JP2016532097A - バイパス電極を有するバイオセンサ - Google Patents
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Abstract
試料チャンバに隣接するテストストリップの一部分において、互いに向かって内方に対向する伝導性表面を有する2つの電極を備える、テストストリップ。一対のスペーサは、各々が試料チャンバの1つの側面に隣接して、電極間に配置される。電極は、伝導性表面が互いから離れて外方に対向して、テストストリップの電気的接触エリアを形成するように、試料チャンバから離れて、テストストリップの近位端において互いにバイパスする。【選択図】図1
Description
本開示は、バイオセンサのための構造、機能、及び作製方法に関する。
血液分析物測定システムは、典型的に、通常はテストストリップの形態であるバイオセンサを受容するように構成される、分析物テストメータを備える。使用者は、典型的に指先の皮刺によって、小さい血液試料を得ることができ、次いで、試料をテストストリップに適用して、血液分析物アッセイを開始することができる。これらのシステムの多くは、可搬式であり、試験は、短時間で完了することができるため、患者は、通常の生活の中で、個人的な日常生活を著しく中断せずに、かかるデバイスを使用することができる。糖尿病を有する患者は、彼らの血中グルコースの血糖コントロールが目標範囲内にあることを確実にするために、自己管理プロセスの一部として、彼らの血中グルコースレベルを1日数回測定する場合がある。
分析物検出アッセイは、臨床検査、家庭検査などを含めて、多様な用途に利用法が見出されるものであり、そのような検査の結果は、多様な病状の診断及び処置において主要な役割を果たしている。目的の分析物には、糖尿病管理のためのグルコース、コレステロールなどが挙げられる。こうした分析物検出の重要性の高まりに応じて、臨床での使用と家庭での使用の両方に対応する多様な分析物検出の手順及びデバイスが開発されてきた。
分析物検出に用いられる方法の1つの種類は電気化学的方法である。かかる方法において、血液試料は、2つの電極、例えば、対電極及び作用電極、並びにレドックス試薬を含む、電気化学セル内の試料受容チャンバの中へ配置される。分析物をレドックス試薬と反応させて、血液分析物濃度に対応する量の酸化可能(又は還元可能)な物質を形成する。次いで、存在する酸化可能(又は還元可能)な物質の量又は濃度を、電極を介して電圧信号を適用すること、及び初期試料中に存在する分析物の量に関連する電気的応答を測定することによって、電気化学的に推定する。
電気化学セルは、典型的に、セルを分析物測定デバイスに電気的に接続するように構成されるテストストリップ上に存在する。現在のテストストリップは効果的である一方、テストストリップのサイズは、製造コストに直接影響を及ぼし得る。ストリップの取り扱いを容易にするサイズを有するテストストリップを提供することが望ましい一方、ストリップを形成するために使用される材料の量が増加する場合には、サイズの増加が製造コストを増加させる傾向がある。更に、テストストリップのサイズを増加させることは、1バッチあたりに生産されるストリップの量を減少させる傾向があり、それにより、製造コストが更に増加する。したがって、材料及び製造コストを低減するための改善された電気化学的テストストリップ作製方法及び構造に対する必要性が存在する。
本明細書において開示される実施形態は、概して、コフェイシャルテストストリップ、及びコストを最小化する製造方法を提供し、血中グルコーステストメータ等のハンドヘルド分析物測定デバイスによる容易なアクセスのための外側に対向する電気的接触エリアを提供する。接触エリアは、メータに完全にアクセス可能なフルストリップ幅の上部及び底部層電極を提供する。これにより、メータのストリップポートコネクタの寸法公差をより大きくすることができ、一側面あたり1つの接続部のみが必要とされるため、より簡素なメータ設計が可能となる。
これらの及び他の実施形態、特性、及び利点は、最初に簡単に説明される添付の図面と併せて、本発明の種々の例示的な実施形態の以下のより詳細な説明を参照するとき、当業者には明らかになるであろう。
本明細書に組み込まれ、本明細書の一部をなす添付の図面は、現時点における本発明の好ましい実施形態を例解し、上で述べた一般的説明及び下で述べる詳細な説明とともに、本発明の特性を説明する役割を果たす(同様の数字は同様の要素を表す)。
図1Aは、作製中の例示的なテストストリップの斜視図である。図1Bは、図1Aのテストストリップの分解図である。図1Cは、図1Aのテストストリップの側面図である。図1Dは、図1Aのテストストリップの上面図である。図1Eは、図1Dのテストストリップの空間的に分離された上部及びベース電極の上面図である。
