JP2017224933A - データ受信装置、露光装置および画像形成装置 - Google Patents

Abstract

【課題】差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくする。【解決手段】画素サイズ比較部６４は、画像データ受信部６１により受信された画像データにおける、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、その最初の画素よりも後の画素の画素サイズを比較する。終端抵抗調整部６５は、画素サイズ比較部６４における比較結果に基づいて、差動伝送線路６０の終端抵抗７０の抵抗値を調整する。具体的には、終端抵抗調整部６５は、画素サイズ比較部６４における比較結果において、最初の画素の画素サイズが、その最初の画素よりも後の画素の画素サイズよりも小さい場合、終端抵抗７０の抵抗値が小さくなるように調整する。【選択図】図９

Description

本発明は、データ受信装置、露光装置および画像形成装置に関する。

特許文献１には、エッジ強調部の自己診断を行う自己診断モードにおいて固定画像パターンを発生させて、発生された固定画像パターンを入力信号として入力するようにして、故障個所を判定できるようにした画像処理装置が開示されている。

特許文献２には、差動信号線の終端部に、差動信号線の周波数特性における高周波領域にピーキング特性を有し、この差動信号線の周波数特性を補正するための補正手段が設けられた画像読取装置が開示されている。

特開平７−５８９４９号公報 特開２００５−７２９７６号公報

差動伝送路を介して画像データを伝送するような伝送システムでは、差動伝送路にノンシールドタイプの低コスト伝送路ハーネス等を使用した場合、ハーネスの引き回し状況によって差動伝送路の特性インピーダンスが変化してしまう。

そして、差動伝送路の特性インピーダンスが変化すると、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとに差が発生してしまう場合がある。その結果、差動伝送路を介して伝送した画像のエッジ部分や細線等の再現性が悪化するという問題が発生する可能性がある。

本発明の目的は、差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能なデータ受信装置、露光装置および画像形成装置を提供することである。

［データ受信装置］
請求項１に係る本発明は、差動伝送線路を介して送信されてきた画像データを受信する受信手段と、
前記受信手段により受信された画像データにおける、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、当該最初の画素よりも後の画素の画素サイズを比較する比較手段と、
前記比較手段における比較結果に基づいて、前記差動伝送線路の終端抵抗の抵抗値を調整する調整手段とを備えたデータ受信装置である。

請求項２に係る本発明は、前記調整手段が、前記比較手段における比較結果において、前記最初の画素の画素サイズが、当該最初の画素よりも後の画素の画素サイズよりも小さい場合、前記終端抵抗の抵抗値が小さくなるように調整する請求項１記載のデータ受信装置である。

請求項３に係る本発明は、前記調整手段が、電源投入後の予め定められた時間内に、前記差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を調整する請求項１又は２記載のデータ受信装置である。

請求項４に係る本発明は、前記調整手段が、前記差動伝送線路の状態に変化を及ぼし得る部品が交換された場合に、前記差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を調整する請求項１又は２記載のデータ受信装置である。

請求項５に係る本発明は、前記比較手段が、
予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素のハイレベルの期間と、当該最初の画素よりも後の画素のハイレベルの期間を測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された２つの期間の比を算出する算出手段とを備えた請求項１から４のいずれか１項記載のデータ受信装置である。

請求項６に係る本発明は、前記測定手段が、各画素のハイレベルの期間を、基準クロックのクロック数により測定する請求項５記載のデータ受信装置である。

請求項７に係る本発明は、前記測定手段が、各画素のハイレベルの期間に応じた電圧に変換することにより、各画素のハイレベルの期間を測定する請求項５記載のデータ受信装置である。

［露光装置］
請求項８に係る本発明は、差動伝送線路を介して送信されてきた画像データを受信する受信手段と、
前記受信手段により受信された画像データにおける、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、当該最初の画素よりも後の画素の画素サイズを比較する比較手段と、
前記比較手段における比較結果に基づいて、前記差動伝送線路の終端抵抗の抵抗値を調整する調整手段と、
前記受信手段により受信された画像データに基づいて、感光体に照射する光を制御する制御手段とを備えた露光装置である。

