JP2016223952A - 放射線撮像装置、およびその制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光の検出回数に基づいて生成される画像に生じる誤差を低減するために有利な技術を提供する。【解決手段】放射線撮像装置は、放射線を光に変換するシンチレータと、前記シンチレータで変換された光の強度をそれぞれ検出する複数の画素を有し、光の強度に関する複数のレベルの各々について光の検出回数を画素ごとにカウントする検出部と、前記検出部によって画素ごとに得られた各レベルの検出回数に基づいて、画像を生成する処理を行う処理部と、を含み、前記処理部は、放射線のエネルギーと前記検出部において光が各レベルでカウントされる可能性との関係を示す情報を用いて、前記検出部によって得られた各レベルの検出回数を画素ごとに補正し、補正した検出回数に基づいて画像を生成する。【選択図】図1
Description
本発明は、放射線撮像装置、およびその制御方法に関する。
放射線(X線)による医療画像診断や非破壊検査に用いる撮像装置として、半導体材料によって形成された平面検出器(Flat Panel Detector、以下FPD)を用いた放射線撮像装置が知られている。このような放射線撮像装置は、例えば医療画像診断において、静止画や動画などのデジタル撮像装置として用いられうる。
FPDとしては、例えば、積分型のセンサおよびフォトンカウンティング型のセンサがある。積分型のセンサは、放射線の入射により発生した電荷の総量を計測する。それに対し、フォトンカウンティング型のセンサは、入射した放射線のエネルギー(波長)を識別し、複数のエネルギーレベルの各々について放射線の検出回数をカウントする。即ち、フォトンカウンティング型のセンサは、エネルギー分解能を有するため、積分型のセンサに比べて診断能力を向上させることができる。
フォトンカウンティング型のセンサは、例えば、特許文献1および2に提案されている。特許文献1には、CdTeを用いて放射線のエネルギーを直接検出することにより放射線の検出回数をカウントする直接型のセンサが提案されている。また、特許文献2には、放射線の入射によりシンチレータで生じた光の強度を検出し、当該光の検出回数をカウントする間接型のセンサが提案されている。
直接型のセンサに用いられるCdTeの単結晶は、数cm角程度にしか成長させることができない。そのため、直接型のセンサは、大面積化が困難であり、非常に高価となる。また、アモルファスSeを成膜することにより大面積の直接型のセンサを実現する方法もあるが、当該方法により作製されたセンサは、動作が遅く、温度管理が必要などの難点がある。
これに対し、間接型のセンサは、大面積化が容易であり安価となるという利点がある。しかしながら、間接型のセンサでは、シンチレータに入射した放射線のエネルギーに対応する強度とは異なる強度で光がセンサに入射することがある。この場合、放射線のエネルギーを高精度に識別することが不十分になり、光の強度に関するレベルごとにカウントされる光の検出回数に誤差が生じうる。その結果、光の検出回数に基づいて生成される画像にも誤差が生じうる。
そこで、本発明は、光の検出回数に基づいて生成される画像に生じる誤差を低減するために有利な技術を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての放射線撮像装置は、放射線を光に変換するシンチレータと、前記シンチレータで変換された光の強度をそれぞれ検出する複数の画素を有し、光の強度に関する複数のレベルの各々について光の検出回数を画素ごとにカウントする検出部と、前記検出部によって画素ごとに得られた各レベルの検出回数に基づいて、画像を生成する処理を行う処理部と、を含み、前記処理部は、放射線のエネルギーと前記検出部において光が各レベルでカウントされる可能性との関係を示す情報を用いて、前記検出部によって得られた各レベルの検出回数を画素ごとに補正し、補正した検出回数に基づいて画像を生成する、ことを特徴とする。
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、例えば、光の検出回数に基づいて生成される画像に生じる誤差を低減するために有利な技術を提供することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材ないし要素については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。また、本発明における放射線には、放射線崩壊によって放出される粒子(光子を含む)が作り出すビームであるα線、β線、γ線などの他に、それと同程度以上のエネルギーを有するビーム、例えばX線や粒子線、宇宙線なども含まれるものとする。
<第1実施形態>
