JP2017133883A - Sensor package and sensor device - Google Patents

Sensor package and sensor device Download PDF

Info

Publication number
JP2017133883A
JP2017133883A JP2016012512A JP2016012512A JP2017133883A JP 2017133883 A JP2017133883 A JP 2017133883A JP 2016012512 A JP2016012512 A JP 2016012512A JP 2016012512 A JP2016012512 A JP 2016012512A JP 2017133883 A JP2017133883 A JP 2017133883A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
sensor
sensor device
sensor element
mounting portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016012512A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6605971B2 (en
Inventor
堀川 久直
Hisanao Horikawa
久直 堀川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2016012512A priority Critical patent/JP6605971B2/en
Publication of JP2017133883A publication Critical patent/JP2017133883A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6605971B2 publication Critical patent/JP6605971B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15153Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sensor package which allows a sensor device to be easily miniaturized.SOLUTION: A sensor package 10 includes: a first substrate 1 which has a first mounting part 11a at the center part of an upper surface 11, and which has a second mounting part 12a on a lower surface 12; and a second substrate 2 in which an outer peripheral part of the upper surface 11 of the first substrate 1 is connected to a lower surface 21. The second substrate 2 has a penetration part 3 which penetrates the second substrate 2 in its thickness direction at a portion where the penetration part 3 overlaps with the first mounting part 11a of the first substrate 1 in a planar and perspective view.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、センサ素子が搭載される素子搭載部を有するセンサ用パッケージおよびセンサ装置に関するものである。   The present invention relates to a sensor package and a sensor device having an element mounting portion on which a sensor element is mounted.

圧力センサ素子、ガスセンサ素子または超音波センサ素子等のセンサ素子が搭載されるセンサ用パッケージとして、平板状等の絶縁基板の上面にセンサ素子の搭載部を有するものが用いられている。搭載部にセンサ素子が搭載されてセンサ装置が形成される。   As a sensor package in which a sensor element such as a pressure sensor element, a gas sensor element, or an ultrasonic sensor element is mounted, a sensor package having a sensor element mounting portion on an upper surface of a flat plate-like insulating substrate is used. A sensor device is formed by mounting the sensor element on the mounting portion.

センサ装置において搭載部に搭載された電子部品は、絶縁基板に設けられた配線導体等を介して外部電気回路に電気的に接続される。外部電気回路は、演算および記憶等の機能を有する機能素子を含んでいる。センサ装置と機能素子との間で信号が送受される。この信号に基づいて、圧力、ガスまたは超音波等の物理量の検知、測定およびディスプレイ等への信号送信等の種々の処理が行なわれる。   An electronic component mounted on the mounting portion in the sensor device is electrically connected to an external electric circuit via a wiring conductor or the like provided on the insulating substrate. The external electric circuit includes a functional element having functions such as calculation and storage. Signals are transmitted and received between the sensor device and the functional element. Based on this signal, various processes such as detection of physical quantities such as pressure, gas or ultrasonic waves, measurement, and signal transmission to a display or the like are performed.

特開2007−178133号公報JP 2007-178133 特開平9−145512号公報JP-A-9-145512

上記従来の技術においては、上記物理量の検知等に際しては、センサ装置と機能素子等を含む外部電気回路とが回路基板に実装されてモジュールを形成される。そのため、物理量を検知する装置としてモジュール等の平面視における面積の小型化が難しい。   In the prior art, when detecting the physical quantity, a sensor device and an external electric circuit including a functional element are mounted on a circuit board to form a module. Therefore, it is difficult to reduce the area in plan view of a module or the like as a device for detecting a physical quantity.

発明の1つの態様のセンサ用パッケージは、上面および下面を有し、前記上面の中央部に第1搭載部を有する第1基板と、下面を有し、該下面に、前記第1基板の前記上面の外周部が接合される第2基板とを備えており、該第2基板が、平面透視で前記第1基板の第1搭載部と重なる部分において前記第2基板の厚み方向に貫通する貫通部を有している。   A sensor package according to one aspect of the invention includes a first substrate having a top surface and a bottom surface, a first mounting portion at a central portion of the top surface, a bottom surface, and the bottom surface of the first substrate. A second substrate to which the outer peripheral portion of the upper surface is bonded, and the second substrate penetrates in the thickness direction of the second substrate at a portion overlapping the first mounting portion of the first substrate in a plan view. Has a part.

本発明の1つの態様のセンサ装置は、上記構成のセンサ用パッケージと、前記第1搭載部に搭載されたセンサ素子と、前記第2搭載部に搭載された電子部品とを備えており、前記第2基板の貫通部内に前記センサ素子が位置している。   A sensor device according to one aspect of the present invention includes a sensor package having the above-described configuration, a sensor element mounted on the first mounting portion, and an electronic component mounted on the second mounting portion, The sensor element is located in the penetrating portion of the second substrate.

本発明の1つの態様のセンサ用パッケージによれば、センサ素子および機能素子等の電子部品が第1基板の上面の第1搭載部および下面の第2搭載部にまとめて搭載される。そのため、圧力等の検知が容易であり、平面視において小型化が容易なセンサ装置の製作が可能なセンサ用パッケージを提供することができる。   According to the sensor package of one aspect of the present invention, electronic components such as sensor elements and functional elements are collectively mounted on the first mounting portion on the upper surface and the second mounting portion on the lower surface of the first substrate. Therefore, it is possible to provide a sensor package capable of manufacturing a sensor device that can easily detect pressure and the like and can be easily downsized in plan view.

本発明の1つの態様のセンサ装置によれば、上記構成のセンサ用パッケージの第1搭載部にセンサ素子が搭載されているとともに、第2搭載部に電子部品が搭載されているため、圧力等の検知が容易であり、平面視において小型化が容易なセンサ装置を提供することができる。   According to the sensor device of one aspect of the present invention, the sensor element is mounted on the first mounting portion of the sensor package having the above configuration, and the electronic component is mounted on the second mounting portion. It is possible to provide a sensor device that is easy to detect and can be easily downsized in plan view.

(a)は本発明の実施形態のセンサ用パッケージおよびセンサ装置を示す平面図であり、(b)は(a)のA−A線における断面図である。(A) is a top view which shows the package for sensors and sensor apparatus of embodiment of this invention, (b) is sectional drawing in the AA of (a). 図1に示すセンサ用パッケージおよびセンサ装置の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of the package for sensors shown in FIG. 1, and a sensor apparatus. 図1に示すセンサ用パッケージおよびセンサ装置の他の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other modification of the package for sensors shown in FIG. 1, and a sensor apparatus. 図1に示すセンサ用パッケージおよびセンサ装置の他の変形例を示す分解断面図である。FIG. 7 is an exploded cross-sectional view showing another modification of the sensor package and the sensor device shown in FIG. 1. 図1に示すセンサ用パッケージおよびセンサ装置の他の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other modification of the package for sensors shown in FIG. 1, and a sensor apparatus.

本発明の実施形態のセンサ用パッケージおよびセンサ装置を、添付の図面を参照して説明する。図1(a)は本発明の実施形態のセンサ用パッケージおよびセンサ装置を示す平面図であり、図1(b)は図1(a)のA−A線における断面図である。なお、以下の説明における上下の区別は便宜的なものであり、実際にセンサ用パッケージおよびセンサ装置が使用されるときの上下を特定するものではない。   A sensor package and a sensor device according to embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Fig.1 (a) is a top view which shows the package for sensors and the sensor apparatus of embodiment of this invention, FIG.1 (b) is sectional drawing in the AA of Fig.1 (a). In addition, the distinction between the upper and lower sides in the following description is for convenience, and does not specify the upper and lower sides when the sensor package and the sensor device are actually used.

