JP2016211902A - 検出装置及び検出方法 - Google Patents

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健之 中森
Takeshi Nakamori
健之 中森
圭貴 小島
Keiki Kojima
圭貴 小島
佐藤 浩樹
Hiroki Sato
浩樹 佐藤
繁記 伊藤
Shigeki Ito
繁記 伊藤
将生 吉野
Masao Yoshino
将生 吉野
翔 加藤
Sho Kato
翔 加藤
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Abstract

【課題】放射線がいずれの方向から照射されたかを高い精度で判断する。
【解決手段】複数のシンチレータ120は、遮蔽体110に取り付けられている。複数のシンチレータ120は、互いに異なる方向を向いている。複数の検出部130は、互いに異なるシンチレータ120の発光を検出する。判断部200は、複数のシンチレータ120に照射された放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する。判断部200は、基準データを記憶部400から読み出す。基準データは、複数のシンチレータ120に照射された放射線の方向と、放射線が照射された場合の複数のシンチレータ120の検出数比との関係を示す。判断部200は、基準データに含まれる検出数比と、複数の検出部130が検出した検出数比とを用いて、放射線の方向を判断する。
【選択図】図1

Description

本発明は、検出装置及び検出方法に関する。
近年、放射線を検出する検出装置が開発されている。そしてこのような検出装置では、放射線がいずれの方向から照射されたかを判断することがある。例えば、特許文献1では、放射線が透過可能な材料(例えば、樹脂又はガラス)により形成された円板状のフィルタ部材を用いて、放射線の検出素子が形成されている。具体的には、フィルタ部材の裏面に3つのシンチレータが埋め込まれている。これら3つのシンチレータは、円周方向において等間隔に配置されている。この検出素子では、フィルタ部材の側面から放射線が照射された場合、3つのシンチレータの検出数が異なるものになる。これにより、3つのシンチレータの検出数比に基づいて、放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する。
特開2013−210211号公報
放射線の検出装置では、放射線がいずれの方向から照射されたかを判断することが必要になる場合がある。この場合、放射線がいずれの方向から照射されたかを高い精度で判断することが重要となる。
本発明の目的は、放射線がいずれの方向から照射されたかを高い精度で判断することにある。
本発明によれば、
遮蔽体と、
前記遮蔽体に取り付けられており、互いに異なる方向を向いている複数のシンチレータと、
互いに異なる前記シンチレータの発光を検出する複数の検出部と、
前記複数のシンチレータに照射された放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する判断部と、
を備え、
前記判断部は、
前記複数のシンチレータに照射された放射線の方向と、前記放射線が照射された場合の前記複数のシンチレータの検出数比との関係を示す基準データを記憶部から読み出し、
前記基準データに含まれる検出数比と、前記複数の検出部が検出した検出数比とを用いて、前記放射線の前記方向を判断する検出装置が提供される。
本発明によれば、
遮蔽体と、
前記遮蔽体に取り付けられており、互いに異なる方向を向いている複数のシンチレータと、
互いに異なる前記シンチレータの発光を検出する複数の検出部と、
を備える検出素子を準備し、
前記複数のシンチレータに照射された放射線の方向と、前記放射線が照射された場合の前記複数のシンチレータの検出数比との関係を示す基準データを記憶部から読み出し、
前記基準データに含まれる検出数比と、前記複数の検出部が検出した検出数比とを用いて、前記複数のシンチレータに照射された放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する、検出方法が提供される。
本発明によれば、放射線がいずれの方向から照射されたかを高い精度で判断することができる。
