JP2017087248A - Solder paste composition - Google Patents
Solder paste composition Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017087248A JP2017087248A JP2015219015A JP2015219015A JP2017087248A JP 2017087248 A JP2017087248 A JP 2017087248A JP 2015219015 A JP2015219015 A JP 2015219015A JP 2015219015 A JP2015219015 A JP 2015219015A JP 2017087248 A JP2017087248 A JP 2017087248A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solder
- solder paste
- solder alloy
- alloy powder
- paste
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
Description
本発明は、はんだペースト組成物に関し、詳しくは、融点の異なるはんだ合金粉末を含有し、ボイドの発生を低減するはんだペースト組成物、及びそれを用いたはんだ接合に関する。 The present invention relates to a solder paste composition, and more particularly, to a solder paste composition containing solder alloy powders having different melting points and reducing the generation of voids, and solder joints using the same.
電子部品の接合材料として、地球環境への負荷低減を考慮した鉛フリーはんだが広く普及しており、Sn-Ag-Cu系はんだやSn-Cu-Ni系はんだがその代表的な組成である。
一方、融点が280℃以上の高温はんだの分野に於いてはRoHS指令適用除外項目として、鉛含有率が重量で85%以上の鉛ベースの合金が広く使用されているのも現状である。
ところで、近年、電子機器等のダウンサイジングにより、電子機器等に搭載する電子部品の微細化が進み、それに伴い、はんだ接合に於いてもマイクロソルダリングと呼ばれる微細はんだ接合技術が求められている。
As a bonding material for electronic parts, lead-free solder that takes into account the reduction of the load on the global environment is widely used, and Sn—Ag—Cu solder and Sn—Cu—Ni solder are typical compositions.
On the other hand, in the field of high-temperature solder having a melting point of 280 ° C. or higher, a lead-based alloy having a lead content of 85% or more by weight is widely used as an exemption from the RoHS directive.
Incidentally, in recent years, downsizing of electronic devices and the like has led to the progress of miniaturization of electronic components mounted on electronic devices and the like, and accordingly, a soldering technique called micro soldering is also required in solder bonding.
そして、マイクロソルダリングには、一般的に、フラックスにはんだ合金の微粉末を混合したはんだペーストが用いられている。
このはんだペーストは、通常、ロジン類、活性剤、チクソ剤、及び溶剤を含有するフラックスと、はんだ合金粉末との混合物であり、はんだ合金粉末は接合対象に対応して粒子サイズの微細化が進んでいる。
また、はんだペーストを用いた電子部品等の基板への実装方法として、プリント基板上にはんだペーストをパターンに合わせて印刷し、その上に電子部品を置いた後、リフロー炉を通過させることにより、リフロー炉内ではんだペーストが加熱され、はんだ合金粉末が溶融し、電子部品をプリント基板に接合する方法が多く採用されている。
For soldering, a solder paste in which a fine powder of a solder alloy is mixed with a flux is generally used.
This solder paste is usually a mixture of a flux containing a rosin, an activator, a thixotropic agent, and a solvent, and a solder alloy powder. The solder alloy powder has a finer particle size corresponding to the object to be joined. It is out.
In addition, as a mounting method on a substrate such as an electronic component using a solder paste, by printing the solder paste on a printed circuit board according to a pattern, placing the electronic component on the printed circuit board, and passing it through a reflow furnace, Many methods are employed in which the solder paste is heated in a reflow furnace, the solder alloy powder is melted, and the electronic component is joined to the printed circuit board.
従来、このリフロー方式でのはんだ接合の場合、はんだ接合部に発生するボイドが問題として知られている。
ボイド発生は、ボイドの原因となるガスやフラックス固形成分が溶融しているはんだ接合系内より抜けない状態ではんだ合金が固まり、閉じ込められたガスやフラックス成分によって発生することが、一因として考えられている。
Conventionally, in the case of solder joining by this reflow method, a void generated in a solder joint has been known as a problem.
The generation of voids is thought to be partly due to the fact that the solder alloy solidifies in a state where it cannot escape from the solder joint system in which the gas and flux solid components causing the voids are melted, and is generated by the trapped gas and flux components. It has been.