センサ用パッケージ10は、上面11および下面12を有する第1基板1と、下面21を有し、この下面21に第1基板1の上面11が接合される第2基板2とを有している。第1基板1は、その上面11の中央部に第1搭載部11aを有するとともに、その下面12に第2搭載部12aを有している。第2基板2は、平面透視で第1基板1の第1搭載部11aと重なる部分において第2基板2の厚み方向に貫通する貫通部3を有している。上記のように第1基板1と第2基板2とが互いに接合されたときに、貫通部3のうち下側(第2基板2の下面21側)の開口部において第1基板1の上面11の一部が露出する。   The sensor package 10 includes a first substrate 1 having an upper surface 11 and a lower surface 12, and a second substrate 2 having a lower surface 21 to which the upper surface 11 of the first substrate 1 is bonded. . The first substrate 1 has a first mounting portion 11a at the center of the upper surface 11 and a second mounting portion 12a on the lower surface 12 thereof. The second substrate 2 has a through portion 3 that penetrates in the thickness direction of the second substrate 2 in a portion that overlaps the first mounting portion 11a of the first substrate 1 in a plan view. As described above, when the first substrate 1 and the second substrate 2 are bonded to each other, the upper surface 11 of the first substrate 1 is formed in the opening on the lower side (the lower surface 21 side of the second substrate 2) of the through-hole 3. A part of is exposed.

第1基板1は、上面11に第1搭載部11aを有し、下面12に第2搭載部12aを有している。この実施形態において、第1搭載部11aは、第1基板1の上面11のうち貫通部3の下側の開口部において露出する部分である。また、第2搭載部12aは、第1基板1の下面12のうち外周部分(枠状の部分)を除く部分である。第1搭載部11aにセンサ素子31が搭載されるとともに、第2搭載部12aに電子部品32が搭載され、第1基板1の上面11が第2基板2の下面21に接合されてセンサ装置30が基本的に構成されている。   The first substrate 1 has a first mounting portion 11 a on the upper surface 11 and a second mounting portion 12 a on the lower surface 12. In this embodiment, the first mounting portion 11 a is a portion exposed in the opening on the lower side of the through portion 3 on the upper surface 11 of the first substrate 1. The second mounting portion 12a is a portion excluding the outer peripheral portion (frame-like portion) of the lower surface 12 of the first substrate 1. A sensor element 31 is mounted on the first mounting portion 11a, an electronic component 32 is mounted on the second mounting portion 12a, and the upper surface 11 of the first substrate 1 is bonded to the lower surface 21 of the second substrate 2 so that the sensor device 30 is mounted. Is basically configured.

センサ装置30において、第1搭載部11aのすぐ上に接して第2基板2の貫通部3が配置されるため、第1搭載部11aに搭載されたセンサ素子31は貫通部3内に位置することになる。また、センサ装置30を上から見たときに、貫通部3を通して見えるようにセンサ素子31が実装されている。   In the sensor device 30, the penetrating portion 3 of the second substrate 2 is disposed immediately in contact with the first mounting portion 11 a, so that the sensor element 31 mounted on the first mounting portion 11 a is located in the penetrating portion 3. It will be. A sensor element 31 is mounted so that the sensor device 30 can be seen through the through portion 3 when viewed from above.

第1基板1は、センサ素子31および電子部品32を搭載するための搭載用基板として機能する。第2基板2は、第1基板1に搭載されるセンサ素子31および電子部品32を外部電気回路(図示せず)に電気的に接続するための接続用基板として機能する。図1に示す例においては、第2基板2の下面21の中央部に凹部4が設けられ、この凹部4内に第1基板1が収容されている。センサ用パッケージ10に搭載されるセンサ素子31および電子部品32は、例えば第2基板2の下面21の外周部に設けられた凸状部(符号なし)に配置された配線導体5を介して外部電気回路に電気的に接続される。このような電気的接続の具体的な例については後述する。   The first substrate 1 functions as a mounting substrate for mounting the sensor element 31 and the electronic component 32. The second substrate 2 functions as a connection substrate for electrically connecting the sensor element 31 and the electronic component 32 mounted on the first substrate 1 to an external electric circuit (not shown). In the example shown in FIG. 1, a recess 4 is provided in the center of the lower surface 21 of the second substrate 2, and the first substrate 1 is accommodated in the recess 4. The sensor element 31 and the electronic component 32 mounted on the sensor package 10 are externally connected via, for example, a wiring conductor 5 disposed on a convex portion (not indicated) provided on the outer peripheral portion of the lower surface 21 of the second substrate 2. Electrically connected to the electrical circuit. A specific example of such electrical connection will be described later.

第1基板1の上面11の外周部と、第2基板2の下面21の中央部(貫通部3の周辺部分)とは、例えば、ろう材、ガラスまたは有機樹脂を含む接着剤等の接合材(図示せず)によ
って互いに接合される。この接合にろう材が用いられる場合には、第1基板1の上面11の外周部および第2基板2の下面21のうち互いに対向し合って接合される部分に、ろう付け用の下地金属層(図示せず)が設けられる。
The outer peripheral portion of the upper surface 11 of the first substrate 1 and the central portion (the peripheral portion of the through portion 3) of the lower surface 21 of the second substrate 2 are, for example, a bonding material such as a brazing material, glass or an organic resin-containing adhesive. (Not shown). When a brazing material is used for this joining, a base metal layer for brazing is formed on the outer peripheral portion of the upper surface 11 of the first substrate 1 and the lower surface 21 of the second substrate 2 so as to be opposed to each other. (Not shown) is provided.

センサ素子31としては、例えば、圧力センサ素子、ガスセンサ素子または超音波センサ素子等が挙げられる。センサ素子31は、例えばシリコン基板等の半導体基板の表面(主面)に微細な電子機械システムが設けられた、いわゆるMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)素子であってもよい。センサ素子31が圧力センサ素子の場合であれば、半導体基板等の基板の主面に、ダイヤフラム等の圧力に応じて変形する部分と、その変形に応じて変化する抵抗値等を検知する測定回路とが設けられている。   Examples of the sensor element 31 include a pressure sensor element, a gas sensor element, and an ultrasonic sensor element. The sensor element 31 may be a so-called MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) element in which a fine electromechanical system is provided on the surface (main surface) of a semiconductor substrate such as a silicon substrate. If the sensor element 31 is a pressure sensor element, a measurement circuit that detects a portion of the main surface of a substrate such as a semiconductor substrate that deforms according to the pressure of a diaphragm, a resistance value that changes according to the deformation, etc. And are provided.

電子部品32は、例えば、ICまたはLSI等の半導体集積回路素子、圧電素子、容量素子、抵抗器またはインダクタ素子等である。電子部品32は複数個であってもよく、複数種のものが含まれていてもよい。   The electronic component 32 is, for example, a semiconductor integrated circuit element such as an IC or LSI, a piezoelectric element, a capacitive element, a resistor, an inductor element, or the like. A plurality of electronic components 32 may be included, and a plurality of types of electronic components 32 may be included.

例えば、センサ素子31が圧力センサ素子であれば、センサ装置30が配置された環境における圧力の大きさ、またはその圧力の変化をセンサ素子31で検知することができる。センサ素子31で検知された圧力に関する情報は、電気信号として電子部品32に伝送され、電子部品32で各種の処理が行なわれる。   For example, if the sensor element 31 is a pressure sensor element, the sensor element 31 can detect the magnitude of the pressure in the environment where the sensor device 30 is disposed or a change in the pressure. Information on the pressure detected by the sensor element 31 is transmitted as an electric signal to the electronic component 32, and various processing is performed by the electronic component 32.

この場合には、電子部品32からさらに外部電気回路に処理結果の信号が伝送され、外部電気回路が実装された電子機器の制御または処理結果のディスプレイへの表示等の最終の処理が行なわれる。例えば、圧力センサ装置から伝送された処理結果としてのタイヤの空気圧の変動が、自動車の制御用機器において制御の情報として使用される。   In this case, a processing result signal is further transmitted from the electronic component 32 to the external electric circuit, and final processing such as control of the electronic device on which the external electric circuit is mounted or display of the processing result on the display is performed. For example, a change in tire air pressure as a processing result transmitted from the pressure sensor device is used as control information in an automobile control device.

実施形態のセンサ用パッケージ10では、センサ素子31および機能素子であるIC等の電子部品32が第1基板1の上面11の第1搭載部11aおよび下面12の第2搭載部12aにまとめて搭載される。そのため、圧力等の検知が容易であり、平面視において小型化が容易なセンサ装置30の製作が可能なセンサ用パッケージ10を提供することができる。   In the sensor package 10 of the embodiment, the sensor element 31 and the electronic component 32 such as an IC which is a functional element are mounted together on the first mounting portion 11a on the upper surface 11 and the second mounting portion 12a on the lower surface 12 of the first substrate 1. Is done. Therefore, it is possible to provide the sensor package 10 in which the sensor device 30 that can easily detect the pressure and the like and can be easily downsized in plan view can be manufactured.

