、804の相対的位置は、90度以外の角度であり、曲線902、904の間の位相差は、それに応じて90度以外である。1つのそのような配置は、図10と併せて以下に示す。
ここで図10を参照すると、別の結合配置1000が示されている。
第1の縦型ホール素子1002が、図4のゼロ度位相配置に配置され、第2の縦型ホール素子1004が、図4Bの90度位相配置に配置され、第3の縦型ホール素子1006が、図4のゼロ度位相配置に配置され、第4の縦型ホール素子1008が、図4のゼロ度位相配置に配置されている。
4つの縦型ホール素子の間に示す結合は、たとえば図3のシーケンススイッチ回路304および図3の電流スイッチ回路306によって達成することができる。
いくつかの実施形態では、4つの縦型ホール素子1002、1004、1006、1008は、CVH検知素子内の、たとえば図1のCVH検知素子12または図3のCVH検知素子302内の縦型ホール素子である。他の実施形態では、4つの縦型ホール素子1002、1004、1006、1008は、図1Aの配置によって表すことができるように、離れた切り離された縦型ホール素子である。
第1および第2の縦型ホール素子1002、1004は、図8の第1および第2の縦型ホール素子802、804と同じ方法で強め合うようにともに結合される。第3および第4の縦型ホール素子1006、1008は、図8の第3および第4の縦型ホール素子806、808と同じ方法で弱め合うようにともに結合される。しかし、図8の結合配置と違って、第1および第2の縦型ホール素子1002、1004は、互いに隣接して物理的に配置され、また、第3および第4の縦型ホール素子1006、1008は、互いに隣接して物理的に配置される。
第1の縦型ホール素子1002は、縦型ホール素子の円のまわりで第4の縦型ホール素子1008から180度に配置される。第2の縦型ホール素子1004は、縦型ホール素子の円のまわりで第3の縦型ホール素子1006から180度に配置される。
図6の縦型ホール素子602、604と併せて上記でより十分に述べたように、縦型ホール素子1002、1004の出力信号の磁場信号成分は、強め合うように加算され、縦型ホール素子1002、1004の出力信号のオフセット成分は、ほぼキャンセルされてゼロになるが、しかし、残余オフセット電圧Voffresaが残る恐れがある。
第3および第4の縦型ホール素子1006、1008は、それぞれ図4の配置によって位相配置がゼロ度である。出力信号の極性(+、−)によって示されるように、縦型ホール素子1006、1008の出力信号コンタクトは、出力信号の磁場信号成分が弱め合うように加算されるように結合される。
第1および第4の縦型ホール素子1002、1008の間の線が、第2および第3の縦型ホール素子1004、1006の間の線から90度より小さい角度で、たとえば20度だけ回転させる。また、他の物理的な配置が可能であり、そのいくつかが本明細書に述べられている。
例示の静的磁場1010に反応して、第1の縦型ホール素子1002からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第1の外部磁場成分と第1のオフセット成分の組み合わせ、Vext1+Voff1である。第2の縦型ホール素子1004からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第2の外部磁場成分と第2のオフセット成分の組み合わせ、Vext2−Voff2である。2つの縦型ホール素子1002、1004からの2つの出力信号を、示すようにそれらを強め合うようにともに結合することによって組み合わせると、組み合わされた差動信号、
Vm+、Vm−=[(Vext1+Voff1)+(Vext2−Voff2)]/2
=(Vext1+Vext2)/2+(Voff1−Voff2)/2
を生じることになる。
Voff1がVoff2とほぼ等しいと仮定し、Vext1がVext2とほぼ等しいと仮定すると、組み合わされた差動信号Vm+、Vm−の結果として生じる外部磁場成分は、ほぼVextであり、組み合わされた信号中のオフセット電圧は、ほぼキャンセルされてゼロになる。しかし、Voff1がVoff2と厳密に等しくないので、残余の小さなオフセット、Voffresaが残る。
それゆえ、2つの縦型ホール素子1002、1004は、示すように接続位相がゼロおよび90の状態で、示すように結合することができ、したがって外部磁場成分は、強め合うように加算され、かつオフセット成分はほぼキャンセルされる。
第3の縦型ホール素子1006からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第3の外部磁場成分と第3のオフセット成分の組み合わせ、Vext3+Voff3である。第4の縦型ホール素子1008からの差動出力信号(+と−コンタクトの間)は、第4の外部磁場成分と第4のオフセット成分の組み合わせ、−Vext4−Voff4である。2つの縦型ホール素子806、808からの2つの出力信号を、示すようにそれらを弱め合うようにともに結合することによって組み合わせると、組み合わされた差動信号、
Vs+、Vs−=[(Vext3+Voff3)+(−Vext4−Voff4)]/2
=(Vext3−Vext4)/2+(Voff3−Voff4)/2
を生じることになる。
Voff3がVoff4とほぼ等しいと仮定し、Vext3がVext4とほぼ等しいと仮定すると、組み合わされた差動信号Vs+、Vs−の結果として生じた外部磁場成分は、ほぼゼロであり、オフセット電圧は、キャンセルされてほぼゼロになる。しかし、やはり、小さな残余オフセット電圧、Voffresbが残る。
図9に描くそれと同様に、動的に第1および第2の縦型ホール素子1002、1004の組み合わせによって個別に生成された残余オフセット電圧、Voffresaは、縦型ホール素子が縦型ホール素子の円のまわりで順序付けられたとき、第3および第4の縦型ホール素子1006、1008の組み合わせによって個別に生成された残余オフセット電圧、Voffresbと同様の大きさを有することができるが、しかし位相が異なる。
信号Voffresa、Voffresbは、図3の位相調節モジュール307によって位相合わせされた状態にすることができる。
第1および第2の縦型ホール素子1002、1004からの差動信号Vm+、Vm−は、第3および第4の縦型ホール素子1006、1008からの差動信号Vs+、Vs−と個別に、位相調節の有無にかかわらず、たとえば図3の差動増幅器308によって個別に組み合わせることができる。そのような組み合わせの結果は、図9と併せて上記により十分に述べた。
縦型ホール素子の円のまわりの順序付けまたは1段ごとの進み、および縦型ホール素子のチョッピングまたは電流回転は、図6と併せて上記に述べたそれと同じまたは同様とすることができる。縦型ホール素子1002、1004、1006、1008は、図1と併せて上記に述べたように円形縦型ホール素子(CVH)として、または図1Aに表されるように離れた切り離された縦型ホール素子の円形に配置されたセットとして配置することができる。
ここで図11を参照すると、5つのコンタクトの縦型ホール素子1100のコンタクト1102a〜1102e(また1〜5)が、図4のゼロ度の結合で配置されている。縦型ホール素子1100は、図8の縦型ホール素子802または図10の縦型ホール素子1002を表すように意図されている。コンタクト1102a〜1102eの間および基板1106内の抵抗が示されている。縦型ホール素子1100によって生成されるオフセット電圧を表すために、コンタクトの多くの間の抵抗、Rは、同じに作られているが、しかしR+ΔR1が、2と3と番号が付けられたコンタクトの間に示されている。
縦型ホール素子1100の電子回路表現が図13と併せて以下に示されている。
ここで図12を参照すると、図11の同様の要素が同様の参照記号表示を有して示され、5つのコンタクトの縦型ホール素子1200のコンタクト1202a〜1202e(または1〜5)が、図4Bの90度の結合で配置されている。縦型ホール素子1200は、図8の縦型ホール素子804または図10の縦型ホール素子1004を表すように意図されている。コンタクト1102a〜1102eの間および基板1106内の抵抗が示されている。縦型ホール素子1200によって生成されるオフセット電圧を表すために、コンタクトの多くの間の抵抗、Rが同じに作られるが、しかし抵抗、R+ΔR2が2と3と番号が付けられたコンタクトの間に示されている。
縦型ホール素子1100の電子回路表現が図13と併せて以下に示されている。
ここで図13を参照すると、回路モデル1300が、ともに結合された2つの縦型ホール素子を表す。回路モデル1300の左側の回路モデル部分が、図11の縦型ホール素子1100を表す(すなわち図4および11のゼロ位相の結合、すなわち図8および10の第1の縦型ホール素子802、1002を個別に)。回路モデル1300の右側の回路モデル部分が、図12の縦型ホール素子1200を表す(すなわち図4Bおよび12の90度位相の結合、すなわち図8および10の第2の縦型ホール素子804、1004を個別に)。
2つの電気的結合のコンタクトが、番号1〜5によって示されている。抵抗R、R+ΔR1およびR+ΔR2は、図11および12の縦型ホール素子によるコンタクトの間に示されている。2つの回路モデルは、図8の縦型ホール素子802、804と同じ方法で強め合うようにともに結合され、図10の縦型ホール素子1002、1004がともに結合される。
回路モデル1302は、回路モデル1300に相当する。
シンボル//は、「に対して平行な」ことを表すように意図されている。式は、以下で回路モデル1302を記述する。以下の式では、上付き文字ゼロは、回路モデル1300の配置の左側のゼロ位相の結合を表すように意図されており、上付き文字90は、回路モデル1300の配置の右側の90度位相の結合を表すように意図されている。
R>>ΔRと仮定すると、R//(R+ΔR)を(R+ΔR)/2と近似することができる。したがって、
と仮定すると、
が得られる。
上記の式は、上記に述べた残余オフセット、Voffresaである。
ここで図14を参照すると、回路モデル1400は、ともに結合された2つの縦型ホール素子の別の回路モデルである。回路モデル1400の左側の回路モデル部分は、図11の縦型ホール素子1100を表す(すなわち図4および11のゼロ位相の結合、すなわち図8および10の第3の縦型ホール素子806、1006を個別に)。回路モデル1400の右側の回路モデル部分は、図12の縦型ホール素子1200を表す(すなわち図4および11のゼロ位相の結合、すなわち図8および10の第4の縦型ホール素子808、1008を個別に)。
2つの電気的結合のコンタクトが、番号1〜5で示されている。抵抗R、R+ΔR1およびR+ΔR2が、図11の縦型ホール素子1100によるコンタクトの間に示されている。2つの回路モデルは、図8の縦型ホール素子806、808と同じ方法で弱め合うようにともに結合され、図10の縦型ホール素子1006、1008が、ともに結合される。
回路モデル1402は、回路モデル1400に相当する。
