JP2017174913A - Process liquid cooling apparatus and substrate processing apparatus - Google Patents
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims abstract description 421
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 89
- 238000001816 cooling Methods 0.000 title claims abstract description 78
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 49
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 claims description 58
- 239000002699 waste material Substances 0.000 claims description 44
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 238000011437 continuous method Methods 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 4
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 description 1
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 1
- 229960002163 hydrogen peroxide Drugs 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
Description
この発明は、基板処理装置から排出される高温の処理液を冷却水により冷却する処理液冷却装置、および、この処理液冷却装置を備えた基板処理装置に関する。 The present invention relates to a processing liquid cooling apparatus that cools a high-temperature processing liquid discharged from a substrate processing apparatus with cooling water, and a substrate processing apparatus including the processing liquid cooling apparatus.
有機EL表示装置用ガラス基板、液晶表示装置用ガラス基板、太陽電池用パネル基板、プラズマディスプレイ用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板、半導体ウエハ等の基板を処理する基板処理装置においては、基板の処理に使用された処理液が排出される。この処理液の温度は、例えば、摂氏100度以上の高温となっていることから、これを廃液部に排出するときには、処理液冷却装置により予め処理液を冷却する必要がある。なお、このような処理液冷却装置は、基板処理装置の内部に配設されている場合もあるが、基板処理装置とは別の装置として設置される場合もある。 In substrate processing apparatuses for processing substrates such as glass substrates for organic EL display devices, glass substrates for liquid crystal display devices, panel substrates for solar cells, glass substrates for plasma displays, glass substrates for photomasks, substrates for optical disks, and semiconductor wafers. The processing liquid used for processing the substrate is discharged. The temperature of the processing liquid is, for example, a high temperature of 100 degrees Celsius or higher. Therefore, when the processing liquid is discharged to the waste liquid portion, it is necessary to cool the processing liquid in advance by the processing liquid cooling device. Such a processing liquid cooling apparatus may be disposed inside the substrate processing apparatus, but may be installed as an apparatus different from the substrate processing apparatus.
特許文献1には、処理槽から流下した処理液をバッファタンクに貯留し、このバッファタンクに貯留された処理液を、螺旋状管内を流れる冷却媒体により冷却する構成を有する基板処理装置が開示されている。
また、特許文献2には、低温の流体中に形成された熱交換流路に高温の流体を通過させて熱交換を実行する蒸留釜が開示されている。 Patent Document 2 discloses a distillation still that performs heat exchange by passing a high-temperature fluid through a heat-exchange channel formed in a low-temperature fluid.
さらに、特許文献3には、単一の循環ラインを流れる冷却ガスにより一対の成膜処理部を冷却する基板処理装置が開示されている。
Further,
従来の基板処理装置においては、一般的に、特許文献1に記載されたようにタンクに貯留された高温の処理液内に螺旋状管路を形成し、この螺旋状管路内に冷却水を循環させることにより処理液を冷却する構成が採用されている。しかしながら、このような冷却装置は、処理液の冷却効率が悪いことから処理液の冷却に長い時間を要するという問題がある。
In a conventional substrate processing apparatus, generally, as described in
一方、特許文献2に記載された冷却機構のように、冷却水中に高温の処理液を通過させる構成を採用した場合においては、高温の処理液中に冷却水を通過させる場合に比べて冷却効率を向上させることが可能となる。しかしながら、処理液の温度が低下してきた場合においては、このような高効率の冷却機構を使用しても、その性能が十分に発揮できないという問題が生ずる。 On the other hand, in the case of adopting a configuration in which a high-temperature treatment liquid is passed through the cooling water as in the cooling mechanism described in Patent Document 2, the cooling efficiency is higher than when cooling water is passed through the high-temperature treatment liquid. Can be improved. However, when the temperature of the treatment liquid is lowered, there arises a problem that even if such a highly efficient cooling mechanism is used, the performance cannot be sufficiently exhibited.
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、基板処理装置から排出される高温の処理液を効率的に冷却することが可能な処理液冷却装置およびこの処理液冷却装置を備えた基板処理装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and includes a processing liquid cooling apparatus capable of efficiently cooling a high-temperature processing liquid discharged from a substrate processing apparatus, and the processing liquid cooling apparatus. An object is to provide a substrate processing apparatus.
請求項1に記載の発明は、基板処理装置から排出される高温の処理液を冷却水により冷却する冷却装置において、前記高温の処理液を貯留可能であるとともに、この処理液を冷却するための冷却水流通路を備えた第1タンクおよび第2タンクと、内部に冷却水を貯留するとともに、この冷却水内を通過する処理液流通路を備えた冷却器と、前記第1タンクと、前記第2タンクと、前記冷却器における処理液流通路と、処理液の廃液部との間で処理液を送液するための処理液の送液管路と、を備えたことを特徴とする。 According to a first aspect of the present invention, in the cooling device that cools the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus with cooling water, the high-temperature processing liquid can be stored and the processing liquid is cooled. A first tank and a second tank having a cooling water flow passage; a cooler having a treatment liquid flow passage which stores cooling water therein and passes through the cooling water; the first tank; It is characterized by comprising two tanks, a treatment liquid flow passage in the cooler, and a treatment liquid feed conduit for sending the treatment liquid between the waste liquid portion of the treatment liquid.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記処理液の送液管路中に配設されたポンプおよび複数の開閉弁と、前記複数の開閉弁を開閉制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方のタンクから、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に処理液を送液する。 According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the pump and the plurality of on-off valves disposed in the liquid supply conduit for the processing liquid, and the control for opening / closing the plurality of on-off valves. And the control unit controls the opening and closing of the plurality of on-off valves, thereby controlling the treatment liquid from one of the first tank and the second tank via the cooler. The processing liquid is sent to the waste liquid part.