図1Aのテストストリップの実施形態に有用な上部及びベース電極の例示的な外形を例解する。
図1Aのテストストリップの実施形態に有用な上部及びベース電極の例示的な外形を例解する。
図1Aのテストストリップの実施形態に有用な上部及びベース電極の例示的な外形を例解する。
図1Aのテストストリップの実施形態に有用な上部及びベース電極の例示的な外形を例解する。
その上に切断パターンを有する例示的な電極ウェブを例解する。
図3Aの電極ウェブの側面図を例解する。
その上に他の切断パターンを有する別の例示的な電極ウェブを例解する。
電極ウェブ上の試薬層及びスペーサを例解する。
図4Aの側面図を例解する。
図4Aの電極ウェブ上にわたる例示的な切断パターンを例解する。
テストストリップの一実施形態を作製するための例示的なデバイス及び方法を例解する。
テストストリップの実施形態を形成するための例示的な工程を例解する。
バイパス電極を有する例示的なテストストリップの側面図を例解する。
図7A〜7Dは、図2A〜2Dに例解される上部及びベース電極外形を有するテストストリップの例示的な物理的な実施形態の写真である。
ここで、本明細書において開示されるテストストリップの構造、機能、製造、及び使用、並びに作製方法の原理の総合的な理解を提供するために、ある例示的なテストストリップ実施形態を説明する。これらの実施形態の1つ又は2つ以上の実施例を、添付の図面において例解する。当業者は、具体的に本明細書において説明され、添付の図面において例解されるデバイス及び方法が、非限定的な例示的な実施形態であること、並びに本開示の範囲が、特許請求の範囲によってのみ定義されることを理解するであろう。1つの例示的な実施形態との関連において例解又は説明される特性は、他の実施形態の特性と組み合わされ得る。かかる修正及び改変は、本開示の範囲内に含まれることが意図される。
本明細書で使用する際、用語「患者」又は「使用者」は、任意のヒト又は動物対象を指し、ヒト患者における本発明の使用は好ましい実施形態を表すが、システム又は方法をヒトへの使用に限定することを意図するものではない。
用語「試料」は、構成要素の存在又は不在、構成要素、例えば、分析物の濃度等の、その特性のうちのいずれかの定性的又は定量的判定の対象となることが意図される、ある体積の液体、溶液、又は懸濁液を意味する。本発明の実施形態は、全血のヒト及び動物試料に適用可能である。本明細書において説明される、本発明の文脈における典型的な試料には、血液、血漿、赤血球、血清、及びそれらの懸濁液が含まれる。
説明及び特許請求の範囲全体を通じて数値に関連して使用される「約」という用語は、当業者にとって身近であり、許容される、精度区間を示す。本用語を支配する区間は、好ましくは±10%である。明記されない限り、上述の用語は、本明細書に記載され、特許請求の範囲に従う本発明の範囲を狭めることは意図されない。用語「上部」及び「ベース」は、本明細書において使用される際、例解目的のみの参照としての役割を果たすことが意図され、テストストリップの部分の実際の位置は、その配向に依存するであろう。
本発明は、概して、分析物測定システム又はデバイスと通信する電極を有する、電気化学的バイオセンサ、又はテストストリップを提供する。バイオセンサは、比較的小さいサイズを提供しつつ、取り扱いを容易にするための大きい表面積を提供するため、特に有利である。電気化学的バイオセンサのより小さいサイズは、それを製造するために、より少ない材料が必要とされるため、製造費用を低減し得る。
図1A〜1Eは、本明細書においてテストストリップとも称される、電気化学的バイオセンサ100の1つの例示的な実施形態を例解する。示されるように、テストストリップ100は、概して、それぞれ上部及びベース電極101、109と、それぞれ近位及び遠位スペーサ104、105と、ベース電極109上のスペーサ104、105間に配置される試薬フィルム108又は層と、を含む。スペーサ104、105間に形成され、ベース電極109上の上部電極101及び試薬層108によって更に画定される間隙は、電気化学セルとして機能する試料チャンバ113を形成する。試料チャンバは、テストストリップの幅Wtにわたって延在し、その中に試料を適用するために使用され得る両方の端部において入口を提供する。当業者は、テストストリップ100が、示されるもの以外の種々の構成を有することができ、本明細書において開示され、当該技術分野において既知の特性の任意の組み合わせを含むことができることを理解するであろう。更に、各テストストリップ100は、試料中の同じ及び/又は異なる分析物を測定するための種々の場所において、試料チャンバ113を含むことができる。