本発明に係る第1実施形態の放射線撮像装置100(放射線撮像システム)について説明する。図1は、第1実施形態の放射線撮像装置100を示す概略図である。第1実施形態の放射線撮像装置100は、例えば、被検体に放射線を照射する照射部101と、照射部101を制御する制御部102と、放射線が照射された被検体を撮像する撮像部104と、処理部103とを含みうる。制御部102および処理部103はそれぞれ、CPUやメモリなどを有するコンピュータなどによって構成されうる。ここで、第1実施形態では、制御部102および処理部103が別々に構成されているが、それに限られるものではなく、一体に構成されていてもよい。即ち、制御部102および処理部103が、それらの機能を有する1つのコンピュータで構成されていてもよい。
本発明に係る第1実施形態の放射線撮像装置100(放射線撮像システム)について説明する。図1は、第1実施形態の放射線撮像装置100を示す概略図である。第1実施形態の放射線撮像装置100は、例えば、被検体に放射線を照射する照射部101と、照射部101を制御する制御部102と、放射線が照射された被検体を撮像する撮像部104と、処理部103とを含みうる。制御部102および処理部103はそれぞれ、CPUやメモリなどを有するコンピュータなどによって構成されうる。ここで、第1実施形態では、制御部102および処理部103が別々に構成されているが、それに限られるものではなく、一体に構成されていてもよい。即ち、制御部102および処理部103が、それらの機能を有する1つのコンピュータで構成されていてもよい。
撮像部104は、入射した放射線を光(例えば可視光)に変換するシンチレータ105と、シンチレータ105で生じた光の強度を検出する検出部106とを含むフォトンカウンティング型のセンサである。検出部106は、例えば、シンチレータ105で生じた光の強度をそれぞれ検出する複数の画素201が二次元状(X行×Y列のアレイ状)に配置されたセンサであり、シンチレータ105で生じた光の検出回数をカウントする。処理部103は、検出部106によって画素ごとにカウントされた光の検出回数に基づいて、例えばディスプレイ(表示部)上に表示するための画像を生成する処理を行う。また、処理部103は、検出部106によってカウントされた光の検出回数を画素ごとに補正する補正部130を含みうる。
次に、検出部106の構成について図2を参照しながら説明する。図2は、検出部106の構成を示す図である。検出部106は、複数の画素201、垂直シフトレジスタ202、水平シフトレジスタ203、垂直データ線204、垂直選択線205、出力データ線206、水平選択線207および水平選択回路208を含みうる。複数の画素201の各々は、光の強度に関する複数のレベルの各々について、シンチレータ105で生じた光の検出回数をカウントするように構成されうる。そして、各画素201は、複数のレベルのうち、垂直選択線205を介して信号が供給されることによって選択されたレベルの検出回数のデータを、垂直データ線204を介して水平選択回路208に供給する。
垂直シフトレジスタ202は、所望のレベルの検出回数のデータが各画素201から出力されるように、信号を供給する垂直選択線205を順番に切り替える。水平選択回路208は、水平選択線207を介して信号が供給されたときに、各画素201から供給された検出回数のデータを出力データ線206に出力する。また、水平シフトレジスタ203は、検出回数のデータを出力データ線206に出力する動作が複数の水平選択回路208において順番に行われるように、信号を供給する水平選択線207を順番に切り替える。ここで、図2では、説明を簡単にするため、3行×3列の画素201が配列された検出部106を示したが、実際には、より多くの画素201が配列された検出部106が用いられうる。例えば、17インチの検出部106(FPD)では、約2800行×約2800列の画素201が配置されうる。
次に、各画素201の構成について図3を参照しながら説明する。図3は、各画素201の構成を示す図である。検出部106の各画素201は、シンチレータ105で生じた光を検出する光検出器301を含む。そして、光検出器301からの出力値を複数の基準値の各々と比較し、複数の基準値の各々について基準値以上の出力値が得られた回数を、複数のレベルの各々についての光の検出回数としてカウントするように構成されうる。例えば、各画素201は、光検出器301の他に、微分回路302、コンパレータ303、カウンタ304、行選択回路305を含むように構成されうる。