また、実施形態のセンサ装置30では、上記構成のセンサ用パッケージ10の第1搭載部11aにセンサ素子31が搭載されているとともに、第2搭載部12aに電子部品32が搭載されている。そのため、圧力等の検知が容易であり、平面視において小型化が容易なセンサ装置30を提供することができる。   In the sensor device 30 of the embodiment, the sensor element 31 is mounted on the first mounting portion 11a of the sensor package 10 having the above configuration, and the electronic component 32 is mounted on the second mounting portion 12a. Therefore, it is possible to provide a sensor device 30 that can easily detect pressure and the like and can be easily downsized in plan view.

また、例えば図1に示す例におけるセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30は、貫通部3内にセンサ素子31が収められるため、薄型化についても有利である。また、このようなセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30は、貫通部3を通して外部の圧力、温度または音波等の物理量を感知することができるため、センシング機能の確保等の点でも有利である。   Further, for example, the sensor package 10 and the sensor device 30 in the example shown in FIG. 1 are advantageous in reducing the thickness because the sensor element 31 is accommodated in the through-hole 3. In addition, the sensor package 10 and the sensor device 30 can sense a physical quantity such as an external pressure, temperature, or sound wave through the penetrating portion 3 and are advantageous in terms of securing a sensing function.

第1基板1は、例えば、平面視で正方形状または長方形状等の矩形状(全体として直方体状)であり、酸化アルミニウム質焼結体、ガラスセラミック焼結体、窒化アルミニウム質焼結体またはムライト質焼結体等のセラミック焼結体によって形成されている。   The first substrate 1 has, for example, a rectangular shape (as a whole, a rectangular parallelepiped shape) such as a square shape or a rectangular shape in plan view, and is an aluminum oxide sintered body, a glass ceramic sintered body, an aluminum nitride sintered body, or a mullite. It is formed of a ceramic sintered body such as a quality sintered body.

第1基板1は、例えば酸化アルミニウム質焼結体からなる場合であれば、次のようにして製作することができる。すなわち、まず酸化アルミニウムおよび酸化ケイ素等の原料粉末を適当な有機バインダおよび有機溶剤とともにシート状に成形して四角シート状のセラミックグリーンシートを作製する。その後、このセラミックグリーンシートを適当な寸法に切断、成形したものを1300〜1600℃の温度で焼成する。以上の工程によって第1基板1
を製作することができる。
If the first substrate 1 is made of, for example, an aluminum oxide sintered body, it can be manufactured as follows. That is, first, raw material powders such as aluminum oxide and silicon oxide are formed into a sheet shape together with an appropriate organic binder and an organic solvent to produce a square sheet-like ceramic green sheet. Thereafter, the ceramic green sheet is cut and formed into an appropriate size and fired at a temperature of 1300 to 1600 ° C. Through the above steps, the first substrate 1
Can be produced.

この場合に、複数のセラミックグリーンシートを積層して積層体を作製し、この積層体を焼成して第1基板1を製作するようにしてもよい。焼成された複数のセラミックグリーンシートが、それぞれ第1基板1を形成する絶縁層(符号なし)になる。すなわち、第1基板1は、複数の絶縁層からなるものであってもよい。   In this case, a plurality of ceramic green sheets may be laminated to produce a laminated body, and the laminated body may be fired to produce the first substrate 1. The plurality of fired ceramic green sheets become insulating layers (no symbol) that form the first substrate 1. That is, the first substrate 1 may be composed of a plurality of insulating layers.

第2基板2は、例えば、平面視で正方形状または長方形状等の矩形状(全体として直方体状)であり、酸化アルミニウム質焼結体、ガラスセラミック焼結体、窒化アルミニウム質焼結体またはムライト質焼結体等のセラミック焼結体によって形成されている。また、図1に示す例において、第2基板2は複数の絶縁層(符号なし)が積層されて形成されている。   The second substrate 2 has, for example, a rectangular shape (as a whole, a rectangular parallelepiped shape) such as a square shape or a rectangular shape in plan view, and is an aluminum oxide sintered body, a glass ceramic sintered body, an aluminum nitride sintered body, or a mullite. It is formed of a ceramic sintered body such as a quality sintered body. In the example shown in FIG. 1, the second substrate 2 is formed by laminating a plurality of insulating layers (no symbols).

第2基板2は、上記のように、下面21の中央部に設けられた凹部4に第1基板1が収容されるとともに、下面21の外周部に設けられた凸状部(符号なし)下端の配線導体5が外部接続されるものである。そのため、平面視において、第2基板2の大きさは、第1基板1の大きさよりも大きい。   As described above, the second substrate 2 is configured such that the first substrate 1 is accommodated in the concave portion 4 provided in the center portion of the lower surface 21 and the lower end of the convex portion (not indicated) provided in the outer peripheral portion of the lower surface 21. The wiring conductor 5 is externally connected. Therefore, the size of the second substrate 2 is larger than the size of the first substrate 1 in plan view.

第2基板2についても、第1基板1と同様の材料を用い、同様の方法で製作することができる。すなわち、まず上記のように原料粉末を成形してセラミックグリーンシートを作製し。その後、このセラミックグリーンシートを適当な寸法に切断、成形したものを積層し、この積層したものを1300〜1600℃の温度で焼成する。以上の工程によって第2基板2を製作することができる。   The second substrate 2 can also be manufactured by the same method using the same material as the first substrate 1. That is, first, a raw material powder is molded as described above to produce a ceramic green sheet. Thereafter, the ceramic green sheets cut and formed into appropriate dimensions are laminated, and the laminated ones are fired at a temperature of 1300 to 1600 ° C. The 2nd board | substrate 2 can be manufactured according to the above process.

この場合に、第2基板2となる複数のセラミックグリーンシートの所定部位に貫通部3に対応した貫通孔を設けておけば、貫通部3を有する第2基板2を製作することができる。セラミックグリーンシートの貫通孔は、機械的な打ち抜き加工またはレーザ加工等の孔あけ加工によって形成することができる。   In this case, if a through hole corresponding to the through portion 3 is provided in a predetermined portion of the plurality of ceramic green sheets to be the second substrate 2, the second substrate 2 having the through portion 3 can be manufactured. The through hole of the ceramic green sheet can be formed by punching such as mechanical punching or laser processing.

また、第2基板2となる複数のセラミックグリーンシートのうち下面21側のものに凹部4に対応した開口部を設けておけば、凹部4を有する第2基板2を製作することができる。凹部4になる開口部についても、機械的な打ち抜き加工等の孔あけ加工によって形成することができる。凹部4となる開口部は、凹部4の深さ等に応じて、最も下側になるセラミックグリーンシートに限らず、最も下側から上方向に複数のセラミックグリーンシートに形成しておいてもよい。   Moreover, if the opening corresponding to the recessed part 4 is provided in the thing of the lower surface 21 side among the several ceramic green sheets used as the 2nd board | substrate 2, the 2nd board | substrate 2 which has the recessed part 4 can be manufactured. The opening that becomes the recess 4 can also be formed by drilling such as mechanical punching. The opening serving as the recess 4 is not limited to the lowermost ceramic green sheet depending on the depth of the recess 4 or the like, and may be formed in a plurality of ceramic green sheets upward from the lowermost side. .

貫通部3は、上記のように第1搭載部11aに搭載されるセンサ素子31をセンサ用パッケージ10から外部に露出させる必要があるため、第2基板2の上面22から下面21にかけて貫通しているものである必要がある。凹部4は、第1基板1および第1基板1(第2搭載部12a)の効果的な封止を考慮したときには、第1基板1の厚みよりも大きい深さに設定される。   Since the penetration part 3 needs to expose the sensor element 31 mounted on the first mounting part 11 a to the outside from the sensor package 10 as described above, the penetration part 3 penetrates from the upper surface 22 to the lower surface 21 of the second substrate 2. It must be. The concave portion 4 is set to a depth larger than the thickness of the first substrate 1 in consideration of effective sealing of the first substrate 1 and the first substrate 1 (second mounting portion 12a).