シンボル//は、「に対して平行な」ことを表すように意図されている。式が、以下で回路モデル1402を記述する。以下の式では、上付き文字ゼロは、回路モデル1400の配置の左側および右側のゼロ位相の結合を表すように意図されている。
R>>ΔRと仮定すると、R//(R+ΔR)を(R+ΔR)/2と近似することができる。したがって、
式(1)を式(3)と比較すると、それらは、分母中の
ファクタだけが異なっていることに気付くことができる。
ほとんどの場合、このファクタは、無視できるはずであり、切り捨てることができ、Rを簡単化した後、
を得る。
その結果として、図14の配置1402は、図13の配置1302と高いレベルで一致するオフセットベクトルを生成する。
それゆえ、上記に示された(および以下で)4つの縦型ホール素子の配置のいずれかの中の第2のペアの縦型ホール素子によって生成される残余オフセット、Voffresbは、第1のペアの縦型ホール素子によって生成される残余オフセット、Voffresaをさらに減少させる、またはキャンセルするために使用することができる。
図15および16は、第1のペアの縦型ホール素子および第2のペアの縦型ホール素子をともに直接結合することができて、図4のシーケンススイッチモジュール306が順次に4つの縦型ホール素子の異なるセットを選択したとき、4つの縦型ホール素子の選択されたセットごとに1つの個別の差動出力信号をもたらすことになる配置を示す。
直接の組み合わせは、図8および10の配置と同様に、図6と併せて上記に述べた減少を超えて残余オフセットを減少させることになる。しかし、図15および16の強め合う組み合わせは、4つの縦型ホール素子の間の4通りの強め合う組み合わせである。4通りの組み合わせは、ただ1つの出力信号をもたらし、位相調節回路307が必要でない。
ここで図15を参照すると、別の結合配置1500が示されている。
第1の縦型ホール素子1502が、図4のゼロ度位相配置で配置され、第2の縦型ホール素子1504が、図4Bの90度位相配置で配置され、第3の縦型ホール素子1506が、図4Cの270度位相配置で配置され、第4の縦型ホール素子1508が、図4Aの180度位相配置で配置されている。
4つの縦型ホール素子の間に示される結合は、たとえば図3のシーケンススイッチ回路304および図3の電流スイッチ回路306によって達成することができる。
いくつかの実施形態では、4つの縦型ホール素子1502、1504、1506、1508は、CVH検知素子内の、たとえば図1のCVH検知素子12または図3のCVH検知素子302内の縦型ホール素子である。他の実施形態では、4つの縦型ホール素子1502、1504、1506、1508は、図1Aの配置によって表すことができるように、離れた切り離された縦型ホール素子である。
第3および第4の縦型ホール素子1506、1508の間の線は、第1および第2の縦型ホール素子1502、1504の間の線から90である。また、他の物理的な配置が可能であり、そのいくつかが本明細書に述べられている。
第1および第2の縦型ホール素子1502、1504は、個別に、図8の縦型ホール素子802、804と同じ方法で強め合うようにともに結合される。また、第3および第4の縦型ホール素子1506、1508は、個別に、示すように強め合うようにともに結合される。また、2つの強め合う組み合わせが、強め合うように組み合わされて、1つの差動出力信号(Vcomb+、Vcomb−)をもたらすことになる。
例示の静的磁場1510に反応して、すべての4つの縦型ホール素子の強め合う合計によって、
Vcomb+、Vcomb−=(Vext1+Vext2)/4+(Voff1−Voff2)/4+(Vext3+Vext4)/4+(Voff3−Voff4)/4
が得られ、それは、Vextとほぼ等しい。(表記1、2、3、および4は、第1、第2、第3および第4の縦型ホール素子1502、1504、1506、1508をそれぞれ指す)
残された残余オフセット、Voffrescは、図6〜14と併せて上記に述べたVoffresaおよびVoffresbの個々の事例より小さい。
図15のすべての組み合わせは、強め合う組み合わせであることに留意すべきである。基本的に、第1および第2の縦型ホール素子1502、1504は、強め合うように組み合わされ、第3および第4の縦型ホール素子1506、1508は、強め合うように組み合わされ、また、2つのペアは、互いに強め合うように組み合わされる。示す電流回転位相(すなわち電流回転位相差)を使用すると、オフセットが差動信号(Vcomb+、Vcomb−)中でキャンセルされる、またはほぼキャンセルされて、残余オフセット、Voffrescがもたらされることになる。
強め合う組み合わせは、有利である傾向がある、というのは、所望の外部磁場成分、Vextが加算されて、結果として生じた外部磁場成分対残余オフセット成分の比がより大きい、組み合わされた信号がもたらされることになるからである。
他の実施形態では、同様の結果を得るために、他の電流回転位相を強め合うように組み合わせることが可能である。たとえば、1つの代替の実施形態では、第3の縦型ホール素子1506は、図4Bによる90度の電流回転位相配置で結合することができるはずであり、第4の縦型ホール素子1508は、図4によるゼロ度の電流回転位相配置で結合することができるはずである。強め合う組み合わせを確保すると、上記に述べたそれらと同様の結果が得られるはずである。
図15による様々な実施形態は、すべて共通の特性を有する、すなわちそれらは、すべて例示の磁場1510に反応して各縦型ホール素子から同じ極性の外部磁場成分、Vextを生成する。また、縦型ホール素子の中のオフセット電圧は、すべての信号が強め合うように組み合わされたとき、キャンセルされる。
様々な実施形態は、図15と併せて、それぞれがただ1つの出力信号(Vcomb+、Vcomb−)を生成し、したがって図7の1つのオフセットベクトルと同様のただ1つのオフセットエラーベクトルを生成することを教示した。それゆえ、図8および9と併せて上記に述べたように、2つの信号の間で位相を補償することが必要でない。さらにまた、オフセットベクトルが2つ存在せず、その位相は、図8〜10と併せて上記に述べたように、縦型ホール素子の物理的な角度変位と関連する。それゆえ、4つの縦型ホール素子1502、1504、1506、1508は、同様の結果を維持しながら、示す位置から角度的に変位させることができる。1つのそのような角度変位が、図16と併せて以下に示される。
縦型ホール素子の円のまわりの順序付けまたは1段ごとの進み、および縦型ホール素子のチョッピングまたは電流回転は、図6と併せて上記に述べたそれと同じ、または同様とすることができる。
ここで図16を参照すると、別の結合配置1600が示されている。
第1の縦型ホール素子1602が、図4のゼロ度位相配置で配置され、第2の縦型ホール素子1604が、図4Bの90度位相配置で配置され、第3の縦型ホール素子1606が、図4Cの270度位相配置で配置され、第4の縦型ホール素子1608が、図4Aの180度位相配置で配置されている。
4つの縦型ホール素子の間に示す結合は、たとえば図3のシーケンススイッチ回路304および図3の電流スイッチ回路306によって達成することができる。
いくつかの実施形態では、4つの縦型ホール素子1602、1604、1606、1608は、CVH検知素子内の、たとえば図1のCVH検知素子12または図3のCVH検知素子302内の縦型ホール素子である。他の実施形態では、4つの縦型ホール素子1602、1604、1606、1608は、図1Aの配置によって表すことができるように、離れた切り離された縦型ホール素子である。
第1および第4の縦型ホール素子1602、1608の間の線は、第2および第3の縦型ホール素子1604、1606の間の線から90度より小さい角度で、たとえば20度だけ回転させる。また、他の物理的な配置が可能であり、そのいくつかが本明細書に述べられている。
第1および第2の縦型ホール素子1602、1604は、個別に、図8の縦型ホール素子802、804と同じ方法で強め合うようにともに結合される。また、第3および第4の縦型ホール素子1606、1608は、示すように強め合うようにともに結合される。また、2つの強め合う組み合わせは、強め合うように組み合わされて、1つの差動出力信号(Vcomb+、Vcomb−)がもたらされることになる。
例示の磁場1610に反応して、すべての4つの縦型ホール素子の強め合う合計が、
Vcomb+、Vcomb−=(Vext1+Vext2)/4+(Voff1−Voff2)/4+(Vext3+Vext4)/4+(Voff3−Voff4)/4
を生成し、それは、Vextとほぼ等しい。(表記1、2、3、および4は、第1、第2、第3および第4の縦型ホール素子1602、1604、1606、1608をそれぞれ指す)
残された残余オフセット、Voffrescは、図6〜14と併せて上記に述べたVoffresaおよびVoffresbの個々の事例より小さい。4通りの強め合う結合の特性および長所が、図15と併せて上記に述べられている。同じ特性および長所が、図16の配置に適用される。
縦型ホール素子の円のまわりの順序付けおよび1段ごとの進み、および縦型ホール素子のチョッピングまたは電流回転は、図6と併せて上記に述べたそれと同じ、または同様とすることができる。
ここで図17を参照すると、図3の同様の要素が同様の参照記号表示を有して示されており、磁場センサ1700が、図3の磁場センサ300と同様であるが、しかし磁場センサ1700は、図3の位相調節モジュール307を含まない。さらにまた、シーケンススイッチ回路1702が、1つだけの差動信号1702aを差動増幅器1704に供給する。
磁場センサ1700は、図15および16の結合配置によって使用することができ、すべての4つの縦型ホール素子が強め合うようにともに結合され、そのために、1つの差動出力信号(Vcomb+、Vcomb−)だけが存在する。
上記に述べたように、図15および16と併せて上記に述べた本実施形態では、位相調節が全く必要でない、というのは、1つだけの差動出力信号(Vcomb+、Vcomb−)、それゆえ1つだけのオフセットエラー信号成分が存在するからである。しかし、他の実施形態では、その電流回転位相が図15および16に上記に示されている縦型ホール素子は、しかし異なる結合によって使用することができる。これらの他の実施形態には、位相調節モジュール307は、やはり残余オフセット電圧をキャンセルする、またはほぼキャンセルすることになるように、使用することができる。
特定の位相配置による、かつ他の縦型ホール素子との特定の結合による特定の縦型ホール素子が、上記に示されており、また特定の物理的な角度配置が、縦型ホール素子の間に示されているが、オフセット電圧をより低くすることができる他の位相配置、結合および物理的な角度配置が存在することを理解されたい。
本明細書に引用されたすべての参考文献は、参照によってその全体が本明細書に援用される。
好ましい実施形態を述べてきたが、それは、様々な概念、構造および技法を例示する働きをし、それは、本特許の主題であり、ここで、これらの概念、構造および技法を組み込む他の実施形態を使用することができることが明らかになるはずである。したがって、特許の範囲は、述べた実施形態に限定すべきでなく、むしろ次の請求項の趣旨および範囲によってのみ限定すべきであることが必要であると考える。