光検出器301は、放射線がシンチレータ105に入射することによりシンチレータ105で生じた光を検出し、電気信号を出力する光電変換器である。微分回路302は、光検出器301から出力された電気信号を電圧のパルス信号に変換して出力する。コンパレータ303は、微分回路302から出力されたパルス信号の電圧値と基準電圧306(基準値)とを比較し、比較結果に応じた信号を出力する。例えば、微分回路302から出力されたパルス信号の電圧値が基準電圧306以上である場合は、コンパレータ303は、比較結果に応じた信号としてデジタル値「1」を出力する。一方で、微分回路302から出力されたパルス信号の電圧値が基準電圧306より小さい場合は、コンパレータ303は、比較結果に応じた信号としてデジタル値「0」を出力する。コンパレータ303に供給される基準電圧306は、検出部106における全ての画素201に対して共通の値になるように設定されうる。カウンタ304は、コンパレータ303から出力されたデジタル値「1」をカウントする。即ち、カウンタ304は、放射線がシンチレータ105に入射することによりシンチレータ105で生じた光の検出回数をカウントする。また、行選択回路305は、それに接続された垂直選択線205を介して垂直シフトレジスタ202から信号が供給されたとき、検出回数のデータを垂直データ線204を介して水平選択回路208に供給する。そして、水平選択回路208に水平選択線207を介して信号が供給されたとき、検出回数のデータが処理部103に供給される。
図3に示す構成では、各画素201に、2つのコンパレータ303Bおよび303R、2つのカウンタ304Bおよび304R、2つの行選択回路305Bおよび305Rが設けられている。そして、2つのコンパレータ303Bおよび305Rには、互いに異なる値を有する基準電圧306Bおよび306Rがそれぞれ供給される。このように、第1実施形態の検出部106における各画素201では、コンパレータ303、カウンタ304および行選択回路305が複数設けられ、各コンパレータ303に供給される基準電圧306が互いに異なる値に設定される。これにより、各画素201は、光の強度に関する複数のレベルの各々について、光の検出回数をカウントすることができる。
ここで、図3に示す構成では、コンパレータ303、カウンタ304および行選択回路305が2つずつ設けられているが、それに限られるものではなく、3つ以上ずつ設けられてもよい。例えば、処理部103によって生成された画像を表示するためのディスプレイの1つの画素が、R(赤)、G(緑)、B(青)の3つのサブピクセルを含む場合を想定する。この場合、検出部106の各画素201は、コンパレータ303、カウンタ304および行選択回路305を3つずつ含むように構成されるとよい。
図4は、照射期間と読み出し期間とを示す図である。図4において、照射期間は、照射部101により被検体に放射線を照射して、検出部106に光の検出回数をカウントさせる期間であり、読み出し期間は、検出部106に検出回数のデータを出力させる期間である。図4に示すように、検出部106は、光の検出回数をカウントさせることと、検出回数のデータを出力させることとを交互に行う。
次に、図3に示すように構成された画素201における照射期間での動作について図5を参照しながら説明する。図5は、照射期間における各画素201の動作を示す図である。図5における波形は、横軸を時刻とした微分回路302の出力、コンパレータ303の出力、およびカウンタ304の出力をそれぞれ表している。微分回路302から出力されたパルス信号の電圧値が基準電圧306R以上である場合、コンパレータ303Rからデジタル値「1」が出力される。そして、カウンタ304Rは、コンパレータ303Rから出力されたデジタル値「1」をカウントし、カウント値を検出回数として出力する。一方で、微分回路302から出力されたパルス信号の電圧値が基準電圧306B以上である場合、コンパレータ303Bからデジタル値「1」が出力される。そして、カウンタ304Bは、コンパレータ303Bから出力されたデジタル値「1」をカウントし、カウント値を検出回数として出力する。このように、微分回路302から出力されたパルス信号の数を、複数の基準電圧306の各々についてカウントする。これにより、各画素201は、光の強度に関する複数のレベルの各々について、放射線の入射によりシンチレータ105で生じた光の検出回数をカウントすることができる。
次に、図3に示すように構成された画素201における読み出し期間での動作について図6を参照しながら説明する。図6は、読み出し期間における各画素201の動作を示す図である。図6における波形は、横軸を時刻とした垂直選択線205への信号の供給、水平選択線207への信号の供給、および水平選択回路208からの検出回数のデータの出力をそれぞれ表している。図6に示すように、複数の垂直選択線205および複数の水平選択線207には、順番に信号が供給される。例えば、垂直選択線205−0Rに信号の供給を開始すると、垂直選択線205−0Rに接続された画素201のカウンタ304Rから検出回数のデータが水平選択回路208に供給される。そして、垂直選択線205−0Rに信号を供給している期間において、複数の水平選択線207に順番に信号を供給し、複数の水平選択回路208から出力データ線206に検出回数のデータを順番に出力させる。
