JP2017127762A - Ｘ線診断装置 - Google Patents

Abstract

【課題】Ｘ線診断装置において、指定された関心領域の大きさに関わらず、分解能に優れた第２検出器の画像を収集すること。【解決手段】Ｘ線診断装置１は、Ｘ線源と、第１検出器と、最大視野サイズが第１検出器の最大視野サイズより小さく第１検出器の視野内のＸ線を検出可能な第２検出器と、第１検出器による画像上で関心領域が指定される場合、指定された関心領域に対応する第２検出器の視野サイズに応じて第２検出器のＳＩＤを制御する切替制御手段１３８と、を有する。【選択図】 図６

Description

本発明の一態様としての本実施形態は、透視・撮影を行なうＸ線診断装置に関する。

従来、健康診断等の医療分野において、被検体の撮影部位に放射線（代表的には、Ｘ線）を照射して、撮影部位を透過した放射線の強度分布を検出し、撮影部位の画像を得るＸ線診断装置が広く利用されている。

Ｘ線診断装置を使用した検査において、関心領域は狭いが、より高い解像度で意図した領域を明瞭に観察したい要望がある。この要望を実現する為に、通常の後段検出器に加えて前段検出器を組み合わせ、何れか一方の検出器を診断用途に応じて切り替える技術がある（例えば、特許文献１参照）。

後段検出器は、ＦＰＤ（ｆｌａｔ ｐａｎｅｌ ｄｅｔｅｃｔｏｒ：平面検出器）であり、画素サイズは１５０−２００μｍであり、最大視野サイズは２０ｃｍ−４０ｃｍである。前段検出器は、後段検出器と比較して高精細（高解像度）であるが視野が狭い検出器であり、画素サイズは２０μｍ程度、最大視野サイズは２０−３０ｍｍ程度である。

特許第４５７０９４２号公報

しかしながら、従来技術におけるＸ線診断装置によると、前段検出器の画像を見ながら前段検出器使用時の位置決めをする必要があるが、前段検出器の製造上の観点から大きなパネルを製作できずに視野が狭いため、位置決めが困難である。さらに、前段検出器は、画素が小さいためＳ／Ｎ（ｓｉｇｎａｌ−ｔｏ−ｎｏｉｓｅ ｒａｔｉｏ）よく表示するためにはＸ線量を多く入れる必要があり、被ばくの観点からも前段検出器の画像の画像を見ながら前段検出器使用時の位置決めを行なうべきではない。

そこで、後段検出器の画像上で前段検出器の関心領域を操作者に指定させることで前段検出器使用時の位置決めを行なう方法も考えられる。しかしながら、指定された関心領域が比較的小さい場合、前段検出器の最大視野サイズより小さい視野サイズで撮影を行なうことになり、収集される画像の分解能が低下してしまう。逆に、指定された関心領域が比較的大きい場合、複数の画像をつなぎ合わせた長尺画像を生成するために複数の位置に対応する複数の画像を前段検出器で収集する必要があるが、手動で位置の変更操作を行なうことが操作者にとって大変煩わしかった。

本実施形態のＸ線診断装置は、上述した課題を解決するために、Ｘ線を発するＸ線源と、前記Ｘ線を検出する第１検出器と、最大視野サイズが前記第１検出器の最大視野サイズより小さく前記第１検出器の視野内の前記Ｘ線を検出可能な第２検出器と、前記第１検出器による画像上で関心領域が指定される場合、前記指定された関心領域に対応する前記第２検出器の視野サイズに応じて前記第２検出器のＳＩＤを制御する制御手段と、を有する。

本実施形態のＸ線診断装置の構成を示す概略図。 ＳＩＤ対応テーブルを示す図。 前段検出器を用いた撮影に関連する構成を示す図。 前段検出器の関心領域の指定方法を説明するための図。 前段検出器の移動機構の一例を示す図。 本実施形態のＸ線診断装置の機能を示すブロック図。 （Ａ）〜（Ｆ）は、指定される関心領域と、それに対応する視野サイズとの関係を示す図。 後段検出器使用時のＳＩＤと最大視野サイズの場合のＳＩＤとの関係を示す図。 後段検出器使用時のＳＩＤと最大視野サイズの場合のＳＩＤとの関係を示す図。 後段検出器使用時のＳＩＤと最大視野サイズの場合のＳＩＤとの関係を示す図。 後段検出器使用時のＳＩＤと最大視野サイズの場合のＳＩＤとの関係を示す図。 指定される関心領域と、それに対応する視野サイズとの関係を示す図。 前段検出器使用時のＳＩＤと最大視野サイズの場合のＳＩＤとの関係を示す図。 （Ａ），（Ｂ）は、複数のセットポジションの設定方法を示す図。 （Ａ），（Ｂ）は、後段検出器の画像上で指定される関心領域と、関心領域の模擬画像を含む表示画面とを示す図。 （Ａ），（Ｂ）は、後段検出器の画像上で指定される関心領域と、関心領域の模擬画像を含む表示画面とを示す図。 本実施形態のＸ線診断装置の動作を示すフローチャート。 本実施形態のＸ線診断装置の動作を示すフローチャート。 本実施形態のＸ線診断装置の動作を示すフローチャート。

本実施形態のＸ線診断装置について、添付図面を参照して説明する。

図１は、本実施形態のＸ線診断装置の構成を示す概略図である。

図１は、本実施形態のＸ線診断装置１を示す。Ｘ線診断装置１は、大きくは、Ｘ線発生部２、Ｘ線検出部３、機構部４、高電圧発生部５、Ｃアーム（支持部）６、天板（載置部）７、画像処理部８、表示部９、操作部１０、記憶部１１、ＩＦ（ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）１２、及びシステム制御部１３を備える。以下、図１に示すように、床置き式Ｃアーム（アンダーチューブタイプ）のみを備えるＸ線診断装置１を用いて説明する。なお、本発明に係るＸ線診断装置は、床置き式Ｃアームのみの他、天井走行式Ωアーム及び床置き式Ｃアームや、天井走行式Ｃアームのみ、天井走行式Ωアームのみを備えるＸ線診断装置であってもよい。また、本発明に係るＸ線診断装置は、オーバーチューブタイプのＣアームを備えるＸ線診断装置であってもよい。