そして、ボイド発生を抑制する方法として、特許文献1では、はんだペーストを構成するフラックス成分中にアルコール変性ジシクロペンタジエン系樹脂の水素化物を配合した技術が開示されている。
また、特許文献2では、はんだペーストを構成するはんだ合金粉末の成分である錫の酸化を阻止するため、銀や銅等で被覆した錫粉末を用いる技術が開示されている。
更に、特許文献3及び特許文献4では、はんだペーストを構成するはんだ合金粉末を2種以上用いる技術として、特許文献3が融点の異なるはんだ合金粉末を用いる技術、特許文献4が特定のはんだ合金組成を組合せて用いる技術が、其々開示されている。
しかし、特許文献1〜特許文献4で開示されている技術は、はんだペーストを構成するはんだ合金粉末組成が鉛フリーはんだ合金であり、鉛を含有したはんだペーストを対象としたものではない。
一方、特許文献5でははんだ合金粉末組成として鉛を含有させた2種のはんだ合金粉末を用いた技術が開示されているが、200℃以上の高温域に於ける機械的性質並びに耐疲労性維持を目的としており、ボイド発生の抑制を目的とするものではなく、ボイド発生抑制を目的とする技術が求められている。
As a method for suppressing the generation of voids, Patent Document 1 discloses a technique in which a hydride of an alcohol-modified dicyclopentadiene resin is blended in a flux component constituting a solder paste.
Patent Document 2 discloses a technique using tin powder coated with silver, copper or the like in order to prevent oxidation of tin which is a component of solder alloy powder constituting the solder paste.
Further, in Patent Document 3 and Patent Document 4, as a technique for using two or more kinds of solder alloy powders constituting the solder paste, Patent Document 3 is a technique using a solder alloy powder having a different melting point, and Patent Document 4 is a specific solder alloy composition. Techniques using these in combination are disclosed.
However, in the techniques disclosed in Patent Documents 1 to 4, the solder alloy powder composition constituting the solder paste is a lead-free solder alloy and is not intended for solder paste containing lead.
On the other hand, Patent Document 5 discloses a technique using two types of solder alloy powder containing lead as a solder alloy powder composition, but maintains mechanical properties and fatigue resistance in a high temperature range of 200 ° C. or higher. Therefore, there is a need for a technique for suppressing the generation of voids, not for suppressing the generation of voids.
本発明は、鉛含有のはんだペーストを用いたはんだ接合に於いて、ボイドの発生を抑制できるはんだペースト組成物並びにボイドを低減したはんだ継手の提供を目的とする。 An object of the present invention is to provide a solder paste composition capable of suppressing the generation of voids in a solder joint using a lead-containing solder paste, and a solder joint with reduced voids.
発明者は、上記の課題を解決すために、はんだペーストを構成するはんだ合金粉末に着目し、鋭意検討を重ねた結果、融点の異なるはんだ合金粉末を2種以上含有し、少なくとも一つのはんだ合金粉末にPbを0.1質量%以上含有させ、更に、融点の異なるはんだ合金粉末の固相線温度の差が50℃〜150℃の範囲になるようにはんだ合金粉末の組成を組合せることにより、はんだ接合部に発生するボイドが抑制されることを見出し、本発明の完成に至った。 In order to solve the above-mentioned problems, the inventor has focused attention on the solder alloy powder constituting the solder paste, and as a result of extensive studies, the inventor contains two or more kinds of solder alloy powders having different melting points, and at least one solder alloy. By combining the composition of the solder alloy powder so that the difference in the solidus temperature of the solder alloy powder having different melting points is in the range of 50 ° C. to 150 ° C. The inventors have found that voids generated in the solder joints are suppressed, and have completed the present invention.
