JP2017151014A - 電気回路およびセンサ - Google Patents

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菅原 康博
Yasuhiro Sugawara
康博 菅原
中嶋 節男
Setsuo Nakajima
節男 中嶋
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Abstract

【課題】センシング精度を向上させることができる電気回路およびセンサを提供する。【解決手段】フレキシブル基材10上に印刷された略同一出力の素子13を2以上有し、前記各素子13が互いに直列接続された回路の素子群20を備え、複数の素子13を直列接続した素子群20の出力をセンシング結果とすることで、各素子13の出力のばらつきを平準化する。【選択図】図1

Description

本発明は、電気回路およびセンサに関する。
印刷技術を用いて製造される電子素子(プリンテッドエレクトロニクスと称する)は近年注目を浴び、活発に検討が進められてきている。特許文献1には、有機トランジスタをアレイ状に配置する面分布のセンシング技術が開示されている。一般に、これらの技術は従来のSi(シリコン)集積回路の技術とは異なり、フレキシブル基板の上に印刷で回路やセンサ素子を形成するため、パターン精度が劣る。基板の凹凸や曲り等によりばらつきが多いことが課題となっており、材料面からのアプローチもなされている(例えば非特許文献1)。
一方で、特許文献2には、センサのバラツキを押さえる方法として、温度センサによる圧力センサの温度補償技術が開示されている。
特開2005−150146号公報 特開2002−48607号公報
Tomoyuki Yokota他、"Ultraflexible, large−area, physiological temperature sensors for multipoint measurements"(多点計測のための超薄型大面積生理温度センサ)、「アメリカ科学アカデミー紀要(PNAS)Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America」(オンライン版:2015年11月9日)
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、フレキシブル基板等の基材上に印刷技術を用いて形成した素子を用いたセンシングにおけるセンシング精度を向上させることができる電気回路およびセンサを提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の一態様は、基材上に印刷された略同一出力の素子を2以上有し、前記各素子が互いに直列接続された素子群を備える電気回路である。
また、本発明の一態様は、上記電気回路であって、前記素子群を2以上有し、各前記素子群が、前記基材上に形成された配線を介して直接または前記配線と前記基材上に形成されたスイッチ回路とを介して接続されている。
また、本発明の一態様は、上記電気回路であって、直列接続した合計の抵抗値の動作温度範囲の全域にわたる温度変化が1個の抵抗値よりも小さい材料で構成された標準物質であって、前記基材上に各前記素子群に対応するよう複数個直列接続して形成されたものをさらに備える。
また、本発明の一態様は、上記電気回路であって、各前記素子群からの各出力信号を処理する処理回路を前記基材上にさらに備える。
また、本発明の一態様は、上記電気回路であって、前記処理回路が、前記各出力信号の一部または全部を選択する選択回路を含む。
また、本発明の一態様は、上記電気回路であって、前記処理回路が、前記選択回路が選択した前記出力信号と所定の基準信号とを比較する比較回路をさらに含む。
また、本発明の一態様は、上記電気回路であって、前記素子の前記略同一出力が、前記素子の通電電流、前記素子の端子電圧、または、前記素子のインピーダンスの、前記素子の状態に応じた値や値の変化である。
また、本発明の一態様は、上記電気回路であって、前記各素子が互いに直列接続された直列回路の両端子が前記基材上で各前記素子からみて同一方向に配置されている。
また、本発明の一態様は、上記電気回路と、各前記素子群からの各出力信号を、1つの前記素子の出力に対応するように変換する、前記基材上に形成された変換回路とを備えるセンサである。