貫通部3および凹部4の平面視における形状は、図1に示す例では四角形状であるが、これに限らず、第1搭載部11aに搭載されるセンサ素子31または凹部4に収容される第1基板1の形状等に応じて適宜設定された形状でも構わない。具体的に、貫通部3および凹部4の平面視における形状は、角部を円弧状に面取りした四角形状等の多角形状、円形状、楕円形状または楕円形状等であって外周の一部が直線状に変形された形状等でも構わない。   In the example shown in FIG. 1, the shape of the penetrating portion 3 and the recessed portion 4 in a plan view is a quadrangular shape. However, the shape is not limited to this, and the shape is not limited to this. A shape appropriately set according to the shape or the like of one substrate 1 may be used. Specifically, the shape of the penetrating part 3 and the recessed part 4 in plan view is a polygonal shape such as a quadrangular shape whose corners are chamfered in an arc shape, a circular shape, an elliptical shape, an elliptical shape, etc. A shape deformed into a shape may be used.

第1搭載部11aに搭載されるセンサ素子31と第2搭載部12aに搭載される電子部品32と
は、例えば、第1基板1の内部および表面等に設けられた配線導体(図示せず)によって互いに電気的に接続される。配線導体の一例は、一端が第1搭載部11aに位置するとともに、他端が第2搭載部12aに位置するパターンを有する。この場合の配線導体は、第1基板1の厚み方向の少なくとも一部を貫通する貫通導体(ビア導体)(図示せず)を含んでいてもよい。
The sensor element 31 mounted on the first mounting portion 11a and the electronic component 32 mounted on the second mounting portion 12a are, for example, wiring conductors (not shown) provided inside and on the surface of the first substrate 1. Are electrically connected to each other. An example of the wiring conductor has a pattern in which one end is positioned on the first mounting portion 11a and the other end is positioned on the second mounting portion 12a. The wiring conductor in this case may include a through conductor (via conductor) (not shown) penetrating at least a part of the first substrate 1 in the thickness direction.

配線導体に対するセンサ素子31および電子部品32の電気的な接続は、例えばボンディングワイヤまたははんだ等の導電性接続材によって行なわれる。図1に示す例では、センサ素子31はボンディングワイヤ33によって配線導体に電気的に接続されている。また、電子部品32ははんだ(符号なし)によって配線導体に電気的に接続されている。なお、図1に示す例では、電子部品32として半導体集積回路素子(IC)および容量素子(チップコンデンサ)が第2搭載部12aに搭載されている。半導体集積回路素子は凸状のはんだ(はんだバンプ)によって配線導体に接合され、容量素子は、その本体の端部に配置された電極がはんだ(はんだペースト)によって配線導体に直付けされている。   Electrical connection of the sensor element 31 and the electronic component 32 to the wiring conductor is performed by a conductive connecting material such as a bonding wire or solder. In the example shown in FIG. 1, the sensor element 31 is electrically connected to the wiring conductor by a bonding wire 33. Further, the electronic component 32 is electrically connected to the wiring conductor by solder (no symbol). In the example shown in FIG. 1, a semiconductor integrated circuit element (IC) and a capacitor element (chip capacitor) are mounted on the second mounting portion 12a as the electronic component 32. The semiconductor integrated circuit element is bonded to the wiring conductor by a convex solder (solder bump), and the capacitor element has an electrode disposed at the end of the main body directly attached to the wiring conductor by solder (solder paste).

配線導体は、例えば、タングステン、モリブデン、マンガン、銅、銀、パラジウム、金、白金、ニッケルまたはコバルト等の金属材料によって形成されている。また配線導体は、これらの金属材料を含む合金材料等によって形成されていてもよい。このような金属材料等は、メタライズ層、めっき層および薄膜層等の形態から適宜選択される形態の金属層として、第1基板1の表面に設けられている。第1基板1が複数の絶縁層からなる場合であれば、これらの絶縁層の表面または後述する貫通孔内に上記の金属層が設けられて配線導体になる。   The wiring conductor is made of a metal material such as tungsten, molybdenum, manganese, copper, silver, palladium, gold, platinum, nickel, or cobalt. The wiring conductor may be formed of an alloy material containing these metal materials. Such a metal material or the like is provided on the surface of the first substrate 1 as a metal layer in a form appropriately selected from forms such as a metallized layer, a plating layer, and a thin film layer. In the case where the first substrate 1 is composed of a plurality of insulating layers, the metal layer is provided on the surface of these insulating layers or in a through hole described later to become a wiring conductor.

この配線導体は、例えば、タングステンのメタライズ層である場合には、タングステンの粉末を有機溶剤および有機バインダと混合して作製した金属ペーストを第1基板1の絶縁層となるセラミックグリーンシートの表面またはあらかじめ設けておいた貫通孔内に、スクリーン印刷法等の方法で印刷して焼成する方法で形成することができる。このメタライズ層は、第1基板1の上面11および下面12等の外表面に露出する部分において、電解めっき法または無電解めっき法等のめっき法でニッケルおよび金等のめっき層がさらに被着されたものであってもよい。   For example, when the wiring conductor is a tungsten metallized layer, the surface of the ceramic green sheet that becomes the insulating layer of the first substrate 1 or a metal paste prepared by mixing tungsten powder with an organic solvent and an organic binder or In the through-hole previously provided, it can form by the method of printing and baking by methods, such as a screen printing method. This metallized layer is further coated with a plating layer of nickel, gold, or the like by a plating method such as an electrolytic plating method or an electroless plating method on a portion exposed to the outer surface such as the upper surface 11 and the lower surface 12 of the first substrate 1. It may be.

第1基板1に搭載されるセンサ素子31および電子部品32は、前述したように、第2基板2の下面21の外周部に設けられた凸状部の下端に配置された配線導体5を介して外部電気回路に電気的に接続される。凸状部下端の配線導体5とセンサ素子31および電子部品32ととの電気的な接続は、例えば、凸状部下端の配線導体5から第2基板2の下面21中央部(第1基板1と対向する部分)にかけて設けられた他の配線導体(配線導体5の延在部)(図示せず)を介して行なわれる。この配線導体5の延在部に、第1基板1の配線導体がボンディングワイヤ33を介して電気的に接続されれば、第1基板1の配線導体、ボンディングワイヤ33および第2基板2の配線導体5の延在部によって、センサ素子31および電子部品32と凸状部下端の配線導体5とが互いに電気的に接続される。   As described above, the sensor element 31 and the electronic component 32 mounted on the first substrate 1 are connected via the wiring conductor 5 disposed at the lower end of the convex portion provided on the outer peripheral portion of the lower surface 21 of the second substrate 2. Electrically connected to an external electric circuit. The electrical connection between the wiring conductor 5 at the lower end of the convex portion and the sensor element 31 and the electronic component 32 is, for example, from the wiring conductor 5 at the lower end of the convex portion to the center of the lower surface 21 of the second substrate 2 (first substrate 1). This is performed via another wiring conductor (an extension portion of the wiring conductor 5) (not shown) provided over the portion facing the. If the wiring conductor of the first substrate 1 is electrically connected to the extending portion of the wiring conductor 5 via the bonding wire 33, the wiring conductor of the first substrate 1, the bonding wire 33, and the wiring of the second substrate 2 The sensor element 31 and the electronic component 32 and the wiring conductor 5 at the lower end of the convex portion are electrically connected to each other by the extending portion of the conductor 5.

凸状部下端の配線導体5は、はんだ、導電性接着剤またはリード端子等の導電性接続材(図1では図示せず)によって外部電気回路に電気的に接続される。この接続によって、センサ素子31および電子部品32と外部電気回路とが互いに電気的に接続される。これによって、圧力等の検知が可能なセンサ装置30が実装されたモジュールまたは電子機器等(図示せず)が製作される。   The wiring conductor 5 at the lower end of the convex portion is electrically connected to an external electric circuit by a conductive connecting material (not shown in FIG. 1) such as solder, a conductive adhesive, or a lead terminal. By this connection, the sensor element 31 and the electronic component 32 and the external electric circuit are electrically connected to each other. As a result, a module or an electronic device (not shown) on which the sensor device 30 capable of detecting pressure or the like is mounted is manufactured.