即ち、本発明は、はんだペーストを構成するはんだ合金粉末として、融点の異なる2種以上のはんだ合金粉末が含有され、少なくとも一つのはんだ合金粉末の組成にPbが0.1質量%以上含有され、更に、融点の異なるはんだ合金の固相線温度の差が50℃〜150℃の範囲にある特徴を有すること、当該はんだ合金粉末とフラックスを混合したはんだペーストを用いることにより、はんだ接合部に発生するボイドを抑制することを可能とした。 That is, the present invention contains two or more kinds of solder alloy powders having different melting points as the solder alloy powder constituting the solder paste, and the composition of at least one solder alloy powder contains 0.1% by mass or more of Pb. Furthermore, the difference in the solidus temperature of solder alloys with different melting points is in the range of 50 ° C to 150 ° C, and the solder paste is mixed with the solder alloy powder and flux. This makes it possible to suppress voids.
本発明は、ボイド発生が抑制されたはんだペーストであるため、信頼性の高いはんだ接合が可能となり、特に200℃以上の高温域で用いられるはんだ接合や高温状態に曝されるはんだ接合に広く応用が可能となる。 Since the present invention is a solder paste in which the generation of voids is suppressed, it is possible to perform highly reliable solder bonding, and in particular, it is widely applied to solder bonding used in a high temperature range of 200 ° C. or higher and solder bonding exposed to a high temperature state. Is possible.
以下に、本発明について詳細に説明する。
本発明のはんだペーストに用いることができるはんだ合金粉末は、本発明の効果を有する範囲であれば特に限定はされないが、200℃以上の高温域で耐えられる組成が好ましく、更に、Pbを80質量%以上含有する組成が好ましい。
そして、はんだ合金粉末の構成を粒径の異なるはんだ合金粉末の組合せにすることにより、ボイド発生抑制効果が更に期待できる。
The present invention is described in detail below.
The solder alloy powder that can be used for the solder paste of the present invention is not particularly limited as long as it has the effects of the present invention. However, a composition that can withstand a high temperature range of 200 ° C. or higher is preferable, and 80 masses of Pb is also preferable. % Or more is preferable.
And the void generation | occurrence | production suppression effect is further expectable by making the structure of solder alloy powder into the combination of the solder alloy powder from which a particle size differs.
本発明のはんだペーストに用いることができるフラックスは、本発明の効果を有する範囲に於いて、特に限定はなく公知の成分を用いることができ、当該フラックスを構成する成分としては、ロジン類、活性剤、チクソ剤、及び溶剤などが例示できる。
また、本発明のはんだペーストの製法に関しても、本発明の効果を有する範囲に於いて特に限定されない。
The flux that can be used in the solder paste of the present invention is not particularly limited as long as it has the effects of the present invention, and any known component can be used. Examples include agents, thixotropic agents, and solvents.
Further, the method for producing the solder paste of the present invention is not particularly limited within the range having the effects of the present invention.
以下、実施例を挙げて本発明をさらに詳しく説明するが、本発明は、下記実施例に限定されるものではない。 EXAMPLES Hereinafter, although an Example is given and this invention is demonstrated in more detail, this invention is not limited to the following Example.
<はんだ合金粉末>
表1に示す4種のはんだ合金粉末を準備した。
表2には、4種のはんだ合金粉末の特性を示す。
<フラックス>
表3に示す2種のフラックスを準備した。
表4には、フラックス組成を開示する。
<はんだペーストの作製>
フラックス成分を加熱し、均一に溶解する。
次に、表5に示す割合でフラックスとはんだ合金粉末を均一に混合して、実施例1〜実施例6及び比較例1〜比較例4を作製した。
<Solder alloy powder>
Four types of solder alloy powders shown in Table 1 were prepared.
Table 2 shows the characteristics of the four types of solder alloy powders.
<Flux>
Two types of fluxes shown in Table 3 were prepared.
Table 4 discloses the flux composition.
<Preparation of solder paste>
The flux component is heated and dissolved uniformly.
Next, the flux and the solder alloy powder were uniformly mixed at the ratio shown in Table 5 to prepare Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 4.