テストストリップ100は、種々の構成を有することができるが、以下で更に詳細に述べられるように、それは、典型的に、分析物測定システム又はデバイスの取り扱い及びそれへの接続を可能にするように、十分な構造的一体性を有する、剛性、半剛性、又は可撓性層104〜105、及び可撓性の層106〜107の形態である。テストストリップ層104〜107は、プラスチック、ポリエステル、又は他の材料を含む、種々の材料から形成され得る。層104〜107の材料は、典型的に、絶縁性(非伝導性)であるものであり、不活性及び/又は電気化学的に非機能性であり得、ここでは、それらは、経時的に容易に腐食せず、テストストリップ100の試料チャンバ113に適用される試料と化学反応もしない。上部電極101は、可撓性絶縁層106と、その内方に対向する表面(電極109に対向する)上に配置される可撓性伝導性材料、又は層102と、を含む。ベース電極109はまた、可撓性絶縁層107と、その内方に対向する表面(電極101に対向する)上に配置される可撓性伝導性材料、又は層110と、を含む。伝導性層は、腐食に抵抗性であるべきであり、それらの伝導性は、テストストリップ100の保管中に変化しない。
図1A〜1Eに示される実施形態において、テストストリップ100は、略細長い、長方形の、平面的な形状を有し、伝導性層102、110は、分析物測定システム又はデバイスの電気的接触部と電気的に通信するために、電極の近位端115において、接触エリア116、117を提供する。電極101、109の近位端115は、以下で説明されるように、電極のバイパス、又はクロスオーバ、配向を可能にする、実質的に円形の形状のカットアウト111、112を含む。カットアウト111、112は、例示的なカットアウト外形であり、円形の形状のカットアウトに限定される必要はなく、更なる例示的な形状が、以下で説明される。テストストリップ100のカットアウト部分111、112は、穿孔ツール又は他の切断ツールによって形成され得る。本明細書において説明される方法の実施形態は、分析物測定システム又はデバイスの電気的接触部を使用した、電極101、109への容易な電気的アクセスを可能にするために、外方に対向する配向において接触エリア116、117を配置するための工程を開示する。かかる構成は、分析物測定デバイスへの上部及びベース電極101、109の接続を容易にし、デバイスが、電極に係合し、電気化学的試料チャンバ113において提供される流体試料の分析物濃度を測定することを可能にする。図1Aに例解されるように、接触エリア116、117は、内方に対向しており、更なる修正なしでは、それとの電気的接触を確立するために係合することは困難であり得る。
上部及びベース電極101、109は、それぞれ、実質的に絶縁性かつ不活性基板106、107を含み、電極101、109と分析物測定システム又はデバイスとの間の通信を容易にするように、それぞれ、その1つの表面102、110上に配置される伝導性材料を有する。上部及びベース電極101、109、並びにその上に配置される伝導性材料はまた、略細長い、長方形の平面的な形状を各々備える。電気的伝導性層102、110は、アルミニウム、炭素、グラフェン、グラファイト、銀インク、酸化スズ、酸化インジウム、銅、ニッケル、クロミウム、並びにこれらの合金、及びこれらの組み合わせ(例えば、インジウムドープ酸化スズ)等の安価な材料を含む、任意の伝導性材料から形成され得、かつ絶縁層106、107上に堆積、接着、又はコーティングされ得る。しかしながら、パラジウム、白金、インジウムスズ酸化物、又は金等の伝導性である貴金属を、任意に使用することができる。伝導性層は、スパッタリング、無電解めっき、熱蒸発、及びスクリーン印刷等の種々のプロセスによって、絶縁層106、107上へ堆積され得る。1つの例示的な実施形態において、試薬不含電極、例えば、上部電極101は、スパッタリングされた金電極であり、試薬108を含有する電極、例えば、ベース電極109は、スパッタリングされたパラジウム電極である。以下で更に詳細に述べられるように、使用中、電極の一方は、作用電極として機能することができ、他方の電極は、対/参照電極として機能することができる。電気的伝導性層は、上部及びベース電極101、109の内方に対向する表面全体上に配置され得るか、又はそれらは、電極101、109の縁部からある距離(例えば、1mm)で終端し得るが、電気的伝導性層102、110の特定の場所は、試料チャンバ113の電気化学セルを分析物測定システム又はデバイスに電気的に結合させるように構成されるべきである。