［画像形成装置］
請求項９に係る本発明は、差動伝送線路を介して送信されてきた画像データを受信する受信手段と、
前記受信手段により受信された画像データにおける、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、当該最初の画素よりも後の画素の画素サイズを比較する比較手段と、
前記比較手段における比較結果に基づいて、前記差動伝送線路の終端抵抗の抵抗値を調整する調整手段と、
前記受信手段により受信された画像データに基づいて、感光体に照射する光を制御する制御手段と、
前記制御手段により制御された光により感光体上に形成された潜像を現像することにより得られた画像を記録媒体上に出力する出力手段とを備えた画像形成装置である。

請求項１に係る本発明によれば、差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を固定値とする場合と比較して、差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能なデータ受信装置を提供することができる。

請求項２に係る本発明によれば、差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を固定値とする場合と比較して、差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能なデータ受信装置を提供することができる。

請求項３に係る本発明によれば、電源オフの間に差動伝送路の状態が変化した場合でも、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能なデータ受信装置を提供することができる。

請求項４に係る本発明によれば、差動伝送路の状態に変化を及ぼし得る部品が交換された場合でも、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能なデータ受信装置を提供することができる。

請求項５に係る本発明によれば、差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を固定値とする場合と比較して、差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能なデータ受信装置を提供することができる。

請求項６に係る本発明によれば、差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を固定値とする場合と比較して、差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能なデータ受信装置を提供することができる。

請求項７に係る本発明によれば、差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を固定値とする場合と比較して、差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能なデータ受信装置を提供することができる。

請求項８に係る本発明によれば、差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を固定値とする場合と比較して、差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能な露光装置を提供することができる。

請求項９に係る本発明によれば、差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を固定値とする場合と比較して、差動伝送路を介して画像データを伝送する際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素の画素サイズと、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとの差を少なくすることが可能な画像形成装置を提供することができる。

本発明の一実施形態の画像形成システムの構成を示す図である。 本発明の一実施形態の画像形成装置１０の概略断面図である。 露光装置２７と画像処理装置５０との間が差動伝送路６０により接続されている様子を示す図である。 画像処理装置５０と露光装置２７間において差動伝送路６０により画像データを伝送する際の様子を説明するための図である。 画像処理装置５０と露光装置２７間において差動伝送路６０により画像データを伝送する際の様子を説明するための図である。 終端抵抗７０の抵抗値を固定値とした場合に画像データが伝送される様子を説明するための図である。 同じ期間だけハイレベルの複数画素の画像データを、差動伝送路６０を介して伝送した場合に、最初の１画素目１０１が、後続の２画素目１０２、１０３と比較してハイレベルの期間が短くなる様子を説明するための図である。 １画素幅の細線画像を、差動伝送路６０を介して伝送した場合の様子を説明するための図である。 本発明の一実施形態における画像処理装置５０および露光装置２７の構成を説明するためのブロック図である。 画像処理装置５０において生成されたテストデータにより終端抵抗７０の抵抗値の調整処理を実行する際に使用するエリアを説明するための図である。 図９に示した画素サイズ比較部６４の構成を説明するためのブロック図である。 画素ハイレベル期間測定部７１の構成を説明するためのブロック図である。 画素ハイレベル期間測定部７１により各画素のハイレベルの期間を測定する様子を説明するための図である。 アナログ式に各画素のハイレベル期間を測定する画素ハイレベル期間測定部７１ａの構成を示すブロック図である。 終端抵抗７０の詳細な構成を説明するための図である。 終端抵抗７０の抵抗値の調整が行われた後の画像データの波形例を示す図である。

次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。

図１は本発明の一実施形態の画像形成システムの構成を示すブロック図である。

本発明の一実施形態の画像形成システムは、図１に示されるように、ネットワーク３０により相互に接続された画像形成装置１０、および端末装置２０により構成される。端末装置２０は、印刷データを生成して、ネットワーク３０経由にて生成した印刷データを画像形成装置１０に対して送信する。画像形成装置１０は、端末装置２０から送信された印刷データを受け付けて、印刷データに応じた画像を用紙上に出力する。なお、画像形成装置１０は、印刷（プリント）機能、スキャン機能、複写（コピー）機能、ファクシミリ機能等の複数の機能を有するいわゆる複合機と呼ばれる装置である。