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方のタンクにより前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているタンクから、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に処理液を送液する。 According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the substrate processing apparatus is controlled by one of the first tank and the second tank by controlling the opening and closing of the plurality of on-off valves. When receiving the high-temperature processing liquid discharged from the tank, the cooler is removed from the tank receiving the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus of the first tank and the second tank. Then, the processing liquid is fed to the waste liquid portion of the processing liquid.
請求項4に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方のタンクにより前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンクから、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に処理液を送液する。 According to a fourth aspect of the present invention, the substrate processing apparatus according to the second aspect of the present invention, wherein the substrate processing apparatus is controlled by one of the first tank and the second tank by controlling the opening and closing of the plurality of on-off valves. When receiving the high temperature processing liquid discharged from the first tank and the second tank, the cooler is removed from the tank not receiving the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus. Then, the processing liquid is fed to the waste liquid portion of the processing liquid.
請求項5に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記処理液の送液管路中に配設されたポンプおよび複数の開閉弁と、前記複数の開閉弁を開閉制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方により前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、当該処理液を受けているタンクから、前記冷却器と、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンクとを介して、前記処理液の廃液部に処理液を送液する。 According to a fifth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, a pump and a plurality of on-off valves disposed in the liquid supply conduit for the processing liquid, and a control for controlling the on-off of the plurality of on-off valves. And the controller controls the opening and closing of the plurality of on-off valves, so that the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus by one of the first tank and the second tank is discharged. A tank that does not receive the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus among the cooler and the first tank and the second tank from the tank that receives the processing liquid when receiving Then, the processing liquid is fed to the waste liquid portion of the processing liquid.
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の発明において、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンク内の処理液を、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に送液する。 According to a sixth aspect of the present invention, in the fifth aspect of the present invention, the processing in the tank that does not receive the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus of the first tank and the second tank. The liquid is sent to the waste liquid portion of the processing liquid via the cooler.
請求項7に記載の発明は、請求項5に記載の発明において、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンク内の処理液を、直接、前記処理液の廃液部に送液する。 According to a seventh aspect of the invention, in the fifth aspect of the invention, the processing in the tank that has not received the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus of the first tank and the second tank. The liquid is fed directly to the waste liquid portion of the processing liquid.
請求項8に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記処理液の送液管路中に配設されたポンプおよび複数の開閉弁と、前記複数の開閉弁を開閉制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方のタンクにより前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちのいずれかのタンクから、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に処理液を送液する動作と、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方により前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、当該処理液を受けているタンクから、前記冷却器と、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンクとを介して、前記処理液の廃液部に処理液を送液する動作とを、順次選択して実行する。 According to an eighth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, a pump and a plurality of on-off valves disposed in the processing liquid supply conduit, and a control for opening / closing the plurality of on-off valves. A high-temperature process discharged from the substrate processing apparatus by one of the first tank and the second tank by controlling the opening and closing of the plurality of on-off valves. An operation of sending the processing liquid from any one of the first tank and the second tank to the waste liquid portion of the processing liquid via the cooler when receiving the liquid; When the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus is received by one of the first tank and the second tank, the processing liquid is received. From the tank, the cooling And an operation of sending the processing liquid to the waste liquid portion of the processing liquid via the tank that does not receive the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus among the first tank and the second tank. Are sequentially selected and executed.
請求項9に記載の発明は、請求項2から請求項8のいずれかに記載の発明において、前記第1タンクに貯留された処理液の温度を検出する温度センサと、前記第2タンクに貯留された処理液の温度を検出する温度センサと、前記第1タンクに貯留された処理液の液位を検出する液位センサと、前記第2タンクに貯留された処理液の液位を検出する液位センサと、をさらに備え、前記制御部は、前記各温度センサおよび前記各液位センサの検出値に基づいて、前記複数の開閉弁を開閉制御する。 The invention according to claim 9 is the invention according to any one of claims 2 to 8, wherein the temperature sensor that detects the temperature of the processing liquid stored in the first tank, and the second tank stores the temperature. A temperature sensor for detecting the temperature of the treated liquid, a liquid level sensor for detecting the liquid level of the processing liquid stored in the first tank, and a liquid level of the processing liquid stored in the second tank. A liquid level sensor, and the control unit controls opening and closing of the plurality of on-off valves based on the detected values of the temperature sensors and the liquid level sensors.
請求項10に記載の発明は、基板に処理液を供給して当該基板を処理する基板処理装置であって、請求項1から請求項9のいずれかに記載の処理液冷却装置を備える。 A tenth aspect of the present invention is a substrate processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate to process the substrate, and includes the processing liquid cooling apparatus according to any one of the first to ninth aspects.
請求項1および請求項10に記載の発明によれば、第1タンクまたは第2タンクと、冷却器とを使用することにより、基板処理装置から排出される高温の処理液を効率的に冷却することが可能となる。 According to the first and tenth aspects of the present invention, by using the first tank or the second tank and the cooler, the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus is efficiently cooled. It becomes possible.
