JP2017227783A - 光源装置、投影装置、光源制御方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】同時に発光駆動する複数の発光素子の中で、不点灯状態となる素子が現出した場合にその内容に応じて対処すること。
【解決手段】同時に発光駆動される複数の発光素子を含む光源部15と、複数の発光素子の駆動時に、複数の発光素子のうちの一部の発光素子の光学損傷とそのタイプとを検出する温度センサ18、照度センサ19及び投影処理部13と、検出した光学損傷のタイプに基づき、複数の発光素子への供給電力を制御するＣＰＵ20及び投影処理部13とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、半導体発光素子アレイを光源に使用するプロジェクタ等に好適な光源装置、投影装置、光源制御方法及びプログラムに関する。

複数の光源のいずれかに短絡故障が生じても、適切な輝度を提供することを可能とするべく、短絡故障した光源を特定し、特定した光源への電流供給を停止した上で、特定されなかった他の光源の数に応じた電流を供給するよう制御する技術が提案されている。（例えば、特許文献１）

特開２０１５−０７９５６６号公報

上記特許文献に記載された技術は、並列接続された複数の半導体光源を個別にスイッチング制御して駆動する回路に対して提案されたものである。

一般に半導体発光素子、例えばＬＤ（レーザダイオード、半導体レーザ）を含む広義でのＬＥＤ（発光ダイオード）を複数接続して同時に点灯させる場合、可能な限り直列接続した上で、抵抗や能動素子で定電流制御した回路を１単位とし、この単位回路を並列に電源に接続する必要がある。

この種の光源装置においては、近年の高出力化に伴って、ＣＯＤ（Ｃａｔａｓｔｒｏｐｈｉｃ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｄａｍａｇｅ：光学損傷）が発生する率が上がってきている。ＣＯＤの発生した状態、すなわち直列接続された素子中の一部が、電流は流れているものの、発光していない状態において、同様の負荷駆動状態を維持すると、やがて当該素子が完全に破壊されてオープン状態となり、直列接続されている全発光素子が不点灯となる。

加えて、上記ＣＯＤは、電流は流れているが発光していない状態の総称であり、具体的に損傷の度合いによって正確な対処方法が異なることが分かってきた。

この種の光源装置を用いる投影装置において、同時に発光駆動される複数の発光素子がすべて不点灯となった場合、正しい色成分のカラー画像の投影が不可能となるため、投影動作を停止させることとなる。

本発明は上記のような実情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、同時に発光駆動する複数の発光素子の中で、不点灯状態となる素子が現出した場合にその内容に応じて対処することが可能な光源装置、投影装置、光源制御方法及びプログラムを提供することにある。

本発明の一態様は、同時に発光駆動される複数の発光素子と、上記複数の発光素子の駆動時に、上記複数の発光素子のうちの一部の発光素子の光学損傷とそのタイプとを検出する検出部と、上記検出部で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電力を制御する電力制御部と、を備えることを特徴とする。

本発明によれば、同時に発光駆動する複数の発光素子の中で、不点灯状態となる素子が現出した場合にその内容に応じて対処することが可能となる。

本発明の一実施形態に係るプロジェクタ装置の概略的な機能構成を示すブロック図。 同実施形態に係る光学系の構成を例示する図。 同実施形態に係る青色光を発するＬＤアレイの外観構成を示す斜視図。 同実施形態に係る第１の動作例の処理内容を示すフローチャート。 同実施形態に係る第２の動作例の処理内容を示すフローチャート。

以下本発明をＤＬＰ（登録商標）（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｌｉｇｈｔ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）方式のプロジェクタ装置に適用した場合の一実施形態について図面を参照して説明する。

