JP2017054223A - Icカード及び携帯可能電子装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、実施形態に係る携帯可能電子装置としてのICカード2と、ICカード2と通信を行う外部装置としてのICカード処理装置1とを備えるICカード処理システム10の構成例について説明するためのブロック図である。
ICカード2は、ICカード処理装置1などの外部装置から電力などの供給を受けて活性化される(動作可能な状態になる)ようになっている。例えば、ICカード2が接触型の通信によりICカード処理装置1と接続される場合、つまり、ICカード2が接触型のICカードで構成される場合、ICカード2は、通信インターフェースとしてのコンタクト部を介してICカード処理装置1からの動作電源及び動作クロックの供給を受けて活性化される。
図2は、実施形態に係るICカード2の構成例を概略的に示すブロック図である。
ICカード2は、プラスチックなどで形成されたカード状の本体Cを有する。ICカード2は、本体C内にモジュールMが内蔵される。モジュールMは、1つまたは複数のICチップCaと通信部としての外部インターフェース(通信インターフェース)とが接続された状態で一体的に形成され、ICカード2の本体C内に埋設される。
図3は、記憶領域24aが格納するデータの構成例を示す。
図3が示すように、記憶領域24aは、複数のデータブロック31(311、312、…、31N)と、各データブロック31の第1のEDC32(321、322、…、32N)、及び、各データブロック31の第2のEDC33(331、332、…、33N)などを備える。
各第1のEDC321、322、…、32Nは、それぞれデータブロック311、312、…、31Nに対応する。なお、各第1のEDC321、322、…、32Nは、同様の構成であるため、第1のEDC321について説明する。
CPU21は、自己診断処理において、データブロック31毎に破損又は改ざんがないか第1の検査手法又は第2の検査手法で検査する。たとえば、CPU21は、各データブロック31を所定の順序でチェックする。
検査済み情報は、第1の検査手法を用いて検査されたデータブロック31(検査済みのデータブロック)を示す。即ち、検査済み情報は、直前の自己診断が終了した時点において、第1の検査手法を用いて検査されたデータブロック31を示す。
図4は、CPU21が自己診断処理の第1の動作例について説明するためのフローチャートである。
第1の検査手法を設定すると、CPU21は、他のデータブロックに第2の検査手法を設定する(S14)。第2の検査手法を設定すると、CPU21は、iをリセットする(i=0にする)(S15)
iをリセットすると、CPU21は、iをインクリメントする(i=i+1とする)(S16)。iをインクリメントすると、CPU21は、i個目のデータブロック31を、当該データブロック31に設定された検査手法に従って検査する(S17)
当該データブロック31に破損又は改ざんがないと判定すると(S18、NO)、CPU21は、すべてのデータブロック31を検査したか(即ち、i=Nであるか)判定する(S19)。
図5は、CPU21による自己診断処理の第2の動作例について説明するためのフローチャートである。
Claims (10)
- 複数個のデータブロックを格納する第1の記憶部と、
第1の検査手法により検査済みのデータブロックを示す検査済み情報を格納する第2の記憶部と、
前記検査済み情報に基づいて、前記第1の検査手法により検査されていないデータブロックの少なくとも1つに前記第1の検査手法を設定し、それ以外のデータブロックの少なくとも1つに第1の検査手法とは異なる第2の検査手法を設定する設定部と、
前記設定部により各データブロックに設定された検査手法を用いて各データブロックを検査する検査部と、
を備えるICカード。 - 前記設定部は、前記検査済み情報に基づいて、前記第1の検査手法による前記検査済みのデータブロックに前記第2の検査手法を設定する、
前記請求項1に記載のICカード。 - 前記第1の検査手法は、前記第2の検査手法よりも処理時間が長い、
前記請求項1又は2に記載のICカード。 - 前記第1の検査手法は、巡回冗長検査を演算して検査する手法である、
前記請求項3に記載のICカード。 - 前記第2の検査手法は、排他的論理和を演算して検査する手法である、
前記請求項3又は4の何れかに記載のICカード。 - 前記検査済み情報は、最後の検査済みのデータブロックを示し、
前記設定部は、前記最後の検査済みのデータブロックの次のデータブロックから所定の個数のデータブロックに前記第1の検査手法を設定する、
前記請求項1乃至5の何れか1項に記載のICカード。 - 前記検査済み情報は、データブロックごとに、前記第1の検査手法で検査されたかを示し、
前記設定部は、前記第1の検査手法による検査されていない前記データブロックから選択された所定の個数のデータブロックに前記第1の検査手法を設定する、
前記請求項1乃至5の何れか1項に記載のICカード。 - さらに、前記各データブロックに対応する前記第1の検査手法による検査に用いるEDCを格納する第3の記憶部を有し、
前記検査部は、前記データブロックのデータに対して前記第1の検査手法を用いて演算するEDCと、前記第3の記憶部が格納する前記EDCとを比較して、前記データブロックを検査する、
前記請求項1乃至7の何れか1項に記載のICカード。 - 複数個のデータブロックを格納する第1の記憶部と、第1の検査手法により検査済みのデータブロックを示す検査済み情報を格納する第2の記憶部と、前記検査済み情報に基づいて、前記第1の検査手法により検査されていないデータブロックの少なくとも1つに前記第1の検査手法を設定し、それ以外のデータブロックの少なくとも1つに第1の検査手法とは異なる第2の検査手法を設定する設定部と、前記設定部により各データブロックに設定された検査手法を用いて各データブロックを検査する検査部と、を備えるモジュールと、
前記モジュールを内蔵した本体と、
を備えるICカード。 - 複数個のデータブロックを格納する第1の記憶部と、
第1の検査手法により検査済みのデータブロックを示す検査済み情報を格納する第2の記憶部と、
前記検査済み情報に基づいて、前記第1の検査手法により検査されていないデータブロックの少なくとも1つに前記第1の検査手法を設定し、それ以外のデータブロックの少なくとも1つに第1の検査手法とは異なる第2の検査手法を設定する設定部と、
前記設定部により各データブロックに設定された検査手法を用いて各データブロックを検査する検査部と、
を備える携帯可能電子装置。
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Citations (3)
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---|---|---|---|---|
JPS63275225A (ja) * | 1987-05-06 | 1988-11-11 | Seiko Epson Corp | 誤り訂正装置 |
JP2009187474A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-08-20 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置、携帯可能な電子装置、自己診断方法、自己診断プログラム |
JP2011178305A (ja) * | 2010-03-02 | 2011-09-15 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車載制御装置 |
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2015
- 2015-09-08 JP JP2015176417A patent/JP6552926B2/ja active Active
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