Claims (38)

  1. 円形に配置され、基板上に配置された複数のコンタクトの中で対応する複数のセットのコンタクトとして形成される複数の縦型ホール素子であって、
    前記複数の縦型ホール素子は、対応する複数の縦型ホール素子の出力信号を生成するように構成され、
    前記複数の縦型ホール素子のそれぞれが、外部磁場方向を有する外部磁場に反応し、
    前記縦型ホール素子の出力信号のそれぞれが、前記外部磁場に反応する個別の外部磁場成分および個別のオフセットエラー成分を含む、複数の縦型ホール素子と、
    前記複数の縦型ホール素子の出力信号を受信するように結合され、前記複数の縦型ホール素子の中から第1および第2の縦型ホール素子を選択するように構成されるシーケンススイッチ回路であって、
    前記第1の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第1の選択されたセットのコンタクトを有し、前記第2の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第2の選択されたセットのコンタクトを有し、
    前記第1および第2の縦型ホール素子は、第1および第2の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、
    前記第1の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第1の外部磁場成分および第1のオフセット成分を有し、
    前記第2の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第2の外部磁場成分および第2のオフセット成分を有し、
    前記シーケンススイッチ回路は、さらに、前記第1および第2の磁場成分が強め合うように加算されて強め合う信号を生成するように、前記第1および第2の縦型ホール素子の出力信号を組み合わせるように構成される、シーケンススイッチ回路と、
    電流信号を受信するように結合された電流スイッチ回路であって、
    第1の1つまたは複数の電流信号を、前記第1の選択されたセットのコンタクトの第1の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するように構成され、前記第1の1つまたは複数の電流信号は、前記第1の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、かつ
    第2の1つまたは複数の電流信号を、前記第2の選択されたセットのコンタクトの第2の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するように構成され、前記第2の1つまたは複数の電流信号は、前記第2の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第1および第2の縦型ホール素子の前記第1および第2の選択された1つまたは複数のコンタクトは、第1および第2の異なる結合位相を個別に表し、
    前記シーケンススイッチ回路および前記電流スイッチ回路は、前記複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けるように構成されて、強め合う順序付けられた信号を生成するために、前記第1および第2の縦型ホール素子を、前記複数の縦型ホール素子の異なるものとして順次に選択する、電流スイッチ回路とを含む、磁場センサ。
  2. 前記複数のコンタクトは、前記基板中の共通の注入拡散領域の上に配置されて、円形縦型ホール(CVH)検知素子を形成する、請求項1に記載の磁場センサ。
  3. 前記シーケンススイッチ回路は、さらに、前記複数の縦型ホール素子の中から第3および第4の縦型ホール素子を選択するように構成され、
    前記第3の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第3の選択されたセットのコンタクトを有し、前記第4の縦型ホール素子は、前記複数の縦型ホール素子の中から選択される第4の選択されたセットのコンタクトを有し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子は、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、
    前記第3の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第3の外部磁場成分および第3のオフセット成分を有し、
    前記第4の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第4の外部磁場成分および第4のオフセット成分を有し、
    前記シーケンススイッチ回路は、さらに、前記第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせるように構成されて、補償する信号を生成する、請求項2に記載の磁場センサ。
  4. 前記シーケンススイッチ回路は、前記第3および第4の外部磁場成分が弱め合うように加算されるように、前記第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせるように構成される、請求項3に記載の磁場センサ。
  5. 前記シーケンススイッチ回路は、前記第3および第4の外部磁場成分が強め合うように加算されるように、前記第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせるように構成される、請求項3に記載の磁場センサ。
  6. 前記電流スイッチ回路は、さらに、第3の1つまたは複数の電流信号を、前記第3の選択されたセットのコンタクトの第3の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給し、第4の1つまたは複数の電流信号を、前記第4の選択されたセットのコンタクトの第4の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するように構成され、
    前記シーケンススイッチ回路および前記電流スイッチ回路は、前記複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けるように構成されて、補償する順序付けられた信号を生成するために、前記第3および第4の縦型ホール素子を、前記複数の縦型ホール素子の異なるものとして選択し、
    前記磁場センサは、前記シーケンススイッチ回路に結合され、前記強め合う順序付けられた信号を表す第1の信号と前記補償する順序付けられた信号を表す第2の信号を組み合わせるように構成されて、組み合わされた順序付けられた信号を生成する組み合わせ回路をさらに含む、請求項3に記載の磁場センサ。
  7. 前記第3の1つまたは複数の電流信号は、前記第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第4の1つまたは複数の電流信号は、前記第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子の前記第3および第4の選択された1つまたは複数のコンタクトは、同じ結合位相を表す、請求項6に記載の磁場センサ。
  8. 前記第3の1つまたは複数の電流信号は、前記第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第4の1つまたは複数の電流信号は、前記第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出する、請求項6に記載の磁場センサ。
  9. 前記第3の1つまたは複数の電流信号は、前記第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第4の1つまたは複数の電流信号は、前記第4の選択されたセットの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子の前記第3および第4の選択された1つまたは複数のコンタクトは、前記異なる結合位相を表す、請求項6に記載の磁場センサ。
  10. 前記シーケンススイッチ回路と前記組み合わせ回路の間に結合され、予め定めた位相調節を、前記強め合う順序付けられた信号または前記補償する順序付けられた信号の選択された1つに適用するように構成されて、前記第1の信号または前記第2の信号の単一の信号を生成する位相調節モジュールをさらに含む、請求項6に記載の磁場センサ。
  11. 前記第1および第2の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置される、請求項6に記載の磁場センサ。
  12. 前記第3および第4の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置され、
    前記第1および第2の縦型ホール素子の中心の間の線および前記第3および第4の縦型ホール素子の中心の間の線が、ほぼ90度離れている、請求項11に記載の磁場センサ。
  13. 前記第1および第2の縦型ホール素子は、互いに直接隣接し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子は、互いに直接隣接している、請求項6に記載の磁場センサ。
  14. 前記第1および第4の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置され、
    前記第2および第3の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置される、請求項13に記載の磁場センサ。
  15. 前記第1および第4の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置され、
    第2および第3の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置される、請求項6に記載の磁場センサ。
  16. 前記第1および第2の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置される、請求項2に記載の磁場センサ。
  17. 前記シーケンススイッチ回路は、さらに、前記複数の縦型ホール素子の中から第3および第4の縦型ホール素子を選択するように構成され、
    前記第3の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第3の選択されたセットのコンタクトを有し、前記第4の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第4の選択されたセットのコンタクトを有し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子は、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、
    前記第3の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第3の外部磁場成分および第3のオフセット成分を有し、
    前記第4の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第4の外部磁場成分および第4のオフセット成分を有し、
    前記シーケンススイッチ回路は、さらに、前記第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせるように構成されて、補償する信号を生成する、請求項1に記載の磁場センサ。
  18. 前記電流スイッチ回路は、さらに、第3の1つまたは複数の電流信号を、前記第3の選択されたセットのコンタクトの第3の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給し、第4の1つまたは複数の電流信号を、前記第4の選択されたセットのコンタクトの第4の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するように構成され、
    前記シーケンススイッチ回路および前記電流スイッチ回路は、前記複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けるように構成されて、補償する順序付けられた信号を生成するために、前記第3および第4の縦型ホール素子を、前記複数の縦型ホール素子の異なるものとして順次に選択し、
    前記磁場センサは、前記シーケンススイッチ回路に結合され、前記強め合う順序付けられた信号を表す第1の信号と前記補償する順序付けられた信号を表す第2の信号を組み合わせるように構成されて、組み合わされた順序付けられた信号を生成する組み合わせ回路をさらに含む、請求項17に記載の磁場センサ。
  19. 前記シーケンススイッチ回路と前記組み合わせ回路の間に結合され、予め定めた位相調節を、前記強め合う順序付けられた信号または前記補償する順序付けられた信号の選択された1つに適用するように構成されて、前記第1の信号または前記第2の信号の単一の信号を生成する位相調節モジュールをさらに含む、請求項18に記載の磁場センサ。
