JP2017117704A - 表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】表示装置内部への水分の侵入による表示不良の発生を抑制することを目的とする。
【解決手段】表示装置は、複数の単位画素それぞれで輝度が制御されて発光する自発光素子層を含む複数層が積層される回路基板と、自発光素子層からの光を遮光する遮光層を備え、回路基板に対向して設けられる対向基板と、を有し、遮光層は、自発光素子層に対向する領域よりも対向基板の縁側の領域に、対向基板の縁に沿うように形成される開口を有する。
【選択図】図2

Description

本発明は、表示装置に関する。
特許文献1は、表示層(自発光素子層)を含む回路基板と、回路基板に対向して設けられ、カラーフィルタ及びブラックマトリクスを含む対向基板とを備える表示装置を開示している。特許文献2は、回路基板に含まれる絶縁膜に水分遮断構造を構成する切断部を設けることにより、透湿性を有する絶縁膜を通じて水分が表示装置内部に侵入してきた場合に、有機層(自発光素子層)に水分が到達するのを防ぐ技術を開示している。
特開2010−243647号公報 特開2009−283242号公報
対向基板の縁側から透湿性を有するブラックマトリクスを通じて、水分が表示装置内部に侵入してきた場合、自発光素子層に水分が到達してしまうと表示不良が生じるおそれがある。
上記課題に鑑みて、本発明は、表示装置内部への水分の侵入による表示不良の発生を抑制することを目的とする。
本発明の一態様の表示装置は、複数の単位画素それぞれで輝度が制御されて発光する自発光素子層を含む複数層が積層される回路基板と、前記自発光素子層からの光を遮光する遮光層を備え、前記回路基板に対向して設けられる対向基板と、を有し、前記遮光層は、前記自発光素子層に対向する領域よりも前記対向基板の縁側の領域に、前記対向基板の縁に沿うように形成される開口を有することを特徴とする。
本発明の他の一態様の表示装置は、複数の単位画素それぞれで輝度が制御されて発光する自発光素子層を含む複数層が積層される回路基板と、前記自発光素子層からの光を遮光する遮光層を備え、前記回路基板に対向して設けられる対向基板と、を有し、前記複数層のうち少なくとも一つの層は、前記回路基板の縁に沿うように切断された切断部を有し、前記遮光層の縁は、前記切断部の切断面のうち前記自発光素子層に近い方の切断面よりも前記対向基板の縁側に設けられることを特徴とする。
第1〜6実施形態に係る表示装置の全体構成を模式的に示す模式平面図である。 第1実施形態に係る表示装置の断面を模式的に示す、図1のA−A断面図である。 周辺領域N付近のブラックマトリクスを示す拡大平面図である。 自発光素子からの光の屈折について説明するための説明図である。 第2実施形態に係る表示装置の断面を模式的に示す、図1のA−A断面図である。 第3実施形態に係る表示装置の断面を模式的に示す、図1のA−A断面図である。 第4実施形態に係る表示装置の断面を模式的に示す、図1のA−A断面図である。 第5実施形態に係る表示装置の断面を模式的に示す、図1のA−A断面図である。 第6実施形態に係る表示装置の断面を模式的に示す、図1のA−A断面図である。
以下に、本発明の第1〜第6実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
まず、図1〜4を参照して、第1実施形態に係る表示装置100について説明する。図1は、第1実施形態に係る表示装置の全体構成を模式的に示す模式平面図である。図2は、第1実施形態に係る表示装置の断面を模式的に示す、図1のA−A断面図である。
図1に示すように、表示装置100は、画像表示をする略矩形の表示領域M(図1の破線内)と、表示領域の外側の周辺領域Nとを有する。表示領域Mには複数の単位画素がマトリクス状に配置されている。なお、後述する第2〜6実施形態に係る表示装置の全体構成についても図1で示す構成と同様である。
図2に示すように、表示装置100は、薄膜トランジスタ等を備えるTFT(Thin Film Transistor)基板10と、TFT基板10に対向して設けられる対向基板20とを有する。対向基板20は、TFT基板10の縁E1に沿うように周辺領域Nに形成されたシール部材30と、シール部材30に囲まれる領域に充填された充填層40とを介して、TFT基板10に貼り付けて設けられる。
