JP2017067568A - Inspection method and inspection system - Google Patents

Inspection method and inspection system Download PDF

Info

Publication number
JP2017067568A
JP2017067568A JP2015192271A JP2015192271A JP2017067568A JP 2017067568 A JP2017067568 A JP 2017067568A JP 2015192271 A JP2015192271 A JP 2015192271A JP 2015192271 A JP2015192271 A JP 2015192271A JP 2017067568 A JP2017067568 A JP 2017067568A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
holding
reaction
inspection
cleaning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015192271A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6477395B2 (en
Inventor
由美子 大鹿
Yumiko Oshika
由美子 大鹿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Brother Industries Ltd filed Critical Brother Industries Ltd
Priority to JP2015192271A priority Critical patent/JP6477395B2/en
Publication of JP2017067568A publication Critical patent/JP2017067568A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6477395B2 publication Critical patent/JP6477395B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection method and an inspection system that can obtain an accurate inspection result associated with liquid reaction while suppressing the amount of a used liquid which does not participate in the reaction.SOLUTION: In each process of centrifugal processing, centrifugal force is made to work on an inspection chip. Firstly, in a first liquid feeding process S1, a sample liquid as a liquid participating in reaction is moved from a sample liquid introduction part to a downstream side. In a first reaction process S2, the sample liquid is held at a reaction part. In a second liquid feeding process S3, the sample liquid is moved from the reaction part to a downstream side, and a first cleaning liquid as a liquid which does not participate in the reaction is moved from a first cleaning liquid introduction part to a downstream side. In a first cleaning process S4, the first cleaning liquid is held at the reaction part. Centrifugal force in the first reaction process is larger than centrifugal force in the first cleaning process.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、液体が内部で移動可能な検査チップを用いた検査方法及び検査システムに関する。   The present invention relates to an inspection method and an inspection system using an inspection chip in which a liquid can move.

従来、液体が内部で移動可能な検査チップを用いた検査方法及び検査システムが知られている(例えば、特許文献1、2参照)。特許文献1では、分析チップに収容された液体が、遠心力によって第7槽まで移動される。第7槽では、液体が遠心力の付与されていない状態で反応した後、反応済みの液体の光学測定が行われる。特許文献2に開示の免疫分析方法では、免疫分析チップ内の液体が遠心力によって反応室まで移動される。免疫分析チップに対して異なる2以上の遠心力が付与されることによって、測定範囲の異なる2以上の被検物質の測定結果が得られる。   Conventionally, an inspection method and an inspection system using an inspection chip in which a liquid can move inside are known (for example, refer to Patent Documents 1 and 2). In Patent Document 1, the liquid stored in the analysis chip is moved to the seventh tank by centrifugal force. In the seventh tank, after the liquid reacts in a state where centrifugal force is not applied, optical measurement of the reacted liquid is performed. In the immunoassay method disclosed in Patent Document 2, the liquid in the immunoassay chip is moved to the reaction chamber by centrifugal force. By applying two or more different centrifugal forces to the immunoassay chip, measurement results of two or more test substances having different measurement ranges can be obtained.

特開2013−50435号公報JP 2013-50435 A 特開2008−241698号公報JP 2008-241698 A

従来、検査チップ内の移動される液体として、反応に関与する液体と、反応に関与しない液体とが用いられる場合がある。反応に関与する液体は、試料液、標識抗体液、基質溶液等が例示される。反応に関与しない液体は、洗浄液等が例示される。検査チップを用いて液体反応を検査する場合、例えば検査チップのサイズ及び検査コストを抑制するため、反応に関与しない液体の使用量は少ない方が好ましい。しかしながら、反応に関与しない液体の使用量を抑制すると、液体反応に関する正確な検査結果を得ることができない可能性があった。   Conventionally, there are cases where a liquid involved in the reaction and a liquid not involved in the reaction are used as the liquid to be moved in the inspection chip. Examples of the liquid involved in the reaction include a sample solution, a labeled antibody solution, and a substrate solution. Examples of the liquid not involved in the reaction include a cleaning liquid. When inspecting a liquid reaction using an inspection chip, for example, in order to suppress the size and inspection cost of the inspection chip, it is preferable that the amount of liquid not involved in the reaction is small. However, if the amount of liquid that is not involved in the reaction is suppressed, there is a possibility that an accurate test result regarding the liquid reaction cannot be obtained.

本発明の目的は、反応に関与しない液体の使用量を抑制しつつ、液体反応に関する正確な検査結果が得られる検査方法及び検査システムを提供することである。   An object of the present invention is to provide an inspection method and an inspection system capable of obtaining an accurate inspection result relating to a liquid reaction while suppressing the amount of liquid that is not involved in the reaction.

本発明の第一態様は、検査チップに加速度を作用させて検査を行う検査方法であって、前記検査チップは、反応に関与する液体である第一液と、反応に関与しない液体である第二液とが導入される領域である導入部と、前記導入部の下流側に接続され、前記導入部から流出した前記第一液及び前記第二液を保持可能な領域である保持部と、を備え、前記検査方法は、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一液を前記導入部から下流側に移動させる第一移動工程と、前記第一移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記保持部に前記第一液を保持させる第一保持工程と、前記第一保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一液を前記保持部から下流側に移動させ、且つ前記第二液を前記導入部から下流側に移動させる第二移動工程と、前記第二移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記保持部に前記第二液を保持させる第二保持工程と、を備え、前記第一保持工程において前記検査チップに作用される加速度は、前記第二保持工程において前記検査チップに作用される加速度よりも大きいことを特徴とする。   A first aspect of the present invention is an inspection method for performing an inspection by applying acceleration to an inspection chip, wherein the inspection chip is a first liquid that is a liquid involved in a reaction and a liquid that is not involved in a reaction. An introduction part that is an area into which two liquids are introduced; a holding part that is connected to a downstream side of the introduction part and that can hold the first liquid and the second liquid that have flowed out of the introduction part; The inspection method includes: a first movement step for moving the first liquid downstream from the introduction unit by applying acceleration to the inspection chip; and after the execution of the first movement step, the inspection A first holding step in which the first liquid is held in the holding portion by applying acceleration to the chip, and an acceleration is applied to the inspection chip after execution of the first holding step. Is moved downstream from the holding portion, and the front After the second moving step for moving the second liquid downstream from the introducing portion and the second moving step, the holding portion holds the second liquid by applying acceleration to the inspection chip. A second holding step, wherein an acceleration applied to the inspection chip in the first holding step is greater than an acceleration applied to the inspection chip in the second holding step.

これによれば、検査方法の各工程において検査チップに加速度を作用されることで、以下のように液体が操作される。まず第一移動工程では、反応に関与する液体である第一液が導入部から下流側に移動される。次に第一保持工程では、第一液が保持部に保持される。次に第二移動工程では、第一液が保持部から下流側に移動され、且つ、反応に関与しない液体である第二液が導入部から下流側に移動される。次に第二保持工程では、第二液が保持部に保持される。第一保持工程の加速度は、第二保持工程の加速度よりも大きい。第一保持工程の加速度は第二保持工程の加速度よりも大きいので、第一保持工程において保持される第一液と保持部との間の表面張力と、第二保持工程において保持される第二液と保持部との間の表面張力では、第一液と保持部との間の表面張力の方が加速度によって相殺される方向の力が働きやすい。即ち、第一液と第二液との各液量が同等の場合、第二保持工程における第二液と保持部との接触面積は、第一保持工程における第一液と保持部との接触面積よりも大きい。第二液の液量が第一液の液量よりも少ない場合でも、第二液は保持部のうちで第一液と接触した領域の全体と接触可能である。従って、反応に関与しない液体の使用量を抑制しつつ、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。   According to this, the liquid is operated as follows by applying acceleration to the inspection chip in each step of the inspection method. First, in the first movement step, the first liquid, which is a liquid involved in the reaction, is moved downstream from the introduction part. Next, in the first holding step, the first liquid is held in the holding unit. Next, in the second movement step, the first liquid is moved downstream from the holding part, and the second liquid that is a liquid not involved in the reaction is moved downstream from the introduction part. Next, in the second holding step, the second liquid is held in the holding unit. The acceleration in the first holding process is larger than the acceleration in the second holding process. Since the acceleration in the first holding step is larger than the acceleration in the second holding step, the surface tension between the first liquid held in the first holding step and the holding portion and the second tension held in the second holding step. In the surface tension between the liquid and the holding part, a force in a direction in which the surface tension between the first liquid and the holding part is canceled by the acceleration tends to work. That is, when the liquid amounts of the first liquid and the second liquid are equal, the contact area between the second liquid and the holding part in the second holding process is the contact between the first liquid and the holding part in the first holding process. Greater than area. Even when the liquid volume of the second liquid is smaller than the liquid volume of the first liquid, the second liquid can contact the entire region of the holding portion that is in contact with the first liquid. Therefore, an accurate test result relating to the liquid reaction can be obtained while suppressing the amount of liquid that is not involved in the reaction.

前記保持部は、固相化抗体が配置された反応部を含み、前記第一液は、前記反応部において前記固相化抗体と反応する液体であり、前記第二液は、前記反応部を洗浄する洗浄液であり、前記第一保持工程は、前記第一液を前記反応部に保持させることで、前記第一液を前記固相化抗体と反応させ、前記第二保持工程は、前記第二液を前記反応部に保持させることで、前記第二液で前記反応部を洗浄してもよい。この場合、第一保持工程では、第一液が反応部に配置された固相化抗体と反応される。第二保持工程では、第二液によって反応部が洗浄される。これにより、反応に関与しない洗浄液の使用量を抑制しつつ、第二保持工程以降の工程において、反応部で液体を正確に反応させることができる。   The holding part includes a reaction part in which a solid-phased antibody is disposed, the first liquid is a liquid that reacts with the solid-phased antibody in the reaction part, and the second liquid is a liquid that reacts with the reaction part. The first holding step causes the first liquid to react with the immobilized antibody by holding the first liquid in the reaction part, and the second holding step includes the first holding step. You may wash | clean the said reaction part with said 2nd liquid by hold | maintaining two liquids in the said reaction part. In this case, in the first holding step, the first liquid is reacted with the immobilized antibody disposed in the reaction part. In the second holding step, the reaction part is washed with the second liquid. Thereby, in the process after a 2nd holding process, the liquid can be made to react correctly at the process part, suppressing the usage-amount of the washing | cleaning liquid which does not participate in reaction.

前記第一液は、検査対象物質を含む試料液と、酵素標識抗体を含む標識抗体液と、酵素標識抗体と酵素反応する基質溶液とを含み、前記第二液は、前記洗浄液として第一洗浄液及び第二洗浄液を含み、前記第一移動工程は、前記試料液を前記導入部から下流側に移動させ、前記第一保持工程は、前記試料液を前記反応部に保持させることで、前記検査対象物質を前記固相化抗体と結合させて第一結合体を生成し、前記第二移動工程は、前記第一洗浄液を前記導入部から下流側に移動させ、前記第二保持工程は、前記第一洗浄液を前記反応部に保持させることで、前記反応部に残存する前記第一結合体以外の成分を除去し、更に、前記検査方法は、前記第二保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一洗浄液を前記反応部から下流側に移動させ、且つ前記標識抗体液を前記導入部から下流側に移動させる第三移動工程と、前記第三移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記反応部に前記標識抗体液を保持させて、前記酵素標識抗体を前記第一結合体と特異的に結合させて第二結合体を生成する第三保持工程と、前記第三保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記標識抗体液を前記反応部から下流側に移動させ、且つ前記第二洗浄液を前記導入部から下流側に移動させる第四移動工程と、前記第四移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記反応部に前記第二洗浄液を保持させて、前記反応部に残存する前記第二結合体以外の成分を除去する第四保持工程と、前記第四保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第二洗浄液を前記反応部から下流側に移動させ、且つ前記基質溶液を前記導入部から下流側に移動させる第五移動工程と、前記第五移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記反応部に前記基質溶液を保持させて、前記基質溶液を前記第二結合体と反応させる第五保持工程と、を備え、前記第一保持工程、前記第三保持工程、及び前記第五保持工程の各々において前記検査チップに作用される加速度は、前記第二保持工程及び前記第四保持工程の各々において前記検査チップに作用される加速度よりも大きくてもよい。   The first solution includes a sample solution containing a substance to be examined, a labeled antibody solution containing an enzyme-labeled antibody, and a substrate solution that undergoes an enzyme reaction with the enzyme-labeled antibody, and the second solution is a first washing solution as the washing solution. And the second cleaning solution, wherein the first moving step moves the sample solution from the introduction unit to the downstream side, and the first holding step holds the sample solution in the reaction unit, thereby The target substance is bound to the solid-phased antibody to generate a first conjugate, the second moving step moves the first washing liquid downstream from the introduction part, and the second holding step includes By holding the first cleaning liquid in the reaction part, components other than the first conjugate remaining in the reaction part are removed, and the inspection method further includes the inspection chip after execution of the second holding step. By applying acceleration to the first cleaning liquid, By moving the reaction from the reaction unit to the downstream side and moving the labeled antibody solution from the introduction unit to the downstream side, and performing the third movement step, by applying acceleration to the test chip, Execution of the third holding step, in which the labeled antibody solution is held in the reaction section and the enzyme-labeled antibody is specifically bound to the first conjugate to generate a second conjugate, and the third holding step Thereafter, by applying acceleration to the test chip, a fourth moving step of moving the labeled antibody solution from the reaction unit to the downstream side and moving the second cleaning solution from the introduction unit to the downstream side; and After executing the fourth moving step, by applying acceleration to the inspection chip, the second cleaning liquid is retained in the reaction unit, and components other than the second conjugate remaining in the reaction unit are removed. A fourth holding step and the fourth holding step. A fifth moving step of moving the second cleaning liquid from the reaction unit to the downstream side and moving the substrate solution from the introduction unit to the downstream side by applying acceleration to the inspection chip after the step is performed; A fifth holding step of causing the reaction unit to hold the substrate solution by reacting the substrate solution with the second conjugate by applying acceleration to the test chip after execution of the fifth moving step; The acceleration applied to the inspection chip in each of the first holding step, the third holding step, and the fifth holding step is the second holding step and the fourth holding step, respectively. It may be greater than the acceleration applied to the inspection chip.

この場合、第一保持工程では、試料液が反応部に保持されて、検査対象物質と固相化抗体とが結合された第一結合体が生成される。第二保持工程では、第一洗浄液が反応部に保持されて、反応部に残存する第一結合体以外の成分が除去される。次に第三移動工程では、第一洗浄液が反応部から下流側に移動され、且つ標識抗体液が導入部から下流側に移動される。次に第三保持工程では、反応部に標識抗体液が保持されて、酵素標識抗体と第一結合体とが特異的に結合された第二結合体が生成される。次に第四移動工程では、標識抗体液が反応部から下流側に移動され、且つ第二洗浄液が導入部から下流側に移動される。次に第四保持工程では、反応部に第二洗浄液が保持されて、反応部に残存する第二結合体以外の成分が除去される。次に第五移動工程では、第二洗浄液が反応部から下流側に移動され、且つ基質溶液が導入部から下流側に移動される。次に第五保持工程では、反応部に基質溶液が保持されて、基質溶液が第二結合体と反応される。第一、第三、及び第五保持工程の各加速度は、第二及び第四保持工程の各加速度よりも大きい。   In this case, in the first holding step, the sample solution is held in the reaction unit, and a first conjugate in which the test target substance and the immobilized antibody are bound is generated. In the second holding step, the first cleaning liquid is held in the reaction part, and components other than the first conjugate remaining in the reaction part are removed. Next, in the third movement step, the first cleaning solution is moved downstream from the reaction unit, and the labeled antibody solution is moved downstream from the introduction unit. Next, in the third holding step, the labeled antibody solution is held in the reaction part to generate a second conjugate in which the enzyme-labeled antibody and the first conjugate are specifically bound. Next, in the fourth movement step, the labeled antibody solution is moved downstream from the reaction unit, and the second cleaning solution is moved downstream from the introduction unit. Next, in the fourth holding step, the second cleaning liquid is held in the reaction part, and components other than the second conjugate remaining in the reaction part are removed. Next, in the fifth movement step, the second cleaning liquid is moved downstream from the reaction part, and the substrate solution is moved downstream from the introduction part. Next, in the fifth holding step, the substrate solution is held in the reaction part, and the substrate solution is reacted with the second conjugate. Each acceleration in the first, third, and fifth holding steps is greater than each acceleration in the second and fourth holding steps.

即ち、反応部において第一液を反応させる各工程の加速度は、反応部を第二液で洗浄する各工程の加速度よりも大きい。これにより、第一、第三、及び第五保持工程の各々における第一液と反応部との間の表面張力と、第二及び第四保持工程の各々における第二液と反応部との間の表面張力では、第一液と反応部との間の表面張力の方が加速度によって相殺される方向の力が働きやすい。即ち、第一液と第二液との各液量が同等の場合、第一、第三、及び第五保持工程の各々における第一液と反応部との接触面積は、第二及び第四保持工程の各々における第二液と反応部との接触面積よりも大きい。第一洗浄液が試料液よりも少ない場合でも、第一洗浄液は反応部のうちで試料液と接触した領域の全体と接触可能であるため、反応部に残存する第一結合体以外の成分を確実に除去できる。第二洗浄液が標識抗体液よりも少ない場合でも、第二洗浄液は反応部のうちで標識抗体液と接触した領域の全体と接触可能であるため、反応部に残存する第二結合体以外の成分を確実に除去できる。従って、第五保持工程において基質溶液が第二結合体と反応された場合に、より正確な反応結果が得られる。   That is, the acceleration of each process in which the first liquid is reacted in the reaction part is larger than the acceleration of each process in which the reaction part is washed with the second liquid. Thereby, the surface tension between the first liquid and the reaction part in each of the first, third, and fifth holding processes, and the second liquid and the reaction part in each of the second and fourth holding processes. In this surface tension, a force in a direction in which the surface tension between the first liquid and the reaction portion is offset by the acceleration tends to work. That is, when the liquid amounts of the first liquid and the second liquid are equal, the contact area between the first liquid and the reaction part in each of the first, third, and fifth holding steps is the second and fourth. It is larger than the contact area between the second liquid and the reaction part in each of the holding steps. Even when the amount of the first cleaning liquid is less than that of the sample liquid, the first cleaning liquid can contact the entire region of the reaction part that has contacted the sample liquid, so that components other than the first conjugate remaining in the reaction part can be reliably ensured. Can be removed. Even when the second washing solution is less than the labeled antibody solution, the second washing solution can contact the entire region of the reaction portion that has contacted the labeled antibody solution, so that components other than the second conjugate remaining in the reaction portion Can be reliably removed. Therefore, a more accurate reaction result is obtained when the substrate solution is reacted with the second conjugate in the fifth holding step.

前記第一保持工程、前記第三保持工程、及び前記第五保持工程の各々において前記検査チップに作用される加速度は、前記第一移動工程、前記第三移動工程、及び前記第五移動工程の各々において前記検査チップに作用される加速度以下でもよい。この場合、反応部において第一液を反応させる各工程の加速度は、検査チップ内で液体を移動させる各工程の加速度以下である。これにより、検査方法の実行に伴うエネルギー消費を抑制でき、且つ、検査チップ内で液体を正確に移動させることができる。   The acceleration applied to the inspection chip in each of the first holding step, the third holding step, and the fifth holding step is the same as that of the first moving step, the third moving step, and the fifth moving step. The acceleration applied to the inspection chip in each case may be equal to or lower than the acceleration. In this case, the acceleration of each process for reacting the first liquid in the reaction unit is equal to or less than the acceleration of each process for moving the liquid in the inspection chip. Thereby, the energy consumption accompanying execution of a test | inspection method can be suppressed, and a liquid can be moved correctly within a test | inspection chip.

前記第一保持工程において前記検査チップに作用される加速度は、前記第三保持工程及び前記第五保持工程の各々において前記検査チップに作用される加速度以上でもよい。第一保持工程は第一、第三、及び第五保持工程のうちで最初に実行されるため、第一結合体の生成量は最終的な検査結果に与える影響が大きい。従って、第一保持工程の加速度を第三及び第五保持工程の各加速度以上にすることで、反応部における試料液の液面位置が正確に制御できる。これにより、試料液と反応部との接触面積が正確に制御されて、第一結合体の生成量が正確に制御されるため、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。   The acceleration applied to the inspection chip in the first holding step may be greater than or equal to the acceleration applied to the inspection chip in each of the third holding step and the fifth holding step. Since the first holding step is executed first among the first, third, and fifth holding steps, the amount of the first conjugate produced has a great influence on the final inspection result. Therefore, the liquid level position of the sample liquid in the reaction part can be accurately controlled by making the acceleration of the first holding process equal to or higher than the accelerations of the third and fifth holding processes. Thereby, the contact area between the sample liquid and the reaction part is accurately controlled, and the amount of the first conjugate produced is accurately controlled, so that an accurate test result regarding the liquid reaction can be obtained.

前記第二保持工程において前記検査チップに作用される加速度は、前記第四保持工程において前記検査チップに作用される加速度より大きくてもよい。この場合、第二保持工程の加速度は第四保持工程の加速度よりも大きいので、第二保持工程において保持される第一洗浄液と反応部との間の表面張力と、第四保持工程において保持される第二洗浄液と反応部との間の表面張力では、第一洗浄液と反応部との間の表面張力の方が加速度によって相殺される方向の力が働きやすい。即ち、第一洗浄液と第二洗浄液との各液量が同等の場合、第二保持工程における第一洗浄液と反応部との接触面積は、第四保持工程における第二洗浄液と反応部との接触面積よりも大きい。第二洗浄液の液量が第一洗浄液の液量よりも少ない場合でも、第二洗浄液は反応部のうちで第一洗浄液と接触した領域の全体と接触可能である。従って、反応に関与しない第二洗浄液の使用量を抑制しつつ、反応部の広範囲を洗浄できるため、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。   The acceleration applied to the inspection chip in the second holding step may be greater than the acceleration applied to the inspection chip in the fourth holding step. In this case, since the acceleration of the second holding step is larger than the acceleration of the fourth holding step, the surface tension between the first cleaning liquid and the reaction part held in the second holding step and the fourth holding step are held. In the surface tension between the second cleaning liquid and the reaction part, the force in the direction in which the surface tension between the first cleaning liquid and the reaction part is offset by the acceleration tends to work. That is, when the liquid amounts of the first cleaning liquid and the second cleaning liquid are equivalent, the contact area between the first cleaning liquid and the reaction part in the second holding process is the contact between the second cleaning liquid and the reaction part in the fourth holding process. Greater than area. Even when the amount of the second cleaning liquid is smaller than the amount of the first cleaning liquid, the second cleaning liquid can contact the entire region of the reaction portion that is in contact with the first cleaning liquid. Therefore, since the wide range of the reaction part can be cleaned while suppressing the amount of the second cleaning liquid not involved in the reaction, an accurate test result regarding the liquid reaction can be obtained.

