JP2018047192A - 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム - Google Patents

放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム Download PDF

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Abstract

【課題】本発明によれば、放射線の照射線量変動を考慮することにより、適切な平均エネルギーを算出することが可能となる。【解決手段】本発明の放射線撮影装置は、放射線検出器の所定の領域で検出された放射線に対応する画素値の時間変化に基づいて、前記放射線の照射線量変動を算出する変動算出手段と、前記放射線検出器の少なくとも1つの対象画素における前記放射線の平均エネルギーを、前記照射線量変動に基づいて算出するエネルギー算出手段と、を備える。【選択図】 図1

Description

本発明は、放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラムに関する。
放射線(X線)による医療画像診断や非破壊検査に用いる撮像装置として、半導体材料によって形成された平面検出器(Flat Panel Detector:FPD)を用いた放射線撮像装置が知られている。このような放射線撮像装置は、例えば、医療画像診断において、静止画や動画などのデジタル撮像装置として用いられている。
FPDとしては、例えば、積分型のセンサおよびフォトンカウンティング型のセンサがある。積分型のセンサは、放射線の入射により発生した電荷の総量を計測する。フォトンカウンティング型のセンサは、入射した放射線のエネルギー(波長)を識別し、複数のエネルギーレベルの各々について放射線の検出回数をカウントする。フォトンカウンティング型のセンサは、エネルギー分解能を有するため、物質の弁別や仮想的に単一のエネルギーの放射線で撮影した場合の画像の生成や骨密度の測定などへの応用が期待できる。
特許文献1では、所定領域ごとに平均画素値情報と画素値の分散情報とを用いて、放射線量子の個数や平均エネルギーを推定することにより、エネルギー分解能を有する放射線撮像装置が提案されている。
特開2009−285356号公報
特許文献1には、画素値の分散値と平均値から平均エネルギーを推定する方法が提案されているが、放射線発生装置で照射されるX線の照射線量は一定ではなく時間に応じて変動する場合がある。この照射線量の変動が、画素値の分散値に影響を与え、平均エネルギーを適切に求めることができない場合がある。
本発明の放射線撮影装置は、放射線検出器の所定の領域で検出された放射線に対応する画素値の時間変化に基づいて、前記放射線の照射線量変動を算出する変動算出手段と、前記放射線検出器の少なくとも1つの対象画素における前記放射線の平均エネルギーを、前記照射線量変動に基づいて算出するエネルギー算出手段と、を備える。
本発明によれば、放射線の照射線量変動を考慮することにより、適切な平均エネルギーを算出することが可能となる。
第1の実施形態の機能構成例を示す図である。 第1の実施形態の手順を示すフローチャートである。 関心領域の設定例を示した図である。 第1の実施形態の調整関数の例を示す図である。 第2の実施形態の機能構成例を示す図である。 第2の実施形態の手順を示すフローチャートである。 第2の実施形態の調整関数の例を示す図である。
(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態について、添付の図面を参照して具体的に説明する。なお、放射線は、例えば、X線であるが、α線、β線、及びγ線などであってもよい。
まず、図1及び図2を用いて、第1の実施形態の構成と処理フローを説明する。図1は、本発明の第1の実施形態の機能構成例を示す図である。
放射線撮影システムは、放射線発生装置101、放射線検出器102、及び平均エネルギー推定部103を備える。放射線発生装置101は、放射線検出器102の放射線照射領域に放射線を照射する。放射線発生装置101は被写体に放射線を照射する。放射線検出器102は、被写体を通過した放射線を検出し蓄積画像を出力する。ここで、蓄積画像は、放射線量子のエネルギーと個数の積に比例した画素値を持つデジタル画像である。
放射線撮影装置である平均エネルギー推定部103は、蓄積画像及び放射線の照射線量から放射線検出器102に到達した放射線量子の平均エネルギーを推定する。また、平均エネルギー推定部103は、その構成として、変動算出部112及び平均エネルギー算出部(エネルギー算出部)113を備える。変動算出部112は、分散算出部110及び平均算出部111を備える。なお、平均エネルギー推定部103における処理は、画素(対象画素)ごとに行われる。