［構成］
図１は、本実施形態に係るプロジェクタ装置１０の概略機能構成を示す図である。入力部１１は、例えばＨＤＭＩ（登録商標）（Ｈｉｇｈ−Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ Ｍｕｌｔｉｍｅｄｉａ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）端子、ピンジャック（ＲＣＡ）タイプのビデオ入力端子、Ｄ−ｓｕｂ１５タイプのＲＧＢ入力端子などにより構成される。入力部１１に入力された各種規格の画像信号は、入力部１１で必要に応じてデジタル化された後に、バスＢを介して画像変換部１２に送られる。

画像変換部１２は、スケーラとも称され、入力される画像データをこのプロジェクタ装置１０での投影に適した所定のフォーマットの画像データに統一して投影処理部１３へ送る。

投影処理部１３は、送られてきた画像データに応じて、所定のフォーマットに従ったフレームレート、例えば６０［フレーム／秒］と色成分の分割数、及び表示階調数を乗算した、より高速な時分割駆動によりマイクロミラー素子１４を表示するべく駆動する。

このマイクロミラー素子１４は、アレイ状に配列された複数、例えばＷＸＧＡ（Ｗｉｄｅ ｅＸｔｅｎｄｅｄ Ｇｒａｐｈｉｃ Ａｒｒａｙ）（横１２８０画素×縦８００画素）分の微小ミラーの各傾斜角度を個々に高速でオン／オフ動作して画像を表示することで、その反射光により光像を形成できる。

一方で、光源部１５から時分割でＲ，Ｇ，Ｂの原色光を含む複数色の光が循環的に時分割で順次出射される。この光源部１５からの光が、ミラー１６で全反射して上記マイクロミラー素子１４に照射される。
そして、マイクロミラー素子１４での反射光で光像が形成され、形成された光像が投影レンズ部１７を介して、投影対象となる図示しないスクリーンに投影表示される。

上記光源部１５内の、同時に発光駆動される複数のＬＤ（レーザダイオード/半導体レーザ）アレイに対して温度センサ１８が取付けられ、その温度検出結果が上記バスＢを介して後述するＣＰＵ２０に送出される。

また、上記光源部１５の出力した光源光の発光量を検出するべく、照度センサ１９が光学系路中に配設され、その照度検出結果が上記バスＢを介して後述するＣＰＵ２０に送出される。

なお、後述する光源部１５内の各発光素子への電力調整等の制御は、ＣＰＵ２０の制御の下に上記投影処理部１３が実行する。投影処理部１３は、ＣＰＵ２０の制御を受けて光源部１５内の発光素子の駆動状態に応じた電力調整等を行なう。
上記投影処理部１３、マイクロミラー素子１４、光源部１５、ミラー１６、投影レンズ部１７、温度センサ１８、及び照度センサ１９を含んで投影系ＰＳを構成する。

上記各回路の動作すべてをＣＰＵ２０が制御する。このＣＰＵ２０は、メインメモリ２１及びプログラムメモリ２２と直接接続される。メインメモリ２１は、例えばＳＲＡＭで構成され、ＣＰＵ２０のワークメモリとして機能する。プログラムメモリ２２は、電気的に書換可能な不揮発性メモリで構成され、ＣＰＵ２０が実行する動作プログラムや各種定型データ等を記憶する。ＣＰＵ２０は、上記メインメモリ２１及びプログラムメモリ２２を用いて、このプロジェクタ装置１０内の制御動作を実行する。

上記ＣＰＵ２０は、操作部２３からのキー操作信号に応じて各種投影動作を実行する。
この操作部２３は、プロジェクタ装置１０の本体に設けられるキー操作部と、このプロジェクタ装置１０専用のリモートコントローラ（不図示）からの赤外光を受光する赤外線受光部とを含み、ユーザが本体のキー操作部またはリモートコントローラで操作したキーに基づくキー操作信号をＣＰＵ２０へ直接出力する。

上記ＣＰＵ２０はさらに、上記バスＢを介して音声処理部２４とも接続される。音声処理部２４は、ＰＣＭ音源等の音源回路を備え、投影動作時に与えられる音声データをアナログ化し、スピーカ部２５を駆動して拡声放音させ、あるいは必要によりビープ音等を発生させる。

