JP2016173159A - ポジショナ - Google Patents

Abstract

【課題】周囲温度が大きく変化した場合でも、バルブ開度のオーバシュートやハンチング、ふらつきの発生を抑制し、安定した流体制御を実現する。【解決手段】グランドパッキンの摺動抵抗指標μｋと周囲温度との関係をグランドパッキンの種別毎に定めた第１のテーブルＴＡを設ける。操作器のサイズ毎にヒステリシスレベル（ＨＹＳ）に対応する制御パラメータを定めた第２のテーブルＴＢを設ける。定周期で、第１のテーブルＴＡからの現在の周囲温度ＴＲとクランドパッキンの種別とに対応する現在の摺動抵抗指標μｋの取得、第２のテーブルＴＢからの操作器のサイズと現在の摺動抵抗指標μｋより求められるヒステリシスレベル（ＨＹＳ）とに対応する制御パラメータの選択を繰り返し、選択した制御パラメータを使用して調節弁の弁開度を制御する。【選択図】 図２

Description

この発明は、調節弁の開度を制御するポジショナに関するものである。

従来より、流体が流れる管路に設けられる調節弁に対してポジショナを取り付け、このポジショナによって調節弁の開度を制御するようにしている。

このポジショナは、上位装置から送られてくる弁開度設定値と調節弁からフィードバックされてくる実開度値との偏差を求め、この偏差に所定の演算を施して得られる電気信号を制御出力として出力する制御部と、この制御部からの制御出力を空気圧信号に変換する電空変換器と、この電空変換器が変換した空気圧信号を増幅し調節弁の操作器へ出力するパイロットリレーとを備えている（例えば、特許文献１参照）。

図５に従来のポジショナの要部の構成を示す。同図において、１はポジショナ、２は調節弁であり、調節弁２にはその弁開度（バルブの開度）を検出する開度センサ３が設けられている。ポジショナ１は、制御部１１と、電空変換器（ＥＰＭ）１２と、パイロットリレー１３とを備えており、開度センサ３が検出する調節弁２の弁開度が実開度値θｐｖとして制御部１１へフィードバックされるようになっている。

ポジショナ１において、制御部１１は、上位装置（図示せず）からの弁開度設定値θｓｐと開度センサ３からの実開度値θｐｖとの偏差を求め、この偏差にＰＩＤ制御演算を施して得られる電気信号を制御出力ＭＶとして出力する。

電空変換器１２は、制御部１１からの制御出力ＭＶを空気圧信号（ノズル背圧）Ｐｎに変換する。パイロットリレー１３は、電空変換器１２からの空気圧信号Ｐｎを増幅し、空気圧Ｐｏとして調節弁２の操作器２ａへ出力する。これにより、操作器２ａ内のダイアフラム室に空気圧Ｐｏの空気が流入し、調節弁２のバルブ２ｂの開度が調整される。

なお、このポジショナ１において、電空変換器１２とパイロットリレー１３とによって、制御部１１からの制御出力ＭＶを調節弁２への空気圧（出力空気圧）Ｐｏに変換する電空変換部１４が構成されている。また、電空変換器１２およびパイロットリレー１３には、外部からの供給空気圧（計装空気）Ｐｓが供給される。

また、調節弁２は、図６にその要部の構成を示すように、操作器２ａ内のダイアフラム室２ｃに供給されるポジショナ１からの空気圧Ｐｏによって上下動させる弁軸（ステム）２ｄが設けられており、弁軸２ｄの外周面と軸挿通孔２ｅの内周面との間にはグランドパッキン２ｆが設けられている。グランドパッキン２ｆは弁軸２ｄの軸方向に密着して設けられた複数のリング状のパッキンから構成されており、その隙間から流体が外部に漏洩することを防止する。