また、垂直選択線205−0Rへの信号の供給を終了し、垂直選択線205−0Bに信号の供給を開始すると、垂直選択線205−0Bに接続された画素201のカウンタ304Bから検出回数のデータが水平選択回路208に供給される。そして、垂直選択線205−0Bに信号を供給している期間において、複数の水平選択線207に順番に信号を供給し、複数の水平選択回路208から出力データ線206に検出回数のデータを順番に出力させる。これにより、1つの行における複数の画素201から、各レベルについての検出回数のデータを出力データ線206を介して処理部103に供給することができる。このように複数の垂直選択線205および複数の水平選択線207に順番に信号を供給することで、複数の画素201から、各レベルについての検出回数のデータを出力データ線206を介して処理部103に供給することができる。
このように構成された放射線撮像装置100では、図7(a)に示すように、放射線量子110の入射によりシンチレータ105で生じた光115がシンチレータ内で放射して各画素201の光検出器301に入射する。このとき、放射線量子110の入射により生じた光115が隣り合う画素201に影響しないようにすることが好ましい。そのため、検出部106における各画素201は、シンチレータ105で生じた光115が拡散して検出部106に入射する範囲より大きい寸法で構成されるとよい。そして、各画素201における光検出器301は、隣り合う画素の光検出器301によって検出すべき光が入射しないように、画素201の寸法より小さい寸法で構成されるとよい。また、シンチレータ105は、その厚さが厚くなるにつれて、放射線量子110の入射により生じた光115が拡散して検出部106に入射する範囲を拡大させる。そのため、シンチレータ105の厚さは、画素201の寸法に応じて決定されるとよく、例えば、複数の画素201のピッチより小さいことが好ましい。
しかしながら、上述のように放射線撮像装置100を構成した場合、各画素201では、シンチレータ105に入射した放射線のエネルギーに対応する強度とは異なる強度で光が光検出器301に入射することがある。例えば、各画素201では、放射線が入射したシンチレータ内の位置に応じて、発光した位置と光検出器301との間の距離が異なり、光検出器301で検出される光の強度が変わりうる。この場合、放射線のエネルギーを高精度に識別することが不十分になり、光の強度に関するレベルごとにカウントされる光の検出回数に誤差が生じうる。その結果、光の検出回数に基づいて生成される画像にも誤差が生じうる。
例えば、図7(b)および(c)に示すように、同じエネルギーの放射線量子110が、シンチレータ105の異なる位置に入射する場合を想定する。この場合、放射線量子110が入射したシンチレータ内の位置に応じて、放射線量子110の入射により発光する位置と光検出器301との間の距離が異なりうる。つまり、図7(b)における発光位置と光検出器301との間の距離Lbは、図7(c)における発光位置と光検出器301との間の距離Lcと異なる(長い)。その結果、図7(b)および(c)において光検出器301で検出される光の強度が互いに異なってしまい、同じエネルギーの放射線量子110であっても互いに異なるレベルで光の検出がカウントされることとなる。ここで、図7(b)および(c)におけるシンチレータ内の各領域に記載された数値は、その領域で生じた光が光検出器301に入射したしたときに光検出器301で検出される光の強度に関するレベルを示しており、破線はその境界を示している。
また、図8は、図7(b)においてシンチレータに入射した放射線量子110のエネルギーより低いエネルギーを有する放射線量子110がシンチレータ105に入射した状態を示す図である。図8では、放射線量子110の入射により発光する位置が、図7(b)に比べて光検出器301に近い。この場合、図8と図7(b)とにおいて、シンチレータ105に入射した放射線量子110のエネルギーが異なっているにも関わらず、光の強度の検出がカウントされるレベルが同じになることがある。
このように放射線が入射するシンチレータ105の位置によって光検出器301で検出される光の強度が異なると、シンチレータ105に入射する放射線のエネルギーに応じてカウントされる光の検出回数に誤差が生じうる。その結果、光の検出回数に基づいて生成される画像においても誤差が生じうる。そこで、第1実施形態の放射線撮像装置100は、放射線のエネルギーと検出部106において光が各レベルでカウントされる可能性との関係を示す情報に基づいて、検出部106(複数の画素201)から得られた光の検出回数を画素ごとに補正する。以下に、検出部106から得られた光の検出回数を補正する方法について説明する。以下の説明では、検出部106の各画素201が3つのレベルで光の強度の検出をカウントする場合について説明する。この場合、検出部106の各画素201には、コンパレータ303、カウンタ304および行選択回路305が3つずつ設けられることとなる。
