JP2017000566A - 画像処理装置、放射線撮影装置、画像処理方法、プログラム、および記憶媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画像処理装置は、放射線を照射して取得した被写体画像から放射線を照射しない状態で取得したダーク画像を除去したダーク補正画像を取得するダーク補正部と、ダーク補正画像に含まれる画素を解析し、負値の画素値を含む画素の解析結果を評価値として取得する評価値取得部と、時間経過による評価値のばらつきに基づいて、負値の画素値を補正する加算値を取得する加算値取得部と、加算値をダーク補正画像の画素に加算する加算部と、を備える。
【選択図】 図3
Description
図1を用いて、第1実施形態に係る画像処理装置の構成について説明する。図1は、本実施形態の画像処理装置120の基本的な構成を示すブロック図である。ここでは、一例として、画像処理装置120を備えた放射線撮影装置100の構成を示している。図1に示す構成を放射線撮影システムということもある。また、本実施形態において放射線とは、X線だけに限らず、放射性崩壊によって放出される粒子(光子を含む)の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギーを有するビーム、例えば粒子線や宇宙線なども含まれるものとする。
ここで、Xiは撮影開始からi番目に取得した被写体画像を示し、Dはダーク画像を示し、Wiはダーク補正後の画像(ダーク補正画像)を示す。ダーク補正部108は、被写体画像Xiからダーク画像Dを減算することにより、被写体画像Xiに含まれる暗電流の固定パターンノイズ(検出部の固定出力成分)を除去する。なお、ダーク補正画像Wi、被写体画像Xi、およびダーク画像Dは、いずれも検出部104(センサ)のリニア出力を示す。また、被写体画像Xiとダーク画像Dとの差分(減算)により取得されるダーク補正画像Wiには負値が含まれる場合があり、ダーク補正画像Wiを格納する記憶部118は、符号付の情報を記憶することが可能である。
本処理において、評価値取得部109は、ダーク補正画像に画素値がゼロ以下の負値の画素値が含まれる場合に、ダーク補正画像について画素値のヒストグラムを生成し、ヒストグラムの下位から一定割合に対応する点の画素値を取得する。そして、評価値取得部109は、取得した画素値がゼロより小さい負値であるかの判定結果に基づいて、評価値を取得する。
ここで、λは平均値Miからのバラつきを許容する程度を決める係数であり、加算値取得部111は、被写体や階調処理の特性にあわせた値をλとして設定することができる。加算値取得部111は、当該フレームの評価値Ciと、平均値Miとの差の絶対値が閾値Th1よりも小さいと判定する場合(S502−Yes)、処理をステップS503に進める。
ステップS208において、補正済みの被写体画像Yiは、診断用画像処理部113に入力され、診断用画像処理部113は、補正済みの被写体画像Yiに対して、対数変換処理、ゲイン補正、欠陥補正などの前処理を行った後、ノイズ低減処理、各種強調処理や階調変換処理を適用した後、診断を行うための画像(診断用画像)を出力する。尚、診断用画像処理部113による画像処理は上記に例示した処理に限定されるものではなく、他の既知の画像処理を、補正済みの被写体画像Yiに適用することが可能である。
次に、第2実施形態の画像処理装置の構成について説明する。本実施形態の基本的な装置構成は第1実施形態で説明した図1と同様の装置構成を有する。また、本実施形態の画像処理装置における処理フローも第1実施形態の画像処理装置における処理フローと多くが共通するため、重複する構成や処理については詳細な説明を省略し、第1実施形態との相違点を中心に説明する。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
110:統計情報取得部、111:加算値取得部、112:加算部
Claims (22)
- 放射線を照射して取得した被写体画像から放射線を照射しない状態で取得したダーク画像を除去したダーク補正画像を取得するダーク補正部と、
前記ダーク補正画像に含まれる画素を解析し、負値の画素値を含む画素の解析結果を評価値として取得する評価値取得部と、
時間経過による前記評価値のばらつきに基づいて、前記負値の画素値を補正する加算値を取得する加算値取得部と、
前記加算値を前記ダーク補正画像の画素に加算する加算部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 前記加算値取得部は、
前記時間経過による前記評価値のばらつきとして、処理対象の現フレームの評価値と、前記現フレームに対する前フレームの加算値との差分を取得し、
前記差分の絶対値が閾値を超えるか否かの判定結果に基づいて、前記現フレームの加算値を取得することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。 - 前記加算値取得部は、
現フレームの評価値と、現フレームに対する前フレームの加算値との差分の絶対値が閾値以上となり、かつ、前記現フレームの評価値と前記前フレームの加算値との差分がゼロより小さい負値である場合に、前記前フレームの加算値から前記閾値を減算した値に基づいて、前記現フレームの評価値を補正することを特徴とする請求項2に記載の画像処理装置。 - 前記加算値取得部は、
現フレームの評価値と、現フレームに対する前フレームの加算値との差分の絶対値が閾値以上となり、かつ、前記現フレームの評価値と前記前フレームの加算値との差分がゼロ以上である場合に、前記前フレームの加算値に前記閾値を加算した値に基づいて、前記現フレームの評価値を補正することを特徴とする請求項2に記載の画像処理装置。 - 前記加算値取得部は、
前記差分の絶対値が閾値を超えない場合、前記前フレームの加算値と前記現フレームの評価値とに基づいて、前記現フレームにおける加算値を取得し、
前記加算値取得部は、
