JP2016170158A - 分光計測装置の製造方法、分光計測装置及び画像形成装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】環境的変動があっても各部材の位置が変化せず、測定精度を長期に亘って維持できる分光計測装置の製造方法を提供する。【解決手段】ガラス基材にピンホールアレイを形成するための遮光コート面を有する部材Aと、ガラス基材上の樹脂層によりレンズアレイが形成された部材Bとの相対位置を調整し、ガラス基材の面同士を接着して固定する。このときの位置調整はピンホールアレイとレンズアレイの相対位置である。アライメントマークの上方にはカメラ33a、33bがセットされており、部材Aと部材Bの2箇所ずつのアライメントマークの相対位置を撮像している。処理手段35により、カメラ33a、33bで撮像されるアライメントマークの相対位置がそれぞれ重なるように調整手段34による位置決めを行った後接着剤硬化手段36により部材Aと部材Bの接着部位を硬化させる。【選択図】図5
Description
本発明は、分光計測装置の製造方法、分光計測装置及び画像形成装置に関する。
複写機やプリンタ等の画像形成装置では、例えば用紙間でトナーパターンを形成して該トナーパターンを分光計測装置で色計測を行い、計測結果に基づいてキャリブレーションを実行し、ページ間あるいはページ内での画像変動(色変動)に対応している。
色再現性を向上させるためには、分光計測装置による計測は画像全域で実行されることが望ましい。
色再現性を向上させるためには、分光計測装置による計測は画像全域で実行されることが望ましい。
特許文献1には、複数の受光素子を用紙の搬送方向と直交する幅方向にライン状に並べ、トナーパターンを担持して移動する用紙の表面に光を照射し、反射光を受光して計測する分光計測装置が記載されている。
この分光計測装置は、反射光が通過する開口素子と、開口素子を通過した光が結像するマイクロレンズアレイと、マイクロレンズアレイにより結像された反射光を回折させて回折像を形成する回折素子と、回折像を複数の受光素子で受光するリニアセンサとを有している。
開口素子、マイクロレンズアレイ、回折素子及びリニアセンサは、これらの相対位置のずれを抑制するために一体化されている。
この分光計測装置は、反射光が通過する開口素子と、開口素子を通過した光が結像するマイクロレンズアレイと、マイクロレンズアレイにより結像された反射光を回折させて回折像を形成する回折素子と、回折像を複数の受光素子で受光するリニアセンサとを有している。
開口素子、マイクロレンズアレイ、回折素子及びリニアセンサは、これらの相対位置のずれを抑制するために一体化されている。
この種の分光計測装置では、例えば振動、温度変化、経時変化などにより、回折手段で形成される回折像の受光手段への入射位置がずれ、その結果、測定対象からの反射光の波長スペクトルを安定して精度良く計測することができないという懸念があった。
特許文献1に記載の分光計測装置では、マイクロレンズアレイ、回折素子及びリニアセンサを一体化しているため、各部材の相対的な位置ずれを抑制することができる。
特許文献1に記載の分光計測装置では、マイクロレンズアレイ、回折素子及びリニアセンサを一体化しているため、各部材の相対的な位置ずれを抑制することができる。
しかしながら、特許文献1には、単に一体化されているとの表現があるだけで、製造(組み立て)段階での具体的な位置決め手法は何ら示されておらず、一体化するときに位置ずれが生じる懸念を否定できない。
本発明は、このような現状に鑑みて創案されたもので、環境的変動があっても各部材の位置が変化せず、計測精度を長期に亘って維持できる分光計測装置の製造方法の提供を、その主な目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の分光計測装置の製造方法は、光照射手段から計測対象に照射された光の反射光が通過する開口部と、前記開口部を通過した光が結像する結像手段と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第一の工程と、前記結像手段により結像された反射光を回折させて回折像を形成する回折手段と、前記回折像を複数の画素に相当する複数の受光素子で受光する受光手段と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第二の工程と、第一の工程で接合された部材と、第二の工程で接合された部材と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第三の工程と、を有し、第一の工程では、前記開口部と前記結像手段とにそれぞれ形成されたアライメントマークを撮像手段で撮像しながら前記開口部と前記結像手段との位置合わせをした後接合する。
本発明によれば、環境的変動があっても各部材の位置が変化せず、計測精度を長期に亘って維持できる分光計測装置の製造方法を提供できる。
以下、本発明の実施形態を図を参照して説明する。
図1乃至図10に基づいて第1の実施形態を説明する。図1は、本実施形態に係る分光計測装置の使用状態を示す斜視図である。
分光計測装置5は、光照射手段としての照明ユニット2と、結像光学系としての縮小結像レンズ10と、分光計測ユニット20とを有している。
図1乃至図10に基づいて第1の実施形態を説明する。図1は、本実施形態に係る分光計測装置の使用状態を示す斜視図である。