変動算出部112は、放射線検出器102の所定の領域(変動検出領域)で検出された放射線に対応する画素値の時間変化(例えば、時系列での分散値)に基づいて、放射線の照射線量変動を算出する。平均エネルギー算出部113は、放射線検出器102の少なくとも1つの対象画素における放射線の平均エネルギーを、照射線量変動に基づいて算出する。
次に、図2に示すフローチャートを用いて、第1の実施形態の処理の流れを詳細に説明する。
ステップS201にて、放射線発生装置101は、被写体に放射線を照射する。ステップS202にて、放射線検出器102は、放射線発生装置101からの放射線(例えば、放射線発生装置101から被写体を透過した放射線)を複数回検出し、複数の蓄積画像を生成し、平均エネルギー推定部103へ入力する。
ステップS203にて、平均エネルギー推定部103は、分散算出部110を用いて、入力された複数の蓄積画像の画素値I(t)から式(1)に従い、各画素の画素値について時系列で分散を算出した分散画像Ivarを生成する。ここで、tは、整数で時系列に取得された画像のフレーム番号を表す。
ステップS204にて、平均算出部111は、式(2)に従い、各画素を時系列で平均したIaveを生成する。
ステップS205にて、変動算出部112は、式(3)に従い、Rvarを生成する。
ここで、Iaveは、複数取得された画像を時系列で平均(以下、「時系列平均」という)した各画素(対象画素)の時系列平均画素値である。Atotalは、各画素の時系列平均画素値Iaveを空間で平均(以下、「空間平均」という)した総平均画素値である。
varは、複数取得された画像の画素値の空間平均について時系列で分散を算出した時系列分散(第1の分散値)である。変動算出部112は、変動検出領域の画素値の空間平均について時系列でAvar(第1の分散値)を算出することにより、照射線量変動を算出する。
なお、Iaveは、各画素の画素値の時系列平均画素値であってもよいし、各画素の周辺画素の画素値を空間平均した値を時系列で平均した時系列平均画素値であってもよい。この場合、対象画素の画素値I(t)は、対象画素の画素値又は対象画素及び対象画素の周辺画素の画素値に基づいて算出される。また、Atotalは、複数取得された画像の空間平均を時系列平均した総平均画素値であってもよい。
このように、空間平均の時系列の変動を時系列分散Avarとして算出することで、放射線の照射線量の変動を取得することが可能となる。
また、各画素の放射線照射線量の変動による画素値の変動は、透過線量によって異なる。このため、各画素の時系列平均である時系列平均画素値Iaveと、放射線の照射線量の変動の算出に用いた総平均画素値Atotalとの比を用いることによって、各画素の照射線量の変動による画素値の分散(照射線量変動Rvar)を算出することができる。
変動算出部112は、対象画素の画素値I(t)について時系列平均したIave(第1の平均値)を算出し、変動検出領域の画素値について空間平均及び時系列平均したAtotal(第2の平均値)を算出する。変動算出部112は、Iave(第1の平均値)とAtotal(第2の平均値)との比により、照射線量変動Rvarを算出する。そして、式(3)に示すように、変動算出部112は、Iave(第1の平均値)とAtotal(第2の平均値)との比にAvar(第1の分散値)を乗算することにより、照射線量変動Rvarを算出する。
ステップS206にて、平均エネルギー算出部113は、式(4)に従い、平均エネルギーEaveを生成する。
このように、画素値の分散である分散画像Ivarから、照射線量の変動による画素値の分散である照射線量変動Rvarを差分することによって、照射線量の変動による平均エネルギーを補正して、適切な平均エネルギーを算出することが可能である。
平均エネルギー算出部113は、対象画素の画素値I(t)について時系列でIvar(第2の分散値)を算出し、Ivar(第2の分散値)を照射線量変動Rvarで補正することにより、平均エネルギーEaveを算出する。平均エネルギー算出部113は、Ivar(第2の分散値)から照射線量変動Rvarを減算した値を、対象画素の画素値I(t)について時系列平均したIave(第3の平均値)で除算することにより、平均エネルギーEaveを算出する。
なお、αは、画素値及び分散から計算される値をエネルギーの単位に変換する係数であり、事前に既知のエネルギーのX線を撮影して、予め算出することが可能である。平均エネルギー算出部113は、Ivar(第2の分散値)から照射線量変動Rvarを減算した値をIave(第3の平均値)で除算した値に、所定の係数を乗算することにより、平均エネルギーEaveを算出する。
以上、ステップS201からステップS206までの処理を行うことにより、平均エネルギーEaveを算出することができ、照射線量の変動の影響を低減することができる。