1つの例示的な実施形態において、上部及びベース電極101、109の内方に対向する表面の全体部分又は相当な部分は、事前選択された厚さで電気的伝導性層102、110でコーティングされる。電気化学的テストストリップが組み立てられるとき、図1Aに示されるように、上部電極101は、上部電極101の内方に対向する伝導性表面102、及びベース電極109の内方に対向する伝導性表面110の少なくとも一部分が、互いと対向関係、即ち、「コフェイシャル」であるように、位置付けられる。当業者は、上部及びベース電極101、109を、絶縁基板上に伝導性コーティングを形成するのではなく、むしろ、それぞれ伝導性金属性シート102、110に接着される絶縁層106、107等の別個の層を含むように製造することができることを理解するであろう。
上部及びベース伝導性層102、110間の電気的分離を維持するために、テストストリップ100は、互いに上部及びベース電極101、109を離間関係に固定するための両面接着スペーサでもあり得る、近位及び遠位スペーサ104、105を備える、スペーサ層を更に含み得る。スペーサ104、105は、上部及びベース電極101、109を、互いからある距離で離して維持するように機能することができ、それにより、コフェイシャルの上部及びベース伝導性層102、110間の電気的接触を防止する。スペーサ104、105は、接着特性を有する剛性、半剛性、若しくは可撓性材料を含む、様々な材料から形成され得るか、又はスペーサ104、105は、スペーサ104、105を電極101、109の内側表面に取設するためにその上に適用される別個の接着剤を含むことができる。スペーサ材料は、スペーサが試料チャンバ113の体積に悪影響を及ぼさないように、小さい熱膨張係数を有し得る。スペーサ104、105は、電極101、109の幅Wt(図1A)に実質的に等しくあり得る幅、及び電極101又は109のいずれかを有意に下回る長さを有し得る。スペーサ104、105は、種々の形状及びサイズを有し得、略平面的、正方形、又は長方形であり得、かつ上部及びベース電極101、109間の種々の場所に位置付けることができる。図1A〜1Eに示される実施形態において、スペーサ104、105は、試料チャンバ113の側壁を画定するように、距離Ws(図1C)分、空間的に分離される。当業者は、スペーサ、及びそれによって画定される試料チャンバの場所が変動し得ることを理解するであろう。同様に、テストストリップもまた、分析物測定システム又はデバイスに結合するために、それぞれ伝導性層102、110上のどこかに位置する電気的接触エリア116、117を含むことができる。接着剤を本開示の種々のテストストリップアセンブリに組み込むことができる方法の非限定的な例は、Chatelier et al.の米国特許第8,221,994号、発明の名称「Adhesive Compositions for Use in an Immunosensor」において見出すことができ、その内容は、参照により、本明細書において完全に記載されているかのように、その全体として、組み込まれる。
上部及びベース電極101、109は、試料を受容するために、反対の離間関係において、任意の好適な構成で構成される。例解される試薬フィルム108は、それに適用される試料中の分析物と物理的に接触させ、かつ反応させるために、スペーサ104、105間、及びチャンバ113内で、上部又はベース電極101、109のいずれかの上に配置され得る。代替的に、試薬層を、試料チャンバ113の複数の面上に配置することができる。当業者は、電気化学的テストストリップ100、特に、それによって形成される電気化学セルが、共平面的な電極等の他の電極構成を有することを含む、様々な構成を有し得ることを理解するであろう。試薬層108は、種々のメディエータ及び/又は酵素を含む、種々の材料から形成することができる。好適なメディエータとしては、非限定的な例として、フェリシアニド、フェロセン、フェロセン誘導体、オスミウムビピリジル錯体、及びキノン誘導体が挙げられる。好適な酵素としては、非限定的な例として、グルコースオキシダーゼ、ピロロキノリンキノン(PQQ)補酵素依存性グルコースデヒドロゲナーゼ(GDH)、ニコチンアミドアデニンジヌクレオチド補酵素依存性GDH、及びFAD依存性GDHが挙げられる。試薬層108を作製するために好適であろう、1つの例示的な試薬製剤は、米国特許第7,291,256号、発明の名称「Method of Manufacturing a Sterilized and Calibrated Test strip−Based Medical Device」において説明されており、その全体は、参照により、本明細書において完全に記載されているかのように組み込まれる。試薬層108は、スロットコーティング、チューブの端からの分注、インク噴射、及びスクリーン印刷等の種々のプロセスを使用して、形成することができる。詳細には述べられていないが、当業者はまた、本明細書において開示される種々の電気化学的モジュールもまた、生化学構成要素のための緩衝剤、湿潤剤、及び/又は安定化剤を含有することができることを理解するであろう。
