JP2017062183A - 検査装置及び歪補正方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光学系の歪の補正を容易にかつ低コストで行う技術を提供する。【解決手段】フィンガー電極がX軸方向に沿うように太陽電池を保持する(ステップS11)。そして、フィンガー電極に沿ってレーザ光で走査し(ステップS12)、発生したテラヘルツ波の強度分布から第1画像を生成する(ステップS13)。続いて、フィンガー電極がY軸方向に沿うように太陽電池を保持する(ステップS14)。そして、フィンガー電極に沿ってレーザ光で走査し(ステップS15)、発生したテラヘルツ波の強度分布から第2画像を生成する(ステップS16)。生成された第1画像及び第2画像から、フィンガー電極の画像部分に基づいて、光学系の歪を補正する補正用データを生成する。【選択図】図4
Description
この発明は、太陽電池をレーザ光で走査する光学系の歪を補正する技術に関する。
特許文献1では、太陽電池を光で走査することで、太陽電池から放射されるテラヘルツ波の電界強度を検出し、その検出された電界強度の分布に基づいて、太陽電池を画像化することが提案されている。また、特許文献1では、光の走査をガルバノミラーで行うことも記載されている。
ところで、走査用の光は、レンズ群によって太陽電池に導かれるが、このレンズ群に歪があると、光の照射位置にずれが生じてしまう。このようなレンズ群の歪を補正する技術は、特許文献2に記載されている。この特許文献2には、レンズのキャリブレーション用パターン(格子パターン)を使用して、レンズの歪を補正している。
また、特許文献3には、ガルバノミラーの歪補正を行うために、基板にレーザで穴あけ加工を行って、各穴の位置を測定している。
しかしながら、特許文献2の場合、格子パターンを用意する必要があり、コストがかかっていた。このため、光学系の歪を低コストで行う技術が求められていた。また、特許文献3の場合、特定パターンを形成する必要があり、コストと手間がかかっていた。
そこで、本発明は、光学系の歪の補正を容易にかつ低コストで行う技術を提供することを目的とする。
上記の課題を解決するため、第1の態様は、太陽電池を検査する検査装置であって、レーザ光を出射するレーザ光源と、一方側から他方側に向けて間隔をあけて配列され、かつ、互いに平行に線状に延びる複数の電極部が表面に形成された太陽電池を保持する保持部と、前記レーザ光源から出射された前記レーザ光を前記保持部に保持された前記太陽電池に導くレンズ群と、前記保持部に保持された前記太陽電池の表面に平行な2方向であって、かつ、互いに直交する第1軸方向及び第2軸方向のそれぞれに沿って、前記太陽電池を前記レーザ光で走査可能に構成された走査機構と、前記太陽電池で反射した前記レーザ光、または、前記レーザ光の照射に対して前記太陽電池が発する応答信号を検出する検出器と、前記検出器が出力する検出信号に基づいて、前記太陽電池の画像を生成する画像生成部と、前記画像生成部によって生成された前記画像における前記電極部の画像に基づき、前記レンズ群の歪を補正するための補正用データを生成する補正用データ生成部とを備え、前記保持部が、前記電極部が所定方向に沿う第1姿勢の前記太陽電池、及び、前記電極部が所定方向から90度回転した第2姿勢の前記太陽電池を保持可能に構成されており、前記走査機構が前記第1姿勢の前記太陽電池を前記第1軸方向に沿って前記レーザ光で走査することによって前記画像生成部が生成する第1画像、及び、前記走査機構が前記第2姿勢の前記太陽電池を前記第2軸方向に沿って前記レーザ光で走査することによって前記画像生成部が生成する第2画像に基づいて、前記補正用データ生成部が前記補正用データを生成する。
また、第2の態様は、第1の態様に係る検査装置であって、前記走査機構は、前記太陽電池を前記第1軸方向に沿って前記レーザ光で走査する第1ミラーと、前記太陽電池を前記第2軸方向に沿って前記レーザ光で走査する第2ミラーと、前記第1ミラー及び前記第2ミラーの各々を所定の軸周りに揺動させる揺動駆動部とを備える。
また、第3の態様は、第1または第2の態様に係る検査装置であって、前記第1姿勢で保持された前記太陽電池の前記電極部の延びる方向が、前記第1軸方向と平行とされ、前記第2姿勢で保持された前記太陽電池の前記電極部の延びる方向が、前記第2軸方向と平行とされる。
また、第4の態様は、第1から第3の態様のいずれか1つに係る検査装置であって、前記保持部は、前記太陽電池を保持する保持台と、前記保持台を回転可能に支持する回転部とを備える。
また、第5の態様は、第1から第4の態様のいずれか1つに係る検査装置であって前記レーザ光源は、前記太陽電池から前記テラヘルツ波を放射させるレーザ光を出射し、前記検出器は、前記太陽電池から放射されるテラヘルツ波の強度を検出し、前記画像生成部は、前記テラヘルツ波の強度分布を示す画像を生成する。