Ｘ線発生部２は、天板７上の被検体（撮影部位）Ｓに照射するＸ線を発生する装置である。Ｘ線発生部２は、高電圧発生部５から供給される高電圧を用いてＸ線を発生するＸ線源（Ｘ線管）２１と、Ｘ線管２１が発生したＸ線の一部を遮蔽することによって照射野を制御するＸ線絞り器２２とを設ける。なお、Ｘ線管２１の前段に、Ｘ線管２１によって発生されたＸ線の線質を調整する線質調整フィルタ（図示しない）を備えてもよい。

Ｘ線検出部３は、被検体Ｓを透過したＸ線を検出して画像データを生成する装置である。Ｘ線検出部３は、被検体Ｓを撮影する場合に通常用いられる平面検出器である後段検出器３１ａと、最大視野サイズが後段検出器３１ａの最大視野サイズより小さく、後段検出器３１ａより前段のセットポジションでＸ線を検出可能な前段検出器３１ｂと、後段検出器３１ａから電荷を取り出すゲートドライバ３２と、後段検出器３１ａによって検出された電荷を電圧に変換する電荷・電圧変換器３３と、電荷・電圧変換器３３により変換された電圧をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器３４とを設ける。前段検出器３１ｂは、小視野高精細で病変部等の詳細観察に用いられる。

機構部４は、被移動体としての検出器３１ａ，３１ｂ、Ｃアーム６、及び天板７を移動させる装置である。機構部４は、検出器３１ａ，３１ｂのスライド動を行なう検出器移動機構４１と、Ｃアーム６の回動動・円弧動やスライド動を行なうＣアーム移動機構４２と、天板７のスライド動を行なう天板移動機構４３と、システム制御部１３の指示に基づいて検出器移動機構４１、Ｃアーム移動機構４２、及び天板移動機構４３を制御する機構制御部４４とを設ける。なお、図示しないが、機構部４は、Ｘ線絞り器２２の絞り羽（図示しない）を移動させる装置でもある。

高電圧発生部５は、Ｘ線発生部２がＸ線の発生に必要とする高電圧を供給する装置である。高電圧発生部５は、システム制御部１３の指示に基づいて高電圧の発生を制御してＸ線の発生を制御するＸ線制御部５１と、高電圧を発生する高電圧発生器５２とを設ける。

Ｃアーム６は、Ｘ線発生部２及び検出器３１ａ，３１ｂを保持するアームである。

天板７は、被検体Ｓを載置可能な構造を有する。

画像処理部８は、Ｘ線検出部３により生成された画像データを処理する処理部である。画像処理部８は、再構成演算やサブトラクション演算等を行なう画像演算回路８１と、画像演算回路８１によって生成された画像データを記憶する画像データ記憶回路８２とを設ける。

表示部９は、画像処理部８の画像データ記憶回路８２に記憶された画像を表示する装置である。表示部９は、モニタ９２への表示を制御する表示制御部９１と、画像を表示するモニタ９２と、ポインティングデバイス９３（図３に図示）とを設ける。

操作部１０は、術者や助手等の操作者による操作を受け付けるスイッチ等を含むコンソールである。

記憶部１１は、ＨＤＤ（ｈａｒｄ ｄｉｓｋ ｄｒｉｖｅ）やメモリによって構成される。記憶部１１は、検出器３１ａ、３１ｂによって収集された透視画像（リアルタイム画像）や撮影画像（１ショット画像）等を記憶する。また、記憶部１１は、前段検出器３１ｂの複数のＳＩＤ（ｓｏｕｒｃｅ−ｔｏ−ｉｍａｇｅ ｄｉｓｔａｎｃｅ）と、各ＳＩＤに対応する前段検出器３１ｂの照射角（ＦＯＶ：ｆｉｅｌｄ ｏｆ ｖｉｅｗ）とを対応付けたＳＩＤ対応テーブルを記憶する。ＳＩＤ対応テーブルは、前段検出器３１ｂの所定の照射角に、所定の照射角の場合に前段検出器３１ｂの最大視野サイズでＸ線を検出するためのＳＩＤ（以下、「最大視野サイズの場合のＳＩＤ」という。）が対応付けられてなる。

図２は、ＳＩＤ対応テーブルを示す図である。

図２に示すように、ＳＩＤ対応テーブルは、前段検出器３１ｂの照射角Ｆ０に、照射角Ｆ０の場合であって最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ０」が対応付けられている。前段検出器３１ｂの照射角Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３の場合も同様に、最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ１」，「ＳＦ２」，「ＳＦ３」がそれぞれ対応付けられる。図２に示すＳＩＤ対応テーブルを参照すれば、前段検出器３１ｂを使用して所定の照射角で撮影及び透視（以下、単に「撮影」という。）を実行する場合に、最大視野サイズの場合のＳＩＤを得ることができる。

図１の説明に戻って、ＩＦ１２は、パラレル接続仕様やシリアル接続仕様に合わせたコネクタによって構成される。ＩＦ１２は、各規格に応じた通信制御を行ない、ネットワークＮに接続することができる機能を有しており、これにより、Ｘ線診断装置１をネットワークＮ網に接続させる。

システム制御部１３は、図示しないＣＰＵ（ｃｅｎｔｒａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）及びメモリを含んでいる。システム制御部１３は、操作者による操作に基づいてＸ線診断装置１全体を制御する。

次に、前段検出器３１ｂを用いた撮影について説明する。

図３は、前段検出器３１ｂを用いた撮影に関連する構成を示す図である。

図３に示すように、機構制御部４４は、後段検出器３１ａ用の後段検出器制御部４４ａと、前段検出器３１ｂ用の前段検出器制御部４４ｂとによって構成される。モニタ９２は、後段検出器３１ａ用の第１モニタ９２ａと、前段検出器３１ｂ用の第２モニタ９２ｂとによって構成される。

表示制御部９１は、第１モニタ９２ａに被検体Ｓ（図１に図示）の画像を表示させる。そして、表示制御部９１は、表示された被検体Ｓの画像に対してマウス等のポインティングデバイス９３を介して操作者による関心領域の指定を受け付ける。