  20. 磁場センサにおいて使用される方法において、
    前記磁場センサは、円として配置され、基板上に配置された複数のコンタクトの中の対応する複数のセットのコンタクトとして形成される複数の縦型ホール素子を含み、
    前記複数の縦型ホール素子は、対応する複数の縦型ホール素子の出力信号を生成するように構成され、
    前記複数の縦型ホール素子のそれぞれが、外部磁場方向を有する外部磁場に反応し、
    前記縦型ホール素子の出力信号のそれぞれが、前記外部磁場に反応する個別の外部磁場成分および個別のオフセットエラー成分を含み、
    前記方法は、
    前記複数の縦型ホール素子の中から第1および第2の縦型ホール素子を選択するステップであって、
    前記第1の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第1の選択されたセットのコンタクトを有し、前記第2の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第2の選択されたセットのコンタクトを有し、
    前記第1および第2の縦型ホール素子は、第1および第2の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、
    前記第1の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第1の外部磁場成分および第1のオフセット成分を有し、
    前記第2の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第2の外部磁場成分および第2のオフセット成分を有する、ステップと、
    前記第1および第2の磁場成分が強め合うように加算されて強め合う信号を生成するように、前記第1および第2の縦型ホール素子の出力信号を組み合わせるステップと、
    第1の1つまたは複数の電流信号を、前記第1の選択されたセットのコンタクトの第1の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップであって、
    前記第1の1つまたは複数の電流信号は、前記第1の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出する、ステップと、
    第2の1つまたは複数の電流信号を、前記第2の選択されたセットのコンタクトの第2の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップであって、
    前記第2の1つまたは複数の電流信号は、前記第2の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第1および第2の縦型ホール素子の前記第1および第2の1つまたは複数のコンタクトは、第1および第2の異なる結合位相を個別に表す、ステップと、
    前記複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けて、強め合う順序付けられた信号を生成するために、前記第1および第2の縦型ホール素子を、前記複数の縦型ホール素子の異なるものとして選択するステップとを含む、方法。
  21. 前記複数のコンタクトは、前記基板中の共通の注入拡散領域の上に配置されて、円形縦型ホール(CVH)検知素子を形成する、請求項20に記載の方法。
  22. 前記複数の縦型ホール素子の中から第3および第4の縦型ホール素子を選択するステップであって、
    前記第3の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第3の選択されたセットのコンタクトを有し、前記第4の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第4の選択されたセットのコンタクトを有し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子は、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、
    前記第3の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第3の外部磁場成分および第3のオフセット成分を有し、
    前記第4の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第4の外部磁場成分および第4のオフセット成分を有する、ステップと、
    前記第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせて、補償する信号を生成するステップとをさらに含む、請求項21に記載の方法。
  23. 前記第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を組み合わせるステップは、前記第3および第4の外部磁場成分が弱め合うように加算されることになる、請求項22に記載の方法。
  24. 前記第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を組み合わせるステップは、前記第3および第4の外部磁場成分が強め合うように加算されることになる、請求項22に記載の方法。
  25. 第3の1つまたは複数の電流信号を、前記第3の選択されたセットのコンタクトの第3の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップと、
    第4の1つまたは複数の電流信号を、前記第4の選択されたセットのコンタクトの第4の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップと、
    前記複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けて、補償する順序付けられた信号を生成するために、前記第3および第4の縦型ホール素子を、前記複数の縦型ホール素子の異なるものとして選択するステップと、
    前記強め合う順序付けられた信号を表す第1の信号と前記補償する順序付けられた信号を表す第2の信号を組み合わせるステップとをさらに含む、請求項22に記載の方法。
  26. 前記第3の1つまたは複数の電流信号は、前記第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第4の1つまたは複数の電流信号は、前記第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子の前記第3および第4の選択された1つまたは複数のコンタクトは、同じ結合層を表す、請求項25に記載の方法。
  27. 前記第3の1つまたは複数の電流信号は、前記第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第4の1つまたは複数の電流信号は、前記第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出する、請求項25に記載の方法。
  28. 前記第3の1つまたは複数の電流信号は、前記第3の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに最も近いコンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第4の1つまたは複数の電流信号は、前記第4の選択されたセットのコンタクトの中央コンタクトに流入する、またはそこから流出し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子の前記第3および第4の選択された1つまたは複数のコンタクトは、異なる結合位相を表す、請求項25に記載の方法。
  29. 予め定めた位相調節を、前記強め合う順序付けられた信号または前記補償する順序付けられた信号の選択された1つに適用して、前記第1の信号または前記第2の信号の単一の信号を生成するステップをさらに含む、請求項25に記載の方法。
  30. 前記第1および第2の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置される、請求項25に記載の方法。
  31. 前記第3および第4の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置され、
    前記第1および第2の縦型ホール素子の中心の間の線および前記第3および第4の縦型ホール素子の中心の間の線は、ほぼ90度離れている、請求項30に記載の方法。
  32. 前記第1および第2の縦型ホール素子は、互いに直接隣接し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子は、互いに直接隣接している、請求項25に記載の方法。
  33. 前記第1および第4の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置され、
    前記第2および第3の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置される、請求項32に記載の方法。
  34. 前記第1および第4の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置され、
    前記第2および第3の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置される、請求項25に記載の方法。
  35. 前記第1および第2の縦型ホール素子は、前記円のまわりに180度離れて配置される、請求項21に記載の方法。
  36. 前記複数の縦型ホール素子の中から第3および第4の縦型ホール素子を選択するステップであって、
    前記第3の縦型ホール素子は、複数のセットのコンタクトの中から選択される第3の選択されたセットのコンタクトを有し、前記第4の縦型ホール素子は、前記複数のセットのコンタクトの中から選択される第4の選択されたセットのコンタクトを有し、
    前記第3および第4の縦型ホール素子は、第3および第4の縦型ホール素子の出力信号を個別に生成するように構成され、
    前記第3の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第3の外部磁場成分および第3のオフセット成分を有し、
    前記第4の縦型ホール素子の出力信号は、前記外部磁場に反応する第4の外部磁場成分および第4のオフセット成分を有する、ステップと、
    前記第3および第4の縦型ホール素子の出力信号をともに組み合わせて、補償する信号を生成するステップとをさらに含む、請求項20に記載の方法。
  37. 第3の1つまたは複数の電流信号を、前記第3の選択されたセットのコンタクトの第3の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップと、
    第4の1つまたは複数の電流信号を、前記第4の選択されたセットのコンタクトの第4の選択された1つまたは複数のコンタクトに供給するステップと、
    前記複数の縦型ホール素子のまわりで順序付けて、補償する順序付けられた信号を生成するために、前記第3および第4の縦型ホール素子を、前記複数の縦型ホール素子の異なるものとして選択するステップと、
    前記強め合う順序付けられた信号を表す第1の信号と前記補償する順序付けられた信号を表す第2の信号を組み合わせるステップとをさらに含む、請求項36に記載の方法。
  38. 予め定めた位相調節を、前記強め合う順序付けられた信号または前記補償する順序付けられた信号の選択された1つに適用して、前記第1の信号または前記第2の信号の単一の信号を生成するステップをさらに含む、請求項37に記載の方法。
JP2016563878A 2014-01-14 2014-12-23 円形に配置された複数の縦型ホール素子のオフセット成分を減少させるための回路および方法 Active JP6513701B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/155,047 2014-01-14
US14/155,047 US9547048B2 (en) 2014-01-14 2014-01-14 Circuit and method for reducing an offset component of a plurality of vertical hall elements arranged in a circle
PCT/US2014/072042 WO2015108683A1 (en) 2014-01-14 2014-12-23 Circuit and method for reducing an offset component of a plurality of vertical hall elements arranged in a circle