このポジショナ１において、制御部１１には、調節弁２の適切な開度制御を実行するために、調節弁２の特性に応じた適切な制御パラメータを設定しなければならない。このため、現場に設置（新規あるいは交換）して実際に調節弁２の開度制御を行う前や定期のメンテナンスなどに際して、制御部１１で使用する制御パラメータのチューニングを行うようにしている。この制御パラメータのチューニングは、オートセットアップ時などに、自動的に行われる（例えば、特許文献２参照）。

この場合、制御部１１は、自動チューニング指令を受けると、調節弁２を実駆動し、調節弁２の弁開度が例えば１０％位置から９０％位置へと連続的に移行する際の応答時間を動作時間として求め、この求めた動作時間より操作器のサイズと動作時間との対応を定めた操作器サイズ−動作時間テーブルを参照して、操作器２ａのサイズを決定する（図７に示すステップＳ１０１）。

そして、制御部１１は、調節弁２の弁開度位置の例えば４０％位置から６０％位置へのステップ応答から調節弁２の弁軸２ｄの摺動抵抗（ステム運動抵抗）をフリクションとして求め（ステップＳ１０２）、この求めたフリクションよりヒステリシスレベル（ＨＹＳ）−フリクションテーブルを参照して、ヒステリシスレベル（Ｈ／Ｍ／Ｌ）を決定する（ステップＳ１０３）。

そして、制御部１１は、ステップＳ１０１で決定した操作器のサイズとステップＳ１０３で決定したヒステリシスレベルとから、操作器のサイズとヒステリシスレベルと制御パラメータとの対応を定めた制御パラメータテーブルを参照して対応する制御パラメータを選択し（ステップＳ１０４）、この選択した制御パラメータを調節弁２の弁開度の制御に際して使用する適切な制御パラメータとして設定する（ステップＳ１０５）。

実開昭６２−２８１１８号公報 特許第３５１１４５８号公報

しかしながら、従来のポジショナでは、自動チューニングによって操作器のサイズとヒステリシスレベルとに応じた適切な制御パラメータを設定しても、調節弁の周囲温度の変化で調節弁の弁軸の摺動抵抗（フリクション）が変化するため、制御パラメータが最適値から外れ、バルブ開度にオーバシュートやハンチング、ふらつきが発生し、流体制御が不安定になることがあった。

図６に示した調節弁２で説明すると、調節弁２の弁軸２ｄの摺動抵抗（フリクション）の変化は、グランドパッキン２ｆおよび弁軸２ｄの線膨張係数による形状変化を主な原因として生じる。例えば、周囲温度２０℃で制御パラメータの自動チューニングを行い、制御パラメータを最適値に設定したとしても、その後周囲温度が一般的な製品仕様内である−４０℃〜８０℃に変化すれば、グランドパッキン２ｆの周辺温度変動幅は±６０℃になる。このため、グランドパッキン２ｆおよび弁軸２ｄに線膨張係数による形状変化が生じ、調節弁２の弁軸２ｄの摺動抵抗（フリクション）が変化する。このため、制御パラメータが最適値から外れ、バルブ開度にオーバシュートやハンチング、ふらつきが発生し、流体制御が不安定になる。

なお、流体が高温および低温の場合、多くは操作器２ａとバルブ２ｂとの間にエクステンションボンネット２ｇを接続し、グランドパッキンおよびステム部（Ａ部）とバルブ部（Ｂ部）とを構造的に分離し温度勾配を設け、保冷板（保温板）２ｈを設置することで、流体温度の影響を極力受けない構造となっている。このため、多くのグランドパッキンおよびステム部（Ａ部）は周囲温度と同等であると考えてよい。すなわち、調節弁２の周囲温度だけ考えればよい。また、前回のチューニング時と周囲温度が異なる場合は再度チューニングすればよいが、１日の寒暖の差が大きい現場では常に適切な制御パラメータにチューニングを継続することは困難である。

本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、周囲温度が大きく変化した場合でも、バルブ開度のオーバシュートやハンチング、ふらつきの発生を抑制し、安定した流体制御を実現することが可能なポジショナを提供することにある。

