JP6423840B2 - Flux composition and solder paste - Google Patents

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Description

本発明は、フラックス組成物及びソルダーペーストに関する。   The present invention relates to a flux composition and a solder paste.

従来、基板(プリント配線板、シリコンウエハ等)上に形成される電子回路に被接合材(電子部品等)を接合する際には、はんだ合金を用いたはんだ接合方法が広く採用されている。このはんだ接合方法においては、はんだ合金をボール状にしたはんだボールや、粉末にしたはんだ合金とフラックス組成物とを混合したソルダーペーストが用いられることが多い。そしてこのフラックス組成物は、はんだ合金(粉末)や基板上の金属酸化物の除去、はんだ合金(粉末)の表面張力の低下による濡れ性の向上等の効果を奏する。   Conventionally, when joining a material to be joined (such as an electronic component) to an electronic circuit formed on a substrate (such as a printed wiring board or a silicon wafer), a solder joining method using a solder alloy has been widely employed. In this solder joining method, a solder ball in which a solder alloy is formed into a ball shape, or a solder paste in which a solder alloy in powder form and a flux composition are mixed is often used. The flux composition has effects such as removal of the solder alloy (powder) and metal oxide on the substrate, and improvement of wettability due to a decrease in the surface tension of the solder alloy (powder).

一方、はんだ合金としては、従来は鉛を使用するのが一般的であった。しかし環境負荷の観点からRoHS指令等によって鉛の使用が制限され、近年では鉛を含有しない、所謂鉛フリーはんだ合金の使用が一般的になりつつある。
この鉛フリーはんだ合金としては、例えばSn−Cu系、Sn−Ag−Cu系、Sn−Bi系、Sn−Zn系はんだ合金等がよく知られている。その中でもテレビ、携帯電話等に使用される民生用電子機器や自動車に搭載される車載用電子機器には、Sn−3Ag−0.5Cuはんだ合金が多く使用されている。
On the other hand, as a solder alloy, conventionally, lead has been generally used. However, the use of lead is restricted by the RoHS directive or the like from the viewpoint of environmental load, and in recent years, the use of a so-called lead-free solder alloy that does not contain lead is becoming common.
As this lead-free solder alloy, for example, Sn—Cu, Sn—Ag—Cu, Sn—Bi, and Sn—Zn solder alloys are well known. Among them, Sn-3Ag-0.5Cu solder alloy is often used in consumer electronic devices used for televisions, mobile phones, etc. and in-vehicle electronic devices mounted on automobiles.

Sn−3Ag−0.5Cuはんだ合金を用いて形成されたはんだ接合部を有する基板は、例えば自動車のエンジンルーム内といった寒暖の差の激しい環境下や長時間の高温化に晒されるような環境下に置かれた場合、CuランドのCuがはんだ接合部に拡散し易くなる。このためCuランドとはんだ接合部との界面付近において金属間化合物であるCuSnが成長し、当該界面付近における亀裂発生の要因となる。
これを解決する方法としては、はんだ合金にNiを含有させ、Cuランドからはんだ接合部へのCuの拡散を抑制することで、前記界面付近におけるCuSnの成長を抑制する方法が挙げられる。
A substrate having a solder joint portion formed using a Sn-3Ag-0.5Cu solder alloy is exposed to an environment where there is a great difference in temperature between heating and a long time, such as in an engine room of an automobile. When Cu is placed on the Cu land, Cu in the Cu land easily diffuses into the solder joint. For this reason, Cu 5 Sn 6, which is an intermetallic compound, grows in the vicinity of the interface between the Cu land and the solder joint, and causes cracks in the vicinity of the interface.
As a method for solving this, there is a method of suppressing the growth of Cu 5 Sn 6 in the vicinity of the interface by containing Ni in the solder alloy and suppressing the diffusion of Cu from the Cu land to the solder joint. .

しかし、Niははんだ合金の高融点化やぬれ性の悪化を招く傾向があるため、Niを含むはんだ合金は比較的低温下での溶融が不十分となり易い。そのため、はんだ付け時、特にソルダーペーストにおけるはんだ接合時において、電子部品の下面電極とはんだ接合部との界面付近(以下、「チップ下」という。)にてボイドが多く発生し、充分なはんだ接合ができなくなる虞がある。   However, since Ni tends to increase the melting point of the solder alloy and deteriorate wettability, the solder alloy containing Ni is likely to be insufficiently melted at a relatively low temperature. Therefore, during soldering, especially when soldering with solder paste, a lot of voids occur near the interface between the bottom electrode of the electronic component and the solder joint (hereinafter referred to as “under the chip”), and sufficient solder joint There is a risk that it will not be possible.

また、このようなソルダーペーストは高温プロファイル条件下でのチップ下ボイドは低減するものの、はんだ接合部内で発生したボイドが外に排出され難い傾向にある。即ち、はんだ接合部のうち裾広がり状となった部分(本明細書においてはこの部分を「フィレット部」という。)の最表面は、空気と触れ合うために酸化膜が発生し易い。更に当該フィレット部はこれにかかる重力と裾広がりという形状のため、特に電子部品に近い(上部付近の)最表面にはフラックス組成物がとどまり難くなる。このためこの付近における最表面では特に酸化膜が発生し易くなり、当該チップ下ボイドがフィレット部に移動して最表面から外に出ようとしても最表面の酸化膜がこれを妨げることとなる。更には、当該最表面付近に移動した複数のボイドが結合すると巨大なブローホールが発生し、はんだ接合部の外観、接合強度及び冷熱サイクルにおけるクラック発生等の問題を引き起こす要因となり得る。   In addition, such a solder paste reduces the voids under the chip under high temperature profile conditions, but tends to prevent the voids generated in the solder joints from being discharged outside. That is, the outermost surface of the solder joint portion that has a flared shape (this portion is referred to as a “fillet portion” in this specification) is in contact with air, so that an oxide film is easily generated. Furthermore, since the fillet portion has such a shape as gravity and hem spreading, the flux composition hardly stays on the outermost surface (near the upper part) particularly near the electronic component. For this reason, an oxide film is particularly likely to be generated on the outermost surface in this vicinity, and even if the void under the chip moves to the fillet portion and comes out of the outermost surface, the outermost oxide film prevents this. Furthermore, when a plurality of voids moved near the outermost surface are combined, a huge blow hole is generated, which may cause problems such as appearance of the solder joint, joint strength, and generation of cracks in a thermal cycle.

なお、無機フィラーをフラックス組成物に含有させる技術はいくつか開示されており、例えば熱硬化性樹脂を含有するはんだ接合剤組成物において添加したフィラー成分のはんだの凝集阻害を防止するために特定のフィラーを配合するもの(特許文献1)、熱硬化性樹脂を含むフラックスを使用したはんだペーストにおいてはんだフィレットの表面に形成される樹脂被膜の内部応力の低下によりその機械的強度を増加させるもの(特許文献2)、添加剤としてアエロジルを含有させるもの(特許文献3)、添加剤としてのレオロジーコントロール剤としてアエロジルを含有させるもの(特許文献4)が存在するが、いずれも上記の問題を解決するものではなく、その示唆もない。   Several techniques for incorporating an inorganic filler into a flux composition have been disclosed. For example, in order to prevent solder aggregation inhibition of filler components added in a solder bonding composition containing a thermosetting resin A compound containing a filler (Patent Document 1), and a solder paste using a flux containing a thermosetting resin, which increases its mechanical strength by reducing the internal stress of the resin film formed on the surface of the solder fillet (Patent) Document 2), those containing Aerosil as an additive (Patent Document 3), and those containing Aerosil as a rheology control agent as an additive (Patent Document 4), all of which solve the above problems But there is no suggestion.