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2017504041A true JP2017504041A (ja) 2017-02-02
JP2017504041A5 JP2017504041A5 (ja) 2018-01-11
JP6513701B2 JP6513701B2 (ja) 2019-05-15

Family

ID=52345578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016563878A Active JP6513701B2 (ja) 2014-01-14 2014-12-23 円形に配置された複数の縦型ホール素子のオフセット成分を減少させるための回路および方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9547048B2 (ja)
EP (1) EP3090271B1 (ja)
JP (1) JP6513701B2 (ja)
KR (1) KR102293942B1 (ja)
WO (1) WO2015108683A1 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9547048B2 (en) * 2014-01-14 2017-01-17 Allegro Micosystems, LLC Circuit and method for reducing an offset component of a plurality of vertical hall elements arranged in a circle
DE102016110611B4 (de) 2016-06-09 2024-05-02 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung mit einer Hall-Struktur mit einer vergrößerten Signalamplitude
DE102016110612B4 (de) 2016-06-09 2024-05-02 Elmos Semiconductor Se Verfahren zum Betrieb einer Hall-Struktur mit vergrößerter Signalamplitude
DE102016110613B4 (de) 2016-06-09 2024-05-02 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Ansteuerung einer Hall-Struktur mit vergrößerter Signalamplitude
CN108072850B (zh) * 2016-11-09 2020-06-12 爱盛科技股份有限公司 磁场感测装置
JP6841692B2 (ja) * 2017-03-13 2021-03-10 エイブリック株式会社 磁気センサ回路
CN111134676B (zh) * 2019-12-30 2022-09-27 上海联影医疗科技股份有限公司 无线充电系统的控制方法
US11802922B2 (en) 2021-01-13 2023-10-31 Allegro Microsystems, Llc Circuit for reducing an offset component of a plurality of vertical hall elements arranged in one or more circles
US11761985B2 (en) 2021-02-09 2023-09-19 Analog Devices International Unlimited Company Calibration using flipped sensor for highly dynamic system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090121707A1 (en) * 2007-06-04 2009-05-14 Melexis Nv Magnetic field orientation sensor
JP2010528305A (ja) * 2007-05-29 2010-08-19 エコール ポリテクニーク フェデラル デ ラウサンネ 面内の磁界の方向を測定する磁界センサ
JP2011516873A (ja) * 2008-04-08 2011-05-26 エコール ポリテクニーク フェデラレ デ ローザンヌ (イーピーエフエル) 平面内の磁界方向を測定する磁界センサ及び電流センサ
WO2012170126A1 (en) * 2011-06-08 2012-12-13 Allegro Microsystems, Inc. Arrangements for self-testing a circular vertical hall (cvh) sensing element and/or for self-testing a magnetic field sensor that uses a circular vertical hall (cvh) sensing element