次に、図１に示した本実施形態の画像形成装置１０の概略断面図を図２に示す。画像形成装置１０は、ＵＩ装置１２、画像形成装置本体１４及び画像読取装置１６を有している。

ＵＩ装置１２は、情報を表示する表示装置、及び操作者によってなされる入力を受付ける入力受付装置からなる装置であり、例えば、タッチパネルなどにより構成されている。操作者は、ＵＩ装置１２を介して、操作設定情報を入力することができる。

画像形成装置本体１４は、例えば３段の記録媒体供給カセット１８を有し、これら記録媒体供給カセット１８のそれぞれには供給ヘッド２１が設けられている。

記録媒体供給カセット１８の一つが選択されると、供給ヘッド２１が作動して選択された記録媒体供給カセット１８から記録媒体供給路２２を介して画像形成部２４に供給される。

画像形成部２４は、イエロー、マゼンタ、シアン及びブラックの各色の感光体２６が併設されていると共に、中間転写ベルト２８が設けられている。

各感光体２６の周囲には、露光装置２７、現像装置２９の他に、帯電装置、一次転写装置及びクリーニング装置など（図示せず）が配置され、各感光体２６に形成されたトナー像が中間転写ベルト２８に転写される。露光装置２７は、ＬＥＤやレーザ発光装置から構成され、各感光体２６の露光を行って静電潜像を形成するようになっている。そして、各感光体２６上に形成された静電潜像は、それぞれ現像装置２９によりトナー像として現像され、中間転写ベルト２８上に転写される。

中間転写ベルト２８上のトナー像は、二次転写ロール３１により、送られてきた記録媒体に転写され、定着装置３２により定着され、このトナー像が定着された記録媒体が記録媒体排出路３４を通って排出部３６に排出される。

画像読取装置１６は、原稿が供給される原稿供給部４２と、原稿の画像を読み取る原稿画像読取部４３と、原稿供給部４２から画像読取部４３へと原稿を送り出す原稿送り装置４４と、原稿画像読取部４３で画像を読み取られた原稿を排出する原稿排出部４５とを備えている。

また、画像形成装置本体１４には、画像処理装置５０が設けられている。画像処理装置５０は、端末装置２０等から送信されてきた画像データや、画像読取部４３により読み取られた画像データの画像処理を行っている。

なお、上記で説明した現像装置２９、帯電装置等の構成部材により、露光装置２７から照射された光により感光体２６上に形成された潜像を現像することにより得られた画像を記録媒体上に出力する出力手段が構成されている。

上記で説明した露光装置２７は、画像処理装置５０から画像データを受信して、受信した画像データに基づいて、感光体２６に照射する光を制御している。

そして、露光装置２７と画像処理装置５０との間は、図３で示すように差動伝送路６０により接続されている。この差動伝送路６０は、２本の伝送線間の電圧差に基づいてデータ伝送を行う差動伝送方式により画像データの伝送を行っている。

そして、本実施形態では、この差動伝送路６０は、ノンシールドタイプの低コストの伝送線路ハーネス等が使用されている。そのため、この伝送線路ハーネスの引き回し状況が変化することにより伝送路の特性インピーダンスが変化する可能性がある。

例えば、図３（Ａ）に示すような場合と、図３（Ｂ）に示すような場合では、差動伝送路６０のハーネス状態が変化しているため、特性インピーダンスが変化している可能性がある。

そして、市場において画像処理装置５０や露光装置２７のユニットが交換された場合、差動伝送路６０のハーネス状態は当初の状態から変化してしまう可能性がある。そのため、差動伝送路６０の特性インピーダンスは、画像形成装置１０が出荷された際の値から変化してしまう場合がある。

画像処理装置５０と露光装置２７間において差動伝送路６０により画像データを伝送する際の様子を図４、図５を参照して説明する。

図４に示すように、画像データの送信を行う画像処理装置５０では、画像データ送信部５１により画像データを差動信号に変換して差動伝送路６０に送信している。そして、露光装置２７では、差動伝送路６０を介して送信されてきた差動信号を画像データ受信部６１により受信して画像データに変換して露光装置２７内の他の回路に転送している。