分光計測装置5は、光照射手段としての照明ユニット2と、結像光学系としての縮小結像レンズ10と、分光計測ユニット20とを有している。
表面にトナー画像を転写されて定着された、計測対象としての用紙1が一定の速度で搬送されている。用紙1の上方にはライン型の照明ユニット2が配置されている。
照明ユニット2は、用紙1の搬送方向(Y方向)に直交する用紙幅方向(X方向)の全体に亘る計測領域1aを、用紙1の法線方向(Z方向)に対して45度傾斜した方向から照明する。
光源ユニットとしての照明ユニット2は、可視光のほぼ全域において光強度を有する白色光を射出するものであり、分光計測に必要な波長領域の光を射出し、かつ計測領域全体に亘って均一に照明可能であることが好ましい。一例として、LEDアレイ、冷陰極管などの蛍光灯やランプ光源を用いることができる。
照明ユニット2は、用紙1の搬送方向(Y方向)に直交する用紙幅方向(X方向)の全体に亘る計測領域1aを、用紙1の法線方向(Z方向)に対して45度傾斜した方向から照明する。
光源ユニットとしての照明ユニット2は、可視光のほぼ全域において光強度を有する白色光を射出するものであり、分光計測に必要な波長領域の光を射出し、かつ計測領域全体に亘って均一に照明可能であることが好ましい。一例として、LEDアレイ、冷陰極管などの蛍光灯やランプ光源を用いることができる。
照明ユニット2はコリメートレンズを有しており、白色光はコリメートレンズにより平行光となる。これにより、照明ユニット2は線状の照明光を射出する。
計測領域1aからの反射光は、縮小結像レンズ10を通って分光計測ユニット20に入射する。縮小結像レンズ10は、その光軸が計測領域1aの法線方向(Z方向)になるように配置され、反射光を分光計測ユニット20の入射面に結像する。
縮小結像レンズ10に像側テレセントリック特性を付加することで、像面に入射する光束の主光線は、光軸と略平行となる。
Z方向は、反射光の進行方向、あるいは光軸方向に対応する高さ方向(以下、単に「高さ方向」ともいう)と同義である。
計測領域1aからの反射光は、縮小結像レンズ10を通って分光計測ユニット20に入射する。縮小結像レンズ10は、その光軸が計測領域1aの法線方向(Z方向)になるように配置され、反射光を分光計測ユニット20の入射面に結像する。
縮小結像レンズ10に像側テレセントリック特性を付加することで、像面に入射する光束の主光線は、光軸と略平行となる。
Z方向は、反射光の進行方向、あるいは光軸方向に対応する高さ方向(以下、単に「高さ方向」ともいう)と同義である。
図2は、図1の分光計測ユニット20の一部分を拡大した図である。
縮小結像レンズ10から入射して結像した像の像面には、反射光が通過する開口部としてのピンホールを所定の間隔でX方向に配列したピンホールアレイ21が配置される。ピンホールアレイ21は、光透過性フレームとしての透明な平板状のガラス基材28aに一体に設けられている。これにより計測領域1aの各位置からの反射光束が、各ピンホールにより抽出される。
ガラス基材28aの上面には、結像手段としてのレンズアレイ22を一体に有する光透過性フレームとしての透明な平板状のガラス基材28bが面同士を合わせて接合されている。
縮小結像レンズ10から入射して結像した像の像面には、反射光が通過する開口部としてのピンホールを所定の間隔でX方向に配列したピンホールアレイ21が配置される。ピンホールアレイ21は、光透過性フレームとしての透明な平板状のガラス基材28aに一体に設けられている。これにより計測領域1aの各位置からの反射光束が、各ピンホールにより抽出される。
ガラス基材28aの上面には、結像手段としてのレンズアレイ22を一体に有する光透過性フレームとしての透明な平板状のガラス基材28bが面同士を合わせて接合されている。
レンズアレイ22の各レンズは、ピンホールアレイ21の各ピンホールを透過した各光束をそれぞれ集光し、受光手段としての撮像素子24上にそれぞれの像を結像する。
ガラス基材28bの上面には、回折手段としての回折素子23を一体に有する光透過性フレームとしての透明な平板状のガラス基材28cがスペーサ26を介して接合されている。
回折素子23はガラス基材28cの下面(入射面)に形成されており、レンズアレイ22の各レンズを透過した各光束をそれぞれ分光し、撮像素子24上にそれぞれの回折像を形成する。
撮像素子24は複数の画素に相当する複数の受光素子がX方向に配列された構成を有しており、各回折像をそれぞれ異なる位置の複数の受光素子で受光する。
ガラス基材28bの上面には、回折手段としての回折素子23を一体に有する光透過性フレームとしての透明な平板状のガラス基材28cがスペーサ26を介して接合されている。
回折素子23はガラス基材28cの下面(入射面)に形成されており、レンズアレイ22の各レンズを透過した各光束をそれぞれ分光し、撮像素子24上にそれぞれの回折像を形成する。
撮像素子24は複数の画素に相当する複数の受光素子がX方向に配列された構成を有しており、各回折像をそれぞれ異なる位置の複数の受光素子で受光する。
撮像素子24はパッケージ25の内部に固定され、パッケージ25の開口部は光透過性のフレームとしての透明なカバーガラス27で塞がれている。カバーガラス27はガラス基材28cの上面に接合されている。