また、本発明の一態様は、上記電気回路が、フレキシブル基板上に設けられた印刷回路である、センサである。
本発明によれば、複数の素子を直列接続した素子群の出力をセンシング結果とすることができるので、各素子の出力のばらつきを平準化することで、各素子の出力のばらつきによるセンシング結果に対する影響を抑制することができ、センシング精度を向上させることができる。
本発明の第1実施形態に係る電気回路1の構成例を模式的に示す平面図である。 図1に示す第1実施形態の電気回路1の多層構造の構成例を模式的に示す断面図である。 図1におけるB−B断面図である。 本発明の第2実施形態に係る電気回路1Aの構成例を模式的に示す平面図である。 本発明の第3実施形態に係る電気回路1Bの構成例を模式的に示す平面図である。 本発明の第4実施形態に係る電気回路1Cの構成例を模式的に示す平面図である。 本発明の第5実施形態に係る電気回路1Dの構成例を模式的に示す図である。 本発明の第6実施形態に係る電気回路1Eの構成例を模式的に示す平面図である。 本発明の第7実施形態に係る電気回路1Fの構成例を模式的に示す平面図である。 本発明の第8実施形態に係るセンサ100の構成例を模式的に示す図である。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、各図において同一または対応する構成には同一の符号を付けて適宜説明を省略する。
<第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係る電気回路1の構成例を模式的に示す平面図である。図1は、基材10上に形成された電極11、上配線12、素子13および下配線14の接続状態と概略の位置関係を示す。
図1に示す電気回路1は、フレキシブル基板等の基材10上に図2に示す多層構造で形成された、電極11と、上配線12と、アレイ状に配置された複数の素子13と、下配線14とを備える。各素子13は、出力が略同一である。各素子13の出力とは、各素子13の通電電流、各素子13の端子電圧、または、各素子13のインピーダンスの、各素子13の状態に応じた値や値の変化である。各素子13のインピーダンスは、抵抗、容量性リアクタンスおよび誘導性リアクタンスを含む。素子13は、例えば、温度や圧力に応じて抵抗値や起電力を変化させたり、受光した光に応じて起電力を変化させたりする。各素子13は、温度、圧力、光、磁気、振動、加速度、流量などの物理量やそれらの変化量あるいは化学的特性の大きさや変化に応じて出力を変化させる。
図2は、電気回路1における多層構造を模式的に示す断面図である。図2に示す例では、ポリイミドフィルム等の可撓性を有する基材10の上に導電ペーストからなる下配線14の層が形成されている。この下配線14の層の上には、素子13の層がスクリーン印刷等の塗工によって形成されている。この素子13の層の上には、導電ペーストからなる上配線12または電極11の層が形成されている。そして、この上配線12または電極11の層の上にはポリイミドの保護フィルム16の層が形成されている。電気回路1は、図2に示した上配線12および下配線14の各層を図1に示すように基材10上の所定の位置で所定の領域を有するように形成することで、格子状に配置された複数の素子13を接続する回路を構成する。なお、図3は、電気回路1における断面構造の一例として、図1に示す断面B−Bを模式的に示す。
図1に示した例では、矢印Y方向に配列された各列10個の素子13が、上配線12または下配線14を介して直列接続されている。また、各2列合計20個の素子13が上配線12で接続されて20個の素子13の直列回路を構成する。この互いに直列接続された20個の素子13が素子群20を構成する。図1に示した例では、素子群20が、基材10上に印刷された略同一出力の素子13を20個有し、20個の素子13が互いに直列接続されている。この場合、各素子群20を構成する各素子13が互いに直列接続された直列回路の両端子15aおよび15bが基材10上で各素子13からみて同一方向(図に向かって上方向)に配置されている。端子15aおよび15bは、電極11に接続された上配線12と素子13とが接続された節点である。また、1つの素子群20の両端子15aまたは15bの一方が、他の素子群20の両端子15bまたは15aと上配線12を介して直接接続されている。つまり、電気回路1は、素子群20を2個以上有し、各素子群20が基材10上に形成された上配線12を介して直接接続されている。図1では160個の素子13が直列につながっているが、電気回路1はどこでも切れる構造になっており、例えば、鎖線C1の位置で基材10等を切断することで電気回路1は、4個の直列接続された素子群20を備え、合計80個の直列接続された素子13を備える。