この差動伝送路６０は、Ｐ（ポジティブ）、Ｎ（ネガティブ）の２本の伝送路により構成されており、この２本の伝送路間の電圧差により画像データを伝送している。

なお、露光装置２７内において、差動伝送路６０を終端するための終端抵抗７０が設けられている。そして、差動伝送路６０の２本の伝送路間の電圧は、この終端抵抗７０の値により決定され、例えば、低電圧差動規格の１つであるＬＶＤＳ（Low Voltage Differential Signal）規格では、終端抵抗は１００Ωに規定されている。

また、高速データ送受信システムでは、送受信間においてインピーダンスの整合がとれていることが要求される。そして、一般的に、差動伝送路６０のような分布定数線路では、伝送路のインダクタンス成分がＬ、容量成分がＣの場合、特性インピーダンスＺ₀は、図４に示すように、（Ｌ／Ｃ）^1/2で表現される。

ここで、画像データ送信部５１におけるインピーダンスをＺ₀₁とし、差動伝送路６０の特性インピーダンスをＺ₀₂とし、画像データ受信部６１におけるインピーダンスをＺ₀₃とした場合、Ｚ₀₁≒Ｚ₀₂≒Ｚ₀₃となることが理想的である。

しかし、差動伝送路６０には、図５に示すように、寄生容量Ｃ１〜Ｃ３、インダクタンス成分Ｌ１、Ｌ２等の成分が発生する。そして、図３に示したような差動伝送路６０のハーネス状態の変化に起因して、差動伝送路６０に発生している寄生容量Ｃ１〜Ｃ３、インダクタンス成分Ｌ１、Ｌ２等の値は変化する。

その結果、差動伝送路６０のハーネス状態が変化すると、差動伝送路６０の特性インピーダンスＺ₀₂が変化してしまい、Ｚ₀₁≠Ｚ₀₂≠Ｚ₀₃となってしまうような場合が発生してしまうことになる。

なお、このような場合でも、画像データ送信部５１および画像データ受信部６１におけるインピーダンスは規格値となるように設計されており、差動伝送路６０のハーネス状態により変化しないため、Ｚ₀₁≒Ｚ₀₃となっている。

そして、このようなインピーダンスの不整合が発生すると、差動伝送路６０を介して伝送される画像データに不具合が発生する可能性がある。

本実施形態は、終端抵抗７０の抵抗値を変化させることにより、インピーダンスの不整合により発生する不具合の影響を低減するものであるが、終端抵抗７０の抵抗値を固定値とした場合に画像データが伝送される様子を図６を参照して説明する。

この図６では、画像データ送信部５１の入力信号が差動伝送路６０を介して画像データ受信部６１に伝送される際に、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、この最初の画素よりも後の画素の画素サイズとが異なってしまっている。これは、差動伝送路６０における最初の画素のアイパターンが２画素目以降の画素のアイパターンと異なっていることに起因している。

このような現象が発生するのは、差動伝送路６０の伝送路の電位がしばらく一定の状態であったものが、極性が反対の電位に切り替わる際には、電位が頻繁に切り替わっている場合と比較して、時間がかかるためである。

つまり、図５に示したように、差動伝送路６０のそれぞれの伝送線上には寄生容量Ｃ１〜Ｃ３が発生しており、同一の電位がしばらく続いた場合、この寄生容量Ｃ１〜Ｃ３に充電された電荷を放電させたり、反対に電荷が完全に空の状態の寄生容量Ｃ１〜Ｃ３に電荷を再度充電するために時間を要するからである。

この結果、図７に示すように、同じ期間だけハイレベルの複数画素の画像データを、差動伝送路６０を介して伝送した場合でも、暫くの間ロウレベルの期間後の最初の１画素目１０１は、後続の２画素目１０２、１０３と比較してハイレベルの期間が短くなり、画素サイズが小さくなってしまう。

そのため、終端抵抗７０を固定値にした場合に、例えば、図８（Ａ）に示すような１画素幅の細線画像を、差動伝送路６０を介して伝送すると、図８（Ｂ）に示すように細線画像がさらに細くなってしまうという問題が発生する。