特許第5242521号公報Japanese Patent No. 5242521 特許第4197748号公報Japanese Patent No. 4197748 特開2014−100737号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2014-1000073 特開2015−80814号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2015-80814

本発明は上記課題を解決するものであり、加熱時におけるフラックス組成物の粘度低下を抑制することによりフィレット部の最表面における酸化膜の発生を抑制することで、Niのようなボイドの発生し易い組成を含むはんだ合金を用いた場合であっても、チップ下から発生したボイドをフィレット部から排出し易くすることのできるフラックス組成物及びソルダーペーストを提供することをその目的とする。   The present invention solves the above problems, and suppresses the decrease in the viscosity of the flux composition during heating, thereby suppressing the generation of an oxide film on the outermost surface of the fillet, thereby generating voids such as Ni. It is an object of the present invention to provide a flux composition and a solder paste capable of easily discharging voids generated from under the chip from the fillet portion even when a solder alloy containing an easy composition is used.

(1)本発明のフラックス組成物は、ベース樹脂と、活性剤と、溶剤と、無機フィラーとを含み、前記無機フィラーは疎水性フュームドシリカを含み、前記無機フィラーの配合量はフラックス組成物全量に対して0.1質量%から5質量%であることをその特徴とする。 (1) The flux composition of the present invention includes a base resin, an activator, a solvent, and an inorganic filler, the inorganic filler includes hydrophobic fumed silica, and the blending amount of the inorganic filler is the flux composition. It is characterized by 0.1 to 5% by mass relative to the total amount.

(2)上記(1)に記載の構成にあって、前記ベース樹脂はアクリル樹脂を含むことをその特徴とする。 (2) In the configuration described in (1) above, the base resin includes an acrylic resin.

(3)上記(1)または(2)に記載の構成にあって、前記疎水性フュームドシリカは表面にメチルシリル基、ジメチルシリル基及びトリメチルシリル基の少なくともいずれかを有することをその特徴とする。 (3) In the constitution described in the above (1) or (2), the hydrophobic fumed silica has at least one of a methylsilyl group, a dimethylsilyl group and a trimethylsilyl group on the surface thereof.

(4)本発明のソルダーペーストは、上記(1)から(3)のいずれか1に記載のフラックス組成物と、はんだ合金粉末とを含むことをその特徴とする。 (4) The solder paste of the present invention is characterized by containing the flux composition according to any one of (1) to (3) above and a solder alloy powder.

(5)上記(4)に記載の構成にあって、前記はんだ合金粉末はSnを主材料とし、Niを0.01質量%から0.5質量%含むことをその特徴とする。 (5) In the configuration described in (4) above, the solder alloy powder is characterized in that Sn is a main material and Ni is contained in an amount of 0.01% to 0.5% by mass.

(6)上記(4)または(5)のいずれかに記載の構成にあって、前記はんだ合金粉末はSnを主材とし、Ag、Cu、Bi及びSbのいずれか2種以上を含み、それぞれの含有量は、Agが0.1質量%から5質量%、Cuが0.5質量%から1質量%、Biが2質量%から4質量%、Sbが0.5質量%から3質量%であることをその特徴とする。 (6) In the configuration according to any one of (4) and (5), the solder alloy powder includes Sn as a main material, and includes any two or more of Ag, Cu, Bi, and Sb, The contents of Ag are 0.1 mass% to 5 mass%, Cu is 0.5 mass% to 1 mass%, Bi is 2 mass% to 4 mass%, and Sb is 0.5 mass% to 3 mass%. It is the feature.

本発明のフラックス組成物及びソルダーペーストは、加熱時におけるフラックス組成物の粘度低下を抑制することによりフィレット部の最表面における酸化膜の発生を抑制することで、Niのようなボイドの発生し易い組成を含むはんだ合金を用いた場合であっても、チップ下から発生したボイドをフィレット部から排出し易くすることができ、ブローホールの発生によるはんだ接合部の外観、接合強度及び冷熱サイクルにおけるクラック発生等を抑制することができる。   The flux composition and the solder paste of the present invention can easily generate voids such as Ni by suppressing the generation of an oxide film on the outermost surface of the fillet portion by suppressing the decrease in the viscosity of the flux composition during heating. Even when a solder alloy containing the composition is used, voids generated from under the chip can be easily discharged from the fillet, and the appearance of solder joints due to the occurrence of blowholes, joint strength, and cracks in the thermal cycle Generation | occurrence | production etc. can be suppressed.

本発明の実施例及び比較例に係るリフロー条件を表したプロファイル図。The profile figure showing the reflow conditions which concern on the Example and comparative example of this invention. 比較例に係るチップフィレットボイド試験後の試験基板の表面の一部を表した電子顕微鏡写真。The electron micrograph showing a part of surface of the test board after the chip fillet void test concerning a comparative example. 比較例に係るチップフィレットボイド試験後の試験基板において、ブローホールの発生したフィレット部の一部を拡大した電子顕微鏡写真。The electron micrograph which expanded a part of fillet part which the blowhole generate | occur | produced in the test board after the chip fillet void test which concerns on a comparative example. 比較例に係るチップフィレットボイド試験後の試験基板において、ブローホールの発生したフィレット部の他の一部を拡大した電子顕微鏡写真。The electron micrograph which expanded other part of the fillet part which the blowhole generate | occur | produced in the test board after the chip fillet void test which concerns on a comparative example.

1.フラックス組成物
本実施形態に係るフラックス組成物は、ベース樹脂と、活性剤と、溶剤と、無機フィラーとを含む。
1. Flux composition The flux composition concerning this embodiment contains base resin, an activator, a solvent, and an inorganic filler.

(1)ベース樹脂
前記ベース樹脂としては、例えばアクリル樹脂、ロジン系樹脂、スチレン−マレイン酸樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、フェノキシ樹脂、テルペン樹脂、ポリアルキレンカーボネート及びカルボキシル基を有するロジン系樹脂とダイマー酸誘導体柔軟性アルコール化合物とを脱水縮合してなる誘導体化合物等が挙げられる。これらの中でも、特にアクリル樹脂が好ましく用いられる。なおこれらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
(1) Base resin Examples of the base resin include acrylic resin, rosin resin, styrene-maleic acid resin, epoxy resin, urethane resin, polyester resin, phenoxy resin, terpene resin, polyalkylene carbonate, and rosin resin having a carboxyl group. Examples thereof include a derivative compound obtained by dehydration condensation of a resin and a dimer acid derivative flexible alcohol compound. Among these, an acrylic resin is particularly preferably used. In addition, you may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.

前記アクリル樹脂としては、例えば(メタ)アクリル酸を含むモノマーを重合することにより生成されるものであればいずれも使用することができる。このようなアクリル樹脂として、炭素数1から20のアルキル基を有する(メタ)アクリレートを単重合、または当該アクリレートを主成分とするモノマーを共重合することにより得られる。なお、(メタ)アクリレートとは、メタクリレートとアクリレートの総称を指す。また当該アクリル樹脂は、1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。   Any acrylic resin can be used as long as it is produced by polymerizing a monomer containing (meth) acrylic acid, for example. Such an acrylic resin can be obtained by homopolymerizing a (meth) acrylate having an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or copolymerizing a monomer containing the acrylate as a main component. In addition, (meth) acrylate refers to a general term for methacrylate and acrylate. Moreover, the acrylic resin may be used alone or in combination of two or more.