請求項2から請求項4のいずれかに記載の発明によれば、第1タンクと第2タンクとを選択的に使用するワンパス方式により、第1タンクと第2タンクとを交互に使用して、基板処理装置から排出される高温の処理液を優先的に冷却器に導入することにより、効率的に処理液を冷却することが可能となる。 According to the invention according to any one of claims 2 to 4, the first tank and the second tank are alternately used by the one-pass method in which the first tank and the second tank are selectively used. By preferentially introducing the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus into the cooler, the processing liquid can be efficiently cooled.
請求項5から請求項7のいずれかに記載の発明によれば、第1タンクと第2タンクとを連続して使用する連続方式により、基板処理装置から排出される高温の処理液を優先的に冷却器に導入して、効率的に処理液を冷却することが可能となる。 According to the invention described in any one of claims 5 to 7, the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus is preferentially used by the continuous method in which the first tank and the second tank are continuously used. It is possible to efficiently cool the treatment liquid by introducing it into the cooler.
請求項8に記載の発明によれば、ワンパス方式と連続方式を切り替えることにより、基板処理装置から排出される処理液の状況に応じて、効率的に処理液を冷却することが可能となる。 According to the eighth aspect of the invention, by switching between the one-pass method and the continuous method, the processing liquid can be efficiently cooled according to the state of the processing liquid discharged from the substrate processing apparatus.
請求項9に記載の発明によれば、温度センサおよび液位センサの検出値に基づいて、処理液を適切な方式により冷却処理することが可能となる。 According to the ninth aspect of the present invention, the processing liquid can be cooled by an appropriate method based on the detection values of the temperature sensor and the liquid level sensor.
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係る処理液冷却装置の概要図である。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic view of a processing liquid cooling apparatus according to the present invention.
この処理液冷却装置は、基板処理装置から排出管路51、54、57を介して排出される高温の処理液を一時的に貯留するとともに冷却する第1タンク11および第2タンク12と、第1タンク11または第2タンク12から送液された処理液を高い熱交換効率で冷却する冷却器13とを備える。なお、この処理液冷却装置は、基板処理装置の内部に配設されてもよく、また、基板処理装置とは別の装置として設置されてもよい。
The processing liquid cooling apparatus includes a
排出管路51は、例えば、基板処理装置における複数の処理部において基板に処理液を吐出する吐出ノズルの待機位置に配設された待機ポッドからのSPM(sulfuric−acid and hydrogen−peroxide mixture)等の処理液を排出するためのものである。この排出管路51には複数の待機ポッドからの処理液が流入し、この処理液は、開閉弁36が開放され開閉弁35が閉止されたときには、管路52を介して第1タンク11に流下し、開閉弁36が閉止され開閉弁35が開放されたときには、管路53を介して第2タンク12に流下する。
The
排出管路54は、例えば、基板処理装置における複数の処理部において基板から飛散した処理液を捕獲するカップからのSPM等の処理液を排出するためのものである。この排出管路54には複数のカップからの処理液が流入し、この処理液は、開閉弁34が開放され開閉弁33が閉止されたときには、管路55を介して第1タンク11に流下し、開閉弁34が閉止され開閉弁33が開放されたときには、管路56を介して第2タンク12に流下する。
The
排出管路57は、例えば、基板処理装置における複数の処理部において各処理部を洗浄するために使用された硫酸等の処理液を排出するためのものである。この排出管路57には複数の処理部からの処理液が流入し、この処理液は、開閉弁32が開放され開閉弁31が閉止されたときには、管路58を介して第1タンク11に流下し、開閉弁32が閉止され開閉弁31が開放されたときには、管路59を介して第2タンク12に流下する。
The
第1タンク11内には、螺旋状の冷却水流通路15が配設されている。冷却水流入管路23から冷却水流通路15に冷却水が供給され、第1タンク11内の処理液の冷却に供された冷却水は、冷却水流通路15から冷却水排出管路24に排出される。また、第2タンク12内には、螺旋状の冷却水流通路16が配設されている。冷却水流入管路25から冷却水流通路16に冷却水が供給され、第2タンク12内の処理液の冷却に供された冷却水は、冷却水流通路16から冷却水排出管路26に排出される。さらに、冷却器13は冷却水を貯留可能となっており、冷却水流入管路21から冷却器13内に冷却水が供給され、螺旋状の処理液流通路17を流通する処理液の冷却に供された冷却水は、冷却器13内から冷却水排出管路22に排出される。