前記第四移動工程は、前記第二洗浄液を複数回に分けて前記導入部から下流側に移動させる複数の洗浄液移動工程を含み、前記第四保持工程は、前記複数の洗浄液移動工程の各々が実行される毎に、前記導入部から下流側に移動された前記第二洗浄液を、前記標識抗体液が下流側に移動された後の前記反応部に保持させる複数の洗浄液保持工程を含み、前記複数の洗浄液排出工程は、前記複数の洗浄液排出工程のうちで最初に実行される初回洗浄工程と、前記初回洗浄工程よりも後に実行される少なくとも一つの後続洗浄工程とを含み、前記少なくとも一つの後続洗浄工程の各々において前記検査チップに作用される加速度は、前記初回洗浄工程において前記検査チップに作用される加速度以上でもよい。   The fourth moving step includes a plurality of cleaning liquid moving steps for dividing the second cleaning liquid into a plurality of times and moving the second cleaning liquid to the downstream side from the introduction unit, and the fourth holding step is performed by each of the plurality of cleaning liquid moving steps. A plurality of washing liquid holding steps for holding the second washing liquid moved downstream from the introduction part in the reaction part after the labeled antibody liquid has been moved downstream each time it is executed, The plurality of cleaning liquid discharge processes include an initial cleaning process that is first executed among the plurality of cleaning liquid discharging processes, and at least one subsequent cleaning process that is executed after the initial cleaning process, The acceleration applied to the inspection chip in each of the subsequent cleaning steps may be greater than or equal to the acceleration applied to the inspection chip in the initial cleaning step.

この場合、第四移動工程では、第二洗浄液が複数回に分けて導入部から下流側に移動される。第四保持工程は、第二洗浄液が導入部から下流側に移動される毎に実行される複数の洗浄液保持工程を含む。複数の洗浄液保持工程の各々では、導入部から下流側に移動された第二洗浄液が、標識抗体液が下流側に移動された後の反応部に保持される。複数の洗浄液保持工程は、最初に実行される初回洗浄工程と、その後に実行される後続洗浄工程とを含む。後続洗浄工程の加速度は、初回洗浄工程の加速度以上である。従って、複数の洗浄液保持工程によって、反応部に残存する第二結合体以外の成分除去が、複数回に分けて実行される。複数の洗浄液保持工程のうちで初回洗浄工程の加速度が最も大きいため、初回洗浄工程において第二洗浄液は反応部の広範囲を洗浄できる。   In this case, in the fourth moving step, the second cleaning liquid is moved to the downstream side from the introduction portion in a plurality of times. The fourth holding process includes a plurality of cleaning liquid holding processes that are executed each time the second cleaning liquid is moved downstream from the introduction unit. In each of the plurality of washing liquid holding steps, the second washing liquid moved downstream from the introduction part is held in the reaction part after the labeled antibody liquid has been moved downstream. The plurality of cleaning liquid holding processes include an initial cleaning process executed first and a subsequent cleaning process executed thereafter. The acceleration of the subsequent cleaning process is greater than or equal to the acceleration of the initial cleaning process. Therefore, removal of components other than the second conjugate remaining in the reaction part is performed in a plurality of times by a plurality of washing liquid holding steps. Since the acceleration of the initial cleaning process is the largest among the plurality of cleaning liquid holding processes, the second cleaning liquid can clean the wide range of the reaction part in the initial cleaning process.

前記第一液及び前記第二液の各々は、前記保持部の壁面に対して90度以下の接触角でもよい。この場合、第二液の液量が第一液の液量よりも少ない場合でも、第二液は保持部のうちで第一液と接触した領域の全体と接触可能である。従って、反応に関与しない第二液の使用量を抑制しつつ、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。   Each of the first liquid and the second liquid may have a contact angle of 90 degrees or less with respect to the wall surface of the holding portion. In this case, even when the liquid volume of the second liquid is smaller than the liquid volume of the first liquid, the second liquid can contact the entire region of the holding portion that is in contact with the first liquid. Therefore, an accurate test result relating to the liquid reaction can be obtained while suppressing the amount of the second liquid that is not involved in the reaction.

前記検査チップに作用される加速度は、遠心力でもよい。この場合、検査チップに遠心力を付与し、且つ遠心力の作用する方向を調整することで、上述の検査方法を実現できる。   The acceleration applied to the inspection chip may be a centrifugal force. In this case, the above-described inspection method can be realized by applying centrifugal force to the inspection chip and adjusting the direction in which the centrifugal force acts.

本発明の第二態様は、液体が内部で移動可能な検査チップと、前記検査チップに加速度を作用させる検査装置とを含む検査システムであって、前記検査チップは、反応に関与する液体である第一液と、反応に関与しない液体である第二液とが導入される領域である導入部と、前記導入部の下流側に接続され、前記導入部から流出した前記第一液及び前記第二液を保持可能な領域である保持部と、を備え、前記検査装置は、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一液を前記導入部から下流側に移動させる第一移動工程を実行する第一移動手段と、前記第一移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記保持部に前記第一液を保持させる第一保持工程を実行する第一保持手段と、前記第一保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一液を前記保持部から下流側に移動させ、且つ前記第二液を前記導入部から下流側に移動させる第二移動工程を実行する第二移動手段と、前記第二移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記保持部に前記第二液を保持させる第二保持工程を実行する第二保持手段と、を備え、前記第一保持工程において前記検査チップに作用される加速度は、前記第二保持工程において前記検査チップに作用される加速度よりも大きいことを特徴とする。これによれば、第一態様と同様の作用を奏する。   A second aspect of the present invention is an inspection system including an inspection chip in which a liquid can move and an inspection device that applies acceleration to the inspection chip, the inspection chip being a liquid involved in a reaction. An introduction part that is a region into which the first liquid and a second liquid that is not involved in the reaction are introduced; the first liquid that is connected to the downstream side of the introduction part and flows out of the introduction part; A first moving step of moving the first liquid from the introduction section to the downstream side by applying acceleration to the inspection chip. First holding means for executing the first holding step for holding the first liquid in the holding portion by applying acceleration to the inspection chip after the first moving step is executed. Means and after execution of the first holding step A second moving step is performed in which an acceleration is applied to the inspection chip to move the first liquid from the holding part to the downstream side and to move the second liquid from the introduction part to the downstream side. And a second holding unit that executes a second holding step of holding the second liquid in the holding unit by applying an acceleration to the inspection chip after the second moving step. The acceleration applied to the inspection chip in the first holding step is larger than the acceleration applied to the inspection chip in the second holding step. According to this, there exists an effect | action similar to a 1st aspect.

検査装置1及び制御装置90を含む検査システム3の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the test | inspection system 3 containing the test | inspection apparatus 1 and the control apparatus 90. FIG. 検査チップ2の正面図である。It is a front view of the test | inspection chip 2. FIG. 廃液部700近傍の拡大正面図である。It is an enlarged front view of the waste liquid part 700 vicinity. 遠心処理のフローチャートである。It is a flowchart of a centrifugation process. 遠心処理における検査チップ2の状態遷移図である。It is a state transition diagram of the test | inspection chip 2 in a centrifugation process. 図5から続く状態遷移図である。FIG. 6 is a state transition diagram continuing from FIG. 5. 図6から続く状態遷移図である。FIG. 7 is a state transition diagram continuing from FIG. 6. 反応部380を拡大した断面図である。It is sectional drawing to which the reaction part 380 was expanded.

本発明を具体化した実施形態について、図面を参照して説明する。図1は、検査システム3を構成する検査装置1の平面及び制御装置90の内部の機能ブロックを示す。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Embodiments embodying the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a plane of the inspection apparatus 1 constituting the inspection system 3 and functional blocks inside the control apparatus 90.

<1.検査システム3の概略構造>
図1を参照して、検査システム3の概略構造を説明する。本実施形態の検査システム3は、液体である検体及び試薬を収容可能な検査チップ2と、検査チップ2を用いて検査を行う検査装置1とを含む。検査装置1が検査チップ2から離間した垂直軸線A1を中心として検査チップ2を回転させると、遠心力が検査チップ2に作用する。検査装置1が水平軸線A2を中心に検査チップ2を回転させると、検査チップ2からみた検査チップ2に作用する遠心力の方向が切り替えられる。尚、本実施形態の検査システム3及び検査装置1は、特開2012−78107号公報に記載されているように周知の構造であるので、以下の説明では、検査装置1の概略構造を説明する。
<1. Schematic structure of inspection system 3>
A schematic structure of the inspection system 3 will be described with reference to FIG. The inspection system 3 of the present embodiment includes an inspection chip 2 that can store a sample and a reagent that are liquids, and an inspection apparatus 1 that performs an inspection using the inspection chip 2. When the inspection device 1 rotates the inspection chip 2 around the vertical axis A <b> 1 separated from the inspection chip 2, centrifugal force acts on the inspection chip 2. When the inspection device 1 rotates the inspection chip 2 around the horizontal axis A2, the direction of the centrifugal force acting on the inspection chip 2 as viewed from the inspection chip 2 is switched. In addition, since the inspection system 3 and the inspection apparatus 1 according to the present embodiment have a well-known structure as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-78107, the schematic structure of the inspection apparatus 1 will be described below. .

<2.検査装置1の構造>
図1を参照して、検査装置1の構造を説明する。以下の説明では、図1の上方、下方、右方、左方、紙面手前側、及び紙面奥側を、夫々、検査装置1の前方、後方、右方、左方、上方、及び下方とする。本実施形態では、垂直軸線A1の方向は検査装置1の上下方向であり、水平軸線A2の方向は、検査チップ2が垂直軸線A1を中心として回転される際の速度の方向である。図1は検査装置1の上部筐体30の天板が取り除かれた状態を示す。
<2. Structure of the inspection apparatus 1>
The structure of the inspection apparatus 1 will be described with reference to FIG. In the following description, the upper side, the lower side, the right side, the left side, the front side of the paper surface, and the rear side of the paper surface in FIG. . In the present embodiment, the direction of the vertical axis A1 is the vertical direction of the inspection apparatus 1, and the direction of the horizontal axis A2 is the direction of the speed when the inspection chip 2 is rotated about the vertical axis A1. FIG. 1 shows a state in which the top plate of the upper housing 30 of the inspection apparatus 1 has been removed.

図1に示すように、検査装置1は、上部筐体30、下部筐体31、上板32、ターンテーブル33、角度変更機構34、及び制御装置90を備える。ターンテーブル33は、後述する上板32の上側に回転可能に設けられた円盤である。検査チップ2は、ターンテーブル33の上方に保持される。角度変更機構34は、ターンテーブル33に設けられた駆動機構である。角度変更機構34は、水平軸線A2を中心に検査チップ2を各々回転させる。上部筐体30は、後述する上板32に固定されており、検査チップ2に対して光学測定を行う測定部7が内部に設けられている。制御装置90は、検査装置1の各種処理を制御するコントローラである。   As shown in FIG. 1, the inspection apparatus 1 includes an upper housing 30, a lower housing 31, an upper plate 32, a turntable 33, an angle changing mechanism 34, and a control device 90. The turntable 33 is a disk rotatably provided on the upper side of an upper plate 32 described later. The inspection chip 2 is held above the turntable 33. The angle changing mechanism 34 is a drive mechanism provided on the turntable 33. The angle changing mechanism 34 rotates each of the inspection chips 2 around the horizontal axis A2. The upper housing 30 is fixed to an upper plate 32 described later, and a measurement unit 7 that performs optical measurement on the inspection chip 2 is provided inside. The control device 90 is a controller that controls various processes of the inspection device 1.

下部筐体31の概略構造を説明する。下部筐体31は、枠部材を組み合わせた箱状のフレーム構造を有する。下部筐体31の上面には、長方形の板材である上板32が設けられている。下部筐体31の内部には、垂直軸線A1を中心にターンテーブル33を回転させる駆動機構が、次のように設けられている。   A schematic structure of the lower housing 31 will be described. The lower housing 31 has a box-shaped frame structure in which frame members are combined. An upper plate 32 that is a rectangular plate material is provided on the upper surface of the lower housing 31. A drive mechanism that rotates the turntable 33 around the vertical axis A1 is provided in the lower housing 31 as follows.

下部筐体31内の左方寄りに、ターンテーブル33を回転させるための駆動力を供給する主軸モータ35が設置されている。主軸モータ35の軸36は、上方に突出しており、プーリ37が固定されている。下部筐体31の中央部には、下部筐体31の内部から上方に延びる垂直な主軸57が設けられている。主軸57は、上板32を貫通して、下部筐体31の上側に突出している。主軸57の上端部は、ターンテーブル33の中央部に接続されている。   A spindle motor 35 that supplies a driving force for rotating the turntable 33 is installed on the left side in the lower housing 31. A shaft 36 of the main shaft motor 35 protrudes upward, and a pulley 37 is fixed. A vertical main shaft 57 extending upward from the inside of the lower housing 31 is provided at the center of the lower housing 31. The main shaft 57 passes through the upper plate 32 and protrudes above the lower housing 31. The upper end portion of the main shaft 57 is connected to the center portion of the turntable 33.

主軸57は、上板32の直下に設けられた図示しない支持部材により、回転自在に保持されている。支持部材の下側では、主軸57にプーリ38が固定されている。プーリ37とプーリ38とに亘って、ベルト39が掛け渡されている。主軸モータ35が軸36を回転させると、プーリ37、ベルト39、及びプーリ38を介して駆動力が主軸57に伝達される。このとき、主軸57の回転に連動して、ターンテーブル33が主軸57を中心に回転する。   The main shaft 57 is rotatably held by a support member (not shown) provided immediately below the upper plate 32. A pulley 38 is fixed to the main shaft 57 below the support member. A belt 39 is stretched over the pulley 37 and the pulley 38. When the main shaft motor 35 rotates the shaft 36, the driving force is transmitted to the main shaft 57 via the pulley 37, the belt 39, and the pulley 38. At this time, the turntable 33 rotates around the main shaft 57 in conjunction with the rotation of the main shaft 57.

下部筐体31内の右方寄りに、下部筐体31の内部において上下方向に延びる図示しないガイドレールが設けられている。図示しないT型プレートは、ガイドレールに沿って下部筐体31内において上下方向に移動可能である。   A guide rail (not shown) extending in the vertical direction inside the lower housing 31 is provided on the right side in the lower housing 31. A T-shaped plate (not shown) is movable in the vertical direction in the lower housing 31 along the guide rail.

先述の主軸57は、内部が中空の筒状体である。図示しない内軸は、主軸57の内部において上下方向に移動可能な軸である。内軸の上端部は、主軸57内を貫通してラックギア43に接続されている。T型プレートの左端部には、図示しない軸受が設けられている。軸受の内部では、内軸の下端部が回転自在に保持される。   The aforementioned main shaft 57 is a cylindrical body having a hollow inside. An inner shaft (not shown) is a shaft that can move in the vertical direction inside the main shaft 57. The upper end portion of the inner shaft passes through the main shaft 57 and is connected to the rack gear 43. A bearing (not shown) is provided at the left end of the T-shaped plate. Inside the bearing, the lower end portion of the inner shaft is rotatably held.

T型プレートの前方には、T型プレートを上下動させるためのステッピングモータ51が固定されている。ステッピングモータ51の軸58は後方、すなわち図1では下方側に向けて突出している。軸58の先端には、図示しない円盤状のカム板が固定されている。カム板の後側の面には、図示しない円柱状の突起が設けられている。突起の先端部は、図示しない溝部に挿入されている。突起は、溝部内を摺動可能である。ステッピングモータ51が軸58を回転させると、カム板の回転に連動して突起が上下動する。このとき、溝部に挿入されている突起に連動して、T型プレートがガイドレールに沿って上下動する。   A stepping motor 51 for moving the T-shaped plate up and down is fixed in front of the T-shaped plate. The shaft 58 of the stepping motor 51 protrudes rearward, that is, downward in FIG. A disc-shaped cam plate (not shown) is fixed to the tip of the shaft 58. A cylindrical projection (not shown) is provided on the rear surface of the cam plate. The tip of the protrusion is inserted into a groove (not shown). The protrusion can slide in the groove. When the stepping motor 51 rotates the shaft 58, the protrusion moves up and down in conjunction with the rotation of the cam plate. At this time, the T-shaped plate moves up and down along the guide rail in conjunction with the protrusion inserted in the groove.

角度変更機構34の詳細構造を説明する。角度変更機構34は、ターンテーブル33の上面に固定された一対のL型プレート60を有する。各L型プレート60は、ターンテーブル33の中心近傍に固定された基部から上方に延び、且つ、その上端部がターンテーブル33の径方向外側に向けて延びている。一対のL型プレート60の間には、内軸に固定された図示しないラックギア43が設けられている。ラックギア43は、上下方向に長い金属製の板状部材であり、両端面にギアが各々刻まれている。   The detailed structure of the angle changing mechanism 34 will be described. The angle changing mechanism 34 has a pair of L-shaped plates 60 fixed to the upper surface of the turntable 33. Each L-shaped plate 60 extends upward from a base portion fixed in the vicinity of the center of the turntable 33, and its upper end portion extends outward in the radial direction of the turntable 33. A rack gear 43 (not shown) fixed to the inner shaft is provided between the pair of L-shaped plates 60. The rack gear 43 is a metal plate-like member that is long in the vertical direction, and gears are respectively carved on both end faces.

各L型プレート60の延設方向の先端側では、ギア45を有する水平な支軸46が回転自在に軸支されている。支軸46は図示外の装着用ホルダを介して検査チップ2に固定されている。このため、ギア45の回転に連動して検査チップ2も支軸46を中心に回転する。ギア45とラックギア43との間には、L型プレート60により図示略の水平軸線を中心に回転自在に支持されたピニオンギア44が介在している。ピニオンギア44は、ギア45及びラックギア43に夫々噛合している。ラックギア43の上下動に連動して、ピニオンギア44、及びギア45が夫々従動回転し、ひいては検査チップ2が支軸46を中心に回転する。   On the front end side in the extending direction of each L-shaped plate 60, a horizontal support shaft 46 having a gear 45 is rotatably supported. The support shaft 46 is fixed to the inspection chip 2 via a mounting holder (not shown). For this reason, the inspection chip 2 also rotates around the support shaft 46 in conjunction with the rotation of the gear 45. Between the gear 45 and the rack gear 43, a pinion gear 44 supported by an L-shaped plate 60 so as to be rotatable about a horizontal axis (not shown) is interposed. The pinion gear 44 meshes with the gear 45 and the rack gear 43, respectively. In conjunction with the vertical movement of the rack gear 43, the pinion gear 44 and the gear 45 are driven to rotate, and the inspection chip 2 is rotated about the support shaft 46.

本実施形態では、主軸モータ35がターンテーブル33を回転駆動するのに伴って、検査チップ2が垂直軸である主軸57を中心に回転して、検査チップ2に遠心力が作用される。検査チップ2の垂直軸線A1を中心とした回転を、公転と呼ぶ。一方、ステッピングモータ51が内軸を上下動させるのに伴って、検査チップ2が水平軸である支軸46を中心に回転して、検査チップ2に作用する遠心力の方向が相対変化する。検査チップ2の水平軸線A2を中心とした回転を、自転と呼ぶ。   In the present embodiment, as the main shaft motor 35 rotationally drives the turntable 33, the inspection chip 2 rotates around the main shaft 57 that is a vertical axis, and a centrifugal force acts on the inspection chip 2. The rotation around the vertical axis A1 of the inspection chip 2 is referred to as revolution. On the other hand, as the stepping motor 51 moves the inner shaft up and down, the inspection chip 2 rotates about the support shaft 46 which is a horizontal axis, and the direction of the centrifugal force acting on the inspection chip 2 changes relatively. The rotation around the horizontal axis A2 of the inspection chip 2 is called autorotation.

T型プレートが可動範囲の最下端まで下降した状態では、ラックギア43も可動範囲の最下端まで下降する。このとき、検査チップ2は、自転角度が0度の定常状態になる。また、T型プレートが可動範囲の最上端まで上昇した状態では、ラックギア43も可動範囲の最上端まで上昇する。このとき、検査チップ2は、定常状態から水平軸線A2を中心に180度回転した状態になる。つまり、検査チップ2が自転可能な角度幅は、自転角度0度〜180度である。本実施形態では、後述の遠心処理(図4参照)において、自転角度が0度〜90度の角度幅で制御される。   In a state where the T-shaped plate is lowered to the lowermost end of the movable range, the rack gear 43 is also lowered to the lowermost end of the movable range. At this time, the inspection chip 2 is in a steady state where the rotation angle is 0 degree. Further, in the state where the T-shaped plate is raised to the uppermost end of the movable range, the rack gear 43 is also raised to the uppermost end of the movable range. At this time, the test | inspection chip 2 will be in the state rotated 180 degree | times centering on the horizontal axis line A2 from the steady state. That is, the angle width that the inspection chip 2 can rotate is the rotation angle of 0 to 180 degrees. In the present embodiment, the rotation angle is controlled with an angle width of 0 degree to 90 degrees in a centrifugal process (see FIG. 4) described later.

上部筐体30の詳細構造を説明する。図1に示すように、上部筐体30は、枠部材を組み合わせた箱状のフレーム構造を有し、上板32の左部上側に設置されている。より詳細には、上部筐体30は、ターンテーブル33の回転中心にある主軸57からみて、検査チップ2が回転される範囲の外側に設けられている。   The detailed structure of the upper housing 30 will be described. As shown in FIG. 1, the upper housing 30 has a box-like frame structure in which frame members are combined, and is installed on the upper left side of the upper plate 32. More specifically, the upper housing 30 is provided outside the range in which the inspection chip 2 is rotated as viewed from the main shaft 57 at the rotation center of the turntable 33.