Family Cites Families (122)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5855688A (ja) 1981-09-28 1983-04-02 Kawasaki Heavy Ind Ltd 金属水素化物を利用した蓄熱システム
DE3346646A1 (de) 1983-12-23 1985-07-04 Standard Elektrik Lorenz Ag, 7000 Stuttgart Magnetfeldsensor
CH669068A5 (de) 1986-04-29 1989-02-15 Landis & Gyr Ag Integrierbares hallelement.
US4761569A (en) 1987-02-24 1988-08-02 Sprague Electric Company Dual trigger Hall effect I.C. switch
JP2833964B2 (ja) 1993-06-28 1998-12-09 日本電気株式会社 折畳型携帯電話機
US5541506A (en) 1993-10-28 1996-07-30 Nippondenso Co., Ltd. Rotational position detector having initial setting function
DE4431703C2 (de) * 1994-09-06 1997-01-30 Itt Ind Gmbh Deutsche Magnetfeldsensor mit Hallelement
JPH0888425A (ja) 1994-09-19 1996-04-02 Fujitsu Ltd ホール効果磁気センサおよび薄膜磁気ヘッド
JPH08105707A (ja) 1994-10-06 1996-04-23 Nippondenso Co Ltd 回転位置検出装置
US5844411A (en) 1995-05-31 1998-12-01 Borg-Warner Automotive, Inc. Diagnostic detection for hall effect digital gear tooth sensors and related method
US5572058A (en) * 1995-07-17 1996-11-05 Honeywell Inc. Hall effect device formed in an epitaxial layer of silicon for sensing magnetic fields parallel to the epitaxial layer
DE59609089D1 (de) * 1995-10-30 2002-05-23 Sentron Ag Zug Magnetfeldsensor und Strom- oder Energiesensor
US5621319A (en) 1995-12-08 1997-04-15 Allegro Microsystems, Inc. Chopped hall sensor with synchronously chopped sample-and-hold circuit
US6525531B2 (en) 1996-01-17 2003-02-25 Allegro, Microsystems, Inc. Detection of passing magnetic articles while adapting the detection threshold
US6100680A (en) 1996-01-17 2000-08-08 Allegro Microsystems, Inc. Detecting the passing of magnetic articles using a transducer-signal detector having a switchable dual-mode threshold
US6232768B1 (en) 1996-01-17 2001-05-15 Allegro Microsystems Inc. Centering a signal within the dynamic range of a peak detecting proximity detector
US5694038A (en) 1996-01-17 1997-12-02 Allegro Microsystems, Inc. Detector of passing magnetic articles with automatic gain control
US6297627B1 (en) 1996-01-17 2001-10-02 Allegro Microsystems, Inc. Detection of passing magnetic articles with a peak-to-peak percentage threshold detector having a forcing circuit and automatic gain control
US5619137A (en) 1996-02-12 1997-04-08 Allegro Microsystems, Inc. Chopped low power magnetic-field detector with hysteresis memory
JP3835486B2 (ja) 1996-09-09 2006-10-18 アーエムエス インターナショナル アーゲー ホール装置のオフセット電圧を減少させる方法
US5831513A (en) 1997-02-04 1998-11-03 United Microelectronics Corp. Magnetic field sensing device
DE69822030T2 (de) 1997-04-28 2004-08-12 Allegro Microsystems, Inc., Worcester Detektion von sich vorbeibewegenden magnetischen Gegenständen mit einem Schwellwertdetektor, wobei der Schwellwert ein prozentualer Anteil der Spitzenwerte ist
WO1998054547A1 (en) 1997-05-29 1998-12-03 Laboratorium Für Physikalische Elektronik Magnetic rotation sensor
DE19738836A1 (de) 1997-09-05 1999-03-11 Hella Kg Hueck & Co Induktiver Winkelsensor
DE19738834A1 (de) 1997-09-05 1999-03-11 Hella Kg Hueck & Co Induktiver Winkelsensor für ein Kraftfahrzeug
US6064202A (en) * 1997-09-09 2000-05-16 Physical Electronics Laboratory Spinning current method of reducing the offset voltage of a hall device
US6064199A (en) 1998-02-23 2000-05-16 Analog Devices, Inc. Magnetic field change detection circuitry having threshold establishing circuitry
EP0954085A1 (de) * 1998-04-27 1999-11-03 Roulements Miniatures S.A. Senkrechter Hallsensor und bürstenloser Elektromotor mit einem senkrechten Hallsensor
EP1129495B1 (en) 1998-07-02 2006-08-23 Austria Mikro Systeme International (AMS) Integrated hall device
US6356741B1 (en) 1998-09-18 2002-03-12 Allegro Microsystems, Inc. Magnetic pole insensitive switch circuit
US6265864B1 (en) 1999-02-24 2001-07-24 Melexis, N.V. High speed densor circuit for stabilized hall effect sensor
DE19943128A1 (de) 1999-09-09 2001-04-12 Fraunhofer Ges Forschung Hall-Sensoranordnung zur Offset-kompensierten Magnetfeldmessung
JP4936299B2 (ja) * 2000-08-21 2012-05-23 メレクシス・テクノロジーズ・ナムローゼフェンノートシャップ 磁場方向検出センサ
US7110378B2 (en) 2000-10-03 2006-09-19 Wisconsin Alumni Research Foundation Channel aware optimal space-time signaling for wireless communication over wideband multipath channels
EP1260825A1 (de) * 2001-05-25 2002-11-27 Sentron Ag Magnetfeldsensor
JP3775257B2 (ja) 2001-07-30 2006-05-17 アイシン精機株式会社 角度センサ
DE10150955C1 (de) 2001-10-16 2003-06-12 Fraunhofer Ges Forschung Vertikaler Hall-Sensor
DE10150950C1 (de) 2001-10-16 2003-06-18 Fraunhofer Ges Forschung Kompakter vertikaler Hall-Sensor
KR100564866B1 (ko) 2002-03-22 2006-03-28 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤 각도 검출 장치 및 각도 검출 시스템
US7259556B2 (en) * 2002-08-01 2007-08-21 Melexis Technologies Sa Magnetic field sensor and method for operating the magnetic field sensor
DE50215023D1 (de) * 2002-09-10 2011-06-01 Melexis Tessenderlo Nv Magnetfeldsensor mit einem hallelement
DE10313642A1 (de) * 2003-03-26 2004-10-14 Micronas Gmbh Offset-reduzierter Hall-sensor
WO2005029106A1 (de) 2003-08-22 2005-03-31 Sentron Ag Sensor für die detektion der richtung eines magnetfeldes in einer ebene
JP2005241269A (ja) 2004-02-24 2005-09-08 Aisin Seiki Co Ltd 角度センサ
US6995606B2 (en) * 2004-05-27 2006-02-07 Allegro Microsystems, Inc. High pass filter using insulated gate field effect transistors
JP4792215B2 (ja) 2004-09-09 2011-10-12 トヨタ自動車株式会社 内燃機関の制御装置
EP1637898A1 (en) 2004-09-16 2006-03-22 Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. Continuously calibrated magnetic field sensor
DE102004057163B3 (de) 2004-11-26 2006-08-03 A. Raymond & Cie Anordnung zum dichten Abdecken eines Trägerteils im Bereich einer Ausnehmung
US7518414B2 (en) * 2004-12-13 2009-04-14 Allegro Microsystems, Inc. Track-and-hold peak detector circuit
US7053674B1 (en) * 2004-12-13 2006-05-30 Allegro Microsystems, Inc. Track-and-hold peak detector circuit
EP1679524A1 (en) 2005-01-11 2006-07-12 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne Epfl - Sti - Imm - Lmis3 Hall sensor and method of operating a Hall sensor
SE529125C2 (sv) 2005-03-02 2007-05-08 Tetra Laval Holdings & Finance Sätt och anordning för att bestämma läget hos ett förpackningsmaterial med magnetiska markeringar
DE102005014509B4 (de) 2005-03-30 2007-09-13 Austriamicrosystems Ag Sensoranordnung und Verfahren zur Bestimmung eines Drehwinkels
US20070105244A1 (en) 2005-11-04 2007-05-10 Nikon Corporation Analytical apparatus, processing apparatus, measuring and/or inspecting apparatus, exposure apparatus, substrate processing system, analytical method, and program
KR100734389B1 (ko) 2005-12-08 2007-07-02 한국전자통신연구원 궤환 정보를 이용한 부호어 재전송/복호 방법 및 송수신장치
US7362094B2 (en) 2006-01-17 2008-04-22 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for magnetic article detection
US7714570B2 (en) 2006-06-21 2010-05-11 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for an analog rotational sensor having magnetic sensor elements
DE102006037226B4 (de) 2006-08-09 2008-05-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Im Messbetrieb kalibrierbarer magnetischer 3D-Punktsensor
US7425821B2 (en) * 2006-10-19 2008-09-16 Allegro Microsystems, Inc. Chopped Hall effect sensor
JP4858837B2 (ja) 2006-10-26 2012-01-18 株式会社デンソー 回転角度検出装置
DE102007029817B9 (de) * 2007-06-28 2017-01-12 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensor und Verfahren zur Kalibration eines Magnetfeldsensors
DE102007036984A1 (de) 2007-07-06 2009-01-08 Austriamicrosystems Ag Messverfahren, Sensoranordnung und Messsystem
WO2009088767A2 (en) 2008-01-04 2009-07-16 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for an angle sensor
US7605647B1 (en) * 2008-04-29 2009-10-20 Allegro Microsystems, Inc. Chopper-stabilized amplifier and magnetic field sensor
JP2010014607A (ja) 2008-07-04 2010-01-21 Aisin Seiki Co Ltd 回転角検出装置
JP5105201B2 (ja) 2008-07-30 2012-12-26 Tdk株式会社 角度検出装置、及び角度検出方法
CN102171588A (zh) 2008-08-05 2011-08-31 Mr技术公司 差分梯度测量磁力计、系统及其使用方法