上で説明されるように、スペーサ104、105及び電極101、109は、概して、その間に試料を受容するための電気化学的空洞又は試料チャンバ113を形成する、ウィンドウとも称される、空間又は間隙を画定する。特に、上部及びベース電極101、109は、試料チャンバ113の上部及び底部を画定し、スペーサ104、105は、試料チャンバ113の側部を画定する。スペーサ104、105間の間隙は、両方の端部において試料チャンバ113の中へ延在する開口又は入口をもたらす。このため、いずれかの開口を通じて、試料を適用することができる。1つの例示的な実施形態において、試料チャンバの体積は、約0.1マイクロリットル〜約5マイクロリットル、好ましくは約0.2マイクロリットル〜約3マイクロリットル、及びより好ましくは約0.2マイクロリットル〜約0.4マイクロリットルの範囲であり得る。小さい体積を提供するために、スペーサ104、105間の間隙は、約0.005cm2〜約0.2cm2、好ましくは約0.0075cm2〜約0.15cm2、及びより好ましくは約0.01cm2〜約0.08cm2の面積を有し、スペーサ104、105の厚さは、約1ミクロン〜500ミクロン、及びより好ましくは約10ミクロン〜400ミクロン、及びより好ましくは約40ミクロン〜200ミクロン、及び更により好ましくは約50ミクロン〜150ミクロンの範囲であり得る。当業者によって理解されるであろうように、試料チャンバ113の体積、スペーサ104、105間の間隙の面積、及び電極101、109間の距離は、有意に変動し得る。
図2A〜2Dを参照すると、例示的な対の電極101、109に対する代替的な形状又は構成が例解されている。上の説明は、実質的に円形のカットアウトを有する、図2Aに描写されるような電極101、109の例示的な実施形態を対象としている。しかしながら、図1A〜1Eを参照した上の説明は、それぞれ三角形のカットアウト、楕円形のカットアウト、及び長方形のカットアウトを例解する、図2B〜2Dに描写される形状において具現化されるような電極構成に等しく適用される。電極対2A〜2Dのいずれの電極も、上の説明における電極対101、109の上部電極101として位置付けられ得る。図2A〜2Dに描写されるような例示的な電極対101、109の構成は、効率的な作製方法を容易にし、以下で説明されるように、電極対の近位端115におけるコフェイシャル接触エリア116、117が、バイパス、又はクロスオーバ構成に配設されることを可能にする。
図3A〜3Cを参照すると、上部及びベース電極101、109を作製するために使用される材料は、2つの反対の平行な縁部310、311を有する略長方形の形状で、かつ上で説明されるように、その上に堆積される絶縁層306及び伝導性層302を備える、連続的なウェブ301として形成される。ウェブ301は、図3A〜3Bに例解されるように、モザイク化された切断パターン304及び貫通孔305に従って切断され、これは、図1A〜1Eを参照して本明細書において説明されるような電極101、109構成をもたらし、かつ図2Aの電極構成に対応する。貫通孔305は、ウェブ301が切断パターン304に従って切断される前に、それと同時に、又はその後に、ウェブ301を通って穿孔又は切断され得る。図3Cを参照すると、連続的なウェブ301は、モザイク化された切断パターン308及び309に従って切断され得、これは、それぞれ図2B〜2Cに例解されるような電極101、109構成の作製に対応し、それをもたらす。切断パターン308、309の各々に対する反転画像切断パターンは、図2B〜2Cに描写されるような電極対を形成するために必要とされる。切断パターン304、308、309は、ウェブ301上で互いに直接隣接する(モザイク化)ため、無駄な材料がほとんどなく、作製コストが対応して低減される。
図4A〜4Cを参照すると、ウェブ301は、ウェブ301を切断する前に、それに堆積又は接着される、試薬層408及びスペーサ404、405を有する、ベース(又は上部)電極109を形成するために、調製され得る。テストストリップ100を作製する第1の工程として、ウェブ301は、それに適用される試薬層408のストリップを有し得、試薬層408は、適用後に乾燥工程を必要とし得る。試料チャンバ試薬408のストリップは、略直線に堆積される。試料チャンバ試薬408は、スペーサがそれに適用されるときにスペーサ404、405間の間隙と整合するように、伝導性層410に沿って堆積される。試料チャンバ試薬408のストリップは、スペーサが適用されるときにスペーサ404、405間の間隙よりも若干広くなるように、適用され得る。次いで、スペーサ404、405は、接着剤スペーサを使用して、又はスペーサ404、405に予め適用される別個の接着剤を使用して、適用される。一対のスペーサ404、405は、伝導性層302上へ堆積、積層、又は接着され得、幅Wsを有する間隙によって分離され、この間隙は、最終的に幅Wsを有する試料チャンバ113を形成する。スペーサ404、405は、その間に直線の間隙を形成するように平行に堆積され得る。代替的に、スペーサ404、405は、試料チャンバ試薬408層がその間に堆積される前に、適用され得る。