上部筐体30の内部に設けられた測定部7は、測定光を発光する光源71と、光源71から発せられた測定光を検出する光センサ72とを有する。光源71及び光センサ72は、検査チップ2の回転範囲の外側において、ターンテーブル33の前後両側に配置されている。本実施形態では、検査チップ2の公転可能範囲のうちで主軸57の左側位置が、検査チップ2に測定光が照射される測定位置である。検査チップ2が測定位置にある場合、光源71と光センサ72とを結ぶ測定光が、検査チップ2の前面及び後面に対して略垂直に交差する。   The measurement unit 7 provided inside the upper housing 30 includes a light source 71 that emits measurement light, and an optical sensor 72 that detects the measurement light emitted from the light source 71. The light source 71 and the optical sensor 72 are disposed on both the front and rear sides of the turntable 33 outside the rotation range of the inspection chip 2. In the present embodiment, the position on the left side of the main shaft 57 in the reciprocable range of the inspection chip 2 is the measurement position at which the inspection chip 2 is irradiated with the measurement light. When the inspection chip 2 is at the measurement position, the measurement light connecting the light source 71 and the optical sensor 72 intersects the front surface and the rear surface of the inspection chip 2 substantially perpendicularly.

<3.制御装置90の電気的構成>
図1を参照して、制御装置90の電気的構成を説明する。制御装置90は、検査装置1の主制御を司るCPU101と、各種データを一時的に記憶するRAM102と、制御プログラムを記憶したROM103とを有する。CPU101には、ユーザが制御装置90に対する指示を入力するための操作部104と、各種データ、及びプログラムを記憶するハードディスク装置105と、各種情報を表示するディスプレイ106とが接続されている。制御装置90としては、パーソナルコンピュータを用いてもよいし、専用の制御装置を用いてもよい。
<3. Electrical configuration of control device 90>
The electrical configuration of the control device 90 will be described with reference to FIG. The control device 90 includes a CPU 101 that controls the main control of the inspection device 1, a RAM 102 that temporarily stores various data, and a ROM 103 that stores a control program. Connected to the CPU 101 are an operation unit 104 for a user to input an instruction to the control device 90, a hard disk device 105 for storing various data and programs, and a display 106 for displaying various information. As the control device 90, a personal computer may be used, or a dedicated control device may be used.

更にCPU101には、公転コントローラ97、自転コントローラ98、及び測定コントローラ99が接続されている。公転コントローラ97は、主軸モータ35を回転駆動させる制御信号を主軸モータ35に送信することによって、検査チップ2の公転を制御する。自転コントローラ98は、ステッピングモータ51を回転駆動させる制御信号をステッピングモータ51に送信することによって、検査チップ2の自転を制御する。測定コントローラ99は、測定部7を駆動することによって、検査チップ2の光学測定を実行する。詳細には、測定コントローラ99は、光源71の発光、及び光センサ72の光検出を実行させる制御信号を、光源71及び光センサ72に送信する。尚、CPU101が公転コントローラ97、自転コントローラ98及び測定コントローラ99を制御する。   Further, a revolution controller 97, a rotation controller 98, and a measurement controller 99 are connected to the CPU 101. The revolution controller 97 controls the revolution of the inspection chip 2 by transmitting a control signal for rotating the spindle motor 35 to the spindle motor 35. The rotation controller 98 controls the rotation of the inspection chip 2 by transmitting a control signal for rotating the stepping motor 51 to the stepping motor 51. The measurement controller 99 performs the optical measurement of the inspection chip 2 by driving the measurement unit 7. Specifically, the measurement controller 99 transmits a control signal for executing light emission of the light source 71 and light detection of the optical sensor 72 to the light source 71 and the optical sensor 72. The CPU 101 controls the revolution controller 97, the rotation controller 98, and the measurement controller 99.

<4.検査チップ2の全体構造>
図2を参照して、本実施形態に係る検査チップ2の全体構造を説明する。以下の説明では、図2の上方、下方、左方、右方、紙面手前側、及び紙面奥側を、それぞれ、検査チップ2の上方、下方、左方、右方、前方、及び後方とする。本実施形態では、検査チップ2が使用され、ELISA法によって検査が行われる。
<4. Overall Structure of Inspection Chip 2>
With reference to FIG. 2, the whole structure of the test | inspection chip 2 based on this embodiment is demonstrated. In the following description, the upper, lower, left, right, front side, and back side of FIG. 2 are the upper, lower, left, right, front, and rear sides of the inspection chip 2, respectively. . In the present embodiment, the inspection chip 2 is used, and the inspection is performed by the ELISA method.

図2に示すように、検査チップ2は一例として前方から見た場合に上辺部81、下辺部84、右辺部82、及び左辺部83を有する正方形状であり、所定の厚みを有する透明な合成樹脂の板材19を主体とする。板材19の前面203は、透明の合成樹脂の薄板から構成されたシート291によって封止されている。板材19とシート291との間には、検査チップ2に封入された液体が流動可能な液体流路25が形成されている。液体流路25は、前面203に所定深さに形成された凹部であり、板材19の厚み方向である前後方向と直交する方向に延びる。シート291は、板材19の流路形成面を封止する。シート291は、図2以外では図示を省略している。   As shown in FIG. 2, the inspection chip 2 has a square shape having an upper side portion 81, a lower side portion 84, a right side portion 82, and a left side portion 83 when viewed from the front as an example, and is a transparent composite having a predetermined thickness. Resin plate 19 is mainly used. The front surface 203 of the plate 19 is sealed with a sheet 291 made of a transparent synthetic resin thin plate. Between the plate material 19 and the sheet 291, a liquid flow path 25 is formed through which the liquid sealed in the inspection chip 2 can flow. The liquid channel 25 is a recess formed at a predetermined depth on the front surface 203 and extends in a direction orthogonal to the front-rear direction, which is the thickness direction of the plate material 19. The sheet 291 seals the flow path forming surface of the plate material 19. The sheet 291 is not shown except in FIG.

液体流路25は、試料液導入部310、第一洗浄液導入部320、標識抗体液導入部330、第二洗浄液導入部340、基質溶液導入部350、停止液導入部360、共通受部370、反応部380、測定部390、廃液部700、第一受部450、第二受部460、第三受部470、第四受部550、注入路480,490.500,510,520,530等を含む。試料液導入部310、第一洗浄液導入部320、標識抗体液導入部330、第二洗浄液導入部340、基質溶液導入部350、停止液導入部360、反応部380、及び測定部390は、夫々下方向に凹み、上方に開口している。   The liquid flow path 25 includes a sample solution introduction unit 310, a first washing solution introduction unit 320, a labeled antibody solution introduction unit 330, a second washing solution introduction unit 340, a substrate solution introduction unit 350, a stop solution introduction unit 360, a common receiving unit 370, Reaction unit 380, measurement unit 390, waste liquid unit 700, first receiving unit 450, second receiving unit 460, third receiving unit 470, fourth receiving unit 550, injection path 480, 490.500, 510, 520, 530, etc. including. The sample solution introduction unit 310, the first washing solution introduction unit 320, the labeled antibody solution introduction unit 330, the second washing solution introduction unit 340, the substrate solution introduction unit 350, the stop solution introduction unit 360, the reaction unit 380, and the measurement unit 390, respectively. It is recessed downward and opens upward.

反応部380を形成する壁面には、固相化された抗体である固相化抗体が配置されている。試料液導入部310、第一洗浄液導入部320、標識抗体液導入部330、第二洗浄液導入部340、基質溶液導入部350、及び停止液導入部360は、夫々、試料液91、第一洗浄液92、標識抗体液93、第二洗浄液94、基質溶液95、停止液96が保持される部位である。   A solid phased antibody, which is a solid phased antibody, is disposed on the wall surface forming the reaction part 380. The sample solution introduction unit 310, the first washing solution introduction unit 320, the labeled antibody solution introduction unit 330, the second washing solution introduction unit 340, the substrate solution introduction unit 350, and the stop solution introduction unit 360 are the sample solution 91 and the first washing solution, respectively. 92, a site where the labeled antibody solution 93, the second washing solution 94, the substrate solution 95, and the stop solution 96 are held.

試料液91は、例えば、血液、血漿、血球、骨髄、尿、膣組織、上皮組織、腫瘍、精液、唾液、動物の組織、動物の血液、又は食料品などの検査対象物質の成分を含む液体である。試料液91に含まれる検査対象物質は、固相化抗体と結合される。第一洗浄液92は、固相化抗体と結合していない試料液91の成分を除去するための液体である。標識抗体液93は、酵素標識抗体を含む液体である。酵素標識抗体は、酵素で標識された抗体である。標識抗体液93に含まれる酵素標識抗体は、検査対象物質及び固相化抗体の結合体と特異的に結合される。   The sample liquid 91 is, for example, a liquid containing components of a test target substance such as blood, plasma, blood cells, bone marrow, urine, vaginal tissue, epithelial tissue, tumor, semen, saliva, animal tissue, animal blood, or foodstuffs. It is. The substance to be examined contained in the sample solution 91 is combined with the immobilized antibody. The first washing liquid 92 is a liquid for removing components of the sample liquid 91 that are not bound to the immobilized antibody. The labeled antibody solution 93 is a liquid containing an enzyme labeled antibody. An enzyme-labeled antibody is an antibody labeled with an enzyme. The enzyme-labeled antibody contained in the labeled antibody solution 93 is specifically bound to the test substance and the conjugate of the immobilized antibody.

第二洗浄液94は、検査対象物質及び固相化抗体の結合体と結合していない標識抗体液93の成分を除去するための液体である。基質溶液95は、第二洗浄液94によって洗浄された後の固相化抗体に接触されて、酵素標識抗体と酵素反応される液体である。停止液96は、基質溶液95と混合されて、酵素反応の進行を停止させるための液体である。本実施形態では、後述する光学測定において、基質溶液95が酵素反応することによって生じる蛍光物質又は呈色物質が検出されて、検査対象物質が測定される。   The second washing liquid 94 is a liquid for removing the components of the labeled antibody liquid 93 that are not bound to the conjugate of the substance to be examined and the immobilized antibody. The substrate solution 95 is a liquid that is brought into contact with the solid-phased antibody after being washed with the second washing liquid 94 and is enzymatically reacted with the enzyme-labeled antibody. The stop solution 96 is a liquid that is mixed with the substrate solution 95 to stop the progress of the enzyme reaction. In the present embodiment, in the optical measurement described later, a fluorescent substance or a colored substance generated by the enzyme reaction of the substrate solution 95 is detected, and the inspection target substance is measured.

本実施形態では、試料液91、第一洗浄液92、標識抗体液93、第二洗浄液94、基質溶液95、及び停止液96の各々と、液体流路25を形成する壁面とが静的に接触した場合になす角度である接触角は、何れも90度以下である。以下では、理解を容易にするために、試料液91、第一洗浄液92、標識抗体液93、第二洗浄液94、基質溶液95、及び停止液96の各接触角は、互いに同じであるものとする。   In the present embodiment, each of the sample liquid 91, the first cleaning liquid 92, the labeled antibody liquid 93, the second cleaning liquid 94, the substrate solution 95, and the stop liquid 96 and the wall surface forming the liquid flow path 25 are in static contact with each other. The contact angle, which is the angle formed in this case, is 90 degrees or less. Hereinafter, in order to facilitate understanding, the contact angles of the sample liquid 91, the first cleaning liquid 92, the labeled antibody liquid 93, the second cleaning liquid 94, the substrate solution 95, and the stop liquid 96 are the same as each other. To do.

試料液導入部310は、検査チップ2の右上部に設けられている。注入路480は、試料液導入部310の左上部から上方に延び、上辺部81を貫通する。注入路480は、試料液導入部310に試料液91が注入される部位である。第一洗浄液導入部320は、試料液導入部310より下方向に位置する。注入路490は、第一洗浄液導入部320の左上部から上方に延び、上辺部81を貫通する。注入路490は、第一洗浄液導入部320に第一洗浄液92を注入する部位である。第一洗浄液導入部320の右下方には、共通受部370が設けられている。共通受部370は、上方に開口する凹部である。試料液導入部310の右上部と第一洗浄液導入部320の右上部とは、下方に延びる流路610を介して共通受部370に接続されている。   The sample liquid introduction part 310 is provided in the upper right part of the inspection chip 2. The injection path 480 extends upward from the upper left part of the sample solution introduction part 310 and penetrates the upper side part 81. The injection path 480 is a part where the sample liquid 91 is injected into the sample liquid introduction unit 310. The first cleaning liquid introduction unit 320 is positioned below the sample liquid introduction unit 310. The injection path 490 extends upward from the upper left part of the first cleaning liquid introduction part 320 and penetrates the upper side part 81. The injection path 490 is a part for injecting the first cleaning liquid 92 into the first cleaning liquid introduction part 320. A common receiving part 370 is provided on the lower right side of the first cleaning liquid introducing part 320. The common receiving part 370 is a recessed part opened upward. The upper right part of the sample liquid introduction part 310 and the upper right part of the first cleaning liquid introduction part 320 are connected to the common receiving part 370 via a flow path 610 extending downward.

停止液導入部360は、検査チップ2の左上部に設けられている。注入路530は、停止液導入部360の左上部から上方に延び、上辺部81を貫通する。注入路530は、停止液導入部360に停止液96を注入する部位である。基質溶液導入部350は、停止液導入部360より下方に位置する。注入路520は、基質溶液導入部350の左上部から上方に延び、上辺部81を貫通する。注入路520は、基質溶液導入部350に基質溶液95を注入する部位である。   The stop liquid introducing part 360 is provided in the upper left part of the inspection chip 2. The injection path 530 extends upward from the upper left portion of the stop liquid introducing portion 360 and penetrates the upper side portion 81. The injection path 530 is a part for injecting the stop liquid 96 into the stop liquid introducing part 360. The substrate solution introduction unit 350 is located below the stop solution introduction unit 360. The injection path 520 extends upward from the upper left part of the substrate solution introduction part 350 and penetrates the upper side part 81. The injection path 520 is a part for injecting the substrate solution 95 into the substrate solution introduction part 350.

第二洗浄液導入部340は、基質溶液導入部350より下方に位置する。注入路510は、第二洗浄液導入部340の左上部から上方に延び、上辺部81を貫通する。注入路510は、第二洗浄液導入部340に第二洗浄液94を注入する部位である。標識抗体液導入部330は、基質溶液導入部350より下方に位置する。注入路500は、標識抗体液導入部330の左上部から上方に延び、上辺部81を貫通する。注入路500は、標識抗体液導入部330に標識抗体液93を注入する部位である。   The second cleaning liquid introduction unit 340 is located below the substrate solution introduction unit 350. The injection path 510 extends upward from the upper left part of the second cleaning liquid introduction part 340 and penetrates the upper side part 81. The injection path 510 is a part for injecting the second cleaning liquid 94 into the second cleaning liquid introduction part 340. The labeled antibody solution introduction unit 330 is located below the substrate solution introduction unit 350. The injection path 500 extends upward from the upper left part of the labeled antibody solution introduction part 330 and penetrates the upper side part 81. The injection path 500 is a part for injecting the labeled antibody solution 93 into the labeled antibody solution introduction unit 330.

試料液導入部310を形成する壁面のうちの下流の壁面を、第一壁面501という。第一洗浄液導入部320を形成する壁面のうちの下流の壁面を、第二壁面502という。標識抗体液導入部330を形成する壁面のうちの下流の壁面を、第三壁面503という。停止液導入部360を形成する壁面のうちの下流の壁面を、第四壁面504という。基質溶液導入部350を形成する壁面のうちの下流の壁面を、第五壁面505という。第二洗浄液導入部340を形成する壁面のうちの下流の壁面を、第六壁面506という。   The wall surface downstream of the wall surfaces forming the sample liquid introduction part 310 is referred to as a first wall surface 501. The downstream wall surface among the wall surfaces forming the first cleaning liquid introducing section 320 is referred to as a second wall surface 502. The downstream wall surface among the wall surfaces forming the labeled antibody solution introducing portion 330 is referred to as a third wall surface 503. The downstream wall surface among the wall surfaces forming the stop liquid introducing portion 360 is referred to as a fourth wall surface 504. The downstream wall surface among the wall surfaces forming the substrate solution introducing portion 350 is referred to as a fifth wall surface 505. The downstream wall surface among the wall surfaces forming the second cleaning liquid introducing portion 340 is referred to as a sixth wall surface 506.

第一〜第六壁面501〜506の傾斜角を、夫々、R1、R2、R3、R4、R5、及びR6とする。図2においては、一例として、傾斜角R1〜R6を、第一〜第六壁面501〜506の夫々と下方向とのなす角で示す。傾斜角R1〜R6は、以下の式(1)の関係を有する。
R3,R4,R5,R6>R2>R1 ・・・(1)
なおR3〜R6は、本実施形態では互いに同じ角度であるが、互いに異なる角度でもよい。
The inclination angles of the first to sixth wall surfaces 501 to 506 are R1, R2, R3, R4, R5, and R6, respectively. In FIG. 2, as an example, the inclination angles R <b> 1 to R <b> 6 are shown by angles formed by the first to sixth wall surfaces 501 to 506 and the downward direction. The inclination angles R1 to R6 have the relationship of the following formula (1).
R3, R4, R5, R6>R2> R1 (1)
In addition, although R3-R6 are mutually the same angle in this embodiment, they may be mutually different angles.

第一受部450は、停止液導入部360の右上部分から下方向に延びる流路である。第一受部450は、右方に凹んでいる。第一受部450の左下部は、基質溶液導入部350に接続されている。第二受部460は、基質溶液導入部350の右上部分から下方向に延びる流路である。第二受部460は、右方に凹んでいる。第二受部460の左下部は、第二洗浄液導入部340に接続されている。第三受部470は、第二洗浄液導入部340の右上部分から下方向に延びる流路である。第三受部470は、右方に凹んでいる。第三受部470の左下部は、標識抗体液導入部330に接続されている。   The first receiving part 450 is a flow path that extends downward from the upper right part of the stop liquid introducing part 360. The first receiving portion 450 is recessed to the right. The lower left part of the first receiving part 450 is connected to the substrate solution introducing part 350. The second receiving part 460 is a flow path extending downward from the upper right part of the substrate solution introducing part 350. The second receiving part 460 is recessed rightward. The lower left part of the second receiving part 460 is connected to the second cleaning liquid introducing part 340. The third receiving part 470 is a flow path extending downward from the upper right part of the second cleaning liquid introducing part 340. The third receiving part 470 is recessed rightward. The lower left part of the third receiving part 470 is connected to the labeled antibody solution introducing part 330.

標識抗体液導入部330の右部は、第三受部470の右側を通って右斜め上方に延びる。標識抗体液導入部330の右上端は、第一洗浄液導入部320の下側において右方に延び、流路620の左端部に接続する。流路620は、右方に延びて、共通受部370に接続する。共通受部370の左下部は、反応部380に接続されている。第四受部550は、反応部380の右上部分から下方向に延びる流路である。第四受部550は、右方に凹んでいる。   The right part of the labeled antibody solution introducing unit 330 extends obliquely upward to the right through the right side of the third receiving unit 470. The upper right end of the labeled antibody solution introduction unit 330 extends to the right below the first cleaning solution introduction unit 320 and is connected to the left end of the flow path 620. The flow path 620 extends to the right and connects to the common receiving portion 370. The lower left part of the common receiving part 370 is connected to the reaction part 380. The fourth receiving part 550 is a flow path that extends downward from the upper right part of the reaction part 380. The fourth receiving portion 550 is recessed rightward.

第四受部550の左下部は、測定部390に接続されている。測定部390は、試料液91を含む液体が測定される部位である。測定部390の右上部は、廃液部700に接続されている。測定部390から廃液部700に流出する液体を、廃液85(図5の状態F5等参照)という。測定部390は、その右上端部である流出端部391から、廃液85を廃液部700に流出させる。   The lower left part of the fourth receiving part 550 is connected to the measuring part 390. The measurement unit 390 is a part where a liquid including the sample liquid 91 is measured. The upper right part of the measurement part 390 is connected to the waste liquid part 700. The liquid flowing out from the measuring unit 390 to the waste liquid unit 700 is referred to as a waste liquid 85 (see state F5 in FIG. 5). The measurement unit 390 causes the waste liquid 85 to flow out to the waste liquid part 700 from the outflow end 391 that is the upper right end.

<5.廃液部700の詳細構造>
図3を参照して、廃液部700の詳細構造を説明する。廃液部700は、第一廃液部710、狭小流路720、及び第二廃液部730を備える。第一廃液部710は、測定部390の右上部から下方向に延びる。狭小流路720は、測定部390の下側を通って、第一廃液部710の下端部から左方向に延びる。第二廃液部730は、狭小流路720の左端部から上側に凹む凹部である。第二廃液部730の下端部731は、狭小流路720の左端部と接続する。第二廃液部730の上端部732は、測定部390と反応部380との間にある。第二廃液部730の右端部733は、測定部390と狭小流路720との間にある。
<5. Detailed Structure of Waste Liquid Unit 700>
With reference to FIG. 3, the detailed structure of the waste liquid part 700 is demonstrated. The waste liquid part 700 includes a first waste liquid part 710, a narrow channel 720, and a second waste liquid part 730. The first waste liquid part 710 extends downward from the upper right part of the measurement part 390. The narrow flow path 720 extends to the left from the lower end of the first waste liquid part 710 through the lower side of the measurement part 390. The second waste liquid portion 730 is a concave portion that is recessed upward from the left end portion of the narrow channel 720. The lower end portion 731 of the second waste liquid portion 730 is connected to the left end portion of the narrow channel 720. The upper end 732 of the second waste liquid unit 730 is between the measurement unit 390 and the reaction unit 380. The right end 733 of the second waste liquid part 730 is between the measurement part 390 and the narrow channel 720.

第二廃液部730と標識抗体液導入部330とを隔てる壁部を、隔壁741という。第二廃液部730と反応部380とを隔てる壁部を、隔壁742という。第二廃液部730と測定部390とを隔てる壁部を、隔壁743という。第二廃液部730と第一廃液部710及び狭小流路720とを隔てる壁部を、隔壁744という。第二廃液部730は、隔壁741を挟んで標識抗体液導入部330の右側に配置される。第二廃液部730は、隔壁742を挟んで反応部380の下側に配置される。第二廃液部730は、隔壁743を挟んで測定部390の下側に配置される。第二廃液部730は、隔壁744を挟んで、第一廃液部710の左側且つ狭小流路720の上側に配置される。   A wall part separating the second waste liquid part 730 and the labeled antibody liquid introducing part 330 is referred to as a partition wall 741. A wall portion separating the second waste liquid portion 730 and the reaction portion 380 is referred to as a partition wall 742. A wall part separating the second waste liquid part 730 and the measurement part 390 is referred to as a partition wall 743. A wall part that separates the second waste liquid part 730 from the first waste liquid part 710 and the narrow channel 720 is referred to as a partition wall 744. The second waste liquid part 730 is arranged on the right side of the labeled antibody liquid introducing part 330 with the partition wall 741 interposed therebetween. The second waste liquid part 730 is disposed below the reaction part 380 with the partition wall 742 interposed therebetween. The second waste liquid unit 730 is disposed below the measurement unit 390 with the partition wall 743 interposed therebetween. The second waste liquid part 730 is disposed on the left side of the first waste liquid part 710 and on the upper side of the narrow channel 720 with the partition wall 744 interposed therebetween.