図２により上記光源部１５を２種類の半導体発光素子を用いて構成した場合の光学系の構成について説明する。
光源部１５は、まず第１の半導体発光素子として、青色のレーザ光を発する半導体発光素子であるＬＤアレイ３１を有する。
図３に示すように、このＬＤアレイ３１は、例えば４×２（図２の図面鉛直方向）の計８個のＬＤがアレイ状に配列され、計８個のＬＤが直列接続されて発光駆動される。ＬＤアレイ３１を構成する個々のＬＤの各駆動電流は、上記投影処理部１３により制御される。

このＬＤアレイ３１の発光面とは異なる裏面側略中央に、上記温度センサ１８が配設され、ＬＤアレイ３１で発する熱量を検知している。

このＬＤアレイ３１が発する青色（Ｂ）のレーザ光は、ＬＤアレイ３１と対向するべく階段状に配列されたミラーアレイ３２で９０°の角度で反射され、レンズ３３，３４で集光されて平行な光束とされた後、ダイクロイックミラー３５を透過し、レンズ３６，３７を介して光源の一部としてのカラーホイール３８の周面に照射される。

カラーホイール３８は、回転駆動部であるモータ（Ｍ）３９の駆動により回転するもので、周面に透過用拡散板（色フィルタ）３８ｂと蛍光体層（色フィルタ）３８ｇとを領域を分割して配置している。

カラーホイール３８の蛍光体層３８ｇがある周面位置には、ＬＤアレイ３１からのレーザ光が照射される面に蛍光体が塗布されて蛍光層を形成すると共に、蛍光体層３８ｇが形成されている面の裏面には反射板が蛍光体層と重なるように設けられている。

ＬＤアレイ３１からのレーザ光の光路上に上記カラーホイール３８の蛍光体層３８ｇがある場合、当該蛍光体層３８ｇは青色のレーザ光の照射により励起され、緑色の光を発する。

カラーホイール３８から発した緑色光（Ｇ）は、蛍光体層３８ｇの裏面側に形成された上記反射板により一様に上記レンズ３６，３７側に導かれ、上記ダイクロイックミラー３５で反射される。

ダイクロイックミラー３５で反射された緑色光は、レンズ４１を介してダイクロイックミラー４２で反射された後、レンズ４３を介し、インテグレータ４４を通って輝度分布が均一な光束とされる。インテグレータ４４を出射した緑色光は、さらにレンズ４５を介してミラー４６で反射され、レンズ４７を介して上記ミラー１６で反射された後にレンズ４８を介して上記マイクロミラー素子１４に照射される。

なお、上記ミラー４６の裏面側には上記照度センサ１９が設けられ、ミラー４６で反射されなかった僅かな漏れ光の光量を検出する。

そして、このマイクロミラー素子１４からの上記投影レンズ部１７方向への反射光で光像が形成されるもので、当該光像は上記レンズ４８を介して上記投影レンズ部１７により投影対象の図示しないスクリーン等に照射される。

また、上記ＬＤアレイ３１からのレーザ光の光路上に上記カラーホイール３８の透過用拡散板３８ｂがある場合、当該拡散板３８ｂを介して拡散しつつ透過した青色光（Ｂ）は、レンズ５０を介してミラー５１で反射され、レンズ５２を介してさらにミラー５３で反射された後に、上記ダイクロイックミラー４２を透過し、レンズ４３を介してインテグレータ４４を通って輝度分布が均一な光束とされる。インテグレータ４４を出射した青色光は、さらにレンズ４５を介してミラー４６で反射され、レンズ４７を介して上記ミラー１６に至る。

さらに光源部１５は、第２の半導体発光素子として、赤色光を発する半導体発光素子であるＬＥＤ（発光ダイオード）５５を有する。このＬＥＤ５５の駆動電流も、上記投影処理部１３により制御される。
ＬＥＤ５５が発する赤色光は、レンズ５６，５７を介して、上記ダイクロイックミラー３５を透過し、上記レンズ４１を介して上記ダイクロイックミラー４２で反射された後、レンズ４３を介してインテグレータ４４を通って輝度分布が均一な光束とされる。インテグレータ４４を出射した赤色光は、さらにレンズ４５を介してミラー４６で反射され、レンズ４７を介して上記ミラー１６に至る。