次に、上記で説明したような問題の影響を低減するための本実施形態の構成について、図９を参照して説明する。

図９においても、画像処理装置５０からの画像データは、差動伝送路６０を介してデータ受信装置である露光装置２７に伝送されている。

画像処理装置５０は、図９に示すように、画像データ送信部５１と、画像データ送信部５１の動作を制御している制御部５２とから構成されている。

露光装置２７は、図９に示すように、画像データ受信部６１と、露光装置制御部６２と、照射光制御部６３と、画素サイズ比較部６４と、終端抵抗調整部６５と、終端抵抗７０とから構成されている。

露光装置制御部６２は、画像処理装置５０の制御部５２との間で画像データを伝送するタイミング等の調整を行うとともに、画像データ受信部６１の動作を制御している。

画像データ受信部６１は、差動伝送線路６０を介して画像データ送信部５１から送信されてきた画像データを受信する。

照射光制御部６３は、画像データ受信部６１により受信された画像データに基づいて感光体２６に照射する光の制御を行っている。

画素サイズ比較部６４は、画像データ受信部６１により受信された画像データにおける、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、その最初の画素よりも後の画素の画素サイズを比較する。

終端抵抗調整部６５は、画素サイズ比較部６４における比較結果に基づいて、差動伝送線路６０の終端抵抗７０の抵抗値を調整する。具体的には、終端抵抗調整部６５は、画素サイズ比較部６４における比較結果において、最初の画素の画素サイズが、その最初の画素よりも後の画素の画素サイズよりも小さい場合、終端抵抗７０の抵抗値が小さくなるように調整する。

なお、終端抵抗調整部６５は、差動伝送路６０において画像データが伝送されている間において常に終端抵抗７０の抵抗値の調整を実行しているものではない。

例えば、終端抵抗調整部６５は、電源投入後の予め定められた時間内に、差動伝送路６０の終端抵抗７０の抵抗値を調整する。

または、終端抵抗調整部６５は、差動伝送線路６０の配線状態に変化を及ぼし得る部品が交換された場合に、差動伝送路６０の終端抵抗７０の抵抗値を調整する。例えば、画像処理装置５０や露光装置２７が交換可能なユニットとして構成されており、この画像処理装置５０や露光装置２７のユニットが交換された場合や、差動伝送路６０が配置される周囲の部品が交換された場合に、終端抵抗調整部６５は、終端抵抗７０の抵抗値を調整するようにすることができる。

なお、差動伝送線路６０の配線状態に変化を及ぼし得る部品が交換されたり、電源が投入されたことに起因して終端抵抗７０の抵抗値の調整が行われる場合、画像処理装置５０では、白画素（オフ画素）が予め設定された画素数だけ連続した後に黒画素（オン画素）が連続するような画像データをテストデータとして生成する

そして、露光装置２７では、画像処理装置５０において生成されたテストデータを受信することにより、終端抵抗７０の抵抗値の調整処理を実行する。

なおこの際に、図１０に示すように、露光エリア内の画像エリア外を用いて、終端抵抗７０の調整処理を実行する。

次に、図９に示した画素サイズ比較部６４の構成を図１１のブロック図を参照して説明する。

画素サイズ比較部６４は、図１１に示されるように、画素ハイレベル期間測定部７１と、測定結果保持部７２と、ハイレベル期間比算出部７３とから構成されている。

画素ハイレベル期間測定部７１は、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素のハイレベルの期間と、当該最初の画素よりも後の画素のハイレベルの期間を測定する。

測定結果保持部７２は、画素ハイレベル期間測定部７１により測定された各画素のハイレベルの期間をそれぞれ格納する。

ハイレベル期間比算出部７３は、測定結果保持部７２に格納されている、画素ハイレベル期間測定部７１により測定された最初の画素のハイレベルの期間と、次の画素ハイレベルの期間という２つの期間の比を算出する。

なお、ハイレベル期間比算出部７３は、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素のハイレベル期間と、この最初の画素よりも後の複数の画素のハイレベル期間の平均値とを比較するようにしても良い。例えば、ハイレベル期間比算出部７３は、２番目、３番目の画素のハイレベル期間の平均値と、最初の画素のハイレベル期間との比を算出するようにしても良い。

