JP2017009607A - マルチ分析システム及びそのマルチ分析計 - Google Patents
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Abstract
Description
110 … マルチ分析計
111 … プローブ
112 … ゲインユニット
113 … ロジック分析モジュール
114 … プロトコル分析モジュール
115、341 … 第1伝送インタフェース
116、342 … 第2伝送インタフェース
117、351 … 第1記憶ユニット
118、352 … 第2記憶ユニット
120、360 … プロセッサー
130、370 … ディスプレイ
140、240 … 警報装置
311 … 第1プローブ
312 … 第2プローブ
321 … 第1ゲインユニット
322 … 第2ゲインユニット
331 … 第1ロジック/プロトコル分析モジュール
332 … 第2ロジック/プロトコル分析モジュール
333 … 第3ロジック/プロトコル分析モジュール
334 … 第4ロジック/プロトコル分析モジュール
343 … 第3伝送インタフェース
344 … 第4伝送インタフェース
353 … 第3記憶ユニット
354 … 第4記憶ユニット
Claims (16)
- 一つの被測定物から発する一つの被測定信号を受信するための一種のマルチ分析計であって、
前記被測定物と電気的に接続して前記被測定物から発する前記被測定信号を受信するための一つのプローブと、
前記プローブと電気的に接続して前記被測定信号を受信して前記被測定信号をサンプリングし、そのサンプリング結果を出力するための一つのロジック分析モジュールと、
前記プローブと電気的に接続して前記被測定信号を受信し、前記被測定物の通信プロトコルをもとに前記被測定信号を解析し、その解析結果を出力するための一つのプロトコル分析モジュールと、
一つの第1伝送インタフェース及び前記第1伝送インタフェースと電気的に接続する一つの第1記憶ユニットと、
一つの第2伝送インタフェース及び前記第2伝送インタフェースと電気的に接続する一つの第2記憶ユニットと、
を有し、
前記第1伝送インタフェースは前記ロジック分析モジュールと電気的に接続して前記ロジック分析モジュールから出力されるサンプリング結果を受信して一つの第1転送速度でもって前記第1記憶ユニットに出力して保存し、
前記第2伝送インタフェースは前記プロトコル分析モジュールと電気的に接続して前記プロトコル分析モジュールから出力される解析結果を受信して一つの第2転送速度でもって前記第2記憶ユニットに出力して保存し、前記第2転送速度は前記第1転送速度を超えない、マルチ分析計。 - 一つの入力端及び二つの出力端を備える一つのゲインユニットを含み、
前記入力端は前記プローブと電気的に接続し、前記二つの出力端はそれぞれ前記ロジック分析モジュール及び前記プロトコル分析モジュールと電気的に接続するため、前記ロジック分析モジュール及び前記プロトコル分析モジュールは前記ゲインユニットを介して前記プローブと電気的に接続し、前記ゲインユニットは前記入力端から前記被測定信号を受信して前記被測定信号を前記二つの出力端よりそれぞれ前記ロジック分析モジュール及び前記プロトコル分析モジュールに同時に出力することを特徴とする、請求項1記載のマルチ分析計。 - 前記第1記憶ユニット及び前記第2記憶ユニットは同一タイプのDDR3 SDRAMであり、前記第1転送速度は前記第2転送速度と同じであることを特徴とする、請求項1記載のマルチ分析計。
- 前記DDR3 SDRAMは第三世代ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリであることを特徴とする、請求項1記載のマルチ分析計。
- 前記第1記憶ユニットはDDR3 SDRAMで、前記第2伝送インタフェースはUSB(登録商標)、PCI Express(登録商標)又はワイヤレス伝送インタフェースで、前記第2記憶ユニットはハードディスクドライブ又はSDカードであることを特徴とする、請求項1記載のマルチ分析計。
- 前記第1転送速度は8000MB/s以上で、前記第2転送速度は200MB/s以上であることを特徴とする、請求項1記載のマルチ分析計。
- 一つの被測定物と電気的に接続して前記被測定物から発する一つの被測定信号を受信するための一つのプローブと、
前記プローブと電気的に接続して前記被測定信号を受信して前記被測定信号をサンプリングし、そのサンプリング結果を出力するための一つのロジック分析モジュールと、
前記プローブと電気的に接続して前記被測定信号を受信し、前記被測定物の通信プロトコルをもとに前記被測定信号を解析し、その解析結果を出力する一つのプロトコル分析モジュールと、
一つの第1伝送インタフェース及び前記第1伝送インタフェースと電気的に接続する一つの第1記憶ユニットと、
一つの第2伝送インタフェース及び前記第2伝送インタフェースと電気的に接続する一つの第2記憶ユニットと、