図４は、前段検出器３１ｂの関心領域の指定方法を説明するための図である。

図４に示すように、第１モニタ９２ａ（図３に図示）に表示された、後段検出器３１ａによる画像Ｉａ上で、ポインティングデバイス９３を介して操作者によって関心領域Ａが指定されることで、関心領域Ａの位置に基づいて、Ｘ−Ｚ平面（図５に図示）上における前段検出器３１ｂの１又は複数のセットポジションが設定される。なお、Ｘ−Ｚ平面（図５に図示）における前段検出器３１ｂの複数のセットポジションの設定方法については、図１２乃至図１４を用いて後述する。

また、指定された関心領域Ａに基づく前段検出器３１ｂの視野サイズから前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤを算出する。

図３の説明に戻って、システム制御部１３は、機構制御部４４の前段検出器制御部４４ｂに指示して、前段検出器３１ｂをＸ−Ｚ平面（図５に図示）上で移動させて１又は複数のセットポジションまで移動させて位置決めする。複数のセットポジションが設定された場合は、複数のセットポジションで順に撮影を行なうために、前段検出器３１ｂを複数のセットポジションに順に移動させてそれぞれ位置決めする。具体的には、システム制御部１３は、第１モニタ９２ａ上で指定された関心領域Ａ（図４に図示）の画面座標系における座標を前段検出器３１ｂの物理座標系における座標に変換し、前段検出器制御部４４ｂに前段検出器３１ｂの移動を指示する。そして、前段検出器制御部４４ｂは、検出器移動機構４１（図１に図示）を制御して前段検出器３１ｂを移動させる。

図５は、前段検出器３１ｂの移動機構の一例を示す図である。

図５は、ＳＩＤ方向をＹ方向とし、Ｙ方向に直交する２方向をＸ、Ｚ方向とする場合の前段検出器３１ｂの移動機構を示す。図５の上段は、前段検出器３１ｂの移動機構の側面（Ｙ−Ｚ面）を、図５の下段は、前段検出器３１ｂの移動機構の上面（Ｘ−Ｚ面）をそれぞれ示す。検出器移動機構４１（図１に図示）には、前段検出器３１ｂの移動機構として、前段検出器３１ｂを後段検出器３１ａに対してＺ方向（ｄ１方向）に移動させるＺ方向駆動機構４１ａと、Ｘ方向（ｄ２方向）にする移動させるＸ方向駆動機構４１ｂとが備えられる。Ｘ方向駆動機構４１ａは、前段検出器３１ｂを、ホームポジション（退避位置）側からセットポジション側に移動させたり（ｄ１方向の左向き）、セットポジション側からホームポジション側に移動させたり（ｄ１方向の右向き）する。

図３の説明に戻って、第１モニタ９２ａ上で設定されたＸ−Ｚ平面（図５に図示）上におけるセットポジションに前段検出器３１ｂが移動されて位置決めされると、システム制御部１３は、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、関心領域Ａ（図４に図示）に基づいて算出された前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤまで変更させてＹ方向（図５に図示）の位置決めを行なう。

表示制御部９１は、Ｘ線検出器３１ｂが検出したＸ線に基づいて生成された画像信号を受け取る。そして、表示制御部９１は、画像信号に基づく画像を、第２モニタ９２ｂ上で表示する。

このように、システム制御部１３が、第１モニタ９２ａ上で設定された関心領域Ａ（図４に図示）の画面座標系における座標を物理座標系における座標に変換し、前段検出器制御部４４ｂに前段検出器３１ｂの移動を指示することによって、前段検出器制御部４４ｂは、検出器移動機構４１を制御して前段検出器３１ｂを移動することによって、術者は病変部等を簡単な操作で高精細表示することができる。

また、表示制御部９１が、前段検出器３１ｂによる画像Ｉｂを、後段検出器３１ａによる画像Ｉａ上で操作者によって指定された関心領域Ａ（図４に図示）にオーバーラップして表示することもでき、その場合、操作者は、病変部等を周辺領域と比較しながら詳細に観察することができる。

なお、ここでは、後段検出器３１ａによる画像Ｉａは、前段検出器３１ｂが移動する直前の撮影画像であるが、後段検出器３１ａによる画像Ｉａとして後段検出器３１ａによる透視画像を表示することもできる。また、前段検出器３１ｂによる画像Ｉｂとしては、撮影画像とすることも透視画像とすることもできる。

図６は、本実施形態のＸ線診断装置１の機能を示すブロック図である。

図１に示すシステム制御部１３がプログラムを実行することによって、図６に示すようにＸ線診断装置１は、位置合わせ手段１３１、撮影制御手段１３２、操作受付手段１３３、視野サイズ設定手段１３４、ＳＩＤ設定手段１３５、模擬画像生成手段１３６、Ｘ線量算出手段１３７、及び切替制御手段１３８として機能する。なお、システム制御部１３の機能としての各手段１３１乃至１３８の一部又は全部は、Ｘ線診断装置１にハードウェアとして備えられるものであってもよい。

位置合わせ手段１３１は、被検体Ｓが天板７（図１に図示）に載置された後、後段検出器３１ａで収集して再構成された３次元画像、又はＸ線ＣＴ装置等の画像診断装置（モダリティ）で収集されてＩＦ１２（図１に図示）を介して送信された３次元画像を用いて、操作部１０による操作に従って機構部４を制御して、天板７上の被検体Ｓに対して被移動体をポジショニングする。

撮影制御手段１３２は、操作部１０による操作に従ってＸ線発生部２、Ｘ線検出部３、機構部４、高電圧発生部５、画像処理部８、表示部９、及び記憶部１１を制御して、天板７上の被検体Ｓの撮影を制御する機能を有する。撮影制御手段１３２は、撮影によって得られた画像を表示部９を介して表示させたり、記憶部１１に記憶させたりする。