ピンホールアレイ21の各ピンホールと、これに対応したレンズアレイ22の各レンズ、回折素子23、撮像素子24の対応する受光素子群との組み合わせを、以下、分光ユニットと称する。図2では分光ユニットを3個だけ図示しているが、本発明はこれに限定されず、多数の分光ユニットを有する構成であってよい。
例えば、撮像素子24として1024画素のラインセンサを用い、各受光素子群の画素数を10画素とした場合、102個の分光ユニットを構成できる。
例えば、撮像素子24として1024画素のラインセンサを用い、各受光素子群の画素数を10画素とした場合、102個の分光ユニットを構成できる。
図3に示すように、回折素子23の回折軸方向をX方向に対して所定の角度をもたせることで、各分光ユニットの像のうち所定の回折次数の像のみを撮像素子24の受光素子上に集光させ、信号として取得することができる。
分光光学系においては、光が入射する開口と結像手段、回折手段によって形成される回折像と撮像素子24の相対的な位置ずれが測定精度に大きな影響を及ぼす。
本実施形態では、これらの位置ずれを抑制すべく、開口、結像手段、回折手段及び受光手段を計測領域1aからの反射光の進行方向に積層状態に重ね合わせて接合し、一体化している。
分光光学系においては、光が入射する開口と結像手段、回折手段によって形成される回折像と撮像素子24の相対的な位置ずれが測定精度に大きな影響を及ぼす。
本実施形態では、これらの位置ずれを抑制すべく、開口、結像手段、回折手段及び受光手段を計測領域1aからの反射光の進行方向に積層状態に重ね合わせて接合し、一体化している。
分光計測ユニット20の各要素を接合により一体化した構成により、環境的変動があっても計測精度を長期に亘って維持することができる。
しかしながら、その前提として、製造時(組み立て時)の位置決め(位置合わせ)精度が重要となる。製造時の位置決め精度が低下すると、一体化により低い精度が維持されることとなるからである。
特許文献1においては、撮像素子に対する回折像の位置調整を行うにあたり、回折像の絶対位置を把握する手段についてはなんら言及されていない。回折像と撮像素子との絶対位置にずれが生じると、分光特性にずれが生じ、十分な精度での分光特性の取得を安定して行うことが困難となる。
しかしながら、その前提として、製造時(組み立て時)の位置決め(位置合わせ)精度が重要となる。製造時の位置決め精度が低下すると、一体化により低い精度が維持されることとなるからである。
特許文献1においては、撮像素子に対する回折像の位置調整を行うにあたり、回折像の絶対位置を把握する手段についてはなんら言及されていない。回折像と撮像素子との絶対位置にずれが生じると、分光特性にずれが生じ、十分な精度での分光特性の取得を安定して行うことが困難となる。
これは、撮像素子がラインセンサという特有の問題であり、撮像素子がCCDのようなエリアセンサであれば回折像の形状が把握できて絶対位置の取得が容易であるのに対し、図3や図16に示すように、ラインセンサではY方向に積算された信号値のみであるため、X方向の位置ずれや回転方向の位置ずれに対して感知が難しいためである。
またラインセンサを用いる理由は、画像の高速取得のためであり、画像形成装置から出力された情報をリアルタイムで計測するにはエリアセンサでは撮像周期が不足するためである。
またラインセンサを用いる理由は、画像の高速取得のためであり、画像形成装置から出力された情報をリアルタイムで計測するにはエリアセンサでは撮像周期が不足するためである。
分光計測ユニット20を組み立てる場合、上記のように、回折素子23の回折軸をX方向に対して所定の角度を持たせることで、所定の回折像のみを撮像素子24の画素に集光する。
そのためには、所定の回折像は回折軸方向にシフトした位置にあるので、少なくともY方向の位置調整を行う必要がある。また、撮像素子24の所定の受光素子と回折像の位置とを特定するためのX方向の位置調整を行う必要がある。
そのためには、所定の回折像は回折軸方向にシフトした位置にあるので、少なくともY方向の位置調整を行う必要がある。また、撮像素子24の所定の受光素子と回折像の位置とを特定するためのX方向の位置調整を行う必要がある。
さらに、本構成のように複数の分光ユニットが並列しており、1つの撮像素子24で複数の回折像の信号を取得する場合は、回折像の配列方向と撮像素子24の受光素子の配列方向とを正確に合わせるために光軸回りの回転の調整を行う必要がある。
分光計測ユニット20の調整、組立方法(製造方法)においては、図2に示すように、ピンホールアレイ21とガラス基材28aとを含む部材Aと、レンズアレイ22とガラス基材28bとを含む部材Bと、回折素子23とガラス基材28cとスペーサ26とを含む部材Cと、撮像素子24とパッケージ25とカバーガラス27とを含む部材Dの4つの部材をそれぞれ製作した後、4つの部材の相対位置を調整し、接着にて固定を行う。
分光計測ユニット20の調整、組立方法(製造方法)においては、図2に示すように、ピンホールアレイ21とガラス基材28aとを含む部材Aと、レンズアレイ22とガラス基材28bとを含む部材Bと、回折素子23とガラス基材28cとスペーサ26とを含む部材Cと、撮像素子24とパッケージ25とカバーガラス27とを含む部材Dの4つの部材をそれぞれ製作した後、4つの部材の相対位置を調整し、接着にて固定を行う。
分光計測ユニット20の製造工程を説明する。
第一の工程では、図4に示すように、ガラス基材28aにピンホールアレイ21を形成するための遮光コート面29を有する部材Aと、ガラス基材28b上の樹脂層によりレンズアレイ22が形成された部材Bとの相対位置を調整し、ガラス基材の面同士を接着して固定(接合)する。