図1に示した電気回路1では、切断後にX方向の両端の電極11の距離Lを計測し、距離Lを電極11間の距離Dで除して1を加えることで、X方向の素子13の数Np(=L/D+1)が求められる。この素子13の数Npは、切断の位置によって変化する。一方。Y方向の素子13の数Ncは固定である。鎖線C1で基材10等を切断した場合、電気回路1が備える素子13の総数はNp×Ncで求めることができる。
例えば、素子13の出力が温度に応じた抵抗値の変化である場合、鎖線C1で切断された電気回路1を使用すると、1対の電極11を選択することで、20個の素子13の直列回路、40個の素子13の直列回路、60個の素子13の直列回路、または80個の素子13の直列回路のいずれかを選択することができる。ユーザは、複数の素子13の直列回路の抵抗値を計測することで温度や温度の変化を知ることができる。例えば、80個の素子13の直列回路の抵抗値は、1個の素子13の80倍である。仮に1個の素子13の温度と抵抗値との関係が分かっているとすると、ユーザは、80個の素子13の直列回路の抵抗値を80分の1にすれば1個の素子13の抵抗値を再現することができ、温度の値を求めることができる。
塗工によって形成された素子13は、製造過程で、厚みの不均一性(主に製造時のフィルムの平面状態の変動によるものや、塗布インキの粘度や材料惣体の不均一性による)により抵抗値は、確率変数になるとみなせる。従って、1つの素子13は、大きな製造ロット全体の中の一つのサンプルとなり、平均μと、標準偏差σを期待値に持つ確率変数となる。この時の標準偏差値は製造工場の能力によって決まるが、技術にかけるコストとのバランスで決定され避けがたいものになる。ただし、80個の平均を取ると、平均値は期待値と同じとなるが、その標準偏差は80の平方根(√80)で除した値、約8.9分の1となる(中心極限定理)。そのため、より精度の高い計測が可能となる。
図1に示した構成では、鎖線C1で切断した場合、すべての素子13の抵抗の合計値tsに対して、1個の素子13の抵抗値Tは、T=ts/Nc/Npで求められる。また、図1に示した構成では、任意の2電極11間の抵抗値を求めることでX方向の位置による温度の変化を求めることができる。
なお、図1に示した電気回路1は容易に適当な位置で切断して使用することができる。素子群20間を正確に切断すれば無駄なく各素子13を使用することができるが、不正確であったとしても端部の電極11を使用しないようにすれば使用可能である。また、固定の長さで使用するのであれば、電極11は間引いたり、省略したりしてもよい。
以上のように第1実施形態によれば、2以上の素子13を配置して直列に接続して、素子13の出力の合計値を取り出し、平均値を利用することによって精度を高めることができる。また、X方向に任意の位置で切断して素子13の個数を容易に選択することができる。例えば、ユーザは、電気回路1を用いて計測した素子13の1個当たりの出力平均値と、予め十分な量のサンプリングデータから母集団の平均値として取得した素子13の出力と温度等の物理量や物理量の変化の値との対応関係とに基づいて、物理量や物理量の変化の値を求めることができる。このように第1実施形態によれば、複数の素子13を直列接続した素子群20の出力をセンシング結果とすることができるので、各素子13の出力のばらつきを平準化することで、各素子13の出力のばらつきによるセンシング結果に対する影響を抑制することができ、センシング精度を向上させることができる。
<第2実施形態>
図4は、本発明の第2実施形態に係る電気回路1Aの構成例を模式的に示す平面図である。図4は、基材10上に形成された電極11、上配線12、素子13Aおよび下配線14の接続状態と概略の位置関係を示す(以下、他の平面図において同様)。第2実施形態では、各素子群20A(図1の素子群20に対応)が2個の素子13Aを下配線14を介して直列接続した直列回路を備える。素子13Aは、図1の素子13の10個の直列回路とY方向の長さが略同一である。電気回路1Aでは、鎖線C2の位置で切断することで、4個の素子群20Aから電気回路1Aが構成される。この場合、電気回路1Aは、直列接続された8個の素子13Aを備える。第2実施形態の電気回路1Aは、素子13Aの個数を多くしなくても精度が安定している場合や、1つの素子13Aのサイズを大きく取りたい場合、素子13Aの長さを大きくしたい場合等に適している。