当該アクリル樹脂の中でもメタクリル酸と炭素鎖が直鎖状である炭素数2から20の飽和アルキル基を2つ有するモノマーを含むモノマーとを重合して得られるアクリル樹脂が好ましく用いられる。より好ましくは、メタクリル酸と炭素鎖が直鎖状である炭素数2から6の飽和アルキル基を2つ有するモノマーを含むモノマーを重合して得られるアクリル樹脂である。   Among the acrylic resins, an acrylic resin obtained by polymerizing methacrylic acid and a monomer containing a monomer having two saturated alkyl groups having 2 to 20 carbon atoms in which the carbon chain is linear is preferably used. More preferably, it is an acrylic resin obtained by polymerizing a monomer containing methacrylic acid and a monomer having two saturated alkyl groups having 2 to 6 carbon atoms in which the carbon chain is linear.

なお、当該炭素鎖が直鎖状である炭素数2から20の飽和アルキル基を2つ有するモノマーは、複数種を含めてもよい。この場合、例えば炭素鎖が直鎖状である炭素数2の飽和アルキル基を有するモノマーと炭素鎖が直鎖状である炭素数4のアルキル基を有するモノマーというように、それぞれ異なる炭素数のアルキル基を有するモノマーを含めることが好ましい。この中でも特に、炭素鎖が直鎖状である炭素数2のアルキル基を有するモノマーと炭素鎖が直鎖状である炭素数6のアルキル基を有するモノマーの併用が好ましい。   In addition, the monomer which has two C2-C20 saturated alkyl groups in which the said carbon chain is linear may include multiple types. In this case, for example, a monomer having a saturated alkyl group having 2 carbon atoms in which the carbon chain is linear and a monomer having an alkyl group having 4 carbon atoms in which the carbon chain is linear, such as alkyl having different carbon numbers. It is preferable to include a monomer having a group. Among these, the combined use of a monomer having a C 2 alkyl group having a linear carbon chain and a monomer having a C 6 alkyl group having a linear carbon chain is particularly preferred.

更に前記アクリル樹脂の生成に用いられるモノマーは、メタクリル酸と炭素鎖が直鎖状である炭素数2から20の飽和アルキル基を2つ有するモノマー(複数種の場合も含む)とをそれぞれ4:96から20:80の割合で含めることが好ましい。   Furthermore, the monomers used for the production of the acrylic resin are methacrylic acid and a monomer (including a plurality of types) having two saturated alkyl groups having 2 to 20 carbon atoms in which the carbon chain is linear, respectively: Preferably it is included in a ratio of 96 to 20:80.

また前記アクリル樹脂の酸価は30mgKOH/gから150mgKOH/gであることが好ましく、その重量平均分子量は3,000Mwから30,000Mwであることが好ましい。   The acid value of the acrylic resin is preferably 30 mgKOH / g to 150 mgKOH / g, and the weight average molecular weight is preferably 3,000 Mw to 30,000 Mw.

アクリル樹脂はその性質上、フラックス組成物に用いた場合、特にソルダーペーストにおいてボイドが発生し易い。またアクリル樹脂は透明であることからこれを用いたフラックス組成物により形成されたフラックス残渣も透明性を有している。そのため、はんだ接合部のフィレット部からはかろうじて排出されたものの、フラックス残渣に残存してしまったボイドははんだ接合体(本明細書においては、はんだ接合部とフラックス残渣の総称を言う。)の見た目を悪くすると共に、目視によるはんだ接合部の外観検査がし難くなる虞がある。
しかし本実施形態に係るフラックス組成物は、加熱時におけるフラックス組成物の粘度低下を抑制することによりフィレット部の最表面における酸化膜の発生を抑制することができるため、ボイドをフィレット部から排出し易くすると共に、フラックス残渣へのボイド残存をも抑制することができる。
Due to the nature of the acrylic resin, voids are easily generated particularly in the solder paste when used in the flux composition. Moreover, since the acrylic resin is transparent, the flux residue formed by the flux composition using the acrylic resin also has transparency. For this reason, the voids that are barely discharged from the fillet portion of the solder joint but remain in the flux residue are the appearance of the solder joint (in this specification, the generic name of the solder joint and the flux residue). In addition, it may be difficult to visually inspect the solder joint.
However, since the flux composition according to this embodiment can suppress the generation of an oxide film on the outermost surface of the fillet portion by suppressing the decrease in the viscosity of the flux composition during heating, the void is discharged from the fillet portion. While making it easy, the void residue to a flux residue can also be suppressed.

また前記ロジン系樹脂としては、例えばトール油ロジン、ガムロジン、ウッドロジン等のロジン;ロジンを重合化、水添化、不均一化、アクリル化、マレイン化、エステル化若しくはフェノール付加反応等を行ったロジン誘導体;これらロジンまたはロジン誘導体と不飽和カルボン酸(アクリル酸、メタクリル酸、無水マレイン酸、フマル酸等)とをディールス・アルダー反応させて得られる変性ロジン樹脂等が挙げられる。これらの中でも特に変性ロジン樹脂が好ましく用いられ、アクリル酸を反応させて水素添加した水添アクリル酸変性ロジン樹脂が特に好ましく用いられる。なおこれらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。   Examples of the rosin resin include rosin such as tall oil rosin, gum rosin, and wood rosin; rosin that has been polymerized, hydrogenated, heterogeneous, acrylated, maleated, esterified, or phenol-added. Derivatives: Modified rosin resins obtained by Diels-Alder reaction of these rosins or rosin derivatives with unsaturated carboxylic acids (acrylic acid, methacrylic acid, maleic anhydride, fumaric acid, etc.), and the like. Among these, a modified rosin resin is particularly preferably used, and a hydrogenated acrylic acid-modified rosin resin hydrogenated by reacting acrylic acid is particularly preferably used. In addition, you may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.

また前記ロジン系樹脂の酸価は140mgKOH/gから300mgKOH/gであることが好ましい。   The acid value of the rosin resin is preferably 140 mgKOH / g to 300 mgKOH / g.

前記ベース樹脂の配合量は、フラックス組成物全量に対して10質量%以上60質量%以下であることが好ましく、30質量%以上55質量%以下であることがより好ましい。特に好ましい範囲は35質量%以上45質量%以下である。   The blending amount of the base resin is preferably 10% by mass or more and 60% by mass or less, and more preferably 30% by mass or more and 55% by mass or less with respect to the total amount of the flux composition. A particularly preferable range is 35% by mass or more and 45% by mass or less.

また前記ベース樹脂の酸価は30mgKOH/gから300mgKOH/gであることが好ましく、80mgKOH/gから130mgKOH/gであることがより好ましい。特に好ましい範囲は90mgKOH/gから120mgKOH/gである。   The acid value of the base resin is preferably 30 mgKOH / g to 300 mgKOH / g, and more preferably 80 mgKOH / g to 130 mgKOH / g. A particularly preferred range is from 90 mgKOH / g to 120 mgKOH / g.

前記ベース樹脂としてアクリル樹脂を用いる場合、その配合量はフラックス組成物全量に対して10質量%以上60質量%以下であることが好ましく、15質量%以上50質量%以下であることがより好ましい。特に好ましい範囲は20質量%以上30質量%以下である。   When an acrylic resin is used as the base resin, the blending amount is preferably 10% by mass or more and 60% by mass or less, and more preferably 15% by mass or more and 50% by mass or less with respect to the total amount of the flux composition. A particularly preferable range is 20% by mass or more and 30% by mass or less.

前記ベース樹脂としてロジン系樹脂を用いる場合、その配合量はフラックス組成物全量に対して10質量%以上50質量%以下であることが好ましく、15質量%以上45質量%以下であることが更に好ましい。特に好ましい範囲は20質量%以上30質量%以下である。   When a rosin resin is used as the base resin, the blending amount is preferably 10% by mass or more and 50% by mass or less, and more preferably 15% by mass or more and 45% by mass or less with respect to the total amount of the flux composition. . A particularly preferable range is 20% by mass or more and 30% by mass or less.