このときの位置調整はピンホールアレイ21とレンズアレイ22の相対位置であり、Y方向、X方向、回転方向の面内調整を行う必要がある。
具体的には、部材Aと部材Bの両方に付与したアライメントマーク30を光軸方向(反射光の進行方向)から見て合わせることで調整を行う。
位置調整後に、予め接合面に塗布した接着剤を硬化させることで、部材Aと部材Bの接合が完了する。
第一の工程では、図4に示すように、ガラス基材28aにピンホールアレイ21を形成するための遮光コート面29を有する部材Aと、ガラス基材28b上の樹脂層によりレンズアレイ22が形成された部材Bとの相対位置を調整し、ガラス基材の面同士を接着して固定(接合)する。
このときの位置調整はピンホールアレイ21とレンズアレイ22の相対位置であり、Y方向、X方向、回転方向の面内調整を行う必要がある。
具体的には、部材Aと部材Bの両方に付与したアライメントマーク30を光軸方向(反射光の進行方向)から見て合わせることで調整を行う。
位置調整後に、予め接合面に塗布した接着剤を硬化させることで、部材Aと部材Bの接合が完了する。
部材Aと部材Bの位置調整を行う装置の構造を図5に、調整動作を図6のフローチャートに示す。
塗布装置により部材Aの接着部位、すなわちガラス基材28aの上面に接着剤を塗布し(S1)、部材Aを所定の位置に固定する把持部材31に部材Aをセットする(S2)。
その後、部材Bを部材Aの上にセットし(S3)、把持部材32で固定する。把持部材31はY方向、X方向、回転方向(図4のE方向)の面内駆動が可能な調整手段34に接続されており、部材Aを部材B上で面内移動できるようになっている(S4)。
調整手段34のθは、E方向での角度を意味する。
塗布装置により部材Aの接着部位、すなわちガラス基材28aの上面に接着剤を塗布し(S1)、部材Aを所定の位置に固定する把持部材31に部材Aをセットする(S2)。
その後、部材Bを部材Aの上にセットし(S3)、把持部材32で固定する。把持部材31はY方向、X方向、回転方向(図4のE方向)の面内駆動が可能な調整手段34に接続されており、部材Aを部材B上で面内移動できるようになっている(S4)。
調整手段34のθは、E方向での角度を意味する。
部材Aと部材Bとに付与されているアライメントマーク30の上方には撮像手段としてのカメラ33a、33bがセットされており、部材Aと部材Bの2箇所ずつのアライメントマーク30の相対位置を撮像している。
処理手段35により、カメラ33a、33bで撮像されるアライメントマーク30の相対位置がそれぞれ重なるように調整手段34による位置決めを行った後(S5)、接着剤硬化手段36により部材Aと部材Bの接着部位を硬化させる(S6)。
このときの接合方法としては、部材Aと部材Bの一方が紫外線等を透過する部材である場合には紫外線硬化型樹脂による接着剤を用いることが望ましい。
これにより、接着層の硬化時の収縮量を抑えることができ、位置ずれ等の影響を最小化できる。この場合、接着剤硬化手段36は紫外線照射装置となる。
処理手段35により、カメラ33a、33bで撮像されるアライメントマーク30の相対位置がそれぞれ重なるように調整手段34による位置決めを行った後(S5)、接着剤硬化手段36により部材Aと部材Bの接着部位を硬化させる(S6)。
このときの接合方法としては、部材Aと部材Bの一方が紫外線等を透過する部材である場合には紫外線硬化型樹脂による接着剤を用いることが望ましい。
これにより、接着層の硬化時の収縮量を抑えることができ、位置ずれ等の影響を最小化できる。この場合、接着剤硬化手段36は紫外線照射装置となる。
遮光コート面の影響で接着層へ紫外線等が透過できない場合には、熱硬化型樹脂による接着が好ましい。これにより熱膨張係数の影響で発生する位置ずれ等の影響を最小化できる。
この場合、接着剤硬化手段36はヒーターやオーブンなどの熱源装置となる。
ここでは部材Aのガラス基材28aの上面に接着剤を塗布しているが、部材Bのガラス基材28bの下面に塗布するようにしてもよい。
この場合、接着剤硬化手段36はヒーターやオーブンなどの熱源装置となる。
ここでは部材Aのガラス基材28aの上面に接着剤を塗布しているが、部材Bのガラス基材28bの下面に塗布するようにしてもよい。
第二の工程では、図7に示すように、ガラス基材28cに回折素子23の回折パターンを付与した後、スペーサ26を接合した部材Cと、撮像素子24とパッケージ25とカバーガラス27とを含む部材Dとの相対位置を調整し、接着にて固定する。
このときの位置調整も第一の工程と同様のY方向、X方向、回転方向(E方向)の面内調整を行う必要がある。
しかしながら、回折素子23の回折パターンは、ピンホールアレイ21やレンズアレイ22と比較して大きいため、第一工程のミクロンオーダーの調整ではなく、一般的な機械公差で問題がない。
そのため、部材Cに対する部材Dの位置調整では、位置決めピンと固定治具とによる位置決め調整を行い、調整後に予め接合面に塗布した接着剤を硬化させることで、部材Cと部材Dの接合が完了する。
このときの位置調整も第一の工程と同様のY方向、X方向、回転方向(E方向)の面内調整を行う必要がある。
しかしながら、回折素子23の回折パターンは、ピンホールアレイ21やレンズアレイ22と比較して大きいため、第一工程のミクロンオーダーの調整ではなく、一般的な機械公差で問題がない。
