JP2017500654A - ３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース - Google Patents

３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース Download PDF

Info

Publication number
JP2017500654A
JP2017500654A JP2016540803A JP2016540803A JP2017500654A JP 2017500654 A JP2017500654 A JP 2017500654A JP 2016540803 A JP2016540803 A JP 2016540803A JP 2016540803 A JP2016540803 A JP 2016540803A JP 2017500654 A JP2017500654 A JP 2017500654A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dimensional
inspection object
user interface
graphic user
display area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016540803A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6167242B2 (ja
Inventor
ジョンキ ジョン、
ジョンキ ジョン、
Original Assignee
コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド filed Critical コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド
Publication of JP2017500654A publication Critical patent/JP2017500654A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6167242B2 publication Critical patent/JP6167242B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30—Circuit design
    • G06F30/39—Circuit design at the physical level
    • G06F30/398—Design verification or optimisation, e.g. using design rule check [DRC], layout versus schematics [LVS] or finite element methods [FEM]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302—Contactless testing
    • G01R31/308—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
    • G01R31/309—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation of printed or hybrid circuits or circuit substrates
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/048—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/048—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
    • G06F3/0481—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] based on specific properties of the displayed interaction object or a metaphor-based environment, e.g. interaction with desktop elements like windows or icons, or assisted by a cursor's changing behaviour or appearance
    • G06F3/04815—Interaction with a metaphor-based environment or interaction object displayed as three-dimensional, e.g. changing the user viewpoint with respect to the environment or object
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/048—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
    • G06F3/0484—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] for the control of specific functions or operations, e.g. selecting or manipulating an object, an image or a displayed text element, setting a parameter value or selecting a range
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30—Circuit design
    • G06F30/31—Design entry, e.g. editors specifically adapted for circuit design
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0815—Controlling of component placement on the substrate during or after manufacturing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N2021/95638—Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2115/00—Details relating to the type of the circuit
    • G06F2115/12—Printed circuit boards [PCB] or multi-chip modules [MCM]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Processing Or Creating Images (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • User Interface Of Digital Computer (AREA)

Abstract

【課題】本発明は３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースを提供する。【解決手段】前記グラフィックユーザインタフェースは基板上の検査対象体の３次元実測データに基づいて前記検査対象体の３次元実測画面をディスプレイする実測画面ディスプレイ領域と、キャドデータ上の前記検査対象体の寸法、前記３次元実測データ上の検査対象体の寸法及び前記３次元実測データに基づいた前記検査対象体の勧奨寸法を表示する寸法設定ディスプレイ領域を含み、前記実測画面ディスプレイ領域には前記キャドデータ上の前記検査対象体の寸法に基いて前記検査対象体の第１輪郭線と前記３次元実測データに基いて前記検査対象体の第２輪郭線が前記検査対象体の３次元実測画面にオーバラップされて表示される。【選択図】図２