第1の実施形態に係る検出装置の構成を示す図である。 図1に示した検出素子の変形例を示す図である。 複数のシンチレータに照射される放射線の方向を説明するための図である。 第1の実施形態に係る基準データの一例を示す図である。 第1の実施形態に係る検出データの一例を示す図である。 図1に示した表示部の一例を示す図である。 図1の変形例を示す図である。 第2の実施形態に係る検出装置に用いられる基準データの一例を示す図である。 第2の実施形態に係る検出データの一例を示す図である。 第3の実施形態に係る検出装置に用いられる基準データの一例を示す図である。 実施例に係る検出素子をシミュレートすることにより生成した基準データを示す図である。 実施例に係る検出素子をシミュレートすることにより生成した検出データを示す図である。 図11に示した基準データの各検出数比と、図12に示した検出データの検出数比とのχRed を示す図である。 図11〜図13に示したシミュレーションにおいて線量率約0.1μSv/hの放射線を60秒間照射した場合に算出された方位角の分布を示すヒストグラムを示す図である。 図11〜図13に示したシミュレーションにおいて線量率約0.1μSv/hの放射線を6秒間照射した場合に算出された方位角の分布を示すヒストグラムを示す図である。 実施例に係る検出素子を用いて放射線を測定することにより生成した検出データを示す図である。 図16に示した基準データを用いて、放射線がいずれの方位角から照射されたかを測定した結果を示す図である。 図16及び図17に示した方法を用いて算出された方位角のヒストグラムを示す図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
なお、以下に示す説明において、判断部200及び記憶部400は、ハードウエア単位の構成ではなく、機能単位のブロックを示している。判断部200及び記憶部400は、任意のコンピュータのCPU、メモリ、メモリにロードされた本図の構成要素を実現するプログラム、そのプログラムを格納するハードディスクなどの記憶メディア、ネットワーク接続用インタフェースを中心にハードウエアとソフトウエアの任意の組合せによって実現される。そして、その実現方法、装置には様々な変形例がある。
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る検出装置10の構成を示す図である。検出装置10は、遮蔽体110、複数のシンチレータ120、複数の検出部130、及び判断部200を備える。複数のシンチレータ120は、遮蔽体110に取り付けられている。複数のシンチレータ120は、互いに異なる方向を向いている。複数の検出部130は、互いに異なるシンチレータ120の発光を検出する。判断部200は、複数のシンチレータ120に照射された放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する。判断部200は、基準データを記憶部400から読み出す。図4を用いて詳細を後述するように、基準データは、複数のシンチレータ120に照射された放射線の方向と、放射線が照射された場合の複数のシンチレータ120の検出数比との関係を示す。判断部200は、基準データに含まれる検出数比と、複数の検出部130が検出した検出数比とを用いて、放射線の方向を判断する。以下、詳細に説明する。
本図に示す例において、検出装置10は、検出素子100を備える。検出素子100は、遮蔽体110を用いて形成されている。遮蔽体110は、放射線(例えば、γ線)を遮蔽可能な材料により形成されており、具体的には、例えば、鉛又はタングステンにより形成されている。本図に示す例において、遮蔽体110の形状は、立方体である。
遮蔽体110(立方体)の6面それぞれには、板状のシンチレータ120が取り付けられている。シンチレータ120は、例えば、セリウム添加ガドリニウムアルミニウムガリウムガーネット(Ce:GdAlGa12(Ce:GAGG))により形成されている。本図に示す例において、シンチレータ120の平面形状は矩形、より具体的には正方形である。そしてシンチレータ120の中心と遮蔽体110の上記した面の中心が重なっている。
複数のシンチレータ120それぞれには、検出部130が設けられている。シンチレータ120に放射線が入射すると、シンチレータ120は光を発する。検出部130は、シンチレータ120からの光を電気信号に変換する。これにより、シンチレータ120に照射された放射線を検出することができる。本図に示す例において、検出部130は、基板、具体的にはシリコン基板を用いて形成されている。より詳細には、検出部130は、この基板を用いて形成された複数のアバランシェフォトダイオード(APD)を有する。そしてこれらの複数のAPDそれぞれは、m行n列の複数の格子点のいずれかに配置されている。検出部130は、具体的にはシリコンフォトマルチプライヤ(Si−PM)であり、より具体的にはMPPC(登録商標)(Multi−Pixel Photon Counter)である。
複数の検出部130それぞれの検出結果を示す信号は、判断部200に送信される。詳細を後述するように、判断部200は、これらの信号に基づいて、放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する。判断部200の判断結果を示す信号は、表示部300(例えば、液晶ディスプレイ)に送信される。表示部300は、判断部200の判断結果を検出装置10のユーザに表示する。これにより、検出装置10のユーザは、放射線がいずれの方向から照射されたかを知ることができる。