A spiral cooling
なお、図示は省略しているが、第1タンク11および第2タンク12内には、処理液中に空気を噴出することにより、処理液を冷却するとともに拡散するバブリング機構が配設されている。このバブリング機構に加え、第1タンク11および第2タンク12内を減圧することにより処理液の冷却を促進する減圧機構を付設してもよい。
In addition, although illustration is abbreviate | omitted, in the
第1タンク11および第2タンク12においては、冷却水流通路15、16の作用により、貯留状態にある所定量の処理液を冷却することが可能となる。一方、冷却器13においては、その内部に貯留された容量の大きな冷却水により、処理液流通路17を通過する容量の小さな処理液を、迅速に冷却することが可能となる。
In the
第1タンク11の底部に接続された管路61は、開閉弁41、管路63および送液ポンプ27を介して冷却器13における処理液流通路17の下端部と接続されている。また、第2タンク12の底部に接続された管路62は、開閉弁42、管路63および送液ポンプ27を介して冷却器13における処理液流通路17の下端部と接続されている。開閉弁41と開閉弁42とは、いずれか一方が開放されたときには他方が閉止される構成となっている。
The
第1タンク11の底部に接続された管路67は、開閉弁43、廃液ポンプ28、開閉弁45および管路69を介して、廃液部14と接続されている。また、第2タンク12の底部に接続された管路68は、開閉弁44、廃液ポンプ28、開閉弁45および管路69を介して、廃液部14と接続されている。なお、第1タンク11および第2タンク12から排出される処理液が自重により廃液部14まで流下する場合においては、廃液ポンプ28を省略してもよい。
The
なお、図1においては、管路61と管路67とは、第1タンク11の底部に接続されている。しかしながら、管路61と管路67とが第1タンク11の側面の下方に接続してもよく、また、管路61と管路67とが第1タンク11の上方から第1タンク11に進入してその先端が第1タンク11の底面付近に配置される構成であってもよい。同様に、図1においては、管路62と管路68とは、第2タンク12の底部に接続されている。しかしながら、管路62と管路68とが第2タンク12の側面の下方に接続してもよく、また、管路62と管路68とが第2タンク12の上方から第2タンク12に進入してその先端が第2タンク12の底面付近に配置される構成であってもよい。
In FIG. 1, the
冷却器13における処理液流通路17の出口部(本実施形態では上端部)は、開閉弁38および管路64を介して第1タンク11に至る経路と、開閉弁39および管路65を介して第2タンク12に至る経路と、開閉弁37および管路66を介して開閉弁45に至り、管路69を介して廃液部14に至る経路とに分岐している。開閉弁37、開閉弁38および開閉弁39は、いずれか一つが選択的に開放され、他の二つが閉止される構成となっている。
An outlet portion (upper end portion in the present embodiment) of the processing liquid flow passage 17 in the cooler 13 is routed to the
なお、図1においては、冷却器13を通過する処理液は、処理液流通路17の下端部から上端部に向けて流通しているが、処理液流通路17を上端部から下端部に向けて通過してもよい。また、処理液流通路17は、図1に示す上下方向ではなく、左右方向を向けて形成されていてもよい。 In FIG. 1, the processing liquid passing through the cooler 13 circulates from the lower end portion of the processing liquid flow passage 17 toward the upper end portion, but the processing liquid flow passage 17 is directed from the upper end portion to the lower end portion. You may pass through. Further, the treatment liquid flow passage 17 may be formed not in the vertical direction shown in FIG. 1 but in the horizontal direction.
第1タンク11内の処理液は、開閉弁41および開閉弁37が開放された状態では、送液ポンプ27の作用により、第1タンク11から冷却器13における処理液流通路17を介して管路66に送液され、開閉弁45および管路69を介して廃液部14に排出される。また、第1タンク11内の処理液は、開閉弁41および開閉弁39が開放された状態では、送液ポンプ27の作用により、第1タンク11から冷却器13における処理液流通路17を介して第2タンク12に送液される。さらに、第1タンク11内の処理液は、開閉弁43が開放された場合には、廃液ポンプ28の作用により、開閉弁45および管路69を介して廃液部14に排出される。
When the on-off
第2タンク12内の処理液は、開閉弁42および開閉弁37が開放された状態では、送液ポンプ27の作用により、第2タンク12から冷却器13における処理液流通路17を介して管路66に送液され、開閉弁45および管路69を介して廃液部14に排出される。また、第2タンク12内の処理液は、開閉弁42および開閉弁38が開放された状態では、送液ポンプ27の作用により、第2タンク12から冷却器13における処理液流通路17を介して第1タンク11に送液される。さらに、第2タンク12内の処理液は、開閉弁44が開放された場合には、廃液ポンプ28の作用により、開閉弁45および管路69を介して廃液部14に排出される。
When the on-off
図2は、この発明に係る処理液冷却装置の主要な制御系を示すブロック図である。 FIG. 2 is a block diagram showing a main control system of the processing liquid cooling apparatus according to the present invention.
