JP2017116812A - マスクブランク用の基板、およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
前記アナモルフィック露光では、X軸方向の縮小倍率がMx(<1)となり、Y軸方向の縮小倍率がMy(<1)となり、ここでMx>Myであり、
当該製造方法は、
(1)第1の表面を有する基板において、前記第1の表面を研磨するステップ
を有し、
前記(1)のステップ後には、前記基板の前記第1の表面において、第1の方向のローカルスロープ角度αの最大値をAとし、前記第1の方向と直交する第2の方向のローカルスロープ角度βの最大値をBとしたとき、
Max(A,B)/Min(A,B)≧1.4 (1)式
を満たす、製造方法が提供される。
Max(a,b)は、aとbのうちの大きい方を表し、Min(a,b)は、aとbのうちの小さい方を表す。
前記アナモルフィック露光では、X軸方向の縮小倍率がMx(<1)となり、Y軸方向の縮小倍率がMy(<1)となり、ここで、Mx>Myであり、
当該基板の第1の表面において、第1の方向のローカルスロープ角度αの最大値をAとし、前記第1の方向と直交する第2の方向のローカルスロープ角度βの最大値をBとしたとき、
Max(A,B)/Min(A,B)≧1.4 (1)式
を満たす、マスクブランク用の基板が提供される。
Max(a,b)は、aとbのうちの大きい方を表し、Min(a,b)は、aとbのうちの小さい方を表す。
図1には、本発明の一実施形態によるマスクブランク用の基板の構成の一例を模式的に示す。
Max(A,B)/Min(A,B)≧1.4 (1)式
を満たすという特徴を有する。
「ローカルスロープ」とは、第1の表面112全体における最小二乗平面Fcに対する、局所的な評価対象平面領域における最小二乗平面Qの傾斜を意味する。ただし、この傾斜は、基板表面形状を波長(または周波数)ごとに分解したとき、どこまでの短波長成分(以下、最低波長という)をノイズとして除去するか、またはどこまでの長波長成分(以下、最高波長)を基板のうねりとして除去するかによってさまざまな値を取りうる。ここで、最低波長、最高波長は規格によって異なるが、最低波長は概ね1〜30mmの間であり、最高波長は50mm〜152mmで規定される。
次に、前述のような基板100の特徴について、より詳しく説明する。
X方向の位置ずれ量ΔX=K×Mx×θx (2)式
Y方向の位置ずれ量ΔY=K×My×θy (3)式
Kは比例定数であり、被加工基板上における露光光の焦点深度の値から計算される。なお、Kは、露光装置によって一義的に定まる。Mx、Myは、それぞれ、X方向およびY方向におけるアナモルフィック露光法における縮小倍率であり、Mx>Myと仮定する。また、θxは、マスクのX方向のローカルスロープ角度であり、θyは、マスクのY方向のローカルスロープ角度である。
ΔX=K×Mx×B (4)式
となり、Y方向のずれ量ΔYの最大値は、(3)式から、
ΔY=K×My×A (5)式
となる。
Max(A,B)/Min(A,B)≧1.4 (1)式
となるように、基板100の第1の表面112を構成した場合、被加工基板の位置ずれ量ΔXおよびΔYをより抑制することができる。また、これにより、被加工基板上の全体的な位置ずれ量をより抑制することが可能になる。
前述のような特徴を有する基板100の材質は、EUVL用反射マスク等を製造するため、熱膨張係数が小さくかつそのばらつきの小さいガラスが好ましい。基板100の材質としては、例えば、SiO2を主成分とする合成石英ガラス、またはSiO2を主成分としTiO2を含有する合成石英ガラスを用いることができる。
次に、本発明の一実施形態によるマスクブランク用の基板の製造方法について説明する。
第1の表面を有する基板において、前記第1の表面を研磨するステップ(ステップS110)
を有する。