［動作］
次に、上記実施形態の動作について説明する。
なお本実施形態では、赤色光を発するＬＥＤ５５よりも、青色光を発するＬＤアレイ３１を構成する個々のＬＤの方が、アレイ構造であることを含めて熱的負荷が大きく、発光／発振部位のＣＯＤ（以下「光学損傷」と称する）の可能性が高いものと想定している。

上記光学損傷の状態にあっては、当該素子は導通を維持しており、直列接続される他のＬＤの点灯を妨げることはないものの、光学損傷したそのＬＤ自体は不点灯となる。この光学損傷の状態では、大別して静的光学損傷タイプとも称すべき「ショートモード」と、動的光学損傷タイプとも称すべき「発熱モード」のいずれかのモード状態を取り得る。

以下、光学損傷のタイプ別の発生を「ショートモード」及び「発熱モード」のいずれかとして表現するものとする。

ショートモードにあるＬＤは、発光しない状態で、抵抗にならず、電力もほとんど消費せず、熱も発生しないが、ショートモードのＬＤが存在することでＬＤアレイ３１全体の駆動電圧が低下する。

一方の発熱モードにあるＬＤは、発光しない状態で、抵抗になって、光出力に変換されない電力が発熱となって消費されるが、発熱モードのＬＤが存在することでＬＤアレイ３１全体の駆動電圧は変化しない。

（第１の動作例）
上記ショートモードあるいは発熱モードいずれかの光学損傷が発生した状態からさらに定常時と同様にＬＤアレイ３１の点灯を継続する場合、ＬＤアレイ３１を構成する個々のＬＤの設計度に余裕を持って設計されていないＬＤアレイ３１では、光学損傷を起こしたＬＤが短時間のうちに不点灯状態のまま断線してオープン状態となり、結果として直列接続されているＬＤアレイ３１全体が消灯することになる。

図４は、ＣＰＵ２０の制御により光源部１５内のＬＤアレイ３１に対して実行する、光学損傷に対処する第１の処理内容を抽出して示すフローチャートである。
ここでは、時分割駆動される光源部１５のＬＤアレイ３１とＬＥＤ５５に関して、説明を簡易にするために駆動タイミングの概念を排除して説明を行なうが、本来は画像フレームを構成する複数のフィールド、例えばＲＧＢの原色フィールドのみで画像を投影する場合であれば、Ｒ（赤色画像）フィールドにＬＥＤ５５が、Ｇ（緑色画像）フィールド及びＢ（青色画像）フィールドにＬＤアレイ３１がそれぞれ時分割で発光駆動される。

したがって、図４は、ＣＰＵ２０がＧ（緑色画像）フィールド及びＢ（青色画像）フィールドにおけるＬＤアレイ３１に対して実行する処理を示す。

その処理当初にＣＰＵ２０は、照度センサ１９の検知出力によりＬＤアレイ３１の発光量を検出した上で（ステップＳ１０１）、発光量の低下が生じているか否かにより、ＬＤアレイ３１を構成するＬＤに光学損傷が発生していないかどうかを判断する（ステップＳ１０２）。

ここで発光量の低下が生じておらず、ＬＤアレイ３１を構成するＬＤには光学損傷が発生していないと判断すると（ステップＳ１０２のＮｏ）、ＣＰＵ２０は再び上記ステップＳ１０１からの処理に戻る。

こうしてステップＳ１０１，１０２の処理を繰返し実行することで、ＬＤアレイ３１の発光タイミングに合わせて、ＣＰＵ２０は常に光学損傷が発生していないかどうかを監視している。