JP2010078366A (ja) 2008-09-24 2010-04-08 Aisin Seiki Co Ltd 角度検出装置
US20100156397A1 (en) 2008-12-23 2010-06-24 Hitoshi Yabusaki Methods and apparatus for an angle sensor for a through shaft
US8022692B2 (en) 2009-01-19 2011-09-20 Allegro Microsystems, Inc. Direction detection sensor
US7990209B2 (en) * 2009-06-19 2011-08-02 Allegro Microsystems, Inc. Switched capacitor notch filter
WO2011011479A1 (en) * 2009-07-22 2011-01-27 Allegro Microsystems, Inc. Circuits and methods for generating a diagnostic mode of operation in a magnetic field sensor
JP2011038855A (ja) 2009-08-07 2011-02-24 Tdk Corp 磁気センサ
JP2011203243A (ja) 2010-03-02 2011-10-13 Yamaha Corp 磁気データ処理装置、方法及びプログラム
DE102010010560B3 (de) 2010-03-05 2011-09-01 Walter Mehnert Verfahren zur Ermittlung des Feinpositionswertes eines bewegbaren Körpers
US8416014B2 (en) * 2010-03-12 2013-04-09 Allegro Microsystems, Inc. Switched capacitor notch filter with fast response time
US8564285B2 (en) * 2010-07-28 2013-10-22 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with improved differentiation between a sensed magnetic field signal and a noise signal
US8896303B2 (en) * 2011-02-08 2014-11-25 Infineon Technologies Ag Low offset vertical Hall device and current spinning method
US8829900B2 (en) * 2011-02-08 2014-09-09 Infineon Technologies Ag Low offset spinning current hall plate and method to operate it
US9062990B2 (en) * 2011-02-25 2015-06-23 Allegro Microsystems, Llc Circular vertical hall magnetic field sensing element and method with a plurality of continuous output signals
US8786279B2 (en) * 2011-02-25 2014-07-22 Allegro Microsystems, Llc Circuit and method for processing signals generated by a plurality of sensors
US8860410B2 (en) * 2011-05-23 2014-10-14 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for processing a signal generated by a plurality of measuring devices
DE102011107767A1 (de) * 2011-07-15 2013-01-17 Micronas Gmbh Hallsensor
US8988072B2 (en) * 2011-07-21 2015-03-24 Infineon Technologies Ag Vertical hall sensor with high electrical symmetry
US9007060B2 (en) * 2011-07-21 2015-04-14 Infineon Technologies Ag Electronic device with ring-connected hall effect regions
US8922206B2 (en) * 2011-09-07 2014-12-30 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensing element combining a circular vertical hall magnetic field sensing element with a planar hall element
US8922207B2 (en) * 2011-11-17 2014-12-30 Infineon Technologies Ag Electronic device comprising hall effect region with three contacts
US9046383B2 (en) * 2012-01-09 2015-06-02 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods that use magnetic field sensors to identify positions of a gear shift lever
US9201122B2 (en) * 2012-02-16 2015-12-01 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods using adjustable feedback for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor with an adjustable time constant
US9312472B2 (en) * 2012-02-20 2016-04-12 Infineon Technologies Ag Vertical hall device with electrical 180 degree symmetry
US9182456B2 (en) * 2012-03-06 2015-11-10 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing rotation of an object
US8937797B2 (en) * 2012-03-19 2015-01-20 Allegro Microsystems, Llc Method and apparatus to detect a broken wire condition in an integrated circuit
US9007054B2 (en) * 2012-04-04 2015-04-14 Allegro Microsystems, Llc Angle sensor with misalignment detection and correction
US10215550B2 (en) * 2012-05-01 2019-02-26 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensors having highly uniform magnetic fields
US8981504B2 (en) * 2012-06-22 2015-03-17 Infineon Technologies Ag Vertical hall sensor with series-connected hall effect regions
US9274183B2 (en) * 2012-06-22 2016-03-01 Infineon Technologies Ag Vertical hall device comprising first and second contact interconnections
US9817083B2 (en) * 2012-07-05 2017-11-14 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and associated methods for removing undesirable spectral components
US9018948B2 (en) * 2012-07-26 2015-04-28 Infineon Technologies Ag Hall sensors and sensing methods
US8963540B2 (en) * 2012-09-07 2015-02-24 Sensima Technology Sa Hall-effect-based angular orientation sensor and corresponding methods and devices
US8749005B1 (en) * 2012-12-21 2014-06-10 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and method of fabricating a magnetic field sensor having a plurality of vertical hall elements arranged in at least a portion of a polygonal shape
US9606190B2 (en) * 2012-12-21 2017-03-28 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor arrangements and associated methods
US9417295B2 (en) * 2012-12-21 2016-08-16 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for processing signals generated by a circular vertical hall (CVH) sensing element in the presence of a multi-pole magnet
US9252354B2 (en) * 2013-01-29 2016-02-02 Infineon Technologies Ag Vertical hall device with highly conductive opposite face node for electrically connecting first and second hall effect regions
US9548443B2 (en) * 2013-01-29 2017-01-17 Allegro Microsystems, Llc Vertical Hall Effect element with improved sensitivity
US9377285B2 (en) * 2013-02-13 2016-06-28 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and related techniques that provide varying current spinning phase sequences of a magnetic field sensing element
US9389060B2 (en) * 2013-02-13 2016-07-12 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and related techniques that provide an angle error correction module
US9099638B2 (en) * 2013-03-15 2015-08-04 Allegro Microsystems, Llc Vertical hall effect element with structures to improve sensitivity
US9733106B2 (en) * 2013-05-24 2017-08-15 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor to detect a magnitude of a magnetic field in any direction
WO2014189733A1 (en) * 2013-05-24 2014-11-27 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for detecting a magnetic field in any direction above thresholds
US9400164B2 (en) * 2013-07-22 2016-07-26 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and related techniques that provide an angle correction module
CN106164691B (zh) * 2013-09-06 2020-04-07 罗伯特·博世有限公司 低偏移和高灵敏度垂直霍尔效应传感器
GB201315964D0 (en) * 2013-09-06 2013-10-23 Melexis Technologies Nv Magnetic field orientation sensor and angular position sensor using same
US10120042B2 (en) * 2013-12-23 2018-11-06 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and related techniques that inject a synthesized error correction signal into a signal channel to result in reduced error
US9574867B2 (en) * 2013-12-23 2017-02-21 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and related techniques that inject an error correction signal into a signal channel to result in reduced error
US9547048B2 (en) * 2014-01-14 2017-01-17 Allegro Micosystems, LLC Circuit and method for reducing an offset component of a plurality of vertical hall elements arranged in a circle
US9645220B2 (en) * 2014-04-17 2017-05-09 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor using phase discrimination
DE202014004425U1 (de) * 2014-04-28 2014-09-12 Infineon Technologies Ag Halleffekt-Sensoranordnung
US9753097B2 (en) * 2014-05-05 2017-09-05 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and associated methods with reduced offset and improved accuracy
US9448288B2 (en) * 2014-05-20 2016-09-20 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with improved accuracy resulting from a digital potentiometer
US9671474B2 (en) * 2014-10-03 2017-06-06 Infineon Technologies Ag Three 3-contact vertical hall sensor elements connected in a ring and related devices, systems, and methods
US9766303B2 (en) * 2014-11-18 2017-09-19 Infineon Technologies Ag Systems and arrangements of three-contact hall-effect devices and related methods
US9638766B2 (en) * 2014-11-24 2017-05-02 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with improved accuracy resulting from a variable potentiometer and a gain circuit