この処理液冷却装置は、論理演算を実行するCPU、装置の制御に必要な動作プログラムが格納されたROM、制御時にデータ等が一時的にストアされるRAMを備え、装置全体を制御する制御部90を備える。この制御部は、上述した開閉弁31、32、33、34、35、36、37、38、39、41、42、43、44、45を開閉駆動するための弁駆動部91と接続されている。これらの開閉弁31、32、33、34、35、36、37、38、39、41、42、43、44、45は、弁駆動部91を介して、制御部90により開閉制御される。また、この制御部90は、上述した送液ポンプ27および廃液ポンプ28と接続されている。
The processing liquid cooling apparatus includes a CPU that executes logical operations, a ROM that stores an operation program necessary for controlling the apparatus, and a RAM that temporarily stores data during control, and controls the entire apparatus. 90. This control unit is connected to the above-described on-off
図1においては図示を省略しているが、第1タンク11には、当該第1タンク11に貯留された処理液の温度を検出する温度センサ92と、貯留された処理液の液位を検出するための液位センサ94とが配設されている。第2タンク12には、当該第2タンク12に貯留された処理液の温度を検出する温度センサ93と、貯留された処理液の液位を検出するための液位センサ95とが配設されている。また、冷却器13を通過して排出される処理液の温度を検出するための温度センサ96が、処理液流通路17の下流側に配設されている。制御部90は、これらの温度センサ92、93、96および液位センサ94、95とも接続されている。
Although not shown in FIG. 1, the
なお、温度センサ92、93、96としては、測温抵抗体や、熱電対や、処理液から放射される赤外線を検出することにより温度を測定するセンサなどを用いることができる。また、液位センサ94、95としては、静電容量を検出することにより液の高さを測定するセンサや、光学式のセンサなどを用いることができる。
As the
次に、上述した処理液冷却装置における処理液の冷却動作について説明する。最初に、第1タンク11と第2タンク12とを選択的に使用するワンパス方式により処理液を冷却する動作について説明する。図3および図4は、ワンパス方式により処理液を冷却する動作を模式的に示す説明図である。なお、図3および図4にいては、処理液の送液経路のうち、処理液が流れている領域を太線で表現している。これは、以下の図面についても同様である。
Next, the cooling operation of the processing liquid in the above-described processing liquid cooling apparatus will be described. First, the operation of cooling the processing liquid by the one-pass method that selectively uses the
基板処理装置からは、最初に、第1タンク11に高温の処理液が排出される。この処理液の温度は、第1タンク11に到達したときには、例えば、摂氏100度程度となっている。この処理液は、第1タンク11に貯留される。第1タンク11に貯留された処理液は、第1タンク11内に配設された螺旋状の冷却水流通路15中を通過する冷却水により徐々に冷却される。冷却水流入管路23から冷却水流通路15に供給され、処理液の冷却に供された冷却水は、冷却水流通路15から冷却水排出管路24に排出される。このときの第1タンク11内の処理液の温度は、図2に示す温度センサ92により検出され、処理液の液位は、図2に示す液位センサ94により検出される。
First, a high-temperature processing liquid is discharged from the substrate processing apparatus to the
第1タンク11内に貯留された処理液の温度が摂氏80度程度となれば、図3に示すように、第1タンク11内の処理液を、冷却器13を介して、廃液部14に排出する。このときの処理液の温度は、処理液を効率的に冷却する冷却器13の作用により、摂氏35度程度まで低下している。一方、第1タンク11内の処理液を排出するときには、基板処理装置から排出される高温の処理液は、第1タンク11に排出される。これにより、高温の処理液が冷却器13を優先的に通過するようにすることができる。図3は、このような状態を示している。
If the temperature of the processing liquid stored in the
なお、基板処理装置から排出される高温の処理液を第1タンク11に排出するかわりに、基板処理装置から排出される高温の処理液を第2タンク12に排出してもよい。このような構成を採用して場合においては、冷却器13を通過する処理液の総量を抑制している間に、第2タンク12において処理液を徐々に冷却することができる。
Instead of discharging the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus to the
第1タンク11内に貯留された処理液が全て排出され、また、基板処理装置から排出され第2タンク12に貯留された処理液の温度が摂氏80度程度となれば、図4に示すように、第2タンク12内の処理液を、冷却器13を介して、廃液部14に排出する。このときの処理液の温度も、処理液を効率的に冷却する冷却器13の作用により、摂氏35度程度まで低下している。第2タンク12内の処理液を排出するときには、基板処理装置から排出される高温の処理液は、前述と同様に、第2タンク12に排出される。
If all of the processing liquid stored in the
このように、第1タンク11と第2タンク12とを交互に使用するワンパス方式により処理液を冷却することにより、基板処理装置から排出される高温の処理液を優先的に冷却器13に導入して、効率的に処理液を冷却することが可能となる。
In this way, the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus is preferentially introduced into the cooler 13 by cooling the processing liquid by the one-pass method using the
次に、上述した処理液冷却装置における処理液の冷却動作の他の実施形態について説明する。この第2実施形態においては、第1タンク11と第2タンク12とを連続して使用する連続方式により処理液を冷却する動作について説明する。図5および図6は、第1の連続方式により処理液を冷却する動作を模式的に示す説明図である。
Next, another embodiment of the processing liquid cooling operation in the above-described processing liquid cooling apparatus will be described. In the second embodiment, an operation for cooling the processing liquid by a continuous method in which the
基板処理装置からは、第1タンク11に高温の処理液が排出される。この処理液の温度は、第1タンク11に到達したときには、例えば、摂氏150度程度となっている。この処理液は、第1タンク11に一時的に貯留される。第1タンク11に貯留された処理液は、第1タンク11内に配設された螺旋状の冷却水流通路15中を通過する冷却水により徐々に冷却される。冷却水流入管路23から冷却水流通路15に供給され、処理液の冷却に供された冷却水は、冷却水流通路15から冷却水排出管路24に排出される。このときの第1タンク11内の処理液の温度は、図2に示す温度センサ92により検出され、処理液の液位は、図2に示す液位センサ94により検出される。
From the substrate processing apparatus, the high temperature processing liquid is discharged to the
第1タンク11内に一時的に貯留された処理液は、図5に示すように、冷却器13を介して、第2タンク12に貯留される。このときには、処理液を高い効率で冷却する冷却器13の作用により、処理液の温度は摂氏80度以下まで降温される。そして、第2タンク12に貯留された処理液の温度が摂氏60度程度となれば、図6に示すように、第2タンク12内の処理液を、冷却器13を介して、廃液部14に排出する。このときの処理液の温度も、処理液を効率的に冷却する冷却器13の作用により、摂氏35度程度まで低下している。