試薬層408、及びスペーサ404、405がその上に組み立てられるウェブ301の形成後、それによって形成される二積層ウェブ構造は、切断パターン304、305(図3A)、又は図4Cに例解されるような切断パターン308、309、又はこれらの組み合わせに従って切断され得る。次いで、図3Cに例解されるような切断パターン308、309に従って、ウェブ301から切断又は単体化される、対応する上部(又はベース)電極101は、個々のテストストリップ100を組み立てるように、その上に試薬層408及びスペーサ404、405を有するベース電極109に接着され得る。代替的に、完全に組み立てられた電極ウェブは、その間に試薬408及びスペーサ404、405を有する、完成した上部及びベース電極を備える、三積層ウェブ構造を形成するように組み合わされ得、次いで、完全に組み立てられた単体化されたテストストリップ100を形成するように切断され得る。
ここで説明される作製工程は、当業者には周知のように、種々の組み合わせにおいて修正され得ることに留意されたい。例えば、電極101、109を形成するためのここで説明される工程は、様々な構成及び順序を有し得、本開示の範囲内であると見なされる。別の例示的な実施形態において、試薬層は、必要に応じて、ベース電極の代わりに上部電極に適用され得る。ここで説明される作製工程の1つの利点は、該方法が、切断されるときに、作製材料を無駄にすることなく、電極構成要素、又は完成したテストストリップを形成する、相互係止、又はモザイク化電極ウェブ設計を活用することである。
図5A〜5Cを参照すると、外方に対向する接触エリア116、117を有するテストストリップ100上にバイパス電極101、109を形成するための例示的な機構及び反転方法が例解される。ここで説明される方法において、可撓性電極101、109の末端を備えるテストストリップ115(図1A)の近位端は、電極101、109の近位端115の相対的な上部/底部位置、又は配向を反転させるように、分離ツール504及びスプール510によって係合され、それにより、元は内方に対向する接触エリア116、117が、それへの容易な電気的係合を提供するように外方に対向する。該方法の完了後、次いで、外方に対向する接触エリア116、117は、試料が試料チャンバ113に適用されると、分析物アッセイを実施するように、分析物測定システム又はデバイスからの1つの接触部によって各々係合され得る。
図5Aに示されるように、機構は、クランプ502と、分離ツール504と、スプール510と、を備える。テストストリップ100の遠位端は、クランプ502内に固定される。分離ツール504は、ベースプレート505に固定される、短い尖叉506と、長い尖叉508と、を備える。尖叉506、508は、ベースプレート505から下方方向に延在するが、しかしながら、電極101、109に対するツールの他の配向は、本明細書において開示される実施形態の一部であると見なされる。ベースプレート504の上面図503は、短い尖叉506及び長い尖叉508が、上面図503の視点から、水平及び垂直方向の両方において、互いから変位されることを例解する。この変位は、長い尖叉508が、そのカットアウト111を通って上部電極101をバイパスし、分離ツールが下方方向に移動されるときに、ベース電極109に機械的に係合することを可能にする。機械的係合は、短い尖叉506が可撓性上部電極101と接触及び当接するまで、上で説明されるように、電極109の可撓性及び容易に偏向可能な材料構造により、図5Aに見られるように、下電極109を下方に屈曲させる。
図5Bを参照すると、本明細書において開示される反転方法は、12の工程順序において例解される。最初の6つの工程(1)〜(6)は、図5Bの上部分に示される一方、残りの6つの工程(7)〜(12)は、図5Bの下部分に示される。最初の2つの工程(1)〜(2)は、図5Aを参照して上で説明されており、ここでは、上部電極101は、現在、ベース電極109の上に配置される。以下の説明において、分離ツール504に対するスプール510の運動は、スプール510が上方/下方方向において移動する間、分離ツール504が静止したままであるように、反転され得ることに留意されたい。代替的に、スプール510及び分離ツール504の両方は、図5Bに描写されるように、相対関係において移動させられ得る。