本図に示す例において、検出装置10は、記憶部400を備える。記憶部400は、例えばマイクロプロセッサである。図4を用いて後述するように、記憶部400は、基準データを記憶している。記憶部400の基準データは、判断部200に読み出される。これにより、後述するように、判断部200は、この基準データを用いて、放射線の方向を判断することができる。
図2は、図1に示した検出素子100の変形例を示す図である。本図(a)は、検出素子100の構成を示す斜視図である。本図(b)は、検出素子100の構成を示す断面図である。なお、本図(a)では、説明のため、検出部130を透過で示している。本図に示す例では、シンチレータ120は、遮蔽体110の表面に凹部にはめ込まれている。そしてシンチレータ120は、表面の一部が遮蔽体110の表面から露出している。これにより、検出部130は、遮蔽体110のこの一部から光を検出することができる。
図3は、複数のシンチレータ120に照射される放射線の方向を説明するための図である。なお、本図では、説明のため、検出部130(図1)を図示していない。本図に示す例において、放射線の入射方向は、XY平面において単位ベクトル(0,+1,0)方向を基準とした方位角φと、XY平面を基準とした仰角θとによって特定される。本図に示す例において、方位角φの正の向きは、単位ベクトル(0,+1,0)方向から単位ベクトル(−1,0,0)方向に向かう向きである。一方、仰角θの正の向きは、XY平面から単位ベクトル(0,0,+1)方向に向かう向きである。本図に示す例において、シンチレータ121は単位ベクトル(+1,0,0)方向を向いたシンチレータ120を示し、シンチレータ122は単位ベクトル(0,+1,0)方向を向いたシンチレータ120を示し、シンチレータ123は単位ベクトル(−1,0,0)方向を向いたシンチレータ120を示し、シンチレータ124は単位ベクトル(0,−1,0)方向を向いたシンチレータ120を示し、シンチレータ125は単位ベクトル(0,0,+1)方向を向いたシンチレータ120を示し、シンチレータ126は単位ベクトル(0,0,−1)方向を向いたシンチレータ120を示す。
本図に示す例では、シンチレータ126が重力方向において下を向くように検出素子100を用いる。そして詳細を後述するように、判断部200(図1)は、重力方向(第1方向)に対して平行な複数の第1面それぞれに設けられたシンチレータ120(シンチレータ121〜シンチレータ124)を用いることにより、放射線がいずれの方位角から照射されたかを判断する。さらに、判断部200(図1)は、重力方向(第1方向)に直交する2つの面(第2面)それぞれに設けられたシンチレータ120(シンチレータ125及びシンチレータ126)を用いることにより、シンチレータ125及びシンチレータ126のいずれの側から放射線が照射されたかを判断する。
図4は、本実施形態に係る基準データの一例を示す図である。本図に示す例において、基準データは、テーブル形式である。そして基準データは、放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す方位角φ(図3)と、この放射線が照射された場合のシンチレータ121〜シンチレータ124(図3)の検出数比(規格化検出数p〜pの比)との関係を示している。規格化検出数p、p、p、及びpは、それぞれ、シンチレータ121の規格化検出数、シンチレータ122の規格化検出数、シンチレータ123の規格化検出数、及びシンチレータ124の規格化検出数を示す。規格化検出数p〜pは、p〜pの和が1となる(p+p+p+p=1)ように規格化されている。本図に示す例において、方位角φは、0°と315°の間で45°間隔に配置された複数の角度(0°、45°、・・・、及び315°)のいずれかとなる。
規格化検出数p〜pは、方向が既知の放射線を検出素子100により測定することで、予め決定されている。他の例として、規格化検出数p〜pは、検出素子100のシミュレーション結果に基づいて、予め決定してもよい。
図5は、本実施形態に係る検出データの一例を示す図である。検出データは、検出数N〜Nを示す。検出数N、N、N、及びNは、それぞれ、シンチレータ121の検出数の検出結果、シンチレータ122の検出数の検出結果、シンチレータ123の検出数の検出結果、及びシンチレータ124の検出数の検出結果を示す。これらの検出数は、検出部130(図1)を用いて検出される。なお、本図に示す例において、Nは、N〜Nの和(N=N+N+N+N)を示す。