また前記アクリル樹脂と前記ロジン系樹脂とを併用する場合、その配合比率はロジン系樹脂:アクリル樹脂の比率で20:80から50:50であることが好ましく、25:75から40:60であることがより好ましい。特に好ましい範囲は30:70から35:65である。   Moreover, when using together the said acrylic resin and the said rosin-type resin, it is preferable that the mixture ratio is 20:80 to 50:50 in the ratio of a rosin-type resin: acrylic resin, and is 25:75 to 40:60. It is more preferable. A particularly preferred range is 30:70 to 35:65.

(2)活性剤
前記活性剤としては、例えばカルボン酸類、ハロゲンを含む化合物等が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
(2) Activator Examples of the activator include carboxylic acids and halogen-containing compounds. You may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.

前記カルボン酸類としては、例えばモノカルボン酸、ジカルボン酸等並びにその他の有機酸が挙げられる。
前記モノカルボン酸としては、例えばプロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロン酸、エナント酸、カプリン酸、ラウリル酸、ミリスチン酸、ペンタデシル酸、パルミチン酸、マルガリン酸、ステアリン酸、ツベルクロステアリン酸、アラキジン酸、ベヘン酸、リグノセリン酸、グリコール酸等が挙げられる。
ジカルボン酸としては、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、スベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、フマル酸、マレイン酸、酒石酸、ジグリコール酸等が挙げられる。
また前記その他の有機酸としては、ダイマー酸、レブリン酸、乳酸、アクリル酸、安息香酸、サリチル酸、アニス酸、クエン酸、ピコリン酸等が挙げられる。
なおこれらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
Examples of the carboxylic acids include monocarboxylic acids, dicarboxylic acids, and other organic acids.
Examples of the monocarboxylic acid include propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, enanthic acid, capric acid, lauric acid, myristic acid, pentadecylic acid, palmitic acid, margaric acid, stearic acid, tuberculostearic acid, arachidic acid , Behenic acid, lignoceric acid, glycolic acid and the like.
Examples of the dicarboxylic acid include oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, pimelic acid, suberic acid, azelaic acid, sebacic acid, fumaric acid, maleic acid, tartaric acid, diglycolic acid and the like.
Examples of the other organic acids include dimer acid, levulinic acid, lactic acid, acrylic acid, benzoic acid, salicylic acid, anisic acid, citric acid, and picolinic acid.
In addition, you may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.

前記ハロゲンを含む化合物としては、例えば非解離性のハロゲン化化合物(非解離型活性剤)、解離性のハロゲン化化合物(解離型活性剤)が挙げられる。
前記非解離型活性剤としては、ハロゲン原子が共有結合により結合した非塩系の有機化合物が挙げられ、例えば塩素化物、臭素化物、ヨウ素化物、フッ化物のように塩素、臭素、ヨウ素、フッ素の各単独元素の共有結合による化合物でもよく、またこの4つの元素の任意の2つまたは全部のそれぞれの共有結合を有する化合物でもよい。当該化合物は水性溶媒に対する溶解性を向上させるために、例えばハロゲン化アルコールのように水酸基等の極性基を有することが好ましい。当該ハロゲン化アルコールとしては、例えば2,3−ジブロモプロパノール、2,3−ジブロモブタンジオール、1,4−ジブロモ−2−ブタノール、トリブロモネオペンチルアルコール等の臭素化アルコール;1,3−ジクロロ−2−プロパノール、1,4−ジクロロ−2−ブタノール等の塩素化アルコール;3−フルオロカテコール等のフッ素化アルコール;その他のこれらに類する化合物が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
Examples of the halogen-containing compound include a non-dissociable halogenated compound (non-dissociable activator) and a dissociable halogenated compound (dissociable activator).
Examples of the non-dissociative activator include non-salt organic compounds in which halogen atoms are covalently bonded. For example, chlorine, bromine, iodine, fluorine such as chlorinated compounds, brominated compounds, iodinated compounds, and fluorides. A compound having a covalent bond of each single element may be used, or a compound having a covalent bond of any two or all of these four elements may be used. In order to improve the solubility in an aqueous solvent, the compound preferably has a polar group such as a hydroxyl group such as a halogenated alcohol. Examples of the halogenated alcohol include brominated alcohols such as 2,3-dibromopropanol, 2,3-dibromobutanediol, 1,4-dibromo-2-butanol, and tribromoneopentyl alcohol; 1,3-dichloro- Examples include chlorinated alcohols such as 2-propanol and 1,4-dichloro-2-butanol; fluorinated alcohols such as 3-fluorocatechol; and other similar compounds. You may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.

また前記解離型活性剤としては、例えばアミン、イミダゾール等の塩基の塩化水素酸塩及び臭化水素酸塩が挙げられる。塩化水素酸及び臭化水素酸の塩の一例としては、メチルアミン、ジメチルアミン、トリメチルアミン、エチルアミン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、n−プロピルアミン、ジ−n−プロピルアミン、トリ−n−プロピルアミン、イソプロピルアミン、ジイソプロピルアミン、ブチルアミン、ジブチルアミン、トリブチルアミン、シクロヘキシルアミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン等の比較的炭素数の小さいアミン;イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−メチル−4−メチルイミダゾール、2−メチル−4−エチルイミダゾール、2−エチル−4−エチルイミダゾール、2−プロピルイミダゾール、2−プロピル−4−プロピルイミダゾール等の塩化水素酸塩及び臭化水素酸塩等が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。   Examples of the dissociative activator include base hydrochlorides and hydrobromides such as amines and imidazoles. Examples of salts of hydrochloric acid and hydrobromic acid include methylamine, dimethylamine, trimethylamine, ethylamine, diethylamine, triethylamine, n-propylamine, di-n-propylamine, tri-n-propylamine, isopropylamine , Diisopropylamine, butylamine, dibutylamine, tributylamine, cyclohexylamine, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine and other amines having a relatively small carbon number; imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-methyl- Hydrochloric acid salts such as 4-methylimidazole, 2-methyl-4-ethylimidazole, 2-ethyl-4-ethylimidazole, 2-propylimidazole, 2-propyl-4-propylimidazole Fine hydrobromic acid salts, and the like. You may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.

前記活性剤の配合量は、フラックス組成物全量に対して0.1質量%以上30質量%以上であることが好ましく、2質量%以上25質量%以下であることがより好ましい。   The blending amount of the activator is preferably 0.1% by mass or more and 30% by mass or more, and more preferably 2% by mass or more and 25% by mass or less with respect to the total amount of the flux composition.

前記カルボン酸類の配合量は、フラックス組成物全量に対して1質量%以上25質量%以下であることが好ましく、5質量%以上15質量%以下であることがより好ましい。カルボン酸類の配合量をこの範囲とすることで、ソルダボールの発生抑制及び良好なフラックス組成物の絶縁性を発揮することができる。   The blending amount of the carboxylic acids is preferably 1% by mass or more and 25% by mass or less, and more preferably 5% by mass or more and 15% by mass or less with respect to the total amount of the flux composition. By making the compounding quantity of carboxylic acid into this range, generation | occurrence | production suppression of a solder ball and the insulation of a favorable flux composition can be exhibited.

また前記非解離型活性剤の配合量は、フラックス組成物全量に対して0.1質量%以上5質量%以下であることが好ましく、0.5質量%以上3質量%以下であることがより好ましい。   The blending amount of the non-dissociative activator is preferably 0.1% by mass or more and 5% by mass or less, more preferably 0.5% by mass or more and 3% by mass or less based on the total amount of the flux composition. preferable.