また、本発明は、例えば、システム、装置、方法、プログラム若しくは記憶媒体などとしての実施態様を採ることもできる。具体的には、本発明は、複数の機器から構成されるシステムに適用されてもよいし、1つの機器から構成される装置に適用されてもよい。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。本実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)が、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給される。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又は、CPU、MPU、及びGPUなど)が、プログラムを読み出して本実施形態の機能を実行する。
(第1の実施形態の第1の変形例)
第1の実施形態では、変動検出領域の画素値を用いて照射線量変動Rvarを求める際に、時系列平均画像Iaveをフレーム全体で空間平均した総平均画素値Atotalと、フレーム全体の空間平均について時系列で分散を算出した時系列分散Avarとが算出された。しかし、変動検出領域として1フレーム全体を用いる代わりに、フレームの部分領域である関心領域(ROI)が用いられてもよい。本変形例では、照射線量変動画像Rvarは、式(3)の代わりに、式(5)に従って算出される。
ここで、Iaveは、第1の実施形態と同様、各画素の時系列平均画素値である。ROItotalは、関心領域ROIの各画素の時系列平均画素値Iaveを関心領域ROIで空間平均した総平均画素値である。ROIvarは、複数取得された画像の関心領域ROIにおける画素値の空間平均について時系列で分散を算出した時系列分散である。なお、ROItotalは、複数取得された画像の関心領域ROIにおける画素値の空間平均を時系列平均した総平均画素値であってもよい。
関心領域ROIは、撮影部位ごとに予め設定された領域、被写体を透過していない放射線が検出される領域(放射線撮影領域のうち被写体が存在しない領域)などに設定されればよい。図3は、関心領域の設定例を示した図である。
図3のROI301を用いれば、第1の実施形態と同様に、1フレーム全体を用いて、総平均画素値ROItotalと時系列分散ROIvarが算出される。ROI302を用いれば、被写体内の所定の関心領域を用いて、総平均画素値ROItotalと時系列分散ROIvarが算出される。ROI303を用いれば、被写体を透過していない放射線が検出される領域を用いて、総平均画素値ROItotalと時系列分散ROIvarが算出される。
このように、照射線量変動の解析に適した領域に関心領域ROIを設定することで、照射線量変動の解析が安定し、適切な平均エネルギーEaveを算出することができ、計算速度が高速化するなどの効果が期待できる。
なお、1フレーム全体又は一部における時系列分散Avar,ROIvar及び後述の照射線量分散Mvarを監視し、時系列分散Avar,ROIvar及び照射線量分散Mvarが所定の閾値以下となる領域にROIが自動的に設定されてもよい。
このように、変動検出領域は、放射線検出器102の放射線照射領域の全領域、放射線照射領域の被写体の所定の関心領域、及び放射線照射領域の被写体が存在しない領域の少なくとも1つの領域に設定される。
(第1の実施形態の第2の変形例)
第1の実施形態では、放射線画像データから時系列分散Avarを用いて照射線量変動Rvarを算出した。しかし、放射線画像データの代わりに、照射線量を測定する線量計やAEC(Auto Exposure Control)画素などの測定結果を用いて、照射線量変動Rvarが算出されてもよい。この場合、照射線量変動Rvarは、式(3)の代わりに、式(6)に従って算出される。
変動算出部112は、放射線検出器102の所定の領域(変動検出領域)に照射された放射線の照射線量の時間変化に基づいて、放射線の照射線量変動を算出する。放射線の照射線量は、照射線量を測定する線量計の測定値、対象画素より高いフレームレートで放射線を検出する画素(AEC画素)の画素値、及び放射線の照射条件の少なくとも1つに基づいて算出されてもよい。
ここで、Mvarは、時系列で照射線量の分散を算出した照射線量分散である。γは、照射線量分散Mvarを、式(5)における時系列分散ROIvar相当の値に変換する係数である。
変動算出部112は、変動検出領域の照射線量について時系列でMvar(第3の分散値)を算出することにより、照射線量変動Rvarを算出する。変動算出部112は、対象画素の画素値について時系列平均したIave(第1の平均値)を算出する。変動算出部112は、変動検出領域の画素値について空間平均及び時系列平均したAtotal(第2の平均値)を算出する。変動算出部112は、Iave(第1の平均値)とAtotal(第2の平均値)との比により、照射線量変動Rvarを算出する。
