JP2016178112A - 電流リード固定用フランジユニット及び電流リード付きフランジユニット - Google Patents

Abstract

【課題】電流リードの発熱に伴う低温部への熱侵入を低減できる電流リード固定用フランジユニット及び電流リード付きフランジユニットを提供する。【解決手段】電流リード固定用フランジユニットは、低温部に設置される超電導応用機器に接続される低温側電極と、常温部に設置される外部機器に接続される常温側電極と、一方の面に低温側電極が接合され他方の面に常温側電極が接合される熱電変換素子と、を有する電流リードを、超電導応用機器を収容する容器に固定する。電流リード固定用フランジユニットは、電流リードが固定される固定フランジと、一端側が固定フランジに垂設されるシャフトと、シャフトの他端側に固定される輻射熱防止板と、を備える。【選択図】図１

Description

本発明は、低温部に設置される超電導応用機器と常温部に設置される外部機器を接続する電流リードが固定される電流リード固定用フランジユニット及び電流リード付きフランジユニットに関し、特に熱電変換素子を用いた熱電冷却型の電流リードが固定される電流リード固定用フランジユニット及び電流リード付きフランジユニットに関する。

近年、超電導ケーブルや超電導マグネット等、超電導を利用した超電導応用機器の分野では、実用化に向けてさかんに研究、開発が行われている。一般に、超電導応用機器は低温部（低温容器）に設置され、常温部に設置された外部機器（例えば電源）と、電流リードを介して接続される。超電導応用機器の運転は、極低温環境下で行われるため、低温部の断熱性が極めて重要となる。低温部の断熱性が悪く、低温部への熱侵入が大きいと、超電導応用機器の冷却効率が低下して超電導状態を維持するための冷却コストが増大することとなり、場合によっては超電導応用機器を運転できなくなってしまう。この低温部への熱侵入の経路としては、低温容器を伝熱する経路、又は電流リードを伝熱する経路が考えられる。

低温容器を介した熱侵入を防止するための手法としては、液体窒素等の冷媒及び超電導応用機器を収容する冷媒槽と、冷媒槽の外側に設けられる真空槽とを有する二重構造の低温容器が知られている。この低温容器によれば、真空断熱により低温部への熱侵入が低減される。

電流リードを介した熱侵入を防止するための手法としては、酸化物超電導体を用いた超電導電流リードが提案されている。酸化物超電導体は、金属導体に比較して電気抵抗が小さく、かつ熱伝導率が小さいため（銅の数１０分の１）、超電導電流リードにおけるジュール熱の発生はなく、低温部への伝熱量も極めて小さい。したがって、超電導電流リードによれば、低温部への熱侵入が低減される。しかし、超電導電流リードを採用する場合、電流リードの超電導状態を維持できる様に冷却設備を設けなければならず、冷却コストが増大してしまうという課題がある。

そこで、電流リードを介した熱侵入を防止するための他の手法として、熱電変換素子（以下「ペルチェ素子」と称する）を利用した熱電冷却型電流リードが提案されている（例えば特許文献１〜３）。熱電冷却型電流リードにおいては、低温部の超電導応用機器に接続される低温側電極と、常温部の外部機器に接続される常温側電極とが、ペルチェ素子を介して接続される。具体的には、低温側電極とペルチェ素子の一端面が半田により接合され、同様に、ペルチェ素子の他端面と常温側電極が半田により接合される。以下において、低温側電極と常温側電極を区別しない場合は、単に電極と称することとする。

ペルチェ素子は、通電したときに一端側から吸熱し、他端側から放熱する機能を有する。ペルチェ素子は、例えばＢｉＴｅ（ビスマス−テルル）系の化合物半導体で構成される。ペルチェ素子がｐ型半導体で構成される場合は、電流の流入側で吸熱が生じ、流出側で発熱が生じる。逆に、ペルチェ素子がｎ型半導体で構成される場合は、電流の流入側で発熱が生じ、流出側で吸熱が生じる。したがって、熱電冷却型電流リードにおける通電方向に応じて、ｐ型半導体又はｎ型半導体で構成されるペルチェ素子を用いることで、通電時に低温部から常温部に向けて熱を移動させることができるので、低温部への熱侵入が低減される。