Description

本発明は３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースに関わり、より詳細には、部品の３次元実測画面上に３次元基板検査装置に予め貯蔵されている基準寸法情報上の部品寸法に基いた部品輪郭線と実測データに基いて求められた部品輪郭線をオーバラップしてディスプレイし、勧奨寸法情報をディスプレイして使用者が基準寸法情報を容易にアップデートできるようにするグラフィックユーザインタフェースに関する。
最近、ＰＣＢ（Printed Circuit Board）は電子技術の発達で高集積渡部品を実装するために小型化されつつあり、ＰＣＢは集積度を高める基本要素としてその重要性が高くなっている。
このような、ＰＣＢの品質保障のためにビージョン機能を通じたマウント不良検査装備である自動検査機（ＡＯＩ、Automated Optical Inspector）は必修的な装備として指定されたプログラムを基盤にして作業を遂行する。前記自動光学検査機は３次元イメージデータを有して部品のリードがＰＣＢと正常的に付着されているかを検査する装備である。
前記自動光学検査機は検査結果をモニタリングできるディスプレイを含むが、使用者が前記ディスプレイを通じて検査結果を容易に確認し、検査条件を便利に設定するためには使用者中心のグラフィックユーザインタフェースが要求される。
前記技術的課題を解決するために、本発明は検査対象体の３次元実測イメージに予め貯蔵された基準寸法情報による輪郭線と実測輪郭線をオーバラップして表示し、使用者が基準寸法情報を勧奨寸法に容易にアップデートできるようにする３次元基盤検査装置のグラフィックユーザインタフェースを提供することをその目的とする。
本発明の目的は以上で言及したのに制限されなく、言及されていないさらに他の目的は下記の記載から本発明が属する施術分野の通常知識を有した者に明確に理解される。
前記課題を解決するための本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースは基板上の検査対象体の３次元実測データに基いて前記検査対象体の３次元実測画面をディスプレイする実測画面ディスプレイ領域、及び前記検査対象体の前記３次元実測データと前記基板検査装置に予め貯蔵された前記検査対象体の基準寸法情報に基いて前記検査対象体の寸法情報をディスプレイする寸法情報ディスプレイ領域を含み、前記実測画面ディスプレイ領域には前記基準寸法情報に基いた前記検査対象体の第１輪郭線と前記３次元実測データに基づいた前記検査対象体の第２輪郭線が前記検査対象体の３次元実測画面にオーバラップされて表示される。
前記寸法情報ディスプレイ領域は前記基準寸法情報を表示するための基準寸法表示領域、前記３次元実測データを表示するための実測寸法表示領域及び前記検査対象体の勧奨寸法情報を表示するための勧奨寸法表示領域を含んでいても良い。
前記第１輪郭線または前記第２輪郭線の横、縦または高さのうちいずれか一つの位置で所定入力が入力されると、前記横、縦または高さのうちいずれか一つに対応する勧奨寸法情報を前記予め貯蔵された前記検査対象体の基準寸法情報に変更するためのアップデートが自動に設定されてもよい。
前記寸法情報ディスプレイ領域は前記勧奨寸法情報を前記予め貯蔵された前記検査対象体の基準寸法情報にアップデートするための設定メニューが表示されてもよい。
前記検査対象体は前記基板上に実装される部品または前記部品のリードであってもよい。
前記第１輪郭線及び第２輪郭線は前記検査対象体の横、縦及び高さ線のうち少なくとも一つを含んでいても良い。
前記第１輪郭線及び第２輪郭線は互いに異なる色相で表示されてもよい。
前記キャドデータ上の前記検査対象体の部品寸法に対する前記３次元実測データ上の検査対象体の寸法の比率が予め設定された値の範囲を外れる場合前記勧奨寸法は前記寸法設定ディスプレイ領域上で区別して表示されてもよい。
前記実測画面ディスプレイ領域上で前記検査対象体の３次元実測画面は入力値によってＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸のうち一つで回転可能であるようにディスプレイされてもよい。
前記３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースは基準値設定メニューを含み、前記基準値設定メニューが選択されると、前記寸法情報ディスプレイはポップアップ窓の形態に表示されてもよい。
前記第１輪郭線または前記第２輪郭線にポインタが位置すると、前記位置での検査対象体の横、縦及び高さ値のうち少なくとも一つが表示されてもよい。前記３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースを具現するための命令語を含むプログラムは記録媒体に貯蔵されてもよい。
本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースによると使用者の部品の３次元実測画像上で基準寸法情報上の寸法と実測寸法との間の差異を容易に確認することができ、また、３次元基板検査装置に予め貯蔵された基準寸法情報を勧奨寸法に容易にアップデートできるようにすることで使用者の便宜性が増大される。
本発明の効果は以上で言及したのに制限されず、言及されていないまた他の効果は下記の記載から本発明が属する技術分野の通常の知識を有した者に明確に理解されるだろう。
本発明の実施形態によるグラフィックユーザインタフェースを提供するための３次元基板検査装置の構成図である。 本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースを示す図面である。
本発明の目的及び効果、それからそれを達成するための技術的な構成は添付される図面と共に詳細に後で説明される実施形態を参照すると明確になる。本発明を説明するにおいて公知機能または構成に対する具体的な説明が本発明の要旨を不必要に濁すと判断される場合にはその詳細な説明を省略する。また、後で説明される用語は本発明での構造、役割及び機能などを考慮して定義された用語としてこれは使用者、運用者の意図または慣例などによって異なっても良い。