変動算出部112は、Iave(第1の平均値)とAtotal(第2の平均値)との比にMvar(第3の分散値)を乗算することにより、照射線量変動Rvarを算出する
被写体を透過していない放射線が検出された領域に関心領域ROI303が設定される場合、係数γ及び総平均画素値ROItotalを予め求めておくことが可能である。また、放射線発生装置101から放射線検出器102までの距離、管電圧、管電流、照射時間、及び撮影時間などの撮影条件が変更された場合、予め求められた係数γ及び総平均画素値ROItotalを撮影条件に応じて補正することが可能である。これにより、すべての条件で係数γ及び総平均画素値ROItotalを予め取得する必要がなくなる。
このように、線量計やACE画素などの照射線量情報を用いることで、画素値を算出するために画像を解析する必要がなくなり、照射線量変動による平均エネルギーの補正を簡便に行うことが可能となる。
式(4)のように、平均エネルギー算出部113は、放射線検出器102の少なくとも1つの対象画素における放射線の平均エネルギーEaveを、照射線量変動Rvarに基づいて算出する。
(第1の実施形態の第3の変形例)
第1の実施形態では、放射線画像データから時系列分散Avarを用いて、照射線量変動Rvarを算出したが、放射線画像データの代わりに、放射線の照射条件を用いて、照射線量変動Rvarが算出されてもよい。このとき、予め各照射条件にて、式(6)における照射線量分散Mvar、係数γ、及び総平均画素値ROItotalを照射条件に応じて予め求めておくことが可能である。放射線の照射条件は、放射線発生装置101から放射線検出器102までの距離、管電圧、管電流、パルス幅、及び照射時間などの少なくとも1つを含む。
また、被写体が撮影範囲に存在する状態で、所定の低線量で発生された放射線を検出することで、照射線量分散Mvarが取得され、被写体の撮影時の放射線の照射条件を用いて、照射線量変動Rvarが算出されてもよい。
このように、放射線の照射線量は、放射線の照射条件に基づいて算出されてもよい。
(第1の実施形態の第4の変形例)
第1の実施形態では、平均エネルギーEaveを算出するときに、画素値の分散である分散画像Ivarから照射線量変動Rvarを減算することによって、照射線量の変動による平均エネルギーを補正するが、照射線量の変動の大きさに応じて、補正量を変更してもよい。この場合、平均エネルギーEaveは、式(6)に従って算出される。平均エネルギー算出部113は、Avar(第1の分散値)に関する関数β(Avar)に基づいて、照射線量変動Rvarを調整する。
ここで、β(Avar)は、補正量を調整する関数である。図4は、関数β(Avar)の例を示す。図4の関数401は、少なくとも1つの閾値を有するステップ関数である。関数401では、時系列分散Avarが閾値a未満になるとβ(Avar)が0となり、時系列分散Avarが閾値a以上になるとβ(Avar)が1となる。関数401では、β(Avar)が0である場合(つまり、時系列分散Avarが小さく、照射線量変動が小さい場合)は、照射線量の変動による平均エネルギーを補正しない。
また、関数402は、時系列分散Avarの複数の閾値の間でβ(Avar)が変化する関数である。関数402では、時系列分散Avarが閾値b未満になるとβ(Avar)が0となり、時系列分散Avarが閾値c以上になるとβ(Avar)が1となり、閾値bと閾値cとの間でβ(Avar)が0から1まで線形に増加する。
なお、関数β(Avar)として、平均エネルギーの補正量を調整するために、シグモイド関数などの関数が用いられてもよい。
このように、平均エネルギーの補正量を照射線量変動に応じて変更することで、照射線量変動が少ない場合は補正量を抑制し、照射線量変動が大きい場合は補正量を促進し、照射線量変動に応じて平均エネルギーEaveが算出される。また、平均エネルギーEaveの算出において、照射線量変動に応じて補正量を変化させることによって、補正の必要性などに応じた適切な補正を行うことが可能となる。
なお、本変化例では、照射線量変動としてAvarを用いたが、ROIvarを用いてもよいし、Mvarを用いてもよい。
(第2の実施形態)
本発明の第2の実施形態について、添付の図面を参照して具体的に説明する。なお、放射線は、例えば、X線であるが、α線、β線、及びγ線などであってもよい。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。