また、第6の態様は、光学系の歪を補正する歪補正方法であって、a)一方側から他方側にむけて間隔をあけて配列され、かつ、互いに平行に線状に延びる複数の電極部が表面に形成された太陽電池を、前記電極部が所定方向に沿うように保持する第1保持工程と、b)前記第1保持工程で保持された前記太陽電池を、レーザ光源から出射された後、レンズ群を通るレーザ光で第1方向に沿って走査する第1走査工程と、c)前記第1走査工程にて前記太陽電池で反射した前記レーザ光、または、前記レーザ光の照射に対して前記太陽電池が発する応答信号を検出器で検出し、前記検出器が出力する検出信号に基づいて、前記太陽電池の第1画像を生成する第1画像生成工程と、d)前記電極部が所定方向に直交する方向に沿うように、前記太陽電池を保持する第2保持工程と、e)前記第2保持工程で保持された前記太陽電池を、前記レーザ光で前記第1方向に直交する第2方向に沿って走査する第2走査工程と、f)前記第2走査工程にて前記検出器から出力される検出信号に基づいて、前記太陽電池の第2画像を生成する第2画像生成工程と、g)前記第1画像及び前記第2画像に基づいて、前記太陽電池に対する前記レーザ光の照射位置に関する情報を補正するための補正用データを生成する補正用データ生成工程とを有する。
第1の態様に係る検査装置によると、検査対象物である太陽電池に形成された電極部の画像を用いて、光学系の歪を補正することができる。このため、特別なパターンを用意する必要がないため、光学系の歪の補正を容易にかつ低コストで行うことができる。
また、第2の態様に係る検査装置によると、第1ミラー及び第2ミラーを揺動させることで、レーザ光を走査させることができる。また、太陽電池を画像化した際に発生する画像の伸縮を、補正用データによって補正することができる。
また、第3の態様に係る検査装置によると、太陽電池を保持部に保持させる際に、電極部の延びる方向を走査方向に合わせればよい。このため、太陽電池が誤った姿勢で保持部に保持されることを抑制できる。
また、第4の態様に係る検査装置によると、保持台を回転させることで、太陽電池を第1姿勢と第2姿勢との間で切り換えて保持することができる。
また、第5の態様に係る検査装置によると、太陽電池の検査に用いるテラヘルツ波測定のための構成を利用して、光学系の歪みの補正を行うことができる。
また、第6の態様に係る歪補正方法によると、検査対象物である太陽電池に形成された電極部の画像を使って、レンズ群の歪を補正できる。このため、特別なパターンを用意する必要がないため、光学系の歪みの補正を容易にかつ低コストで行うことができる。
以下、添付の図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。なお、この実施形態に記載されている構成要素はあくまでも例示であり、本発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。また、図面においては、理解容易のため、必要に応じて各部の寸法や数が誇張または簡略化して図示されている場合がある。
<1. 実施形態>
<検査装置の構成>
図1は、実施形態に係る検査装置100の構成を示す概略全体図である。図2は、太陽電池9の一部を示す概略平面図である。図3は、実施形態に係る制御部7の構成を示すブロック図である。
<検査装置の構成>
図1は、実施形態に係る検査装置100の構成を示す概略全体図である。図2は、太陽電池9の一部を示す概略平面図である。図3は、実施形態に係る制御部7の構成を示すブロック図である。
図1に示すように、検査装置100は、レーザ光源1と、ガルバノミラー2と、第1レンズ群31と、反射ミラー33と、第2レンズ群35と、検出器4と、保持部5と、検出器6と、制御部7とを備えている。
<レーザ光源1>
レーザ光源1は、太陽電池9に照射されるレーザ光L1を出射する。本例では、レーザ光L1は、太陽電池9からテラヘルツ波領域(周波数が0.1THz〜30THz)の電磁波を放射させる性質を備えている。
レーザ光源1は、太陽電池9に照射されるレーザ光L1を出射する。本例では、レーザ光L1は、太陽電池9からテラヘルツ波領域(周波数が0.1THz〜30THz)の電磁波を放射させる性質を備えている。
具体的に、レーザ光源1として、例えば、360nm(ナノメートル)以上1.5μm(マイクロメートル)以下の可視光領域を含む波長のパルス光を放射するフェムト秒レーザを採用できる。この場合、例えば、中心波長が800nm付近であり、周期が数kHz〜数百MHz、パルス幅が10〜150フェムト秒程度の直線偏光のパルス光が、レーザ光L1として出射される。
太陽電池9の内部電界が存在する部位に、禁制帯幅を超えるエネルギーを持つレーザ光L1(パルス光)が照射されると、光キャリア(自由電子および正孔)が発生し、内部電界によって加速される。これにより、パルス状の電流が発生することとなり、それに応じて電磁波が発生することとなる。内部電界は、例えば太陽電池のpn接合部やショットキー接合部などに発生していることが知られている。