表2よりわかるように、はんだ合金粉末Aとはんだ合金粉末Bの固相線温度の差は69℃、はんだ合金粉末Aとはんだ合金粉末Cの固相線温度の差は113℃、はんだ合金粉末Aと合金粉末Dの固相線温度の差は704℃以上である。 As can be seen from Table 2, the difference in the solidus temperature between the solder alloy powder A and the solder alloy powder B is 69 ° C., and the difference in the solidus temperature between the solder alloy powder A and the solder alloy powder C is 113 ° C. The difference in the solidus temperature between A and the alloy powder D is 704 ° C. or higher.
次に、接合評価サンプル及び接合方法に関して説明する。
以下の条件で、実施例1〜実施例6及び比較例1〜比較例4のはんだペーストを用いて接合評価サンプルを作製した。
<接合サンプル>
・チップ:シリコンチップ
・基板:無酸素銅板
・接合面積:0.9mm×0.9mm
<接合方法>
・無酸素銅板上に、はんだペーストを0.29mg取り均一に塗布し、その上からシリコンチップで押込み、所定のプロファイルで溶融、接合した。
<接合条件>
・装置:マルコム社製リフローシュミレーター SRS−1
・温度プロファイル:昇温速度=4℃/秒,ピーク温度は以下の通り。
実施例1〜実施例6及び比較例1、3、4=330℃,比較例2=240℃
・ピーク温度保持時間:40秒
・雰囲気:N2(酸素濃度500ppm以下)
Next, a bonding evaluation sample and a bonding method will be described.
Under the following conditions, a joint evaluation sample was produced using the solder pastes of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 4.
<Joint sample>
-Chip: Silicon chip-Substrate: Oxygen-free copper plate-Bonding area: 0.9 mm x 0.9 mm
<Join method>
-0.29 mg of solder paste was uniformly applied onto an oxygen-free copper plate, pressed from above with a silicon chip, and melted and joined with a predetermined profile.
<Joint conditions>
・ Apparatus: Malcolm reflow simulator SRS-1
・ Temperature profile: Temperature increase rate = 4 ℃ / second, peak temperature is as follows.
Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1, 3, 4 = 330 ° C., Comparative Example 2 = 240 ° C.
・ Peak temperature holding time: 40 seconds ・ Atmosphere: N 2 (oxygen concentration 500 ppm or less)
次に、接合サンプルの評価方法に関して説明する。
評価基準は、接合部に発生する最大ボイド率(%)で評価した。
(ボイド率=ボイド面積/接合面積)
その評価基準は、表6に示す通りである。
また、接合サンプルの最大ボイド率の測定は、島津製作所製X線透視装置「SMX−160CT」を用いて、接合サンプルに発生したボイドを計測した。
Next, a method for evaluating a bonded sample will be described.
The evaluation standard was evaluated by the maximum void ratio (%) generated at the joint.
(Void ratio = void area / bonding area)
The evaluation criteria are as shown in Table 6.
Moreover, the measurement of the maximum void ratio of a joining sample measured the void which generate | occur | produced in the joining sample using Shimadzu Corporation X-ray fluoroscopy apparatus "SMX-160CT".
評価結果について、実施例を表7に、比較例を表8に其々示す。 About an evaluation result, an Example is shown in Table 7, and a comparative example is shown in Table 8, respectively.
表8に示す比較例に対し、表7の実施例1〜実施例6全てが最大ボイド率10%以下となり、ボイドの発生が大きく抑制されていることがわかる。
従って、本発明のはんだペーストを用いて接合することにより、ボイドの発生が抑制されることは明白である。
また、表8の結果より、本発明のはんだペーストを用いたはんだ接合並びにはんだ継手が、ボイド発生を抑制することも明らかである。
Compared to the comparative example shown in Table 8, it can be seen that all of Examples 1 to 6 in Table 7 have a maximum void ratio of 10% or less, and the generation of voids is greatly suppressed.
Therefore, it is clear that the generation of voids is suppressed by bonding using the solder paste of the present invention.
Further, from the results in Table 8, it is also clear that the solder joint and the solder joint using the solder paste of the present invention suppress the generation of voids.