本実施形態では、放射線量子の平均エネルギーを推定するに際して、画素値と当該画素値以外の画素値の差分の二乗を用いる。これは、平均エネルギーの推定する際に、画素の画素値を画素値の平均とみなし、画素値と当該画素値とは別の画素値の差分の二乗を画素値の標本分散とみなして、それぞれを近似するという概念に基づく。
例えば、画素値を時系列平均画素値Iaveとみなし、画素値を時系列で差分を算出し、差分の二乗を分散画像Ivarとみなして、平均エネルギーを算出する。本実施形態では、所定のフレーム(第1のフレーム)とその1つ前のフレーム(第2のフレーム)の同じ位置における画素値を用いて、平均エネルギーを算出する。本実施形態では、第1のフレームと第2のフレームは時系列で隣接しているが、隣接していなくてもよい。
まず、図5及び図6を用いて、本実施形態の構成と処理フローを説明する。図5は、本実施形態の機能構成例を示す図である。
放射線発生装置501は、被写体に放射線を照射する。放射線検出器502は、被写体を通過した放射線を検出し蓄積画像を出力する。ここで、蓄積画像とは放射線量子のエネルギーと個数の積に比例した画素値を持つデジタル画像である。
平均エネルギー推定部503は、蓄積画像から放射線検出器502に到達した放射線量子の平均エネルギーを推定する。また、平均エネルギー推定部503は、その構成として、ゲイン算出部(変動算出部)510及び平均エネルギー算出部(エネルギー算出部)512を備える。平均エネルギー算出部512は、フレーム平均エネルギー算出部511を備える。なお、平均エネルギー推定部503における処理は、画素(対象画素)ごとに行われる。
次に、図6に示すフローチャートを用いて、第2の実施形態の処理の流れを詳細に説明する。
ステップS601にて、放射線発生装置501は、被写体に放射線を照射する。ステップS602にて、放射線検出器502は、放射線発生装置101からの放射線(例えば、放射線発生装置101から被写体を透過した放射線)を複数回検出し、蓄積画像を生成し、平均エネルギー推定部503へ入力する。
ステップS603にて、平均エネルギー推定部503は、ゲイン算出部510を用いて、入力された蓄積画像とその1つ前のフレーム(以下、「前フレーム」という)の蓄積画像から式(8)に従い、ゲインGを算出する。ここで、tは、整数で時系列に取得された画像のフレーム番号を表す。このように、ゲイン算出部(変動算出部)510は、変動検出領域の画素値について時系列で比を算出することにより、放射線の照射線量変動Gを算出する。
ここで、ROI(t)は、第1のフレームtの蓄積画像における関心領域ROIの空間平均である。ROI(t−1)は、前フレーム(第2のフレームt−1)の蓄積画像における関心領域ROIの空間平均である。
ゲイン算出部(変動算出部)510は、放射線画像の第1のフレームtにおける変動検出領域の画素値を空間平均したROI(t)(第4の平均値)を算出する。ゲイン算出部(変動算出部)510は、放射線画像の第2のフレームt−1における変動検出領域の画素値を空間平均したROI(t−1)(第5の平均値)を算出する。ゲイン算出部(変動算出部)510は、ROI(t)(第4の平均値)とROI(t−1)(第5の平均値)との比に基づいて、放射線の照射線量変動G(t)を算出する。
ここで、第1の実施形態の第1の変形例と同様に、変動検出領域は、放射線検出器102の放射線照射領域の全領域、放射線照射領域の被写体の所定の関心領域、及び放射線照射領域の被写体が存在しない領域の少なくとも1つの領域に設定されてもよい。
次に、ステップS604にて、平均エネルギー推定部503は、フレーム平均エネルギー算出部511を用いて、蓄積画像とその前フレームの蓄積画像とゲインGから式(9)に従い、フレーム平均エネルギーE(t)を計算する。
このように、時系列で隣り合う2つのフレームの差分の二乗を分散とみなすことによって、フレームごとにフレーム平均エネルギーE(t)を算出することが可能である。
平均エネルギー算出部512は、第1のフレームtにおける対象画素の第1の画素値I(t)と第2のフレームt−1における対象画素の第2の画素値I(t−1)との差分を、照射線量変動G(t)で補正することにより、後述の平均エネルギーEaveを算出する。平均エネルギー算出部512は、第2の画素値I(t−1)に、照射線量変動G(t)を乗算した値を、第1の画素値I(t)から減算することにより差分を算出する。平均エネルギー算出部512は、差分の二乗を第1の画素値I(t)で除算することにより、後述の平均エネルギーEaveを算出する。
また、平均エネルギー算出部512は、差分の二乗を第1の画素値I(t)で除算した値に、所定の係数αを乗算することにより、後述のように平均エネルギーEaveを算出する。
照射線量変動G(t)は、ROI(t)(第4の平均値)とROI(t−1)(第5の平均値)との比で表される。
関心領域ROIの空間平均は、照射線量変動に起因して時系列で変動するものとして、ステップS603で計算されたゲインGを前フレームの画素値I(t−1)に乗算することにより、照射線量変動による画素値Iの誤差を補正している。