特開２００４−６８５９号公報 特開２０１３−１０５９０６号公報 特開２０１４−１０３３２４号公報

上述した熱電変換型の電流リードは、一般に、低温容器の蓋体となるフランジ部材（以下「固定フランジ」と称する）に固定され、電流リードが固定された電流リード付きフランジユニットとして低温容器に取り付けられる。電流リードのほとんどの部分は低温容器内に収容され、通電時に電流リード自体が少なからず発熱するため、発熱部位からの輻射熱が低温部に流れ込む虞がある。特に、ペルチェ素子と低温側電極とが接合される低温側接合部、及びペルチェ素子と常温側電極とが接合される常温側接合部を含む素子接合部は、電流リードにおける主たる発熱部位となり、常温部の温度（室温）よりも高くなることもあり得る。

本発明の目的は、電流リードの発熱に伴う低温部への熱侵入を低減できる電流リード固定用フランジユニット及び電流リード付きフランジユニットを提供することである。

本発明に係る電流リード固定用フランジユニットは、低温部に設置される超電導応用機器に接続される低温側電極と、常温部に設置される外部機器に接続される常温側電極と、一方の面に前記低温側電極が接合され他方の面に前記常温側電極が接合される熱電変換素子と、を有する電流リードを、前記超電導応用機器を収容する容器に固定するための電流リード固定用フランジユニットであって、
前記電流リードが固定される固定フランジと、
一端側が前記固定フランジに垂設されるシャフトと、
前記シャフトの他端側に固定される輻射熱防止板と、を備えることを特徴とする。

本発明に係る電流リード付きフランジユニットは、上記の電流リード固定用フランジユニットに、上記の電流リードが固定されてなることを特徴とする。

本発明によれば、電流リードの発熱部位（特に素子接合部）からの輻射熱が輻射熱防止板によって遮断されるので、低温部への熱侵入を低減することができる。

本発明の一実施の形態に係る電流リードを用いた超電導磁石装置の一例を示す図である。 実施の形態に係る電流リードの詳細な構成を示す図である。 ペルチェ素子、低温側電極、及び常温側電極を含む素子接合部を示す図である。 補強筒を示す図である。 低温側電極を示す図である。 実施例に係る実験装置の構成を示す図である。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施の形態に係る電流リード１０を用いた超電導磁石装置１を示す図である。図１に示すように、超電導磁石装置１は、低温部に設置される超電導コイル１１と、常温部に設置される電源１２と、電源１２と超電導コイル１１を電気的に接続する電流リード１０を備える。２つの電流リード１０を区別する場合は、電流リード１０Ａ、１０Ｂと称する。

超電導コイル１１は、例えば、端末容器１４内に設置された真空断熱構造を有する低温容器１３内に収容され、液体ヘリウムによって冷却される。電源１２は、超電導コイル１１を励磁するのに必要な電流を、電流リード１０を介して供給する。

電流リード１０は、ペルチェ効果を利用した熱電冷却型の電流リードである。電流リード１０は、ペルチェ素子１０１、低温側電極１０２、及び常温側電極１０３を備える。低温側電極１０２、常温側電極１０３は、電気抵抗の面からＣｕ含有量が９０重量％以上であることが好ましく、例えば純度９９．９９％以上の無酸素銅で構成される。

ペルチェ素子１０１の一方の面に低温側電極１０２が接合され、他方の面に常温側電極１０３が接合される。低温側電極１０２は超電導コイル１１に接続され、常温側電極１０３は電源１２に接続される。電流リード１０と超電導コイル１１、及び電流リード１０と電源１２は、例えば銅リード１５、１６によって接続される。

ペルチェ素子１０１には、室温以下の低温において、性能指数Ｚ（＝α²／（κρ）、α：ゼーベック係数、κ：熱伝導率、ρ：比抵抗）の値が最大となるように組成が調整された半導体を使用することが好ましい。ペルチェ素子１０１は、例えばＢｉＴｅ系、ＢｉＴｅＳｂ系、又はＢｉＳｂ系の化合物半導体で構成される。