次に、図1及び図3〜図5を用いて、判断部200が放射線の方向を判断する方法を説明する。まず、判断部200は、記憶部400から基準データ(図4)を読み出す。さらに、判断部200は、検出部130の検出結果に基づいて、検出データ(図5)を生成する。
次いで、判断部200は、基準データの各検出数比(p〜pの比)と、検出データの検出数比(N〜Nの比)との類似度を算出する。例えば、判断部200は、下記の式(1)に示すreducedカイ二乗検定を用いて、基準データの各検出数比(p〜pの比)と、検出データの検出数比(N〜Nの比)とのχRed を算出する。この場合、χRed が1に近いほど、基準データの検出数比(p〜pの比)と検出データの検出数比(N〜Nの比)との類似度が高いと推定することができる。これにより、判断部200は、χRed が1に最も近くなる検出数比(p〜pの比)の方位角φから放射線が照射されたと判断することができる。
Figure 2016211902
なお、N=N+N+・・・+Nであり、p+p+・・・+p=1であり、ν=n−1(nは自由度を示す。)である。図3及び図4に示す例では、S=4である。
さらに、判断部200は、シンチレータ125の検出数の検出結果及びシンチレータ126の検出数の検出結果を用いることにより、放射線がシンチレータ125及びシンチレータ126のいずれの側から照射されたかを判断することができる。例えば、シンチレータ125の検出数がシンチレータ126の検出数よりも大きい場合は、判断部200は、放射線がシンチレータ125の側から照射されたと判断することができる。これに対して、シンチレータ126の検出数がシンチレータ125の検出数よりも大きい場合は、判断部200は、放射線がシンチレータ126の側から照射されたと判断することができる。
なお、図4に示した例では、仰角θ(図3)が考慮されていない。一方、図8を用いて詳細を後述するように、仰角θを考慮すると基準データの容量が大きいものとなる。このため、仰角θを決定する必要がない場合において基準データの容量を小さいものにする必要があるときは、図4に示した例に係る基準データを用いることができる。
図6は、図1に示した表示部300の一例を示す図である。表示部300は、画像310、画像320、及び画像330を表示する。
画像310は、中心角が45°の扇形を8つ円周方向に並べた形状の画像である。より具体的には、画像310の周囲には、「前」、「左」、「後」、及び「右」の表示がこの順で円周方向において反時計回りに90°間隔に配置されている。そして「前」の表示と「後」の表示の間において、2つの扇形が互いに逆側を向いて配置されている。さらに、「左」の表示と「右」の表示の間において、2つの扇形が互いに逆側を向いて配置されている。さらに、「前」の表示と「左」の表示の間、「左」の表示と「後」の表示の間、「後」の表示と「右」の表示の間、及び「右」の表示と「前」の表示の間それぞれに扇形が配置されている。
画像310の各扇形は、放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す。具体的には、本図に示す例において、「前」はシンチレータ122(図3)が向く方向(−22.5°≦φ≦+22.5°)を示し、「左」はシンチレータ123(図3)が向く方向(+67.5≦φ≦+112.5°)を示し、「後」はシンチレータ124(図3)が向く方向(+157.5°≦φ≦+202.5°)を示し、「右」はシンチレータ121(図3)が向く方向(+247.5°≦φ≦+292.5°)を示す。本図に示すように、表示部300は、判断部200(図1)の判断結果に基づいて、画像310に含まれる8つの扇形のいずれかを点灯させる。これにより、ユーザは、放射線がいずれの方位角から照射されたかを知ることができる。なお、本図に示す例では、表示部300は、「前」から放射線が照射されたことを示している。
画像320は、互いに逆側を向いた2つの矢印の形状の画像である。一方の矢印の近傍には「上」の表示が設けられており、他方の矢印の近傍には「下」の表示が設けられている。本図に示す例において、「上」はシンチレータ125(図3)の側を示し、「下」はシンチレータ126(図3)の側を示す。本図に示すように、表示部300は、判断部200(図1)の判断結果に基づいて、画像320に含まれる2つの矢印のいずれかを点灯させる。これにより、ユーザは、放射線が上側及び下側のいずれから照射されたかを知ることができる。なお、本図に示す例では、表示部300は、放射線が下側から照射されたことを示している。
画像330は、放射線の線量を示す画像である。本図に示すように、画像330は、検出素子100(図1)が検出した放射線の線量率の数値を示す。これにより、ユーザは、検出素子100(図1)が検出した放射線の線量率を知ることができる。なお、放射線の線量率は、例えば、検出部130(図1)の検出結果に基づいて、決定することができる。