次に前記解離型活性剤の配合量は、フラックス組成物全量に対して0.1質量%以上3質量%以下であることが好ましく、0.3質量%以上1.5質量%以下であることがより好ましい。   Next, the blending amount of the dissociative activator is preferably 0.1% by mass or more and 3% by mass or less, and 0.3% by mass or more and 1.5% by mass or less with respect to the total amount of the flux composition. Is more preferable.

更に前記アミン及びイミダゾールをそれぞれ単体で用いる場合、その配合量はそれぞれ0.1質量%以上5質量%以下であることが好ましく、0.5質量%以上3質量%以下であることがより好ましい。   Further, when each of the amine and imidazole is used alone, the blending amount thereof is preferably 0.1% by mass or more and 5% by mass or less, and more preferably 0.5% by mass or more and 3% by mass or less.

(3)溶剤
前記溶剤としては、例えばイソプロピルアルコール、エタノール、アセトン、トルエン、キシレン、酢酸エチル、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、ヘキシルジグリコール、(2−エチルヘキシル)ジグリコール、フェニルグリコール、ブチルカルビトール、オクタンジオール、αテルピネオール、βテルピネオール、テトラエチレングリコールジメチルエーテル、トリメリット酸トリス(2−エチルヘキシル)、セバシン酸ビスイソプロピル等を使用することができる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
(3) Solvent Examples of the solvent include isopropyl alcohol, ethanol, acetone, toluene, xylene, ethyl acetate, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, hexyl diglycol, (2-ethylhexyl) diglycol, phenyl glycol, butyl carbitol, and octanediol. , Α-terpineol, β-terpineol, tetraethylene glycol dimethyl ether, trimellitic acid tris (2-ethylhexyl), bisisopropyl sebacate, and the like can be used. You may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.

前記溶剤の配合量は、フラックス組成物全量に対して20質量%以上65質量%以下であることが好ましい。より好ましいその配合量は20質量%以上60質量%以下であり、特に好ましい配合量は25質量%以上50質量%以下である。   The amount of the solvent is preferably 20% by mass or more and 65% by mass or less based on the total amount of the flux composition. The blending amount is more preferably 20% by mass or more and 60% by mass or less, and the particularly preferable blending amount is 25% by mass or more and 50% by mass or less.

(4)無機フィラー
前記無機フィラーとしては、疎水性フュームドシリカを含むことが好ましい。疎水性フュームドシリカは加熱時におけるフラックス組成物の粘度低下を抑制することができる。そのため、フラックス組成物にボイドの発生し易いアクリル樹脂を含ませたり、はんだ合金にボイドの発生し易いNiを含有させた場合であっても、疎水性フュームドシリカによりフィレット部にフラックス組成物がとどまり易くなるため、フィレット部の最表面における酸化膜の発生を抑制し、チップ下から発生したボイドをフィレット部から排出し易くすることができる。
更には、当該疎水性フュームドシリカとしては、その表面にメチルシリル基、ジメチルシリル基及びトリメチルシリル基の少なくともいずれかを有することが好ましい。このメチルシリル基、ジメチルシリル基及びトリメチルシリル基のいずれかは一部でも当該疎水性フュームドシリカの表面に結合していればよい。
前記疎水性フュームドシリカの市販品としては、AEROSIL(登録商標、以下同じ。)シリーズ(日本アエロジル(株)製)が挙げられる。これらの中でも特に疎水性のフュームドシリカであるAEROSIL RX200及びAEROSIL R974等が好ましく用いられる。
なお、前記疎水性フュームドシリカは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
(4) Inorganic filler The inorganic filler preferably contains hydrophobic fumed silica. Hydrophobic fumed silica can suppress a decrease in viscosity of the flux composition during heating. Therefore, even if the flux composition contains an acrylic resin that easily generates voids or the solder alloy contains Ni that easily generates voids, the flux composition is formed in the fillet portion by hydrophobic fumed silica. Since it becomes easy to stay, generation | occurrence | production of the oxide film in the outermost surface of a fillet part can be suppressed, and the void which generate | occur | produced from under the chip | tip can be discharged | emitted easily from a fillet part.
Furthermore, the hydrophobic fumed silica preferably has at least one of a methylsilyl group, a dimethylsilyl group and a trimethylsilyl group on the surface thereof. Any one of the methylsilyl group, dimethylsilyl group, and trimethylsilyl group may be bonded to the surface of the hydrophobic fumed silica.
A commercially available product of the hydrophobic fumed silica includes AEROSIL (registered trademark, the same shall apply hereinafter) series (manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.). Among these, hydrophobic fumed silicas such as AEROSIL RX200 and AEROSIL R974 are preferably used.
In addition, you may use the said hydrophobic fumed silica individually by 1 type or in mixture of multiple types.

前記無機フィラーとしては、前記疎水性フュームドシリカを単独で使用することが好ましいが、シリカ、タルク、アルミナ等のフュームドシリカ以外の無機フィラー、及び親水性のフュームドシリカを含むこともできる。   As the inorganic filler, the hydrophobic fumed silica is preferably used alone, but inorganic fillers other than fumed silica such as silica, talc, and alumina, and hydrophilic fumed silica can also be included.

前記無機フィラーの配合量は、フラックス組成物全量に対して0.1質量%以上5質量%以下であることが好ましい。より好ましいその配合量は0.5質量%以上2質量%以下である。
なお、前記疎水性フュームドシリカと他の無機フィラーとを併用する場合、前記疎水性フュームドシリカの配合量は、前記無機フィラー全量に対して70質量%以上であることが好ましい。
The blending amount of the inorganic filler is preferably 0.1% by mass or more and 5% by mass or less based on the total amount of the flux composition. The blending amount is more preferably 0.5% by mass or more and 2% by mass or less.
In addition, when using together the said hydrophobic fumed silica and another inorganic filler, it is preferable that the compounding quantity of the said hydrophobic fumed silica is 70 mass% or more with respect to the said inorganic filler whole quantity.

(5)チクソ剤
本実施形態のフラックス組成物には、フラックス組成物の粘度を調整することを目的としてチクソ剤を配合することができる。
前記チクソ剤としては、例えば水素添加ヒマシ油、飽和脂肪酸アミド、飽和脂肪酸ビスアミド類、オキシ脂肪酸類、ジベンジリデンソルビトール類等が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
また前記チクソ剤の配合量は、フラックス全量に対して1質量%以上15質量%以下であることが好ましく、3質量%以上10質量%以下であることがより好ましい。
(5) Thixotropic agent A thixotropic agent can be mix | blended with the flux composition of this embodiment for the purpose of adjusting the viscosity of a flux composition.
Examples of the thixotropic agent include hydrogenated castor oil, saturated fatty acid amides, saturated fatty acid bisamides, oxy fatty acids, dibenzylidene sorbitols, and the like. You may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.
Further, the blending amount of the thixotropic agent is preferably 1% by mass or more and 15% by mass or less, and more preferably 3% by mass or more and 10% by mass or less with respect to the total amount of the flux.

(6)酸化防止剤
本実施形態のフラックス組成物には、はんだ合金の酸化を抑える目的で酸化防止剤を配合することができる。このような酸化防止剤としては、例えばヒンダードフェノール系酸化防止剤、フェノール系酸化防止剤、ビスフェノール系酸化防止剤、ポリマー型酸化防止剤等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。これらの中でも特にヒンダードフェノール系酸化防止剤が好ましく用いられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記酸化防止剤の配合量は特に限定されないが、一般的にはフラックス組成物全量に対して0.5重量%から5重量%程度であることが好ましい。
(6) Antioxidant Antioxidant can be mix | blended with the flux composition of this embodiment in order to suppress the oxidation of a solder alloy. Examples of such antioxidants include, but are not limited to, hindered phenolic antioxidants, phenolic antioxidants, bisphenolic antioxidants, polymer-type antioxidants, and the like. Among these, a hindered phenol antioxidant is particularly preferably used. You may use these individually by 1 type or in mixture of multiple types.
The blending amount of the antioxidant is not particularly limited, but generally it is preferably about 0.5 to 5% by weight with respect to the total amount of the flux composition.