αは、画素値から計算される値をエネルギーの単位に変換する係数であり、事前に既知のエネルギーのX線を撮影して、予め算出することが可能である。
式(9)では、第2のフレームの画素値I(t−1)にゲインGが乗算された値を第1のフレームの画素値I(t)から減算し、減算された値が二乗される。二乗された値をフレームの画素値I(t)で除算して、係数αを乗算することで、フレーム平均エネルギーE(t)が算出される。
このように、ゲインGを算出して、ゲインGを用いて照射線量変動による画素値Iの誤差を補正することにより、照射線量変動による平均エネルギーの誤差を抑制することが可能となる。
次に、ステップS605にて、平均エネルギー推定部503は、平均エネルギー計算部512を用いて、複数のフレーム平均エネルギーから式(10)に従い、平均エネルギーを算出する。平均エネルギー算出部512は、上記の差分の二乗を第1の画素値I(t)で除算した値E(t)について時系列平均することにより、平均エネルギーEaveを算出する。
ここで、Tは、平均エネルギーを算出する際に取得したフレーム数である。したがって、Eaveは、算出されたフレーム平均エネルギーE(t)の平均である。このように、複数のフレーム平均エネルギーE(t)を平均して、平均エネルギーEaveを算出することで、計算誤差を小さくすることが可能となる。
以上、ステップS601からステップS605までの処理を行うことにより、平均エネルギーEaveの算出における照射線量変動の影響を低減することが可能である。
(第2の実施形態の第1の変形例)
第2の実施形態では、平均エネルギーEaveを算出ときに、前フレームの画素値I(t−1)にゲインGが乗算された値をフレームの画素値I(t)から減算することによって、照射線量の変動によるフレーム平均エネルギーE(t)を補正する。しかし、照射線量の変動の大きさに応じて、補正量が変更されてもよい。この場合、フレーム平均エネルギーE(t)は、式(11)に従って算出される。
ここで、β(e|lnG(t)|)|)は、補正量を調整する関数である。図7は、関数β(e|lnG(t)|)の例を示す。少なくとも1つの閾値を有するステップ関数である。関数701では、e|lnG(t)|が閾値d未満になるとβ(e|lnG(t)|)が0となり、e|lnG(t)|が閾値d以上になるとβ(e|lnG(t)|)が1となる。関数701では、e|lnG(t)|が1である場合(つまり、、照射線量変動が小さい場合)は、照射線量の変動によるフレーム平均エネルギーE(t)を補正しない。
また、関数702は、ゲインGの複数の閾値の間でβ(e|lnG(t)|)が変化する関数である。関数702では、ゲインGが閾値e未満になるとβ(e|lnG(t)|)が0となり、ゲインGが閾値f以上になるとβ(e|lnG(t)|)が1となり、閾値eと閾値fとの間でβ(e|lnG(t)|)が0から1まで線形に増加する。
なお、関数β(e|lnG(t)|)として、フレーム平均エネルギーE(t)の補正量を調整するために、シグモイド関数などの関数が用いられてもよい。
このように、フレーム平均エネルギーの補正量を照射線量変動に応じて変更することで、照射線量変動が少ない場合は補正量を抑制し、照射線量変動が大きい場合は補正量を促進し、照射線量変動に応じて平均エネルギーEaveが算出される。また、フレーム平均エネルギーE(t)の算出において、照射線量変動に応じて補正量を変化させることによって、補正の必要性などに応じた適切な補正を行うことが可能となる。
平均エネルギー算出部512は、照射線量変動G(t)に関する関数β(e|lnG(t)|))に基づいて、平均エネルギーEaveを調整する。
(第2の実施形態の第2の変形例)
第2の実施形態では、関心領域ROIの空間平均を用いてゲインGを算出したが、放射線画像データの代わりに、照射線量を測定する線量計やAEC(Auto Exposure Control)画素などの測定結果を用いて、ゲインGが算出されてもよい。この場合、ゲインGは、式(8)の代わりに、式(12)に従って算出される。
ゲイン算出部(変動算出部)510は、放射線画像の第1のフレームt及び第2のフレームt−1における照射線量の比に基づいて、放射線の照射線量変動を算出する。放射線の照射線量は、照射線量を測定する線量計の測定値、対象画素より高いフレームレートで放射線を検出する画素(AEC画素)の画素値、及び放射線の照射条件の少なくとも1つに基づいて算出されてもよい。
ここで、M(t)は、フレーム番号tの撮影時の照射線量である。M(t−1)は、フレーム番号t−1(前フレーム)の照射線量である。
このように、線量計やACE画素などの照射線量情報を用いることで、画素値を算出するために画像を解析する必要がなくなり、照射線量変動による平均エネルギーの補正を簡便に行うことが可能となる。