Max(A,B)/Min(A,B)≧1.4 (1)式
を満たす第1の表面が得られる。
まず、第1の表面を有する基板が準備される。基板は、例えば、火炎加水分解法で製造された、TiO2を7%含む合成石英ガラス基板であっても良い。このガラスは、インゴットをワイヤーソーで切断した後、外形研削、面取り加工、そして両面研削加工が実施される。これらに関しては、公知の手法を用いればよい。研削後の基板の寸法は、特に限られないが、基板は、例えば、縦横が152.0mm、厚みが6.51mmとしてもよい。
ガラス基板の研磨方法は、予備研磨工程、局所研磨工程、および仕上げ工程を含む。以下、各工程について、説明する。
まず、ガラス基板が予備研磨される。
次に、ガラス基板の第1の表面が局所研磨処理される。
次に、ガラス基板の第1の表面の面積よりも大きい研磨パッドと、研磨スラリーとを用いて、ガラス基板の第1の表面が最終研磨される。大きな研磨パッドを使用するのは、ガラス基板の第1の表面全体を同時に研磨するためである。
TiO2をドープしたマスクブランク用の基板を6枚準備し、予備研磨工程を行った。予備研磨の終了後では、6枚の基板は縦152mm×横152mmに外形加工され、厚みは6.448〜6.449mmの範囲にあった。また、平坦度はおのおのの基板で異なるものの、PV値は、基板の外周から4mmの外縁部を除いた144mm角内で、380〜460nmの範囲にあり、全てのPV値が500nm未満であった。
事前準備されたガラス基板のうちの2枚について、第1の表面を研磨して、マスクブランク用の基板(以下、基板1および基板2と称する)を得た。
研磨剤:酸化セリウム、平均粒子径(D50)2μm、
研磨パッド:軟質パッド(株式会社Filwel製 ベラトリクスN7512)、
研磨加工部の回転数:400rpm、
研磨圧力:2.5g重/mm2。
実施例1と同様の条件で、事前準備された基板のうち残り4枚を局所研磨加工した(以下、基板3〜6と称する)。
実施例1で作成した基板2枚と、比較例1で作成した基板4枚について、以下の条件で仕上げ研磨し、マスクブランクス用ガラス基板の製品を得た。なお、研磨の安定性を向上させるため、板厚、外形が基板1〜6と同様の基板3枚をダミー基板として投入し、計9枚で研磨を実施した。
研磨試験機:浜井産業株式会社製 両面24B研磨機、
研磨パッド:株式会社Filwel製 ベラトリックスN7512、
研磨定盤回転数:10rpm、
研磨時間:30分、
研磨荷重:0.52g重/mm2、
研磨量:0.06μm/面、
希釈水:純水(0.1μm以上異物濾過)、
スラリー流量:10リットル/min、
研磨スラリー:平均一次粒径20nm未満のコロイダルシリカを20質量%含有。
前述の各基板1〜6に対して、以下の測定を行った:
・平坦度:基板の表面形状を、富士フイルム社のF310S干渉計を用いて測定した。この表面形状から基板の傾き成分を除去した後、第1の表面における144mm角内の最大高さと最小高さの差を、平坦度PV値として記録した。
α=arctan(|L|)
β=arctan(|M|)
p=arctan{(L2+M2)(1/2)}。
tanθ≒θ
arctanα≒α
で近似できる。このため、
α=|L|
β=|M|
p=(L2+M2)(1/2)
とできる。
次に、前述の測定結果から、以下の項目を評価した:
(位置ずれ量Δ1)
位置ずれ量Δ1は、各基板をマスクとして、従来の一般的な露光法を適用した際に生じる位置ずれ量の最大値を意味する。露光法における縮小倍率は、(1/4、1/4)と仮定した。位置ずれ量Δ1は、前述の面内ローカルスロープ角度の最大値Pと縮小倍率(1/4)、および(2)式〜(5)式にある比例係数Kの積として求めることができる。
位置ずれ量Δ2は、各基板をマスクとしてアナモルフィック露光法を適用した際に生じる位置ずれ量の最大値を意味する。ここで、アナモルフィック露光法の縮小倍率は、(1/4,1/8)と仮定した。