しかし、本発明は以下で開示される実施形態に限定されるものでなく互いに異なる多様な形態に具現されてもよい。ただ、本実施形態は本発明の開示が完全であるようにし、本発明が属する技術分野で通常の知識を有した者に発明の範疇を完全に知らせるために提供されるのであり、本発明は特許請求範囲に記載された請求項の範疇によって定義されるだけである。よって、その定義は本明細書全般に渡る内容に基づくべきである。
本発明の目的及び効果、またそれを達成するための技術的構成は添付される図面と共に詳細に後から説明される実施形態を参照すると明確となる。本発明を説明することにおいて公知機能または構成に対する具体的な説明が本発明の要旨を不必要に濁すと判断される場合にはその詳細な説明を省略する。また、後から説明される用語は本発明においての構造、役割及び機能などを考慮して定義された用途であってこれは使用者、運用者の意図または慣例などによって異なっても良い。
しかし、本発明は以下で開示される実施形態に限定されるのではなく互いに異なる多様な形態に具現されてもよい。ただ、本実施形態は本発明の開示が完全であるようにし、本発明が属する技術分野で通常の知識を有した者に発明の範疇を完全に知らせるために提供されるのであり、本発明は特許請求範囲に記載された請求項の範疇によって定義されるだけである。よって、その定義は本明細書全般に渡る内容に基づくべきである。
明細書全体において、ある部分がある構成要素を“含む”とする時は、それは特別に反対される記載がない限り他の構成要素を除くのではなく他の構成要素をさらに含めることを意味する。また、明細書に記載された“．．．ユニット”、“．．部”などの用語は少なくとも一つの機能や動作を処理する単位を意味し、これはハードウェアやソフトウェアまたはハードウェア及びソフトウェアの結合で具現されてもよい。
また、添付されたブロック図の各ブロックと流れ図の各段階の組合はコンピュータプログラムインストラクションによって遂行されてもよい。これらコンピュータプログラムインストラクションは汎用コンピュータ、特殊用コンピュータまたはその他のプログラム実行の可能であるデータプロセシング装備のプロセスに搭載されてもよい。また、コンピュータまたはその他のプログラムの実行が可能であるデータプロセシング装備のプロセスを通じて遂行されるそのインストラクションがブロック図の各ブロックまたは流れ図の各段階において説明された機能を遂行する手段を生成するようになる。
また、各ブロックまたは各段階は特定された論理的機能を実行するための一つ以上の実行可能なインストラクションを含むモジュール、セグメントまたはコードの一部を示すことができる。例えば、続いて示される２つのブロックまたは段階は実質的に同時に遂行されることも可能でありまたそのブロックまたは段階が時時該当する機能に従って逆順に遂行されることも可能である。
枚最初全体において、ある部分がある構成用語を“含む”とする時、これは特別に反対される記載のないある他の構成要素を除くのでなく他の構成要素をさらに含むことができるということを意味する。
以下、図面を参照して本発明の好適な一実施形態をより詳細に説明する。
以下、図面を参照して本発明の好適な一実施形態をより詳細に説明する。
図１は本発明の実施形態によるグラフィックユーザインタフェースを提供するための３次元基板検査装置の構成図であり、図２は本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースを示す図面である。
前記図１を参照すると、３次元基板検査装置１００は基板検査装置１００の作動を制御し各種機能を遂行するための演算を処理する制御部１１０と、検査対象である基板を移送及び搭載して固定するステージ部１２０、前記ステージ部１２０に搭載された基板に対して検査を遂行するための測定部１３０と基板検査装置１００を駆動するためのプログラム及びデータを貯蔵するメモリー部１４０、基板検査装置１００の作動状態及び検査結果などを出力するためのディスプレイ部１５０及び使用者の命令の入力を受けるための使用者インタフェース部１６０などを含んでいても良い。前記プログラムはグラフィックユーザインタフェースを構成するための命令語を含み、前記プログラムの実行によってグラフィックユーザインタフェースが前記ディスプレイ部１５０を通じてディスプレイされてもよい。
前記３次元基板検査装置１００の検査対象体は基板に実装される部品または前記部品のリードであってもよい。
以下では本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィック使用者のインタフェースの構成を中心として説明し、前記グラフィックユーザインタフェースで表示される各種情報及びデータは前記３次元基板検査装置１００で処理されるのでそれに対する説明は省略する。また、説明の便宜のために検査対象体は基板に実装される部品と仮定して説明する。
図２を参照すると、本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース２００は基板に実装される部品の３次元実測データに基いて生成された前記検査対象体の３次元実測画面をディスプレイする実測画面ディスプレイ領域２１０を含む。
また、前記グラフィックユーザインタフェース２００は前記部品の前記３次元実測データと前記基板検査装置１００に予め貯蔵された前記検査対象体の基準寸法情報に基いて前記検査対象体の寸法情報をディスプレイする寸法情報ディスプレイ領域２２０を含む。前記予め貯蔵された前記検査対象体の基準寸法情報は実測値と比較するための基準値として、例えば、基板検査装置１００に予め貯蔵されたキャドデータから求められる。
前記実測画面ディスプレイ領域上で前記検査対象体の３次元実測画面は入力値によってＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸のうち一つで回転可能であるようにディスプレイされる。従って、使用者インタフェース部１６０を通じて前記Ｘ軸、Ｙ軸及びＺ軸のうち一つへの回転に対する命令が入力されると前記実測画面は前記命令に従って３次元上で回転してディスプレイされる。