このような目的を達成するために本発明は、上位装置から送られてくる弁開度設定値と調節弁からフィードバックされてくる実開度値との偏差に応じた電気信号を制御出力として出力する制御部と、この制御部からの制御出力を空気圧に変換し調節弁の操作器へ出力する電空変換部とを備えたポジショナにおいて、周囲温度に依存して変化する調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値と周囲温度との関係を記憶する特性値周囲温度関係記憶部と、特性値のレベルと調節弁の弁開度を制御する際に使用する制御パラメータとの対応を記憶する制御パラメータ記憶部と、調節弁の現在の周囲温度を測定する温度センサと、特性値周囲温度関係記憶部に記憶されている関係から温度センサによって測定された調節弁の現在の周囲温度に対応する特性値を現在の特性値として取得する現在特性値取得部と、特性値取得部によって取得された現在の特性値のレベルに対応する制御パラメータを制御パラメータ記憶部から選択する制御パラメータ選択部とを備え、制御部は、定周期で、特性値取得部による現在の特性値の取得、制御パラメータ選択部による現在の特性値のレベルに対応する制御パラメータの選択を繰り返し、選択された制御パラメータを使用して調節弁の弁開度を制御することを特徴とする。

本発明によれば、調節弁の現在の周囲温度が温度センサによって測定され、この温度センサによって測定された調節弁の現在の周囲温度に対応する特性値が現在の特性値として特性値周囲温度関係記憶部に記憶されている関係から取得される。例えば、本発明において、周囲温度に依存して変化する調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値をグランドパッキンの摺動抵抗指標を摩擦係数μと側圧係数ｋとの積で表されるμｋ（μｋ＝μ・ｋ）とした場合、現在の特性値としてグランドパッキンの摺動抵抗指標μｋが取得される。そして、この取得された現在の特性値のレベル（例えば、グランドパッキンの摺動抵抗指標μｋから求められるフリクションの属するヒステリシスレベル）に対応する制御パラメータが制御パラメータ記憶部から選択される。

本発明において、制御部は、定周期で、現在の特性値の取得、取得した現在の特性値のレベルに対応する制御パラメータの選択を繰り返し、選択した制御パラメータを使用して調節弁の弁開度を制御する。これにより、調節弁の現在の周囲温度に応じた適切な制御パラメータが常に使用され、安定した流体制御が実現されるものとなる。

本発明では、調節弁の現在の周囲温度を温度センサによって測定するが、この温度センサによって測定する調節弁の現在の周囲温度はポジショナの庫内の温度でもよく、外気温度でもよい。また、特性値周囲温度関係記憶部には、周囲温度に依存して変化する調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値と周囲温度との関係をテーブルとして記憶させるようにしてもよく、式として記憶させるようにしてもよい。また、特性値周囲温度関係記憶部に、調節弁に用いられるグランドパッキンの種別毎に調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値としてそのグランドパッキンの摺動抵抗指標μｋと周囲温度との関係を記憶させるようにしてもよく、制御パラメータ記憶部に、調節弁に用いられる操作器のサイズ毎に特性値のレベルと調節弁の弁開度を制御する際に使用する制御パラメータとの対応を記憶させるようにしてもよい。

本発明によれば、定周期で、調節弁の現在の周囲温度に対応する調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値（現在の特性値）の取得、取得した現在の特性値のレベルに対応する制御パラメータの選択を繰り返し、選択した制御パラメータを使用して調節弁の弁開度を制御するようにしたので、調節弁の現在の周囲温度に応じた適切な制御パラメータを常に使用するようにして、周囲温度が大きく変化した場合でも、バルブ開度のオーバシュートやハンチング、ふらつきの発生を抑制し、安定した流体制御を実現することが可能となる。

本発明に係るポジショナの一実施の形態の要部を示す図である。 このポジショナにおける制御部の要部の機能ブロック図である。 調節弁に用いられるグランドパッキンの分類を示す図である。 パッキンの種類によって異なる摺動抵抗指標μｋを示す図である。 従来のポジショナの要部の構成を示す図である。 調節弁の要部の構成を示す図である。 従来のポジショナにおける自動チューニングを説明するためのフローチャートである。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。