まず、放射線のエネルギーと検出部106において光が各レベルでカウントされる可能性(確率)との関係を示す情報について説明する。当該情報は、図9に示すように、例えば、シンチレータ105に入射する放射線のエネルギーと、当該放射線の入射によりシンチレータ105で生じた光が各レベルの強度としてカウントされる可能性との関係を示すテーブルを含みうる。図9に示す情報(テーブル)では、光の強度に関する複数のレベルが3つのレベル(レベル1〜3)を含み、光が各レベルでカウントされる可能性が、シンチレータ105に入射する放射線のエネルギーごとに示されている。また、図9では、光の強度がレベル3で検出されるべき放射線のエネルギーを「高」、光の強度がレベル2で検出されるべき放射線のエネルギーを「中」、および光の強度がレベル1で検出されるべき放射線のエネルギーを「低」と表している。
「高」エネルギーを有する放射線がシンチレータ105に入射した場合、光検出器301で検出された光の強度をカウントするレベルは、レベル3になるべきである。しかしながら、上述したように、放射線が入射するシンチレータ内の位置に応じて、光の強度をカウントするレベルが、レベル1または2になることがある。したがって、図9に示す情報では、「高」エネルギーを有する放射線のシンチレータ105への入射によって生じた光の強度をカウントする可能性(確率)がAH1〜AH3で表されている。また、「中」エネルギーを有する放射線がシンチレータ105に入射した場合、光検出器301で検出された光の強度をカウントするレベルは、レベル2になるはずである。同様に、「低」エネルギーを有する放射線がシンチレータ105に入射した場合、光検出器301で検出された光の強度をカウントするレベルは、レベル1になるはずである。しかしながら、放射線が入射するシンチレータ内の位置に応じて、光の強度をカウントするレベルが他のレベルになることがある。図9に示す情報では、「中」エネルギーを有する放射線のシンチレータ105への入射によって生じた光の強度をカウントする可能性がAM1〜AM3で表される。そして、「低」エネルギーを有する放射線のシンチレータ105への入射によって生じた光の強度をカウントする可能性がAL1〜AL3で表される。
次に、画素ごとに得られた光の検出回数を補正する方法の一例について説明する。例えば、ある画素から得られた複数のレベル(レベル1〜3)の各々についての光の検出回数がN1、N2、N3であるとする。この場合、処理部103の補正部130は、図9に示す情報に基づいて、検出回数N1〜N3を補正し、補正後の検出回数XN1、XN2、XN3を得る。具体的には、図10に示すように、検出回数N1〜N3に、図9に示すテーブルの各可能性の行列を掛け合わせることにより、補正後の検出回数XN1〜XN3を得ることができる。この処理は画素ごとに行われ、画素ごとに得られた補正後の検出回数XN1〜XN3に基づいて画像が処理部103によって生成される。このような処理により、各レベルでカウントされた光の検出回数を補正し、光の検出回数に基づいて生成される画像に生じる誤差を低減することができる。
ここで、放射線のエネルギーと検出部106において光が各レベルでカウントされる可能性との関係を示す情報を取得する方法について説明する。例えば、処理部103は、一定のエネルギーで放射線を被検体を介さずにシンチレータ105に入射させ、検出部106に各レベルでの検出回数をカウントさせる。そして、各レベルにおける検出回数の総和に対する、各レベルについての検出回数の比率を求める。この比率が、検出部106において光が各レベルでカウントされる可能性として用いられうる。このような工程を、複数のレベルで検出されるべき複数の放射線のエネルギーの各々(「高」、「中」、「低」)について行うことにより、図9に示す情報を取得することができる。また、シンチレータ105に入射させる放射線のエネルギーの調整は、例えば、照射部101における管電圧、管電流、照射時間、付加フィルタの材質および厚さによって行われうる。さらに、光が各レベルでカウントされる可能性は、シンチレータ105の減弱係数や厚さ、シンチレータ105の光透過率などの条件によって変わりうる。そのため、処理部103は、当該情報を複数有しておき、シンチレータ105の構成に応じて最適な情報を選択してもよい。
上述したように、第1実施形態の放射線撮像装置100は、検出部106によって得られた各レベルの検出回数を、放射線のエネルギーと検出部106において光が各レベルでカウントされる可能性との関係を示す情報に基づいて画素ごとに補正する。これにより、光の検出回数に基づいて生成される画像に生じる誤差を低減することができる。
<第2実施形態>