図7は、図1の変形例を示す図である。本図に示す例において、記憶部400は、検出装置10の外部に設けられている。記憶部400は、例えばパーソナルコンピュータであり、より具体的には例えばデスクトップコンピュータ又はラップトップコンピュータである。基準データの容量が大きい場合、携帯型の検出装置10に実装可能な記憶部には基準データを記憶させることができないことがある。この場合、本図に示すように、記憶部400を検出装置10の外部に設けると、検出装置10を小型化することができる。
以上、本実施形態によれば、記憶部400は、基準データを記憶している。基準データは、複数のシンチレータ120に照射された放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す方位角φと、この放射線が照射された場合の複数のシンチレータ120の検出数比(p〜pの比)との関係を示す。判断部200は、基準データに含まれる検出数比(p〜pの比)と、複数の検出部130が検出した検出数比(N〜Nの比)との類似度を算出する。これにより、判断部200は、放射線がいずれの方位角から照射されたかを判断することができる。
(第2の実施形態)
図8は、第2の実施形態に係る検出装置10に用いられる基準データの一例を示す図であり、第1の実施形態の図4に対応する。図9は、本実施形態に係る検出データの一例を示す図であり、第1の実施形態の図5に対応する。本実施形態に係る検出装置10は、以下の点を除いて、第1の実施形態に係る検出装置10と同様の構成である。
図8に示す例において、基準データは、テーブル形式である。そして基準データは、放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す方位角φ(図3)と、この放射線がいずれの仰角から照射されたかを示す仰角θ(図3)と、この放射線が照射された場合のシンチレータ121〜シンチレータ126(図3)の検出数比(規格化検出数p〜pの比)との関係を示している。規格化検出数p、p、p、p、p、p、及びpは、それぞれ、シンチレータ121の規格化検出数、シンチレータ122の規格化検出数、シンチレータ123の規格化検出数、シンチレータ124の規格化検出数、シンチレータ125の規格化検出数、及びシンチレータ126の規格化検出数を示す。規格化検出数p〜pは、p〜pの和が1となる(p+p+p+p+p+p=1)ように規格化されている。本図に示す例において、方位角φは、0°と315°の間で45°間隔に配置された複数の角度(0°、5°、・・・、及び315°)のいずれかとなる。そして方位角φの各角度において、仰角θは、−90°と+90°の間で45°間隔に配置された複数の角度(−90°、−45°、・・・、及び+45°)のいずれかとなる。
規格化検出数p〜pは、方向が既知の放射線を検出素子100により測定することで、予め決定されている。他の例として、規格化検出数p〜pは、検出素子100のシミュレーション結果に基づいて、予め決定してもよい。
図9に示す例において、検出データは、検出数N〜Nを示す。検出数N、N、N、N、N、及びNは、それぞれ、シンチレータ121の検出数の検出結果、シンチレータ122の検出数の検出結果、シンチレータ123の検出数の検出結果、シンチレータ124の検出数の検出結果、シンチレータ125の検出数の検出結果、及びシンチレータ126の検出数の検出結果を示す。これらの検出数は、検出部130(図1)を用いて検出される。なお、本図に示す例において、Nは、N〜Nの和(N=N+N+N+N+N+N)を示す。
次に、図1、図3、図8、及び図9用いて、判断部200が放射線の方向を判断する方法を説明する。まず、判断部200は、記憶部400から基準データ(図8)を読み出す。さらに、判断部200は、検出部130の検出結果に基づいて、検出データ(図9)を生成する。
次いで、判断部200は、基準データの各検出数比(p〜pの比)と、検出データの検出数比(N〜Nの比)との類似度を算出する。例えば、判断部200は、上記した式(1)に示したreducedカイ二乗検定を用いて(なお、図8及び図9に示す例では、式(1)のSは、S=6である。)、基準データの各検出数比(p〜pの比)と、検出データの検出数比(N〜Nの比)とのχRed を算出する。この場合、χRed が1に近いほど、基準データの検出数比(p〜pの比)と検出データの検出数比(N〜Nの比)との類似度が高いと推定することができる。これにより、判断部200は、χRed が1に最も近くなる検出数比(p〜pの比)の方位角φ及び仰角θから放射線が照射されたと判断することができる。