図１は本発明に係るポジショナの一実施の形態の要部を示す図である。同図において、図５と同一符号は図５を参照して説明した構成要素と同一或いは同等の構成要素を示し、その説明は省略する。

本実施の形態のポジショナ１では、ポジショナ１の庫内に温度センサ１５を設け、この温度センサ１５が測定するポジショナ１の庫内の温度を調節弁２の周囲温度ＴＲとして制御部１１へ与えるようにしている。

また、このポジショナ１において、制御部１１は、本実施の形態特有の機能として、調節弁２の弁開度を制御する際に使用する最適な制御パラメータを定周期で選択・設定する制御パラメータ選択設定機能Ｆ１を備えている。

以下、本実施の形態のポジショナ１を１Ａとし、図５に示した従来のポジショナ１（１Ｂ）と区別する。また、本実施の形態の制御部１１を１１Ａとし、図５に示した従来のポジショナ１Ｂにおける制御部１１（１１Ｂ）と区別する。制御部１１Ａは、プロセッサや記憶装置からなるハードウェアと、これらのハードウェアと協働して各種機能を実現させるプログラムとによって実現される。

図２に制御部１１Ａの要部の機能ブロック図を示す。制御部１１Ａは、制御パラメータ選択設定機能Ｆ１を実現するために、第１のテーブル記憶部１６と、第２のテーブル記憶部１７と、制御パラメータ選択設定部１８とを備えている。

第１のテーブル記憶部１６には、本発明でいう周囲温度に依存して変化する調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値をグランドパッキンの摺動抵抗指標μｋ（μｋ＝μ・ｋ、μ：摩擦係数、ｋ：側圧係数）とし、このグランドパッキンの摺動抵抗指標μｋと周囲温度との関係をグランドパッキンの種別毎に定めた第１のテーブルＴＡが記憶されている。

調節弁２に用いられるグランドパッキンは、図３に示すように、用途（超高温用、高温用、常低温用）別に分類され、形式、構成材料、適用流体などの違いによって多種類のグランドパッキンが存在し、パッキンの種類によって摺動抵抗指標μｋが異なる（図４参照）。

本実施の形態では、実験と計算により、代表的なクランドパッキンの摺動抵抗指標μｋと周囲温度との関係をグランドパッキンの種別（Ａ（超高温），Ｂ（高温），Ｃ（常低温））毎に求め、この求めた関係を第１のテーブル（摺動抵抗指標テーブル）ＴＡとして第１のテーブル記憶部１６に記憶させている。なお、このクランドパッキンの摺動抵抗指標μｋと周囲温度との関係は、温度特性式として記憶させておくようにしてもよい。

第２のテーブル記憶部１７には、本発明でいう調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値のレベルをヒステリシスレベル（ＨＹＳ）とし、調節弁２に用いられる操作器のサイズ毎にヒステリシスレベル（ＨＹＳ）と制御パラメータ（ＫＰ、ＴＩ、ＴＤ、ＧＥ、ＧＫＰ、ＧＴＩ、ＧＴＤ）との対応を定めた第２のテーブル（制御パラメータテーブル）ＴＢが記憶されている。本実施の形態では、ヒステリシスレベル（ＨＹＳ）をＨ／Ｍ／Ｌの３段階に分け、この３段階のヒステリシスレベル（ＨＹＳ）に対応する制御パラメータを定めている。

制御パラメータ選択設定部１８は、摺動抵抗指標取得部１８−１と、フリクション算出部１８−２と、ヒステリシスレベル変換部１８−３と、パラメータ選択部１８−４と、パラメータ設定部１８−５とを備えている。以下、この制御パラメータ選択設定部１８における各部の機能について、その動作を交えながら説明する。