そのため、部材Cに対する部材Dの位置調整では、位置決めピンと固定治具とによる位置決め調整を行い、調整後に予め接合面に塗布した接着剤を硬化させることで、部材Cと部材Dの接合が完了する。
スペーサ26は、分光光学系の構成部材(フレーム)と熱膨張率の近いもの、さらに好ましくは同じ部材を用いるのが望ましい。これにより温度変動に対する熱膨張係数の差からくる部材の反りや曲がりを最小限にすることができる。
このときの接合方法としては、第一の工程と同様である。
本実施形態では、熱膨張率の違いによる不具合をなくすために、各フレームとスペーサ26とを同一材料で形成している。
スペーサ26はレンズアレイ22の収容スペースを確保するために設けられるもので、ガラス基材28c自体に収容凹部を形成してもよい。
このときの接合方法としては、第一の工程と同様である。
本実施形態では、熱膨張率の違いによる不具合をなくすために、各フレームとスペーサ26とを同一材料で形成している。
スペーサ26はレンズアレイ22の収容スペースを確保するために設けられるもので、ガラス基材28c自体に収容凹部を形成してもよい。
第三の工程では、図8に示すように、第一の工程で接着された部材Aと部材Bとに対して、第二の工程で接着された部材Cと部材Dの相対位置を調整し、接着にて固定する。
すなわち、第一の工程で接着された部材Aと部材Bとの一体構成と、第二の工程で接着された部材Cと部材Dとの一体構成とを、ガラス基材28bの上面と、ガラス基材28cの下面、実質的にはスペーサ26の下面との接着にて固定する。
このときの位置調整も第一の工程、第二の工程と同様のY方向、X方向、回転方向(E方向)の面内調整を行う必要がある。
この工程では回折像の配列方向と撮像素子24の受光素子の配列方向とを正確に合わせるため、機械的な位置決めではなく、実際に回折像を観察しながらの面内調整を行う必要がある。
すなわち、第一の工程で接着された部材Aと部材Bとの一体構成と、第二の工程で接着された部材Cと部材Dとの一体構成とを、ガラス基材28bの上面と、ガラス基材28cの下面、実質的にはスペーサ26の下面との接着にて固定する。
このときの位置調整も第一の工程、第二の工程と同様のY方向、X方向、回転方向(E方向)の面内調整を行う必要がある。
この工程では回折像の配列方向と撮像素子24の受光素子の配列方向とを正確に合わせるため、機械的な位置決めではなく、実際に回折像を観察しながらの面内調整を行う必要がある。
面内調整方法の一例を図9、図10に示す。
塗布装置により部材Bの接着部位、すなわちガラス基材28bの上面に接着剤を塗布し(S1)、第一の工程により接着された部材Aと部材Bとの一体構成を所定の位置に固定する把持部材31に部材Aと部材Bとの一体構成をセットする(S2)。
その後、第二の工程により接着された部材Cと部材Dとの一体構成を部材Bの上にセットし、把持部材32で固定する(S3)。
把持部材31はY方向、X方向、回転方向(E方向)の面内駆動が可能な調整手段34に接続されており、部材Cと部材Dとの一体構成を部材B上で面内移動できるようになっている。
白色の拡散板50を被計測面位置に設置し、拡散板50の法線方向に対して45度傾斜した方向から照明する照明ユニット2からの反射光を、縮小結像レンズ10を通して部材A〜Dからなる分光計測ユニット20の撮像素子24に結像させる(S4)。
撮像素子24の各受光素子は、受光光量に応じた信号を処理手段35に出力し、このときの状態を処理手段35で観察可能になっている。
塗布装置により部材Bの接着部位、すなわちガラス基材28bの上面に接着剤を塗布し(S1)、第一の工程により接着された部材Aと部材Bとの一体構成を所定の位置に固定する把持部材31に部材Aと部材Bとの一体構成をセットする(S2)。
その後、第二の工程により接着された部材Cと部材Dとの一体構成を部材Bの上にセットし、把持部材32で固定する(S3)。
把持部材31はY方向、X方向、回転方向(E方向)の面内駆動が可能な調整手段34に接続されており、部材Cと部材Dとの一体構成を部材B上で面内移動できるようになっている。
白色の拡散板50を被計測面位置に設置し、拡散板50の法線方向に対して45度傾斜した方向から照明する照明ユニット2からの反射光を、縮小結像レンズ10を通して部材A〜Dからなる分光計測ユニット20の撮像素子24に結像させる(S4)。
撮像素子24の各受光素子は、受光光量に応じた信号を処理手段35に出力し、このときの状態を処理手段35で観察可能になっている。
このとき撮像素子24の信号を観察すると、図3で示すように、0次回折光では受光素子で信号が取得されるが、1次回折光では別の受光素子で信号が取得される。
そこで、0次回折光が受光素子の外側になり、かつ1次回折光の信号が少数の受光素子で取得できるように撮像素子24のY方向の調整をする。
そこで、0次回折光が受光素子の外側になり、かつ1次回折光の信号が少数の受光素子で取得できるように撮像素子24のY方向の調整をする。
全分光計測ユニットで同様の品質の所望の信号を取得できるように、X方向と光軸周りの回転の調整を行う。
具体的な処理方法としては、処理手段35の画像処理によって各楕円形状の1次回折光の重心位置を算出し(S5)、全ての1次回折光の重心位置が所定の位置になるように調整手段34によって面内調整を行うようにする(S6)。
所定の位置に位置決めを行った後(S7)、接着剤硬化手段36により部材Bと部材Cの接着部位を硬化させる(S8)。