本発明に係る第2実施形態の放射線撮像装置(放射線撮像システム)について説明する。第2実施形態の放射線撮像装置は、第1実施形態の放射線撮像装置100と同様の構成を有する。但し、検出部106の各画素は、放射線を検出する回路のみで構成されている。以下に、第2実施形態の検出部106における画素の構成について説明する。
本発明に係る第2実施形態の放射線撮像装置(放射線撮像システム)について説明する。第2実施形態の放射線撮像装置は、第1実施形態の放射線撮像装置100と同様の構成を有する。但し、検出部106の各画素は、放射線を検出する回路のみで構成されている。以下に、第2実施形態の検出部106における画素の構成について説明する。
図11は、第2実施形態の検出部106における画素の等価回路を示す図である。第2実施形態の検出部106における画素40は、光電変換素子401と、出力回路部402とを含みうる。光電変換素子401は、典型的にはフォトダイオードでありうる。出力回路部402は、増幅回路部404、クランプ回路部405、サンプルホールド回路部407、および選択回路部408を含みうる。
光電変換素子401は、電荷蓄積部を含み、該電荷蓄積部は、増幅回路部404のMOSトランジスタ404aのゲートに接続されている。MOSトランジスタ404aのソースは、MOSトランジスタ404bを介して電流源404cに接続されている。MOSトランジスタ404aと電流源404cとによってソースフォロア回路が構成されている。MOSトランジスタ404bは、そのゲートに供給されるイネーブル信号ENがアクティブレベルになるとオンしてソースフォロア回路を動作状態にするイネーブルスイッチである。
図11に示す例では、光電変換素子401の電荷蓄積部およびMOSトランジスタ404aのゲートが共通のノードを構成していて、このノードは、該電荷蓄積部に蓄積された電荷を電圧に変換する電荷電圧変換部として機能する。即ち、電荷電圧変換部には、該電荷蓄積部に蓄積された電荷Qと電荷電圧変換部が有する容量値Cとによって定まる電圧V(=Q/C)が現れる。電荷電圧変換部は、リセットスイッチ403を介してリセット電位Vresに接続されている。リセット信号PRESがアクティブレベルになると、リセットスイッチ403がオンして、電荷電圧変換部の電位がリセット電位Vresにリセットされる。
クランプ回路部406は、リセットした電荷電圧変換部の電位に応じて増幅回路部404によって出力されるノイズをクランプ容量406aによってクランプする。つまり、クランプ回路部406は、光電変換素子401で光電変換により発生した電荷に応じてソースフォロア回路から出力された信号から、このノイズをキャンセルするための回路である。このノイズはリセット時のkTCノイズを含みうる。クランプは、クランプ信号PCLをアクティブレベルにしてMOSトランジスタ406bをオン状態にした後に、クランプ信号PCLを非アクティブレベルにしてMOSトランジスタ406bをオフ状態にすることによってなされる。クランプ容量406aの出力側は、MOSトランジスタ406cのゲートに接続されている。MOSトランジスタ406cのソースは、MOSトランジスタ406dを介して電流源406eに接続されている。MOSトランジスタ406cと電流源406eとによってソースフォロア回路が構成されている。MOSトランジスタ406dは、そのゲートに供給されるイネーブル信号EN0がアクティブレベルになるとオンしてソースフォロア回路を動作状態にするイネーブルスイッチである。
光電変換素子401で光電変換により発生した電荷に応じてクランプ回路部406から出力される信号は、光信号として、光信号サンプリング信号TSがアクティブレベルになることによってスイッチ407Saを介して容量407Sbに書き込まれる。電荷電圧変換部の電位をリセットした直後にMOSトランジスタ406bをオン状態とした際にクランプ回路部406から出力される信号は、クランプ電圧である。このノイズ信号は、ノイズサンプリング信号TNがアクティブレベルになることによってスイッチ407Naを介して容量407Nbに書き込まれる。このノイズ信号には、クランプ回路部406のオフセット成分が含まれる。スイッチ407Saと容量407Sbによって信号サンプルホールド回路407Sが構成され、スイッチ407Naと容量407Nbによってノイズサンプルホールド回路407Nが構成される。サンプルホールド回路部407は、信号サンプルホールド回路407Sとノイズサンプルホールド回路407Nとを含む。