凸状部は、第2基板2と同様の材料を用い、同様の方法で製作することができる。この場合、凸状部となるセラミックグリーンシートを第2基板2となるセラミックグリーンシートの積層体にさらに積層して、これらを同時焼成してもよい。これによって、凸状部と
第2基板2とを一体的に製作することができる。この場合、第2基板2は下面21の外周部に凸状の部分を有するものとみなすこともできる。また、凸状部の高さの分、凹部4の深さが大きくなったとみなすこともできる。
The convex portion can be manufactured by the same method using the same material as that of the second substrate 2. In this case, a ceramic green sheet to be a convex portion may be further laminated on a laminate of ceramic green sheets to be the second substrate 2, and these may be fired simultaneously. Thereby, the convex portion and the second substrate 2 can be integrally manufactured. In this case, the second substrate 2 can be regarded as having a convex portion on the outer peripheral portion of the lower surface 21. Moreover, it can also be considered that the depth of the recessed part 4 became large by the height of the convex part.

凸状部下端の配線導体5は、上記他の配線導体と同様の材料を用い、同様の方法で形成することができる。例えば、凸状部となるセラミックグリーンシートにタングステン等の金属ペーストを配線導体5の所定パターンに塗布し、これらを同時焼成することによって、凸状部の下端に配線導体5を形成することができる。   The wiring conductor 5 at the lower end of the convex portion can be formed by the same method using the same material as the other wiring conductors. For example, the wiring conductor 5 can be formed at the lower end of the convex portion by applying a metal paste such as tungsten to the predetermined pattern of the wiring conductor 5 on the ceramic green sheet to be the convex portion and firing them simultaneously. .

この場合、例えば凸状部を厚み方向に貫通する貫通孔内にも金属ペーストを塗布または充填して焼成するようにしてもよい。これによって、第2基板2の配線導体と凸状部下端の配線導体5とを電気的に接続する貫通導体(図示せず)を凸状部に設けることができる。凸状部の配線導体5および貫通導体となる金属ペーストについても、第2基板2の配線導体となる金属ペーストと同時焼成することができる。   In this case, for example, a metal paste may be applied or filled into a through-hole penetrating the convex portion in the thickness direction and fired. Thereby, a through conductor (not shown) for electrically connecting the wiring conductor of the second substrate 2 and the wiring conductor 5 at the lower end of the convex portion can be provided in the convex portion. The metal conductor that becomes the wiring conductor 5 of the convex portion and the metal paste that becomes the through conductor can also be fired simultaneously with the metal paste that becomes the wiring conductor of the second substrate 2.

実施形態のセンサ装置30について、第1基板1の第2搭載部12aおよび第2搭載部12aに搭載された電子部品32を封止する封止材34を有していてもよい。封止材34は、電子部品32および導電性接続材等を、外部環境または外力に対して保護すること等の機能を有している。   The sensor device 30 of the embodiment may include a second mounting portion 12a of the first substrate 1 and a sealing material 34 that seals the electronic component 32 mounted on the second mounting portion 12a. The sealing material 34 has a function of protecting the electronic component 32, the conductive connecting material, and the like against the external environment or external force.

封止材34は、例えば、エポキシ樹脂またはシリコン樹脂等の樹脂材料よって形成されている。電子部品32が搭載された第1基板1が第2基板2に電気的に接続された後に、第2基板2の凹部4内および凸状部の内側の空間に樹脂材料を充填することによって、封止材34を設けることができる。充填する樹脂材料が未硬化の熱硬化性樹脂等であれば、充填後に硬化させる。   The sealing material 34 is made of, for example, a resin material such as an epoxy resin or a silicon resin. After the first substrate 1 on which the electronic component 32 is mounted is electrically connected to the second substrate 2, the resin material is filled into the spaces inside the concave portions 4 and the convex portions of the second substrate 2, A sealing material 34 can be provided. If the resin material to be filled is an uncured thermosetting resin or the like, it is cured after filling.

図2は、図1に示すセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30の変形例を示す断面図である。図2において図1と同様の部位には同様の符号を付している。図2に示す例のセンサ装置30において、第2基板2の貫通部3内にセンサ素子31を覆う被覆材35が配置されている。また、この被覆材35は、貫通部3内に充填されている。   FIG. 2 is a sectional view showing a modification of the sensor package 10 and the sensor device 30 shown in FIG. In FIG. 2, the same parts as those in FIG. In the sensor device 30 of the example shown in FIG. 2, a covering material 35 that covers the sensor element 31 is disposed in the penetrating portion 3 of the second substrate 2. The covering material 35 is filled in the through portion 3.

被覆材35は、センサ素子31に圧力等を効果的に伝えるための媒体として機能する。例えばセンサ素子31が圧力センサ素子であるときに、外部の圧力(例えばタイヤ内の空気圧)がセンサ装置30に加わったときに、被覆材35の上端に加わった圧力が、被覆材35を介してセンサ素子31に効果的に伝わる。そのため、圧力の変化等の検知の精度向上に対して有利なセンサ装置30とすることができる。   The covering material 35 functions as a medium for effectively transmitting pressure or the like to the sensor element 31. For example, when the sensor element 31 is a pressure sensor element, when an external pressure (for example, air pressure in the tire) is applied to the sensor device 30, the pressure applied to the upper end of the covering material 35 is passed through the covering material 35. It is effectively transmitted to the sensor element 31. For this reason, the sensor device 30 can be advantageous for improving the accuracy of detection of a change in pressure or the like.

被覆材35は、例えばエポキシ樹脂またはシリコン樹脂等の樹脂材料によって形成されている。電子部品32が搭載された第1基板1が第2基板2に電気的に接続された後に、第2基板2の貫通部3内に樹脂材料を充填することによって、被覆材35を設けることができる。充填する樹脂材料が未硬化の熱硬化性樹脂等であれば、充填後に硬化させる。   The covering material 35 is formed of a resin material such as an epoxy resin or a silicon resin. After the first substrate 1 on which the electronic component 32 is mounted is electrically connected to the second substrate 2, the covering material 35 can be provided by filling a resin material into the through portion 3 of the second substrate 2. it can. If the resin material to be filled is an uncured thermosetting resin or the like, it is cured after filling.

なお、被覆材35は、貫通部3内に充填されているものである必要はない。被覆材35は、少なくとも、圧力等の物理量を検知する上で重要なセンサ素子31の機能部分(ダイヤフラム等)を覆うように配置されていればよい。センサ素子31の機能部分がセンサ素子31の上面に配置されている場合であれば、センサ素子31の上面が被覆材35で被覆されていればよい。   The covering material 35 does not need to be filled in the through portion 3. The covering material 35 only needs to be disposed so as to cover at least the functional part (diaphragm or the like) of the sensor element 31 that is important in detecting a physical quantity such as pressure. If the functional portion of the sensor element 31 is disposed on the upper surface of the sensor element 31, the upper surface of the sensor element 31 may be covered with the covering material 35.

また、図2に示すセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30において、第2基板2は、下面21と反対側の上面22から貫通部3にかけて設けられた孔部2aをさらに有している。
孔部2aは、貫通部3内に被覆材35を導入するための経路として機能する。例えば、孔部2aを通して未硬化の樹脂材料が貫通部3内に導入される。その後、必要に応じて硬化等の処理が行なわれる。
In the sensor package 10 and the sensor device 30 shown in FIG. 2, the second substrate 2 further includes a hole 2 a provided from the upper surface 22 opposite to the lower surface 21 to the penetrating portion 3.
The hole 2 a functions as a path for introducing the covering material 35 into the through portion 3. For example, an uncured resin material is introduced into the through-hole 3 through the hole 2a. Thereafter, a curing process or the like is performed as necessary.