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010528305A (ja) * 2007-05-29 2010-08-19 エコール ポリテクニーク フェデラル デ ラウサンネ 面内の磁界の方向を測定する磁界センサ
US20090121707A1 (en) * 2007-06-04 2009-05-14 Melexis Nv Magnetic field orientation sensor
JP2011516873A (ja) * 2008-04-08 2011-05-26 エコール ポリテクニーク フェデラレ デ ローザンヌ (イーピーエフエル) 平面内の磁界方向を測定する磁界センサ及び電流センサ
WO2012170126A1 (en) * 2011-06-08 2012-12-13 Allegro Microsystems, Inc. Arrangements for self-testing a circular vertical hall (cvh) sensing element and/or for self-testing a magnetic field sensor that uses a circular vertical hall (cvh) sensing element

Also Published As

Publication number Publication date
EP3090271B1 (en) 2018-02-14
KR102293942B1 (ko) 2021-08-26
WO2015108683A1 (en) 2015-07-23
US9547048B2 (en) 2017-01-17
KR20160110393A (ko) 2016-09-21
EP3090271A1 (en) 2016-11-09
US20150198677A1 (en) 2015-07-16
JP6513701B2 (ja) 2019-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6513701B2 (ja) 円形に配置された複数の縦型ホール素子のオフセット成分を減少させるための回路および方法
US9182250B2 (en) Circular vertical hall magnetic field sensing element and method with a plurality of continuous output signals
US9574867B2 (en) Magnetic field sensor and related techniques that inject an error correction signal into a signal channel to result in reduced error
US9400164B2 (en) Magnetic field sensor and related techniques that provide an angle correction module
US9389060B2 (en) Magnetic field sensor and related techniques that provide an angle error correction module
US10120042B2 (en) Magnetic field sensor and related techniques that inject a synthesized error correction signal into a signal channel to result in reduced error
US9377285B2 (en) Magnetic field sensor and related techniques that provide varying current spinning phase sequences of a magnetic field sensing element
EP3213099B1 (en) Magnetic field sensor and electronic circuit that pass amplifier current through a magnetoresistance element
US8786279B2 (en) Circuit and method for processing signals generated by a plurality of sensors
US10777345B2 (en) Spin valve with bias alignment
US20120299588A1 (en) Circuits and Methods for Processing a Signal Generated by a Plurality of Measuring Devices
US10712403B2 (en) Magnetic field sensor and electronic circuit that pass amplifier current through a magnetoresistance element
US10386427B1 (en) Magnetic field sensor having at least two CVH elements and method of operating same
US11953565B2 (en) Electrical offset compensating in a bridge using more than four magnetoresistance elements
US9684042B2 (en) Magnetic field sensor with improved accuracy and method of obtaining improved accuracy with a magnetic field sensor
US11802922B2 (en) Circuit for reducing an offset component of a plurality of vertical hall elements arranged in one or more circles
US11609283B2 (en) Electrical offset compensating in a magnetoresistance bridge

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171122

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171122

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180920

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180926

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181219

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190402

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190410

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6513701

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250