The processing liquid temporarily stored in the
次に、上述した処理液冷却装置における処理液の冷却動作のさらに他の実施形態について説明する。この第3実施形態においても、第1タンク11と第2タンク12とを連続して使用する連続方式により処理液を冷却する動作について説明する。図7および図8は、第2の連続方式により処理液を冷却する動作を模式的に示す説明図である。
Next, still another embodiment of the processing liquid cooling operation in the above-described processing liquid cooling apparatus will be described. Also in the third embodiment, an operation of cooling the processing liquid by a continuous method in which the
基板処理装置からは、第1タンク11に高温の処理液が排出される。この処理液の温度は、第1タンク11に到達したときには、例えば、摂氏100度程度となっている。この処理液は、第1タンク11に一時的に貯留される。第1タンク11に貯留された処理液は、第1タンク11内に配設された螺旋状の冷却水流通路15中を通過する冷却水により徐々に冷却される。冷却水流入管路23から冷却水流通路15に供給され、処理液の冷却に供された冷却水は、冷却水流通路15から冷却水排出管路24に排出される。このときの第1タンク11内の処理液の温度は、図2に示す温度センサ92により検出され、処理液の液位は、図2に示す液位センサ94により検出される。
From the substrate processing apparatus, the high temperature processing liquid is discharged to the
第1タンク11内に一時的に貯留された処理液は、図7に示すように、冷却器13を介して、第2タンク12に貯留される。このときには、処理液を高い効率で冷却する冷却器13を利用して、処理液の送液量を調整すること等により、処理液の温度が摂氏50度程度まで降温される。そして、第2タンク12に貯留された処理液の温度が摂氏35度程度まで降温すれば、図8に示すように、第2タンク12内の処理液を、直接、廃液部14に排出する。
The processing liquid temporarily stored in the
第2実施形態または第3実施形態のように、第1タンク11と第2タンク12とを連続して使用する連続方式により、基板処理装置から排出される高温の処理液を優先的に冷却器13に導入して、効率的に処理液を冷却することが可能となる。
As in the second embodiment or the third embodiment, the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus is preferentially cooled by the continuous method in which the
次に、上述した処理液冷却装置における処理液の冷却動作のさらに他の実施形態について説明する。この第4実施形態においては、上述したワンパス方式と第1の連続方式とを組み合わせて処理液を冷却している。図9から図12は、ワンパス方式と第1の連続方式とを組み合わせて処理液を冷却する動作を模式的に示す説明図である。 Next, still another embodiment of the processing liquid cooling operation in the above-described processing liquid cooling apparatus will be described. In the fourth embodiment, the processing liquid is cooled by combining the one-pass method and the first continuous method described above. 9 to 12 are explanatory diagrams schematically showing an operation of cooling the processing liquid by combining the one-pass method and the first continuous method.
この第4実施形態においては、最初は、図3および図4に示す第1実施形態と同様に、第1タンク11と第2タンク12とを交互に使用するワンパス方式により処理液を冷却する。図9は、ワンパス方式で処理液を冷却しているときに、第1タンク11内の処理液を、冷却器13を介して、廃液部14に排出するとともに、基板処理装置から排出される高温の処理液を第1タンク11に排出する状態を示している。
In the fourth embodiment, at first, the processing liquid is cooled by a one-pass method in which the
この状態で、第1タンク11に貯留された処理液の温度がワンパス方式では冷却出来ない温度(例えば摂氏120度以上)になった場合には、処理液の冷却方式をワンパス方式から第1の連続方式に切り替える。すなわち、第1タンク11に貯留された処理液の温度が摂氏120度以上になった場合においては、図10に示すように、第1タンク11内の処理液を、冷却器13を介して、第2タンク12に送液する。そして、第2タンク12内の処理液が第2タンク12の処理液の最大容量に近づいた場合には、図11に示すように、第2タンク12内の処理液を、冷却器13を介して、第1タンク11に送液する。この時は、基板処理装置から排出される高温の処理液が第2タンク12に排出されるように切り替えられる。
In this state, when the temperature of the processing liquid stored in the
このような動作を、第1タンク11または第2タンク12に貯留された処理液の温度が摂氏80度程度になるまで繰り返す。このような連続方式により処理液を冷却するときには、ワンパス方式により処理液を冷却する場合に比べて処理液の冷却に長い時間を要することから、基板処理装置から排出される降温の処理液の量を減少させる必要が生ずることになる。
Such an operation is repeated until the temperature of the processing liquid stored in the
そして、第1タンク11または第2タンク12に貯留された処理液の温度が摂氏50度程度となれば、第1タンク11または第2タンク12に貯留された処理液を冷却器13を介して、廃液部14に排出する。図12においては、第1タンク11内の処理液を、冷却器13を介して、廃液部14に排出する状態を示している。この時には、基板処理装置から排出される高温の処理液が第1タンク11に排出されるように切り替えられる。
If the temperature of the processing liquid stored in the
次に、上述した処理液冷却装置における処理液の冷却動作のさらに他の実施形態について説明する。この第5実施形態においては、上述したワンパス方式と第1の連続方式または第2の連続方式とを組み合わせて処理液を冷却している。図13および図14は、ワンパス方式と第1の連続方式または第2の連続方式とを組み合わせて処理液を冷却する動作を模式的に示す説明図である。 Next, still another embodiment of the processing liquid cooling operation in the above-described processing liquid cooling apparatus will be described. In the fifth embodiment, the processing liquid is cooled by combining the above-described one-pass method and the first continuous method or the second continuous method. FIG. 13 and FIG. 14 are explanatory diagrams schematically showing an operation of cooling the processing liquid by combining the one-pass method and the first continuous method or the second continuous method.