前記第2記憶ユニットと電気的に接続し、前記第2記憶ユニットに保存された解析結果が所定の条件を満たしているか否かを分析し、前記解析結果が所定の条件を満たす場合、前記第1記憶ユニットに保存されたサンプリング結果を第1伝送インタフェース及び第2伝送インタフェースを経由して前記第2記憶ユニットに伝送するプロセッサーと、を有し、
前記第1伝送インタフェースは、前記ロジック分析モジュールと電気的に接続して前記ロジック分析モジュールから出力されるサンプリング結果を受信して一つの第1転送速度でもって前記第1記憶ユニットに出力する保存し、
前記第2伝送インタフェースは、前記プロトコル分析モジュール及び前記第1伝送インタフェースと電気的に接続して前記プロトコル分析モジュールから出力される解析結果を受信し、一つの第2転送速度でもって前記第2記憶ユニットに出力して保存し、前記第2転送速度は前記第1転送速度を超えないマルチ分析システム。 - 前記プロセッサーと電気的に接続する一つのディスプレイを含み、前記プロセッサーは前記第2記憶ユニットに保存された解析結果及びサンプリング結果をそれぞれ一つの映像信号に変換して前記映像信号を前記ディスプレイに出力し、前記ディスプレイに前記解析結果及び前記サンプリング結果と対応する映像を表示させることを特徴とする、請求項7記載のマルチ分析システム。
- 前記プロセッサーと電気的に接続する一つの警報装置を含み、前記第1記憶ユニットから出力されるサンプリング結果は第1伝送インタフェース及び第2伝送インタフェースを経由して前記第2記憶ユニットに伝送されると、前記プロセッサーは前記警報装置に一つの信号を発し、前記警報装置は前記信号をもとにユーザーに一つの警告信号を発して通知することを特徴とする、請求項7記載のマルチ分析システム。
- 前記第1伝送インタフェースと電気的に接続する一つの警報装置を含み、前記第1記憶ユニットから出力されるサンプリング結果は第1伝送インタフェース及び第2伝送インタフェースを経由して前記第2記憶ユニットに伝送されると、前記第1伝送インタフェースから前記警報装置に一つの警告信号が発し、前記警報装置は前記信号をもとにユーザーに一つの警告信号を発して通知することを特徴とする、請求項7記載のマルチ分析システム。
- 一つのゲインユニットを含み、前記ゲインユニットは一つの入力端及び二つの出力端を備え、前記入力端は前記プローブと電気的に接続し、前記二つの出力端はそれぞれ前記ロジック分析モジュール及び前記プロトコル分析モジュールと電気的に接続しているため、前記ロジック分析モジュール及び前記プロトコル分析モジュールは前記ゲインユニットを介して前記プローブと電気的に接続し、前記ゲインユニットは前記入力端より前記被測定信号を受信して前記被測定信号を前記二つの出力端よりそれぞれ前記ロジック分析モジュール及び前記プロトコル分析モジュールに同時に出力することを特徴とする請求項7記載のプマルチ分析システム。
- 前記第1記憶ユニット及び前記第2記憶ユニットは同一タイプのDDR3 SDRAMであることを特徴とする、請求項7記載のマルチ分析システム。
- 前記DDR3 SDRAMは第三世代ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリであることを特徴とする、請求項12記載のマルチ分析システム。
- 第1記憶ユニットはDDR3 SDRAMで、前記第2伝送インタフェースはUSB(登録商標)、PCI Express(登録商標)又はワイヤレス伝送インタフェースであり、前記第2記憶ユニットはハードディスクドライブ又はSDカードであることを特徴とする請求項12記載のマルチ分析システム。
- 前記第1記憶ユニットのデータ転送速度は8000MB/s以上、前記第2記憶ユニットのデータ転送速度は200MB/s以上であることを特徴とする、請求項7記載のマルチ分析システム。
- 一つの第1被測定物と電気的に接続して前記第1被測定物から発する一つの第1被測定信号を受信するための一つの第1プローブと、
一つの第2被測定物と電気的に接続して前記第1被測定物から発する一つの第2被測定信号を受信するための一つの第2プローブと、
前記第1プローブと電気的に接続して前記第1被測定信号を受信して前記ロジック第1被測定信号を分析し、一つの第1分析結果として出力する一つの第1ロジック/プロトコル分析モジュールと、
前記第1プローブと電気的に接続して前記第1被測定信号を受信して前記第1被測定信号を分析し、一つの第2分析結果として出力する一つの第2ロジック/プロトコル分析モジュールと、
前記第2プローブと電気的に接続して前記第2被測定信号を受信し、前記第2被測定信号を分析し、一つの第3分析結果として出力する一つの第3ロジック/プロトコル分析モジュールと、
前記第2プローブと電気的に接続して前記第2被測定信号を受信し、前記第2被測定信号を分析し、一つの第4分析結果として出力する一つの第4ロジック/プロトコル分析モジュールと、
一つの第1伝送インタフェース及び前記第1伝送インタフェースと電気的に接続する一つの第1記憶ユニットと、