上記ステップＳ１０２において、発光量の低下が生じており、ＬＤアレイ３１を構成するＬＤに光学損傷が発生していると判断した場合（ステップＳ１０２のＹｅｓ）、次にＣＰＵ２０は投影処理部１３により光源部１５内でＬＤアレイ３１の駆動電圧を検出させる（ステップＳ１０３）。

この検出したＬＤアレイ３１の駆動電圧が予め設定した閾値より低いか否かにより、光学損傷がショートモードで発生しているか否かを判断する（ステップＳ１０４）。

ここでＬＤアレイ３１の駆動電圧が閾値より低く、光学損傷がショートモードで発生していると判断した場合（ステップＳ１０４のＹｅｓ）、ＣＰＵ２０は投影処理部１３により光源部１５で、ＬＤアレイ３１の駆動電流を通常の光学損傷が発生していない状態の駆動電流よりも小さい電流値Ａ１まで低下させるように制御させる（ステップＳ１０５）。
これは、発熱モードの場合、ショートモードの場合と比較して、ＬＤアレイ３１の個々のＬＤの発熱量が大きいので、光学損傷が発生しない他のＬＤの明るさは、ショートモードより暗いためである。このため、発熱モードの時の電流値Ａ２は、ショートモードの時の電流値Ａ１より大きい。

また上記ステップＳ１０４において、ＬＤアレイ３１の駆動電圧が閾値より低くなく、光学損傷がショートモードでは発生していないと判断した場合（ステップＳ１０４のＮｏ）、光学損傷は発熱モードで発生していることになるので、ＣＰＵ２０は投影処理部１３により光源部１５で、ＬＤアレイ３１の駆動電流を通常の駆動電流よりは小さいが、上記電流値Ａ１ほどには小さくない電流値Ａ２（Ａ２＞Ａ１）まで低下させるように制御させる（ステップＳ１０６）。

上記ステップＳ１０５，Ｓ１０６いずれかの電流値設定を行なった後にＣＰＵ２０は、ＬＤアレイ３１で光学損傷を発生していることを、例えば投影処理部１３によりマイクロミラー素子１４を表示駆動する画像上に警告メッセージとして重畳させるＯＳＤ（オンスクリーンディスプレイ）投影を実行させることで、このプロジェクタ装置１０のユーザに通知し（ステップＳ１０７）、以上でこの図４の一連の処理を終了する。

上記照度センサ１９を用いた発光量の検出、及びＬＤアレイ３１の駆動電圧の監視は通常一般の投影制御において実行しているルーチンに含まれるものであり、特にＬＤアレイ３１の光学損傷の検出に備えて特別に実行するものではないので、回路装備等を増やすことなく実施が可能である。

また、上記図４の動作では、光学損傷の発生を検出した場合にそのモードに応じて駆動電流を減らすことで、光学損傷を発生しているＬＤが完全に破壊されてオープン状態となって全発光素子の発光が停止するリスクを低減できる。

なお上記光学損傷の発生を検出した場合にＬＤアレイ３１の駆動電流を減らした際には、合わせて光源部１５の赤色高を発するＬＥＤ５５の駆動電流も対応する発光量となるように低下させることで、投影されるカラー画像の色バランスを調整する必要がある。
また、上記第１の動作例においては、照度センサ１９の検知出力によりＬＤアレイ３１の発光量を検出し（ステップＳ１０１）、ＬＤに光学損傷が発生していると判断した場合（ステップＳ１０２のＹｅｓ）、ＬＤアレイ３１の駆動電圧を検出し（ステップＳ１０３）、光学損傷がショートモードで発生しているか否かを判断した（ステップＳ１０４）が、工程はこの順番に限らない。
最初に、ＬＤアレイ３１の駆動電圧を検出し（ステップＳ１０３）、光学損傷がショートモードで発生しているか否かを判断し（ステップＳ１０４）、駆動電圧が閾値以下のショートモードでないと判断された場合（ステップＳ１０４のＮｏ）でも、次に、照度センサ１９の検知出力によりＬＤアレイ３１の発光量を検出する（ステップＳ１０１）ことで、ＬＤに発熱モードの光学損傷が発生しているか否かを判断する（ステップＳ１０２）ことができる。