第一廃液部710と狭小流路720との接続部を、接続部751という。接続部751は、第一廃液部710の左下端部の後面から狭小流路720に右端部の後面に向けて、左斜め前方に傾斜し且つ上下方向の幅が漸減するテーパ状の壁面である。狭小流路720と第二廃液部730との接続部を、接続部752という。接続部752は、下端部731の後面から狭小流路720の左端部の後面に向けて前方に突出する段差部である。狭小流路720は、接続部751,752の間で左右方向に延びる壁面721に囲まれて形成された流路である。   A connection part between the first waste liquid part 710 and the narrow channel 720 is referred to as a connection part 751. The connecting portion 751 is a tapered wall surface that is inclined obliquely forward left and gradually decreases in the vertical direction from the rear surface of the lower left end portion of the first waste liquid portion 710 toward the narrow channel 720 toward the rear surface of the right end portion. . A connection part between the narrow channel 720 and the second waste liquid part 730 is referred to as a connection part 752. The connecting portion 752 is a stepped portion that protrudes forward from the rear surface of the lower end portion 731 toward the rear surface of the left end portion of the narrow channel 720. The narrow channel 720 is a channel formed by being surrounded by a wall surface 721 extending in the left-right direction between the connection portions 751 and 752.

先述の測定部390は、下方向に凹む壁部392によって囲まれた領域である。壁部392は、隔壁743と隔壁745の一部とを含む。隔壁745は、測定部390と第一廃液部710とを隔てる壁部である。隔壁745において測定部390を囲む面は、測定部390に保持された液体を下流側に案内する案内面393である。隔壁743において測定部390を囲む面は、案内面393と対向する対向面394である。   The measurement unit 390 described above is a region surrounded by a wall portion 392 that is recessed downward. The wall portion 392 includes a partition wall 743 and a part of the partition wall 745. The partition wall 745 is a wall part that separates the measurement part 390 and the first waste liquid part 710. A surface surrounding the measurement unit 390 in the partition wall 745 is a guide surface 393 that guides the liquid held in the measurement unit 390 to the downstream side. A surface surrounding the measurement unit 390 in the partition wall 743 is a facing surface 394 that faces the guide surface 393.

測定部390から下流側に流出した液体は、廃液部700の右面をなす壁面701に沿って、第一廃液部710内を下方向に移動可能である。更に液体は、廃液部700の下面をなす壁面702に沿って、第一廃液部710から第二廃液部730まで移動可能である。即ち液体は、狭小流路720を経由して、第一廃液部710から第二廃液部730まで移動可能である。第二廃液部730に流入した液体は、第二廃液部730内で下端部731から上側に移動可能である。更に液体は、隔壁744の上面である壁面703に沿って、下端部731から右端部733に向けて右上方に移動可能である。   The liquid that has flowed downstream from the measurement unit 390 can move downward in the first waste liquid unit 710 along the wall surface 701 that forms the right surface of the waste liquid unit 700. Further, the liquid can move from the first waste liquid part 710 to the second waste liquid part 730 along the wall surface 702 that forms the lower surface of the waste liquid part 700. That is, the liquid can move from the first waste liquid part 710 to the second waste liquid part 730 via the narrow channel 720. The liquid that has flowed into the second waste liquid part 730 can move upward from the lower end part 731 in the second waste liquid part 730. Furthermore, the liquid can move upward and to the right from the lower end portion 731 toward the right end portion 733 along the wall surface 703 that is the upper surface of the partition wall 744.

狭小流路720の上下方向の幅は、その内部で移動する液体を狭小流路720における上面及び下面の両方に接触させるように小さい。狭小流路720の前後方向の幅は、その内部で移動する液体を狭小流路720における前面及び後面の両方に接触させるように小さい。つまり、狭小流路720は、液体が流路断面を閉塞しながら壁面721に沿って移動する狭小流路である。   The width of the narrow channel 720 in the vertical direction is small so that the liquid moving inside the narrow channel 720 contacts both the upper surface and the lower surface of the narrow channel 720. The width of the narrow channel 720 in the front-rear direction is small so that the liquid moving inside the narrow channel 720 contacts both the front surface and the rear surface of the narrow channel 720. That is, the narrow channel 720 is a narrow channel in which the liquid moves along the wall surface 721 while closing the channel cross section.

隔壁743には、上端部732から右上方に延びる連通路800が形成されている。連通路800は、第二廃液部730から測定部390まで接続する空気の流路である。連通路800は、隔壁743及び対向面394を貫通して、測定部390内に連通する。連通路800の測定部390側の開口端は、隔壁742,743が互いに接続する位置にある対向面394の上端部に形成される。   In the partition wall 743, a communication path 800 extending from the upper end 732 to the upper right is formed. The communication path 800 is an air flow path connected from the second waste liquid part 730 to the measurement part 390. The communication path 800 passes through the partition wall 743 and the facing surface 394 and communicates with the measurement unit 390. The open end of the communication path 800 on the measurement unit 390 side is formed at the upper end portion of the facing surface 394 where the partition walls 742 and 743 are connected to each other.

廃液部700は、前面203に所定深さに形成された凹部である。凹部の深さは、検査チップ2における前後方向の幅と同義である。本実施形態では、狭小流路720の深さは、少なくとも第一廃液部710及び第二廃液部730の各深さよりも小さい。第一廃液部710の深さと第二廃液部730の深さとは、互いに等しい。連通路800の深さと狭小流路720の深さとは、互いに等しい。なお、第一廃液部710の深さと第二廃液部730の深さとは、互いに異なってもよい。連通路800の深さと狭小流路720の深さとは、互いに異なってもよい。   The waste liquid part 700 is a recess formed in the front surface 203 to a predetermined depth. The depth of the recess is synonymous with the width of the test chip 2 in the front-rear direction. In the present embodiment, the depth of the narrow channel 720 is smaller than at least the depths of the first waste liquid part 710 and the second waste liquid part 730. The depth of the first waste liquid part 710 and the depth of the second waste liquid part 730 are equal to each other. The depth of the communication path 800 and the depth of the narrow channel 720 are equal to each other. Note that the depth of the first waste liquid part 710 and the depth of the second waste liquid part 730 may be different from each other. The depth of the communication path 800 and the depth of the narrow channel 720 may be different from each other.

反応部380を形成する壁面のうちの下流の壁面を、案内面381という。案内面381,393の傾斜角を、夫々、R7,R8とする。図4においては、一例として、傾斜角R7,R8を、案内面381の夫々と下方向とのなす角で示す。傾斜角R7,R8は、以下の式(2)の関係を有する。
R5,R6,R8>R7 ・・・(2)
なおR5,R6,R8は、本実施形態では互いに同じ角度であるが、互いに異なる角度でもよい。
A downstream wall surface of the wall surfaces forming the reaction unit 380 is referred to as a guide surface 381. The inclination angles of the guide surfaces 381 and 393 are R7 and R8, respectively. In FIG. 4, as an example, the inclination angles R <b> 7 and R <b> 8 are indicated by angles formed between the guide surface 381 and the downward direction. The inclination angles R7 and R8 have the relationship of the following formula (2).
R5, R6, R8> R7 (2)
Note that R5, R6, and R8 have the same angle in the present embodiment, but may have different angles.

<6.検査チップ2のその他構造>
図1に示すように、L型プレート60から延びる支軸46は、図示外の装着用ホルダを介して板材19の後面中央に垂直に連結される。支軸46の回転に伴って、検査チップ2が支軸46を中心に自転する。検査チップ2は図2に示す定常状態である場合、上辺部81及び下辺部84が重力の方向と直交し、右辺部82及び左辺部83が重力の方向と平行、且つ、左辺部83が右辺部82よりも主軸57側に配置される。定常状態の検査チップ2が測定位置に配置されている状態において、光源71と光センサ72とを結ぶ測定光を測定部390に通過させることで、検査装置1は光学測定による検査を行う。
<6. Other structures of inspection chip 2>
As shown in FIG. 1, the support shaft 46 extending from the L-shaped plate 60 is vertically connected to the center of the rear surface of the plate member 19 via a mounting holder (not shown). As the support shaft 46 rotates, the inspection chip 2 rotates around the support shaft 46. When the inspection chip 2 is in the steady state shown in FIG. 2, the upper side 81 and the lower side 84 are orthogonal to the direction of gravity, the right side 82 and the left side 83 are parallel to the direction of gravity, and the left side 83 is the right side. It is arranged closer to the main shaft 57 than the portion 82. In a state where the inspection chip 2 in the steady state is arranged at the measurement position, the inspection apparatus 1 performs inspection by optical measurement by allowing the measurement light connecting the light source 71 and the optical sensor 72 to pass through the measurement unit 390.

<7.検査方法の一例>
検査装置1及び検査チップ2を用いた検査方法を説明する。図2に示すように、注入路530を介して、停止液導入部360に停止液96が注入される。注入路520を介して、基質溶液導入部350に基質溶液95が注入される。注入路510を介して、第二洗浄液導入部340に第二洗浄液94が注入される。注入路500を介して、標識抗体液導入部330に標識抗体液93が注入される。注入路490を介して、第一洗浄液導入部320に第一洗浄液92が注入される。注入路480を介して、試料液導入部310に試料液91が注入される。各液体の配置方法は、他の手法でもよい。
<7. Example of inspection method>
An inspection method using the inspection apparatus 1 and the inspection chip 2 will be described. As shown in FIG. 2, the stop liquid 96 is injected into the stop liquid introducing section 360 via the injection path 530. The substrate solution 95 is injected into the substrate solution introduction unit 350 via the injection path 520. The second cleaning liquid 94 is injected into the second cleaning liquid introduction unit 340 via the injection path 510. The labeled antibody solution 93 is injected into the labeled antibody solution introduction unit 330 via the injection path 500. The first cleaning liquid 92 is injected into the first cleaning liquid introduction unit 320 via the injection path 490. The sample liquid 91 is injected into the sample liquid introducing section 310 via the injection path 480. Other methods may be used for the arrangement of each liquid.

ユーザは検査チップ2を図示外の装着用ホルダに取り付けて、操作部104から処理開始のコマンドを入力する。これによって、CPU101は、ROM103に記憶されている制御プログラムに基づいて、図4に示す遠心処理を実行する。CPU101は遠心処理において、公転コントローラ97を介して主軸モータ35を駆動制御することで、検査チップ2の公転開始、公転速度制御、及び公転停止を行う各動作を実行する。本実施形態では、CPU101は垂直軸線A1を中心として、検査チップ2を平面視で時計回り方向に公転させる(図1参照)。CPU101は、主軸モータ35の単位時間当たりの回転数を制御することで、検査チップ2の公転速度を制御する。   The user attaches the inspection chip 2 to a mounting holder (not shown) and inputs a processing start command from the operation unit 104. As a result, the CPU 101 executes the centrifugal process shown in FIG. 4 based on the control program stored in the ROM 103. In the centrifugal process, the CPU 101 controls the spindle motor 35 via the revolution controller 97 to execute each operation of starting the revolution of the inspection chip 2, controlling the revolution speed, and stopping the revolution. In the present embodiment, the CPU 101 revolves the inspection chip 2 around the vertical axis A1 in a clockwise direction in plan view (see FIG. 1). The CPU 101 controls the revolution speed of the inspection chip 2 by controlling the rotation speed per unit time of the spindle motor 35.

CPU101は遠心処理において、自転コントローラ98を介してステッピングモータ51を駆動制御することで、検査チップ2の自転角度を変更する各動作を実行する。以下の説明では、図2に示す定常状態の検査チップ2の自転角度を、0度とする。正面視で水平軸線A2を中心として、定常状態からm度反時計回りに回転した検査チップ2の自転角度を、m度とする。例えば、定常状態から90度反時計回りに回転した検査チップ2の自転角度は、90度である。本実施形態では、CPU101は自転角度を増加するように変更する場合、検査チップ2を正面視で水平軸線A2を中心として反時計回りに回転させる。CPU101は自転角度を減少させるように変更する場合、検査チップ2を正面視で水平軸線A2を中心として時計回りに回転させる。   In the centrifugal process, the CPU 101 performs each operation of changing the rotation angle of the test chip 2 by driving and controlling the stepping motor 51 via the rotation controller 98. In the following description, the rotation angle of the test chip 2 in the steady state shown in FIG. The rotation angle of the inspection chip 2 rotated counterclockwise by m degrees from the steady state around the horizontal axis A2 in the front view is defined as m degrees. For example, the rotation angle of the inspection chip 2 rotated 90 degrees counterclockwise from the steady state is 90 degrees. In the present embodiment, when changing the CPU 101 to increase the rotation angle, the CPU 101 rotates the inspection chip 2 counterclockwise around the horizontal axis A2 in front view. When changing the CPU 101 so as to decrease the rotation angle, the CPU 101 rotates the inspection chip 2 clockwise about the horizontal axis A2 in front view.

図4に示すように、まずCPU101は、第一送液処理を実行する(S1)。第一送液処理では、検査チップ2の公転が開始されて、検査チップ2に遠心力X1が作用するまで公転速度が上昇される。また、検査チップ2の自転角度が、0度から第一自転角度に変更される。第一自転角度は、遠心力が第一壁面501(図2参照)に対して垂直に作用する、検査チップ2の自転角度である。   As shown in FIG. 4, first, the CPU 101 executes a first liquid feeding process (S1). In the first liquid feeding process, the revolution of the inspection chip 2 is started, and the revolution speed is increased until the centrifugal force X1 acts on the inspection chip 2. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 0 degree to the first rotation angle. The first rotation angle is the rotation angle of the inspection chip 2 where the centrifugal force acts perpendicularly to the first wall surface 501 (see FIG. 2).

第一送液処理では、第一自転角度の検査チップ2に、遠心力X1が所定時間作用される。このとき、図5の状態F1に示すように、第一壁面501に垂直な方向に向けて、遠心力X1が検査チップ2に作用する。遠心力X1の作用によって、試料液91が流路610を介して、試料液導入部310から共通受部370に移動する。上記式(1)の関係によって、第一洗浄液92、標識抗体液93、第二洗浄液94、基質溶液95、及び停止液96は、夫々、第一洗浄液導入部320、標識抗体液導入部330、第二洗浄液導入部340、基質溶液導入部350、及び停止液導入部360に保持される。   In the first liquid feeding process, the centrifugal force X1 is applied to the inspection chip 2 having the first rotation angle for a predetermined time. At this time, as shown in a state F1 in FIG. 5, the centrifugal force X1 acts on the test chip 2 in a direction perpendicular to the first wall surface 501. The sample solution 91 moves from the sample solution introduction unit 310 to the common receiving unit 370 via the flow path 610 by the action of the centrifugal force X1. According to the relationship of the above formula (1), the first cleaning solution 92, the labeled antibody solution 93, the second cleaning solution 94, the substrate solution 95, and the stop solution 96 are respectively a first cleaning solution introducing unit 320, a labeled antibody solution introducing unit 330, The second cleaning liquid introduction unit 340, the substrate solution introduction unit 350, and the stop liquid introduction unit 360 are held.

次いでCPU101は、第一反応工程を実行する(S2)。第一反応工程では、検査チップ2に遠心力X21が作用するまで、公転速度が下降される。遠心力X21は、遠心力X1以下の大きさであり、本実施形態では遠心力X1の1/2程度である。また、検査チップ2の自転角度が、第一自転角度から90度に変更される。   Next, the CPU 101 executes the first reaction process (S2). In the first reaction step, the revolution speed is lowered until the centrifugal force X21 acts on the inspection chip 2. The centrifugal force X21 has a magnitude equal to or smaller than the centrifugal force X1, and is about ½ of the centrifugal force X1 in the present embodiment. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from the first rotation angle to 90 degrees.

第一反応工程では、自転角度90度の検査チップ2に、遠心力X21が所定時間作用される。このとき、図5の状態F2に示すように、上辺部81から下辺部84に向けて、遠心力X21が検査チップ2に作用する。遠心力X21の作用によって、試料液91は共通受部370から反応部380に移動する。反応部380では、試料液91に含まれる検査対象物質が固相化抗体と結合する。検査対象物質と固相化抗体との結合体を、第一結合体という。   In the first reaction step, the centrifugal force X21 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 90 degrees for a predetermined time. At this time, as shown in the state F <b> 2 of FIG. 5, the centrifugal force X <b> 21 acts on the test chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. The sample liquid 91 moves from the common receiving part 370 to the reaction part 380 by the action of the centrifugal force X21. In the reaction unit 380, the test target substance contained in the sample solution 91 is combined with the immobilized antibody. A conjugate of the test substance and the immobilized antibody is referred to as a first conjugate.

次いでCPU101は、第二送液工程を実行する(S3)。第二送液工程では、検査チップ2に遠心力X1が作用するまで、公転速度が上昇される。また、検査チップ2の自転角度が、90度から第二自転角度に変更される。第二自転角度は、遠心力が第二壁面502(図2参照)に対して垂直に作用する、検査チップ2の自転角度である。   Next, the CPU 101 executes a second liquid feeding process (S3). In the second liquid feeding step, the revolution speed is increased until the centrifugal force X1 acts on the inspection chip 2. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 90 degrees to the second rotation angle. The second rotation angle is the rotation angle of the inspection chip 2 where the centrifugal force acts perpendicularly to the second wall surface 502 (see FIG. 2).

第二送液工程では、第二自転角度の検査チップ2に、遠心力X1が所定時間作用される。このとき、図5の状態F3に示すように、第二壁面502に垂直な方向に向けて、遠心力X1が検査チップ2に作用する。遠心力X1の作用によって、第一洗浄液92が流路610を介して第一洗浄液導入部320から共通受部370に移動し、且つ、試料液91が反応部380から第四受部550に移動する。上記式(1)の関係によって、標識抗体液93、第二洗浄液94、基質溶液95、及び停止液96は、夫々、標識抗体液導入部330、第二洗浄液導入部340、基質溶液導入部350、及び停止液導入部360に保持される。   In the second liquid feeding step, the centrifugal force X1 is applied to the inspection tip 2 having the second rotation angle for a predetermined time. At this time, the centrifugal force X1 acts on the test chip 2 in a direction perpendicular to the second wall surface 502, as shown in a state F3 in FIG. Due to the action of the centrifugal force X1, the first cleaning liquid 92 moves from the first cleaning liquid introduction section 320 to the common receiving section 370 via the flow path 610, and the sample liquid 91 moves from the reaction section 380 to the fourth receiving section 550. To do. According to the relationship of the above formula (1), the labeled antibody solution 93, the second washing solution 94, the substrate solution 95, and the stop solution 96 are respectively labeled antibody solution introduction unit 330, second washing solution introduction unit 340, and substrate solution introduction unit 350. And the stop liquid introduction unit 360.

次いでCPU101は、第一洗浄工程を実行する(S4)。第一洗浄工程では、検査チップ2に遠心力X31が作用するまで、公転速度が下降される。遠心力X31は、遠心力X21未満の大きさであり、より好適には後述の遠心力X32,X33よりも大きく、本実施形態では遠心力X21の1/2程度である。また、検査チップ2の自転角度が、第二自転角度から90度に変更される。   Next, the CPU 101 executes a first cleaning process (S4). In the first cleaning step, the revolution speed is lowered until the centrifugal force X31 acts on the inspection chip 2. The centrifugal force X31 has a magnitude less than the centrifugal force X21, more preferably larger than the centrifugal forces X32 and X33 described later, and is about ½ of the centrifugal force X21 in this embodiment. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from the second rotation angle to 90 degrees.

第一洗浄工程では、自転角度90度の検査チップ2に、遠心力X31が所定時間作用される。このとき、図5の状態F4に示すように、上辺部81から下辺部84に向けて、遠心力X31が検査チップ2に作用する。遠心力X31の作用によって、第一洗浄液92が共通受部370から反応部380に移動し、且つ、試料液91が第四受部550から測定部390に移動する。反応部380に移動した第一洗浄液92によって、一回目の反応部380の洗浄が行われる。具体的には、反応部380では、固相化抗体と結合していない試料液91の成分が第一洗浄液92によって除去される。即ち、反応部380に残存する第一結合体以外の成分が、第一洗浄液92によって除去される。   In the first cleaning step, the centrifugal force X31 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 90 degrees for a predetermined time. At this time, as shown in a state F4 in FIG. 5, the centrifugal force X31 acts on the test chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. Due to the action of the centrifugal force X31, the first cleaning liquid 92 moves from the common receiving part 370 to the reaction part 380, and the sample liquid 91 moves from the fourth receiving part 550 to the measuring part 390. The first cleaning unit 92 that has moved to the reaction unit 380 performs the first cleaning of the reaction unit 380. Specifically, in the reaction unit 380, the components of the sample solution 91 that are not bound to the immobilized antibody are removed by the first cleaning solution 92. That is, components other than the first combined body remaining in the reaction unit 380 are removed by the first cleaning liquid 92.

次いでCPU101は、第三送液工程を実行する(S5)。第三送液工程では、検査チップ2に遠心力X1が作用するまで、公転速度が上昇される。また、検査チップ2の自転角度が、90度から0度に変更される。第一送液処理では、自転角度0度の検査チップ2に、遠心力X1が所定時間作用される。このとき、図5の状態F5に示すように、左辺部83から右辺部82に向けて、検査チップ2に遠心力X1が作用する。遠心力X1の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes a third liquid feeding process (S5). In the third liquid feeding step, the revolution speed is increased until the centrifugal force X1 acts on the inspection chip 2. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 90 degrees to 0 degrees. In the first liquid feeding process, the centrifugal force X1 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 0 degree for a predetermined time. At this time, as shown in a state F5 in FIG. 5, the centrifugal force X1 acts on the test chip 2 from the left side portion 83 toward the right side portion 82. By the action of the centrifugal force X1, each liquid moves as follows.