操作受付手段１３３は、撮影制御手段１３２による後段検出器３１ａを用いた撮影中、操作部１０から、前段検出器３１ｂの関心領域の指定操作を受け付ける機能を有する。また、操作受付手段１３３は、撮影制御手段１３２による後段検出器３１ａを用いた撮影中、使用検出器の前段検出器３１ｂへの切替操作を受け付ける機能を有する。操作受付手段１３３は、後段検出器３１ａ使用中に使用検出器を後段検出器３１ａから前段検出器３１ｂへの切替操作を受け付ける場合、直接的な切替操作を受け付けてもよいし、予め設定された複数のＦＯＶの中からの操作部１０による、前段検出器３１ｂに対応するＦＯＶの選択操作を受け付けてもよい。また、操作受付手段１３３は、撮影制御手段１３２による前段検出器３１ｂを用いた撮影中、使用検出器の後段検出器３１ａへの切替操作を受け付ける機能を有する。

視野サイズ設定手段１３４は、操作受付手段１３３によって前段検出器３１ｂの関心領域の指定操作が受け付けられると、指定された関心領域に基づいて前段検出器３１ｂの視野サイズを設定する機能を有する。

図７（Ａ）〜（Ｆ）は、指定される関心領域と、それに対応する視野サイズとの関係を示す図である。

図７（Ａ）は、指定された関心領域Ａ１が、視野サイズＣｓとして設定される。そして、視野サイズＣｓは、最大視野サイズＣｍａｘに一致する。

図７（Ｂ）は、指定された関心領域Ａ２が、Ｚ方向のみにおいて前段検出器３１ｂの最大視野サイズＣｍａｘより小さい場合を示す。この場合、関心領域Ａ２のＸ、Ｚ方向における長さのうち、大きい方の長さによって形成される正方形の視野サイズＣｓが設定される。そして、視野サイズＣｓは、最大視野サイズＣｍａｘに一致する。

図７（Ｃ）は、指定された関心領域Ａ３が、Ｘ、Ｚ方向において前段検出器３１ｂの最大視野サイズＣｍａｘより小さい場合を示す。この場合、関心領域Ａ３のＸ、Ｚ方向における長さのうち、大きい方の長さによって形成される正方形の視野サイズＣｔが設定される。そして、視野サイズＣｔは、最大視野サイズＣｍａｘより小さくなる。

図７（Ｄ）は、指定された関心領域Ａ４が、Ｚ方向のみにおいて前段検出器３１ｂの最大視野サイズＣｍａｘより大きい場合を示す。この場合、関心領域Ａ４のＸ、Ｚ方向における長さのうち、大きい方の長さによって形成される正方形の視野サイズＣｕが設定される。そして、視野サイズＣｕは、最大視野サイズＣｍａｘより大きくなる。

図７（Ｅ）は、指定された関心領域Ａ５が、Ｘ、Ｚ方向において前段検出器３１ｂの最大視野サイズＣｍａｘより大きい場合を示す。この場合、関心領域Ａ５のＸ、Ｚ方向における長さのうち、大きい方の長さによって形成される正方形の視野サイズＣｕが設定される。そして、視野サイズＣｕは、最大視野サイズＣｍａｘより大きくなる。

図７（Ｆ）は、指定された関心領域Ａ６が、Ｘ方向において前段検出器３１ｂの最大視野サイズＣｍａｘより大きく、Ｚ方向において前段検出器３１ｂの最大視野サイズＣｍａｘより小さい場合を示す。この場合、関心領域Ａ６のＸ、Ｚ方向における長さのうち、大きい方の長さによって形成される正方形の視野サイズＣｕが設定される。そして、視野サイズＣｕは、最大視野サイズＣｍａｘより大きくなる。

なお、図７（Ａ）〜（Ｆ）に示す視野サイズＣｓ，Ｃｔ，Ｃｕの形状が正方形である場合を説明したが、これは、前段検出器３１ｂの検出面が正方形であることを前提にしている。前段検出器３１ｂの検出面の形状が矩形である場合は、それに合わせて視野サイズＣｓ，Ｃｔ，Ｃｕの形状が設定される。

図６の説明に戻って、ＳＩＤ設定手段１３５は、操作受付手段１３３によって前段検出器３１ｂの関心領域の指定操作が受け付けられると、視野サイズ設定手段１３４によって設定された視野サイズに基づいて、前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤを設定する機能を有する。ＳＩＤ設定手段１３５は、視野サイズと前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤとに基づいて前段検出器３１ｂの現在の照射角を算出し、その照射角をＳＩＤ対応テーブルに参照することで得られるＳＩＤを前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤとして設定する。

図８乃至図１１は、後段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤと最大視野サイズの場合のＳＩＤとの関係を示す図である。

図８乃至図１１は、Ｘ線管２１及び前段検出部３１ｂの側面図（Ｘ−Ｙ平面図）である。なお、Ｙ−Ｚ平面についてもＸ−Ｙ平面と同様に考えられるので、説明を省略する。

図８は、視野サイズＣｓ（図７（Ａ），（Ｂ）にも図示）と前段検出器３１の現在のＳＩＤ「ＳＦ０」とに基づいて算出される照射角Ｆ１をＳＩＤ対応テーブル（図２に図示）に参照して得られたＳＩＤ「ＳＦ１」と、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤ「ＳＦ０」とが一致する場合を示す。この場合、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤ「ＳＦ０」がそのまま前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤとして設定される。前段検出器３１ｂの視野サイズＣｓは、最大視野サイズＣｍａｘに一致する。

図９は、視野サイズＣｔ（図７（Ｃ）にも図示）と前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤ「ＳＦ０」とに基づいて算出される照射角Ｆ２をＳＩＤ対応テーブル（図２に図示）に参照して得られたＳＩＤ「ＳＦ２」より、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤ「ＳＦ０」が小さい場合を示す。この場合、最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ２」が前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤとして設定される。最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ２」及び照射角Ｆ２に対応する前段検出器３１ｂの視野サイズＣｔ´は、最大視野サイズＣｍａｘに一致する。

なお、ＳＩＤは機構上の制限を受け、最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ２」が前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤとして設定されることができない場合がある。その場合、図１０に示すように、機構上の限界の最大ＳＩＤ「Ｓｍａｘ」が前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤとして設定される。最大ＳＩＤ「Ｓｍａｘ」及び照射角Ｆ２に対応する前段検出器３１ｂの視野サイズＣｔ´´は、最大視野サイズＣｍａｘより小さいものの、視野サイズＣｔと比較して最大視野サイズＣｍａｘに近い。