マクスウェルの方程式によると、電流に変化が生じたとき、その電流の時間微分に比例した強度の電磁波が発生する。すなわち、空乏層などの光励起キャリア発生領域にパルス光が照射されることで、瞬間的に光電流の発生および消滅が起こる。この瞬間的に発生する光電流の時間微分に比例して、電磁波パルス(テラヘルツ波LT1)が発生する。すなわち、テラヘルツ波LT1は、レーザ光L1の照射に対して太陽電池9が発する応答信号の一例である。
なお、太陽電池9は、結晶シリコン系のほか、アモルファスシリコン系、CIGS等のものでもよい。アモルファスシリコン系の場合、一般的に、エネルギーギャップが1.75eV〜1.8eVといったように、結晶シリコン系太陽電池のエネルギーギャップ(1.2eV)に比べて大きい。この場合、レーザ光源1から出射するレーザ光L1の波長を、例えば700μm以下とすることで、テラヘルツ波を良好に発生させることができる。同様の考え方で、他の太陽電池(CIGS系、GaAS系など)にも適用可能である。
図1に示すように、レーザ光源1から出射されたレーザ光L1は、ガルバノミラー2、第1レンズ群31、反射ミラー33、第2レンズ群35を通って、保持部5の保持台51に保持された太陽電池9の表面に入射する。レーザ光L1が入射する太陽電池9の表面は、太陽電池9を実際に使用する際の太陽光等を受光する受光面となっている。通常、受光面は太陽光等を取り入れやすくなるように構成されている。このため、受光面にレーザ光L1を照射することで、レーザ光L1が空乏層に到達しやすくなり、その結果、発生するテラヘルツ波LT1の強度を高めることができる。なお、太陽電池9の表面91に対するレーザ光L1の入射角度は、ここでは45度に設定されているが、0度から90度の範囲で適宜変更してもよい。
図2に示すように、一般的な太陽電池9の表面91には、一方側から他方側に向けて一定の間隔をあけて配列され、かつ、互いに平行に線状に延びる複数のフィンガー電極93が表面に形成されている。また、複数のフィンガー電極93は、表面91に形成されており、フィンガー電極93よりも幅の大きいバスバー電極(不図示)に接続されている。
<ガルバノミラー2>
ガルバノミラー2は、X軸ミラー21と、Y軸ミラー23とを備えている。レーザ光源1から出射されたレーザ光L1は、ガルバノミラー2のX軸ミラー21及びY軸ミラー23を順に反射して、第1レンズ群31に導かれる。
ガルバノミラー2は、X軸ミラー21と、Y軸ミラー23とを備えている。レーザ光源1から出射されたレーザ光L1は、ガルバノミラー2のX軸ミラー21及びY軸ミラー23を順に反射して、第1レンズ群31に導かれる。
X軸ミラー21及びY軸ミラー23のそれぞれには、所定の回転軸周りに揺動させるモータMx,Myが接続されている。各モータMx,Myは、制御部7のガルバノミラー制御部71から送信される制御信号に基づいて駆動制御される。X軸ミラー21及びY軸ミラー23に接続されたモータMx,Myは、揺動駆動部を構成する。
X軸ミラー21に接続されたモータMxは、X軸ミラー21を回転軸Qx周りに揺動させる。X軸ミラー21は、太陽電池9に対するレーザ光L1の照射位置を、太陽電池9を保持する保持台51の保持面51Sに平行なX軸方向(第1軸方向)に沿って変更する際に揺動される。
Y軸ミラー23に接続されたモータMyは、Y軸ミラー23を回転軸Qy周りに揺動させる。Y軸ミラー23は、太陽電池9に対するレーザ光L1の照射位置を、保持台51の保持面51Sに平行であり、かつ、上記X軸方向に直交するY軸方向(第2軸方向)に沿って変更する際に揺動される。
検査装置100は、ガルバノミラー制御部71の制御に基づいて、ガルバノミラー2のX軸ミラー21及びY軸ミラー23を揺動することによって、X軸方向またはY軸方向に沿って、太陽電池9の表面をレーザ光L1で走査するように構成されている。ガルバノミラー2及びガルバノミラー制御部71は、走査機構の一構成例である。
<第1レンズ群31、反射ミラー33、第2レンズ群35>
第1レンズ群31は、ガルバノミラー2で光路変更されたレーザ光L1を第2レンズ群35の前側焦点位置にリレーするように構成されたリレー系である。反射ミラー33は、第1レンズ群31を通ったレーザ光L1を反射させて、第2レンズ群35へ導く。第2レンズ群35は、保持台51に保持された太陽電池9上に、レーザ光L1の焦点を合わせるように構成された走査レンズである。
第1レンズ群31は、ガルバノミラー2で光路変更されたレーザ光L1を第2レンズ群35の前側焦点位置にリレーするように構成されたリレー系である。反射ミラー33は、第1レンズ群31を通ったレーザ光L1を反射させて、第2レンズ群35へ導く。第2レンズ群35は、保持台51に保持された太陽電池9上に、レーザ光L1の焦点を合わせるように構成された走査レンズである。
<検出器4>