前記図２に示されたように、前記実測画面ディスプレイ領域２１０には部品の３次元実測画面２１１が拡大されてディスプレイされる。この際、前記実測画面ディスプレイ領域２１０には前記基準寸法情報に基づいた前記部品の第１輪郭線２１２と前記３次元実測データに基づいた前記部品の第２輪郭線２１３が前記部品の３次元実測画面にオーバラップされて表示される。
前記第１輪郭線２１２及び第２輪郭線２１３はそれぞれ前記検査対象体の横、縦及び高さ線のうち少なくとも一つを含み、前記図２に示されたように、横線、縦線及び高さ線を全部含んでディスプレイされてもよい。この際、図２に示されたように、使用者が前記第１輪郭線２１２と第２輪郭線２１３を容易に識別できるようにするために前記第１輪郭線２１２と前記第２輪郭線２１３は互いに異なる色相で区分されるように表示できる。
前記第１輪郭線２１２と前記第２輪郭線２１３が前記部品の３次元実測画面にオーバラップされて表示されることで、使用者は基準寸法情報上の部品の大きさと実測上の部品の大きさが相異であることを肉眼を通じて容易に識別することができる。
一方、前記寸法情報ディスプレイ領域２２０は前記基準寸法情報を表示するための基準寸法表示領域２２１、前記３次元実測データを表示するための実測寸法表示領域２２２及び前記検査対象体の勧奨寸法情報を表示するための勧奨寸法表示領域２２３を含む。
前記勧奨寸法は前記実測データ上の部品寸法を基盤にして予め設定されたアルゴリズムによって前記制御部１２０によって計算できる。
前記予め貯蔵された基準寸法情報は前記部品の座標値に対応される部品の大きさ情報など設計情報を含む。この際、前記基準寸法情報を前記勧奨寸法情報にアップデートするために前記寸法ディスプレイ領域２００は前記勧奨寸法を前記基準寸法情報に適用して前記基準寸法情報をアップデートするための選択メニュー２２４を含んでいても良い。
この際、前記寸法ディスプレイ領域２００で使用者が選択メニュー２２４を通じて適用可否を選択し最終的に適用Ａを選択すると前記基準寸法情報上の部品寸法の基準値が変更できる。使用者の便宜のために、使用者インタフェース１６０を用いてディスプレイ部１５０上の画面で、ポインターを移動させられるように構成し、前記第１輪郭線２１２または前記第２輪郭線２１３の横、縦または高さのうちいずれか一つの位置で所定入力が入力されると、前記横、縦または高さのうちいずれか一つに対応する勧奨寸法情報を前記予め貯蔵された前記検査対象体の基準寸法情報へのアップデートが自動に設定されるように構成することができる。
前記修正入力は前記使用者インタフェース１６０がマウスを含む場合ダブルクリックのような入力値であってもよく、前記ディスプレイ部１５０がタッチスクリンで構成される場合、前記横、縦または高さのうちいずれか一つに対応される位置での画面タッチのような入力であってもよい。これは一つの例示に過ぎないものであってそれに局限されない。この際、使用者によって修正入力が入力されると、前記使用者選択メニュー２２４上で自動に適用が選択されて表示されるように構成されてもよい。
また、本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース２００は基準値設定メニュー２３０を含み、前記基準値設定メニュー２３０が選択されると、前記寸法ディスプレイ領域２２０がポップアップ窓の形態に表示されるようにグラフィックユーザインタフェースを構成する。
一方、使用者は使用者インタフェース１５０を用いてディスプレイ部１５０上の画面で、ポインターを移動させられるが、前記第１輪郭線２１２または前記第２輪郭線２１３にポインターが位置すると、前記位置での部品の横、縦及び高さ値のうち少なくとも一つが表示されるように構成することができる。
一方、前記基準寸法情報上の前記検査対象体の部品寸法に対する前記３次元実測データ上の検査対象体の寸法の比率が予め設定された範囲を外れる場合、それは基準寸法情報上の部品寸法と実測データ上の部品寸法の偏差が基準値を超過するのを意味するので、それに対して使用者が詳細に確認する必要性が存在する。
従って、この場合使用者がそれを容易に認識するようにするために前記寸法ディスプレイ領域上で該当勧奨寸法は他の勧奨寸法と区別されるように表示され、図２に示されたように、前記勧奨寸法のみ背景の色を異なるようにして表示されてもよい。
前記で説明した本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースを具現するための命令語を含むプログラムはコンピュータ判読可能媒体に記録されてもよい。前記コンピュータ前記コンピュータ判読可能媒体はプログラム命令、データファイル、データ構造などを単独または組合して含んでいても良い。前記媒体に記録されるプログラム命令は本発明のために特別に設計され構成されたのであるかコンピュータソフトウェア、当業者に公知されて使用可能であってもよい。コンピュータ判読可能記録媒体の例にはハードディスク、フロッピーディスク及び磁気テープのような磁気媒体（magnetic media）、 ＣＤ-ＲＯＭ、ＤＶＤのような光記録媒体（optical media）、フロプティカルディスクのような磁気-光媒体（magneto-optical media）、及びロム（ＲＯＭ）、ラム（ＲＡＭ）、フレッシュメモリなどのようなプログラム命令を貯蔵し遂行するように特別に構成されたハードウェア装置が含まれる。プログラム命令の例としてはコンパイラーによって作られるようなマシンコードだけではなくインタープリターなどを使用してコンピュータによって実行できる高級言語コードを含む。
本発明の実施形態による３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースによると使用者が部品の３次元実測画像上でキャドデータ上の寸法と実測寸法との間の差異を容易に確認することができ、また実測寸法に基いてキャドデータ上の基準値を容易に設定することができ３次元基板検査装置の使用者の便宜性が増大される。
以上、本発明の実施形態によって詳細に説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を有する者であれば、本発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正または変更できる。