（第２の動作例）
上記ショートモードあるいは発熱モードいずれかの光学損傷が発生した状態からさらに定常時と同様にＬＤアレイ３１の点灯を継続する場合、ＬＤアレイ３１を構成する個々のＬＤの設計度に予め余裕を持って設計されているＬＤアレイ３１では、光学損傷を起こしたＬＤに変って発光している他のＬＤにより発光量を補う動作とすることも考えられる。

図５は、ＣＰＵ２０の制御により光源部１５内のＬＤアレイ３１に対して実行する、光学損傷に対処する第２の処理内容を抽出して示すフローチャートである。
ここでは、時分割駆動される光源部１５のＬＤアレイ３１とＬＥＤ５５に関して、説明を簡易にするために駆動タイミングの概念を排除して説明を行なうが、本来は画像フレームを構成する複数のフィールド、例えばＲＧＢの原色フィールドのみで画像を投影する場合であれば、Ｒ（赤色画像）フィールドにＬＥＤ５５が、Ｇ（緑色画像）フィールド及びＢ（青色画像）フィールドにＬＤアレイ３１がそれぞれ時分割で発光駆動される。

したがって、図５は、ＣＰＵ２０がＧ（緑色画像）フィールド及びＢ（青色画像）フィールドにおけるＬＤアレイ３１に対して実行する処理を示す。

その処理当初にＣＰＵ２０は、投影処理部１３により光源部１５内でＬＤアレイ３１の駆動電圧を検出させる（ステップＳ２０１）。

この検出したＬＤアレイ３１の駆動電圧が予め設定した閾値より低いか否かにより、ショートモードでの光学損傷が発生しているか否かを判断する（ステップＳ２０２）。

ここでＬＤアレイ３１の駆動電圧が閾値より低くなく、少なくともショートモードでの光学損傷は発生していないと判断した場合（ステップＳ２０２のＮｏ）、次にＣＰＵ２０は温度センサ１８によりＬＤアレイ３１の温度を検出する（ステップＳ２０３）。

ここで検出したＬＤアレイ３１の温度を予め設定した閾値と比較することで、定常の投影動作時に比して明らかに上昇しているか否か、すなわち発熱モードでの光学損傷が発生しているか否かを判断する（ステップＳ２０４）。

ここでＬＤアレイ３１の温度が定常の投影動作時に比して特に上昇しておらず、発熱モードでの光学損傷も発生していないと判断した場合（ステップＳ２０４のＮｏ）、ＣＰＵ２０は上記ステップＳ２０１からの処理に戻る。

こうしてステップＳ２０１〜Ｓ２０４の処理を繰返し実行し、ショートモードと発熱モードいずれかの光学損傷が検出されるのを待機する。

上記ステップＳ２０２において、ＬＤアレイ３１の駆動電圧が閾値より低く、ショートモードでの光学損傷が発生したと判断した場合（ステップＳ２０２のＹｅｓ）、次にＣＰＵ２０は投影処理部１３により光源部１５で、ＬＤアレイ３１の駆動電流を通常の光学損傷が発生していない状態の駆動電流より大きい電流値Ａ３まで上昇させるように制御させる（ステップＳ２０５）。

また上記ステップＳ２０４において、ＬＤアレイ３１の温度が定常の投影動作時に比して著しく上昇しており、発熱モードでの光学損傷が発生していると判断した場合（ステップＳ２０４のＹｅｓ）、ＣＰＵ２０は投影処理部１３により光源部１５で、ＬＤアレイ３１の駆動電流を通常の光学損傷が発生していない状態の駆動電流より大きく、さらに上記電流値Ａ３よりも大きい電流値Ａ４まで上昇させるように制御させる（ステップＳ２０６）。
発熱モードの場合、ショートモードの場合と比較して、ＬＤアレイ３１の個々のＬＤの発熱量が大きいので、光学損傷が発生しない他のＬＤの明るさは、ショートモードより暗い。このため、発熱モードの電流値Ａ４は、ショートモードの電流値Ａ３よりも大きく設定されている。