検出器4は、レーザ光L1の照射に応じて、太陽電池9から放射されるテラヘルツ波LT1(電磁波)の電界強度を検出する。このテラヘルツ波LT1は、太陽電池9から発せられる応答信号の1つである。検出器4は、ここでは超半球シリコンレンズ及び光伝導スイッチ(光伝導アンテナ)とで構成される。なお、図示を省略するが、光伝導スイッチには、ビームスプリッタ等で分割されたレーザ光L1の一部が入射させる。光伝導スイッチは、パルス状のレーザ光L1が入射したときに、入射するテラヘルツ波LT1の電界強度に応じた電流が流れるように構成されている。この際に起こる電圧変化が、検出信号としてロックインアンプで増幅され、制御部7に送られる。検出器は光伝導スイッチ以外の公知の構成を備えていてもよい。例えば、テラヘルツ波検出の公知の構成として、電気光学結晶を利用するものが挙げられる。
検出器4は、レーザ光L1の照射に応じて、太陽電池9から放射されるテラヘルツ波LT1(電磁波)の電界強度を検出する。このテラヘルツ波LT1は、太陽電池9から発せられる応答信号の1つである。検出器4は、ここでは超半球シリコンレンズ及び光伝導スイッチ(光伝導アンテナ)とで構成される。なお、図示を省略するが、光伝導スイッチには、ビームスプリッタ等で分割されたレーザ光L1の一部が入射させる。光伝導スイッチは、パルス状のレーザ光L1が入射したときに、入射するテラヘルツ波LT1の電界強度に応じた電流が流れるように構成されている。この際に起こる電圧変化が、検出信号としてロックインアンプで増幅され、制御部7に送られる。検出器は光伝導スイッチ以外の公知の構成を備えていてもよい。例えば、テラヘルツ波検出の公知の構成として、電気光学結晶を利用するものが挙げられる。
<保持部5>
保持部5は、太陽電池9を保持する保持台51と、保持台51を回転可能に支持する回転部53とを備えている。
保持部5は、太陽電池9を保持する保持台51と、保持台51を回転可能に支持する回転部53とを備えている。
<保持台51>
保持台51の上面は、薄板状の太陽電池9の裏面側を保持する平坦な保持面51Sである。保持台51は、太陽電池9を一定位置に保持する構成を備えていてもよい。具体的には、太陽電池9の一部(端部等)を挟持する挟持部材、あるいは、太陽電池9が貼着される粘着性シートを保持面51Sに設けることが考えられる。また、保持面51Sに複数の溝を設けるとともに、当該溝内に吸引孔を設け、太陽電池9を当該溝及び吸引孔を介して吸着する保持するようにしてもよい。
保持台51の上面は、薄板状の太陽電池9の裏面側を保持する平坦な保持面51Sである。保持台51は、太陽電池9を一定位置に保持する構成を備えていてもよい。具体的には、太陽電池9の一部(端部等)を挟持する挟持部材、あるいは、太陽電池9が貼着される粘着性シートを保持面51Sに設けることが考えられる。また、保持面51Sに複数の溝を設けるとともに、当該溝内に吸引孔を設け、太陽電池9を当該溝及び吸引孔を介して吸着する保持するようにしてもよい。
<回転部53>
回転部53は、保持台51の下側に設けられており、保持台51を回転可能に支持している。より詳細には、回転部53は、制御部7の回転駆動制御部73から送られる制御信号に基づき駆動されるモータ(不図示)を備えている。回転部53は、モータを駆動することによって、X軸方向及びY軸方向に垂直なZ軸方向に延びる回転軸Q1周りに、保持台51を少なくとも90度回転させる。これによって、保持台51は、太陽電池9を、所定の姿勢とその所定の姿勢から90度回転させた姿勢との間で切り換えて保持することが可能とされている。
回転部53は、保持台51の下側に設けられており、保持台51を回転可能に支持している。より詳細には、回転部53は、制御部7の回転駆動制御部73から送られる制御信号に基づき駆動されるモータ(不図示)を備えている。回転部53は、モータを駆動することによって、X軸方向及びY軸方向に垂直なZ軸方向に延びる回転軸Q1周りに、保持台51を少なくとも90度回転させる。これによって、保持台51は、太陽電池9を、所定の姿勢とその所定の姿勢から90度回転させた姿勢との間で切り換えて保持することが可能とされている。
なお、回転部53がモータ等の駆動源を備えていることは必須ではない。例えば、保持台51が、手作業で回転移動して所要の位置で固定できるように構成されていてもよい。また、回転部53は必須の構成ではなく、省略することも可能である。この場合、保持台51の保持面51Sが、所定の姿勢、及び、当該姿勢から90度回転させた姿勢の双方の状態で、太陽電池9を保持するように構成される。また、太陽電池9を保持台51に対して直接配置の向きを90度回転させて保持するようにしてもよい。
<制御部7>
制御部7は、図示を省略するCPU、ROM、RAM及びハードディスク等の補助記憶装置等を備えた一般的なコンピュータとして構成されている。制御部7のCPUが、補助記憶装置に格納されたプログラムに従って動作することによって、図3に示すように、制御部7は、ガルバノミラー制御部71、回転駆動制御部73、画像生成部75及び補正用データ生成部77として機能する。なお、これらの機能のうち一部または全部は、専用の論理回路等で構成されていてもよい。