<第3実施形態>
図5は、本発明の第3実施形態に係る電気回路1Bの構成例を模式的に示す平面図である。図5に示す電気回路1Bは、図4に示す第2実施形態の電気回路1Aに対して、新たに複数の標準物質17が基材10上に形成されている。複数の標準物質17は、それぞれが基材10上に、各素子群20Aに対応するようかつ直列接続されて形成されている。各標準物質17は、複数の標準物質17を直列接続した合計の抵抗値の電気回路1Bの動作温度範囲の全域にわたる温度変化が標準物質17の1個の抵抗値よりも小さい材料で構成されていて、基材10上に各素子群20Aに対応するよう複数個直列接続して形成されている。この場合、複数の標準物質17は、上配線12または下配線14によってX方向に沿って直列に接続されている。第3実施形態では、例えば鎖線C2で切断した場合、直列接続された複数の標準物質17の抵抗の合計値を計測することで、長さLを計測せずに、個数Npを求めることができる。すなわち、切断後に電気回路1Bが有するすべての標準物質17の直列抵抗値から標準物質17の個数を求めることで、電気回路1Bが有する素子群20AおよびX方向の素子13Aの個数Npを計算することができる。なお、標準物質17は、例えば、標準値(例えば20度での抵抗値と同じ値で、温度依存がない)を示す材料を基材10上に塗布することで形成することができる。また、素子13Aが、例えば圧力等の温度以外の物理量等を検出するために使用される場合、素子13Aが製造ロット間でばらつきが比較的大きいときや温度依存性があるときに、標準物質17の抵抗値から求めた温度によって、素子13Aの出力を補正するようにしてもよい。また、素子13Aが検出する物理量等と、標準物質17が検出する物理量等とを同一とし、かつ、標準物質17が特定の状態で特定の特性値を示す材質で構成するようにすれば、標準物質17の特性値によって素子13Aの出力を補正することが可能となる。
<第4実施形態>
図6は、本発明の第4実施形態に係る電気回路1Cの構成例を模式的に示す平面図である。図6に示す電気回路1Cは、図1に示す第1実施形態の電気回路1が備える素子群20と同一構成の素子群20−1〜20−7を基材10上に形成して備えるとともに、各素子群20−1〜20−7のからの各出力信号を処理する処理回路30を基材10上に形成して備えている。素子群20−1〜20−7は互いに直列接続されている。ここで出力信号とは、各素子13の出力、すなわち、各素子13の通電電流、各素子13の端子電圧、または、各素子13のインピーダンスの、各素子13の状態に応じた値や値の変化を表す信号である。図6に示す処理回路30は、シフトレジスタ41と、複数のスイッチ回路51〜57とを備える。シフトレジスタ41と、複数のスイッチ回路51〜57とは、各素子群20−1〜20−7のからの各出力信号の一部または全部を選択する選択回路を構成する。複数のスイッチ回路51〜57はアナログスイッチ回路であり、シフトレジスタ41が出力する各制御信号60によってオンまたはオフに制御される。各スイッチ回路51〜57は、各素子群20−1〜20−7の両端子15aおよび15b間をショートしたりオープンにしたりする。例えば、スイッチ回路51は、素子群20−1の端子15aおよび15b間に接続されていて、スイッチ回路57は、素子群20−7の端子15aおよび15b間に接続されている。スイッチ回路51をオンすると素子群20−1の両端子15aおよび15b間がショートされ、素子群20−1の出力は計測されなくなる。同様に、スイッチ回路57をオンすると素子群20−7の両端子15aおよび15b間がショートされ、素子群20−7の出力は計測されなくなる。
また、電気回路1Cは、グランド端子GNDに接続された上配線12aと、電源またはデータ出力端子Vcc/dataに接続された上配線12bとを備える。上配線12aは素子群20−1の端子15aに接続されている。上配線12bは素子群20−7の端子15bに接続されている。例えば、電源またはデータ出力端子Vcc/dataとグランド端子GNDの間に外部から所定の電圧を印加し、電源またはデータ出力端子Vcc/dataとグランド端子GNDの間に流れる電流値を計測することで、処理回路30で選択した素子群20−1〜20−7の一部または全部を直列接続した場合の出力を計測することができる。