本発明のはんだペーストは、はんだ接合に於いて接合部に発生するボイドを極めて効果的に抑制することができるため、特に200℃以上の高温域で用いられるはんだ接合に於いて信頼性の高いはんだ接合が可能となり、高温状態に曝されるはんだ接合に広く応用が期待できる。
The solder paste of the present invention can extremely effectively suppress voids generated at the joints in solder joints, so that the solder having high reliability particularly in solder joints used in a high temperature range of 200 ° C. or higher. Joining is possible, and it can be widely applied to solder joints exposed to high temperatures.
Claims (4)
A solder joint and a solder joint, wherein the solder paste is joined using the solder paste according to claim 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015219015A JP2017087248A (en) | 2015-11-08 | 2015-11-08 | Solder paste composition |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015219015A JP2017087248A (en) | 2015-11-08 | 2015-11-08 | Solder paste composition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017087248A true JP2017087248A (en) | 2017-05-25 |
Family
ID=58767050
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015219015A Pending JP2017087248A (en) | 2015-11-08 | 2015-11-08 | Solder paste composition |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017087248A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020025982A (en) * | 2018-08-10 | 2020-02-20 | 株式会社日本スペリア社 | Lead-free solder alloy |
-
2015
- 2015-11-08 JP JP2015219015A patent/JP2017087248A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020025982A (en) * | 2018-08-10 | 2020-02-20 | 株式会社日本スペリア社 | Lead-free solder alloy |
WO2020067307A1 (en) * | 2018-08-10 | 2020-04-02 | 株式会社日本スペリア社 | Lead-free solder alloy |
JP7287606B2 (en) | 2018-08-10 | 2023-06-06 | 株式会社日本スペリア社 | Lead-free solder alloy |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5722302B2 (en) | Lead-free solder alloy, solder paste using this, and mounted product | |
JP4753090B2 (en) | Solder paste and electronic device | |
JP5754480B2 (en) | Method for connecting connection object and method for manufacturing electronic device | |
JP5664664B2 (en) | Bonding method, electronic device manufacturing method, and electronic component | |
JP2013252548A (en) | Solder paste for joining micro component | |
WO2017110052A1 (en) | Paste thermosetting resin composition, semiconductor component, semiconductor mounted article, method for manufacturing semiconductor component, and method for manufacturing semiconductor mounted article | |
WO2013132942A1 (en) | Bonding method, bond structure, and manufacturing method for same | |
JP2014223678A5 (en) | ||
JP2016040051A (en) | Lead-free solder, lead-free solder ball, solder joint using lead-free solder, and semiconductor circuit having solder joint | |
JP2004188453A (en) | Sn-BASED SOLDER ALLOY | |
JP6423840B2 (en) | Flux composition and solder paste | |
JPWO2007052661A1 (en) | Conductive adhesive | |
JPWO2012141331A1 (en) | Lead-free solder alloy | |
JP2013237089A (en) | Solder alloy powder and solder paste for bump, and solder bump using the same | |
JP2010029868A (en) | Lead-free solder paste, electronic circuit board using the same, and method for manufacturing the same | |
JP2013237091A (en) | Solder alloy powder and solder paste for bump, and solder bump using the same | |
TW201943861A (en) | Solder paste | |
KR102342394B1 (en) | Solder Alloy, Solder Paste, Preform Solder, Solder Ball, Wire Solder, Resin Flux Cored Solder, Solder Joint, Electronic Circuit Board and Multilayer Electronic Circuit Board | |
JP6730833B2 (en) | Solder alloy and solder composition | |
JP5160576B2 (en) | Solder paste, pin grid array package substrate and pin grid array package using the same, and method for manufacturing pin grid array package substrate | |
JP2008238253A (en) | Pb-FREE SOLDERING MATERIAL, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR MOUNTED STRUCTURE USING THE SAME | |
JP2017087248A (en) | Solder paste composition | |
JP2013237088A (en) | Solder alloy powder and solder paste for bump, and solder bump using the same | |
JP2005297011A (en) | Solder paste and soldering article | |
JP2018144076A (en) | Metal powder for producing solder bump, paste for producing solder bump and production method of solder bump |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181108 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190917 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191031 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200512 |