次に、画素ハイレベル期間測定部７１の構成を図１２のブロック図を参照にして説明する。

画素ハイレベル期間測定部７１は、図１２に示すように、基準クロック生成部８１と、カウンタ８２とから構成されている。

カウンタ８２は、基準クロック生成部８１により生成された一定間隔の基準クロックと、画像データ受信部６１において受信された画像データとを入力して、画像データにおける各画素のハイレベルの期間を、基準クロックのクロック数により測定する。

この画素ハイレベル期間測定部７１により各画素のハイレベルの期間を測定する様子を図１３を参照して説明する。

例えば、画素ハイレベル期間測定部７１におけるカウンタ８２は、図１３に示すように、画像データにおける各画素のハイレベルの期間が、基準クロックの何クロックに相当するかを算出し、その算出結果をカウント値として出力する。

図１３に示した例では、１画素目のハイレベル期間は２クロックであり、２、３画素目のハイレベル期間は３クロックであると算出されている。

なお、図１２に示した画素ハイレベル期間測定部７１はデジタル式に各画素のハイレベル期間を測定していたが、図１４に示す画素ハイレベル期間測定部７１ａのようにアナログ式に各画素のハイレベル期間を測定するような構成とすることも可能である。

この画素ハイレベル期間測定部７１ａは、図１４に示すように、コンデンサ８３と、演算増幅器８４とから構成されている。

この画素ハイレベル期間測定部７１ａは、画像データ受信部６１において受信された画像データの各画素のハイレベルの期間に応じた電圧に変換することにより、各画素のハイレベルの期間を測定する。

具体的には、画素ハイレベル期間測定部７１ａでは、画像データ受信部６１において受信された画像データの各画素のハイレベル期間に応じてコンデンサ８３に充電される電位をボルテージホロワとして機能するオペアンプ８４によりアナログ値として出力する。

次に、終端抵抗７０の詳細な構成を図１５を参照して説明する。

終端抵抗７０は、図１５に示すように、３つの抵抗素子９１〜９３と、この３つの抵抗素子９１〜９３にそれぞれ対応して設けられた３つのスイッチング素子９４〜９６とから構成されている。

この３つのスイッチング素子９４〜９６は、終端抵抗調整部６５からの出力信号に基づいてそれぞれ独立してオン／オフ制御ができるような構成となっている。

そして、スイッチング素子９４〜９６は、それぞれ、オンすることにより、抵抗素子９１〜９３を差動伝送路６０の終端抵抗として接続する動作を行っている。

そして、この３つの抵抗素子９１〜９３の抵抗値Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３の合成抵抗値が、差動伝送回路６０の終端抵抗７０の抵抗値となる。

終端抵抗調整部６５は、このように３つのスイッチング素子９４〜９６のうちどのスイッチング素子をオンさせるかを切替えることにより、終端抵抗７０の抵抗値を調整している。

例えば、現在の終端抵抗７０の抵抗値が１００Ωに設定されており、画像サイズ比較部６４における画素サイズの比較結果により、１画素目の画素サイズが２画素目の画素サイズの２／３だった場合、終端抵抗７０の抵抗値が１００×２／３（Ω）に近い値となるようにスイッチング素子９４〜９６のオン／オフを切り替える。

このような終端抵抗７０の抵抗値の調整が行われた後の画像データの波形例を図１６に示す。

図１６に示す波形例と、図６に示した終端抵抗７０の抵抗値を固定値として場合の波形例と比較すると、図１６では、先頭画素（１画素目）のハイレベル期間が長くなり、２番目以降の画素のハイレベル期間に近い期間となっているのが分かる。

これは、終端抵抗７０の抵抗値が小さくなるように調整されたことにより、差動伝送路６０の２つの伝送線間の電圧差（振幅）が小さくなり、予め設定された時間以上同一電位が連続した場合でも、電圧の極性が切り替わるまでの時間が短縮されたからである。

なお、これまで、画素サイズ比較部６４における比較結果において、最初の画素の画素サイズがその最初の画素よりも後の画素の画素サイズよりも小さい場合について説明してきたが、最初の画素の画素サイズがその最初の画素よりも後の画素の画素サイズよりも大きい場合は、終端抵抗調整部６５は、終端抵抗７０の抵抗値が大きくなるように調整してもよい。