なお、シフトレジスタ41は、クロック端子CLKから入力される外部クロック信号に同期して制御信号60を所定のパターンで変化させる。また、リセット端子RSTに所定のレベルの信号が入力されると各制御信号60によって各スイッチ回路51〜57をすべてオフにして全出力の合計値を電源またはデータ出力端子Vcc/dataから出力することができる。このシフトレジスタ41の出力パターンを外部クロック信号に応じて変化させることで素子群20−1〜20−7の一部または全部を任意のパターンで選択することができる。
図6に示す第4実施形態に係る電気回路1Cによれば、X方向に基材10を延ばせば容易に素子群の数を増やすことができ、例えば測定対象物の両面に折り曲げて貼れば一枚の電気回路1Cで両面の測定が可能である。また、シフトレジスタ41をカスケード接続できる構造にしておくと、X方向に素子群を増加させることが容易であり、例えば長物に巻き付けて全体の分布を測定する用途などに使うことができる。
以上のように第4実施形態によれば、各素子群20−1〜20−7の各出力信号の一部または全部を選択する選択回路を含む処理回路30を設けたので、各素子群に対応する任意のブロックの計測ができる。例えば、環境温度と異なる温度の流体の入った容器に電気回路1Cを取り付けることで、界面を検出したり、温度群を検出したりするという用途に電気回路1Cは適する。
<第5実施形態>
図7は、本発明の第5実施形態に係る電気回路1Dの構成例を模式的に示す図である。図7に示す電気回路1Dは、図6に示す電気回路1C(図7では電気回路1C−1および1C−2として示す)を向きを変えて2段重ねにした構成を有する。図7では、電気回路1C−1が縦向きであるとすると、電気回路1C−2は基材10平面上で90度回転した横向きである。また、図7では、電気回路1C−1と電気回路1C−2とを間を開けて示しているが、電気回路1C−1と電気回路1C−2は例えば接着層を介して固着されている。図7に示す電気回路1Dでは、例えば、電気回路1C−1を用いた各素子群の走査と電気回路1C−2を用いた各素子群の走査との2回の走査で、面上の位置の状態を検出することが可能となる。
<第6実施形態>
図8は、本発明の第6実施形態に係る電気回路1Eの構成例を模式的に示す平面図である。図8に示す電気回路1Eは、複数の素子群20aと、処理回路30aと、電源またはデータ出力端子Vcc/dataに接続された上配線12と、グランド端子GNDに接続された下配線14とを備える。各素子群20aは、10個の素子13を上配線12または下配線14で直列接続した直列回路を備え、その直列回路の各一端を共通にグランド端子GNDに接続された下配線14に接続する。処理回路30aは、制御回路41aと、複数のスイッチ回路50とを備える。制御回路41aは、クロック端子CLKから入力される外部クロック信号と、リセット端子RSTに入力されるリセット信号と、コントロール端子CNTに入力される1または複数ビットの外部制御信号とに基づいて、制御信号61を生成し、複数のスイッチ回路50に出力する。各スイッチ回路50のスイッチの各一端は電源またはデータ出力端子Vcc/dataに接続された上配線12に共通に接続する。そして、各スイッチ回路50のスイッチの各他端は、複数の素子群20aが備える直列回路のグランド端子GNDに接続された下配線14に接続されていない各他端のいずれかに接続する。
制御回路41aは、例えばリセット端子RSTに所定のリセット信号が入力された場合、全てのスイッチ回路50をオンし、全ての素子群20aが備える直列回路を並列に接続することができる。また、制御回路41aは、例えばクロック端子CLKから入力される外部クロック信号に応じて複数の制御信号61のうちの1または複数の信号を時間に応じて順次所定のレベルにすることで1または複数のスイッチ回路50を時間に応じて順次オンさせる。この場合、1つの素子群20aを選択したり、複数の素子群20aを並列に接続したりすることができる。また、制御回路41aは、コントロール端子CNTに入力される1または複数ビットの外部制御信号に基づいて、任意のパターンで1または複数の素子群20aを選択する。
以上の構成において、電気回路1Eは、例えば、電源またはデータ出力端子Vcc/dataとグランド端子GNDの間に外部から所定の電圧を印加し、電源またはデータ出力端子Vcc/dataとグランド端子GNDの間に流れる電流値を計測することで、処理回路30aで選択した素子群20aのうちの1つの出力または一部もしくは全部を並列接続した場合の出力を計測することができる。