TFT基板10は、自発光素子層11を含む複数層からなる。具体的には、TFT基板10は、ガラス基板12と、ガラス基板12上に形成される平坦化膜13と、平坦化膜13上に形成される絶縁膜14と、絶縁膜14上に形成されるバンク層15と、バンク層15上に形成される自発光素子層11と、バンク層15及び自発光素子層11上に形成される封止膜16とからなる。複数層のうち少なくとも平坦化膜13とバンク層15は、例えば樹脂から成る有機膜であり、透湿性を有する。また、バンク層15は、複数の単位画素を区画するように配置される。
自発光素子層11は、画素を構成する複数の単位画素それぞれで輝度が制御されて発光する層である。自発光素子層11は、少なくとも表示領域Mに設けられ、有機EL(Electro Luminescence)層11aと、有機EL層の下層に設けられる透明電極である下部電極11bと、有機EL層の上層に設けられる透明電極である上部電極11cとを含む層である。有機EL層11aのうち下部電極11bを覆う領域が発光領域となり、バンク層15によって下部電極11bと離間される領域は非発光領域となる。
有機EL層11aは、陰極側から陽極側に向けて順に、電子輸送層、発光層、ホール輸送層を積層配置して構成される。第1実施形態においては、下部電極11bが陰極として機能し、上部電極11cが陽極として機能する構成とした。下部電極11bと上部電極11cに直流電圧が印加されると、上部電極11c(陽極側)から注入されたホールがホール輸送層を経由し、一方、下部電極11b(陰極側)から注入された電子が電子輸送層を経由して、それぞれ有機EL層11aに到達し、電子とホールが再結合する。このような電子とホールの再結合により、有機EL層11aは、所定の波長の発光を行う。
ここで、バンク層15は透湿性を有するため、バンク層15に染み込んだ水分がバンク層15を通じて表示装置100内部に侵入する場合がある。その水分が自発光素子層11に到達してしまうと、表示不良が生じてしまうおそれがある。そこで、バンク層15は、バンク層15を通じて表示装置100内部へ水分が侵入してきた場合、その水分が自発光素子層11へ到達するのを防ぐための水分遮断構造を構成する切断部15aを有する。
バンク層15の切断部15aは、自発光素子層11よりもTFT基板10の縁E1側に、TFT基板10の縁E1に沿うように形成される。そのため、仮にバンク層15に外部からの水分が染み込んできたとしても、切断部15aよりも自発光素子層11側への水分の侵入が止められる。
また、バンク層15の切断部15aの形状に倣って、バンク層15上に形成される封止膜16には溝部16aが形成されることとなる。第1実施形態においては、図2に示すように、シール部材30を封止膜16の溝部16aに入り込むように形成した。
なお、図2では図示しないが、透湿性を有する平坦化膜13にも、水分遮断構造を形成するべく、自発光素子層11よりもTFT基板10の縁E1側に、TFT基板10の縁E1に沿うように切断部を形成してもよい。また、バンク層15や平坦化膜13に形成する水分遮断構造は一つに限られるものではなく、それぞれの層に水分遮断構造を構成する切断部を複数設けてもよい。
一方、対向基板20は、ガラス基板21と、ガラス基板21の下層に設けられるカラーフィルタ22と、カラーフィルタ22の周辺に設けられるブラックマトリクス23とを有する。
カラーフィルタ22は、表示領域Mに配置される単位画素毎に区分されて設けられ、特定の波長の光を吸収し、他の波長の光を透過する。カラーフィルタ22としては、例えば赤R、緑G、青Bの着色がされたものを用いるとよい。ブラックマトリクス23は、各色のカラーフィルタ22を囲むようにマトリクス状に形成され、自発光素子層11からの光を遮光する。
さらに、図2、図3を参照して、ブラックマトリクス23の詳細について説明する。図3は、第1実施形態における周辺領域N付近のブラックマトリクスを示す拡大平面図である。なお、後述する第2〜第5実施形態のブラックマトリクスについても図3で示したものと同様の構成を採用する。
ブラックマトリクス23は透湿性を有する。そのため、対向基板20の縁E2側からブラックマトリクス23に染み込んだ水分がブラックマトリクス23を通じて表示装置100内部に侵入する場合がある。その水分が自発光素子層11に到達してしまうと、表示不良が生じてしまうおそれがある。
そこで、図2、図3に示すように、ブラックマトリクス23は、自発光素子層11に対向する領域よりも対向基板20の縁E2側に、対向基板20の縁E2に沿うように形成されるスリット23aを有する。そのため、仮にブラックマトリクス23に外部からの水分が染み込んできたとしても、スリット23aよりも自発光素子層11側への水分の侵入が止められる。
スリット23aの幅Sは、十数μm〜数百μm程度が好ましい。また、第1実施形態において、スリット23aはシール部材30に沿って形成されており、シール部材30はスリット23aを埋めるように形成されている。シール部材30は、ブラックマトリクス23及び充填層30よりも水分を通しにくい材料からなる。