工程(3)は、分離ツールの下方移動が、スプールに、ベース電極109に対して上方圧力を適用させる際、下電極109に対してスプール510によって行われる接触を実証する。分離ツールによる下方移動が継続するにつれて、圧力がベース電極109に適用され、回転し始める、工程(4)。継続した移動は、上部電極に、反対の回転において、同様の動きを行わせる、工程(5)。上電極101及び下電極109の両方がスプール510の上部を通過するまで、この運動は継続し、工程(6)、分離ツールは、上方に移動し始める、工程(7)。上方移動は、上部電極101がスプール510の上部に形成されるキャッチ512によって拘束される際、工程(8)、ベース電極109が最初に再形成することを可能にする。分離ツール504の更なる上方移動は、最初にベース電極109が再形成することを可能にする、工程(9)〜(10)。分離ツール504の継続した上方移動は、その後、キャッチ512から上部電極101を解放し、工程(11)、続いて、ここで上部電極101がベース電極109の下にあるように、上部電極101及びベース電極109の両方が、再形成される、即ち、それらの修正された配向において反転される。
図6に例解されるように、上部101及びベース電極109の近位端115の修正された配向は、下電極109接触エリア117(図6の視点において上方)のみでなく、上電極101接触エリア116を外方に(図6の視点において下方)対向させる。図6に示されるように、ハンドヘルドテストメータ(図示せず)等の分析物測定システム又はデバイスの一対の反対の電気的接触部601、602は、テストストリップ100の接触エリア116、117に容易に電気的に係合し得る。スペーサ603は、接触エリア116、117を離間関係に維持して、電気的接触部601、602との良好なオーム接続を確実にするように、上部及びベース電極101、109の反転した近位端115間で、接着剤等によって固定されることが示されている。
図7A〜7Dは、それぞれ図2A〜2Dに例解される上部及びベース電極外形に対応する、研究室で作製されたプロトタイプバイオセンサの写真を例解する。例解されるようなプロトタイプは、約3〜4mm×30mmの寸法を有し、以下の通りの上部から底部の層を備える:(i)上部ポリエステル層又は同様の絶縁層;(ii)金属層若しくは金属化された表面、又は他の伝導性処理;(iii)接着剤;(iv)スペーサ;(v)接着剤;(vi)電気化学的試薬層;(vii)金属化された層;及び(viii)底部ポリエステル層又は同様の絶縁層。ポリエステル層は、約175μmの厚さを有し、接着剤は、約25μmであり、スペーサは、約50μmである。
本発明が特定の変形例及び例解図に関して説明されているが、当業者は、本発明が説明された変形例又は図に限定されないことを認識するであろう。加えて、上述の方法及び工程が特定の順序で起こる特定の事象を示している場合、当業者であれば、特定の工程の順序が変更可能であり、かかる変更が本発明の変形によるものであることを認識するであろう。更に、それらの工程のうちのある特定の工程は、可能であれば並行したプロセスで同時に行われても、上述のように順次行われてもよい。したがって、本開示の趣旨又は請求項に見出される本発明の同等物の範囲内にある本発明の変形例が存在する範囲では、本特許がこうした変形例をも包含することが意図される。
Claims (20)
- テストストリップであって、
第1の伝導性表面を有する第1の電極と、
第2の伝導性表面を有する第2の電極であって、前記第1及び第2の伝導性表面が、前記テストストリップの試料チャンバにわたって、互いに向かって内方に対向する、第2の電極と、
前記試料チャンバに隣接して、前記第1及び第2の伝導性表面間に配置される、一対のスペーサと、を備え、
前記第1及び第2の伝導性表面が、互いから離れて対向して、前記テストストリップの外方に対向する電気的接触エリアを形成するように、前記第1及び第2の電極が、前記テストストリップの電気的接触領域に近接して互いにバイパスする、テストストリップ。 - 前記外方に対向する電気的接触エリアにおいて、前記第1及び第2の電極間の、並びに前記第1及び第2の電極に当接するセパレータを更に備える、請求項1に記載のテストストリップ。
- 前記一対のスペーサが、前記テストストリップにおける前記試料チャンバの一対の壁を画定する、請求項1に記載のテストストリップ。
- 前記第1及び第2の電極の前記第1及び第2の伝導性表面が、前記テストストリップにおける前記試料チャンバの第2の対の壁を画定する、請求項3に記載のテストストリップ。
- 前記第2の対の壁のうちの少なくとも1つが、その上に堆積される試薬を含み、前記試料チャンバが、その中に流体試料を受容するように、前記流体試料と前記試薬との間の反応を生成するように、かつ前記反応させた流体試料を介して、前記第1及び第2の電極間の電気回路を完了させるように構成される、請求項4に記載のテストストリップ。