<第7実施形態>
図9は、本発明の第7実施形態に係る電気回路1Fの構成例を模式的に示す平面図である。図9に示す電気回路1Fは、複数の素子群20aと、処理回路30bと、グランド端子GNDに接続された下配線14とを備える。各素子群20aは、10個の素子13を上配線12または下配線14で直列接続した直列回路を備え、その直列回路の各一端をグランド端子GNDに接続された下配線14に共通に接続する。処理回路30bは、制御回路41aと、コンパレータ42(比較回路)と、抵抗43と、複数のスイッチ回路50とを備える。図9に示す制御回路41a、複数のスイッチ回路50、および複数の素子群20aの構成は、図8に示す第6実施形態の制御回路41a、複数のスイッチ回路50、および複数の素子群20aと同一である。ただし、第7実施形態では、各スイッチ回路50におけるスイッチの各素子群20aに接続されていない方の各端子が、コンパレータ42の一方の入力と抵抗43の一方の端子に接続された上配線12に接続されている。この点が、第6実施形態と異なる。抵抗43の他方の端子は、電源端子Vccに接続されている。コンパレータ42の出力は外部出力端子OUTに接続されている。コンパレータ42の他方の入力は外部入力端子INcに接続されている。電源端子Vccから入力された電源入力は図示していない内部電源回路にも供給され、内部電源回路が発生した電源が各回路へ供給される。外部入力端子INcへは外部から比較値(比較電圧)が所定の基準信号として入力される。コンパレータ42は比較値と各素子群20aの出力とを比較し、比較結果を外部出力端子OUTに出力する。
以上の構成で、電気回路1Fは、例えばリセット端子RSTに所定のリセット信号が入力された場合、全てのスイッチ回路50をオンし、全ての素子群20aが備える直列回路を並列に接続した回路と抵抗43とで決まる値と比較値とを比較し、比較結果を外部出力端子OUTに出力する。また、電気回路1Fは、例えばクロック端子CLKから入力される外部クロック信号に応じて順次、1つの素子群20aまたは複数の素子群20aを並列に接続した回路を選択し、選択した回路と抵抗43とで決まる値と比較値とを比較し、比較結果を外部出力端子OUTに出力する。また、電気回路1Fは、コントロール端子CNTに入力される1または複数ビットの外部制御信号に基づいて、任意のパターンで1または複数の素子群20aを選択し、選択した回路と抵抗43とで決まる値と比較値とを比較し、比較結果を外部出力端子OUTに出力する。
なお、図9に示す構成では、例えば、処理回路30bが、比較値を内部で生成する回路を含んでいてもよい。あるいは、比較値は、例えば一番端にある素子群20の出力としてもよい。
<第8実施形態>
図10は、本発明の第8実施形態に係るセンサ100の構成例を模式的に示す図である。図10に示すセンサ100は、図1を参照して説明した電気回路1と、電気回路1と同一の基材10上に形成された変換回路70とを備える。この場合、電気回路1は、4個の素子群20を備え、X方向で右端の素子群20の端子15bが変換回路70に接続されている。また、電気回路1のX方向で左端の素子群20の端子15aが上配線12および電極11を介してグランドGNDに接続されている。
変換回路70は、定電流回路71と制御部72とを備える。定電流回路71は電源端子Vccとグランド端子GNDとに接続されていて定電流源として動作し、4個の素子群20の直列回路に一定の電流を通電する。制御部72は、除算部73と、除数記憶部74と、A/D変換部(アナログ−デジタル変換部)75とを備える。除算部73は、A/D変換部75が出力した値を、除数記憶部74が記憶する除数で除した値を求め、一定間隔で自動的にあるいは外部制御入力端子CNTから所定の制御信号が入力されたときにそれに応じて、データ出力端子dataから出力する。除数記憶部74は、電気回路1が備える直列接続された素子13の個数(この例では80)を記憶する。A/D変換部75は、定電流回路71の出力電圧を入力し、デジタル値に変換して出力する。
素子13が例えば温度等に応じて抵抗値を変化させて出力する場合、A/D変換部75に入力される電圧は、定電流回路71の出力電流と80個の素子13の直列回路の抵抗値とを掛けた値となる。したがって、除算部73がA/D変換部75の出力値を除数記憶部74の記憶する除数で除した値は、各素子13が出力した平均の電圧値となる。