上記ステップＳ２０５，Ｓ２０６いずれかの電流値設定を行なった後にＣＰＵ２０は、ＬＤアレイ３１で光学損傷を発生していることを、例えば投影処理部１３によりマイクロミラー素子１４を表示駆動する画像上に警告メッセージとして重畳させるＯＳＤ（オンスクリーンディスプレイ）投影を実行させることで、このプロジェクタ装置１０のユーザに通知し（ステップＳ２０７）、以上でこの図５の一連の処理を終了する。

上記温度センサ１８によるＬＤアレイ３１の温度の上昇検出により発熱モードでの光学損傷の発生が、ＬＤアレイ３１の駆動電圧の低下検出によりショートモードでの光学損傷の発生がそれぞれ直接判断できるため、光学損傷のモードに応じた対処をより迅速に開始することができる。

加えて上記第２の動作例では、通常の投影動作時にＬＤアレイ３１の定格電力等の点で比較的余裕を持って駆動しており、光学損傷が橋他と判断した時点でそのモードに応じて電流を上昇させ、他の光学損傷を生じていないＬＤによる発光量を増加させることで、光学損傷を発生したＬＤによる発光量の低下を補い、一方のＬＥＤ５５の発光量を変化させずとも、投影されるカラー画像の色バランスが崩れないような制御を行なうものとした。

なお上記第１及び第２の動作例それぞれで、光学損傷のモードに応じて駆動電流値の増減量を加減する制御を行なう場合について説明したが、これに加えて、光学損傷の発生が判断された状態からは、高電流／高デューティの投影モード、例えばプレゼンテーションで使用するために高輝度を優先して色の再現性を犠牲にするような投影モードでの使用を制限することにより、光学損傷を発生した素子がさらにオープンな状態となって当該色画像の投影が不可能となるリスクを低減できる。

また光学損傷の発生が確認された場合には、その光学損傷を発生した発光素子を用いるような、他の色の発光素子との同時点灯による混色での補色期間の動作を制限し、原色期間の投影動作のみに制限するものとしても良く、上記と同様に光学損傷を発生した素子がさらにオープンな状態となって当該色画像の投影が不可能となるリスクを低減できる。

［効果］
以上詳述した如く本実施形態によれば、同時に発光駆動する複数の発光素子の中で、不点灯状態となる素子が現出した場合にその内容に応じて対処することが可能となる。

また上記実施形態では、ＬＤアレイ３１を構成するＬＤに光学損傷が発生した場合、そのタイプ（モード）に応じて低減または増加させる駆動電流の量を異ならせるものとしたので、発光量を正確に制御することで投影する画像の画質の低減をできうる限り小さく止めることができる。

なお、上記実施形態はＤＬＰ（登録商標）方式のプロジェクタ装置に適用した場合について説明したが、本発明は投影装置やその方式等を限定するものではなく、複数の発光素子を同時に発光駆動するような光源装置であれば、同様に適用することが可能である。

その他、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、上述した実施形態で実行される機能は可能な限り適宜組み合わせて実施しても良い。上述した実施形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件による適宜の組み合せにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、効果が得られるのであれば、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。