また本実施形態のフラックス組成物には、つや消し剤、消泡剤等の添加剤を使用することができる。当該添加剤の配合量は、フラックス組成物全量に対して10重量%以下、特に5重量%以下であることが好ましい。   Moreover, additives, such as a delustering agent and an antifoamer, can be used for the flux composition of this embodiment. The blending amount of the additive is preferably 10% by weight or less, particularly preferably 5% by weight or less, based on the total amount of the flux composition.

2.ソルダーペースト
本実施形態のソルダーペーストは、上記フラックス組成物とはんだ合金粉末とを混合することにより得られる。
前記はんだ合金粉末は、例えばSnを主材とし、これにAg、Bi、In、Ni、Cu、Zn、Ga、Sb、Au、Pa、Ge、Cr、Al、P、Cd、Tl、SeTi、Si、Mg及びPb等を1種又は複数種混合したはんだ合金を粉末状にしたものが使用される。なお、上記に挙げた元素以外であってもその組み合わせに使用することは可能である。また当該はんだ合金には、当然ながら不可避不純物も含まれるものである。
2. Solder paste The solder paste of this embodiment is obtained by mixing the flux composition and the solder alloy powder.
The solder alloy powder is mainly composed of Sn, for example, Ag, Bi, In, Ni, Cu, Zn, Ga, Sb, Au, Pa, Ge, Cr, Al, P, Cd, Tl, SeTi, Si. A powdered solder alloy obtained by mixing one or more of Mg, Pb and the like is used. It should be noted that elements other than those listed above can be used in combination. Of course, the solder alloy contains inevitable impurities.

本実施形態に係るはんだ合金としてはPb含有のもの、Pbフリーのもののいずれも使用することができるが、特にPbフリーのものが好ましく用いられる。このようなはんだ合金として、例えばSn−Ag−Cu−Ni系はんだ合金、Sn−Ag−Cu−Bi−Ni系合金等が好ましく用いられる。
更にSnを主材料とし、Niを0.01質量%から0.5質量%含むはんだ合金、Snを主材料とし、Ag、Cu、Bi、Sb及びNiのいずれか2種以上を含み、それぞれの含有量は、Agが0.1質量%から5質量%、Cuが0.5質量%から1質量%、Biが2質量%から4質量%、Sbが0.5質量%から3質量%、Niが0.01質量%から0.5質量%であるものが特に好ましく用いられる。なおSnの含有量は88質量%以上であることが好ましい。
As the solder alloy according to the present embodiment, either a Pb-containing one or a Pb-free one can be used, but a Pb-free one is particularly preferably used. As such a solder alloy, for example, a Sn—Ag—Cu—Ni solder alloy, a Sn—Ag—Cu—Bi—Ni alloy, or the like is preferably used.
Further, a solder alloy containing Sn as a main material and containing 0.01 to 0.5% by mass of Ni, Sn as a main material, containing any two or more of Ag, Cu, Bi, Sb and Ni, Content is 0.1 mass% to 5 mass% for Ag, 0.5 mass% to 1 mass% for Cu, 2 mass% to 4 mass% for Bi, 0.5 mass% to 3 mass% for Sb, Those having Ni of 0.01 mass% to 0.5 mass% are particularly preferably used. In addition, it is preferable that content of Sn is 88 mass% or more.

前記はんだ合金粉末の配合量は、ソルダーペースト全量に対して65質量%から95質量%であることが好ましい。より好ましいその配合量は85質量%から93質量%であり、特に好ましい配合量は87質量%から92質量%である。
前記はんだ合金粉末の配合量が65質量%未満の場合には、得られるソルダーペーストを用いた場合に充分なはんだ接合が形成されにくくなる傾向にある。他方前記はんだ合金粉末の含有量が95質量%を超える場合にはバインダとしてのフラックス組成物が足りないため、フラックス組成物とはんだ合金粉末とを混合しにくくなる傾向にある。
The amount of the solder alloy powder is preferably 65% by mass to 95% by mass with respect to the total amount of the solder paste. More preferably, the blending amount is 85% by weight to 93% by weight, and a particularly preferable blending amount is 87% by weight to 92% by weight.
When the blending amount of the solder alloy powder is less than 65% by mass, it is difficult to form a sufficient solder joint when the obtained solder paste is used. On the other hand, when the content of the solder alloy powder exceeds 95% by mass, the flux composition as a binder is insufficient, and therefore, it tends to be difficult to mix the flux composition and the solder alloy powder.

また前記はんだ合金粉末の平均粒子径は1μm以上40μm以下であることが好ましく、5μm以上35μm以下であることがより好ましく、10μm以上30μm以下であることが特に好ましい。   The average particle size of the solder alloy powder is preferably 1 μm or more and 40 μm or less, more preferably 5 μm or more and 35 μm or less, and particularly preferably 10 μm or more and 30 μm or less.

本実施形態のソルダーペーストは、上記フラックス組成物を使用することにより加熱時におけるフラックス組成物の粘度低下を抑制することができる。そのため、ボイドの発生し易いNiを含むはんだ合金粉末や、In、Biといった酸化し易い組成を含むはんだ合金粉末を使用した場合であってもフィレット部の最表面における酸化膜の発生を抑制することができ、ボイドをフィレット部から排出し易くすると共に、フラックス残渣へのボイド残存も抑制することができる。   The solder paste of this embodiment can suppress a decrease in the viscosity of the flux composition during heating by using the flux composition. Therefore, even when using a solder alloy powder containing Ni that easily generates voids or a solder alloy powder containing a composition that easily oxidizes such as In and Bi, the generation of an oxide film on the outermost surface of the fillet portion is suppressed. It is possible to easily discharge the void from the fillet portion and to suppress the void remaining in the flux residue.

3.電子回路基板
本実施形態のフラックス組成物、ソルダーペーストを用いて形成されるはんだ接合体を有する電子回路基板は、例えば基板上の所定の位置に電極及びソルダレジスト膜を形成し、所定のパターンを有するマスクを用いて本実施形態のソルダーペーストを印刷し、当該パターンに適合する電子部品を所定の位置に搭載し、これをリフローすることにより作製される。
3. Electronic circuit board An electronic circuit board having a solder joint formed by using the flux composition of the present embodiment and a solder paste, for example, forms an electrode and a solder resist film at a predetermined position on the substrate, and forms a predetermined pattern. The solder paste of the present embodiment is printed using a mask having the pattern, and an electronic component that conforms to the pattern is mounted at a predetermined position, and is reflowed.

なおはんだ接合体及びこれを有する電子回路基板の作製方法としては、ソルダーペーストを用いたリフロー方法以外にも、例えば本実施形態のフラックス組成物を用いてのフロー方法及びはんだボールを利用した実装方法等を適宜使用することができる。
このようにして作製された電子回路基板は、前記電極上にはんだ接合部が形成され、当該はんだ接合部は当該電極と電子部品とを電気的に接合する。またはんだ接合部や基板に接するようにフラックス残渣が形成される。
In addition to the reflow method using a solder paste, for example, a flow method using the flux composition of the present embodiment and a mounting method using a solder ball as a method for producing a solder joint and an electronic circuit board having the solder joint Etc. can be used as appropriate.
In the electronic circuit board thus manufactured, a solder joint is formed on the electrode, and the solder joint electrically joins the electrode and the electronic component. Further, a flux residue is formed so as to come into contact with the solder joint or the substrate.