制御部7は、図示を省略するCPU、ROM、RAM及びハードディスク等の補助記憶装置等を備えた一般的なコンピュータとして構成されている。制御部7のCPUが、補助記憶装置に格納されたプログラムに従って動作することによって、図3に示すように、制御部7は、ガルバノミラー制御部71、回転駆動制御部73、画像生成部75及び補正用データ生成部77として機能する。なお、これらの機能のうち一部または全部は、専用の論理回路等で構成されていてもよい。
ガルバノミラー制御部71は、ガルバノミラー2のX軸ミラー21及びY軸ミラー23の揺動制御を行う。また、回転駆動制御部73は、回転部53の回転制御を行う。
画像生成部75は、検出器4が検出したテラヘルツ波LT1の強度を示す検出信号に基づいて、太陽電池9の画像を生成する。
補正用データ生成部77は、画像生成部75によって生成された太陽電池9の画像におけるフィンガー電極93の画像部分に基づき、レーザ光L1を太陽電池9に導く光学系の歪を補正する補正用データを生成する。
具体的に、検査装置100では、レーザ光L1が、第1レンズ群31及び第2レンズ群35を通って、太陽電池9に照射される。仮に、第1レンズ群31または第2レンズ群35に、半径方向歪または円周方向歪があると、太陽電池9におけるレーザ光L1の照射位置にズレに発生し、太陽電池9を画像化した際に、歪が発生する。補正用データは、この画像に生じる歪みを補正する際に適用可能とされる。
また、ガルバノミラー2に設けられた2つのX軸ミラー21及びY軸ミラー23の走査軸には距離があることから、走査レンズである第2レンズ群35において、走査幅に差が発生する。さらに、レーザ光L1は、太陽電池9の表面91に対して入射角度が45度で入射する。これらの要因によって、太陽電池9を画像化した際に伸縮が発生する。この画像における伸縮を補正する際にも、補正用データが適用可能される。具体的には、例えば、ガルバノミラー制御部71がガルバノミラー2を制御する際の制御信号を、補正用データで補正することが考えられる。また、補正用データを画像処理に適用することで、画像中の伸縮を補正することも考えられる。
<補正用データの生成の流れ>
次に、補正用データの生成について、具体的に説明する。図4は、補正用データの生成例を示すフローチャートである。まず、太陽電池9が、一方向に平行に延びる複数のフィンガー電極93がX軸方向に沿う第1姿勢で、保持台51に保持される(ステップS11)。続いて、太陽電池9をX軸方向に沿ってレーザ光L1で走査する第1走査が行われる(ステップS12)。
次に、補正用データの生成について、具体的に説明する。図4は、補正用データの生成例を示すフローチャートである。まず、太陽電池9が、一方向に平行に延びる複数のフィンガー電極93がX軸方向に沿う第1姿勢で、保持台51に保持される(ステップS11)。続いて、太陽電池9をX軸方向に沿ってレーザ光L1で走査する第1走査が行われる(ステップS12)。
図5は、太陽電池9について第1走査をする様子を示す概略平面図である。ガルバノミラー制御部71がX軸ミラー21を駆動することで、図5に示すように、各フィンガー電極93に沿う方向にレーザ光L1の照射位置が変更される。そして、各地点にて発生したテラヘルツ波LT1の強度が、検出器4によって検出される。検出器4は、検出されたテラヘルツ波LT1の電界強度を示す検出信号を制御部7に出力する。
図5に示す例では、太陽電池9のうち、複数のフィンガー電極93を含む所定の大きさの領域が走査対象領域とされている。また、本例では、この走査対象領域について、X軸方向(主走査方向)の一方から他方に走査した後、照射位置をY軸方向(副走査方向)にずらして、再びX軸方向の一方から他方に走査する。これを繰り返すことで、走査対象領域全体についての走査が行われる。なお、X軸方向の一方から他方に向けての主走査が行われた後、次の主走査では、逆の方向(すなわちX軸方向の他方から一方に向かう方向)に走査が行われるようにしてもよい。
図4に戻って、第1走査が完了すると、画像生成部75が、第1走査にて検出器4が出力した検出信号に基づき、太陽電池9の第1画像D1を生成する(ステップS13)。図6は、第1走査によって得られた第1画像D1を模式的に示す図である。当該第1画像D1は、太陽電池9の各地点で発生したテラヘルツ波LT1の電界強度の分布を画像化したものである。フィンガー電極93の位置では、テラヘルツ波LT1はほとんど発生しない。このため、図示のように、フィンガー電極93の画像部分D93を、他の画像部分から比較的明瞭に識別することが可能となっている。図6に示すように、第1画像D1においては、フィンガー電極93の画像部分D93に曲がり等の歪が生じている。すなわち、光学系の歪によって起こる、X軸方向の走査に関するレーザ光L1の照射位置のズレが、第1画像D1に反映されている。
続いて、太陽電池9が、複数のフィンガー電極93がY軸方向に沿う第2姿勢で、保持台51に保持される(ステップS14)。具体的には、回転駆動制御部73が、回転部53を駆動して、保持台51を90度回転させる。これによって、太陽電池9の姿勢が、複数のフィンガー電極93がX軸方向に沿う第1姿勢からY軸方向に沿う第2姿勢へと変更される。