第2の実施形態と同様に、平均エネルギー算出部512は、第1のフレームtにおける対象画素の第1の画素値I(t)と第2のフレームt−1における対象画素の第2の画素値I(t−1)との差分を、照射線量変動G(t)で補正する。これにより、平均エネルギー算出部512は、平均エネルギーEaveを算出する。本実施形態では、照射線量変動G(t)は、放射線画像の第1のフレームt及び第2のフレームt−1における照射線量の比で表される。
以上、本発明に係る実施形態について説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、請求項に記載された範囲内において変更・変形することが可能である。
本発明は、上記の実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、システム又は装置のコンピュータ(CPUやMPUなど)がプログラムを読み出すことにより実行されてもよい。また、本発明は、システム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能であり、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
101,501 放射線発生装置
102,502 放射線検出器
103,503 平均エネルギー推定部
110 分散算出部
111 平均算出部
112 変動算出部
113,512 平均エネルギー算出部(エネルギー算出部)
510 ゲイン算出部(変動算出部)
511 フレーム平均エネルギー算出部

Claims (26)

  1. 放射線検出器の所定の領域で検出された放射線に対応する画素値の時間変化に基づいて、前記放射線の照射線量変動を算出する変動算出手段と、
    前記放射線検出器の少なくとも1つの対象画素における前記放射線の平均エネルギーを、前記照射線量変動に基づいて算出するエネルギー算出手段と、
    を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
  2. 前記変動算出手段は、前記領域の前記画素値の空間平均について時系列で第1の分散値を算出することにより、前記照射線量変動を算出する請求項1に記載の放射線撮影装置。
  3. 前記変動算出手段は、前記対象画素の画素値について時系列平均した第1の平均値を算出し、前記領域の前記画素値について空間平均及び時系列平均した第2の平均値を算出し、前記第1の平均値と前記第2の平均値との比により、前記照射線量変動を算出する請求項2に記載の放射線撮影装置。
  4. 前記変動算出手段は、前記第1の平均値と前記第2の平均値との比に前記第1の分散値を乗算することにより、前記照射線量変動を算出する請求項3に記載の放射線撮影装置。
  5. 前記エネルギー算出手段は、前記対象画素の画素値について時系列で第2の分散値を算出し、前記第2の分散値を前記照射線量変動で補正することにより、前記平均エネルギーを算出することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
  6. 前記エネルギー算出手段は、前記第2の分散値から前記照射線量変動を減算した値を、前記対象画素の画素値について時系列平均した第3の平均値で除算することにより、前記平均エネルギーを算出することを特徴とする請求項5に記載の放射線撮影装置。
  7. 前記エネルギー算出手段は、前記第2の分散値から前記照射線量変動を減算した値を前記第3の平均値で除算した値に、所定の係数を乗算することにより、前記平均エネルギーを算出することを特徴とする請求項6に記載の放射線撮影装置。
  8. 前記対象画素の画素値は、前記対象画素の画素値又は前記対象画素の周辺画素の画素値に基づいて算出されることを特徴とする請求項3乃至7の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
  9. 前記領域は、前記放射線検出器の放射線照射領域の全領域、前記放射線照射領域の被写体の所定の関心領域、及び前記放射線照射領域の被写体が存在しない領域の少なくとも1つの領域に設定されることを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
  10. 前記エネルギー算出手段は、前記第1の分散値に関する関数に基づいて、前記照射線量変動を調整することを特徴とする請求項2乃至9の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
  11. 放射線検出器の所定の領域に照射された放射線の照射線量の時間変化に基づいて、前記放射線の照射線量変動を算出する変動算出手段と、