前記差分の絶対値が閾値以上となる場合、前記前フレームの加算値と前記補正した評価値とに基づいて、前記現フレームにおける加算値を取得することを特徴とする請求項3または4に記載の画像処理装置。 - 前記評価値取得部は、前記ダーク補正画像に含まれる画素を解析し、負値の画素値を含む一定割合の画素の解析結果を評価値として取得し、
前記加算値取得部は、時間経過による前記評価値のばらつきが閾値を超えるか否かの判定結果に基づいて、前記負値の画素値を補正するための加算値を取得することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 放射線を照射して取得した被写体画像から放射線を照射しない状態で取得したダーク画像を除去したダーク補正画像を取得するダーク補正部と、
前記ダーク補正画像に含まれる画素を解析し、負値の画素値を含む画素の解析結果を評価値として取得する評価値取得部と、
時間の経過に従って複数取得した前記評価値に基づいて統計情報を取得する統計情報取得部と、
前記統計情報に対する前記評価値のばらつきに基づいて、前記負値の画素値を補正する加算値を取得する加算値取得部と、
前記加算値を前記ダーク補正画像の画素に加算する加算部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 前記評価値取得部は、
前記ダーク補正画像に画素値がゼロ以下の負値の画素値が含まれる場合に、前記ダーク補正画像について画素値のヒストグラムを生成し、
前記ヒストグラムの下位から一定割合に対応する点の画素値を取得し、
前記取得した画素値がゼロより小さい負値であるかの判定結果に基づいて、前記評価値を取得することを特徴とする請求項7に記載の画像処理装置。 - 前記評価値取得部は、放射線を検出する検出部の全画素数から放射線が遮蔽された領域の画素値を除外して前記ヒストグラムを生成することを特徴とする請求項8に記載の画像処理装置。
- 前記評価値取得部は、放射線を検出する検出部の全画素数に前記一定割合を乗算して前記一定割合に対応する点の画素値を特定することを特徴とする請求項8または9に記載の画像処理装置。
- 前記評価値取得部は、前記判定結果に基づき、前記取得した画素値がゼロより小さい場合、当該画素値の絶対値を評価値として取得することを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記評価値取得部は、前記判定結果に基づき、前記取得した画素値がゼロ以上である場合に、ゼロに設定した評価値を取得することを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記評価値取得部は、前記ダーク補正画像に前記負値の画素値が含まれない場合に、ゼロに設定した評価値を取得することを特徴とする請求項8に記載の画像処理装置。
- 前記評価値取得部は、前記ダーク補正画像に含まれる画素を解析し、負値の画素値を含む一定割合の画素の解析結果を評価値として取得し、
前記加算値取得部は、前記統計情報に対する前記評価値のばらつきが閾値を超えるか否かの判定結果に基づいて、前記負値の画素値を補正するための加算値を取得することを特徴とする請求項7乃至13のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記加算値取得部は、前記判定結果に基づいて、前記統計情報に対する前記評価値のばらつきが閾値を超えない場合、前記評価値取得部が取得した前記評価値を前記加算値として取得することを特徴とする請求項14に記載の画像処理装置。
- 前記加算値取得部は、前記判定結果に基づいて、前記統計情報に対する前記評価値のばらつきが閾値以上となる場合、前記統計情報取得部が取得した前記統計情報を前記加算値として取得することを特徴とする請求項14に記載の画像処理装置。
- 前記統計情報取得部は、
前記統計情報として、過去に撮影された複数フレームの評価値に基づく平均値および当該評価値に基づく標準偏差を取得し、
前記標準偏差に基づいて前記閾値を取得し、
前記加算値取得部は、
処理対象の現フレームの評価値と前記平均値との差分の絶対値が前記閾値を超えるか否かの判定結果に基づいて、前記負値の画素値を補正するための加算値を取得することを特徴とする請求項14乃至16のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 放射線を発生させる放射線発生部と、
前記放射線を検出する検出部と、
前記検出部で検出された画像データを処理する請求項1乃至17のいずれか1項に記載の画像処理装置と、
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。 - 放射線を照射して取得した被写体画像から放射線を照射しない状態で取得したダーク画像を除去したダーク補正画像を取得する工程と、
前記ダーク補正画像に含まれる画素を解析し、負値の画素値を含む画素の解析結果を評価値として取得する工程と、
時間経過による前記評価値のばらつきに基づいて、前記負値の画素値を補正する加算値を取得する加算値取得部と、
前記加算値を前記ダーク補正画像の画素に加算する工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 放射線を照射して取得した被写体画像から放射線を照射しない状態で取得したダーク画像を除去したダーク補正画像を取得するダーク補正工程と、
前記ダーク補正画像に含まれる画素を解析し、負値の画素値を含む画素の解析結果を評価値として取得する評価値取得工程と、
時間の経過に従って複数取得した前記評価値に基づいて統計情報を取得する統計情報取得工程と、
前記統計情報に対する前記評価値のばらつきに基づいて、前記負値の画素値を補正する加算値を取得する加算値取得工程と、
前記加算値を前記ダーク補正画像の画素に加算する加算工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - コンピュータを、請求項1乃至17のいずれか1項に記載の画像処理装置の各部として機能させるためのプログラム。
- 請求項21に記載のプログラムを記憶した、コンピュータにより読み取り可能な記憶媒体。
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