図１１は、視野サイズＣｕ（図７（Ｄ）乃至図（Ｆ）にも図示）と前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤ「ＳＦ０」とに基づいて算出される照射角Ｆ３をＳＩＤ対応テーブル（図２に図示）に参照して得られたＳＩＤ「ＳＦ３」より、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤ「ＳＦ０」が大きい場合を示す。この場合、最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ３」が前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤとして設定される。最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ３」及び照射角Ｆ３に対応する前段検出器３１ｂの視野サイズＣｕ´は、最大視野サイズＣｍａｘに一致する。

なお、ＳＩＤは機構上や、被検体Ｓ（図１に図示）や、天板７（図１に図示）の高さの制限を受け、最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ３」が前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤとして設定されることができない場合がある。その場合について図１２乃至図１４を用いて説明する。

図１２は、指定される関心領域と、それに対応する視野サイズとの関係を示す図である。

図１２は、図７（Ｅ）の変形例であり、指定された関心領域Ａ７が、Ｘ、Ｚ方向において前段検出器３１ｂの最大視野サイズＣｍａｘより大きい場合を示す。関心領域Ａ７のＸ、Ｚ方向における長さのうち、大きい方の長さによって形成される正方形の視野サイズＣｋが算出される。

しかしながら、視野サイズＣｋが大きすぎるので、視野サイズＣｋを前段検出器３１ｂの最大視野サイズで撮影を行なうことは機構上の制限のため不可能である。その場合、Ｘ方向に沿って前段検出器３１ｂの複数のセットポジションを設定し、複数のセットポジションにてそれぞれ複数回撮影が行なわれる。

図１３は、前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤと最大視野サイズの場合のＳＩＤとの関係を示す図である。

図１３は、Ｘ線管２１及び前段検出部３１ｂの側面図（Ｘ−Ｙ平面図）である。図１３に示すように、機構上の限界の最小ＳＩＤ「Ｓｍｉｎ」が前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤとして設定される。照射角は、最小ＳＩＤ「Ｓｍｉｎ」をＳＩＤ対応テーブルに参照して得ることができ、最小ＳＩＤ「Ｓｍｉｎ」及び照射角に対応する前段検出器３１ｂの視野サイズＣｍは、最大視野サイズＣｍａｘに一致する。なお、被検体Ｓ（図１に図示）や天板７（図１に図示）の高さによる制約のため最小ＳＩＤが更に制約を受けることを検知する手段を有する場合は、被検体Ｓや天板７の高さに伴う最小ＳＩＤを「Ｓｍｉｎ」と設定することができる。

図１４（Ａ），（Ｂ）は、複数のセットポジションの設定方法を示す図である。

図１４（Ａ）は、視野サイズＣｍ（図１３に図示）によってそれぞれ形成される３個の領域Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３のＸ方向の長さＣｍｘと、隣り合う領域間（Ｗ１−Ｗ２間、Ｗ２−Ｗ３間）の最小の重なり部分の長さａｍｉｎとを示す。長さＣｍｘと、最小の重なり部分の長さａｍｉｎと、視野サイズＣｍによって形成される領域の個数ｎ（ｎ＝２，３，４，…）とに基づいて、次の式を用いて長さＬ［ｎ］が算出される。

Ｌ［ｎ］＝ｎ×（Ｃｍｘ−ａｍｉｎ）＋（ｎ−１）×ａｍｉｎ

上記式のｎに２，３，４，…を順に代入して算出される長さＬ［２］，Ｌ［３］，Ｌ［４］，…が関心領域Ａ７のＸ方向の長さＡｘを超える場合の最小個数のｎが、視野サイズによって形成される領域の個数として設定される。

そして、図１４（Ｂ）に示すように、関心領域Ａ７のＸ方向の長さＡｘに収まるように隣り合う領域間の重なり部分の長さａが調整されて、関心領域Ａ７と視野サイズＣｍ（図１３に図示）によって形成される領域の個数との関係が決定される。このように配置された複数の領域の画像をそれぞれ収集できる、Ｘ方向に沿った複数のセットポジションが設定される。なお、図１４（Ａ），（Ｂ）では、関心領域Ａ７のＸ方向の長さＡｘを超える領域の最小個数が、ｎ＝３（Ｌ［３］＞Ａｘ）である場合を示す。

また、図１４（Ａ），（Ｂ）を用いて、Ｘ方向における関心領域Ａ７と視野サイズＣｍ（図１３に図示）によって形成される領域の個数との関係について説明したが、Ｚ方向における関心領域Ａ７と視野サイズＣｍ（図１３に図示）によって形成される領域の個数との関係についても同様に決定することができる。

図６の説明に戻って、模擬画像生成手段１３６は、操作受付手段１３３によって画像Ｉａ（図４に図示）上で関心領域Ａ（図４に図示）の指定操作が受け付けられると、画像Ｉａ（図４に図示）に基づいて関心領域Ａの拡大画像（模擬画像）を生成する機能を有する。そして、模擬画像生成手段１３６によって生成された模擬画像は、表示部９に表示される。

図１５（Ａ），（Ｂ）は、後段検出器３１ａの画像Ｉａ上で指定される関心領域Ａ２（図７（Ｂ）にも図示）と、関心領域Ａ２の模擬画像を含む表示画面とを示す図である。図１６（Ａ），（Ｂ）は、後段検出器３１ａの画像Ｉａ上で指定される関心領域Ａ７（図１２にも図示）と、関心領域Ａ７の模擬画像を含む表示画面とを示す図である。

図１５（Ａ）は、後段検出器３１ａの画像Ｉａ上で指定される関心領域Ａ２と、そのＸ、Ｚ方向とを示す。図１５（Ｂ）は、画像Ｉａに基づく関心領域Ａ２の模擬画像（低解像度）を含む表示画面を示す。この場合、図９を用いて説明したように、ＳＩＤ「ＳＦ２」が設定されることになる。