    前記放射線検出器の少なくとも1つの対象画素における前記放射線の平均エネルギーを、前記照射線量変動に基づいて算出するエネルギー算出手段と、
    を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
  12. 前記放射線の照射線量は、前記照射線量を測定する線量計の測定値、前記対象画素より高いフレームレートで前記放射線を検出する画素の画素値、及び前記放射線の照射条件の少なくとも1つに基づいて算出されることを特徴とする請求項11に記載の放射線撮影装置。
  13. 前記変動算出手段は、前記領域の前記照射線量について時系列で第3の分散値を算出することにより、前記照射線量変動を算出する請求項11又は12に記載の放射線撮影装置。
  14. 前記変動算出手段は、前記対象画素の画素値について時系列平均した第1の平均値を算出し、前記領域の前記画素値について空間平均及び時系列平均した第2の平均値を算出し、前記第1の平均値と前記第2の平均値との比により、前記照射線量変動を算出する請求項13に記載の放射線撮影装置。
  15. 前記変動算出手段は、前記第1の平均値と前記第2の平均値との比に前記第3の分散値を乗算することにより、前記照射線量変動を算出する請求項14に記載の放射線撮影装置。
  16. 前記変動算出手段は、前記領域の前記画素値について時系列で比を算出することにより、前記放射線の照射線量変動を算出することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮影装置。
  17. 前記変動算出手段は、放射線画像の第1のフレームにおける前記領域の前記画素値を空間平均した第4の平均値を算出し、前記放射線画像の第2のフレームにおける前記領域の前記画素値を空間平均した第5の平均値を算出し、前記第4の平均値と前記第5の平均値との比に基づいて、前記放射線の照射線量変動を算出することを特徴とする請求項16に記載の放射線撮影装置。
  18. 前記エネルギー算出手段は、前記第1のフレームにおける前記対象画素の第1の画素値と前記第2のフレームにおける前記対象画素の第2の画素値との差分を、前記第4の平均値と前記第5の平均値との比で補正することにより、前記平均エネルギーを算出することを特徴とする請求項17に記載の放射線撮影装置。
  19. 前記エネルギー算出手段は、前記第2の画素値に、前記第4の平均値と前記第5の平均値との比を乗算した値を、前記第1の画素値から減算することにより差分を算出し、前記差分の二乗を前記第1の画素値で除算することにより、前記平均エネルギーを算出することを特徴とする請求項17又は18に記載の放射線撮影装置。
  20. 前記エネルギー算出手段は、前記差分の二乗を前記第1の画素値で除算した値に、所定の係数を乗算することにより、前記平均エネルギーを算出することを特徴とする請求項19に記載の放射線撮影装置。
  21. 前記エネルギー算出手段は、前記差分の二乗を前記第1の画素値で除算した値について時系列平均することにより、前記平均エネルギーを算出することを特徴とする請求項19又は20に記載の放射線撮影装置。
  22. 前記エネルギー算出手段は、前記第4の平均値と前記第5の平均値との比に関する関数に基づいて、前記平均エネルギーを調整することを特徴とする請求項17乃至21の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
  23. 前記変動算出手段は、放射線画像の第1のフレーム及び第2のフレームにおける前記照射線量の比に基づいて、前記放射線の照射線量変動を算出することを特徴とする請求項11又は12に記載の放射線撮影装置。
  24. 放射線検出器に放射線を照射する放射線発生手段と、
    前記放射線検出器の所定の領域で検出された前記放射線に対応する画素値の時間変化に基づいて、前記放射線の照射線量変動を算出する変動算出手段と、
    前記放射線検出器の少なくとも1つの対象画素における前記放射線の平均エネルギーを、前記照射線量変動に基づいて算出するエネルギー算出手段と、
    を備えることを特徴とする放射線撮影システム。
  25. 放射線検出器の所定の領域で検出された放射線に対応する画素値の時間変化に基づいて、前記放射線の照射線量変動を算出する工程と、
    前記放射線検出器の少なくとも1つの対象画素における前記放射線の平均エネルギーを、前記照射線量変動に基づいて算出する工程と、
    を備えることを特徴とする放射線撮影方法。
  26. コンピュータを請求項1乃至23の何れか1項に記載の放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。

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