操作者は、初期設定時やグランドパッキン交換時、調節弁２に用いられているグランドパッキンの種別をポジショナ１Ａに対して設定する。このポジショナ１Ａに設定されたグランドパッキンの種別は摺動抵抗指標取得部１８−１に与えられる。また、摺動抵抗指標取得部１８−１には、温度センサ１５が測定する調節弁２の現在の周囲温度ＴＲも与えられる。

摺動抵抗指標取得部１８−１は、調節弁２に用いられているグランドパッキンの種別と調節弁２の現在の周囲温度ＴＲとを入力とし、この入力された調節弁２に用いられているグランドパッキンの種別と調節弁２の現在の周囲温度ＴＲとに対応する摺動抵抗指標μｋを現在の摺動抵抗指標μｋとして第１のテーブルＴＡから取得する。この摺動抵抗指標取得部１８−１が取得した現在の摺動抵抗指標μｋはフリクション算出部１８−２に送られる。

フリクション算出部１８−２は、摺動抵抗指標取得部１８−１からの現在の摺動抵抗指標μｋを下記（１）式に代入してステム運動抵抗Ｆを調節弁２の弁軸２ｄの摺動抵抗（フリクション）として求める。このフリクション算出部１８−２が求めたフリクションＦはヒステリシスレベル変換部１８−３に送られる。

Ｆ＝μ・ｋ・π・Ｄ・Ｈ・Ｐ（Ｎ） ・・・・（１）
但し、Ｄは弁軸径（ｍｍ）、Ｈはグランドパッキンの高さ（ｍｍ）、Ｐはグランドパッキン締付面圧（Ｎ／ｍｍ²）であり、μｋ＝μ・ｋ。

なお、この例では、操作器２ａが直動型操作器であるので、ステム運動抵抗Ｆを調節弁２の弁軸２ｄの摺動抵抗（フリクション）として求めるが、操作器２ａが回転型操作器の場合には、下記（２）式によりステム回転トルクＴを調節弁２の弁軸２ｄの摺動抵抗（リクション）として求める。
Ｔ＝（Ｆ・Ｄ／２）・０．００１（Ｎ・ｍ）・・・・（２）

ヒステリシスレベル変換部１８−３は、フリクション算出部１８−２からのフリクションＦをヒステリシスレベル（ＨＹＳ）に変換し、その変換したヒステリシスレベル（ＨＹＳ）をパラメータ選択部１８−４へ送る。

本実施の形態において、ヒステリシスレベル（ＨＹＳ）はＨ／Ｍ／Ｌの３段階に分けられており、フリクション算出部１８−２からのフリクションＦが属するヒステリシスレベル（ＨＹＳ）が選択されて、ヒステリシスレベル変換部１８−３からパラメータ選択部１８−４へ送られる。

調節弁２に用いられている操作器２ａのサイズはオートセットアップ時に決定されている。すなわち、操作器２ａの動作時間より、操作器サイズ−動作時間テーブルを用いて操作器のサイズが決定されている。この決定された操作器のサイズはパラメータ選択部１８−４へ与えられる

パラメータ選択部１８−４は、調節弁２に用いられている操作器のサイズとヒステリシスレベル変換部１８−３からのヒステリシスレベル（ＨＹＳ）とを入力とし、この入力された操作器のサイズとヒステリシスレベル（ＨＹＳ）とに対応する制御パラメータを第２のテーブルＴＢから選択する。このパラメータ選択部１８−４が選択した制御パラメータはパラメータ設定部１８−５に送られる。

パラメータ設定部１８−５は、パラメータ選択部１８−４から制御パラメータが送られてくると、それまで使用されていた制御パラメータに代えてパラメータ選択部１８−４から送られてきた制御パラメータを調節弁２の弁開度を制御する際に使用する新しい制御パラメータとして設定する。

制御パラメータ選択設定部１８は、この摺動抵抗指標取得部１８−１、フリクション算出部１８−２、ヒステリシスレベル変換部１８−３、パラメータ選択部１８−４、パラメータ設定部１８−５が行う一連の動作を定周期で繰り返す。