図１５（Ｂ）に示すように、表示画面は、最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ２」（図９に図示）としての「１３０ｃｍ」を含む。また、表示画面は、最大視野サイズの場合のＳＩＤ「ＳＦ２」におけるＸ線条件を含んでもよい。さらに、表示画面には、ＳＩＤ「ＳＦ２」におけるセットポジションの数（撮影回数）を含んでもよい。なお、模擬画像と同等の領域の高解像度の画像が前段検出器３１ｂで収集される場合、Ｘ方向における関心領域Ａ２の幅と比較してＺ方向における関心領域Ａ２の幅が小さいので、Ｚ方向の両端領域が、Ｘ線絞り器２２（図１に図示）によって遮蔽されて撮影されることになる。

図１６（Ａ）は、後段検出器３１ａの画像Ｉａ上で指定される関心領域Ａ７と、そのＸ、Ｚ方向とを示す。図１６（Ａ）は、画像Ｉａに基づく関心領域Ａ７の模擬画像（低解像度）を含む表示画面を示す。この場合、図１３を用いて説明したように、最小ＳＩＤ「Ｓｍｉｎ」が設定されることになる。

図１６（Ｂ）に示すように、表示画面は、ＳＩＤ「Ｓｍｉｎ」（図１３に図示）としての「１００ｃｍ」を含む。また、表示画面は、ＳＩＤ「Ｓｍｉｎ」におけるＸ線条件を含んでもよい。さらに、表示画面には、ＳＩＤ「Ｓｍｉｎ」におけるセットポジションの数（撮影回数）を含んでもよい。加えて、表示画面の模擬画像には、視野サイズＣｍ（図１３に図示）の複数の領域Ｗ１，Ｗ２の枠が示されてもよい。なお、模擬画像と同等の領域の高解像度の画像が前段検出器３１ｂで収集される場合、Ｘ方向における関心領域Ａ２の幅と比較してＺ方向における関心領域Ａ２の幅が小さいので、Ｚ方向の両端領域が、Ｘ線絞り器２２（図１に図示）によって遮蔽されて撮影されることになる。

図６の説明に戻って、Ｘ線量算出手段１３７は、現在のＳＩＤが、ＳＩＤ設定手段１３５によって設定された前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤより小さい場合（図９及び図１０に示す場合）、設定された前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤに対応するＸ線量を算出する機能を有する。そして、Ｘ線量算出手段１３７によって算出されたＸ線量は、表示部９に表示される。Ｘ線量算出手段１３７は、ＳＩＤが大きい程、大きなＸ線量を算出する。操作者は、表示されたＸ線量を確認して、設定された前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤを採用するか否かを判断することもできる。

切替制御手段１３８は、操作受付手段１３３によって関心領域の指定操作が受け付けられ、使用検出器の切替操作が受け付けられた場合、機構部４を制御して、図２等を用いて説明したように、使用検出器を後段検出器３１ａから前段検出器３１ｂに切り替える機能を有する。その場合、切替制御手段１３８は、機構部４を制御して、前段検出器３１ｂをＸ−Ｚ平面（図５に図示）上で位置決めすると共に、ＳＩＤ設定手段１３５によって設定された前段検出器３１ｂ使用時のＳＩＤに基づいてＹ方向（図５に図示）、すなわち、ＳＩＤ方向に位置決めする。ＳＩＤを変更させる場合、切替制御手段１３８は、機構部４を制御して、Ｘ線検出部３（又はＸ線発生部２）をＹ方向（図５に図示）に移動させる。

そして、撮影制御手段１３２によって、図８乃至図１１にそれぞれ示すＳＩＤ「ＳＦ１」、「ＳＦ２」、「Ｓｍａｘ」又は「ＳＦ３」で撮影が実行される。したがって、図８乃至図１１にそれぞれ示す視野サイズＣｓ、Ｃｔ´、Ｃｔ´´又はＣｕ´で撮影が実行されることになるので、従来技術と比較して光学的に高分解能の画像を収集できる。また、撮影制御手段１３２によって、自動的に設定されたＸ−Ｚ平面（図５に図示）上における複数のセットポジションのそれぞれで、図１３に示すＳＩＤ「Ｓｍｉｎ」で撮影が実行される。したがって、Ｘ−Ｚ平面（図５に図示）上における複数のセットポジションのそれぞれで、図１３に示す視野サイズＣｍで撮影が実行されることになるので、従来技術と比較して、操作者によるセットポジションの変更操作によらず、自動的に光学的に高分解能の画像を収集できる。

続いて、図１、図１７乃至図１９を用いて、本実施形態のＸ線診断装置１の動作について説明する。

図１７乃至図１９は、本実施形態のＸ線診断装置１の動作を示すフローチャートである。

Ｘ線診断装置１は、操作部１０による操作に従って機構部４が制御されて天板７上の被検体Ｓに対して被移動体がポジショニングされた後、操作部１０による操作に従ってＸ線発生部２、Ｘ線検出部３、機構部４、高電圧発生部５、画像処理部８、表示部９、及び記憶部１１を制御して、天板７上の被検体Ｓの後段検出器３１ａによる撮影を開始する（ステップＳＴ１）。Ｘ線診断装置１は、ステップＳＴ１による撮影によって得られた画像を第１モニタ９２ａ（図２に図示）を介して表示させたり、記憶部１１に記憶させたりする。

Ｘ線診断装置１は、ステップＳＴ１によって後段検出器３１ａによる撮影が開始されると、関心領域Ａ（図４に図示）が指定され、使用検出器の前段検出器３１ｂへの切替操作を受け付けたか否かを判断する（ステップＳＴ２）。ステップＳＴ２の判断にてＹＥＳ、すなわち、使用検出器の後段検出器３１ａへの切替操作を受け付けたと判断される場合、Ｘ線診断装置１は、ステップＳＴ１によって開始された（又は、後述する図１９のステップＳＴ２８によって再開された）後段検出器３１ａによる撮影を終了する（ステップＳＴ３）。