続いて、太陽電池9をY軸方向に沿ってレーザ光L1で走査する第2走査が行われる(ステップS15)。図7は、太陽電池9について第2走査をする様子を示す概略平面図である。ガルバノミラー制御部71がY軸ミラー23を駆動することで、図7に示すように、各フィンガー電極93に沿うY軸方向に、レーザ光L1の照射位置を変更する。そして、各地点にて発生したテラヘルツ波LT1の強度が、検出器4によって検出される。このような走査を、X軸方向について一定間隔毎に行われる。
続いて、画像生成部75が、第2走査にて検出器4が出力した検出信号に基づき、太陽電池9の第2画像D2を生成する(ステップS16)。図8は、第2走査によって得られた第2画像D2を模式的に示す図である。図8に示すように、第2画像D2においても、フィンガー電極93の画像部分D93aを、他の画像部分から比較的明瞭に識別することが可能となっている。また、第2画像D2においても、フィンガー電極93の画像部分D93aに曲がり等の歪が生じている。すなわち、Y軸方向の走査に関するレーザ光L1の照射位置のズレが、第2画像D2に反映されている。
図4に戻って、第1画像D1と第2画像D2とに基づき、補正用データ生成部77が、補正用データを生成する(ステップS17)。図9は、第1画像D1と第2画像D2とを合成した合成画像D3を示す図である。合成画像D3は、第1画像D1と第2画像D2とを論理演算もしくは加算演算することによって得られる。このような合成画像D3から、各フィンガー電極93の画像部分D93,D93aが抽出し、これらの複数の交差部分CR1の位置(画素位置)が算出される。
複数の交差部分CR1が示す歪度合いを、一般的なレンズ歪の補正モデルにあてはめることによって、歪を補正する歪補正データを算出できる。この歪補正データをイメージングによって得られた画像に適用することで、第1レンズ群31及び第2レンズ群35で発生した半径方向歪及び円周方向歪が補正された画像を得ることができる。
また、各交差部分CR1が示す伸縮量から、X軸ミラー21及びY軸ミラーにより発生する伸縮量、及び、レーザ光L1が太陽電池9に斜めに入射することで発生する伸縮量を補正する伸縮補正データを算出できる。この伸縮補正データを、ガルバノミラー制御部71がガルバノミラー2に送信する制御信号に適用することで、X軸ミラー21及びY軸ミラー23の揺動量と、太陽電池9上におけるレーザ光L1のX軸方向及びY軸方向の移動量とを正しく対応付けることができる。したがって、太陽電池9をイメージングした際に得られる画像において、伸縮が発生することを抑制できる。
本実施形態に係る検査装置100によると、検査対象物である太陽電池9に形成された電極のパターンを利用することで、光学系の歪を補正するための補正用データを取得することができる。このため、特別なパターンを用意する必要がないため、光学系の歪の補正を容易にかつ低コストで行うことができる。
また、本実施形態では、上記実施形態では、フィンガー電極93の延びる方向がガルバノミラー2によるレーザ光L1の走査方向(X軸方向またはY軸方向)に一致するように、太陽電池9を保持台51に保持させればよい。このため、太陽電池9が誤った姿勢で保持されることを抑制できる。
<2. 変形例>
以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明は上記のようなものに限定されるものではなく、様々な変形が可能である。
以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明は上記のようなものに限定されるものではなく、様々な変形が可能である。
例えば、上記実施形態では、フィンガー電極93の延びる方向がガルバノミラー2によるレーザ光L1の走査方向(X軸方向またはY軸方向)に一致するように、太陽電池9が保持台51に保持される。そして、フィンガー電極93に沿ってレーザ光L1を走査させている。しかしながら、フィンガー電極93を走査方向に一致させることは必須ではない。例えば、フィンガー電極93に対して、斜めに交差する方向に沿って、レーザ光L1を走査させてもよい。
また、フィンガー電極93の延びる方向が、X軸方向またはY軸方向に平行になるように保持台51が太陽電池9を保持することは必須ではない。フィンガー電極93がX軸方向またはY軸方向に平行でない場合であっても、X軸ミラー21及びY軸ミラー23を同時に駆動することによって、フィンガー電極93に沿うようにレーザ光L1で走査することも考えられる。
また、上記実施形態では、ガルバノミラー2を用いることで、レーザ光L1の光路自体を変更することで、太陽電池9に対するレーザ光L1の照射位置が変更されている。しかしながら、光路が固定されたレーザ光L1に対して、太陽電池9を移動させるようにすることも考えられる。具体的には、保持台51をX軸方向及びY軸方向に移動させるようにしてもよい。