以上の構成によって第8実施形態のセンサ100は、同一基材10上に印刷された複数の素子13の出力の合計値に対して、変換回路70で平均化処理を行うことで、素子13の1個当たりの出力を仮想的に高精度化することができる。
なお、変換回路70と組み合わせる電気回路は図1に示す第1実施形態の電気回路1に限らず、上記各実施形態の任意の電気回路とすることができる。その際、例えば、図6に示す電気回路1Cのように複数の素子13の直列接続数が変化する構成と組み合わせる場合、変換回路70が、電気回路1Cの処理回路30からシフトレジスタ41の制御状態を示す情報を取得し、除算部73が除数を変更できるようにすれば、変換回路70を種々の選択状態に対応可能とすることができる。また、例えば、図8に示す電気回路1Eのように複数の素子13を直列接続した素子群20aを複数並列接続することができる構成と組み合わせる場合、変換回路70が、電気回路1Eの処理回路30aから制御回路41aによる各スイッチ回路50の制御状態を示す情報を取得し、除算部73が除数を変更できるようにすれば、変換回路70を種々の選択状態に対応可能とすることができる。
以上、本発明の各実施形態によれば、複数の素子を直列接続した素子群(電気回路、例えばフレキシブル基板上に設けられた印刷回路)の出力をセンシング結果とすることができるので、各素子の出力のばらつきを平準化することで、各素子の出力のばらつきによるセンシング結果に対する影響を抑制することができ、センシング精度を向上させることができる。
なお、本発明の実施形態は上記のものに限定されない。例えば、上記説明では、主に、素子13の出力が抵抗値の変化である場合を例にして説明したが、例えば、インピーダンスの変化である場合、素子13に供給する電流あるいは電圧は直流に限らず、交流あるいは交流成分を含む直流とすることができる。その場合、例えば、各種のフィルタ回路を組み合わせて基材10上に形成してもよい。また、図10に示したセンサ100を構成する変換回路70を、例えば図6に示す電気回路1Cと組み合わせる場合、変換回路70と処理回路30を一体化することができる。
1、1A〜1G 電気回路
10 基材
11 電極
12 上配線
13、13A 素子
14 下配線
15a、15b 端子
20、20−1〜20−7、20a 素子群
100 センサ

Claims (10)

  1. 基材上に印刷された略同一出力の素子を2以上有し、前記各素子が互いに直列接続された素子群
    を備える電気回路。
  2. 前記素子群を2以上有し、各前記素子群が、前記基材上に形成された配線を介して直接または前記配線と前記基材上に形成されたスイッチ回路とを介して接続されている
    請求項1に記載の電気回路。
  3. 直列接続した合計の抵抗値の動作温度範囲の全域にわたる温度変化が1個の抵抗値よりも小さい材料で構成された標準物質であって、前記基材上に各前記素子群に対応するよう複数個直列接続して形成されたもの
    をさらに備える請求項2に記載の電気回路。
  4. 各前記素子群からの各出力信号を処理する処理回路を
    前記基材上にさらに備える請求項2または3に記載の電気回路。
  5. 前記処理回路が、前記各出力信号の一部または全部を選択する選択回路を含む
    請求項4に記載の電気回路。
  6. 前記処理回路が、前記選択回路が選択した前記出力信号と所定の基準信号とを比較する比較回路を
    さらに含む請求項5に記載の電気回路。
  7. 前記素子の前記略同一出力が、前記素子の通電電流、前記素子の端子電圧、または、前記素子のインピーダンスの、前記素子の状態に応じた値や値の変化である
    請求項1から6のいずれか1項に記載の電気回路。
  8. 前記各素子が互いに直列接続された直列回路の両端子が前記基材上で各前記素子からみて同一方向に配置されている
    請求項1から7のいずれか1項に記載の電気回路。
  9. 請求項1から8のいずれか1項に記載の電気回路と、
    各前記素子群からの各出力信号を、1つの前記素子の出力に対応するように変換する、前記基材上に形成された変換回路と
    を備えるセンサ。
  10. 請求項1から8のいずれか1項に記載の電気回路が、フレキシブル基板上に設けられた印刷回路である、請求項9に記載のセンサ。
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