第一洗浄液92は、反応部380から第四受部550に移動する。標識抗体液93は、標識抗体液導入部330から共通受部370に移動する。第二洗浄液94は、第二洗浄液導入部340から第三受部470に移動する。基質溶液95は、基質溶液導入部350から第二受部460に移動する。停止液96は、停止液導入部360から第一受部450に移動する。試料液91は、廃液85として測定部390から第一廃液部710に移動する。このとき、廃液85は第一廃液部710の右部に保持される。   The first cleaning liquid 92 moves from the reaction unit 380 to the fourth receiving unit 550. The labeled antibody solution 93 moves from the labeled antibody solution introducing unit 330 to the common receiving unit 370. The second cleaning liquid 94 moves from the second cleaning liquid introduction unit 340 to the third receiving unit 470. The substrate solution 95 moves from the substrate solution introduction unit 350 to the second receiving unit 460. The stop liquid 96 moves from the stop liquid introducing unit 360 to the first receiving unit 450. The sample liquid 91 moves from the measurement unit 390 to the first waste liquid unit 710 as the waste liquid 85. At this time, the waste liquid 85 is held in the right part of the first waste liquid part 710.

次いでCPU101は、第二反応工程を実行する(S6)。第二反応工程では、検査チップ2に遠心力X22が作用するまで、公転速度が下降される。遠心力X22は、遠心力X1以下の大きさであり、好適には遠心力X21以下の大きさである。本実施形態の遠心力X22は、遠心力X21の2/3程度である。また、検査チップ2の自転角度が、0度から90度に変更される。第二反応工程では、自転角度90度の検査チップ2に、遠心力X22が所定時間作用される。このとき、図5の状態F6に示すように、上辺部81から下辺部84に向けて、遠心力X22が検査チップ2に作用する。遠心力X22の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes the second reaction step (S6). In the second reaction step, the revolution speed is lowered until the centrifugal force X22 acts on the inspection chip 2. Centrifugal force X22 has a magnitude of centrifugal force X1 or less, and preferably has a magnitude of centrifugal force X21 or less. The centrifugal force X22 of this embodiment is about 2/3 of the centrifugal force X21. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 0 degrees to 90 degrees. In the second reaction step, the centrifugal force X22 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 90 degrees for a predetermined time. At this time, as shown in a state F6 in FIG. 5, the centrifugal force X22 acts on the test chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. By the action of the centrifugal force X22, each liquid moves as follows.

第一洗浄液92は、第四受部550から測定部390に移動する。標識抗体液93は、共通受部370から反応部380に移動する。第二洗浄液94は、第三受部470から標識抗体液導入部330に移動する。基質溶液95は、第二受部460から第二洗浄液導入部340に移動する。停止液96は、第一受部450から基質溶液導入部350に移動する。反応部380では、標識抗体液93に含まれる酵素標識抗体が、第一結合体と特異的に結合する。酵素標識抗体と第一結合体との結合体を、第二結合体という。   The first cleaning liquid 92 moves from the fourth receiving unit 550 to the measuring unit 390. The labeled antibody solution 93 moves from the common receiving unit 370 to the reaction unit 380. The second cleaning liquid 94 moves from the third receiving part 470 to the labeled antibody liquid introducing part 330. The substrate solution 95 moves from the second receiving part 460 to the second cleaning liquid introducing part 340. The stop liquid 96 moves from the first receiving unit 450 to the substrate solution introducing unit 350. In the reaction unit 380, the enzyme-labeled antibody contained in the labeled antibody solution 93 specifically binds to the first conjugate. A conjugate of the enzyme-labeled antibody and the first conjugate is referred to as a second conjugate.

廃液85は、壁面701(図3参照)に沿って第一廃液部710内を下方向に移動する。更に廃液85の一部は、壁面702(図3参照)に沿って狭小流路720内を左方向に移動して、第二廃液部730に流入する。この結果、廃液85は、遠心力X22の作用によって、第一廃液部710の下部、狭小流路720、及び第二廃液部730の下部に保持される。第二廃液部730における廃液85の液面851は、第一廃液部710における廃液85の液面852は、遠心力方向と直交する方向に並ぶ。液面851は、第二廃液部730内において下端部731(図3参照)よりも遠心力方向の上流側にある。   The waste liquid 85 moves downward in the first waste liquid part 710 along the wall surface 701 (see FIG. 3). Further, a part of the waste liquid 85 moves leftward in the narrow channel 720 along the wall surface 702 (see FIG. 3) and flows into the second waste liquid part 730. As a result, the waste liquid 85 is held at the lower part of the first waste liquid part 710, the narrow channel 720, and the lower part of the second waste liquid part 730 by the action of the centrifugal force X22. The liquid level 851 of the waste liquid 85 in the second waste liquid part 730 is aligned with the liquid level 852 of the waste liquid 85 in the first waste liquid part 710 in a direction orthogonal to the centrifugal force direction. The liquid level 851 is upstream of the lower end portion 731 (see FIG. 3) in the second waste liquid portion 730 in the centrifugal force direction.

次いでCPU101は、第四送液工程を実行する(S7)。第四送液工程では、検査チップ2に遠心力X1が作用するまで、公転速度が上昇される。また、検査チップ2の自転角度が、90度から第三自転角度に変更される。第三自転角度は、遠心力が案内面381(図2参照)に対して垂直に作用する、検査チップ2の自転角度である。第三送液工程では、第三自転角度の検査チップ2に、遠心力X1が所定時間作用される。このとき、図6の状態F7に示すように、案内面381に垂直な方向に向けて、遠心力X1が検査チップ2に作用する。遠心力X1の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes a fourth liquid feeding process (S7). In the fourth liquid feeding step, the revolution speed is increased until the centrifugal force X1 acts on the inspection chip 2. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 90 degrees to the third rotation angle. The third rotation angle is the rotation angle of the inspection chip 2 where the centrifugal force acts perpendicularly to the guide surface 381 (see FIG. 2). In the third liquid feeding step, the centrifugal force X1 is applied to the inspection chip 2 having the third rotation angle for a predetermined time. At this time, as shown in a state F7 in FIG. 6, the centrifugal force X1 acts on the test chip 2 in the direction perpendicular to the guide surface 381. By the action of the centrifugal force X1, each liquid moves as follows.

標識抗体液93は、反応部380から第四受部550に移動する。第二廃液部730にある廃液85のうち、下端部731よりも上側にある廃液85を、対象廃液という。対象廃液は、壁面703(図3参照)に沿って右端部733に移動して、第二廃液部730の右部に保持される。廃液部700にある廃液85は、対象廃液を除いて、壁面702に沿って第一廃液部710の右下部に移動して保持される。   The labeled antibody solution 93 moves from the reaction unit 380 to the fourth receiving unit 550. Among the waste liquids 85 in the second waste liquid part 730, the waste liquid 85 located above the lower end part 731 is referred to as a target waste liquid. The target waste liquid moves to the right end portion 733 along the wall surface 703 (see FIG. 3) and is held at the right portion of the second waste liquid portion 730. The waste liquid 85 in the waste liquid part 700 is moved and held along the wall surface 702 to the lower right part of the first waste liquid part 710 except for the target waste liquid.

上記式(2)の関係によって、第一洗浄液92、第二洗浄液94、基質溶液95、及び停止液96は、夫々、測定部390、標識抗体液導入部330、第二洗浄液導入部340、基質溶液導入部350に保持される。但し、検査チップ2が第三自転角度にある場合、遠心力の作用によって標識抗体液導入部330に保持可能な液量は、第二洗浄液94の総量よりも少ない。従って、標識抗体液導入部330にある第二洗浄液94の一部は、遠心力X1の作用によって、標識抗体液導入部330から溢れて共通受部370に移動する。本実施形態では、第二洗浄液94の一部が、標識抗体液導入部330から共通受部370に移動する。   According to the relationship of the above formula (2), the first cleaning liquid 92, the second cleaning liquid 94, the substrate solution 95, and the stop liquid 96 are the measurement unit 390, the labeled antibody solution introduction unit 330, the second cleaning solution introduction unit 340, the substrate, respectively. It is held in the solution introduction part 350. However, when the test chip 2 is at the third rotation angle, the amount of liquid that can be held in the labeled antibody liquid introduction unit 330 by the action of centrifugal force is smaller than the total amount of the second cleaning liquid 94. Accordingly, a part of the second washing liquid 94 in the labeled antibody solution introduction unit 330 overflows from the labeled antibody solution introduction unit 330 and moves to the common receiving unit 370 by the action of the centrifugal force X1. In the present embodiment, a part of the second cleaning liquid 94 moves from the labeled antibody liquid introducing unit 330 to the common receiving unit 370.

次いでCPU101は、第二洗浄工程を実行する(S8)。第二洗浄工程では、検査チップ2に遠心力X32が作用するまで、公転速度が下降される。遠心力X32は、遠心力X21未満の大きさであり、本実施形態では遠心力X31と同程度である。また、検査チップ2の自転角度が、第三自転角度から90度に変更される。第二洗浄工程では、自転角度90度の検査チップ2に、遠心力X32が所定時間作用される。このとき、図6の状態F8に示すように、上辺部81から下辺部84に向けて、遠心力X32が検査チップ2に作用する。遠心力X32の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes a second cleaning process (S8). In the second cleaning step, the revolution speed is lowered until the centrifugal force X32 acts on the inspection chip 2. The centrifugal force X32 has a magnitude smaller than the centrifugal force X21, and is approximately the same as the centrifugal force X31 in this embodiment. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from the third rotation angle to 90 degrees. In the second cleaning step, the centrifugal force X32 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 90 degrees for a predetermined time. At this time, as shown in a state F8 in FIG. 6, the centrifugal force X32 acts on the test chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. By the action of the centrifugal force X32, each liquid moves as follows.

共通受部370にある第二洗浄液94が、反応部380に移動する。反応部380に移動した第二洗浄液94によって、二回目の反応部380の洗浄が行われる。具体的には、反応部380では、第一結合体と結合していない標識抗体液93の成分が、第二洗浄液94によって除去される。即ち、反応部380に残存する第二結合体以外の成分が、第二洗浄液94によって除去される。標識抗体液93が、第四受部550から測定部390に移動する。測定部390では、標識抗体液93と第一洗浄液92とが混合して、混合液86が生成される。廃液部700では、廃液85が図5の状態F6と同様に移動する。   The second cleaning liquid 94 in the common receiving unit 370 moves to the reaction unit 380. The second cleaning unit 94 that has moved to the reaction unit 380 performs the second cleaning of the reaction unit 380. Specifically, in the reaction unit 380, the components of the labeled antibody solution 93 that are not bound to the first conjugate are removed by the second washing solution 94. That is, components other than the second conjugate remaining in the reaction unit 380 are removed by the second cleaning liquid 94. The labeled antibody solution 93 moves from the fourth receiving unit 550 to the measuring unit 390. In the measurement unit 390, the labeled antibody solution 93 and the first cleaning solution 92 are mixed to generate a mixed solution 86. In the waste liquid part 700, the waste liquid 85 moves in the same manner as in the state F6 in FIG.

次いでCPU101は、第五送液工程を実行する(S9)。第五送液工程では、検査チップ2に遠心力X1が作用するまで、公転速度が上昇される。また、検査チップ2の自転角度が、90度から0度に変更される。第五送液処理では、自転角度0度の検査チップ2に、遠心力X1が所定時間作用される。このとき、図6の状態F9に示すように、左辺部83から右辺部82に向けて、検査チップ2に遠心力X1が作用する。遠心力X1の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes the fifth liquid feeding process (S9). In the fifth liquid feeding step, the revolution speed is increased until the centrifugal force X1 acts on the inspection chip 2. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 90 degrees to 0 degrees. In the fifth liquid feeding process, the centrifugal force X1 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 0 degree for a predetermined time. At this time, as shown in a state F9 in FIG. 6, the centrifugal force X1 acts on the test chip 2 from the left side portion 83 toward the right side portion 82. By the action of the centrifugal force X1, each liquid moves as follows.

反応部380にある第二洗浄液94は、第四受部550に移動する。標識抗体液導入部330にある第二洗浄液94は、共通受部370に移動する。基質溶液95は、第二洗浄液導入部340から第三受部470に移動する。停止液96は、基質溶液導入部350から第二受部460に移動する。混合液86は、廃液85として測定部390から第一廃液部710に移動する。これにより、廃液部700に貯留される廃液85が増量する。対象廃液は、壁面703に沿って右端部733に移動して、第二廃液部730の右部に保持される。廃液部700にある廃液85は、対象廃液を除いて、壁面702に沿って第一廃液部710の右部に移動して保持される。   The second cleaning liquid 94 in the reaction unit 380 moves to the fourth receiving unit 550. The second cleaning solution 94 in the labeled antibody solution introduction unit 330 moves to the common receiving unit 370. The substrate solution 95 moves from the second cleaning liquid introducing unit 340 to the third receiving unit 470. The stop liquid 96 moves from the substrate solution introducing unit 350 to the second receiving unit 460. The mixed liquid 86 moves from the measurement unit 390 to the first waste liquid unit 710 as the waste liquid 85. Thereby, the waste liquid 85 stored in the waste liquid part 700 increases. The target waste liquid moves to the right end 733 along the wall surface 703 and is held on the right part of the second waste liquid part 730. The waste liquid 85 in the waste liquid part 700 is moved and held along the wall surface 702 to the right part of the first waste liquid part 710 except for the target waste liquid.

次いでCPU101は、第三洗浄工程を実行する(S10)。第三洗浄工程では、検査チップ2に遠心力X33が作用するまで、公転速度が下降される。遠心力X33は、遠心力X21未満の大きさであり、好適には遠心力X32以上の大きさである。本実施形態の遠心力X33は、遠心力X32の3/2程度である。また、検査チップ2の自転角度が、0度から90度に変更される。第三洗浄工程では、自転角度90度の検査チップ2に、遠心力X33が所定時間作用される。このとき、図6の状態F10に示すように、上辺部81から下辺部84に向けて、遠心力X33が検査チップ2に作用する。遠心力X33の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes a third cleaning process (S10). In the third cleaning step, the revolution speed is lowered until the centrifugal force X33 acts on the inspection chip 2. The centrifugal force X33 is less than the centrifugal force X21, and preferably greater than the centrifugal force X32. The centrifugal force X33 of this embodiment is about 3/2 of the centrifugal force X32. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 0 degrees to 90 degrees. In the third cleaning step, the centrifugal force X33 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 90 degrees for a predetermined time. At this time, as shown in a state F10 in FIG. 6, the centrifugal force X33 acts on the test chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. By the action of the centrifugal force X33, each liquid moves as follows.

第四受部550にある第二洗浄液94が、測定部390に移動する。共通受部370にある第二洗浄液94が、反応部380に移動する。反応部380に移動した第二洗浄液94によって、二回目の反応部380の洗浄と同様に、三回目の反応部380の洗浄が行われる。基質溶液95は、第三受部470から標識抗体液導入部330に移動する。停止液96は、第二受部460から第二洗浄液導入部340に移動する。廃液部700では、廃液85が図6の状態F8と同様に移動する。このとき、液面851,852は、状態F8よりも遠心力方向の上流側にある。   The second cleaning liquid 94 in the fourth receiving unit 550 moves to the measuring unit 390. The second cleaning liquid 94 in the common receiving unit 370 moves to the reaction unit 380. The second cleaning liquid 94 moved to the reaction unit 380 performs the third cleaning of the reaction unit 380 in the same manner as the second cleaning of the reaction unit 380. The substrate solution 95 moves from the third receiving unit 470 to the labeled antibody solution introducing unit 330. The stop liquid 96 moves from the second receiving part 460 to the second cleaning liquid introducing part 340. In the waste liquid part 700, the waste liquid 85 moves in the same manner as in the state F8 in FIG. At this time, the liquid levels 851 and 852 are upstream of the state F8 in the centrifugal force direction.

次いでCPU101は、第六送液工程を実行する(S11)。第六送液工程では、検査チップ2に遠心力X1が作用するまで、公転速度が上昇される。また、検査チップ2の自転角度が、90度から0度に変更される。第六送液処理では、自転角度0度の検査チップ2に、遠心力X1が所定時間作用される。このとき、図6の状態F11に示すように、左辺部83から右辺部82に向けて、検査チップ2に遠心力X1が作用する。遠心力X1の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes a sixth liquid feeding process (S11). In the sixth liquid feeding step, the revolution speed is increased until the centrifugal force X1 acts on the inspection chip 2. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 90 degrees to 0 degrees. In the sixth liquid feeding process, the centrifugal force X1 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 0 degree for a predetermined time. At this time, as shown in a state F11 in FIG. 6, the centrifugal force X1 acts on the test chip 2 from the left side portion 83 toward the right side portion 82. By the action of the centrifugal force X1, each liquid moves as follows.

反応部380にある第二洗浄液94は、第四受部550に移動する。基質溶液95は、標識抗体液導入部330から共通受部370に移動する。停止液96は、第二洗浄液導入部340から第三受部470に移動する。測定部390にある第二洗浄液94は、廃液85として第一廃液部710に移動する。これにより、廃液部700に貯留される廃液85が増量する。廃液部700では、廃液85が図6の状態F9と同様に移動する。このとき、第一廃液部710及び第二廃液部730の各々で保持される廃液85の液量は、状態F9よりも多い。   The second cleaning liquid 94 in the reaction unit 380 moves to the fourth receiving unit 550. The substrate solution 95 moves from the labeled antibody solution introduction unit 330 to the common receiving unit 370. The stop liquid 96 moves from the second cleaning liquid introducing unit 340 to the third receiving unit 470. The second cleaning liquid 94 in the measurement unit 390 moves to the first waste liquid unit 710 as the waste liquid 85. Thereby, the waste liquid 85 stored in the waste liquid part 700 increases. In the waste liquid part 700, the waste liquid 85 moves in the same manner as in the state F9 in FIG. At this time, the liquid amount of the waste liquid 85 held in each of the first waste liquid part 710 and the second waste liquid part 730 is larger than that in the state F9.

次いでCPU101は、第三反応工程を実行する(S12)。第三反応工程では、検査チップ2に遠心力X23が作用するまで、公転速度が下降される。遠心力X23は、遠心力X1以下の大きさであり、好適には遠心力X21以下の大きさである。本実施形態の遠心力X23は、遠心力X22と同程度である。また、検査チップ2の自転角度が、0度から90度に変更される。第三反応工程では、自転角度90度の検査チップ2に、遠心力X23が所定時間作用される。このとき、図6の状態F12に示すように、上辺部81から下辺部84に向けて、遠心力X23が検査チップ2に作用する。遠心力X23の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes a third reaction step (S12). In the third reaction step, the revolution speed is lowered until the centrifugal force X23 acts on the inspection chip 2. Centrifugal force X23 has a magnitude of centrifugal force X1 or less, and preferably has a magnitude of centrifugal force X21 or less. The centrifugal force X23 of the present embodiment is approximately the same as the centrifugal force X22. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 0 degrees to 90 degrees. In the third reaction step, the centrifugal force X23 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 90 degrees for a predetermined time. At this time, as shown in a state F <b> 12 of FIG. 6, the centrifugal force X <b> 23 acts on the test chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. By the action of the centrifugal force X23, each liquid moves as follows.

第二洗浄液94は、第四受部550から測定部390に移動する。基質溶液95は、共通受部370から反応部380に移動する。反応部380では、基質溶液95が第二結合体に含まれる酵素標識抗体と酵素反応する。停止液96は、第三受部470から標識抗体液導入部330に移動する。廃液部700では、廃液85が図6の状態F10と同様に移動する。このとき、液面851,852は、状態F10よりも遠心力方向の上流側にある。   The second cleaning liquid 94 moves from the fourth receiving unit 550 to the measuring unit 390. The substrate solution 95 moves from the common receiving unit 370 to the reaction unit 380. In the reaction unit 380, the substrate solution 95 reacts with the enzyme-labeled antibody contained in the second conjugate. The stop solution 96 moves from the third receiving unit 470 to the labeled antibody solution introducing unit 330. In the waste liquid part 700, the waste liquid 85 moves in the same manner as in the state F10 of FIG. At this time, the liquid levels 851 and 852 are upstream of the state F10 in the centrifugal force direction.

次いでCPU101は、第七送液工程を実行する(S13)。第七送液工程では、検査チップ2に遠心力X1が作用するまで、公転速度が上昇される。また、検査チップ2の自転角度が、90度から0度に変更される。第七送液処理では、自転角度0度の検査チップ2に、遠心力X1が所定時間作用される。このとき、図7の状態F13に示すように、左辺部83から右辺部82に向けて、検査チップ2に遠心力X1が作用する。遠心力X1の作用によって、各液体は次のように移動する。   Next, the CPU 101 executes a seventh liquid feeding process (S13). In the seventh liquid feeding step, the revolution speed is increased until the centrifugal force X1 acts on the inspection chip 2. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 90 degrees to 0 degrees. In the seventh liquid feeding process, the centrifugal force X1 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 0 degree for a predetermined time. At this time, as shown in the state F13 of FIG. 7, the centrifugal force X1 acts on the test chip 2 from the left side portion 83 toward the right side portion 82. By the action of the centrifugal force X1, each liquid moves as follows.

基質溶液95は、反応部380から第四受部550に移動する。停止液96は、標識抗体液導入部330から共通受部370に移動する。測定部390にある第二洗浄液94は、廃液85として第一廃液部710に移動する。これにより、廃液部700に貯留される廃液85が増量する。廃液部700では、廃液85が図6の状態F11と同様に移動する。このとき、第一廃液部710及び第二廃液部730の各々で保持される廃液85の液量は、状態F11よりも多い。   The substrate solution 95 moves from the reaction unit 380 to the fourth receiving unit 550. The stop solution 96 moves from the labeled antibody solution introduction unit 330 to the common receiving unit 370. The second cleaning liquid 94 in the measurement unit 390 moves to the first waste liquid unit 710 as the waste liquid 85. Thereby, the waste liquid 85 stored in the waste liquid part 700 increases. In the waste liquid part 700, the waste liquid 85 moves in the same manner as in the state F11 of FIG. At this time, the liquid amount of the waste liquid 85 held in each of the first waste liquid part 710 and the second waste liquid part 730 is larger than that in the state F11.

次いでCPU101は、第四反応工程を実行する(S14)。第四反応工程では、検査チップ2に遠心力X24が作用するまで、公転速度が下降される。遠心力X24は、遠心力X1以下の大きさであり、好適には遠心力X21以下の大きさである。本実施形態の遠心力X24は、遠心力X22と同程度である。また、検査チップ2の自転角度が、0度から90度に変更される。第四反応工程では、自転角度90度の検査チップ2に、遠心力X24が所定時間作用される。   Next, the CPU 101 executes a fourth reaction process (S14). In the fourth reaction step, the revolution speed is lowered until the centrifugal force X24 acts on the test chip 2. The centrifugal force X24 has a magnitude of not more than the centrifugal force X1, and preferably has a magnitude of not more than the centrifugal force X21. The centrifugal force X24 of this embodiment is approximately the same as the centrifugal force X22. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 0 degrees to 90 degrees. In the fourth reaction step, the centrifugal force X24 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 90 degrees for a predetermined time.