以下に、本願出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
［請求項１］
同時に発光駆動される複数の発光素子と、
上記複数の発光素子の駆動時に、上記複数の発光素子のうちの一部の発光素子の光学損傷とそのタイプとを検出する検出部と、
上記検出部で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電力を制御する電力制御部と、
を備えることを特徴とする光源装置。
［請求項２］
上記検出部は、上記複数の発光素子の駆動電力と発光量とから光学損傷とそのタイプとを検出することを特徴とすることを特徴とする請求項１記載の光源装置。
［請求項３］
上記検出部は、上記複数の発光素子の駆動電力と温度変化とから光学損傷とそのタイプとを検出することを特徴とすることを特徴とする請求項１記載の光源装置。
［請求項４］
上記電力制御部は、上記検出部で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電流の増減量を制御することを特徴とする請求項１乃至３いずれか記載の光源装置。
［請求項５］
請求項１乃至４いずれか記載の光源装置と、
上記光源装置から供給される光を用いて光像を形成し、被投影対象に照射して結像させる投影部と、
を備えることを特徴とする投影装置。
［請求項６］
同時に発光駆動される複数の発光素子を備えた装置での光源制御方法であって、
上記複数の発光素子の駆動時に、上記複数の発光素子のうちの一部の発光素子の光学損傷とそのタイプとを検出する検出工程と、
上記検出工程で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電力を制御する電力制御工程と、
を有することを特徴とする光源制御方法。
［請求項７］
同時に発光駆動される複数の発光素子を備えた装置が内蔵したコンピュータが実行するプログラムであって、上記コンピュータを、
上記複数の発光素子の駆動時に、上記複数の発光素子のうちの一部の発光素子の光学損傷とそのタイプとを検出する検出部、及び
上記検出部で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電力を制御する電力制御部、
として機能させることを特徴とするプログラム。

１０…プロジェクタ装置、
１１…入力部、
１２…画像変換部、
１３…投影処理部、
１４…マイクロミラー素子、
１５…光源部、
１６…ミラー、
１７…投影レンズ部、
１８…温度センサ、
１９…照度センサ、
２０…ＣＰＵ、
２１…メインメモリ、
２２…プログラムメモリ、
２３…操作部、
２４…音声処理部、
２５…スピーカ部、
３１…ＬＤアレイ、
３２…ミラーアレイ、
３５…ダイクロイックミラー、
３８…カラーホイール、
３８ｂ…透過用拡散板、
３８ｇ…蛍光体層、
３９…モータ（Ｍ）、
４２…ダイクロイックミラー、
４４…インテグレータ、
４６…ミラー、
Ｂ…バス、
ＰＳ…投影系。

Claims (7)

1. 同時に発光駆動される複数の発光素子と、
   上記複数の発光素子の駆動時に、上記複数の発光素子のうちの一部の発光素子の光学損傷とそのタイプとを検出する検出部と、
   上記検出部で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電力を制御する電力制御部と、
   を備えることを特徴とする光源装置。
2. 上記検出部は、上記複数の発光素子の駆動電力と発光量とから光学損傷とそのタイプとを検出することを特徴とすることを特徴とする請求項１記載の光源装置。
3. 上記検出部は、上記複数の発光素子の駆動電力と温度変化とから光学損傷とそのタイプとを検出することを特徴とすることを特徴とする請求項１記載の光源装置。
4. 上記電力制御部は、上記検出部で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電流の増減量を制御することを特徴とする請求項１乃至３いずれか記載の光源装置。
5. 請求項１乃至４いずれか記載の光源装置と、
   上記光源装置から供給される光を用いて光像を形成し、被投影対象に照射して結像させる投影部と、
   を備えることを特徴とする投影装置。
6. 同時に発光駆動される複数の発光素子を備えた装置での光源制御方法であって、
   上記複数の発光素子の駆動時に、上記複数の発光素子のうちの一部の発光素子の光学損傷とそのタイプとを検出する検出工程と、
   上記検出工程で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電力を制御する電力制御工程と、
   を有することを特徴とする光源制御方法。
7. 同時に発光駆動される複数の発光素子を備えた装置が内蔵したコンピュータが実行するプログラムであって、上記コンピュータを、
   上記複数の発光素子の駆動時に、上記複数の発光素子のうちの一部の発光素子の光学損傷とそのタイプとを検出する検出部、及び
   上記検出部で検出した光学損傷のタイプに基づき、上記複数の発光素子への供給電力を制御する電力制御部、
   として機能させることを特徴とするプログラム。