また、上記実施形態では、レーザ光源1としてフェムト秒レーザを採用し、該フェムト秒レーザからパルス状のレーザ光L1を出射させて、太陽電池9からパルス状のテラヘルツ波LT1を放射させている。しかしながら、フェムト秒レーザの代わりに、発振周波数がわずかに相違する2つの連続光を出射する2つの光源を利用することも可能である(特開2013−170864号公報参照)。具体的には、2つの連続光を、光導波路である光ファイバなどで形成されたカプラによって重ね合わせることで、差周波に対応する光ビート信号を生成する。そして、この光ビート信号を、太陽電池9に照射することによって、その光ビート信号の周波数に応じた電磁波(テラヘルツ波)を放射させることができる。この構成においても、光学系の歪を補正するための補正用データを得ることができる。
また、上記実施形態では、太陽電池9から放射されるテラヘルツ波LT1の電界強度に基づいて、太陽電池9を画像化している。しかしながら、太陽電池9で反射したレーザ光L1を検出する検出器(イメージセンサ等)を備えて、当該反射したレーザ光L1の強度に基づいて、太陽電池9の第1画像及び第2画像を生成してもよい。これらの画像に含まれるフィンガー電極93の画像部分に基づいて、補正用データを生成することができる。
また、検査装置100は、LBIC(Laser Beam Induced Current)を行う装置として構成されていてもよい。具体的には、太陽電池9をレーザ光L1で走査した際に太陽電池9で発生する電流を検出器で検出する。そして、その電流強度の分布を画像化することで、太陽電池9の第1画像及び第2画像を生成すればよい。これらの画像に含まれるフィンガー電極93の画像部分に基づいて、補正用データを生成することができる。
この発明は詳細に説明されたが、上記の説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。また、上記各実施形態及び各変形例で説明した各構成は、相互に矛盾しない限り適宜組み合わせたり、省略したりすることができる。
100 検査装置
1 レーザ光源
2 ガルバノミラー
21 X軸ミラー
23 Y軸ミラー
31 第1レンズ群
33 反射ミラー
35 第2レンズ群
4 検出器
5 保持部
51 保持台
51S 保持面
53 回転部
6 検出器
7 制御部
71 ガルバノミラー制御部
73 回転駆動制御部
75 画像生成部
77 補正用データ生成部
9 太陽電池
91 表面
93 フィンガー電極(電極部)
CR1 交差部分
D1 第1画像
D2 第2画像
D3 合成画像
D93,D93a 画像部分
L1 レーザ光
LT1 テラヘルツ波
Mx、My モータ(揺動駆動部)
1 レーザ光源
2 ガルバノミラー
21 X軸ミラー
23 Y軸ミラー
31 第1レンズ群
33 反射ミラー
35 第2レンズ群
4 検出器
5 保持部
51 保持台
51S 保持面
53 回転部
6 検出器
7 制御部
71 ガルバノミラー制御部
73 回転駆動制御部
75 画像生成部
77 補正用データ生成部
9 太陽電池
91 表面
93 フィンガー電極(電極部)
CR1 交差部分
D1 第1画像
D2 第2画像
D3 合成画像
D93,D93a 画像部分
L1 レーザ光
LT1 テラヘルツ波
Mx、My モータ(揺動駆動部)
Claims (6)
- 太陽電池を検査する検査装置であって、
レーザ光を出射するレーザ光源と、
一方側から他方側に向けて間隔をあけて配列され、かつ、互いに平行に線状に延びる複数の電極部が表面に形成された太陽電池を保持する保持部と、
前記レーザ光源から出射された前記レーザ光を前記保持部に保持された前記太陽電池に導くレンズ群と、
前記保持部に保持された前記太陽電池の表面に平行な2方向であって、かつ、互いに直交する第1軸方向及び第2軸方向のそれぞれに沿って、前記太陽電池を前記レーザ光で走査可能に構成された走査機構と、
前記太陽電池で反射した前記レーザ光、または、前記レーザ光の照射に対して前記太陽電池が発する応答信号を検出する検出器と、
前記検出器が出力する検出信号に基づいて、前記太陽電池の画像を生成する画像生成部と、
前記画像生成部によって生成された前記画像における前記電極部の画像に基づき、前記レンズ群の歪を補正するための補正用データを生成する補正用データ生成部と、
を備え、
前記保持部が、前記電極部が所定方向に沿う第1姿勢の前記太陽電池、及び、前記電極部が所定方向から90度回転した第2姿勢の前記太陽電池を保持可能に構成されており、
前記走査機構が前記第1姿勢の前記太陽電池を前記第1軸方向に沿って前記レーザ光で走査することによって前記画像生成部が生成する第1画像、及び、前記走査機構が前記第2姿勢の前記太陽電池を前記第2軸方向に沿って前記レーザ光で走査することによって前記画像生成部が生成する第2画像に基づいて、前記補正用データ生成部が前記補正用データを生成する、検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置であって、
前記走査機構は、
前記太陽電池を前記第1軸方向に沿って前記レーザ光で走査する第1ミラーと、
前記太陽電池を前記第2軸方向に沿って前記レーザ光で走査する第2ミラーと、