このとき、図7の状態F14に示すように、上辺部81から下辺部84に向けて、遠心力X24が検査チップ2に作用する。遠心力X24の作用によって、各液体は次のように移動する。基質溶液95は、第四受部550から測定部390に移動する。停止液96は、共通受部370から反応部380に移動する。廃液部700では、廃液85が図6の状態F12と同様に移動する。このとき、液面851,852は、状態F12よりも遠心力方向の上流側にある。   At this time, as shown in a state F14 in FIG. 7, the centrifugal force X24 acts on the test chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. By the action of the centrifugal force X24, each liquid moves as follows. The substrate solution 95 moves from the fourth receiving unit 550 to the measuring unit 390. The stop liquid 96 moves from the common receiving unit 370 to the reaction unit 380. In the waste liquid part 700, the waste liquid 85 moves in the same manner as in the state F12 of FIG. At this time, the liquid levels 851 and 852 are upstream of the state F12 in the centrifugal force direction.

次いでCPU101は、第八送液工程を実行する(S15)。第八送液工程では、検査チップ2に遠心力X1が作用するまで、公転速度が上昇される。また、検査チップ2の自転角度が、90度から第三自転角度に変更される。第八送液工程では、第三自転角度の検査チップ2に、遠心力X1が所定時間作用される。   Next, the CPU 101 executes an eighth liquid feeding process (S15). In the eighth liquid feeding step, the revolution speed is increased until the centrifugal force X1 acts on the inspection chip 2. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 90 degrees to the third rotation angle. In the eighth liquid feeding step, the centrifugal force X1 is applied to the inspection tip 2 having the third rotation angle for a predetermined time.

このとき、図7の状態F15に示すように、案内面381に垂直な方向に向けて、遠心力X1が検査チップ2に作用する。遠心力X1の作用によって、停止液96は反応部380から第四受部550に移動する。上記式(2)の関係によって、基質溶液95は測定部390に保持される。廃液部700では、廃液85が図6の状態F7と同様に移動する。   At this time, as shown in a state F15 in FIG. 7, the centrifugal force X1 acts on the test chip 2 in a direction perpendicular to the guide surface 381. Due to the action of the centrifugal force X1, the stop liquid 96 moves from the reaction unit 380 to the fourth receiving unit 550. The substrate solution 95 is held in the measurement unit 390 according to the relationship of the above formula (2). In the waste liquid part 700, the waste liquid 85 moves in the same manner as in the state F7 in FIG.

次いでCPU101は、第五反応工程を実行する(S16)。第五反応工程では、検査チップ2に遠心力X25が作用するまで、公転速度が下降される。遠心力X25は、遠心力X1以下の大きさであり、好適には遠心力X21以下の大きさである。本実施形態の遠心力X25は、遠心力X22と同程度である。また、検査チップ2の自転角度が、0度から90度に変更される。第五反応工程では、自転角度90度の検査チップ2に、遠心力X25が所定時間作用される。   Next, the CPU 101 executes a fifth reaction step (S16). In the fifth reaction step, the revolution speed is lowered until the centrifugal force X25 acts on the test chip 2. Centrifugal force X25 has a magnitude of centrifugal force X1 or less, and preferably has a magnitude of centrifugal force X21 or less. The centrifugal force X25 of the present embodiment is approximately the same as the centrifugal force X22. Further, the rotation angle of the inspection chip 2 is changed from 0 degrees to 90 degrees. In the fifth reaction step, the centrifugal force X25 is applied to the inspection chip 2 having a rotation angle of 90 degrees for a predetermined time.

このとき、図7の状態F16に示すように、上辺部81から下辺部84に向けて、遠心力X24が検査チップ2に作用する。遠心力X25の作用によって、停止液96は第四受部550から測定部390に移動する。測定部390では、基質溶液95に停止液96が混合され、基質溶液95の酵素反応の進行が停止する。停止液96が混合された基質溶液95を、測定溶液87という。廃液部700では、廃液85が図7の状態F14と同様に移動する。   At this time, as shown in a state F <b> 16 in FIG. 7, the centrifugal force X <b> 24 acts on the test chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. Due to the action of the centrifugal force X25, the stop liquid 96 moves from the fourth receiving part 550 to the measuring part 390. In the measurement unit 390, the stop solution 96 is mixed with the substrate solution 95, and the progress of the enzyme reaction of the substrate solution 95 is stopped. The substrate solution 95 mixed with the stop solution 96 is referred to as a measurement solution 87. In the waste liquid part 700, the waste liquid 85 moves in the same manner as in the state F14 of FIG.

CPU101は、第五反応工程の実行後、公転速度を0まで下降させ、且つ自転角度を90度から0度に変更して、遠心処理を終了する。図7の状態F16に示すように、検査チップ2には、上辺部81から下辺部84に向けて重力Gが作用する。重力Gによって、測定溶液87は測定部390に保持される。CPU101は、遠心処理の実行後、検査チップ2を測定位置まで公転させる。   After executing the fifth reaction step, the CPU 101 lowers the revolution speed to 0, changes the rotation angle from 90 degrees to 0 degrees, and ends the centrifugation process. As shown in a state F <b> 16 in FIG. 7, gravity G acts on the inspection chip 2 from the upper side portion 81 toward the lower side portion 84. The measurement solution 87 is held in the measurement unit 390 due to the gravity G. After executing the centrifugal process, the CPU 101 revolves the inspection chip 2 to the measurement position.

図1に示すように、測定コントローラ99は、光源71を発光させることで、測定光を測定部390に貯溜された測定溶液87に透過させる。CPU101は、光センサ72が受光した測定光の変化量に基づいて、測定溶液87の光学測定を行い、測定データを取得する。CPU101は、取得された測定データに基づいて測定溶液87の測定結果を算出し、その算出結果をディスプレイ106に表示させる。尚、測定溶液87の測定方法は、光学測定に限られず、他の方法でもよい。   As shown in FIG. 1, the measurement controller 99 causes the measurement light 87 to pass through the measurement solution 87 stored in the measurement unit 390 by causing the light source 71 to emit light. The CPU 101 performs optical measurement of the measurement solution 87 based on the change amount of the measurement light received by the optical sensor 72 and acquires measurement data. The CPU 101 calculates the measurement result of the measurement solution 87 based on the acquired measurement data, and displays the calculation result on the display 106. Note that the measurement method of the measurement solution 87 is not limited to optical measurement, and other methods may be used.

<8.遠心処理における遠心力の制御態様>
図8を参照して、遠心処理(図4参照)における遠心力の制御態様を説明する。図8では、遠心力Xが作用する自転角度90度の検査チップ2において、その前後方向中心を通る仮想面における断面を正面視した、反応部380近傍の拡大図である。図8では、図示しない液体が反応部380に貯留されているものとする。また、反応部380において、遠心力Xの大きさに応じて変化する液体の液面C1〜C4を、仮想線で示す。液面C1〜C4は、互いに同量の液体の液面である。
<8. Control Mode of Centrifugal Force in Centrifugal Processing>
With reference to FIG. 8, the control aspect of the centrifugal force in a centrifugation process (refer FIG. 4) is demonstrated. FIG. 8 is an enlarged view of the vicinity of the reaction unit 380 in a front view of a cross section of a virtual plane passing through the center in the front-rear direction in the test chip 2 having a rotation angle of 90 degrees where the centrifugal force X acts. In FIG. 8, it is assumed that a liquid (not shown) is stored in the reaction unit 380. Moreover, in the reaction part 380, the liquid level C1-C4 of the liquid which changes according to the magnitude | size of the centrifugal force X is shown with a virtual line. The liquid levels C1 to C4 are liquid levels of the same amount of liquid.

上記遠心処理では、反応に関与する液体である試料液91、標識抗体液93、及び基質溶液95と、反応に関与しない液体である第一洗浄液92及び第二洗浄液94とが用いられる。遠心力X21〜X23の作用によって、反応に関与する液体が所定の部位に保持されることで、所定の反応が行われる。遠心力X31〜X33の作用によって、反応に関与しない液体が所定の部位に保持されることで、反応とは異なる処理が行われる。本実施形態では、所定の部位は反応部380であり、反応とは異なる処理は洗浄処理である。以下では、遠心力X21〜X23を総称して、遠心力X2という。遠心力X2は、遠心力X24,X25を含んでもよい。また、遠心力X31〜X33を総称して、遠心力X3という。   In the centrifugation process, a sample solution 91, a labeled antibody solution 93, and a substrate solution 95, which are liquids involved in the reaction, and a first washing solution 92 and a second washing solution 94, which are liquids not involved in the reaction, are used. Due to the action of the centrifugal forces X21 to X23, the liquid involved in the reaction is held in the predetermined part, whereby the predetermined reaction is performed. Due to the action of the centrifugal forces X31 to X33, a liquid that does not participate in the reaction is held at a predetermined site, so that a process different from the reaction is performed. In this embodiment, the predetermined part is the reaction part 380, and the process different from the reaction is a cleaning process. Hereinafter, the centrifugal forces X21 to X23 are collectively referred to as centrifugal force X2. The centrifugal force X2 may include centrifugal forces X24 and X25. Further, the centrifugal forces X31 to X33 are collectively referred to as centrifugal force X3.

(1)遠心力X2は、遠心力X3よりも大きい。具体的には、遠心力X21〜X23の各々は、遠心力X31〜X33の何れもよりも大きい。本例では、図8に示す検査チップ2に遠心力X21が付与されている状態では、反応部380内にある液体の液面は、液面C1と同じ表面状態となる。液面C1は、遠心力方向と直交する平面状である。 (1) The centrifugal force X2 is larger than the centrifugal force X3. Specifically, each of the centrifugal forces X21 to X23 is greater than any of the centrifugal forces X31 to X33. In this example, in the state where the centrifugal force X21 is applied to the test chip 2 shown in FIG. 8, the liquid level of the liquid in the reaction unit 380 is the same surface state as the liquid level C1. The liquid level C1 has a planar shape orthogonal to the centrifugal force direction.

図8に示す検査チップ2に遠心力X22,X23の何れかが付与されている状態では、反応部380内にある液体は表面張力によって反応部380の壁面に沿って若干広がる。このとき、反応部380内にある液体の液面は、液面C2と同じ表面状態となる。液面C2は、液面C1と比べて遠心力方向の下流側に凹む湾曲面である。液面C1,C2が同量の液体の液面である場合、液面C2の縁部は液面C1の縁部よりも遠心力方向の上流側にある。この場合、液面C2の液体は液面C1の液体よりも、反応部380の壁面との接触面積が大きい。   In a state where any one of the centrifugal forces X22 and X23 is applied to the inspection chip 2 shown in FIG. 8, the liquid in the reaction unit 380 spreads slightly along the wall surface of the reaction unit 380 due to surface tension. At this time, the liquid level in the reaction unit 380 is in the same surface state as the liquid level C2. The liquid level C2 is a curved surface that is recessed downstream in the centrifugal force direction as compared with the liquid level C1. When the liquid levels C1 and C2 are liquid levels of the same amount of liquid, the edge of the liquid level C2 is upstream of the edge of the liquid level C1 in the centrifugal force direction. In this case, the liquid on the liquid surface C2 has a larger contact area with the wall surface of the reaction unit 380 than the liquid on the liquid surface C1.

図8に示す検査チップ2に遠心力X33が付与されている状態では、遠心力X22,X23の何れかが付与されている状態よりも、反応部380内にある液体は表面張力によって反応部380の壁面に沿って広がりやすい。このとき、反応部380内にある液体の液面は、液面C3と同じ表面状態となる。液面C3は、液面C2と比べて遠心力方向の下流側に大きく凹む湾曲面である。液面C2,C3が同量の液体の液面である場合、液面C3の縁部は液面C2の縁部よりも遠心力方向の上流側にある。この場合、液面C3の液体は液面C2の液体よりも、反応部380の壁面との接触面積が大きい。   In the state in which the centrifugal force X33 is applied to the inspection chip 2 shown in FIG. 8, the liquid in the reaction unit 380 is caused by the surface tension of the reaction unit 380 than in the state in which any one of the centrifugal forces X22 and X23 is applied. It is easy to spread along the wall. At this time, the liquid level in the reaction unit 380 is in the same surface state as the liquid level C3. The liquid level C3 is a curved surface that is greatly recessed downstream in the centrifugal force direction as compared with the liquid level C2. When the liquid levels C2 and C3 are liquid levels of the same amount of liquid, the edge of the liquid level C3 is upstream of the edge of the liquid level C2 in the centrifugal force direction. In this case, the liquid on the liquid surface C3 has a larger contact area with the wall surface of the reaction unit 380 than the liquid on the liquid surface C2.

図8に示す検査チップ2に遠心力X31,X32の何れかが付与されている状態では、遠心力X33が付与されている状態よりも、反応部380内にある液体は表面張力によって反応部380の壁面に沿って広がりやすい。このとき、反応部380内にある液体の液面は、液面C4と同じ表面状態となる。液面C4は、液面C3と比べて遠心力方向の下流側に大きく凹む湾曲面である。液面C3,C4が同量の液体の液面である場合、液面C4の縁部は液面C3の縁部よりも遠心力方向の上流側にある。この場合、液面C4の液体は液面C3の液体よりも、反応部380の壁面との接触面積が大きい。   In the state where any one of the centrifugal forces X31 and X32 is applied to the inspection chip 2 shown in FIG. 8, the liquid in the reaction unit 380 is caused by the surface tension of the reaction unit 380 than in the state where the centrifugal force X33 is applied. It is easy to spread along the wall. At this time, the liquid level in the reaction unit 380 is in the same surface state as the liquid level C4. The liquid surface C4 is a curved surface that is greatly recessed downstream in the centrifugal force direction as compared with the liquid surface C3. When the liquid surfaces C3 and C4 are liquid surfaces of the same amount of liquid, the edge of the liquid surface C4 is located upstream of the edge of the liquid surface C3 in the centrifugal force direction. In this case, the liquid on the liquid surface C4 has a larger contact area with the wall surface of the reaction unit 380 than the liquid on the liquid surface C3.

即ち、遠心力X3に基づく液面C3,C4の各々は、遠心力X2に基づく液面C1,C2の何れよりも、液量に対して反応部380の壁面と接触する割合が大きい状態である。そのため、S4の第一洗浄工程(図5の状態F4)では、試料液91よりも少ない液量の第一洗浄液92によって、反応部380の壁面に残留する試料液91の成分を洗浄できる。   That is, each of the liquid levels C3 and C4 based on the centrifugal force X3 is in a state in which the ratio of contact with the wall surface of the reaction unit 380 is larger than the liquid levels C1 and C2 based on the centrifugal force X2. . Therefore, in the first cleaning step of S4 (state F4 in FIG. 5), the components of the sample liquid 91 remaining on the wall surface of the reaction unit 380 can be cleaned with the first cleaning liquid 92 having a smaller liquid volume than the sample liquid 91.

より詳細には、S2の第一反応工程(図5の状態F2)において、試料液91の液面は、遠心力X21によって液面C1と同じ表面状態に保持される。次いで、S4の第一洗浄工程(図5の状態F4)において、第一洗浄液92の液面は、遠心力X31によって液面C4と同じ表面状態に保持される。このとき、第一洗浄液92の液量が試料液91の液量よりも少ない場合でも、第一洗浄液92の液面の縁部が試料液91の液面の縁部よりも遠心力方向の上流側にあれば、第一洗浄液92は反応部380の壁面に残存する試料液91の成分を除去できる。   More specifically, in the first reaction step S2 (state F2 in FIG. 5), the liquid surface of the sample liquid 91 is held in the same surface state as the liquid surface C1 by the centrifugal force X21. Next, in the first cleaning step of S4 (state F4 in FIG. 5), the liquid level of the first cleaning liquid 92 is maintained in the same surface state as the liquid level C4 by the centrifugal force X31. At this time, even when the amount of the first cleaning liquid 92 is smaller than the amount of the sample liquid 91, the edge of the liquid surface of the first cleaning liquid 92 is upstream of the edge of the liquid surface of the sample liquid 91 in the centrifugal force direction. If it exists in the side, the 1st washing | cleaning liquid 92 can remove the component of the sample liquid 91 which remains on the wall surface of the reaction part 380. FIG.

同様に、S8の第二洗浄工程(図6の状態F8)及びS10の第三洗浄工程(図6の状態F10)では、標識抗体液93よりも少ない液量の第二洗浄液94によって、反応部380の壁面に残留する標識抗体液93の成分を除去できる。更に反応部380の壁面に残留する標識抗体液93の成分は、二回の洗浄工程(第二洗浄工程及び第三洗浄工程)によって確実に洗浄される。   Similarly, in the second washing step of S8 (state F8 in FIG. 6) and the third washing step of S10 (state F10 in FIG. 6), the reaction part is treated by the second washing liquid 94 having a smaller amount than the labeled antibody solution 93. The components of the labeled antibody solution 93 remaining on the wall surface of 380 can be removed. Further, the components of the labeled antibody solution 93 remaining on the wall surface of the reaction unit 380 are reliably washed by two washing steps (second washing step and third washing step).

(2)遠心力X33は、遠心力X32以上である。本例では、遠心力X33は遠心力X32よりも大きい。第二洗浄工程において、第二洗浄液94の液面は、遠心力X32によって液面C4と同じ表面状態に保持される。液面C4は、液面C1〜C4のうちで、液量に対して反応部380の壁面と接触する割合が最も大きい状態である。液体の液面が液面C4と同じ表面状態である場合、第二洗浄液94と反応部380の壁面との接触面積が大きいため、反応部380の広範囲を洗浄できる。 (2) The centrifugal force X33 is equal to or greater than the centrifugal force X32. In this example, the centrifugal force X33 is larger than the centrifugal force X32. In the second cleaning step, the liquid level of the second cleaning liquid 94 is maintained in the same surface state as the liquid level C4 by the centrifugal force X32. The liquid level C4 is in a state in which the ratio of the liquid level C1 to C4 contacting the wall surface of the reaction unit 380 is the largest with respect to the liquid level. When the liquid level is the same as the liquid level C4, the contact area between the second cleaning liquid 94 and the wall surface of the reaction unit 380 is large, so that a wide range of the reaction unit 380 can be cleaned.

次いで、第三洗浄工程において、第二洗浄液94の液面は、遠心力X33によって液面C3の状態に保持される。第二洗浄液94と反応部380の壁面との接触面積は、第二洗浄工程よりも小さい。一方、第二洗浄工程によって洗浄された反応部380の壁面は、第二洗浄液94で濡れた状態にある。そのため、第三洗浄工程では、第二洗浄液94が反応部380の壁面に沿って広がりやすく、反応部380から流出しやすい。これに対して、遠心力X33は遠心力X32よりも大きいため、第二洗浄液94を反応部380内で確実に保持できる。なお、遠心力X32,X33は互いに同じ大きさでもよい。   Next, in the third cleaning step, the liquid level of the second cleaning liquid 94 is held in the state of the liquid level C3 by the centrifugal force X33. The contact area between the second cleaning liquid 94 and the wall surface of the reaction unit 380 is smaller than that in the second cleaning step. On the other hand, the wall surface of the reaction part 380 cleaned by the second cleaning step is wet with the second cleaning liquid 94. Therefore, in the third cleaning step, the second cleaning liquid 94 easily spreads along the wall surface of the reaction unit 380 and easily flows out of the reaction unit 380. On the other hand, since the centrifugal force X33 is larger than the centrifugal force X32, the second cleaning liquid 94 can be reliably held in the reaction unit 380. The centrifugal forces X32 and X33 may have the same magnitude.

なお、遠心力X31は遠心力X32,X33よりも大きいことが好適である。本実施形態では、先に実行される第一洗浄工程の洗浄精度よりも、後に実行される第二及び第三洗浄工程の洗浄精度の方が、液体反応の検査結果に与える影響が大きい。遠心力X31は遠心力X32,X33よりも大きくすることで、第二及び第三洗浄工程は第一洗浄工程よりも反応部380の広範囲を洗浄できる。従って、第二洗浄液94の使用量を抑制しつつ、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。   The centrifugal force X31 is preferably larger than the centrifugal forces X32 and X33. In the present embodiment, the cleaning accuracy of the second and third cleaning steps to be executed later has a greater influence on the liquid reaction test result than the cleaning accuracy of the first cleaning step to be executed first. By making the centrifugal force X31 larger than the centrifugal forces X32 and X33, the second and third washing steps can wash a wider area of the reaction unit 380 than the first washing step. Therefore, an accurate test result regarding the liquid reaction can be obtained while suppressing the amount of the second cleaning liquid 94 used.

(3)遠心力X1は、液体を移動させるための遠心力である。遠心力X2は、遠心力X1以下である。即ち遠心力X1は、遠心力X1,X2,X3のうちで最も大きい。これにより、各搬送工程(S1,S3,S5,S7,S9,S11,S13,S15)では、移動対象の液体を、液残りを生じることなく目的位置へ正確に移動させることができる。また、遠心力X1が検査チップ2に作用する状態では、液体の液面が液面C1と同様に、遠心力方向と直交する平面状となる。従って、移動対象の液体と液体流路25を形成する壁面との接触面積を抑制できるため、他の液体の搬送精度を向上できる。 (3) The centrifugal force X1 is a centrifugal force for moving the liquid. The centrifugal force X2 is equal to or less than the centrifugal force X1. That is, the centrifugal force X1 is the largest among the centrifugal forces X1, X2, and X3. Thereby, in each conveyance process (S1, S3, S5, S7, S9, S11, S13, S15), the liquid to be moved can be accurately moved to the target position without causing a liquid residue. Further, in a state where the centrifugal force X1 is applied to the test chip 2, the liquid level of the liquid becomes a planar shape orthogonal to the centrifugal force direction, like the liquid level C1. Therefore, since the contact area between the liquid to be moved and the wall surface forming the liquid flow path 25 can be suppressed, the transport accuracy of other liquids can be improved.