このように作製された電子回路基板は、本実施形態のフラックス組成物、ソルダーペーストを用いて形成されたはんだ接合体を有していることから、はんだ接合部及びフラックス残渣の残存ボイドが抑制され、信頼性の高い基板として様々な用途、例えば自動車のエンジンルーム内に搭載する基板等に好適に使用することができる。   Since the electronic circuit board manufactured in this way has a solder joint formed using the flux composition and solder paste of the present embodiment, residual voids in the solder joint and flux residue are suppressed. As a highly reliable substrate, it can be suitably used for various applications, for example, a substrate mounted in an engine room of an automobile.

なお、当該電子回路基板に実装される電子部品の種類は特に限定されないが、例えばチップコンデンサ、チップLEDといったチップ型部品を実装する際に特にその効果をより発揮することができる。   The type of electronic component mounted on the electronic circuit board is not particularly limited, but the effect can be particularly exhibited when mounting a chip-type component such as a chip capacitor or a chip LED.

以下、実施例及び比較例を挙げて本発明を詳述する。なお、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to Examples and Comparative Examples. The present invention is not limited to these examples.

<アクリル樹脂の合成>
撹拌機、還流管、及び窒素導入管とを備えた500mlの4つ口フラスコにジエチレングリコールモノヘキシルエーテル200gを仕込み、これを110℃に加熱した。
またメタクリル酸10質量%、2−エチルヘキシルメタクリレート51質量%、ラウリルアクリレート39質量%を混合したもの300gにアゾ系ラジカル開始剤としてジメチル2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオネート)(製品名:V−601、和光純薬(株)製)を0.2質量%から5質量%を加えてこれを溶解させ、溶液を作製した。
次いで当該溶液を上記4つ口フラスコに1.5時間かけて滴下したものを110℃で1時間撹拌した後に反応を終了させ、実施例に用いるアクリル樹脂を得た。なお、当該アクリル樹脂の重量平均分子量は7,800Mw、酸価は40mgKOH/g、ガラス転移温度は−47℃であった。
<Synthesis of acrylic resin>
200 g of diethylene glycol monohexyl ether was charged into a 500 ml four-necked flask equipped with a stirrer, a reflux tube, and a nitrogen introduction tube, and this was heated to 110 ° C.
Also, dimethyl 2,2′-azobis (2-methylpropionate) (product name) as an azo radical initiator in 300 g of 10% by weight of methacrylic acid, 51% by weight of 2-ethylhexyl methacrylate and 39% by weight of lauryl acrylate : V-601, manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) was added in an amount of 0.2% by mass to 5% by mass to dissolve it to prepare a solution.
Next, the solution was dropped into the four-necked flask over 1.5 hours and stirred at 110 ° C. for 1 hour, and then the reaction was terminated to obtain an acrylic resin used in the examples. The acrylic resin had a weight average molecular weight of 7,800 Mw, an acid value of 40 mgKOH / g, and a glass transition temperature of −47 ° C.

表1に記載の各成分を混練し、実施例1から4及び比較例1から7に係るフラックス組成物を得た。次いで当該各フラックス組成物11質量%と、Sn−3Ag−0.5Cu−3Bi−3Sb−0.15Niはんだ合金粉末89質量%とを混練し、実施例1から4及び比較例1から7に係る各ソルダーペーストを得た。なお、特に記載のない限り、表1に記載の数値は質量%を意味するものとする。但し、上述の手順で作製したソルベント状のアクリル樹脂はエバポレーターを用いて溶剤を揮発させた上で使用している。そのため、表1に記載のアクリル樹脂の数値は、溶剤を揮発させた固形分のみを表している。   The components described in Table 1 were kneaded to obtain flux compositions according to Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 7. Next, 11% by mass of each flux composition and 89% by mass of Sn-3Ag-0.5Cu-3Bi-3Sb-0.15Ni solder alloy powder were kneaded, and according to Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 7. Each solder paste was obtained. Unless otherwise specified, the numerical values shown in Table 1 mean mass%. However, the solvent-like acrylic resin produced by the above procedure is used after the solvent is volatilized using an evaporator. Therefore, the numerical value of the acrylic resin described in Table 1 represents only the solid content in which the solvent is volatilized.

※1 荒川化学工業(株)製 水添酸変性ロジン
※2 日本化成(株)製 トリス(2,3−ジブロモプロピル)イソシアヌレート
※3 BASFジャパン(株)製 ヒンダードフェノール系酸化防止剤
※4 日本アエロジル(株)製 疎水性フュームドシリカ(トリメチルシリル基含有)
※5 日本アエロジル(株)製 疎水性フュームドシリカ(ジメチルシリル基含有)
※6 日本アエロジル(株)製 親水性フュームドシリカ
※7 東亜合成(株)製 Zn−Mg−Al系無機フィラー
※8 石原産業(株)製 酸化アルミニウム
* 1 Hydrogenated acid-modified rosin manufactured by Arakawa Chemical Co., Ltd. * 2 Tris (2,3-dibromopropyl) isocyanurate manufactured by Nippon Kasei Co., Ltd. * 3 Hindered phenol antioxidant manufactured by BASF Japan Co., Ltd. * 4 Hydrophobic fumed silica (containing trimethylsilyl group) manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.
* 5 Hydrophobic fumed silica (containing dimethylsilyl group) manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.
* 6 Hydrophilic fumed silica manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd. * 7 Zn-Mg-Al inorganic filler manufactured by Toa Gosei Co., Ltd. * 8 Aluminum oxide manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd.

<ぬれ効力及びディウェッティング試験(銅板)>
各ソルダーペーストを用い、JIS規格Z 3284−4に準拠する条件にて銅板上におけるぬれ効力及びディウェッティング試験を行い、評価した。その結果を表2に示す。なお評価基準はJIS規格Z 3284−4の表1(広がりの度合)に記載のものに準ずる。
<Wetting efficacy and dewetting test (copper plate)>
Using each solder paste, the wetting effect and dewetting test on a copper plate were performed and evaluated under the conditions conforming to JIS standard Z 3284-4. The results are shown in Table 2. The evaluation criteria conform to those described in Table 1 (degree of spread) of JIS standard Z 3284-4.

<ぬれ効力及びディウェッティング試験(Ni板)>
各ソルダーペーストを用い、JIS規格Z 3284−4に準拠する条件にて3×3×0.5mmのNi板を使用し、ぬれ効力及びディウェッティング試験を行い、評価した。その結果を表2に示す。なお評価基準はJIS規格Z 3284−4の表1(広がりの度合)に記載のものに準ずる。
<Wetting efficacy and dewetting test (Ni plate)>
Using each solder paste, a 3 × 3 × 0.5 mm Ni plate was used under the conditions conforming to JIS standard Z 3284-4, and wetting efficacy and dewetting tests were performed and evaluated. The results are shown in Table 2. The evaluation criteria conform to those described in Table 1 (degree of spread) of JIS standard Z 3284-4.