ステップＳＴ２の判断にてＮＯ、すなわち、使用検出器の後段検出器３１ａへの切替操作を受け付けてないと判断される場合、Ｘ線診断装置１は、被検体Ｓの撮影を終了するか否かを判断する（ステップＳＴ４）。ステップＳＴ４の判断にてＹＥＳ、すなわち、被検体Ｓの撮影を終了すると判断される場合、Ｘ線診断装置１は、動作を終了する。一方、ステップＳＴ４の判断にてＮＯ、すなわち、被検体Ｓの撮影を終了しないと判断される場合、Ｘ線診断装置１は、ステップＳＴ２に戻る。

ステップＳＴ３に続き、Ｘ線診断装置１は、機構部４を制御して、前段検出器３１ｂを関心領域Ａ（図４に図示）に基づくＸ−Ｚ平面（図５に図示）上のセットポジションまで移動させて、Ｘ−Ｚ平面（図５に図示）上で位置合わせする（ステップＳＴ５）。そして、Ｘ線診断装置１は、指定された関心領域Ａ（図４に図示）に基づいて、視野サイズを設定する（ステップＳＴ６）。ステップＳＴ６による視野サイズの設定方法は、図７（Ａ）〜（Ｆ）及び図１２を用いて説明したとおりである。

Ｘ線診断装置１は、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤと、ステップＳＴ６によって設定された視野サイズとに基づいて前段検出器３１ｂの照射角を算出し、その照射角をＳＩＤ対応テーブル（図２に図示）に参照することでＳＩＤを得る（ステップＳＴ７）。

Ｘ線診断装置１は、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤが、ステップＳＴ７によって得られた最大視野サイズの場合のＳＩＤに一致するか否かを判断する（ステップＳＴ８）。ステップＳＴ８の判断にてＹＥＳ、すなわち、現在のＳＩＤが、最大視野サイズの場合のＳＩＤに一致すると判断される場合（図８に図示する場合）、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを変更させない。そして、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線発生部２、Ｘ線検出部３、機構部４、高電圧発生部５、画像処理部８、表示部９、及び記憶部１１を制御して、天板７上の被検体Ｓの前段検出器３１ｂによる撮影を開始する（図１９のステップＳＴ９）。Ｘ線診断装置１は、ステップＳＴ９による撮影によって得られた画像を第２モニタ９２ｂ（図３に図示）を介して表示させたり、記憶部１１に記憶させたりする。前段検出器３１ｂ使用中、ＳＩＤの変更操作に基づいてＳＩＤが変更される場合もある。

一方、ステップＳＴ８の判断にてＮＯ、すなわち、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤが、最大視野サイズの場合のＳＩＤと一致しないと判断される場合、Ｘ線診断装置１は、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤが、ステップＳＴ７によって得られた最大視野サイズの場合のＳＩＤより小さいか否かを判断する（図１８のステップＳＴ１０）。ステップＳＴ１０にてＹＥＳ、すなわち、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤが、最大視野サイズの場合のＳＩＤより小さいと判断される場合、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、ステップＳＴ７によって得られた最大視野サイズの場合のＳＩＤに拡大変更することが機構上可能であるか否かを判断する（ステップＳＴ１１）。ステップＳＴ１１にてＹＥＳ、すなわち、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、最大視野サイズの場合のＳＩＤに拡大変更することが可能であると判断される場合（図９に図示する場合）、Ｘ線診断装置１は、後段検出器３１ａの画像Ｉａ（図４に図示）に基づいて、指定された関心領域に関する模擬画像（図１５（Ｂ）に図示）を生成して表示部９に表示させ、ステップＳＴ７によって得られた最大視野サイズの場合のＳＩＤに対応するＸ線量を算出して表示部９に表示させる（ステップＳＴ１２）。

Ｘ線診断装置１は、ステップＳＴ１１によって表示されたＸ線量の許容操作が行なわれると（ステップＳＴ１３）、機構部４を制御して、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、ステップＳＴ７によって得られた最大視野サイズの場合のＳＩＤに拡大変更してＹ方向（図５に図示）に位置合わせする（ステップＳＴ１４）。そして、Ｘ線診断装置１は、天板７上の被検体Ｓの前段検出器３１ｂによる撮影を開始する（図１９のステップＳＴ９）。

ステップＳＴ１１の判断にてＮＯ、すなわち、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、最大視野サイズの場合のＳＩＤに拡大変更することが不可能であると判断される場合（図１０に図示する場合）、Ｘ線診断装置１は、機構上の最大ＳＩＤを得る（ステップＳＴ１５）。そして、Ｘ線診断装置１は、後段検出器３１ａの画像Ｉａ（図４に図示）に基づいて、指定された関心領域に関する模擬画像を生成して表示部９に表示させ、ステップＳＴ１５によって得られた最大ＳＩＤに対応するＸ線量を算出して表示部９に表示させる（ステップＳＴ１６）。

Ｘ線診断装置１は、ステップＳＴ１６によって表示されたＸ線量の許容操作が行なわれると（ステップＳＴ１７）、機構部４を制御して、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、ステップＳＴ１５によって得られた最大ＳＩＤに拡大変更してＹ方向（図５に図示）に位置合わせする（ステップＳＴ１８）。そして、Ｘ線診断装置１は、天板７上の被検体Ｓの前段検出器３１ｂによる撮影を開始する（図１９のステップＳＴ９）。

また、ステップＳＴ１０にてＮＯ、すなわち、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤが、最大視野サイズの場合のＳＩＤより大きいと判断される場合、Ｘ線診断装置１は、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、ステップＳＴ７によって得られた最大視野サイズの場合のＳＩＤに縮小変更することが機構上可能であるか否かを判断する（ステップＳＴ１９）。ステップＳＴ１９にてＹＥＳ、すなわち、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、最大視野サイズの場合のＳＩＤに縮小変更することが可能であると判断される場合（図１１に図示する場合）、Ｘ線診断装置１は、後段検出器３１ａの画像Ｉａ（図４に図示）に基づいて、指定された関心領域に関する模擬画像を生成して表示部９に表示させる（ステップＳＴ２０）。

Ｘ線診断装置１は、機構部４を制御して、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、ステップＳＴ７によって得られた最大視野サイズの場合のＳＩＤに縮小変更してＹ方向（図５に図示）に位置合わせする（ステップＳＴ２１）。そして、Ｘ線診断装置１は、天板７上の被検体Ｓの前段検出器３１ｂによる撮影を開始する（図１９のステップＳＴ９）。