特に、熱電変換効率の面から、Ｔｅ含有量が５〜５０重量％であるＢｉＴｅ系半導体又はＢｉＴｅＳｂ系半導体が好適である。ＢｉＴｅ系半導体又はＢｉＴｅＳｂ系半導体を適用した場合、常温から２００Ｋ付近までの温度範囲で良好な冷却能力が得られる。また、ＢｉＳｂ系半導体を適用した場合、２００Ｋ付近から液体窒素温度（７７Ｋ）付近までの温度範囲で良好な冷却能力が得られる。

電源１２の正極側に接続される電流リード１０Ａのペルチェ素子１０１にはｎ型半導体が適用され、負極側に接続される電流リード１０Ｂのペルチェ素子１０１にはｐ型半導体が適用される。例えば、ＢｉＴｅ系半導体の導電型は、ＳｂＩ₃を添加することによりｎ型に制御され、ＰｂＩ₃を添加することによりｐ型に制御される。また、構成元素の量を化学量論比からわずかにずらすことによって、ＢｉＴｅ系半導体の導電型を制御することもできる。

電流リード１０Ａ、１０Ｂにおいては、ペルチェ素子１０１の低温側で吸熱が生じ、常温側で発熱が生じる。すなわち、ペルチェ素子１０１において、通電時に低温側から常温側に向けて熱が移動するので、低温部への熱侵入が低減され、超電導コイル１１を効率よく冷却することができる。

端末容器１４は、例えば有底円筒形状を有し、上部の開口に電流リード固定用フランジユニット２０（以下「フランジユニット２０」と称する）が取り付けられる。端末容器１４は密閉され、超伝導磁石装置１の使用時（通電時）には、真空に排気される。

フランジユニット２０は、固定フランジ２０１及び輻射熱防止板２０２（常温側バッフル板２０２Ａ及び低温側バッフル板２０２Ｂ）を有する。固定フランジ２０１には、輻射熱防止板２０２を固定するためのシャフト２０３（常温側バッフル板用シャフト２０３Ａ及び低温側バッフル板用シャフト２０３Ｂ）が垂設される。低温側バッフル板用シャフト２０３Ｂは、常温側バッフル板２０２Ａの貫通穴（図示略）に挿通される。低温側バッフル板用シャフト２０３Ｂの外径は、常温側バッフル板２０２Ａの貫通穴の内径よりも小さく、互いに接触しない、すなわち直接熱伝導が行われないようになっている。

常温側バッフル板用シャフト２０３Ａ及び低温側バッフル板用シャフト２０３Ｂは、例えば同一円周上に等間隔で複数本設けられる。常温側バッフル板用シャフト２０３Ａの一端が固定フランジ２０１に固定され、他端には常温側バッフル板２０２Ａが固定される。低温側バッフル板用シャフト２０３Ｂの一端が固定フランジ２０１に固定され、他端には低温側バッフル板２０２Ｂが固定される。

固定フランジ２０１は、電流リード１０の取り付け位置に貫通穴（図示略）を有する。この貫通穴に電流リード１０が挿通され、常温側電極１０３が外部に露出した状態で固定フランジ２０１に固定される。同様に、常温側バッフル板２０２Ａ及び低温側バッフル板２０２Ｂは、電流リード１０の取り付け位置に、電流リード１０の外径よりも大径の貫通穴（図示略）を有する。固定フランジ２０１に電流リード１０が取り付けられる際、電流リード１０は常温側バッフル板２０２Ａ及び低温側バッフル板２０２Ｂの貫通穴に挿通される。

ペルチェ素子１０１と低温側電極１０２との接合部Ｊ１（以下「低温側接合部Ｊ１」と称する）及びペルチェ素子１０１と常温側電極１０３との接合部Ｊ２（以下「常温側接合部Ｊ２」と称する）を含む接合部Ｊは、端末容器１４内に収容される。電流リード１０とフランジユニット２０を合わせて「電流リード付きフランジユニット」と称する。

常温側バッフル板２０２Ａは、低温側接合部Ｊ１よりも低温側に位置する。低温側バッフル板２０３は、低温側バッフル板２０２よりも低温側に位置する。電流リード１０に通電したとき、低温側接合部Ｊ１及び常温側接合部Ｊ２においてジュール熱が生じるが、このジュール熱の低温側への輻射は常温側バッフル板２０２Ａ及び低温側バッフル板２０２Ｂにより遮断される。そして、常温側バッフル板用シャフト２０３Ａ及び低温側バッフル板用シャフト２０３Ｂを通じて、固定フランジ２０１に伝達され、放熱される。