以上、本実施形態によれば、記憶部400は、基準データを記憶している。基準データは、複数のシンチレータ120に照射された放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す方位角φと、この放射線がいずれの仰角から照射されたかを示すθと、この放射線が照射された場合の複数のシンチレータ120の検出数比(p〜pの比)との関係を示す。判断部200は、基準データに含まれる検出数比(p〜pの比)と、複数の検出部130が検出した検出数比(N〜Nの比)との類似度を算出する。これにより、判断部200は、放射線がいずれの方位角から照射されたかを判断することができるとともに、放射線がいずれの仰角から照射されたかを判断することができる。
(第3の実施形態)
図10は、第3の実施形態に係る検出装置10に用いられる基準データの一例を示す図であり、第1の実施形態の図4に対応する。本実施形態に係る検出装置10は、以下の点を除いて、第1の実施形態に係る検出装置10と同様の構成である。
本図に示す例では、強度Aの第1放射線及び強度Aの第2放射線が照射される。そして本図に示す例では、第1放射線の方位角φ(図3(a))はφと示され、第2放射線の方位角φ(図3(a))はφと示されている。
本図に示す例において、基準データは、テーブル形式である。そして基準データは、第1放射線の強度Aと第2放射線の強度Aとの比A/Aと、第1放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す方位角φと、第2放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す方位角φと、第1放射線及び第2放射線が照射された場合のシンチレータ121〜シンチレータ124の検出数比(規格化検出数p〜pの比)との関係を示している。検出数p、p、p、及びpは、それぞれ、シンチレータ121の検出数、シンチレータ122の検出数、シンチレータ123の検出数、及びシンチレータ124の検出数を示す。規格化検出数p〜pは、p〜pの和が1となる(p+p+p+p=1)ように規格化されている。本図に示す例において、強度比A/Aは、0.1と10.0の間で0.1間隔に配置された複数の値(0.1、0.2、・・・、及び10.0)のいずれかとなる。そして強度比A/Aの各値において、第1放射線の方位角φは、0°と315°の間で45°間隔に配置された複数の角度(0°、45°、・・・、及び315°)のいずれかとなる。そして第1放射線の方位角φの各角度において、第2放射線の方位角φは、0°と315°の間で45°間隔に配置された複数の角度(0°、45°、・・・、及び315°)のいずれかとなる。
次に、図1、図3、図5、及び図10を用いて、判断部200が放射線の方向を判断する方法を説明する。なお、本実施形態に係る検出データは、第1の実施形態に係る検出データ(図5)と同様となる。まず、判断部200は、記憶部400から基準データ(図10)を読み出す。さらに、判断部200は、検出部130の検出結果に基づいて、検出データ(図5)を生成する。
次いで、判断部200は、基準データの各検出数比(p〜pの比)と、検出データの検出数比(N〜Nの比)との類似度を算出する。例えば、判断部200は、上記した式(1)に示したreducedカイ二乗検定を用いて(なお、図5及び図10に示す例では、式(1)のSは、S=4である。)、基準データの各検出数比(p〜pの比)と、検出データの検出数比(N〜Nの比)とのχRed を算出する。この場合、χRed が1に近いほど、基準データの検出数比(p〜pの比)と検出データの検出数比(N〜Nの比)との類似度が高いと推定することができる。これにより、判断部200は、χRed が1に最も近くなる検出数比(p〜pの比)の方位角φ及び方位角φからから第1放射線及び第2放射線がそれぞれ照射されたと判断することができる。さらに、判断部200は、χRed が1に最も近くなる検出数比(p〜pの比)の強度比A/Aが第1放射線の強度と第2放射線の強度との比であると判断することができる。
以上、本実施形態によれば、記憶部400は、基準データを記憶している。基準データは、第1放射線の強度Aと第2放射線の強度Aの比A/Aと、第1放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す方位角φと、第2放射線がいずれの方位角から照射されたかを示す方位角φと、第1放射線及び第2放射線が照射された場合の複数のシンチレータ120の検出数比(p〜pの比)との関係を示す。判断部200は、基準データに含まれる検出数比(p〜pの比)と、複数の検出部130が検出した検出数比(N〜Nの比)との類似度を算出する。これにより、判断部200は、第1放射線がいずれの方位角から照射されたかを判断することができるとともに、第2放射線がいずれの方位角から照射されたかを判断することができる。さらに、判断部200は、第1放射線の強度と第2放射線の強度の比を判断することができる。
以下のとおり、図1に示した検出素子100を作製した。
遮蔽体110の材料:タングステンシート