本例では、遠心力X2,X3は、何れも遠心力X1よりも小さい。従って、各反応工程(S2,S6,S12,S14,S16)の公転速度、及び各洗浄工程(S4,S8,S10)の公転速度は、何れも各搬送工程の公転速度よりも小さい。このように、各搬送工程以外の工程における公転速度を抑制することで、検査装置1の遠心処理時のエネルギー消費を低減できる。なお、遠心力X2は遠心力X1と同じ大きさでもよい。   In this example, the centrifugal forces X2 and X3 are both smaller than the centrifugal force X1. Therefore, the revolution speed of each reaction process (S2, S6, S12, S14, S16) and the revolution speed of each cleaning process (S4, S8, S10) are all smaller than the revolution speed of each conveyance process. Thus, the energy consumption at the time of the centrifugation process of the test | inspection apparatus 1 can be reduced by suppressing the revolution speed in processes other than each conveyance process. The centrifugal force X2 may be the same magnitude as the centrifugal force X1.

(4)遠心力X21は、遠心力X22,X23以上である。第一反応工程(S2)では、反応部380において試料液91に含まれる検査対象物質が固相化抗体と結合される。このとき、試料液91と反応部380との接触面積が大きいほど、第一結合体の生成量が多くなる。第一反応工程における第一結合体の生成量が予定量と一致しない場合、測定精度に悪影響を及ぼす可能性がある。 (4) The centrifugal force X21 is greater than or equal to the centrifugal forces X22 and X23. In the first reaction step (S2), the test target substance contained in the sample solution 91 is combined with the immobilized antibody in the reaction unit 380. At this time, the larger the contact area between the sample solution 91 and the reaction unit 380, the greater the amount of first conjugate produced. If the amount of the first conjugate produced in the first reaction step does not match the expected amount, the measurement accuracy may be adversely affected.

本例では、遠心力X21が遠心力X21〜X23のうちで最も大きい。第一反応工程において遠心力X21が作用されることで、反応部380にある試料液91の液面は遠心力方向と直交する平面状となる。これにより、試料液91と反応部380との接触面積を、正確な測定精度を得るのに好適な予定面積に制御できる。第一結合体の生成量が、正確な測定精度を得るのに好適な予定量に制御されるため、測定精度を向上できる。   In this example, the centrifugal force X21 is the largest among the centrifugal forces X21 to X23. When the centrifugal force X21 is applied in the first reaction step, the liquid surface of the sample liquid 91 in the reaction unit 380 becomes a planar shape orthogonal to the centrifugal force direction. Thereby, the contact area of the sample liquid 91 and the reaction part 380 can be controlled to a predetermined area suitable for obtaining accurate measurement accuracy. Since the production amount of the first conjugate is controlled to a predetermined amount suitable for obtaining accurate measurement accuracy, the measurement accuracy can be improved.

一方、第二反応工程(S6)において、反応物である標識抗体液93の液量は、被反応物である第一結合体の量に対して過剰である。そのため、第二反応工程は、標識抗体液93と反応部380の壁面との接触面積を正確に制御する必要性が相対的に低い。同様に、第三反応工程(S12)において、反応物である基質溶液95の液量は、被反応物である第二結合体の量に対して過剰である。そのため、第三反応工程は、基質溶液95と反応部380の壁面との接触面積を正確に制御する必要性が相対的に低い。   On the other hand, in the second reaction step (S6), the amount of the labeled antibody solution 93 that is a reactant is excessive with respect to the amount of the first conjugate that is a reactant. Therefore, in the second reaction step, the necessity for accurately controlling the contact area between the labeled antibody solution 93 and the wall surface of the reaction unit 380 is relatively low. Similarly, in the third reaction step (S12), the amount of the substrate solution 95 that is a reactant is excessive with respect to the amount of the second conjugate that is a reactant. Therefore, in the third reaction step, the necessity of accurately controlling the contact area between the substrate solution 95 and the wall surface of the reaction unit 380 is relatively low.

従って、第二反応工程及び第三反応工程では、第一反応工程のように液面を高精度で制御する必要性が相対的に低い。本例では、遠心力X22,X23の各々が遠心力X21よりも小さいため、検査装置1の遠心処理時のエネルギー消費を低減できる。なお、遠心力X21は、遠心力X22,X23の少なくとも一つと同じ大きさでもよい。遠心力X22,X23は、互いに同じ大きさでもよいし、互いに異なる大きさでもよい。   Therefore, in the second reaction step and the third reaction step, the necessity for controlling the liquid level with high accuracy as in the first reaction step is relatively low. In this example, since each of the centrifugal forces X22 and X23 is smaller than the centrifugal force X21, it is possible to reduce energy consumption during the centrifugal processing of the inspection apparatus 1. The centrifugal force X21 may be as large as at least one of the centrifugal forces X22 and X23. The centrifugal forces X22 and X23 may be the same size or different from each other.

<9.本実施形態の作用の例示>
(1)遠心処理(図4参照)の各工程において、検査チップ2に加速度を作用されることで、以下のように液体が操作される。本実施形態では、検査装置1が加速度として遠心力を検査チップ2に作用させ、且つ遠心力の作用する方向を調整することで、遠心処理の各工程が実行される。以下では、試料液導入部310、第一洗浄液導入部320、標識抗体液導入部330、第二洗浄液導入部340、基質溶液導入部350、及び停止液導入部360を総称して、各液体が導入される領域である導入部という。
<9. Example of operation of this embodiment>
(1) In each step of the centrifugal treatment (see FIG. 4), the liquid is operated as follows by applying an acceleration to the inspection chip 2. In the present embodiment, each step of the centrifugal process is executed by causing the inspection device 1 to apply a centrifugal force as an acceleration to the inspection chip 2 and adjusting the direction in which the centrifugal force acts. Hereinafter, the sample solution introduction unit 310, the first washing solution introduction unit 320, the labeled antibody solution introduction unit 330, the second washing solution introduction unit 340, the substrate solution introduction unit 350, and the stop solution introduction unit 360 are collectively referred to as each liquid. It is called an introduction section that is an area to be introduced.

まず第一送液工程(S1)では、反応に関与する液体である試料液91が導入部から下流側に移動される。次に第一反応工程(S2)では、試料液91が反応部380に保持される。次に第二送液工程(S3)では、試料液91が反応部380から下流側に移動され、且つ、反応に関与しない液体である第一洗浄液92が導入部から下流側に移動される。次に第一洗浄工程(S4)では、第一洗浄液92が反応部380に保持される。第一反応工程の遠心力X21は、第一洗浄工程の遠心力X31よりも大きい。これにより、第一反応工程において保持される試料液91と反応部380との間の表面張力と、第一洗浄工程において保持される第一洗浄液92と反応部380との間の表面張力では、前者の方が加速度によって相殺される方向の力が働きやすい。   First, in the first liquid feeding step (S1), the sample liquid 91 that is a liquid involved in the reaction is moved downstream from the introduction portion. Next, in the first reaction step (S2), the sample solution 91 is held in the reaction unit 380. Next, in the second liquid feeding step (S3), the sample liquid 91 is moved downstream from the reaction part 380, and the first cleaning liquid 92 that is a liquid not involved in the reaction is moved downstream from the introduction part. Next, in the first cleaning step (S4), the first cleaning liquid 92 is held in the reaction unit 380. The centrifugal force X21 in the first reaction step is larger than the centrifugal force X31 in the first cleaning step. Thereby, in the surface tension between the sample liquid 91 and the reaction part 380 held in the first reaction step, and the surface tension between the first cleaning liquid 92 and the reaction part 380 held in the first cleaning step, In the former, the force in the direction offset by acceleration is more likely to work.

即ち、試料液91と第一洗浄液92との各液量が同等である場合、第一洗浄工程における第一洗浄液92と反応部380との接触面積は、第一反応工程における試料液91と反応部380との接触面積よりも大きい。第一洗浄液92の液量が試料液91の液量よりも少ない場合でも、第一洗浄液92は反応部380のうちで試料液91と接触した領域の全体と接触可能である。従って、反応に関与しない第一洗浄液92の使用量を抑制しつつ、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。   That is, when the liquid amounts of the sample liquid 91 and the first cleaning liquid 92 are the same, the contact area between the first cleaning liquid 92 and the reaction unit 380 in the first cleaning process reacts with the sample liquid 91 in the first reaction process. The contact area with the portion 380 is larger. Even when the amount of the first cleaning liquid 92 is smaller than the amount of the sample liquid 91, the first cleaning liquid 92 can contact the entire region of the reaction unit 380 that is in contact with the sample liquid 91. Therefore, an accurate test result relating to the liquid reaction can be obtained while suppressing the amount of the first cleaning liquid 92 that is not involved in the reaction.

(2)第一反応工程(S2)では、試料液91が反応部380に配置された固相化抗体と反応される。第一洗浄工程(S4)では、第一洗浄液92によって反応部380が洗浄される。これにより、反応に関与しない第一洗浄液92の使用量を抑制しつつ、第一洗浄工程以降の工程において、反応部380で液体を正確に反応させることができる。 (2) In the first reaction step (S2), the sample solution 91 is reacted with the immobilized antibody arranged in the reaction unit 380. In the first cleaning step (S4), the reaction section 380 is cleaned by the first cleaning liquid 92. Thereby, in the process after a 1st washing | cleaning process, the liquid can be made to react correctly in the process after the 1st washing | cleaning process, suppressing the usage-amount of the 1st washing | cleaning liquid 92 which is not concerned in reaction.

(3)第一反応工程(S2)では、検査対象物質と固相化抗体とが結合された第一結合体が生成される。第一洗浄工程(S4)では、反応部380に残存する第一結合体以外の成分が除去される。次に第三送液工程(S5)では、第一洗浄液92が反応部380から下流側に移動され、且つ標識抗体液93が導入部から下流側に移動される。次に第二反応工程(S6)では、反応部380に標識抗体液93が保持されて、酵素標識抗体と第一結合体とが特異的に結合された第二結合体が生成される。次に第四送液工程(S7)及び第五送液工程(S9)では、標識抗体液93が反応部380から下流側に移動され、且つ第二洗浄液94が導入部から下流側に移動される。 (3) In the first reaction step (S2), a first conjugate in which the test substance and the immobilized antibody are bound is generated. In the first washing step (S4), components other than the first combined body remaining in the reaction unit 380 are removed. Next, in the third liquid feeding step (S5), the first cleaning liquid 92 is moved downstream from the reaction part 380, and the labeled antibody liquid 93 is moved downstream from the introduction part. Next, in the second reaction step (S6), the labeled antibody solution 93 is held in the reaction unit 380, and a second conjugate in which the enzyme-labeled antibody and the first conjugate are specifically bound is generated. Next, in the fourth liquid feeding step (S7) and the fifth liquid feeding step (S9), the labeled antibody solution 93 is moved downstream from the reaction part 380, and the second cleaning liquid 94 is moved downstream from the introduction part. The

次に第二洗浄工程(S8)及び第三洗浄工程(S10)では、反応部380に第二洗浄液94が保持されて、反応部380に残存する第二結合体以外の成分が除去される。次に第六送液工程(S11)では、第二洗浄液94が反応部380から下流側に移動され、且つ基質溶液95が導入部から下流側に移動される。次に第三反応工程(S12)では、反応部380に基質溶液95が保持されて、基質溶液95が第二結合体と反応される。第一〜第三反応工程(S2,S6,S12)の各遠心力X21,X22,X23は、第一〜第三洗浄工程(S4,S8,S10)の各遠心力X31,X32,X33よりも大きい。   Next, in the second cleaning step (S8) and the third cleaning step (S10), the second cleaning liquid 94 is held in the reaction unit 380, and components other than the second conjugate remaining in the reaction unit 380 are removed. Next, in the sixth liquid feeding step (S11), the second cleaning liquid 94 is moved downstream from the reaction part 380, and the substrate solution 95 is moved downstream from the introduction part. Next, in the third reaction step (S12), the substrate solution 95 is held in the reaction unit 380, and the substrate solution 95 is reacted with the second conjugate. The centrifugal forces X21, X22, X23 in the first to third reaction steps (S2, S6, S12) are more than the centrifugal forces X31, X32, X33 in the first to third washing steps (S4, S8, S10). large.

即ち、反応部380において第一液を反応させる各工程の遠心力X2は、反応部380を第二液で洗浄する各工程の遠心力X3よりも大きい。これにより、第一〜第三反応工程の各々における第一液と反応部380との間の表面張力と、第一〜第三洗浄工程の各々における第二液と反応部380との間の表面張力では、前者の方が加速度によって相殺される方向の力が働きやすい。即ち、第一液と第二液との各液量が同等の場合、第一〜第三反応工程の各々における第一液と反応部との接触面積は、第一〜第三洗浄工程の各々における第二液と反応部との接触面積よりも大きい。   That is, the centrifugal force X2 of each process in which the first liquid is reacted in the reaction unit 380 is larger than the centrifugal force X3 of each process of washing the reaction part 380 with the second liquid. Thereby, the surface tension between the first liquid and the reaction part 380 in each of the first to third reaction steps, and the surface between the second liquid and the reaction part 380 in each of the first to third cleaning steps. With tension, the former tends to work in a direction that is offset by acceleration. That is, when the liquid amounts of the first liquid and the second liquid are equal, the contact area between the first liquid and the reaction part in each of the first to third reaction steps is the first to third cleaning steps. It is larger than the contact area between the second liquid and the reaction part.

従って、第一洗浄液92が試料液91よりも少ない場合でも、第一洗浄液92は反応部380のうちで試料液91と接触した領域の全体と接触可能であるため、反応部380に残存する第一結合体以外の成分を確実に除去できる。第二洗浄液94が標識抗体液93よりも少ない場合でも、第二洗浄液94は反応部380のうちで標識抗体液93と接触した領域の全体と接触可能であるため、反応部380に残存する第二結合体以外の成分を確実に除去できる。従って、第三反応工程において基質溶液95が第二結合体と反応された場合に、より正確な反応結果が得られる。   Therefore, even when the first cleaning liquid 92 is smaller than the sample liquid 91, the first cleaning liquid 92 can contact the entire region of the reaction unit 380 that is in contact with the sample liquid 91. Components other than a single conjugate can be reliably removed. Even when the second cleaning liquid 94 is less than the labeled antibody solution 93, the second cleaning liquid 94 can contact the entire region of the reaction unit 380 that is in contact with the labeled antibody solution 93. Therefore, the second cleaning solution 94 remains in the reaction unit 380. Components other than the two conjugates can be reliably removed. Therefore, more accurate reaction results can be obtained when the substrate solution 95 is reacted with the second conjugate in the third reaction step.

(4)反応部380において液体を反応させる各工程(S2,S6,S12)の遠心力X2は、検査チップ2内で液体を移動させる各工程(S1,S3,S5,S7,S9,S11)の遠心力X1以下である。これにより、遠心処理の実行に伴うエネルギー消費を抑制でき、且つ、検査チップ2内で液体を正確に移動させることができる。 (4) Centrifugal force X2 of each step (S2, S6, S12) in which the liquid is reacted in the reaction unit 380 causes each step (S1, S3, S5, S7, S9, S11) to move the liquid in the inspection chip 2. The centrifugal force is less than X1. Thereby, the energy consumption accompanying execution of the centrifugal treatment can be suppressed, and the liquid can be accurately moved in the inspection chip 2.

(5)第一反応工程(S2)の遠心力X21は、第二及び第三反応工程(S6,S12)の各遠心力X22,X23以上である。第一反応工程は第一〜第三反応工程のうちで最初に実行されるため、第一結合体の生成量は最終的な検査結果に与える影響が大きい。従って、遠心力X21を各遠心力X22,X23以上にすることで、反応部380における試料液91の液面位置が正確に制御できる。これにより、試料液91と反応部380との接触面積が正確に制御されて、第一結合体の生成量が正確に制御されるため、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。 (5) The centrifugal force X21 in the first reaction step (S2) is equal to or higher than the centrifugal forces X22, X23 in the second and third reaction steps (S6, S12). Since the first reaction step is executed first among the first to third reaction steps, the amount of the first conjugate produced has a great influence on the final test result. Therefore, the liquid level position of the sample liquid 91 in the reaction part 380 can be accurately controlled by setting the centrifugal force X21 to the centrifugal forces X22 and X23 or more. Thereby, the contact area between the sample liquid 91 and the reaction unit 380 is accurately controlled, and the amount of the first conjugate produced is accurately controlled, so that an accurate test result regarding the liquid reaction can be obtained.

(6)第一洗浄工程(S4)の遠心力X31は、第二及び第三洗浄工程(S8,S10)の遠心力X32,X33より大きい。これにより、第一洗浄工程において保持される第一洗浄液92と反応部380との間の表面張力と、第二及び第三洗浄工程において保持される第二洗浄液94と反応部380との間の表面張力では、前者の方が加速度によって相殺される方向の力が働きやすい。即ち、第一洗浄液92と第二洗浄液94との各液量が同等の場合、第一洗浄工程における第一洗浄液92と反応部との接触面積は、第二及び第三洗浄工程における第二洗浄液94と反応部380との接触面積よりも大きい。第二洗浄液94の液量が第一洗浄液92の液量よりも少ない場合でも、第二洗浄液94は反応部380のうちで第一洗浄液92と接触した領域の全体と接触可能である。従って、反応に関与しない第二洗浄液94の使用量を抑制しつつ、反応部380の広範囲を洗浄できるため、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。 (6) The centrifugal force X31 in the first washing step (S4) is larger than the centrifugal forces X32 and X33 in the second and third washing steps (S8, S10). As a result, the surface tension between the first cleaning liquid 92 and the reaction unit 380 held in the first cleaning process, and between the second cleaning liquid 94 and the reaction unit 380 held in the second and third cleaning processes. In the surface tension, the former is more likely to have a force in the direction offset by acceleration. That is, when the amounts of the first cleaning liquid 92 and the second cleaning liquid 94 are equal, the contact area between the first cleaning liquid 92 and the reaction portion in the first cleaning process is the second cleaning liquid in the second and third cleaning processes. It is larger than the contact area between 94 and the reaction part 380. Even when the amount of the second cleaning liquid 94 is smaller than the amount of the first cleaning liquid 92, the second cleaning liquid 94 can contact the entire region of the reaction unit 380 that is in contact with the first cleaning liquid 92. Therefore, since the wide range of the reaction part 380 can be cleaned while suppressing the amount of the second cleaning liquid 94 that is not involved in the reaction, an accurate test result regarding the liquid reaction can be obtained.

(7)第四送液工程(S7)及び第五送液工程(S9)では、第二洗浄液94が複数回に分けて導入部から下流側に移動される。第二洗浄工程(S8)及び第三洗浄工程(S10)は、第二洗浄液94が導入部から下流側に移動される毎に実行される。第二及び第三洗浄工程の各々では、導入部から下流側に移動された第二洗浄液94が、標識抗体液93が下流側に移動された後の反応部380に保持される。第二及び第三洗浄工程のうち、第二洗浄工程は最初に実行され、第三洗浄工程はその後に実行される。第三洗浄工程の遠心力X33は、第二洗浄工程の遠心力X32以上である。 (7) In the fourth liquid feeding step (S7) and the fifth liquid feeding step (S9), the second cleaning liquid 94 is moved downstream from the introduction portion in a plurality of times. The second cleaning step (S8) and the third cleaning step (S10) are performed each time the second cleaning liquid 94 is moved downstream from the introduction unit. In each of the second and third washing steps, the second washing liquid 94 moved downstream from the introduction part is held in the reaction part 380 after the labeled antibody solution 93 has been moved downstream. Of the second and third cleaning steps, the second cleaning step is performed first, and the third cleaning step is performed thereafter. The centrifugal force X33 in the third cleaning step is equal to or higher than the centrifugal force X32 in the second cleaning step.

これによれば、第二及び第三洗浄工程によって、反応部380に残存する第二結合体以外の成分除去が、複数回に分けて実行される。第二及び第三洗浄工程のうちで第二洗浄工程の加速度が最も大きいため、第二洗浄工程において第二洗浄液94は反応部380の広範囲を洗浄できる。   According to this, removal of components other than the second conjugate remaining in the reaction unit 380 is performed in a plurality of times by the second and third cleaning steps. Since the acceleration of the second cleaning process is the largest among the second and third cleaning processes, the second cleaning liquid 94 can clean a wide range of the reaction unit 380 in the second cleaning process.

(8)試料液91、第一洗浄液92、標識抗体液93、第二洗浄液94、及び基質溶液95の各々は、反応部380の壁面に対して90度以下の接触角である。これにより、反応に関与しない第二液の液量が反応に関与する第一液の液量よりも少ない場合でも、第二液は反応部380のうちで第一液と接触した領域の全体と接触可能である。従って、反応に関与しない第二液の使用量を抑制しつつ、液体反応に関する正確な検査結果が得られる。 (8) Each of the sample solution 91, the first cleaning solution 92, the labeled antibody solution 93, the second cleaning solution 94, and the substrate solution 95 has a contact angle of 90 degrees or less with respect to the wall surface of the reaction unit 380. Thereby, even when the liquid volume of the second liquid not involved in the reaction is smaller than the liquid volume of the first liquid involved in the reaction, the second liquid is the entire area of the reaction unit 380 that is in contact with the first liquid. Touchable. Therefore, an accurate test result relating to the liquid reaction can be obtained while suppressing the amount of the second liquid that is not involved in the reaction.

<10.備考>
本発明は上記実施形態に限定されず、各種変形が可能である。例えば、検査チップ2で使用される液体は、試料液91、第一洗浄液92、標識抗体液93、第二洗浄液94、基質溶液95、及び停止液96に限定されず、他の液体でもよい。例えば、反応に関与する液体は、試料液91、標識抗体液93、及び基質溶液95に限定されず、触媒液等でもよい。反応に関与しない液体は、第一洗浄液92及び第二洗浄液94に限定されず、希釈液等でもよい。
<10. Remarks>
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made. For example, the liquid used in the test chip 2 is not limited to the sample liquid 91, the first cleaning liquid 92, the labeled antibody liquid 93, the second cleaning liquid 94, the substrate solution 95, and the stop liquid 96, and may be other liquids. For example, the liquid involved in the reaction is not limited to the sample solution 91, the labeled antibody solution 93, and the substrate solution 95, and may be a catalyst solution or the like. The liquid not involved in the reaction is not limited to the first cleaning liquid 92 and the second cleaning liquid 94, and may be a diluted liquid or the like.