このときの接合方法としては、第一の工程、第二の工程と同様である。
具体的な処理方法としては、処理手段35の画像処理によって各楕円形状の1次回折光の重心位置を算出し(S5)、全ての1次回折光の重心位置が所定の位置になるように調整手段34によって面内調整を行うようにする(S6)。
所定の位置に位置決めを行った後(S7)、接着剤硬化手段36により部材Bと部材Cの接着部位を硬化させる(S8)。
このときの接合方法としては、第一の工程、第二の工程と同様である。
図11及び図12に基づいて、第2の実施形態を説明する。なお、上記実施形態と同一部分は同一符号で示し、既にした構成上及び機能上の説明は適宜省略する(以下の他の実施形態において同じ)。
第一の工程は第1の実施形態の第一の工程と同様である。図11に示すように、第二の工程では、第一工程の後で部材Cのみを載せて接合する。
このときの位置調整は位置決めピンと固定治具とによる位置決め調整を行い、調整後に予め接合面に塗布した接着剤を硬化させることで、部材Cの位置調整を完了する。
これにより、第一の工程と第二の工と程とを一つの装置上で行うことが可能となる。
第一の工程は第1の実施形態の第一の工程と同様である。図11に示すように、第二の工程では、第一工程の後で部材Cのみを載せて接合する。
このときの位置調整は位置決めピンと固定治具とによる位置決め調整を行い、調整後に予め接合面に塗布した接着剤を硬化させることで、部材Cの位置調整を完了する。
これにより、第一の工程と第二の工と程とを一つの装置上で行うことが可能となる。
部材Cの位置調整を完了後、図12に示すように、部材Dを部材Cの上に載せた後、把持部材37で部材Dを固定した後、把持部材32を退避させて、第三の工程を行う。
第三の工程では、一体に接合された部材Aと部材B及び部材Cに対して、部材Dとの相対位置を調整し、接着にて固定を行う。
このときの調整方法と接合方法は第1の実施形態と同様である。
第三の工程では、一体に接合された部材Aと部材B及び部材Cに対して、部材Dとの相対位置を調整し、接着にて固定を行う。
このときの調整方法と接合方法は第1の実施形態と同様である。
図13に基づいて、第3の実施形態を説明する。
図13に示すように、本実施形態では、第三の工程の装置上で第一の工程ができるように構成されている。
第一の工程の後、部材Bの上に部材Cと部材Dを載せ、把持部材37で固定した後、把持部材32を退避させることで、第三の工程を行う。
このときの調整方法と接合方法は、第1の実施形態と同様である。
図13に示すように、本実施形態では、第三の工程の装置上で第一の工程ができるように構成されている。
第一の工程の後、部材Bの上に部材Cと部材Dを載せ、把持部材37で固定した後、把持部材32を退避させることで、第三の工程を行う。
このときの調整方法と接合方法は、第1の実施形態と同様である。
図14乃至図19に基づいて第4の実施形態を説明する。
図14に示すように、本実施形態に係る分光計測装置5’では、照明ユニット2は単波長光源としての白色光源と、所定の波長の光のみを透過させるフィルタ38とを備えている。
撮像素子24が受け取る1つの回折像の信号は、照明ユニット2のスペクトル分布と同じ形状である。例えば、LED光源のスペクトル分布が図15(a)に示す形状であれば、撮像素子24で複数の回折像がある場合には、図15(b)に示すような形状となる。
図14に示すように、本実施形態に係る分光計測装置5’では、照明ユニット2は単波長光源としての白色光源と、所定の波長の光のみを透過させるフィルタ38とを備えている。
撮像素子24が受け取る1つの回折像の信号は、照明ユニット2のスペクトル分布と同じ形状である。例えば、LED光源のスペクトル分布が図15(a)に示す形状であれば、撮像素子24で複数の回折像がある場合には、図15(b)に示すような形状となる。
組立調整工程においては、図15(b)に示す形状となるように、図16に示すような回折像の初期位置からX方向、Y方向、θ方向の位置調整を行う必要があり、調整の指針として信号強度のピーク間の距離d1を所定の値にすることで調整完了とする。
しかしながら、この条件だけではX方向、Y方向、θ方向のどの方向に調整すればよいのかが分かりづらく、また0次回折像、2次回折像が隣接しており、相対位置によってはこれらが調整の煩雑さを助長していて、調整時間が非常に多くなる。
しかしながら、この条件だけではX方向、Y方向、θ方向のどの方向に調整すればよいのかが分かりづらく、また0次回折像、2次回折像が隣接しており、相対位置によってはこれらが調整の煩雑さを助長していて、調整時間が非常に多くなる。
そこで、組立調整工程における照明ユニット2の光源を単波長光源とする。これにより、撮像素子24で捕らえる複数の回折像は、図17(a)に示すように、スポットで表されることとなる。
これにより、0次回折像、2次回折像との距離が稼げることから、1次回折像の位置の割り出しが容易となり、相対位置調整が容易となる。
具体的な照明ユニット2としては、単波長LED光源でよく、使用する分光領域の両端、例えば波長400nm程度の青色側や、波長700nm程度の赤色側の光源を使用すると、撮像素子24の上下端部に回折像が表示されることとなり、複数の回折像のエッジ検出によって容易に相対位置調整ができる。
これにより、0次回折像、2次回折像との距離が稼げることから、1次回折像の位置の割り出しが容易となり、相対位置調整が容易となる。