遮蔽体110の形状:25×25×25mm立方体
シンチレータ120の材料:Ce:GAGG
シンチレータ120の形状:長さ10×幅10×厚さ6mm
検出部130:MPPC S12572−050C(浜松ホトニクス株式会社)
図11は、本実施例に係る検出素子100をシミュレートすることにより生成した基準データを示す図であり、第1の実施形態の図4に対応する。本図に示すように、基準データは、グラフ形式とした。基準データは、放射線がどの方位角から照射されたかを示す方位角φ(図3)と、この放射線が照射された場合のシンチレータ121〜シンチレータ124(図3)の検出数比(規格化検出数p〜pの比)との関係を示している。規格化検出数p、p、p、及びpは、それぞれ、シンチレータ121の規格化検出数、シンチレータ122の規格化検出数、シンチレータ123の規格化検出数、及びシンチレータ124の規格化検出数を示す。規格化検出数p〜pは、p〜pの和が1となる(p+p+p+p=1)ように規格化した。方位角は、0°と355°の間で5°間隔に配置された複数の角度(0°、5°、・・・、355°)のいずれかとなり、本図に示す例では、説明のため、0°〜45°のみを示している。
図12は、本実施例に係る検出素子100をシミュレートすることにより生成した検出データを示す図であり、第1の実施形態の図5に対応する。検出データは、方位角45°(φ=45°)から線量率約1μSv/hの放射線を10分間検出素子100に照射することをシミュレートすることにより生成した。検出データは、検出数N〜Nを示す。検出数N、N、N、及びNは、それぞれ、シンチレータ121の検出数の検出結果、シンチレータ122の検出数の検出結果、シンチレータ123の検出数の検出結果、及びシンチレータ124の検出数の検出結果を示す。これらの検出数は、検出部130(図1)を用いて検出した。
図13は、図11に示した基準データの各検出数比と、図12に示した検出データの検出数比とのχRed を示す図である。χRed は、上記した式(1)を用いて算出した。なお、この場合、N=N+N+N+Nとした。本図に示す例において、χRed は、シミュレーションにより算出した。本図に示すように、reduced χ(χRed )は、方位角45°(φ=45°)において1に最も近くなった。この結果は、方位角45°(φ=45°)から放射線を照射したことと適合している。
図14は、図11〜図13に示したシミュレーションにおいて線量率約0.1μSv/hの放射線を60秒間照射した場合に算出された方位角の分布を示すヒストグラムを示す図である。本図に示す例では、方位角0°(φ=0°)から線量率約0.1μSv/hの放射線を60秒間照射した場合の方位角を算出した。同様にして、方位角30°(φ=30°)から線量率約0.1μSv/hの放射線を60秒間照射した場合の方位角を算出した。同様にして、方位角45°(φ=45°)から線量率約0.1μSv/hの放射線を60秒間照射した場合の方位角を算出した。本図に示す例では、方位角0°の場合、方位角30°の場合、及び方位角45°の場合それぞれにおいて、この算出を100回行った。そして本図に示すように、方位角0°で算出された方位角の分布を示すヒストグラム、方位角30°で算出された方位角の分布を示すヒストグラム、及び方位角45°で算出された方位角の分布を示すヒストグラムを生成した。次いで、各ヒストグラムにガウシアンをフィッティングした。これら3つのガウシアンの半値幅は、約12°〜20°となった。この半値幅の値は、ある程度小さい。これより、本実施例においては、方位角のばらつきを抑えることができたといえる。
図15は、図11〜図13に示したシミュレーションにおいて線量率約0.1μSv/hの放射線を6秒間照射した場合に算出された方位角の分布を示すヒストグラムを示す図である。本図に示す例では、方位角45°(φ=45°)から線量率約0.1μSv/hの放射線を6秒間照射した場合の方位角を算出した。本図に示す例では、この算出を100回行った。そして本図に示すように、上記した場合に算出された方位角の分布を示すヒストグラムを生成した。次いで、このヒストグラムにガウシアンをフィッティングした。この場合のガウシアンの半値幅は、約33°となった。この半値幅の値は、ある程度小さい。これより、本実施例においては、線量が低い場合においても、方位角のばらつきを抑えることができたといえる。
図16は、本実施例に係る検出素子100を用いて放射線を測定することにより生成した検出データを示す図であり、第1の実施形態の図5に対応する。本図に示す例では、本実施例に係る検出素子100を実際に作製した。検出データは、方位角270°(φ=270°)から線量率0.1μSv/hの放射線を1分間検出素子100に照射することにより生成した。検出データは、検出数N〜Nを示す。検出数N、N、N、及びNは、それぞれ、シンチレータ121の検出数の検出結果、シンチレータ122の検出数の検出結果、シンチレータ123の検出数の検出結果、及びシンチレータ124の検出数の検出結果を示す。これらの検出数は、検出部130(図1)を用いて検出した。