ここで、図4を参照して、ブラックマトリクス23にスリット23aを形成したことによる光の漏れ出し抑制構造について説明する。図4は、自発光素子からの光の屈折について説明するための説明図である。図4中の実線矢印は光の光路を示す。
ここで、ブラックマトリクス23は、自発光素子層11からの光を遮光するために設けられるものであるが、上述したようにスリット23aを形成すると、スリット23aから余分な光が漏れ出してしまう可能性がある。
そこで、第1実施形態においては、スリット23aが、上述したバンク層15に形成した切断部15aの切断面のうち自発光素子層11に近い方の切断面15bよりも対向基板20の縁E2側に設けられる構成とした。また、スリット23aが、封止膜16の溝部16aの内面のうち自発光素子層11に近い方の内面16bよりも対向基板20の縁E2側に設けられる構成とした。
さらに、切断面15bを傾斜面とし、内面16bを傾斜面とした。なお、バンク層15よりも封止膜16の方が光屈折率の小さい材料からなるように材料選択をするのが好ましい。また、封止膜16よりもシール部材30の方が光屈折率の小さい材料からなるように材料選択をするのが好ましい。
以上のような構成を採用することにより、自発光素子層11から発光された光は、各層の界面で屈折しつつ上層へと進んでいくところ、バンク層15と封止膜16の界面、封止膜16とシール部材30の界面において、少なくともスリット23aよりも手前(表示領域M側)に向かうように屈折する。そのため、自発光素子層11からの光がスリット23aから余分に漏れ出すことが抑制される。
なお、図4中の点線矢印は、封止膜16とシール部材30の光屈折率が同じ場合であって、封止膜16とシール部材30の界面で光が屈折せずに直進した場合の光路を示す。図4に示すように封止膜16とシール部材30の界面で光が屈折しない場合、スリット23aから光が漏れ出してしまう。
また、第1実施形態においては、スリット23aの幅Sを、封止膜16の溝部16aの幅Cよりも小さくした。後述する他の実施形態においても同様の構成とした。
以上説明したように、第1実施形態に係る表示装置100においては、ブラックマトリクス23にスリット23aが形成される構成を採用するため、対向基板20の縁E2側からブラックマトリクス23を通じて水分が侵入することにより自発光素子層11が濡れることを抑制できる。その結果、表示不良の発生を抑制し、表示装置100の寿命の低下を抑えることができる。さらに、自発光素子層11からの光がスリット23aから漏れ出してしまうことを抑制する光漏れ出し抑制構造を採用するため、スリット23aから余分な光が漏れ出すことによるコントラストの低下等を抑制し、画像品質の向上を図ることができる。すなわち、第1実施形態においては、TFT基板10に形成される水分遮断構造が、光漏れ出し抑制構造を兼ねるような構成とした。
次に、図5を参照して、第2実施形態に係る表示装置200について説明する。図5は、第2実施形態に係る表示装置を模式的に示す、図1のA−A断面図である。なお、第1実施形態と同じ構成については同一の符号を用いてその説明は省略する。
第2実施形態においては、シール部材30を、ブラックマトリクス23のスリット23aよりもTFT基板10の縁E1側に設けた。さらに、シール部材30に囲まれる領域に充填層40を形成した第1実施形態と異なり、第2実施形態においては、シール部材30に囲まれる領域を中空とした。そのため、ブラックマトリクス23に水分が侵入したとしても、スリット23aが存在し、かつブラックマトリクス23から封止膜16へと水分を伝える層が存在しないため、水分が自発光素子層11側へと到達し難い。
第2実施形態に係る表示装置200においては、第1実施形態に係る表示装置100と同様に、ブラックマトリクス23にスリット23aが形成されるため、外部からの水分が侵入したとしても自発光素子層11に到達することを抑制できる。その結果、表示不良の発生を抑制し、表示装置の寿命の低下を抑えることができる。
さらに、表示装置200は、第1実施形態と同様に、自発光素子層11からの光がスリット23aから漏れ出してしまうことを抑制する光漏れ出し抑制構造を採用する。なお、バンク層15よりも封止膜16の方が光屈折率が小さい材料からなるのが好ましい。また、封止膜16は、TFT基板10と対向基板20との間の中空領域よりも光屈折率が大きい材料からなるのが好ましい。そのため、図4を用いて説明した第1実施形態と同様に、バンク層15と封止膜16の界面で屈折した光が、スリット23aよりも表示領域M側に向けて進み、封止膜16と中空領域の界面で屈折した光も、スリット23aよりも表示領域M側に向けて進む。そのため、スリット23aから余分な光が漏れ出すことを抑制でき、画像品質の向上を図ることができる。