具体的な照明ユニット2としては、単波長LED光源でよく、使用する分光領域の両端、例えば波長400nm程度の青色側や、波長700nm程度の赤色側の光源を使用すると、撮像素子24の上下端部に回折像が表示されることとなり、複数の回折像のエッジ検出によって容易に相対位置調整ができる。
照明ユニット2において、さらに波長域の異なる単波長光源を加えると、図17(b)に示すような回折像が得られる。
図18に示すように、それぞれの光源の信号強度のピーク間の距離をd2、d3、光源同士の信号強度のピーク間の距離をd4とすると、これら3つの値により回折像の位置が特定できるため、これらを所定の値にすることで、X方向、Y方向、θ方向の相対位置調整が容易となる。
ここでは簡易な方法として、信号強度のピーク位置を取得することとしたが、撮像素子24から得られた信号を画像処理によって各楕円形状の1次回折像の重心位置を算出してもよい。
図18に示すように、それぞれの光源の信号強度のピーク間の距離をd2、d3、光源同士の信号強度のピーク間の距離をd4とすると、これら3つの値により回折像の位置が特定できるため、これらを所定の値にすることで、X方向、Y方向、θ方向の相対位置調整が容易となる。
ここでは簡易な方法として、信号強度のピーク位置を取得することとしたが、撮像素子24から得られた信号を画像処理によって各楕円形状の1次回折像の重心位置を算出してもよい。
用紙1までの経路に所定の波長のみを透過させる光学フィルタ38は、基板となる材料(一般的にはガラス)に光を吸収する物質を混ぜるか、基板の表面に光学薄膜を成膜する色ガラスフィルタを用いればよく、所定の波長域を透過させるものを使用する。
光学フィルタ38は複数の単波長に対応した色ガラスフィルタが組み合わされたものを使用し、処理手段35を用いて光学フィルタ38を駆動するチェンジャにより、複数の単波長を切り替えてもよい。
このような構成では、一つの照明ユニット2で複数の単波長に対応できるため、比較的寿命の短い照明ユニット2の管理が一つとなるため、設備メンテナンスコストが抑えられ好適である。
ここでは、照明ユニット2から縮小結像レンズ10の間に計測対象を介しているが、これは照明ユニット2の照射むらを低減させるためであり、必ずしも必要なものではない。
照明ユニット2の照射が均一となるように用紙1の代わりに拡散板を用いてもよい。
光学フィルタ38は複数の単波長に対応した色ガラスフィルタが組み合わされたものを使用し、処理手段35を用いて光学フィルタ38を駆動するチェンジャにより、複数の単波長を切り替えてもよい。
このような構成では、一つの照明ユニット2で複数の単波長に対応できるため、比較的寿命の短い照明ユニット2の管理が一つとなるため、設備メンテナンスコストが抑えられ好適である。
ここでは、照明ユニット2から縮小結像レンズ10の間に計測対象を介しているが、これは照明ユニット2の照射むらを低減させるためであり、必ずしも必要なものではない。
照明ユニット2の照射が均一となるように用紙1の代わりに拡散板を用いてもよい。
図19に本実施形態における調整構成を示す。所定の位置に位置決めを行った後の接合方法や調整動作は上記実施形態と同様である。
照明ユニット2に単波長光源を備えることにより、各回折像がピンポイントで投影されるため、各回折像の正確な位置を把握できる。
これにより、回折像と受光素子の位置ずれに起因する分光特性の取得精度の低下を最小限に抑えることができ、安定して高精度での分光特性の取得が可能となる。
照明ユニット2に波長の異なる複数の単波長光源を備える構成では、各回折像が複数点で投影されるため、複数点の情報により各回折像の位置をより正確に把握できる。
分光測定波長域の両端部の波長の光を使用することにより、各回折像の両端部が投影されるため、より高精度での分光特性の取得が可能となる。
照明ユニット2に単波長光源を備えることにより、各回折像がピンポイントで投影されるため、各回折像の正確な位置を把握できる。
これにより、回折像と受光素子の位置ずれに起因する分光特性の取得精度の低下を最小限に抑えることができ、安定して高精度での分光特性の取得が可能となる。
照明ユニット2に波長の異なる複数の単波長光源を備える構成では、各回折像が複数点で投影されるため、複数点の情報により各回折像の位置をより正確に把握できる。
分光測定波長域の両端部の波長の光を使用することにより、各回折像の両端部が投影されるため、より高精度での分光特性の取得が可能となる。
図20乃至図23に基づいて、第5の実施形態を説明する。
量産時においては、製造時の回折素子、スペーサ、マイクロレンズアレイの厚み誤差や回折素子のピッチ誤差が発生する。このため、サブミクロンオーダーの調整が必要な分光計測装置の高精度化を狙うに当たり、面内調整に加えて光軸方向に対応する高さ方向(Z方向)の調整も必要となる。
厚み誤差やピッチ誤差が発生するとピンボケの状態が発生し、図23に示すように、1次回折像の大きさが所定の大きさにならないことが起こる。この状態ではエリアセンサの信号値が予め設計された値と異なるため、計測精度に影響がでてしまう。その誤差を吸収するため高さ方向(Z方向)の調整も必要となる。
量産時においては、製造時の回折素子、スペーサ、マイクロレンズアレイの厚み誤差や回折素子のピッチ誤差が発生する。このため、サブミクロンオーダーの調整が必要な分光計測装置の高精度化を狙うに当たり、面内調整に加えて光軸方向に対応する高さ方向(Z方向)の調整も必要となる。