これにより、調節弁２の現在の周囲温度ＴＲに応じた適切な制御パラメータが常に使用されるものになり、周囲温度が大きく変化した場合でも、バルブ開度のオーバシュートやハンチング、ふらつきの発生を抑制し、安定した流体制御を実現することができるようになる。

なお、図２に示した構成において、第１のテーブル記憶部１６が本発明でいう特性値周囲温度関係記憶部に相当し、第２のテーブル記憶部１７が制御パラメータ記憶部に相当し、摺動抵抗指標取得部１８−１が現在特性値取得部に相当し、フリクション算出部１８−２，ヒステリシスレベル変換部１８−３およびパラメータ選択部１８−４を含む構成がパラメータ選択部に相当する。

また、上述した実施の形態では、ポジショナ１の庫内の温度を調節弁２の周囲温度ＴＲとして温度センサ１５によって測定するようにしたが、調節弁２の近くに温度センサ１５を設けて調節弁２の周囲温度ＴＲを測定するようにしてもよく、外気温度を調節弁２の周囲温度ＴＲとして用いるようにしてもよい。

また、上述した実施の形態において、周囲温度の変化がない又は、小さい時は、摺動抵抗指標取得部１８−１による摺動抵抗指標μｋの取得は行わずに、すなわち制御パラメータ選択設定部１８による制御パラメータの選択を行わずに 温度センサ１５による温度計測のみ行い ソフトウェア負荷を軽減させることも可能である。周囲温度の変化がない又は、小さい時の判断は、任意の設定値による。

１（１Ａ）…ポジショナ、２…調節弁、２ａ…操作器、２ｂ…バルブ、２ｄ…弁軸（ステム）、２ｆ…グランドパッキン、３…開度センサ、１１（１１Ａ）…制御部、１２…電空変換器、１３…パイロットリレー、１４…電空変換部、１５…温度センサ、１６…第１のテーブル記憶部、１７…第２のテーブル記憶部、１８…制御パラメータ選択設定部、１８−１…摺動抵抗指標取得部、１８−２…フリクション算出部、１８−３…ヒステリシスレベル変換部、１８−４…パラメータ選択部、１８−５…パラメータ設定部、Ｆ１…制御パラメータ選択設定機能、ＴＡ…第１のテーブル（摺動抵抗指標テーブル）、ＴＢ…第２のテーブル（制御パラメータテーブル）。

Claims (6)