次に、図6を参照して、第3実施形態に係る表示装置300について説明する。図6は、第3実施形態に係る表示装置を模式的に示す、図1のA−A断面図である。なお、第1実施形態と同じ構成については同一の符号を用いてその説明は省略する。
第3実施形態に係る表示装置300は、第1実施形態に係る表示装置100と異なり、バンク層15に水分遮断構造を構成する切断部15aを設けない構成とした。そして、封止膜16に、ブラックマトリクス23のスリット23aに沿うように、溝部16aを形成した。また、溝部16aの内面のうち自発光素子層11側の内面16bは傾斜面とした。
そして、第3実施形態においては、第1実施形態と同様に、封止膜16よりもシール部材30の方が光屈折率の小さい材料を用いて、封止膜16とシール部材30との界面で屈折する光が、スリット23aよりも表示領域M側に進むように構成した。
次に、図7を参照して、第4実施形態に係る表示装置400について説明する。図7は、第4実施形態に係る表示装置を模式的に示す、図1のA−A断面図である。なお、第1実施形態と同じ構成については同一の符号を用いてその説明は省略する。
第4実施形態においては、平坦化膜13に切断部13aを形成し、その切断部13a上にバンク層15の切断部15aを形成した。また、平坦化膜13の切断部13aの形状に倣って、平坦化膜13上に形成される絶縁膜14には溝部14aが形成され、バンク層15の切断部15aの形状に倣って、バンク層15上に形成される封止膜16には溝部16aが形成されることとなる。
そして、第4実施形態においては、スリット23aを、封止膜16の溝部16aの内面のうち自発光素子層11に近い方の内面16bよりも対向基板20の縁E2側に設けた。また、ブラックマトリクス23のスリット23aの幅を、封止膜16の溝部16aの幅よりも狭くした。
以上のような構成を採用することにより、第4実施形態においては、第1実施形態で得られる効果に加えて、より水分遮断効果を期待できる。第1実施形態よりもTFT基板10に形成した水分遮断構造を構成する切断部の数が多いためである。
次に、図8を参照して、第5実施形態に係る表示装置500について説明する。図8は、第5実施形態に係る表示装置を模式的に示す、図1のA−A断面図である。なお、第1実施形態と同じ構成については同一の符号を用いてその説明は省略する。
第5実施形態においては、絶縁膜14に切断部14aを形成し、その切断部14a上にバンク層15の切断部15aを形成した。バンク層15の切断部15aの形状に倣って、バンク層15上に形成される封止膜16には溝部16aが形成されることとなる。
そして、第5実施形態においては、スリット23aを、封止膜16の溝部16aの内面のうち自発光素子層11に近い方の内面16bよりも対向基板20の縁E2側に設けた。また、スリット23aの幅を、封止膜16の溝部16aの幅よりも狭くした。
以上のような構成を採用することにより、第5実施形態においては、第1実施形態で得られる効果に加えて、より水分遮断効果を期待できる。第1実施形態よりもTFT基板10に形成した水分遮断構造を構成する切断部の数が多いためである。
次に、図9を参照して、第6実施形態に係る表示装置600について説明する。図9は、第6実施形態に係る表示装置を模式的に示す、図1のA−A断面図である。なお、第1実施形態と同じ構成については同一の符号を用いてその説明は省略する。
第6実施形態においては、ブラックマトリクス23の端面23bが、第1実施形態で説明したバンク層15の切断部15aの切断面のうち自発光素子層11に近い方の切断面15bよりも対向基板20の縁E2側に設けられる構成とした。また、シール部材30をブラックマトリクス23の端面23bを覆うように形成した。
そして、バンク層15と封止膜16の界面、及び封止膜16とシール部材30の界面で屈折する光が、ブラックマトリクス23の端面23bよりも表示領域M側に進むように、水分遮断構造を設けた。具体的には、バンク層15の切断部15aの切断面15bを傾斜面とした。なお、バンク層15の材料よりも封止膜16の材料の方が光屈折率の小さい材料を選択するのが好ましい。また、封止膜16の溝部16aの内面16bを傾斜面とした。なお、封止膜16の材料よりもシール部材30の材料の方が光屈折率の小さい材料を選択するのが好ましい。
第6実施形態においては、ブラックマトリクス23の端部からの光の漏れ出しを抑制することが可能となり、また、ブラックマトリクス23にスリット23aを形成しない分、第1実施形態の構成と比較して製造工程の簡易化を図ることができる。