固定フランジ２０１、常温側バッフル板２０２Ａ、低温側バッフル板２０２Ｂ、常温側バッフル板用シャフト２０３Ａ、及び低温側バッフル板用シャフト２０３Ｂは、例えばガラス繊維をプラスチックに混入して強度を向上させたガラス繊維強化プラスチック（ＧＦＲＰ：Glass Fiber Reinforced Plastics）で形成される。ＧＦＲＰ製のものを用いることにより、輻射熱の流入を効果的に遮断することができる。

図２は、実施の形態に係る電流リード１０の詳細な構成を示す図である。図３は、ペルチェ素子１０１と低温側電極１０２及び常温側電極１０３との接合部Ｊを示す図である。図３Ａは接合部Ｊの側面図であり、図３Ｂは図３ＡにおけるＡ矢視断面図である。図４は、補強筒１０４を示す図である。図４Ａは補強筒１０４の側面図であり、図４Ｂは図４ＡにおけるＢ矢視断面図である。図５は、低温側電極１０２を示す図である。図５Ａは低温側電極１０２の側面図（フレキシブル導体接続前）であり、図５Ｂは図５ＡにおけるＣ矢視平面図である。図５Ｃはフレキシブル導体１０６を接続した後のかしめ部１０２ｃを示す平面図である。

図２に示すように、電流リード１０は、ペルチェ素子１０１、低温側電極１０２、常温側電極１０３、及び補強筒１０４を備える。電流リード１０の構成要素であるペルチェ素子１０１、低温側電極１０２、及び常温側電極１０３が配列される方向（図２において上下方向）を「軸方向」、軸方向に直交する方向を「径方向」と称する。

また、電流リード１０は、低温側電極１０２のさらに低温側（軸方向下側）に、低温側補助電極１０５を備える。低温側電極１０２と低温側補助電極１０５は可撓性を有するフレキシブル導体１０６によって接続される。電流リード１０において、補強筒１０４が固定される部分、すなわちペルチェ素子１０１、低温側電極１０２、常温側電極１０３、低温側補助電極１０５、及びフレキシブル導体１０６を含む部分を「素子ユニット」と称する。

ペルチェ素子１０１は、例えば複数の円柱形状又は角柱形状を有し、低温側電極１０２及び常温側電極１０３によって挟持された状態で固定される。ペルチェ素子１０１は、１つであってもよいし、複数であってもよい。ここでは、低温側電極１０２と常温側電極１０３との間に１４個のペルチェ素子１０１が配置されているものとする（図３参照）。

低温側電極１０２は、図５に示すように、略円柱形状のペルチェ固定部１０２ａ、ペルチェ固定部１０２ａよりも大径のフランジ部１０２ｂ、及びかしめ部１０２ｃを有する。ペルチェ固定部１０２ａの端面にペルチェ素子１０１の一方の面が接合される。フランジ部１０２ｂは軸方向に貫通する貫通孔１０２ｇを有し、この貫通孔１０２ｇに電極固定ボルト１０８が挿通される。

かしめ部１０２ｃは、軸方向に形成された導体挿入口１０２ｆを有する。かしめ部１０２ｃは、導体挿入口１０２ｆにフレキシブル導体１０６の一端が挿入された状態で平面加圧される。かしめ部１０２ｃが塑性変形することにより、低温側電極１０２とフレキシブル導体１０６とがかしめにより接続される。適切に平面加圧を行うためには、かしめ部１０２ｃのかしめ治具と当接する面（図５Ｂにおけるかしめ部１０２ｃの左右の面）は平坦であることが好ましい。