<チップフィレットボイド>
3.2mm×1.6mmのサイズのチップ部品と、当該サイズのチップ部品を実装できるパターンを有するソルダレジスト及び前記チップ部品を接続する電極とを備えたFR−4基板(厚み:1.6mm)と、同パターンを有する厚さ150μmのメタルマスクを用意した。前記FR−4基板上に前記メタルマスクを用いて各ソルダーペーストを印刷した。次いで当該各FR−4基板上に上記チップ部品を20個載置し、リフロー炉(製品名:TNP−538EM、(株)タムラ製作所製)を用いて図1に示すリフロー条件にてリフローを行い、各試験基板を作製した。そして当該各試験基板に形成されたチップフィレットを光学顕微鏡で観察し、フィレット部に空洞(ブローホール)が発生しているチップの個数を数えた。その結果を表2に示す。なお、フィレット部にブローホールが発生した比較例の基板表面の一部及び発生したブローホールをそれぞれ図2、並びに図3及び図4に示す。
<Chip fillet void>
FR-4 board (thickness: 1.6 mm) provided with a chip component having a size of 3.2 mm × 1.6 mm, a solder resist having a pattern capable of mounting the chip component of the size, and an electrode for connecting the chip component A 150 μm thick metal mask having the same pattern was prepared. Each solder paste was printed on the FR-4 substrate using the metal mask. Next, 20 of the above chip components are placed on each FR-4 substrate, and reflow is performed under the reflow conditions shown in FIG. 1 using a reflow furnace (product name: TNP-538EM, manufactured by Tamura Corporation). Each test substrate was produced. The chip fillets formed on the respective test substrates were observed with an optical microscope, and the number of chips in which cavities (blow holes) were generated in the fillet portion was counted. The results are shown in Table 2. FIG. 2, FIG. 3 and FIG. 4 show a part of the substrate surface of the comparative example in which the blow hole is generated in the fillet portion and the generated blow hole, respectively.

<フラックス残渣外観>
所定のパターンを有するソルダレジスト及び電極を備えたCu−OSP処理済のFR−4基板(厚み:1.6mm、開口径0.3mm)と、同パターンを有する厚さ150μmのメタルマスクを用意した。次いで前記FR−4基板上に前記メタルマスクを用いて各ソルダーペーストを印刷し、リフロー炉(製品名:TNP−538EM、(株)タムラ製作所製)を用いて図1に示すリフロー条件にてリフローを行い、各試験基板を作製した。そして各試験基板上に形成されたフラックス残渣の外観を観察し、以下の評価基準にて評価した。その結果を表2に示す。
○:透明で析出物の結晶が無い
△:透明で析出物の結晶は無いが、ボイドが残渣中に10%未満存在する
×:析出物が発生し不透明であり、ボイドが残渣中に10%以上存在する
<Flux residue appearance>
A Cu-OSP-treated FR-4 substrate (thickness: 1.6 mm, opening diameter 0.3 mm) having a solder resist and electrodes having a predetermined pattern, and a 150 μm thick metal mask having the same pattern were prepared. . Next, each solder paste is printed on the FR-4 substrate using the metal mask, and reflowed under the reflow conditions shown in FIG. 1 using a reflow furnace (product name: TNP-538EM, manufactured by Tamura Corporation). Then, each test substrate was manufactured. And the external appearance of the flux residue formed on each test board | substrate was observed, and the following evaluation criteria evaluated. The results are shown in Table 2.
○: Transparent and free of crystals of precipitates Δ: Transparent and free of crystals of precipitates, but voids are present in less than 10% in the residue ×: Precipitates are generated and are opaque, and voids are 10% in the residue Exist

<スキージ付着>
基板を用意し、印刷機に各ソルダーペーストを300g投入してメタルマスク及びメタルスキージを使用して、上記基板上にそれぞれ4回(2往復)スキージングを行った。4回スキージングを行いスキージを上昇させた際、上記メタルマスクにソルダーペーストが残っている状態か(スキージ付着無し)、若しくはスキージに付着して上記メタルマスク上にペーストが残っていない(スキージ付着有り)かを確認及び評価した。その結果を表2に示す。なお、ソルダーペーストがスキージ付着有りの場合はその後に印刷不具合が発生する虞があり好ましくない一方、スキージ付着無しの場合はその後の印刷性も良好となる。
<Squeegee adhesion>
A substrate was prepared, 300 g of each solder paste was put into a printing machine, and squeezing was performed four times (two reciprocations) on the substrate using a metal mask and a metal squeegee. When the squeegee is raised by squeezing four times, the solder paste remains on the metal mask (no squeegee attached), or adheres to the squeegee and no paste remains on the metal mask (squeegee attached) It was confirmed and evaluated. The results are shown in Table 2. Note that when the solder paste has squeegee adhesion, there is a possibility that a printing defect may occur after that, but when the solder paste does not have squeegee adhesion, the subsequent printability is good.

以上に示す通り、無機フィラーとして疎水性フュームドシリカを含む実施例に係るソルダーペーストは、銅板及びNi板のいずれにおいてもはんだぬれ効力及びディウェッティングが良好である。またNiのようなボイドの発生し易い組成を含むはんだ合金を用いた場合であっても、チップフィレット部及びフラックス残渣におけるボイドの発生を抑制することができ、更に印刷性も良好であることが分かる。
As described above, the solder paste according to the example containing hydrophobic fumed silica as the inorganic filler has good solder wettability and dewetting in both the copper plate and the Ni plate. In addition, even when a solder alloy containing a composition that easily generates voids such as Ni is used, the generation of voids in the chip fillet portion and the flux residue can be suppressed, and the printability is also good. I understand.

Claims (6)

ベース樹脂と、活性剤と、溶剤と、無機フィラーとを含み、
前記無機フィラーは疎水性フュームドシリカを含み、
前記無機フィラーの配合量はフラックス組成物全量に対して0.1質量%から5質量%であり、
前記ベース樹脂の配合量は30質量%以上60質量%以下であることを特徴とするフラックス組成物。
Including a base resin, an activator, a solvent, and an inorganic filler,
The inorganic filler comprises hydrophobic fumed silica;
The amount of the inorganic filler is Ri 5% by mass 0.1% by mass of the flux the total amount of the composition,
The flux composition, wherein the blending amount of the base resin is 30% by mass or more and 60% by mass or less .
前記ベース樹脂はアクリル樹脂を含むことを特徴とする請求項1に記載のフラックス組成物。   The flux composition according to claim 1, wherein the base resin includes an acrylic resin. 前記疎水性フュームドシリカは表面にメチルシリル基、ジメチルシリル基及びトリメチルシリル基の少なくともいずれかを有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のフラックス組成物。   The flux composition according to claim 1 or 2, wherein the hydrophobic fumed silica has at least one of a methylsilyl group, a dimethylsilyl group, and a trimethylsilyl group on the surface. 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のフラックス組成物と、はんだ合金粉末とを含むことを特徴とするソルダーペースト。   A solder paste comprising the flux composition according to any one of claims 1 to 3 and a solder alloy powder. 前記はんだ合金粉末はSnを主材料とし、Niを0.01質量%から0.5質量%含むことを特徴とする請求項4に記載のソルダーペースト。   The solder paste according to claim 4, wherein the solder alloy powder contains Sn as a main material and contains 0.01 mass% to 0.5 mass% of Ni. 前記はんだ合金粉末はSnを主材料とし、Ag、Cu、Bi及びSbのいずれか2種以上を含み、
それぞれの含有量は、Agが0.1質量%から5質量%、Cuが0.5質量%から1質量%、Biが2質量%から4質量%、Sbが0.5質量%から3質量%であることを特徴とする請求項4または請求項5に記載のソルダーペースト。
The solder alloy powder is mainly composed of Sn, and includes any two or more of Ag, Cu, Bi and Sb,
Each content is 0.1 mass% to 5 mass% for Ag, 0.5 mass% to 1 mass% for Cu, 2 mass% to 4 mass% for Bi, and 0.5 mass% to 3 mass% for Sb. The solder paste according to claim 4 or 5, wherein the solder paste is%.
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