なお、上記各実施形態で説明したTFT基板10が本発明の回路基板に対応する構成であり、上記各実施形態で説明したブラックマトリクス23が本発明の遮光層に対応する構成であり、上記各実施形態で説明したスリット23aが本発明の開口に対応する構成である。
10 TFT基板、11 自発光素子層、11a 有機EL層、11b 下部電極、11c 上部電極、12 ガラス基板、13 平坦化膜、14 絶縁膜、15 バンク層、15a 切断部、 15b 切断面、16 封止膜、16a 溝部、16b 内面、21 ガラス基板、22 カラーフィルタ、23 ブラックマトリクス、23a スリット、100,200,300,400,500,600 表示装置、E1 TFT基板の縁、E2 対向基板の縁、M 表示領域、N 周辺領域。

Claims (14)

  1. 複数の単位画素それぞれで輝度が制御されて発光する自発光素子層を含む複数層が積層さる回路基板と、
    前記自発光素子層からの光を遮光する遮光層を備え、前記回路基板に対向して設けられる対向基板と、
    を有し、
    前記遮光層は、前記自発光素子層に対向する領域よりも前記対向基板の縁側の領域に、前記対向基板の縁に沿うように形成される開口を有することを特徴とする表示装置。
  2. 前記複数層のうち少なくとも一つの層は、前記回路基板の縁に沿うように切断された切断部を有し、
    前記開口は、前記切断部の切断面のうち前記自発光素子層に近い方の切断面よりも前記対向基板の縁側に設けられることを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記自発光素子層に近い方の切断面は傾斜面であることを特徴とする請求項2に記載の表示装置。
  4. 前記回路基板には、複数の単位画素を区画するバンク層が配置され、
    前記少なくとも一つの層は、前記バンク層を含むことを特徴とする請求項2に記載の表示装置。
  5. 前記バンク層の前記自発光素子層とは反対の側には、有機層が配置され、
    前記少なくとも一つの層は、前記有機層を含むことを特徴とする請求項4に記載の表示装置。
  6. 前記複数層のうち少なくとも一つの層は、前記回路基板の縁に沿うように形成される溝部を有し、
    前記開口は、前記溝部の内面のうち前記自発光素子層に近い方の内面よりも前記対向基板の縁側に設けられることを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
  7. 前記自発光素子層に近い方の内面は傾斜面であることを特徴とする請求項6に記載の表示装置。
  8. 前記複数層のうち上層に設けられる層の方が下層に設けられる層よりも光屈折率が小さい材料からなることを特徴とする請求項6に記載の表示装置。
  9. 前記自発光素子層の前記対向基板の側には、前記自発光素子層を覆う封止膜が配置され、
    前記少なくとも一つの層は、前記封止膜を含むことを特徴とする請求項6に記載の表示装置。
  10. 前記開口に沿って、前記回路基板と前記対向基板との間に設けられるシール部材を有することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の表示装置。
  11. 前記開口に沿って、前記回路基板と前記対向基板との間に設けられるシール部材を有し、
    前記シール部材は、前記複数層のうち最上層の層よりも光屈折率が小さい材料からなることを特徴とする請求項8に記載の表示装置。
  12. 前記対向基板は、カラーフィルタ層を含むことを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の表示装置。
  13. 複数の単位画素それぞれで輝度が制御されて発光する自発光素子層を含む複数層が積層される回路基板と、
    前記自発光素子層からの光を遮光する遮光層を備え、前記回路基板に対向して設けられる対向基板と、
    を有し、
    前記複数層のうち少なくとも一つの層は、前記回路基板の縁に沿うように切断された切断部を有し、
    前記遮光層の縁は、前記切断部の切断面のうち前記自発光素子層に近い方の切断面よりも前記対向基板の縁側に設けられることを特徴とする表示装置。
  14. 前記自発光素子層の前記対向基板の側には、前記自発光素子層を覆う封止膜が配置され、
    前記少なくとも一つの層は、前記封止膜を含むことを特徴とする請求項13に記載の表示装置。
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