1. 上位装置から送られてくる弁開度設定値と調節弁からフィードバックされてくる実開度値との偏差に応じた電気信号を制御出力として出力する制御部と、この制御部からの制御出力を空気圧に変換し前記調節弁の操作器へ出力する電空変換部とを備えたポジショナにおいて、
   周囲温度に依存して変化する前記調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値と周囲温度との関係を記憶する特性値周囲温度関係記憶部と、
   前記特性値のレベルと前記調節弁の弁開度を制御する際に使用する制御パラメータとの対応を記憶する制御パラメータ記憶部と、
   前記調節弁の現在の周囲温度を測定する温度センサと、
   前記特性値周囲温度関係記憶部に記憶されている関係から前記温度センサによって測定された前記調節弁の現在の周囲温度に対応する特性値を現在の特性値として取得する現在特性値取得部と、
   前記特性値取得部によって取得された現在の特性値のレベルに対応する制御パラメータを前記制御パラメータ記憶部から選択する制御パラメータ選択部とを備え、
   前記制御部は、
   定周期で、前記特性値取得部による現在の特性値の取得、前記制御パラメータ選択部による現在の特性値のレベルに対応する制御パラメータの選択を繰り返し、選択された制御パラメータを使用して前記調節弁の弁開度を制御する
   ことを特徴とするポジショナ。
2. 請求項１に記載されたポジショナにおいて、
   前記調節弁の操作器は直動型であり、
   前記特性値周囲温度関係記憶部は、
   前記調節弁に用いられるグランドパッキンの種別毎に前記特性値としてそのグランドパッキンの摺動抵抗指標μｋと周囲温度との関係を記憶し、
   前記現在特性値取得部は、
   前記調節弁に用いられているグランドパッキンの種別と前記温度センサによって測定された前記調節弁の現在の周囲温度とに対応する摺動抵抗指標μｋを現在の特性値として前記特性値周囲温度関係記憶部に記憶されている関係から取得し、
   前記制御パラメータ選択部は、
   前記特性値取得部によって現在の特性値として取得された摺動抵抗指標μｋを下記（１）式に代入してステム運動抵抗Ｆを前記調節弁の弁軸の摺動抵抗として求め、この求めた調節弁の弁軸の摺動抵抗のレベルに対応する制御パラメータを前記制御パラメータ記憶部から選択する
   ことを特徴とするポジショナ。
   Ｆ＝μ・ｋ・π・Ｄ・Ｈ・Ｐ（Ｎ） ・・・・（１）
   但し、μは摩擦係数、ｋは側圧係数、Ｄは弁軸径、Ｈはグランドパッキンの高さ、Ｐはグランドパッキン締付面圧であり、μｋ＝μ・ｋ。
3. 請求項１に記載されたポジショナにおいて、
   前記調節弁の操作器は回転型であり、
   前記特性値周囲温度関係記憶部は、
   前記調節弁に用いられるグランドパッキンの種別毎に前記特性値としてそのグランドパッキンの摺動抵抗指標μｋと周囲温度との関係を記憶し、
   前記現在特性値取得部は、
   前記調節弁に用いられているグランドパッキンの種別と前記温度センサによって測定された前記調節弁の現在の周囲温度とに対応する摺動抵抗指標μｋを現在の特性値として前記特性値周囲温度関係記憶部に記憶されている関係から取得し、
   前記制御パラメータ選択部は、
   前記特性値取得部によって現在の特性値として取得された摺動抵抗指標μｋを下記（２）式に代入してステム運動抵抗Ｆを求め、この求めたステム運動抵抗Ｆを下記（３）式に代入してステム回転トルクＴを前記調節弁の弁軸の摺動抵抗として求め、この求めた調節弁の弁軸の摺動抵抗のレベルに対応する制御パラメータを前記制御パラメータ記憶部から選択する
   ことを特徴とするポジショナ。
   Ｆ＝μ・ｋ・π・Ｄ・Ｈ・Ｐ（Ｎ） ・・・・（２）
   Ｔ＝（Ｆ・Ｄ／２）・０．００１（Ｎ・ｍ）・・・・（３）
   但し、μは摩擦係数、ｋは側圧係数、Ｄは弁軸径、Ｈはグランドパッキンの高さ、Ｐはグランドパッキン締付面圧であり、μｋ＝μ・ｋ。
4. 請求項１に記載されたポジショナにおいて、
   前記特性値周囲温度関係記憶部は、
   周囲温度に依存して変化する前記調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値と周囲温度との関係をテーブルとして記憶する
   ことを特徴とするポジショナ。
5. 請求項１に記載されたポジショナにおいて、
   前記特性値周囲温度関係記憶部は、
   周囲温度に依存して変化する前記調節弁の弁軸の摺動性能を示す特性値と周囲温度との関係を式として記憶する
   ことを特徴とするポジショナ。
6. 請求項１に記載されたポジショナにおいて、
   前記制御パラメータ記憶部は、
   前記調節弁に用いられる操作器のサイズ毎に前記特性値のレベルと前記調節弁の弁開度を制御する際に使用する制御パラメータとの対応を記憶し、
   前記制御パラメータ選択部は、
   前記特性値取得部によって取得された現在の特性値のレベルと前記調節弁に用いられている操作器のサイズに対応する制御パラメータを前記制御パラメータ記憶部から選択する
   ことを特徴とするポジショナ。