検査装置1は、遠心処理(図4参照)において、第一軸を中心に検査チップ2を公転させ、且つ、第一軸とは異なる第二軸を中心に検査チップ2を自転させればよい。遠心処理において検査チップ2が自転される角度幅は、自転角度0度〜90度に限定されない。例えば検査装置1は、遠心処理において、自転角度0度〜180度の角度幅で自転させてもよい。遠心処理では、遠心力に代えて、他の加速度が用いられてもよい。他の加速度は、重力又は重力と遠心力との合力が例示される。例えば検査装置1は、遠心処理における各工程の少なくとも一つにおいて、重力又は重力と遠心力との合力を検査チップ2に作用させることで、各液体を移動又は反応させてもよい。   The inspection apparatus 1 may revolve the inspection chip 2 around the first axis and rotate the inspection chip 2 around the second axis different from the first axis in the centrifugal process (see FIG. 4). . The angular width at which the test chip 2 is rotated in the centrifugal process is not limited to the rotation angle of 0 degrees to 90 degrees. For example, the inspection apparatus 1 may be rotated at an angular width of 0 to 180 degrees in the centrifugation process. In the centrifugal process, another acceleration may be used instead of the centrifugal force. Other accelerations are exemplified by gravity or the resultant force of gravity and centrifugal force. For example, the inspection apparatus 1 may move or react each liquid by applying gravity or a resultant force of gravity and centrifugal force to the inspection chip 2 in at least one of the steps in the centrifugation process.

遠心処理は、検査目的、検査手法、液体の種類等に応じて、適宜変更可能である。例えば、上記実施形態の遠心処理(図4参照)では、反応部380に残存する第二結合体以外の成分を除去する洗浄工程が、第二洗浄工程(S8)及び第三洗浄工程(S10)として二回分が実行される。これに代えて、反応部380に残存する第二結合体以外の成分を除去する洗浄工程が一回だけ実行されてもよいし、三回以上実行されてもよい。同様に、反応部380に残存する第一結合体以外の成分を除去する洗浄工程は、一回の第一洗浄工程(S4)に限定されず、複数回実行されてもよい。   Centrifugal processing can be appropriately changed according to the inspection purpose, inspection method, type of liquid, and the like. For example, in the centrifugation process of the above embodiment (see FIG. 4), the cleaning process for removing components other than the second conjugate remaining in the reaction unit 380 includes the second cleaning process (S8) and the third cleaning process (S10). As a result, two times are executed. Instead, the cleaning process for removing components other than the second conjugate remaining in the reaction unit 380 may be performed only once, or may be performed three or more times. Similarly, the cleaning process for removing components other than the first conjugate remaining in the reaction unit 380 is not limited to a single first cleaning process (S4), and may be performed a plurality of times.

なお、上記実施形態及び変形例において、検査チップ2は本発明の「検査チップ」の一例である。遠心力は本発明の「加速度」の一例である。遠心処理(図4参照)は本発明の「検査方法」の一例である。試料液91、標識抗体液93、及び基質溶液95の各々は、本発明の「第一液」の一例である。第一洗浄液92及び第二洗浄液94の各々は、本発明の「第二液」の一例である。試料液導入部310、第一洗浄液導入部320、標識抗体液導入部330、第二洗浄液導入部340、基質溶液導入部350、及び停止液導入部360は、本発明の「導入部」の一例である。反応部380は、本発明の「保持部」及び「反応部」の一例である。第一送液工程(S1)は、本発明の「第一移動工程」の一例である。第一反応工程(S2)は、本発明の「第一保持工程」の一例である。第二送液工程(S3)は、本発明の「第二移動工程」の一例である。第一洗浄工程(S4)は、本発明の「第二保持工程」の一例である。   In the embodiment and the modification, the inspection chip 2 is an example of the “inspection chip” in the present invention. Centrifugal force is an example of “acceleration” in the present invention. Centrifugation (see FIG. 4) is an example of the “inspection method” of the present invention. Each of the sample solution 91, the labeled antibody solution 93, and the substrate solution 95 is an example of the “first solution” in the present invention. Each of the first cleaning liquid 92 and the second cleaning liquid 94 is an example of the “second liquid” in the present invention. The sample solution introduction unit 310, the first washing solution introduction unit 320, the labeled antibody solution introduction unit 330, the second washing solution introduction unit 340, the substrate solution introduction unit 350, and the stop solution introduction unit 360 are examples of the “introduction unit” of the present invention. It is. The reaction unit 380 is an example of the “holding unit” and “reaction unit” in the present invention. The first liquid feeding step (S1) is an example of the “first moving step” in the present invention. The first reaction step (S2) is an example of the “first holding step” in the present invention. The second liquid feeding step (S3) is an example of the “second moving step” in the present invention. The first cleaning step (S4) is an example of the “second holding step” in the present invention.

第三送液工程(S5)は、本発明の「第三移動工程」の一例である。第二反応工程(S6)は、本発明の「第三保持工程」の一例である。第四送液工程(S7)及び第五送液工程(S9)は、本発明の「第四移動工程」及び「複数の洗浄液移動工程」の一例である。第二洗浄工程(S8)及び第三洗浄工程(S10)は、本発明の「第四保持工程」及び「複数の洗浄液保持工程」の一例である。第六送液工程(S11)は、本発明の「第五移動工程」の一例である。第三反応工程(S12)は、本発明の「第五保持工程」の一例である。第二洗浄工程(S8)は、本発明の「初回洗浄工程」の一例である。第三洗浄工程(S10)は、本発明の「少なくとも一つの後続洗浄工程」の一例である。   The third liquid feeding step (S5) is an example of the “third moving step” in the present invention. The second reaction step (S6) is an example of the “third holding step” in the present invention. The fourth liquid feeding step (S7) and the fifth liquid feeding step (S9) are examples of the “fourth moving step” and the “plurality of cleaning liquid moving steps” in the present invention. The second cleaning step (S8) and the third cleaning step (S10) are examples of the “fourth holding step” and the “plurality of cleaning liquid holding steps” in the present invention. The sixth liquid feeding step (S11) is an example of the “fifth moving step” in the present invention. The third reaction step (S12) is an example of the “fifth holding step” in the present invention. The second cleaning step (S8) is an example of the “first cleaning step” in the present invention. The third cleaning step (S10) is an example of “at least one subsequent cleaning step” in the present invention.

検査システム3は、本発明の「検査システム」の一例である。検査装置1は、本発明の「検査装置」の一例である。S1を実行するCPU101は、本発明の「第一移動手段」の一例である。S2を実行するCPU101は、本発明の「第一保持手段」の一例である。S3を実行するCPU101は、本発明の「第二移動手段」の一例である。S4を実行するCPU101は、本発明の「第二保持手段」の一例である。   The inspection system 3 is an example of the “inspection system” in the present invention. The inspection apparatus 1 is an example of the “inspection apparatus” in the present invention. The CPU 101 that executes S1 is an example of the “first moving unit” in the present invention. The CPU 101 that executes S2 is an example of the “first holding unit” in the present invention. The CPU 101 that executes S3 is an example of the “second moving means” in the present invention. The CPU 101 that executes S4 is an example of the “second holding unit” in the present invention.

1 検査装置
2 検査チップ
3 検査システム
91 試料液
92 第一洗浄液
93 標識抗体液
94 第二洗浄液
95 基質溶液
101 CPU
310 試料液導入部
320 第一洗浄液導入部
330 標識抗体液導入部
340 第二洗浄液導入部
350 基質溶液導入部
360 停止液導入部
380 反応部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection apparatus 2 Inspection chip 3 Inspection system 91 Sample liquid 92 1st washing | cleaning liquid 93 Labeled antibody liquid 94 2nd washing | cleaning liquid 95 Substrate solution 101 CPU
310 Sample solution introduction unit 320 First washing solution introduction unit 330 Labeled antibody solution introduction unit 340 Second washing solution introduction unit 350 Substrate solution introduction unit 360 Stop solution introduction unit 380 Reaction unit

Claims (10)

検査チップに加速度を作用させて検査を行う検査方法であって、
前記検査チップは、
反応に関与する液体である第一液と、反応に関与しない液体である第二液とが導入される領域である導入部と、
前記導入部の下流側に接続され、前記導入部から流出した前記第一液及び前記第二液を保持可能な領域である保持部と、を備え、
前記検査方法は、
前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一液を前記導入部から下流側に移動させる第一移動工程と、
前記第一移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記保持部に前記第一液を保持させる第一保持工程と、
前記第一保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一液を前記保持部から下流側に移動させ、且つ前記第二液を前記導入部から下流側に移動させる第二移動工程と、
前記第二移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記保持部に前記第二液を保持させる第二保持工程と、を備え、
前記第一保持工程において前記検査チップに作用される加速度は、前記第二保持工程において前記検査チップに作用される加速度よりも大きい
ことを特徴とする検査方法。
An inspection method for inspecting by applying acceleration to an inspection chip,
The inspection chip is
An introduction part that is a region where a first liquid that is a liquid involved in the reaction and a second liquid that is a liquid not involved in the reaction are introduced;
A holding portion that is connected to the downstream side of the introduction portion and is a region capable of holding the first liquid and the second liquid flowing out from the introduction portion;
The inspection method is:
A first moving step of moving the first liquid downstream from the introduction part by applying acceleration to the inspection chip;
A first holding step of holding the first liquid in the holding unit by applying acceleration to the inspection chip after the execution of the first moving step;
After execution of the first holding step, the first liquid is moved downstream from the holding unit and the second liquid is moved downstream from the introducing unit by applying an acceleration to the inspection chip. A second transfer step;
A second holding step for holding the second liquid in the holding portion by applying acceleration to the inspection chip after the second moving step is performed;
The inspection method, wherein the acceleration applied to the inspection chip in the first holding step is greater than the acceleration applied to the inspection chip in the second holding step.
前記保持部は、固相化抗体が配置された反応部を含み、
前記第一液は、前記反応部において前記固相化抗体と反応する液体であり、
前記第二液は、前記反応部を洗浄する洗浄液であり、
前記第一保持工程は、前記第一液を前記反応部に保持させることで、前記第一液を前記固相化抗体と反応させ、
前記第二保持工程は、前記第二液を前記反応部に保持させることで、前記第二液で前記反応部を洗浄する
ことを特徴とする請求項1に記載の検査方法。
The holding part includes a reaction part in which an immobilized antibody is arranged,
The first liquid is a liquid that reacts with the immobilized antibody in the reaction part,
The second liquid is a cleaning liquid for cleaning the reaction part,
In the first holding step, the first liquid is allowed to react with the immobilized antibody by holding the first liquid in the reaction part,
The inspection method according to claim 1, wherein in the second holding step, the reaction part is washed with the second liquid by holding the second liquid in the reaction part.
前記第一液は、検査対象物質を含む試料液と、酵素標識抗体を含む標識抗体液と、酵素標識抗体と酵素反応する基質溶液とを含み、
前記第二液は、前記洗浄液として第一洗浄液及び第二洗浄液を含み、
前記第一移動工程は、前記試料液を前記導入部から下流側に移動させ、
前記第一保持工程は、前記試料液を前記反応部に保持させることで、前記検査対象物質を前記固相化抗体と結合させて第一結合体を生成し、
前記第二移動工程は、前記第一洗浄液を前記導入部から下流側に移動させ、
前記第二保持工程は、前記第一洗浄液を前記反応部に保持させることで、前記反応部に残存する前記第一結合体以外の成分を除去し、
更に、前記検査方法は、
前記第二保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一洗浄液を前記反応部から下流側に移動させ、且つ前記標識抗体液を前記導入部から下流側に移動させる第三移動工程と、
前記第三移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記反応部に前記標識抗体液を保持させて、前記酵素標識抗体を前記第一結合体と特異的に結合させて第二結合体を生成する第三保持工程と、
前記第三保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記標識抗体液を前記反応部から下流側に移動させ、且つ前記第二洗浄液を前記導入部から下流側に移動させる第四移動工程と、
前記第四移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記反応部に前記第二洗浄液を保持させて、前記反応部に残存する前記第二結合体以外の成分を除去する第四保持工程と、
前記第四保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第二洗浄液を前記反応部から下流側に移動させ、且つ前記基質溶液を前記導入部から下流側に移動させる第五移動工程と、
前記第五移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記反応部に前記基質溶液を保持させて、前記基質溶液を前記第二結合体と反応させる第五保持工程と、を備え、
前記第一保持工程、前記第三保持工程、及び前記第五保持工程の各々において前記検査チップに作用される加速度は、前記第二保持工程及び前記第四保持工程の各々において前記検査チップに作用される加速度よりも大きい
ことを特徴とする請求項2に記載の検査方法。
The first solution includes a sample solution containing a substance to be examined, a labeled antibody solution containing an enzyme-labeled antibody, and a substrate solution that reacts with the enzyme-labeled antibody.
The second liquid includes a first cleaning liquid and a second cleaning liquid as the cleaning liquid,
In the first moving step, the sample liquid is moved downstream from the introduction part,
In the first holding step, the sample solution is held in the reaction unit, thereby binding the test target substance to the immobilized antibody to generate a first conjugate,
In the second moving step, the first cleaning liquid is moved downstream from the introduction part,
The second holding step removes components other than the first conjugate remaining in the reaction part by holding the first cleaning liquid in the reaction part,
Further, the inspection method includes:
After execution of the second holding step, acceleration is applied to the test chip to move the first cleaning liquid from the reaction part to the downstream side and to move the labeled antibody liquid from the introduction part to the downstream side. A third transfer step;
After the execution of the third moving step, by causing acceleration to act on the test chip, the labeled antibody solution is held in the reaction part, and the enzyme-labeled antibody is specifically bound to the first conjugate. A third holding step to produce a second conjugate;
After execution of the third holding step, acceleration is applied to the test chip to move the labeled antibody solution from the reaction unit to the downstream side, and to move the second cleaning solution from the introduction unit to the downstream side. A fourth moving step;
After execution of the fourth moving step, by applying acceleration to the inspection chip, the second cleaning liquid is held in the reaction unit, and components other than the second conjugate remaining in the reaction unit are removed. A fourth holding step;
After the execution of the fourth holding step, the second cleaning liquid is moved downstream from the reaction unit and the substrate solution is moved downstream from the introduction unit by applying acceleration to the inspection chip. Five moving steps;
After the execution of the fifth movement step, by causing acceleration to act on the inspection chip, the reaction unit holds the substrate solution, and the fifth holding step causes the substrate solution to react with the second conjugate, With
The acceleration applied to the inspection chip in each of the first holding process, the third holding process, and the fifth holding process acts on the inspection chip in each of the second holding process and the fourth holding process. The inspection method according to claim 2, wherein the inspection method is greater than a measured acceleration.
前記第一保持工程、前記第三保持工程、及び前記第五保持工程の各々において前記検査チップに作用される加速度は、前記第一移動工程、前記第三移動工程、及び前記第五移動工程の各々において前記検査チップに作用される加速度以下であることを特徴とする請求項3に記載の検査方法。   The acceleration applied to the inspection chip in each of the first holding step, the third holding step, and the fifth holding step is the same as that of the first moving step, the third moving step, and the fifth moving step. The inspection method according to claim 3, wherein each of the accelerations is equal to or less than an acceleration applied to the inspection chip. 前記第一保持工程において前記検査チップに作用される加速度は、前記第三保持工程及び前記第五保持工程の各々において前記検査チップに作用される加速度以上であることを特徴とする請求項3又は4に記載の検査方法。   The acceleration applied to the inspection chip in the first holding step is greater than or equal to the acceleration applied to the inspection chip in each of the third holding step and the fifth holding step. 4. The inspection method according to 4. 前記第二保持工程において前記検査チップに作用される加速度は、前記第四保持工程において前記検査チップに作用される加速度より大きいことを特徴とする請求項3から5の何れかに記載の検査方法。   6. The inspection method according to claim 3, wherein an acceleration applied to the inspection chip in the second holding step is larger than an acceleration applied to the inspection chip in the fourth holding step. . 前記第四移動工程は、前記第二洗浄液を複数回に分けて前記導入部から下流側に移動させる複数の洗浄液移動工程を含み、
前記第四保持工程は、前記複数の洗浄液移動工程の各々が実行される毎に、前記導入部から下流側に移動された前記第二洗浄液を、前記標識抗体液が下流側に移動された後の前記反応部に保持させる複数の洗浄液保持工程を含み、
前記複数の洗浄液排出工程は、前記複数の洗浄液排出工程のうちで最初に実行される初回洗浄工程と、前記初回洗浄工程よりも後に実行される少なくとも一つの後続洗浄工程とを含み、
前記少なくとも一つの後続洗浄工程の各々において前記検査チップに作用される加速度は、前記初回洗浄工程において前記検査チップに作用される加速度以上である
ことを特徴とする請求項3から6の何れかに記載の検査方法。
The fourth moving step includes a plurality of cleaning liquid moving steps for dividing the second cleaning liquid into a plurality of times and moving the second cleaning liquid downstream from the introduction unit,
In the fourth holding step, each time each of the plurality of washing solution moving steps is executed, the second washing solution moved downstream from the introduction unit is moved after the labeled antibody solution is moved downstream. A plurality of cleaning liquid holding steps to be held in the reaction part of,
The plurality of cleaning liquid discharging steps include an initial cleaning step that is first executed among the plurality of cleaning liquid discharging steps, and at least one subsequent cleaning step that is executed after the initial cleaning step,
The acceleration applied to the inspection chip in each of the at least one subsequent cleaning step is equal to or higher than the acceleration applied to the inspection chip in the initial cleaning step. Inspection method described.
前記第一液及び前記第二液の各々は、前記保持部の壁面に対して90度以下の接触角をなすことを特徴とする請求項1から7の何れかに記載の検査方法。   The inspection method according to claim 1, wherein each of the first liquid and the second liquid has a contact angle of 90 degrees or less with respect to a wall surface of the holding portion. 前記検査チップに作用される加速度は、遠心力であることを特徴とする請求項1から8の何れかに記載の検査方法。   9. The inspection method according to claim 1, wherein the acceleration applied to the inspection chip is a centrifugal force. 液体が内部で移動可能な検査チップと、前記検査チップに加速度を作用させる検査装置とを含む検査システムであって、
前記検査チップは、
反応に関与する液体である第一液と、反応に関与しない液体である第二液とが導入される領域である導入部と、
前記導入部の下流側に接続され、前記導入部から流出した前記第一液及び前記第二液を保持可能な領域である保持部と、を備え、
前記検査装置は、
前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一液を前記導入部から下流側に移動させる第一移動工程を実行する第一移動手段と、
前記第一移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記保持部に前記第一液を保持させる第一保持工程を実行する第一保持手段と、
前記第一保持工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記第一液を前記保持部から下流側に移動させ、且つ前記第二液を前記導入部から下流側に移動させる第二移動工程を実行する第二移動手段と、
前記第二移動工程の実行後、前記検査チップに加速度を作用させることで、前記保持部に前記第二液を保持させる第二保持工程を実行する第二保持手段と、を備え、
前記第一保持工程において前記検査チップに作用される加速度は、前記第二保持工程において前記検査チップに作用される加速度よりも大きい
ことを特徴とする検査システム。
An inspection system including an inspection chip in which a liquid can move and an inspection device that applies acceleration to the inspection chip,
The inspection chip is
An introduction part that is a region where a first liquid that is a liquid involved in the reaction and a second liquid that is a liquid not involved in the reaction are introduced;
A holding portion that is connected to the downstream side of the introduction portion and is a region capable of holding the first liquid and the second liquid flowing out from the introduction portion;
The inspection device includes:
A first moving means for performing a first moving step of moving the first liquid downstream from the introduction portion by applying an acceleration to the inspection chip;
A first holding means for performing a first holding step of holding the first liquid in the holding unit by applying acceleration to the inspection chip after the execution of the first moving step;
After execution of the first holding step, the first liquid is moved downstream from the holding unit and the second liquid is moved downstream from the introducing unit by applying an acceleration to the inspection chip. Second moving means for performing a second moving step;
A second holding means for performing a second holding step for holding the second liquid in the holding unit by applying an acceleration to the inspection chip after the second moving step is performed;
The inspection system, wherein an acceleration applied to the inspection chip in the first holding step is larger than an acceleration applied to the inspection chip in the second holding step.
JP2015192271A 2015-09-29 2015-09-29 Inspection method and inspection system Active JP6477395B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015192271A JP6477395B2 (en) 2015-09-29 2015-09-29 Inspection method and inspection system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015192271A JP6477395B2 (en) 2015-09-29 2015-09-29 Inspection method and inspection system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017067568A true JP2017067568A (en) 2017-04-06
JP6477395B2 JP6477395B2 (en) 2019-03-06

Family

ID=58492330

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015192271A Active JP6477395B2 (en) 2015-09-29 2015-09-29 Inspection method and inspection system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6477395B2 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050026301A1 (en) * 2002-03-25 2005-02-03 Henry Petithory Method and apparatus for controlling fluid movement in a microfluidic system
US20130029361A1 (en) * 2011-07-29 2013-01-31 Rohm Co., Ltd. Disc-shaped analysis chip

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050026301A1 (en) * 2002-03-25 2005-02-03 Henry Petithory Method and apparatus for controlling fluid movement in a microfluidic system
US20130029361A1 (en) * 2011-07-29 2013-01-31 Rohm Co., Ltd. Disc-shaped analysis chip
JP2013050435A (en) * 2011-07-29 2013-03-14 Rohm Co Ltd Disk-shaped analysis chip

Also Published As

Publication number Publication date
JP6477395B2 (en) 2019-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5910658B2 (en) Inspection chip
JP6028624B2 (en) Inspection chip and inspection system
JP2014106207A (en) Inspection chip
JP6477395B2 (en) Inspection method and inspection system
WO2015080193A1 (en) Inspection chip
WO2014061635A1 (en) Inspection device, inspection system, inspection method, and computer program
JP5958452B2 (en) Inspection chip
JP5958330B2 (en) Inspection chip
JP5958451B2 (en) Inspection chip, liquid feeding method, and liquid feeding program
JP6160647B2 (en) Inspection chip
JP2017067567A (en) Inspection chip and inspection system
JP5910657B2 (en) Inspection chip and inspection system
JP5915686B2 (en) Inspection chip
JP6137106B2 (en) Inspection chip and inspection system
JP5958331B2 (en) Inspection chip and inspection system
JP2017032382A (en) Inspection chip, inspection system, and inspection method
JP2016194448A (en) Inspection chip
JP5958249B2 (en) Inspection chip and inspection device
JP2017032385A (en) Inspection chip, inspection system and inspection method
JP2014081248A (en) Inspection apparatus, inspection system, inspection method and computer program
JP5975055B2 (en) Inspection chip
JP5939148B2 (en) Inspection chip and inspection system
WO2014133126A1 (en) Test chip
JP2015197351A (en) inspection chip
JP2016070808A (en) Inspection apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171220

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180911

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181009

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181207

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190121

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6477395

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150