ステップＳＴ１９の判断にてＮＯ、すなわち、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、最大視野サイズの場合のＳＩＤに縮小変更することが不可能であると判断される場合（図１３に図示する場合）、Ｘ線診断装置１は、機構上の最小ＳＩＤを得る（ステップＳＴ２２）。Ｘ線診断装置１は、Ｘ−Ｚ平面（図５に図示）上の複数のセットポジションを設定する（ステップＳＴ２３）。ステップＳＴ２３による複数のセットポジションの設定方法は、図１４（Ａ），（Ｂ）を用いて説明したとおりである。そして、Ｘ線診断装置１は、後段検出器３１ａの画像Ｉａ（図４に図示）に基づいて、指定された関心領域に関する模擬画像（図１６（Ｂ）に図示）を生成して表示部９に表示させる（ステップＳＴ２４）。

Ｘ線診断装置１は、機構部４を制御して、前段検出器３１ｂの現在のＳＩＤを、ステップＳＴ２２によって得られた最小ＳＩＤに縮小変更してＹ方向（図５に図示）に位置合わせする（ステップＳＴ２５）。そして、Ｘ線診断装置１は、天板７上の被検体Ｓの前段検出器３１ｂによる撮影を開始する（図１９のステップＳＴ９）。

ステップＳＴ９に続き、Ｘ線診断装置１は、使用検出器の後段検出器３１ａへの切替操作を受け付けたか否かを判断する（ステップＳＴ２６）。ステップＳＴ２６の判断にてＹＥＳ、すなわち、使用検出器の後段検出器３１ａへの切替操作を受け付けたと判断される場合、Ｘ線診断装置１は、ステップＳＴ９によって開始された前段検出器３１ｂによる撮影を終了する（ステップＳＴ２７）。Ｘ線診断装置１は、Ｘ線発生部２、Ｘ線検出部３、機構部４、高電圧発生部５、画像処理部８、表示部９、及び記憶部１１を制御して、天板７上の被検体Ｓの後段検出器３１ａによる撮影を再開して（ステップＳＴ２８）、図１７のステップＳＴ２に戻る。

ステップＳＴ２６の判断にてＮＯ、すなわち、使用検出器の後段検出器３１ａへの切替操作を受け付けてないと判断される場合、Ｘ線診断装置１は、使用検出器の後段検出器３１ａへの切替操作を受け付けるまで待機する。

本実施形態のＸ線診断装置１によると、後段検出器３１ａによる画像上で指定された関心領域の大きさに関わらず、分解能に優れた前段検出器３１ｂの画像を収集することができる。また、本実施形態のＸ線診断装置１によると、前段検出器３１ｂの位置を変更して複数の位置に対応する複数の画像を収集する場合の操作性を向上させることができる。

以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の省略、置き換え、変更を行なうことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１ Ｘ線診断装置
２ Ｘ線発生部
３ Ｘ線検出部
６ Ｃアーム（支持部）
７ 天板（載置部）
１０ 操作部
１１ 記憶部
１２ ＩＦ
１３ システム制御部
３１ａ 後段検出器
３１ｂ 前段検出器
４１ 検出器移動機構
１３１ 位置合わせ手段
１３２ 撮影制御手段
１３３ 操作受付手段
１３４ 視野サイズ設定手段
１３５ ＳＩＤ設定手段
１３６ 模擬画像生成手段
１３７ Ｘ線量算出手段
１３８ 切替制御手段

Claims (9)

1. Ｘ線を発するＸ線源と、
   前記Ｘ線を検出する第１検出器と、
   最大視野サイズが前記第１検出器の最大視野サイズより小さく前記第１検出器の視野内の前記Ｘ線を検出可能な第２検出器と、
   前記第１検出器による画像上で指定された関心領域に対応する前記第２検出器の視野サイズに応じて前記第２検出器のＳＩＤ（ｓｏｕｒｃｅ−ｔｏ−ｉｍａｇｅ ｄｉｓｔａｎｃｅ）を制御する制御手段と、
   を有するＸ線診断装置。
2. 前記制御手段は、前記関心領域に対応する前記第２検出器の視野サイズの大きさが前記第２検出器の最大視野サイズより小さい場合、前記ＳＩＤを拡大変更する請求項１に記載のＸ線診断装置。
3. 前記関心領域に対応する前記第２検出器の視野サイズの大きさが前記第２検出器の最大視野サイズに一致する場合のＳＩＤを求めるＳＩＤ設定手段をさらに有し、
   前記制御手段は、前記得られたＳＩＤとなるように前記ＳＩＤを拡大変更する請求項２に記載のＸ線診断装置。
4. 前記制御手段は、機構上、前記得られたＳＩＤまで前記ＳＩＤを拡大変更不可能な場合、最大のＳＩＤとなるように前記ＳＩＤを拡大変更する請求項３に記載のＸ線診断装置。
5. 前記拡大変更後のＳＩＤにおけるＸ線量を算出して表示部に表示させるＸ線量算出手段をさらに有する請求項３又は４に記載のＸ線診断装置。
6. 前記制御手段は、前記関心領域に対応する前記第２検出器の視野サイズの大きさが前記第２検出器の最大視野サイズより大きい場合、前記ＳＩＤを縮小変更する請求項１乃至５のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
7. 前記関心領域に対応する前記第２検出器の視野サイズの大きさが前記第２検出器の最大視野サイズに一致する場合のＳＩＤを得るＳＩＤ設定手段をさらに有し、
   前記制御手段は、前記得られたＳＩＤとなるように前記ＳＩＤを縮小変更する請求項６に記載のＸ線診断装置。
8. 前記制御手段は、機構上、前記得られたＳＩＤまで前記ＳＩＤを縮小変更不可能な場合、最小のＳＩＤとなるように前記ＳＩＤを縮小変更する請求項７に記載のＸ線診断装置。
9. 前記指定された関心領域の画像を長尺画像として得るために、前記最小のＳＩＤで、前記第２検出器の最大視野サイズで、複数の撮影位置を設定する手段をさらに有する請求項８に記載のＸ線診断装置。