駆動回路部41が行選択信号VSTをアクティブレベルに駆動すると、容量407Sbに保持された信号(光信号)がMOSトランジスタ408Saおよび行選択スイッチ408Sbを介して信号線45Sに出力される。また、同時に、容量407Nbに保持された信号(ノイズ)がMOSトランジスタ408Naおよび行選択スイッチ408Nbを介して信号線45Nに出力される。MOSトランジスタ408Saは、信号線45Sに設けられた不図示の定電流源とソースフォロア回路を構成する。同様に、MOSトランジスタ408Naは、信号線45Nに設けられた不図示の定電流源とソースフォロア回路を構成する。MOSトランジスタ408Saと行選択スイッチ408Sbとによって信号用選択回路部408Sが構成され、MOSトランジスタ408Naと行選択スイッチ408Nbによってノイズ用選択回路部408Nが構成される。選択回路部408は、信号用選択回路部408Sとノイズ用選択回路部408Nとを含む。
画素40は、隣接する複数の画素40の光信号を加算する加算スイッチ409Sを有してもよい。加算モード時には、加算モード信号ADDがアクティブレベルになり、加算スイッチ409Sがオン状態になる。これにより、隣接する画素の容量407Sbが加算スイッチ409Sによって相互に接続されて、光信号が平均化される。同様に、画素40は、隣接する複数の画素40のノイズを加算する加算スイッチ409Nを有していてもよい。加算スイッチ409Nがオン状態になると、隣接する画素の容量407Nbが加算スイッチ409Nによって相互に接続されて、ノイズが平均化される。加算部409は、加算スイッチ409Sと加算スイッチ409Nとを含む。
画素40は、感度を変更するための感度変更部405を有していてもよい。画素40は、例えば、第1感度変換スイッチ405aおよび第2感度変換スイッチ405a’、並びにそれらに付随する回路素子を含みうる。第1変更信号WIDEがアクティブレベルになると、第1感度変更スイッチ405aがオンして、電荷電圧変換部の容量値に第1付加容量405bの容量値が追加される。これによって画素40の感度が低下する。第2変更信号WIDE2がアクティブレベルになると、第2感度変更スイッチ405a’がオンして、電荷電圧変換部の容量値に第2付加容量405b’の容量値が追加される。これによって画素40の感度が更に低下する。このように画素40の感度を低下させる機能を追加することによって、より大きな光量を受光することが可能となり、ダイナミックレンジを広げることができる。第1変更信号WIDEがアクティブレベルになる場合には、イネーブル信号ENwをアクティブレベルにして、MOSトランジスタ404aに代えてMOSトランジスタ404a’をソースフォロア動作させてもよい。
以上のような画素回路の出力は、不図示のAD変換器でデジタル値に変換された後、処理部103に供給される。そして、処理部103において、微分回路302、コンパレータ303およびカウンタ304に相当する処理が、処理部103においてソフトウェア上で行われる。また、処理部103には、第1実施形態で説明した補正部130が設けられる。
まず、処理部103は、微分回路302に相当する処理として、画素回路の出力の微分値を計算する。次に、処理部103は、コンパレータ303に相当する処理として、算出した微分値と基準電圧306に相当するデジタル値とを比較する。処理部103は、当該微分値が基準電圧306に相当するデジタル値以上である場合はデジタル値「1」とし、当該微分値が基準電圧306に相当するデジタル値より小さい場合はデジタル値「0」とする。そして、処理部103は、カウンタ304に相当する処理として、求めたデジタル値「1」をカウントする。これにより、処理部103は、各レベルについての光の検出回数を得ることができる。
次に、処理部103(補正部130)は、放射線のエネルギーと各レベルで光がカウントされる可能性との関係を示す情報(図9参照)に基づいて、各レベルについての光の検出回数を補正する。そして、処理部103は、補正後の検出回数に基づいて画像を生成する。これらの処理は、例えば、処理部103のCPUにおいて実行されうる。また、検出回数を記憶する記憶領域は、処理部103のメモリに確保される。基準電圧306に相当するデジタル値や、コンパレータ303に相当する処理を行う機能は、光の強度に関するレベルに応じて複数あってもよい。
<第3実施形態>
本発明における微分回路302、コンパレータ303およびカウンタ304の機能は、第1実施形態のように検出部の各画素に配置する形態、もしくは第2実施形態のようにソフトウェア上で全てを行う形態に限定されるものではない。例えば、微分回路302およびコンパレータ303を検出部106の各画素に配置し、カウンタ304に相当する処理をソフトウェア上で行う形態にしてもよい。また、補正部130による処理も、ソフトウェアではなく、検出部106の外部に設けられた回路で行う形態にしてもよい。この場合、例えば、当該回路はFPGAで構成されるとよい。さらに、検出部106の中に記憶領域を設けて図9に示す情報を記憶させるとともに、検出回数を当該情報に基づいて補正するための回路を設けて、補正後の検出回数を当該回路から処理部103に供給する形態としてもよい。