かしめ部１０２ｃの径方向断面（図５Ｂ参照）において、導体挿入口１０２ｆは略矩形状を有し、かしめ方向（図５の左右方向）に片寄って配置される。フランジ部１０２ｂとかしめ部１０２ｃの境界部分において、導体挿入口１０２ｆに対応する部分には、切欠溝１０２ｅが形成される。かしめ部１０２ｃの一部（導体挿入口１０２ｆが形成されている部分）は、かしめ方向と直交する方向に膨出する（図５Ｃ参照）。導体挿入口１０２ｆをかしめ方向に片寄って配置することにより、フランジ部１０２ｂとかしめ部１０２ｃの連結部分の長さを確保することができるので、切欠溝１０２ｅを形成しても、強度が著しく低下することはない。

図５Ｃに示す状態において、フレキシブル導体１０６の占積率は、５０％以上であることが好ましく、より好ましくは７０％以上である。これにより、接続抵抗が低く抑えられ、ジュール熱の発生を抑制できるので、電流リード１０を介した熱侵入を低減することができる。また、所定の接続強度が確保されるので、耐久性にも優れる。占積率とは、かしめ部１０２ｃの断面積におけるフレキシブル導体１０６が占める割合である。占積率は、例えば導体挿入口１０２ｆの形状、大きさ、及びかしめ時の加圧力により調整することができる。

また、低温側電極１０２は、ペルチェ固定部１０２ａの端面の周縁部に沿って、軸方向に突出する突出枠部１０２ｄを有する（図３参照）。すなわち、ペルチェ素子１０１が配置される部分は、凹部となっている。なお、突出枠部１０２ｄは、ペルチェ素子１０１が配置される部分を取り囲むように形成されていればよく、ペルチェ固定部１０２ａの端面の周縁部に沿って形成されていなくてもよい。

突出枠部１０２ｄの幅Ｗは、素子接合面の外径Ｄの３％よりも小さいと、突出枠部１０２ｄの強度が低く、加工性も悪くなる。一方、突出枠部１０２ｄの幅Ｗが素子接合面の外径Ｄの５％よりも大きいと、通電容量を考慮して電極径（素子接合面の外径Ｄ）を最適化した場合にペルチェ素子１０１の配置領域を確保できなくなる。したがって、突出枠部１０２ｄの幅Ｗは、低温側電極１０２の素子接合面の外径Ｄの３〜５％であることが好ましい。

突出枠部１０２ｄの高さＨは、高すぎると、強度低下に繋がり、加工性も悪くなる。また引っ掛かりやすくなるために取扱性も低下する。したがって、突出枠部１０２ｄの高さＨは、極端に高くする必要はなく、溶融半田が乗り越えて流出しない程度であればよい。

常温側電極１０３は、略円柱形状のペルチェ固定部１０３ａ、ペルチェ固定部１０３ａよりも大径のフランジ部１０３ｂ、及び胴部１０３ｃを有する。ペルチェ固定部１０３ａの端面にペルチェ素子１０１の他方の面が接合される。フランジ部１０３ｂは軸方向に貫通する貫通孔（図示略）を有し、この貫通孔に電極固定ボルト１０９が挿通される。また、フランジ部１０３ｂは、径方向に形成されるボルト固定穴（図示略）を有し、このボルト固定穴に補強筒固定ボルト１１３が螺合される。胴部１０３ｃは、フランジユニット２０の固定フランジ２０１の貫通穴に挿通され、この状態でシール金具１１４が取り付けられる。フランジ固定ナット１１５が胴部１０３ｃの雄ねじ部（図示略）に螺合され、シール金具１１４を介して固定フランジ２０１に締め付けられることにより、電流リード１０は固定フランジ２０１に固定される。

また、常温側電極１０３は、低温側電極１０２と同様に、ペルチェ固定部１０３ａの端面の周縁部に沿って、軸方向に突出する突出枠部１０３ｄを有する（図３参照）。すなわち、ペルチェ素子１０１が配置される部分は、凹部となっている。なお、突出枠部１０３ｄは、ペルチェ素子１０１が配置される部分を取り囲むように形成されていればよく、ペルチェ固定部１０３ａの端面の周縁部に沿って形成されていなくてもよい。