Claims (12)

  1. ３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースにおいて、
    基板上の検査対象体の３次元実測データに基いて前記検査対象体の３次元実測画面をディスプレイする実測画面ディスプレイ領域と、
    前記検査対象体の前記３次元実測データと前記３次元基板検査装置に予め貯蔵されている前記検査対象体の基準寸法情報に基づいて前記検査対象体の寸法情報をディスプレイする寸法情報ディスプレイ領域を含み、
    前記実測画面ディスプレイ領域には前記基準寸法情報に基いた前記検査対象体の第１輪郭線と前記３次元実測データに基づいた前記検査対象体の第２輪郭線が前記検査対象体の３次元実測画面にオーバラップされて表示されることを特徴とする３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  2. 前記寸法情報ディスプレイ領域は前記基準寸法情報を表示するための基準寸法表示領域、前記３次元実測データを表示するための実測寸法表示領域及び前記検査対象体の勧奨寸法情報を表示するための勧奨寸法表示領域を含むことを特徴とする請求項１に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  3. 前記寸法情報ディスプレイ領域は前記勧奨寸法情報を前記予め貯蔵されている前記検査対象体の基準寸法情報にアップデートするための設定メニューが表示されることを特徴とする請求項２に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  4. 前記第１輪郭線または前記第２輪郭線の横、縦または高さのうちいずれか一つの位置で所定入力が入力されると、前記横、縦または高さのうちいずれか一つに対応する勧奨寸法情報を前記予め貯蔵された前記検査対象体の基準寸法情報に変更するためのアップデートが自動に設定されることを特徴とする請求項２に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  5. 前記検査対象体は前記基板上に実装される部品または前記部品のリードであることを特徴とする請求項１に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  6. 前記第１輪郭線及び第２輪郭線は前記検査対象体の横、縦及び高さ線のうち少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項１に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  7. 前記第１輪郭線及び第２輪郭線は互いに異なる色相で表示されることを特徴とする請求項１に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  8. キャドデータ上の前記検査対象体の部品寸法に対する前記３次元実測データ上の検査対象体の寸法の比率が予め設定された値の範囲を外れる場合、勧奨寸法は寸法設定ディスプレイ領域上で区別して表示されることを特徴とする請求項１に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  9. 前記実測画面ディスプレイ領域上で前記検査対象体の３次元実測画面は入力値によってＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸のうち一つで回転可能であるようにディスプレイされることを特徴とする請求項１に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  10. 前記３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースは基準値設定メニューを含み、
    前記基準値設定メニューが選択されると、前記寸法情報ディスプレイ領域はポップアップ窓の形態に表示されることを特徴とする請求項１に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  11. 前記第１輪郭線または前記第２輪郭線にポインタが位置すると、前記位置での検査対象体の横、縦及び高さ値のうち少なくとも一つが表示されることを特徴とする請求項１に記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース。
  12. 第１項乃至第１１項のうちいずれか一つに記載の３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェースを具現するための命令語を含むプログラムが貯蔵された記録媒体。
JP2016540803A 2013-09-03 2014-09-03 ３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース Active JP6167242B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2013-0105389 2013-09-03
KR1020130105389A KR101457040B1 (ko) 2013-09-03 2013-09-03 3차원 기판검사장치의 그래픽 유저 인터페이스
PCT/KR2014/008220 WO2015034244A1 (ko) 2013-09-03 2014-09-03 3차원 기판검사장치의 그래픽 유저 인터페이스