孔部2aを通して被覆材35を貫通部3内に導入すれば、貫通部3の下側から被覆材35を入れることができる。そのため、貫通部3の上側の開口から被覆材35を入れるような場合に比べて、被覆材35内に空隙が生じる可能性が低減される。貫通部3内における孔部2aの開口端の位置が貫通部3の下端に近ければ、この空隙抑制の効果を高める上では有利である。   If the covering material 35 is introduced into the penetrating part 3 through the hole 2a, the covering material 35 can be inserted from the lower side of the penetrating part 3. Therefore, the possibility that voids are generated in the covering material 35 is reduced as compared with the case where the covering material 35 is inserted from the upper opening of the penetrating portion 3. If the position of the opening end of the hole 2a in the penetrating part 3 is close to the lower end of the penetrating part 3, it is advantageous for enhancing the effect of suppressing the gap.

また、貫通部3よりも開口が大きい孔部2aを設けたり、複数の孔部2a(図示せず)を設けたりすれば、貫通部3内により容易に被覆材35を導入することができる。そのため、センサ装置30としての生産性の点では有利である。   In addition, if the hole 2 a having a larger opening than the penetrating part 3 is provided or a plurality of holes 2 a (not shown) are provided, the covering material 35 can be easily introduced into the penetrating part 3. Therefore, it is advantageous in terms of productivity as the sensor device 30.

また、図2に示すセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30において、凸状部下端において配線導体5に金属バンプ6Aが接続されている。金属バンプ6Aは、外部接続用の端子として機能するものであり、例えばはんだからなるはんだバンプである。はんだとしては、スズ−銀系、スズ−銀−銅系等のいわゆる鉛フリーはんだ、またはスズ−鉛共晶はんだ等を用いることができる。金属バンプ6Aは、銅または銅合金等の、はんだ以外の金属材料からなるものでも構わない。   Further, in the sensor package 10 and the sensor device 30 shown in FIG. 2, the metal bump 6A is connected to the wiring conductor 5 at the lower end of the convex portion. The metal bump 6A functions as a terminal for external connection, and is, for example, a solder bump made of solder. As the solder, so-called lead-free solder such as tin-silver, tin-silver-copper, or tin-lead eutectic solder can be used. The metal bump 6A may be made of a metal material other than solder, such as copper or a copper alloy.

この金属バンプ6Aが外部電気回路の所定部位に対向して配置された後に加熱等の処理が行なわれ、金属バンプ6Aを介して配線導体5と外部電気回路とが互いに接続される。この場合、金属バンプ6Aは、それ自体が溶融するようなものでなくても構わない。例えば金属バンプ6Aを核にして、はんだ等の接続材が配線導体5と外部電気回路とを接合させることができればよい。   After this metal bump 6A is arranged facing a predetermined portion of the external electric circuit, a process such as heating is performed, and the wiring conductor 5 and the external electric circuit are connected to each other through the metal bump 6A. In this case, the metal bump 6A does not have to melt itself. For example, it is only necessary that the connecting member such as solder can join the wiring conductor 5 and the external electric circuit with the metal bump 6A as a core.

あらかじめ配線導体5に金属バンプ6Aが配置されていれば、センサ装置30の外部電気回路への実装時の作業性等の点では有利である。   If the metal bumps 6A are arranged on the wiring conductor 5 in advance, it is advantageous in terms of workability when the sensor device 30 is mounted on an external electric circuit.

図3は、図1に示すセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30の他の変形例を示す断面図である。図3において図1と同様の部位には同様の符号を付している。図3に示す例のセンサ装置30は、第2基板2の上面22に配置された凸部36をさらに備えている。この凸部36は、第2基板2の貫通部3とつながった貫通孔36aを有している。   FIG. 3 is a cross-sectional view showing another modification of the sensor package 10 and the sensor device 30 shown in FIG. In FIG. 3, the same parts as those in FIG. The sensor device 30 of the example shown in FIG. 3 further includes a convex portion 36 disposed on the upper surface 22 of the second substrate 2. The convex portion 36 has a through hole 36 a connected to the through portion 3 of the second substrate 2.

貫通孔36aを有する凸部36は、例えば円筒状のパイプである。パイプとしての凸部36は、一方の端部にフランジを有し、第2基板2への接合を容易に行なえるようにされている。この例のセンサ装置30において、凸部36の貫通孔36aは、貫通部3内に外部の圧力を伝える効率を向上させる機能を有している。センサ素子31が圧力センサ素子であれば、外部の圧力が凸部36の貫通孔36aを通して貫通部3内に導入され、さらにセンサ素子31に効率よく伝わる。   The convex portion 36 having the through hole 36a is, for example, a cylindrical pipe. The convex portion 36 as a pipe has a flange at one end, and can be easily joined to the second substrate 2. In the sensor device 30 of this example, the through hole 36 a of the convex portion 36 has a function of improving the efficiency of transmitting external pressure into the through portion 3. If the sensor element 31 is a pressure sensor element, external pressure is introduced into the through-hole 3 through the through-hole 36a of the convex portion 36 and further efficiently transmitted to the sensor element 31.

凸部36は、例えば、第2基板2と同様のセラミック材料または鉄−ニッケル系合金等の金属材料によって形成されている。凸部36が金属材料からなる場合であれば、板状またはブロック状等の金属材料を所定の金属加工法でパイプ状等に加工し、必要に応じて端部をフランジ状に加工することによって、凸部36となる部材を作製することができる。この部材は、例えば、接着剤、金属ろう材もしくは樹脂等の接合材による接合、または溶接等の接合法によって第2基板2の上面22に接合することができる。   The convex portion 36 is formed of, for example, a ceramic material similar to that of the second substrate 2 or a metal material such as an iron-nickel alloy. If the convex part 36 is made of a metal material, a metal material such as a plate or block is processed into a pipe or the like by a predetermined metal processing method, and the end is processed into a flange as necessary. Thus, a member that becomes the convex portion 36 can be produced. This member can be bonded to the upper surface 22 of the second substrate 2 by, for example, bonding with a bonding material such as an adhesive, a metal brazing material or resin, or a bonding method such as welding.

また、図3に示すセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30において、凸状部下端にお
いて配線導体5にリード端子6Bが接続されている。リード端子6Bは、外部接続用の端子として機能するものであり、例えば鉄−ニッケル系合金等の金属材料によって作製されたリードピンである。リード端子6Bは、例えば銀ろう(JIS規格のBAg8等)によって配線導体5に接合されている。リード端子6Bは、リードピンに限らす、帯状のリード部材でもよく、リード部材であって下端が円弧状に曲がったものでもよい。
Further, in the sensor package 10 and the sensor device 30 shown in FIG. 3, a lead terminal 6B is connected to the wiring conductor 5 at the lower end of the convex portion. The lead terminal 6B functions as a terminal for external connection, and is a lead pin made of a metal material such as an iron-nickel alloy. The lead terminal 6B is joined to the wiring conductor 5 by, for example, silver solder (JIS standard BAg8 or the like). The lead terminal 6B may be a belt-like lead member that is not limited to a lead pin, or may be a lead member that has a lower end bent in an arc shape.

このリード端子6Bが外部電気回路の所定部位に対向して配置された後に、はんだ等の接続材(図示せず)によってリード端子6Bが外部電気回路に接続される。リード端子6Bは、その下端が外部電気回路の所定部位にあらかじめ設けられた挿入用の穴内に挿入されて外部電気回路に接続されてもよい。これによって、リード端子6Bを介して配線導体5と外部電気回路とが互いに接続される。   After the lead terminal 6B is arranged to face a predetermined part of the external electric circuit, the lead terminal 6B is connected to the external electric circuit by a connecting material (not shown) such as solder. The lower end of the lead terminal 6B may be inserted into an insertion hole provided in advance in a predetermined part of the external electric circuit and connected to the external electric circuit. As a result, the wiring conductor 5 and the external electric circuit are connected to each other via the lead terminal 6B.

あらかじめ配線導体5にリード端子6Bが接続されている場合にも、センサ装置30の外部電気回路への実装時の作業性等の点では有利である。また、リード端子6Bの変形によって、センサ用パッケージ10と外部電気回路が設けられた外部基板(図示せず)との間に生じる可能性がある熱応力を吸収することもできる。   Even when the lead terminal 6B is connected to the wiring conductor 5 in advance, it is advantageous in terms of workability when the sensor device 30 is mounted on an external electric circuit. Further, the deformation of the lead terminal 6B can absorb thermal stress that may be generated between the sensor package 10 and an external substrate (not shown) provided with an external electric circuit.