ペルチェ素子１０１と低温側電極１０２、及びペルチェ素子１０１と常温側電極１０３は、例えば半田付けにより接合される。この場合に用いられる半田としては、Ｓｎ含有量が９０〜９９重量％であるＳｎ−Ａｇ−Ｃｕ（いわゆる鉛フリー半田）が耐熱性の面から好適である。半田付けにより所定の接合強度を確保するため、ペルチェ素子１０１は、両端面（低温側電極１０２及び常温側電極１０３との接合面）に、Ｎｉめっき層を有することが好ましい。また、低温側電極１０２、常温側電極１０３は、ペルチェ素子１０１との接合面に、Ａｇめっき層を有することが好ましい。

低温側電極１０２及び常温側電極１０３によってペルチェ素子を挟持した状態で、低温側電極１０２の貫通孔１０２ｇに電極固定ボルト１０８が挿通され、連結スペーサー１０７に螺合される。また、常温側電極１０３の貫通孔（図示略）に電極固定ボルト１０９が挿通され、連結スペーサー１０７に螺合される。このとき、低温側電極１０２とペルチェ素子１０１との間及び常温側電極１０３とペルチェ素子１０１との間には、所定厚さの半田が配置される。

電極固定ボルト１０９と常温側電極１０３のフランジ部１０３ｂとの間には、圧縮ばね１１０及び圧縮ばね押さえ金具１１１が介在する。これにより、電極固定ボルト１０９を締め付けたときに、圧縮ばね押さえ金具１１１とフランジ部１０３ｂとの間で圧縮ばね１０９が圧縮され、付勢力が生じる。この付勢力により、接合部Ｊに適切な圧力が付与される。すなわち、圧縮ばね１１０及び圧縮ばね押さえ金具１１１により圧力調整機構が構成され、固定ボルト１０９の連結スペーサー１０７への締め込み量を調整することにより、接合部Ｊに加わる圧力を適宜に調整することができる。

低温側電極１０２と常温側電極１０３との間にペルチェ素子１０１が挟持された状態で半田接合が行われる。具体的には、ペルチェ素子１０１と低温側電極１０２との接合は、突出枠部１０２ｄが上方を向くように配置し、低温側電極１０２に通電して半田の溶融温度（約２５０℃）まで加熱することにより行われる。同様に、ペルチェ素子１０１と常温側電極１０３との接合は、突出枠部１０３ｄが上方を向くように配置し、常温側電極１０３に通電して半田の溶融温度（約２５０℃）まで加熱することにより行われる。

溶融に伴い半田は接合面から押し出されるが、突出枠部１０２ｄで堰止められるので、接合面（半田層）に凹凸やボイド（微小な空隙）等の欠陥は生じない。したがって、これらの欠陥に起因して、熱伝導性が低下したり、電気抵抗が増大したりするのを防止できる。

低温側補助電極１０５は、低温側電極１０２と軸方向にほぼ対称な構造を有する。すなわち、低温側補助電極１０５は、リード固定部１０５ａ、リード固定部１０５ａよりも大径のフランジ部１０５ｂ、及びかしめ部１０５ｃを有する。リード固定部１０５ａに銅リード１５が接続される。フランジ部１０５ｂは、径方向に形成されるボルト固定穴を有し、このボルト固定穴に補強筒固定ボルト１１２が螺合される。かしめ部１０５ｃは、軸方向に形成された導体挿入口（図示略）を有する。この導体挿入口にフレキシブル導体１０６の他端が挿入された状態で平面加圧される。かしめ部１０５ｃが塑性変形することにより、低温側補助電極１０５とフレキシブル導体１０６とがかしめにより接続される。かしめ部１０５ｃの構造は、低温側電極１０２のかしめ部１０２ｃと同様であるので説明を省略する。

フレキシブル導体１０６は、例えば平編み銅線で構成される。フレキシブル導体１０４は、電流リード１０に生じる曲げや歪み、特にペルチェ素子１０１、低温側電極１０２、常温側電極１０３の接合部Ｊに生じる曲げや歪みを吸収する。

補強筒１０４は、電流リード１０の設置時などに意図しない外力が働いたときに、この外力を直接受ける補強部材であり、少なくともペルチェ素子１０１と、低温側電極１０２及び常温側電極１０３ａとの接合部Ｊの周囲を取り囲むように配置される。補強筒１０４は、補強筒固定ボルト１１２、１１３により、低温側補助電極１０５及び常温側電極１０３に固定される。