一つの第2伝送インタフェース及び前記第2伝送インタフェースと電気的に接続する一つの第2記憶ユニットと、
一つの第3伝送インタフェース及び前記第3伝送インタフェースと電気的に接続する一つの第3記憶ユニットと、
一つの第4伝送インタフェース及び前記第4伝送インタフェースと電気的に接続する一つの第4記憶ユニットと、
を有し、
前記第1伝送インタフェースは前記第1ロジック/プロトコル分析モジュールと電気的に接続して前記第1ロジック/プロトコル分析モジュールから出力される第1分析結果を受信して一つの第1転送速度でもって前記第1記憶ユニットに出力して保存し、
前記第2伝送インタフェースは前記第2ロジック/プロトコル分析モジュールと電気的に接続して前記第2ロジック/プロトコル分析モジュールから出力される第2分析結果を受信して一つの第2転送速度でもって前記第2記憶ユニットに出力して保存し、
前記第3伝送インタフェースは前記第3ロジック/プロトコル分析モジュールと電気的に接続して前記第3ロジック/プロトコル分析モジュールから出力される第3分析結果を受信して一つの第3転送速度でもって前記第3記憶ユニットに出力して保存し、
前記第4伝送インタフェースは前記第4ロジック/プロトコル分析モジュールと電気的に接続して前記第4ロジック/プロトコル分析モジュールから出力される第4分析結果を受信して一つの第4転送速度でもって前記第4記憶ユニットに出力して保存し、
前記第2転送速度は前記第1転送速度、前記第3転送速度及び前記第4転送速度を超えない、マルチ分析システム。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6148420A (en) * | 1997-10-17 | 2000-11-14 | Agilent Technologies | Method and apparatus for analyzing serial data |
JP2004220389A (ja) * | 2003-01-16 | 2004-08-05 | Fuji Xerox Engineering Co Ltd | 情報収集装置及び情報収集分析システム |
US20040228396A1 (en) * | 2003-05-13 | 2004-11-18 | Wood Reed Glenn | Modular, jitter-tolerant data acquisition and processing systems |
JP2006515671A (ja) * | 2002-12-31 | 2006-06-01 | ゼロプラス テクノロジー コーポレッド リミテッド | プログラム化可能なロジックアナライザーのデータ分析の方法 |
JP2006300618A (ja) * | 2005-04-18 | 2006-11-02 | Iwatsu Test Instruments Corp | 解析表示機能を有する計測システム及びその装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6148420A (en) * | 1997-10-17 | 2000-11-14 | Agilent Technologies | Method and apparatus for analyzing serial data |
JP2006515671A (ja) * | 2002-12-31 | 2006-06-01 | ゼロプラス テクノロジー コーポレッド リミテッド | プログラム化可能なロジックアナライザーのデータ分析の方法 |
JP2004220389A (ja) * | 2003-01-16 | 2004-08-05 | Fuji Xerox Engineering Co Ltd | 情報収集装置及び情報収集分析システム |
US20040228396A1 (en) * | 2003-05-13 | 2004-11-18 | Wood Reed Glenn | Modular, jitter-tolerant data acquisition and processing systems |
JP2006300618A (ja) * | 2005-04-18 | 2006-11-02 | Iwatsu Test Instruments Corp | 解析表示機能を有する計測システム及びその装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20220268839A1 (en) * | 2021-02-25 | 2022-08-25 | Tektronix, Inc. | Test and measurement system |
WO2022183073A1 (en) * | 2021-02-25 | 2022-09-01 | Tektronix, Inc. | Test and measurement system |
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