この第5実施形態においては、最初は、図3および図4に示す第1実施形態と同様に、第1タンク11と第2タンク12とを交互に使用するワンパス方式により処理液を冷却する。図13は、ワンパス方式で処理液を冷却しているときに、第1タンク11内の処理液を、冷却器13を介して、廃液部14に排出するとともに、基板処理装置から排出される高温の処理液を第2タンク12に排出する状態を示している。
In the fifth embodiment, at first, similarly to the first embodiment shown in FIGS. 3 and 4, the processing liquid is cooled by a one-pass method using the
この状態で、第2タンク12に貯留された処理液の量が増加した場合には、処理液の冷却方式をワンパス方式から第2の連続方式に切り替えることを試みる。すなわち、第1タンク11に貯留された処理液と第2タンク12に貯留された処理液の総量が、例えば、第1タンク11または第2タンク12の容量より多くなった場合においては、図14に示すように、第1タンク11内の処理液を、冷却器13を介して、第2タンク12に送液する。そして、第2タンク12内の処理液の温度が摂氏35度程度となった場合には、図14に示すように、第2タンク12内の処理液を、直接、廃液部14に排出する。
In this state, when the amount of the processing liquid stored in the
一方、第2タンク12内の処理液の温度が、十分に低下しなかった場合には、冷却方式を第1の連続方式に切り替える。すなわち、第2タンク12内の処理液が第2タンク12の処理液の容量に近づいた場合には、第2タンク12内の処理液を、冷却器13を介して、第1タンク11に送液する。このような動作を、第1タンク11または第2タンク12に貯留された処理液の温度が摂氏50度程度になるまで繰り返す。そして、第1タンク11または第2タンク12に貯留された処理液の温度が摂氏50度程度となれば、第1タンク11または第2タンク12に貯留された処理液を冷却器13を介して、廃液部14に排出する。
On the other hand, when the temperature of the processing liquid in the
第4実施形態または第5実施形態のように、ワンパス方式と連続方式を切り替えることにより、基板処理装置から排出される処理液の状況に応じて、効率的に処理液を冷却することが可能となる。 By switching between the one-pass method and the continuous method as in the fourth embodiment or the fifth embodiment, the processing liquid can be efficiently cooled according to the state of the processing liquid discharged from the substrate processing apparatus. Become.
なお、第1タンク11および第2タンク12により上述したワンパス方式や連続方式を利用して処理液を冷却するかわりに、比較的高温の処理液を第1タンク11および第2タンク12のうちの一方のタンクに排出し、比較的低温の処理液を第1タンク11および第2タンク12のうちの他方のタンクに排出する構成を採用してもよい。
In addition, instead of cooling the processing liquid by the
また、基板処理装置から大量の処理液を一度に排出するときには、第1タンク11と第2タンク12の両方のタンクに処理液を排出するようにしてもよい。
Further, when a large amount of processing liquid is discharged from the substrate processing apparatus at a time, the processing liquid may be discharged to both the
さらに、上述した実施形態においては、第1タンク11および第2タンク12と冷却器とを利用して処理液を冷却しているが、3個以上のタンクと冷却器とを利用して処理液を冷却するようにしてもよい。
Further, in the above-described embodiment, the processing liquid is cooled using the
11 第1タンク
12 第2タンク
13 冷却器
14 廃液部
15 冷却水流通路
16 冷却水流通路
17 処理液流通路
21 冷却水流入管路
22 冷却水排出管路
23 冷却水流入管路
24 冷却水排出管路
25 冷却水流入管路
26 冷却水排出管路
27 送液ポンプ
28 廃液ポンプ
92 温度センサ
93 温度センサ
94 液位センサ
95 液位センサ
96 温度センサ
DESCRIPTION OF
Claims (10)
前記高温の処理液を貯留可能であるとともに、この処理液を冷却するための冷却水流通路を備えた第1タンクおよび第2タンクと、
内部に冷却水を貯留するとともに、この冷却水内を通過する処理液流通路を備えた冷却器と、
前記第1タンクと、前記第2タンクと、前記冷却器における処理液流通路と、処理液の廃液部との間で処理液を送液するための処理液の送液管路と、
を備えたことを特徴とする処理液冷却装置。 In the cooling device that cools the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus with cooling water,
A first tank and a second tank capable of storing the high-temperature processing liquid and provided with a cooling water flow passage for cooling the processing liquid;
A cooler having a treatment liquid flow passage that stores cooling water therein and passes through the cooling water;
A treatment liquid feed line for sending a treatment liquid between the first tank, the second tank, a treatment liquid flow passage in the cooler, and a waste liquid portion of the treatment liquid;
A treatment liquid cooling apparatus comprising:
前記処理液の送液管路中に配設されたポンプおよび複数の開閉弁と、
前記複数の開閉弁を開閉制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方のタンクから、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に処理液を送液する処理液冷却装置。 The substrate cooling apparatus according to claim 1,
A pump and a plurality of on-off valves disposed in the liquid supply pipe for the treatment liquid;
A controller that controls opening and closing of the plurality of on-off valves,
The control unit controls the opening and closing of the plurality of on-off valves, thereby supplying the processing liquid from one of the first tank and the second tank to the waste liquid part of the processing liquid via the cooler. A processing liquid cooling device that sends liquid.