１０ 画像形成装置
１２ ＵＩ装置
１４ 画像形成装置本体
１６ 画像読取装置
１８ 記録媒体供給カセット
２０ 端末装置
２１ 供給ヘッド
２２ 記録媒体供給路
２４ 画像形成部
２６ 感光体
２７ 露光装置
２８ 中間転写ベルト
２９ 現像装置
３０ ネットワーク
３１ 二次転写ロール
３２ 定着装置
３４ 記録媒体排出路
３６ 排出部
４２ 原稿供給部
４３ 原稿画像読取部
４４ 原稿送り装置
４５ 原稿排出部
５０ 画像処理装置
５１ 画像データ送信部
５２ 制御部
６０ 差動伝送路
６１ 画像データ受信部
６２ 露光装置制御部
６３ 照射光制御部
６４ 画素サイズ比較部
６５ 終端抵抗調整部
７０ 終端抵抗
７１、７１ａ 画素ハイレベル期間測定部
７２ 測定結果保持部
７３ ハイレベル期間比算出部
８１ 基準クロック生成部
８２ カウンタ
８３ コンデンサ
８４ 演算増幅器
９１〜９３ 抵抗素子
９４〜９６ スイッチング素子

Claims (9)

1. 差動伝送線路を介して送信されてきた画像データを受信する受信手段と、
   前記受信手段により受信された画像データにおける、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、当該最初の画素よりも後の画素の画素サイズを比較する比較手段と、
   前記比較手段における比較結果に基づいて、前記差動伝送線路の終端抵抗の抵抗値を調整する調整手段と、
   を備えたデータ受信装置。
2. 前記調整手段は、前記比較手段における比較結果において、前記最初の画素の画素サイズが、当該最初の画素よりも後の画素の画素サイズよりも小さい場合、前記終端抵抗の抵抗値が小さくなるように調整する請求項１記載のデータ受信装置。
3. 前記調整手段は、電源投入後の予め定められた時間内に、前記差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を調整する請求項１又は２記載のデータ受信装置。
4. 前記調整手段は、前記差動伝送線路の状態に変化を及ぼし得る部品が交換された場合に、前記差動伝送路の終端抵抗の抵抗値を調整する請求項１又は２記載のデータ受信装置。
5. 前記比較手段は、
   予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素のハイレベルの期間と、当該最初の画素よりも後の画素のハイレベルの期間を測定する測定手段と、
   前記測定手段により測定された２つの期間の比を算出する算出手段とを備えた請求項１から４のいずれか１項記載のデータ受信装置。
6. 前記測定手段は、各画素のハイレベルの期間を、基準クロックのクロック数により測定する請求項５記載のデータ受信装置。
7. 前記測定手段は、各画素のハイレベルの期間に応じた電圧に変換することにより、各画素のハイレベルの期間を測定する請求項５記載のデータ受信装置。
8. 差動伝送線路を介して送信されてきた画像データを受信する受信手段と、
   前記受信手段により受信された画像データにおける、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、当該最初の画素よりも後の画素の画素サイズを比較する比較手段と、
   前記比較手段における比較結果に基づいて、前記差動伝送線路の終端抵抗の抵抗値を調整する調整手段と、
   前記受信手段により受信された画像データに基づいて、感光体に照射する光を制御する制御手段と、
   を備えた露光装置。
9. 差動伝送線路を介して送信されてきた画像データを受信する受信手段と、
   前記受信手段により受信された画像データにおける、予め設定された時間以上同一電位が連続した後の最初の画素と、当該最初の画素よりも後の画素の画素サイズを比較する比較手段と、
   前記比較手段における比較結果に基づいて、前記差動伝送線路の終端抵抗の抵抗値を調整する調整手段と、
   前記受信手段により受信された画像データに基づいて、感光体に照射する光を制御する制御手段と、
   前記制御手段により制御された光により感光体上に形成された潜像を現像することにより得られた画像を記録媒体上に出力する出力手段と、
   を備えた画像形成装置。