- 前記テストストリップの前記外方に対向する電気的接触エリアが、前記テストストリップがその中へ挿入されるとき、分析物メータの対応する電気的接触部に係合するように構成される、請求項5に記載のテストストリップ。
- 前記外方に対向する電気的接触エリア、並びに前記第1及び第2の伝導性表面が、前記試料チャンバ内の前記流体試料にわたって、前記分析物メータの前記電気的接触部を電気的に接続するように構成される、請求項6に記載のテストストリップ。
- 前記第1の電極が、前記第1の伝導性表面を担持する第1の絶縁層を備え、前記第2の電極が、前記第2の伝導性表面を担持する第2の絶縁層を備える、請求項1に記載のテストストリップ。
- 前記第1及び第2の電極が、各々、前記第1及び第2の電極が互いにバイパスすることを容易にするためのカットアウト部分を備える、請求項1に記載のテストストリップ。
- 前記カットアウト部分が、円形カットアウト、三角形カットアウト、楕円形カットアウト、及び長方形カットアウトからなる群のうちの1つとして形状化される、請求項9に記載のテストストリップ。
- テストストリップであって、
第1の絶縁層及び第1の伝導性層を備える第1の電極であって、実質的に細長い平面的な形状を備える、第1の電極と、
第2の絶縁層及び第2の伝導性層を備える第2の電極であって、前記第1の電極に対して実質的に平行に、実質的に細長い平面的な形状を備える、第2の電極と、
前記第1及び第2の電極を互いに離間関係に維持するように、前記第1及び第2の伝導性層間に、かつ前記第1及び第2の伝導性層に当接して配置される、一対のスペーサと、を備え、前記スペーサに隣接する前記第1及び第2の伝導性層が、内方に対向し、
前記第1及び第2の伝導性層が、前記スペーサから離れて、前記電極の近位端において外方に対向する、テストストリップ。 - 前記電極の前記近位端における前記第1及び第2の電極の各々の一部分が、前記第1及び第2の電極が互いにバイパスすることを可能にするように構成される、重複するカットアウト部分を備える、請求項11に記載のテストストリップ。
- 前記重複するカットアウト部分が、円形カットアウト、三角形カットアウト、楕円形カットアウト、及び長方形カットアウトからなる群のうちの1つとして形状化される、請求項12に記載のテストストリップ。
- 前記第1の伝導性層の前記外方に対向する部分が、前記テストストリップの第1の接触エリアを備え、前記第2の伝導性層の前記外方に対向する部分が、前記テストストリップの第2の接触エリアを備え、前記第1及び第2の接触エリアが、反対方向において対向する、請求項11に記載のテストストリップ。
- 前記一対のスペーサが、間隙によって分離され、前記第1及び第2の伝導性層の一部分が、前記間隙にわたって互いに対向し、前記第1及び第2の伝導性層の前記一部分及び前記スペーサが、前記テストストリップの試料チャンバを画定する、請求項14に記載のテストストリップ。
- 前記第1及び第2の伝導性層の前記一部分のうちの少なくとも1つが、前記試料チャンバに適用される試料と反応させるための電気化学セルを形成するように、その上に試薬層を備える、請求項15に記載のテストストリップ。
- 電気化学に基づく分析テストストリップに適用される体液試料における分析物濃度を判定するための方法であって、
前記電気化学に基づく分析テストストリップの第1の電気的伝導性層及び第2の電気的伝導性層が、ハンドヘルドテストメータと動作可能に電気的に接触するように、前記電気化学に基づく分析テストストリップを、前記ハンドヘルドテストメータの中へ挿入することであって、前記第1の電気的伝導性層の近位端及び前記第2の電気的伝導性層の近位端が、重複するバイパス構成において互いを過ぎて水平方向に偏向される、挿入することと、
体液試料を前記電気化学に基づく分析テストストリップに適用することと、
前記第1及び第2の電気的伝導性層の前記近位端を介して、前記ハンドヘルドテストメータを使用して、前記電気化学に基づく分析テストストリップの電気化学的応答を感知することと、を含む、方法。 - 前記第1及び第2の電気的伝導性層の前記近位端が、互いから離れて外方に対向する、請求項17に記載の方法。
- 前記第1の電気的伝導性層の遠位端及び前記第2の電気的伝導性層の遠位端が、互いに向かって内方に対向する、請求項18に記載の方法。
- 前記第1及び第2の電気的伝導性層の前記遠位端が、前記電気化学に基づく分析テストストリップの試料チャンバにわたって、互いに向かって内方に対向する、請求項19に記載の方法。
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