前記第1ミラー及び前記第2ミラーの各々を所定の軸周りに揺動させる揺動駆動部と、
を備える、検査装置。 - 請求項1または請求項2に記載の検査装置であって、
前記第1姿勢で保持された前記太陽電池の前記電極部の延びる方向が、前記第1軸方向と平行とされ、前記第2姿勢で保持された前記太陽電池の前記電極部の延びる方向が、前記第2軸方向と平行とされる、検査装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の検査装置であって、
前記保持部は、
前記太陽電池を保持する保持台と、
前記保持台を回転可能に支持する回転部と、
を備える、検査装置。 - 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の検査装置であって
前記レーザ光源は、前記太陽電池から前記テラヘルツ波を放射させるレーザ光を出射し、
前記検出器は、前記太陽電池から放射されるテラヘルツ波の強度を検出し、
前記画像生成部は、前記テラヘルツ波の強度分布を示す画像を生成する、検査装置。 - 光学系の歪を補正する歪補正方法であって、
a) 一方側から他方側にむけて間隔をあけて配列され、かつ、互いに平行に線状に延びる複数の電極部が表面に形成された太陽電池を、前記電極部が所定方向に沿うように保持する第1保持工程と、
b) 前記第1保持工程で保持された前記太陽電池を、レーザ光源から出射された後、レンズ群を通るレーザ光で第1方向に沿って走査する第1走査工程と、
c) 前記第1走査工程にて前記太陽電池で反射した前記レーザ光、または、前記レーザ光の照射に対して前記太陽電池が発する応答信号を検出器で検出し、前記検出器が出力する検出信号に基づいて、前記太陽電池の第1画像を生成する第1画像生成工程と、
d) 前記電極部が所定方向に直交する方向に沿うように、前記太陽電池を保持する第2保持工程と、
e) 前記第2保持工程で保持された前記太陽電池を、前記レーザ光で前記第1方向に直交する第2方向に沿って走査する第2走査工程と、
f) 前記第2走査工程にて前記検出器から出力される検出信号に基づいて、前記太陽電池の第2画像を生成する第2画像生成工程と、
g) 前記第1画像及び前記第2画像に基づいて、前記太陽電池に対する前記レーザ光の照射位置に関する情報を補正するための補正用データを生成する補正用データ生成工程と、
を有する、歪補正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015187760A JP2017062183A (ja) | 2015-09-25 | 2015-09-25 | 検査装置及び歪補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015187760A JP2017062183A (ja) | 2015-09-25 | 2015-09-25 | 検査装置及び歪補正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2017062183A true JP2017062183A (ja) | 2017-03-30 |
Family
ID=58429443
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015187760A Pending JP2017062183A (ja) | 2015-09-25 | 2015-09-25 | 検査装置及び歪補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2017062183A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109323851A (zh) * | 2018-11-15 | 2019-02-12 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种太赫兹焦平面响应率及响应率不均匀性测试系统及方法 |
-
2015
- 2015-09-25 JP JP2015187760A patent/JP2017062183A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109323851A (zh) * | 2018-11-15 | 2019-02-12 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种太赫兹焦平面响应率及响应率不均匀性测试系统及方法 |
CN109323851B (zh) * | 2018-11-15 | 2020-08-11 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种太赫兹焦平面响应率及响应率不均匀性测试系统及方法 |
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