図4は、図1に示すセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30の他の変形例を示す分解断面図である。図4において図1と同様の部位には同様の符号を付している。図4では封止材34および被覆材35を省略しているが、この例のセンサ装置30も、上記の例と同様に封止材34および被覆材35を有していてよい。   FIG. 4 is an exploded sectional view showing another modification of the sensor package 10 and the sensor device 30 shown in FIG. 4, parts similar to those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. Although the sealing material 34 and the covering material 35 are omitted in FIG. 4, the sensor device 30 of this example may also include the sealing material 34 and the covering material 35 as in the above example.

図4に示す例において、第2基板2は平板状である。このように、第2基板2は下面21に凹部を有していないもの(図示せず)でもよい。この場合には、例えば電子部品32の種類等に応じて、第2基板2の下面21の外周部に、下面視で第1基板1を囲むような枠状部材7が配置されていてもよい。枠状部材7は第2基板2とは別体として製作される。   In the example shown in FIG. 4, the second substrate 2 has a flat plate shape. Thus, the 2nd board | substrate 2 may not have a recessed part in the lower surface 21 (not shown). In this case, for example, a frame-like member 7 surrounding the first substrate 1 in the bottom view may be disposed on the outer peripheral portion of the lower surface 21 of the second substrate 2 according to the type of the electronic component 32 or the like. . The frame-like member 7 is manufactured as a separate body from the second substrate 2.

枠状部材7は、その下面から上面にかけて接続導体8が設けられているものでもよい。枠状部材7の下面に配置された接続導体8が外部電気回路に電気的に接続され、枠状部材7の上面に配置された接続導体8が第2基板2の配線導体5に電気的に接続される。この接続によって、枠状部材7が第2基板2に機械的に接続される。これらの接続は、例えばはんだ、または導電性接着剤等の導電性接続材(図示せず)によって行なうことができる。枠状部材7と第2基板2との機械的な接続は、接続導体8および配線導体5以外の部分で枠状部材7と第2基板2との間に介在する樹脂またはガラス等の接合材(図示せず)によって補強されていてもよい。   The frame-like member 7 may be provided with a connection conductor 8 from its lower surface to its upper surface. The connection conductor 8 disposed on the lower surface of the frame-shaped member 7 is electrically connected to an external electric circuit, and the connection conductor 8 disposed on the upper surface of the frame-shaped member 7 is electrically connected to the wiring conductor 5 of the second substrate 2. Connected. By this connection, the frame-like member 7 is mechanically connected to the second substrate 2. These connections can be made by a conductive connecting material (not shown) such as solder or a conductive adhesive. The mechanical connection between the frame-shaped member 7 and the second substrate 2 is a bonding material such as a resin or glass that is interposed between the frame-shaped member 7 and the second substrate 2 at a portion other than the connection conductor 8 and the wiring conductor 5. (Not shown) may be reinforced.

枠状部材7は、例えば第2基板2と同様の材料を用い、同様の方法で製作することができる。また、接続導体8は配線導体5と同様の材料を用い、同様の方法で枠状部材7に形成することができる。   The frame-like member 7 can be manufactured by using the same material as that of the second substrate 2 and using the same method. Further, the connection conductor 8 can be formed on the frame-like member 7 by using the same material as that of the wiring conductor 5 and by the same method.

なお、図4に示す例のように複数の電子部品32が第1基板1の下面12の第2搭載部12aに搭載されるときに、第1基板1が平板状であることによって、これらの電子部品32を接続するためのはんだを容易に第2搭載部12aの複数の所定部位に容易に塗布等の手段で配置することができる。したがって、センサ装置30としての生産性向上に有利である。第2搭載部12aに搭載された電子部品32は、枠状部材7または前述した第2基板2の凹部4によって効果的に保護される。   Note that when the plurality of electronic components 32 are mounted on the second mounting portion 12a of the lower surface 12 of the first substrate 1 as in the example shown in FIG. Solder for connecting the electronic component 32 can be easily disposed on a plurality of predetermined portions of the second mounting portion 12a by means such as coating. Therefore, it is advantageous for improving the productivity of the sensor device 30. The electronic component 32 mounted on the second mounting portion 12a is effectively protected by the frame-shaped member 7 or the concave portion 4 of the second substrate 2 described above.

図5は、図1に示すセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30の他の変形例を示す断面図である。図5において図1と同様の部位には同様の符号を付している。   FIG. 5 is a sectional view showing another modification of the sensor package 10 and the sensor device 30 shown in FIG. 5, parts similar to those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

図5に示す例において、リード端子6Bが配線導体5に接続され、貫通部3内に被覆材35が充填されている。また、第2基板2の上面22にさらにセラミック層2bが配置されている。セラミック層2bは、さらに貫通部3の上側の開口を塞ぎ、貫通部3内に充填された被覆材35の上端を被覆している。すなわち、この例のセンサ用パッケージ10およびセンサ装置30は、第2基板2の上面22から貫通部3内に充填された被覆材35の上端にかけて被覆しているセラミック層2bをさらに有している。   In the example shown in FIG. 5, the lead terminal 6 </ b> B is connected to the wiring conductor 5, and the penetration member 3 is filled with the covering material 35. A ceramic layer 2 b is further disposed on the upper surface 22 of the second substrate 2. The ceramic layer 2 b further closes the upper opening of the penetrating part 3 and covers the upper end of the covering material 35 filled in the penetrating part 3. In other words, the sensor package 10 and the sensor device 30 of this example further include the ceramic layer 2b that covers the upper surface 22 of the second substrate 2 and the upper end of the covering material 35 that fills the through portion 3. .

このようなセラミック層2bが配置されている場合には、センサ素子31の外部環境からの保護がより効果的に行なわれる。外部環境としては、例えば、腐食性のガスまたは液体等が挙げられる。そのため、例えばセンサ素子31が圧力センサ素子である場合には、腐食性のガスまたは液体等の流体の圧力を検知し測定するための圧力センサ装置としてセンサ装置30を用いることができる。   When such a ceramic layer 2b is arranged, the sensor element 31 is more effectively protected from the external environment. Examples of the external environment include corrosive gas or liquid. Therefore, for example, when the sensor element 31 is a pressure sensor element, the sensor device 30 can be used as a pressure sensor device for detecting and measuring the pressure of a fluid such as corrosive gas or liquid.

セラミック層2bは、例えば第2基板2と同様のセラミック材料を用い、同様の方法(セラミックグリーンシートの焼成等)によって製作することができる。セラミック層2bは、例えばガラスまたは接着剤等によって第2基板2に接合することができる。また、セラミック層2bとなるセラミックグリーンシートと、第2基板2となるセラミックグリーンシートとを互いに積層した後に、同時焼成するようにしてもよい。この場合には、例えば、前述したような孔部(図5では図示せず)を第2基板2に設けておいて、孔部を介して貫通部3内に被覆材35を充填することができる。また、必要に応じて、セラミック層2bにも孔部とつながった孔(厚み方向に貫通するもの)を設けておいてもよい。   The ceramic layer 2b can be manufactured by using the same ceramic material as that of the second substrate 2, for example, by the same method (such as firing of a ceramic green sheet). The ceramic layer 2b can be bonded to the second substrate 2 by, for example, glass or an adhesive. Alternatively, the ceramic green sheet to be the ceramic layer 2b and the ceramic green sheet to be the second substrate 2 may be laminated and then fired simultaneously. In this case, for example, a hole (not shown in FIG. 5) as described above is provided in the second substrate 2, and the penetration member 3 is filled with the covering material 35 through the hole. it can. Moreover, you may provide the hole (thing penetrated in the thickness direction) connected with the hole part also in the ceramic layer 2b as needed.

センサ装置30が圧力センサ装置である場合には、セラミック層2bを介して流体等の圧力がセンサ素子31に伝わる必要がある。そのため、セラミック層2bの厚みは小さい方がセンサ装置30としての測定精度等の点では有利である。セラミック層2bの厚みは、上記の測定精度を考慮したときには、約0.1mm以下に設定される。   When the sensor device 30 is a pressure sensor device, the pressure of a fluid or the like needs to be transmitted to the sensor element 31 through the ceramic layer 2b. Therefore, a smaller thickness of the ceramic layer 2b is advantageous in terms of measurement accuracy as the sensor device 30. The thickness of the ceramic layer 2b is set to about 0.1 mm or less when the above measurement accuracy is taken into consideration.