補強筒１０４には、ＧＦＲＰ製のものが好適である。ＧＦＲＰ製の補強筒１０４を用いることにより、外部からの熱の流入を遮断することができるので、補強筒１０４で覆われた内部の素子ユニットの温度上昇、及びこれに伴う機器の損傷、劣化を防止することができる。

補強筒１０４は、周面の一部に切欠窓１０４ａを有する。切欠窓１０４ａの数、形状、大きさ、及び位置は特に制限されない。補強筒１０４に切欠窓１０４ａを設けることにより、補強筒１０４を用いない場合と同様に、効率よく真空排気を行うことができる。

切欠窓１０４ａは、外部から接合部Ｊの全部を観察できるように、形状、大きさ、及び位置が設定されるのが好ましい。外部から接合部Ｊを観察する観点から、切欠窓１０４ａは、機械的な強度が確保される範囲で、大きい方が好ましい。切欠窓１０４ａの寸法は、補強筒１０４の材料と厚みを考慮して適宜に設定される。

ここでは、切欠窓１０４ａは、例えば軸方向の長さが接合部Ｊの軸方向の長さ以上である矩形窓である。また、切欠窓１０４ａは、周方向に沿って等間隔で設けられる。この場合、形成間隔（図４Ｂの角度φに相当）は中心角で９０°未満であることが好ましい。これにより、外部から接合部Ｊの全部を容易に観察することができる。

このように、電流リード固定用フランジユニット２０は、超電導コイル１１（超電導応用機器）に接続される低温側電極１０２と、電源１２（外部機器）に接続される常温側電極１０３と、一方の面に低温側電極１０２が接合され他方の面に常温側電極１０３が接合されるペルチェ素子１０１（熱電変換素子）と、を有する電流リード１０を、超電導コイル１１を収容する端末容器１４（容器）に固定するためのものである。電流リード固定用フランジユニット２０は、電流リード１０が固定される固定フランジ２０１と、一端側が固定フランジ２０１に垂設されるシャフト２０３と、シャフト２０３の他端側に固定される輻射熱防止板２０２と、を備える。

電流リード固定用フランジユニット２０によれば、電流リード１０の発熱部位（特に素子接合部Ｊ）からの輻射熱が輻射熱防止板２０２によって遮断されるので、低温部への熱侵入を低減することができる。

[実施例１]
実施例１では、図６Ａに示すように、端末容器１４内に低温容器１３を収容し、輻射熱防止板２０２を有するフランジユニット２０に取り付けた。輻射熱防止板２０２として、常温側バッフル板２０２Ａと低温側バッフル板２０２Ｂを採用し、それぞれ独立した３本のシャフト２０３Ａ、２０３Ｂで固定フランジ２０１に固定した。また、室温以上（例えば３５０Ｋ）の発熱体を固定フランジ２０１と常温側バッフル板２０２Ａの間に配置した。なお、常温側バッフル板２０２Ａ、低温側バッフル板２０２Ｂには、直径が３９１ｍｍで、表面の輻射係数が０．０２（アルミニウム蒸着の光沢仕上げ）のものを使用した。低温容器３には、直径が４００ｍｍで、表面の輻射係数が０．０６（ＳＵＳ鏡面仕上げ）のものを使用し、低温容器３には液体窒素を充填した。

［実施例２］
実施例２では、図６Ｂに示すように、輻射熱防止板２０２として、常温側バッフル板２０２Ａと低温側バッフル板２０２Ｂを採用し、それぞれ共通の６本のシャフト２０３で固定フランジ２０１に固定した。その他の構成は実施例１と同様である。

［実施例３］
実施例３では、図６Ｃに示すように、輻射熱防止板２０２として、常温側バッフル板２０２Ａだけを採用した。その他の構成は実施例１と同様である。

比較例では、輻射熱防止板２０２のないフランジユニット２０（固定フランジ２０１のみ）を端末容器１４内に取り付けた。

実施例１〜３、及び比較例の実験装置において、実験開始から５時間後に、固定フランジ２０１、常温側バッフル板２０２Ａ、低温側バッフル板２０２Ｂの温度を測定し、測定温度から低温容器１３への輻射熱による熱侵入量を計算した。評価結果を表１に示す。