前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方のタンクにより前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているタンクから、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に処理液を送液する処理液冷却装置。 The substrate cooling apparatus according to claim 2, wherein
By controlling the opening and closing of the plurality of on-off valves, the first tank and the second tank receive the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus by one of the first tank and the second tank. Cooling of the processing liquid from the tank receiving the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus of the tank and the second tank to the waste liquid portion of the processing liquid via the cooler apparatus.
前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方のタンクにより前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンクから、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に処理液を送液する処理液冷却装置。 The substrate cooling apparatus according to claim 2, wherein
By controlling the opening and closing of the plurality of on-off valves, the first tank and the second tank receive the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus by one of the first tank and the second tank. Cooling of the processing liquid from the tank that does not receive the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus of the tank and the second tank to the waste liquid portion of the processing liquid via the cooler apparatus.
前記処理液の送液管路中に配設されたポンプおよび複数の開閉弁と、
前記複数の開閉弁を開閉制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方により前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、当該処理液を受けているタンクから、前記冷却器と、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンクとを介して、前記処理液の廃液部に処理液を送液する処理液冷却装置。 The substrate cooling apparatus according to claim 1,
A pump and a plurality of on-off valves disposed in the liquid supply pipe for the treatment liquid;
A controller that controls opening and closing of the plurality of on-off valves,
When the control unit receives the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus by one of the first tank and the second tank by controlling the opening and closing of the plurality of on-off valves, From the tank receiving the processing liquid, through the cooler and the tank not receiving the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus of the first tank and the second tank, A processing liquid cooling device that sends the processing liquid to a waste liquid portion of the processing liquid.
前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンク内の処理液を、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に送液する処理液冷却装置。 The substrate cooling apparatus according to claim 5, wherein
The processing liquid in the tank that has not received the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus of the first tank and the second tank is sent to the waste liquid portion of the processing liquid via the cooler. Treatment liquid cooling device.
前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンク内の処理液を、直接、前記処理液の廃液部に送液する処理液冷却装置。 The substrate cooling apparatus according to claim 5, wherein
Cooling of the processing liquid that directly sends the processing liquid in the tank that has not received the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus of the first tank and the second tank to the waste liquid portion of the processing liquid. apparatus.
前記処理液の送液管路中に配設されたポンプおよび複数の開閉弁と、
前記複数の開閉弁を開閉制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方のタンクにより前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちのいずれかのタンクから、前記冷却器を介して前記処理液の廃液部に処理液を送液する動作と、前記複数の開閉弁を開閉制御することにより、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの一方により前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けているときに、当該処理液を受けているタンクから、前記冷却器と、前記第1タンクおよび前記第2タンクのうちの前記基板処理装置から排出される高温の処理液を受けていないタンクとを介して、前記処理液の廃液部に処理液を送液する動作とを、順次選択して実行する処理液冷却装置。 The substrate cooling apparatus according to claim 1,
A pump and a plurality of on-off valves disposed in the liquid supply pipe for the treatment liquid;
A controller that controls opening and closing of the plurality of on-off valves,
When the control unit receives high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus by one of the first tank and the second tank by controlling opening and closing of the plurality of on-off valves. In addition, an operation of sending the processing liquid from one of the first tank and the second tank to the waste liquid portion of the processing liquid via the cooler, and opening / closing control of the plurality of on-off valves Thus, when the high temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus is received by one of the first tank and the second tank, the cooler is received from the tank receiving the processing liquid. And an operation of sending the processing liquid to the waste liquid portion of the processing liquid via the tank that does not receive the high-temperature processing liquid discharged from the substrate processing apparatus among the first tank and the second tank. When Executes sequentially selects processing liquid cooling device.
前記第1タンクに貯留された処理液の温度を検出する温度センサと、
前記第2タンクに貯留された処理液の温度を検出する温度センサと、
前記第1タンクに貯留された処理液の液位を検出する液位センサと、
前記第2タンクに貯留された処理液の液位を検出する液位センサと、
をさらに備え、
前記制御部は、前記各温度センサおよび前記各液位センサの検出値に基づいて、前記複数の開閉弁を開閉制御する処理液冷却装置。 In the processing liquid cooling device in any one of Claims 2-8,
A temperature sensor for detecting the temperature of the processing liquid stored in the first tank;
A temperature sensor for detecting the temperature of the processing liquid stored in the second tank;
A liquid level sensor for detecting a liquid level of the processing liquid stored in the first tank;
A liquid level sensor for detecting the liquid level of the processing liquid stored in the second tank;
Further comprising
The control unit is a processing liquid cooling apparatus that controls opening and closing of the plurality of on-off valves based on detection values of the temperature sensors and the liquid level sensors.
請求項1から請求項9のいずれかに記載の処理液冷却装置を備える基板処理装置。 A substrate processing apparatus for processing a substrate by supplying a processing liquid to the substrate,
A substrate processing apparatus comprising the processing liquid cooling device according to claim 1.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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---|---|---|---|
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---|---|
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190819 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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