1・・・第1基板
11・・・(第1基板の)上面
11a・・・第1搭載部
12・・・(第1基板の)下面
12a・・・第2搭載部
2・・・第2基板
2a・・・孔部
2b・・・セラミック層
21・・・(第2基板の)下面
22・・・(第2基板の)上面
3・・・貫通部
4・・・凹部
5・・・配線導体
6A・・・金属バンプ
6B・・・リード端子
7・・・枠状部材
8・・・接続導体
10・・・センサ用パッケージ
30・・・センサ装置
31・・・センサ素子
32・・・電子部品
33・・・ボンディングワイヤ
34・・・封止材
35・・・被覆材
36・・・凸部
36a・・・貫通孔
1 ... 1st board
11 ... Upper surface (of the first substrate)
11a: First mounting part
12 ... Lower surface (of the first substrate)
12a ... 2nd mounting part 2 ... 2nd board | substrate 2a ... Hole 2b ... Ceramic layer
21 ... Bottom surface of second substrate
22 ... (second substrate) upper surface 3 ... penetrating portion 4 ... concave portion 5 ... wiring conductor 6A ... metal bump 6B ... lead terminal 7 ... frame-like member 8 ...・ Connection conductor
10 ... Sensor package
30 ... Sensor device
31 ... Sensor element
32 ... Electronic components
33 ... Bonding wire
34 ・ ・ ・ Sealing material
35 ・ ・ ・ Coating material
36 ... convex
36a ... Through hole

Claims (8)

上面および下面を有し、前記上面の中央部に第1搭載部を有するとともに、前記下面に第2搭載部を有する第1基板と、
下面を有し、該下面に、前記第1基板の前記上面の外周部が接合される第2基板とを備えており、
該第2基板が、平面透視で前記第1基板の前記第1搭載部と重なる部分において前記第2基板の厚み方向に貫通する貫通部を有しているセンサ用パッケージ。
A first substrate having an upper surface and a lower surface, having a first mounting portion at a central portion of the upper surface, and having a second mounting portion on the lower surface;
A second substrate to which the outer peripheral portion of the upper surface of the first substrate is bonded.
The sensor package, wherein the second substrate has a penetrating portion penetrating in a thickness direction of the second substrate at a portion overlapping the first mounting portion of the first substrate in a plan view.
前記第2基板が、前記下面において前記第1基板が収容される凹部を有する請求項1に記載のセンサ用パッケージ。 The sensor package according to claim 1, wherein the second substrate has a recess in the lower surface in which the first substrate is accommodated. 前記第2基板が、前記下面と反対側の上面から前記貫通部にかけて設けられた孔部をさらに有する請求項1または請求項2に記載のセンサ用パッケージ。 3. The sensor package according to claim 1, wherein the second substrate further includes a hole provided from the upper surface opposite to the lower surface to the penetrating portion. 請求項1〜請求項3のいずれかに記載のセンサ用パッケージと、
前記第1搭載部に搭載されたセンサ素子と、
前記第2搭載部に搭載された電子部品とを備えており、
前記第2基板の貫通部内に前記センサ素子が位置しているセンサ装置。
The sensor package according to any one of claims 1 to 3,
A sensor element mounted on the first mounting portion;
An electronic component mounted on the second mounting portion,
A sensor device in which the sensor element is located in a penetrating portion of the second substrate.
前記第2基板の前記貫通部内に、前記センサ素子を覆う被覆材が配置されている請求項4に記載のセンサ装置。 The sensor device according to claim 4, wherein a covering material that covers the sensor element is disposed in the penetrating portion of the second substrate. 前記被覆材が、前記貫通部内に充填されている請求項5に記載のセンサ装置。 The sensor device according to claim 5, wherein the covering material is filled in the penetrating portion. 前記第2基板の前記上面に配置された凸部をさらに備えており、
該凸部が、前記第2基板の前記貫通部とつながった貫通孔を有している請求項4〜請求項6のいずれかに記載のセンサ装置。
A convex portion disposed on the upper surface of the second substrate;
The sensor device according to any one of claims 4 to 6, wherein the convex portion has a through hole connected to the through portion of the second substrate.
前記第2基板の前記上面から前記被覆材の上端にかけて被覆しているセラミック層をさらに備えることを特徴とする請求項6に記載のセンサ装置。
The sensor device according to claim 6, further comprising a ceramic layer coated from the upper surface of the second substrate to an upper end of the covering material.
JP2016012512A 2016-01-26 2016-01-26 Sensor package and sensor device Active JP6605971B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016012512A JP6605971B2 (en) 2016-01-26 2016-01-26 Sensor package and sensor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016012512A JP6605971B2 (en) 2016-01-26 2016-01-26 Sensor package and sensor device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017133883A true JP2017133883A (en) 2017-08-03
JP6605971B2 JP6605971B2 (en) 2019-11-13

Family

ID=59503700

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016012512A Active JP6605971B2 (en) 2016-01-26 2016-01-26 Sensor package and sensor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6605971B2 (en)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05231971A (en) * 1991-11-20 1993-09-07 Delco Electron Corp Pressure sensor and manufacture thereof
EP0706038A1 (en) * 1994-10-07 1996-04-10 Omron Corporation Capacitive pressure sensor
JP3208512B2 (en) * 1992-01-24 2001-09-17 ザ フォックスボロ カンパニー Pressure sensor having a substrate composed of a plurality of laminates and method for manufacturing the same
JP3316555B2 (en) * 1995-11-22 2002-08-19 オムロン株式会社 Pressure sensor
WO2012124282A1 (en) * 2011-03-11 2012-09-20 パナソニック株式会社 Sensor

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05231971A (en) * 1991-11-20 1993-09-07 Delco Electron Corp Pressure sensor and manufacture thereof
JP3208512B2 (en) * 1992-01-24 2001-09-17 ザ フォックスボロ カンパニー Pressure sensor having a substrate composed of a plurality of laminates and method for manufacturing the same
EP0706038A1 (en) * 1994-10-07 1996-04-10 Omron Corporation Capacitive pressure sensor
JP3316555B2 (en) * 1995-11-22 2002-08-19 オムロン株式会社 Pressure sensor
WO2012124282A1 (en) * 2011-03-11 2012-09-20 パナソニック株式会社 Sensor

Also Published As

Publication number Publication date
JP6605971B2 (en) 2019-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2022131181A1 (en) Substrate, package, sensor device, and electronic instrument
JP6605971B2 (en) Sensor package and sensor device
JP4034988B2 (en) Pressure detection device package and pressure detection device
JP4628083B2 (en) Pressure detection device package, pressure detection device, pressure sensitive element, and pressure detection device package manufacturing method
JP2019129189A (en) Wiring board, package, and electronic device
WO2023120354A1 (en) Ceramic substrate, manufacturing method for ceramic substrate, wiring board, package, microphone device, and gas sensor device
JP2010056506A (en) Mounting structure of electronic apparatus
JP2006047327A (en) Package for pressure detector, and the pressure detector
JP5969351B2 (en) Pressure sensor parts
JP4974424B2 (en) Package for pressure detection device
JP4034995B2 (en) Pressure detection device package and pressure detection device
JP4744088B2 (en) Package for pressure detection device
JP3878836B2 (en) Package for pressure detection device
JP4034989B2 (en) Pressure detection device package and pressure detection device
JP4794072B2 (en) Package for pressure detection device
JP2005156410A (en) Package for pressure-detecting device
JP6122354B2 (en) Base for pressure detection device and pressure detection device
JP3955067B2 (en) Pressure detection device package and pressure detection device
JP2005156433A (en) Package for pressure-detecting device and manufacturing method therefor
JP2003042876A (en) Package for pressure detecting apparatus
JP2006114664A (en) Electronic part and method of manufacturing the same
JP2003130744A (en) Package for pressure-detecting apparatus
JP2004205377A (en) Package for pressure detection device
JP2002131163A (en) Package for pressure detection device
JP2003042874A (en) Package for pressure detecting apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181010

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190712

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190718

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190903

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190917

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191017

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6605971

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150