表１に示すように、輻射熱防止板２０２を設けることにより、低温部への熱侵入量を大幅に低減できることが確認された。また、表１より、輻射熱防止板２０２を複数配置すること、複数配置する場合には独立シャフトを用いることが好ましいといえる。

以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づいて具体的に説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。

低温側電極１０２及び常温側電極１０３の構造、並びに素子ユニットを補強筒１０４に固定する構造は、実施の形態で説明したものに限定されず、例えば特許文献３に記載の構造を適用することもできる。すなわち、低温側電極１０２を、熱電変換素子１０１に接合される低温側コア電極と、一端側が超電導応用機器に接続され他端側がプラグ・ソケット構造により低温側コア電極に接続される低温側キャップ電極と、を有する構成とし、常温側電極１０３を、熱電変換素子１０１に接合される常温側コア電極と、一端側が前記外部機器に接続され他端側がプラグ・ソケット構造により常温側コア電極に接続される常温側キャップ電極と、を有する構成としてもよい。この場合、低温側コア電極と低温側キャップ電極との間、及び常温側コア電極と常温側キャップ電極との間に多点接触式の接触子を介在し、固定部材により低温側キャップ電極と常温側キャップ電極とを連結する。素子ユニットは、熱電変換素子、低温側コア電極、及び常温側コア電極を含んで構成され、軸方向端部側に隙間がある状態で低温側キャップ電極と常温側キャップ電極とに挟持され、軸方向に移動可能な状態で維持される。

実施の形態では、フランジユニット２０において、輻射熱防止板２０２を常温側バッフル板２０２Ａと低温側バッフル板２０２Ｂの２枚構成としたが、輻射熱防止板２０２は１枚であってもよいし、３枚以上であってもよい。輻射熱防止板２０２を複数枚で構成する場合は、固定フランジ２０１に固定するシャフト２０３をそれぞれ独立させることが好ましい。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

１ 超電導磁石装置
１０ 電流リード
１１ 超電導コイル
１２ 電源
１３ 低温容器
１４ 端末容器
１５、１６ 銅リード
１０１ ペルチェ素子
１０２ 低温側電極
１０２ｃ かしめ部
１０２ｄ 突出枠部
１０３ 常温側電極
１０３ｄ 突出枠部
１０４ 補強筒
１０４ａ 切欠窓
１０５ 低温側補助電極
１０５ｃ かしめ部
１０６ フレキシブル導体
２０ 電流リード固定用フランジユニット
２０１ 固定フランジ
２０２ 輻射熱防止板
２０２Ａ 常温側バッフル板
２０２Ｂ 低温側バッフル板
２０３ シャフト
２０３Ａ 常温側バッフル板用シャフト
２０３Ｂ 低温側バッフル板用シャフト

Claims (6)

1. 低温部に設置される超電導応用機器に接続される低温側電極と、常温部に設置される外部機器に接続される常温側電極と、一方の面に前記低温側電極が接合され他方の面に前記常温側電極が接合される熱電変換素子と、を有する電流リードを、前記超電導応用機器を収容する容器に固定するための電流リード固定用フランジユニットであって、
   前記電流リードが固定される固定フランジと、
   一端側が前記固定フランジに垂設されるシャフトと、
   前記シャフトの他端側に固定される輻射熱防止板と、を備えることを特徴とする電流リード固定用フランジユニット。
2. 前記輻射熱防止板は、前記電流リードにおける発熱部位の低温側近傍に位置するように配置されることを特徴とする請求項１に記載の電流リード固定用フランジユニット。
3. 前記輻射熱防止板は、前記熱電変換素子と前記低温側電極との接合部の低温側近傍に位置するように配置されることを特徴とする請求項２に記載の電流リード固定用フランジユニット。
4. 複数の前記輻射熱防止板を備えることを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の電流リード固定用フランジユニット。
5. 前記複数の輻射熱防止板は、それぞれ独立した前記シャフトを介して前記固定フランジに連結されることを特徴とする請求項４に記載の電流リード固定用フランジユニット。
6. 請求項１から５のいずれか一項に記載の電流リード固定用フランジユニットに、前記電流リードが固定されてなることを特徴とする電流リード付きフランジユニット。

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