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017500654A true JP2017500654A (ja) 2017-01-05
JP6167242B2 JP6167242B2 (ja) 2017-07-19

Family

ID=51999084

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016540803A Active JP6167242B2 (ja) 2013-09-03 2014-09-03 ３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10025898B2 (ja)
EP (1) EP3043248B1 (ja)
JP (1) JP6167242B2 (ja)
KR (1) KR101457040B1 (ja)
CN (1) CN104823143B (ja)
WO (1) WO2015034244A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021187003A1 (ja) * 2020-03-19 2021-09-23 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 検査システム、検査結果の表示方法および表示プログラム

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016137130A1 (ko) * 2015-02-27 2016-09-01 주식회사 고영테크놀러지 기판 검사 방법 및 시스템
KR101784276B1 (ko) 2015-02-27 2017-10-12 주식회사 고영테크놀러지 기판 검사 방법 및 시스템
CN208678394U (zh) 2015-06-30 2019-04-02 株式会社高永科技 物品检查装置
KR101794964B1 (ko) * 2015-07-17 2017-11-07 주식회사 고영테크놀러지 검사 시스템 및 검사 방법
KR101750521B1 (ko) * 2015-07-27 2017-07-03 주식회사 고영테크놀러지 기판 검사 장치 및 방법
TWI602256B (zh) * 2016-05-18 2017-10-11 財團法人工業技術研究院 自動封裝產線、封裝方法及封裝系統
FR3054914B1 (fr) * 2016-08-03 2021-05-21 Vit Procede d'inspection optique d'un objet
KR101970335B1 (ko) * 2017-09-14 2019-04-18 강수용 인쇄회로기판 제조용 생산 관리 시스템
CN111507056B (zh) * 2020-04-17 2023-04-11 成都寰蓉光电科技有限公司 一种实现元器件管理及共享的pcb设计方法和系统
CN114780188B (zh) * 2022-04-08 2023-09-01 上海迈内能源科技有限公司 网页3d模型顶牌展示方法、系统、终端及存储介质