位置ずれ量の軽減度合Δrは、従来の一般的な露光法を適用した際に生じる位置ずれ量の最大値(すなわち位置ずれ量Δ1)を1としたときの、アナモルフィック露光法を適用した際に生じる位置ずれ量の最大値(すなわち位置ずれ量Δ2)の割合を意味する。すなわち、Δr=Δ2/Δ1である。
図3には、各基板において得られた評価結果をまとめて示す。ここで、図3において、横軸は、比R、すなわちMax(A,B)/Min(A,B)の値を表している。また、縦軸は、Δrを表している。
各基板1〜6に対して、前述の評価1と同様の手順により、位置ずれ量Δ1および位置ずれ量Δ2を評価した。ただし、この評価2では、位置ずれ量Δ2を評価する際に、アナモルフィック露光法の縮小倍率を(1/4.8,1/7.5)と仮定した。
図4には、各基板において得られた評価結果をまとめて示す。ここで、図4において、横軸は、比R、すなわちMax(A,B)/Min(A,B)の値を表している。また、縦軸は、Δrを表している。
各基板1〜6に対して、前述の評価1と同様の手順により、位置ずれ量Δ1および位置ずれ量Δ2を評価した。ただし、この評価3では、位置ずれ量Δ2を評価する際に、アナモルフィック露光法の縮小倍率を(1/5.1,1/6.3)と仮定した。
図5には、各基板において得られた評価結果をまとめて示す。ここで、図5において、横軸は、比R、すなわちMax(A,B)/Min(A,B)の値を表している。また、縦軸は、Δrを表している。
112 第1の表面
114 第2の表面
Claims (6)
- アナモルフィック露光に適用されるマスクブランク用の基板の製造方法であって、
前記アナモルフィック露光では、X軸方向の縮小倍率がMx(<1)となり、Y軸方向の縮小倍率がMy(<1)となり、ここでMx>Myであり、
当該製造方法は、
(1)第1の表面を有する基板において、前記第1の表面を研磨するステップ
を有し、
前記(1)のステップ後には、前記基板の前記第1の表面において、第1の方向のローカルスロープ角度αの最大値をAとし、前記第1の方向と直交する第2の方向のローカルスロープ角度βの最大値をBとしたとき、
Max(A,B)/Min(A,B)≧1.4 (1)式
を満たす、製造方法:
ここで、前記角度αおよびβは、0〜π/2(rad)の範囲で表され、
Max(a,b)は、aとbのうちの大きい方を表し、Min(a,b)は、aとbのうちの小さい方を表す。 - Mx=1/4、My=1/8であるか、
Mx=1/4.8、My=1/7.5であるか、
Mx=1/5.1、My=1/6.3である、請求項1に記載の製造方法。 - 前記基板は、TiO2を含有する合成石英ガラス基板である、請求項1または2に記載の製造方法。
- アナモルフィック露光に適用されるマスクブランク用の基板であって、
前記アナモルフィック露光では、X軸方向の縮小倍率がMx(<1)となり、Y軸方向の縮小倍率がMy(<1)となり、ここで、Mx>Myであり、
当該基板の第1の表面において、第1の方向のローカルスロープ角度αの最大値をAとし、前記第1の方向と直交する第2の方向のローカルスロープ角度βの最大値をBとしたとき、
Max(A,B)/Min(A,B)≧1.4 (1)式
を満たす、マスクブランク用の基板:
ここで、前記角度αおよびβは、0〜π/2(rad)の範囲で表され、
Max(a,b)は、aとbのうちの大きい方を表し、Min(a,b)は、aとbのうちの小さい方を表す。 - Mx=1/4、My=1/8であるか、
Mx=1/4.8、My=1/7.5であるか、
Mx=1/5.1、My=1/6.3である、請求項4に記載の基板。 - 当該基板は、TiO2を含有する合成石英ガラス基板である、請求項4または5に記載の基板。
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