図17は、図16に示した検出データを用いて、放射線がいずれの方位角から照射されたかを測定した結果を示す図である。本図に示すように、reduced χ(χRed )は、方位角270°において1に最も近付いた。本図に示す結果は、方位角270°(φ=270°)から放射線を照射したことと適合している。
図18は、図16及び図17に示した方法を用いて算出された方位角のヒストグラムを示す図である。本図に示す例では、図16及び図17に示した方法を用いて、方位角を30回算出した。次いで、本図に示すように、この方位角の分布を示すヒストグラムを作成した。次いで、このヒストグラムにガウシアンをフィッティングした。本図に示すように、ガウシアンの中心は、270°の近傍に位置した。さらに、ガウシアンの半値幅は、約23.1°となった。これにより、本実施例に係る方法では、方位角のばらつきを抑えることができたといえる。
以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。
10 検出装置
100 検出素子
110 遮蔽体
120 シンチレータ
121 シンチレータ
122 シンチレータ
123 シンチレータ
124 シンチレータ
125 シンチレータ
126 シンチレータ
130 検出部
200 判断部
300 表示部
400 記憶部

Claims (6)

  1. 遮蔽体と、
    前記遮蔽体に取り付けられており、互いに異なる方向を向いている複数のシンチレータと、
    互いに異なる前記シンチレータの発光を検出する複数の検出部と、
    前記複数のシンチレータに照射された放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する判断部と、
    を備え、
    前記判断部は、
    前記複数のシンチレータに照射された放射線の方向と、前記放射線が照射された場合の前記複数のシンチレータの検出数比との関係を示す基準データを記憶部から読み出し、
    前記基準データに含まれる検出数比と、前記複数の検出部が検出した検出数比とを用いて、前記放射線の前記方向を判断する検出装置。
  2. 請求項1に記載の検出装置において、
    前記遮蔽体は、
    第1方向に対していずれも平行であり、かつ互いに異なる方向を向いている複数の第1面を有し、
    前記判断部は、前記複数の第1面それぞれに設けられた前記シンチレータを用いることにより、前記第1方向から見た場合に前記放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する検出装置。
  3. 請求項2に記載の検出装置において、
    前記遮蔽体は、
    前記第1方向に直交し、かつ前記複数の第1面を介して互いに対向する2つの第2面を有し、
    前記判断部は、前記2つの第2面それぞれに設けられた前記シンチレータを用いることにより、前記2つの第2面のいずれの側から前記放射線が照射されたかを判断する検出装置。
  4. 請求項2に記載の検出装置において、
    前記遮蔽体は、
    前記第1方向に直交し、かつ前記複数の第1面を介して互いに対向する2つの第2面を有し、
    前記判断部は、前記複数の第1面及び前記2つの第2面に設けられた前記シンチレータを用いることにより、前記第1方向に垂直な方向から見た場合に前記放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する検出装置。
  5. 請求項1に記載の検出装置において、
    前記基準データは、複数の放射線を放射された場合の前記複数のシンチレータの発光強度比を示し、
    前記判断部は、前記基準データを用いて、前記複数の放射線それぞれの方向及び前記複数の放射線の強度比を判断する検出装置。
  6. 遮蔽体と、
    前記遮蔽体に取り付けられており、互いに異なる方向を向いている複数のシンチレータと、
    互いに異なる前記シンチレータの発光を検出する複数の検出部と、
    を備える検出素子を準備し、
    前記複数のシンチレータに照射された放射線の方向と、前記放射線が照射された場合の前記複数のシンチレータの検出数比との関係を示す基準データを記憶部から読み出し、
    前記基準データに含まれる検出数比と、前記複数の検出部が検出した検出数比とを用いて、前記複数のシンチレータに照射された放射線がいずれの方向から照射されたかを判断する、検出方法。
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