本発明における微分回路302、コンパレータ303およびカウンタ304の機能は、第1実施形態のように検出部の各画素に配置する形態、もしくは第2実施形態のようにソフトウェア上で全てを行う形態に限定されるものではない。例えば、微分回路302およびコンパレータ303を検出部106の各画素に配置し、カウンタ304に相当する処理をソフトウェア上で行う形態にしてもよい。また、補正部130による処理も、ソフトウェアではなく、検出部106の外部に設けられた回路で行う形態にしてもよい。この場合、例えば、当該回路はFPGAで構成されるとよい。さらに、検出部106の中に記憶領域を設けて図9に示す情報を記憶させるとともに、検出回数を当該情報に基づいて補正するための回路を設けて、補正後の検出回数を当該回路から処理部103に供給する形態としてもよい。
<その他の実施形態>
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
100:放射線撮像装置、101:照射部、102:制御部、103:処理部、104:撮像部、105:シンチレータ、106:検出部
Claims (10)
- 放射線を光に変換するシンチレータと、
前記シンチレータで変換された光の強度をそれぞれ検出する複数の画素を有し、光の強度に関する複数のレベルの各々について光の検出回数を画素ごとにカウントする検出部と、
前記検出部によって画素ごとに得られた各レベルの検出回数に基づいて、画像を生成する処理を行う処理部と、
を含み、
前記処理部は、放射線のエネルギーと前記検出部において光が各レベルでカウントされる可能性との関係を示す情報を用いて、前記検出部によって得られた各レベルの検出回数を画素ごとに補正し、補正した検出回数に基づいて画像を生成する、ことを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記処理部は、一定のエネルギーで放射線を前記シンチレータに入射させ、前記検出部に各レベルの検出回数をカウントさせる工程を、前記複数のレベルで検出されるべき複数の放射線のエネルギーの各々について行うことにより前記情報を取得する、ことを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記検出部における1つの画素の寸法は、前記シンチレータで生じた光が拡散して前記検出部に入射する範囲より大きい、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の放射線撮像装置。
- 前記複数の画素の各々は、光検出器を含み、
前記複数の画素の各々に含まれる光検出器は、隣り合う画素の光検出器によって検出すべき光が入射しないように、前記画素の寸法より小さい寸法で構成されている、ことを特徴とする請求項3に記載の放射線撮像装置。 - 前記複数の画素の各々は、前記光検出器からの出力値を複数の基準値の各々と比較し、前記複数の基準値の各々について基準値以上の前記出力値が得られた回数を、前記複数のレベルの各々についての光の検出回数としてカウントする、ことを特徴とする請求項4に記載の放射線撮像装置。
- 前記複数の画素の各々は、前記出力値を前記複数の基準値とそれぞれ比較する複数のコンパレータと、前記複数のコンパレータによる比較結果に基づいて基準値以上の前記出力値が得られた回数をそれぞれカウントする複数のカウンタとを含む、ことを特徴とする請求項5に記載の放射線撮像装置。
- 前記シンチレータの厚さは前記複数の画素のピッチより小さい、ことを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 放射線を被検体に照射する照射部を更に含み、
前記処理部は、前記被検体を透過した放射線の入射により前記シンチレータで生じた光の強度を前記検出部が検出することによって得られた各レベルの検出回数に基づいて、前記画像を生成する、ことを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の放射線撮像装置。 - 放射線を光に変換するシンチレータと、前記シンチレータで変換された光の強度をそれぞれ検出する複数の画素を有する検出部とを含む放射線撮像装置の制御方法であって、
光の強度に関する複数のレベルの各々について、前記検出部で検出された光の検出回数を画素ごとにカウントする検出工程と、
放射線のエネルギーと前記検出工程において光が各レベルでカウントされる可能性との関係を示す情報を用いて、前記検出工程において得られた各レベルの検出回数を画素ごとに補正し、補正した検出回数に基づいて画像を生成する生成工程と、
を含むことを特徴とする放射線撮像装置の制御方法。 - 請求項9に記載の放射線撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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