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10135686A (ja) * 1996-10-25 1998-05-22 Sanyo Electric Co Ltd データ処理装置及び電子部品装着装置
JP2003279333A (ja) * 2002-03-26 2003-10-02 Toshiba Eng Co Ltd 形状計測装置、外観検査装置、寸法検査装置、体積検査装置および変位・変形計測装置
JP2009047458A (ja) * 2007-08-14 2009-03-05 Toray Ind Inc 回路パターン検査装置および検査方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6434264B1 (en) * 1998-12-11 2002-08-13 Lucent Technologies Inc. Vision comparison inspection system
US6542630B1 (en) * 1999-09-14 2003-04-01 Teradyne, Inc. Inspecting component placement relative to component pads
US6825856B1 (en) * 2000-07-26 2004-11-30 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for extracting measurement information and setting specifications using three dimensional visualization
JP4682630B2 (ja) 2005-01-28 2011-05-11 コニカミノルタセンシング株式会社 ３次元計測システム、検査方法およびプログラム
JP2007299167A (ja) 2006-04-28 2007-11-15 Mitsubishi Electric Corp 設計検証装置
CN101526345B (zh) * 2009-03-27 2011-04-06 中建钢构有限公司 铸钢件的检测方法
JP2010237210A (ja) * 2009-03-30 2010-10-21 Koh Young Technology Inc 検査方法
JP2010244406A (ja) 2009-04-08 2010-10-28 Mitsubishi Motors Corp 車両モデル表示方法
KR101078781B1 (ko) * 2010-02-01 2011-11-01 주식회사 고영테크놀러지 3차원 형상 검사방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10135686A (ja) * 1996-10-25 1998-05-22 Sanyo Electric Co Ltd データ処理装置及び電子部品装着装置
JP2003279333A (ja) * 2002-03-26 2003-10-02 Toshiba Eng Co Ltd 形状計測装置、外観検査装置、寸法検査装置、体積検査装置および変位・変形計測装置
JP2009047458A (ja) * 2007-08-14 2009-03-05 Toray Ind Inc 回路パターン検査装置および検査方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021187003A1 (ja) * 2020-03-19 2021-09-23 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 検査システム、検査結果の表示方法および表示プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
EP3043248A1 (en) 2016-07-13
EP3043248A4 (en) 2017-05-03
WO2015034244A1 (ko) 2015-03-12
EP3043248B1 (en) 2024-04-03
KR101457040B1 (ko) 2014-10-31
CN104823143B (zh) 2018-07-20
US20160224718A1 (en) 2016-08-04
US10025898B2 (en) 2018-07-17
JP6167242B2 (ja) 2017-07-19
EP3043248C0 (en) 2024-04-03
CN104823143A (zh) 2015-08-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6167242B2 (ja) ３次元基板検査装置のグラフィックユーザインタフェース
US10509537B2 (en) Display control apparatus, display control method, and program
GB2384869A (en) A graphical user interface system for monitoring a process
US8683360B2 (en) Support device, computer-readable recording medium, design support method and integrated circuit
US10017889B2 (en) Embroidery design connecting data generating apparatus, embroidery design connecting data generating method, recording medium for storing program, and sewing system
US20200042284A1 (en) Augmented reality audio mixing
US10542650B2 (en) Data processing device providing status information to be used by board working machine
CN101932981B (zh) 使包括一工件的一个自动化设备可视化的方法及装置
KR20030085616A (ko) 회로기판 검사장치용 자동티칭방법
US20150032419A1 (en) Plc designing apparatus
JP2007012037A5 (ja)
JP6233034B2 (ja) 基板解析プログラム、情報処理装置及び基板解析方法
KR20150017421A (ko) 3차원 기판검사장치의 그래픽 유저 인터페이스
KR20170103573A (ko) 생산설계 사전 검증을 위한 사용자 인터페이스 생성장치 및 방법
US20140092088A1 (en) Providing a three-dimensional view that includes a plurality of systems engineering models
US10838395B2 (en) Information processing device
CN103677550A (zh) 一种信息处理方法及电子设备
JP6322631B2 (ja) 組み込みソフトウェアの開発方法、プログラミング装置および組み込み機器
KR101399473B1 (ko) 다중 프로세싱을 이용한 렌더링 처리 장치 및 방법
CN111052070B (zh) 用户接口开发支持装置与方法以及计算机可读记录介质
US8711177B1 (en) Generation, display, and manipulation of measurements in computer graphical designs
JP5733269B2 (ja) プログラム生成を支援する方法及びプログラム生成を支援する装置
US20030098889A1 (en) Systems and methods for manipulating a graphical display of a printed circuit board model for an automated x-ray inspection system
JP7342519B2 (ja) 車両の検査システム
JP6795568B2 (ja) トレース装置及びプログラマブルコントローラ

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170425

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170530

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170626

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6167242

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250