厚み誤差やピッチ誤差が発生するとピンボケの状態が発生し、図23に示すように、1次回折像の大きさが所定の大きさにならないことが起こる。この状態ではエリアセンサの信号値が予め設計された値と異なるため、計測精度に影響がでてしまう。その誤差を吸収するため高さ方向(Z方向)の調整も必要となる。
図20に示すように、本実施形態では、把持部材32はZ方向の駆動が可能な調整手段40に接続されており、部材Cと部材Dとの一体構成と部材Bとの距離を調整できるようになっている。
図9で示した面内調整方法と同様に全分光計測ユニットで同様の品質の所望の信号を取得できるように、X方向と光軸周りの回転の調整を行う。その後、Z方向の調整を行い、位置調整を完了させる。
具体的には、図21に示すように、面内調整後(S6)、調整手段40によって高さ方向(Z方向)の調整を行うようにする(S7)。所定の位置に位置決めを行った後(S8)、接着剤硬化手段36により部材Bと部材Cの接着部位を硬化させる(S9)。
図9で示した面内調整方法と同様に全分光計測ユニットで同様の品質の所望の信号を取得できるように、X方向と光軸周りの回転の調整を行う。その後、Z方向の調整を行い、位置調整を完了させる。
具体的には、図21に示すように、面内調整後(S6)、調整手段40によって高さ方向(Z方向)の調整を行うようにする(S7)。所定の位置に位置決めを行った後(S8)、接着剤硬化手段36により部材Bと部材Cの接着部位を硬化させる(S9)。
高さ方向の調整を行うことにより、部材Bと部材Cとが密着することはないが、数μmの調整であるため、接着剤層の厚み内で高さ方向の調整が可能となる。すなわち、部材Bと部材Cは接着層を介して離間した状態で固定される。
このときの接合方法は、第一の工程、第二の工程と同様である。
部材が接着層の厚み差によって位置合わせした状態を保持して接合されるので、空気層を介在することなく離間した状態で接合できるため、空気層による屈折率差が出ることなく、より高精度の接合が可能となる。
このときの接合方法は、第一の工程、第二の工程と同様である。
部材が接着層の厚み差によって位置合わせした状態を保持して接合されるので、空気層を介在することなく離間した状態で接合できるため、空気層による屈折率差が出ることなく、より高精度の接合が可能となる。
波長の異なる複数の単波長光源により、分光計測ユニットへ各回折像がピンポイント且つ複数点で投影されるため、複数点の情報により各回折像の光軸方向に対応する高さ方向のズレを正確に把握でき、製造時の厚み誤差やピッチ誤差を吸収できる。
このため、回折像と受光素子の位置ずれに起因する分光特性の取得精度の低下を最小限に抑えることができ、環境的変動があっても各部材の位置が変化せず、計測精度を長期に亘って維持できる。
このため、回折像と受光素子の位置ずれに起因する分光特性の取得精度の低下を最小限に抑えることができ、環境的変動があっても各部材の位置が変化せず、計測精度を長期に亘って維持できる。
図22に基づいて、光学フィルタ38を備えた分光計測装置5’における面内調整方法と高さ方向の調整方法を説明する。
図18で説明したように、それぞれの光源の信号強度のピーク間の距離をd2、d3、光源同士の信号強度のピーク間の距離をd4とすると、これら3つの値により回折像の位置が特定できるため、それぞれの値が複数の回折像で同一の値になるように、X方向、Y方向、θ方向の相対位置調整を行う。
次にd4の値が所定の値となるようにZ方向の相対位置調整を行う。
図18で説明したように、それぞれの光源の信号強度のピーク間の距離をd2、d3、光源同士の信号強度のピーク間の距離をd4とすると、これら3つの値により回折像の位置が特定できるため、それぞれの値が複数の回折像で同一の値になるように、X方向、Y方向、θ方向の相対位置調整を行う。
次にd4の値が所定の値となるようにZ方向の相対位置調整を行う。
図24及び図25に基づいて、第6の実施形態を説明する。
より高精度な調整を行うには、複数の回折像の全てに高さ方向の調整を行う必要があり、その場合には、あおり方向(α方向、β方向)の調整も必要となる。
図24に示すように、本実施形態では、把持部材32は、Z方向とα方向とβ方向に駆動可能な調整手段41に接続されており、部材Cと部材Dとの一体構成と部材Bとの距離とあおりを調整できるようになっている。
調整方法としては、X方向と光軸周りの回転の調整を行う。その後、Z方向とα方向とβ方向の調整を行い、位置調整を完了させる。
より高精度な調整を行うには、複数の回折像の全てに高さ方向の調整を行う必要があり、その場合には、あおり方向(α方向、β方向)の調整も必要となる。
図24に示すように、本実施形態では、把持部材32は、Z方向とα方向とβ方向に駆動可能な調整手段41に接続されており、部材Cと部材Dとの一体構成と部材Bとの距離とあおりを調整できるようになっている。
調整方法としては、X方向と光軸周りの回転の調整を行う。その後、Z方向とα方向とβ方向の調整を行い、位置調整を完了させる。
具体的には、図25に示すように、それぞれの光源の信号強度のピーク間の距離をd2、d3、光源同士の信号強度のピーク間の距離をd4、d4’とすると、d2、d3、d4のそれぞれの値が複数の回折像で同一の値になるように、X方向、Y方向、θ方向の相対位置調整を行う。
次にd2、d3、d4、d4’の値が所定の値となるようにZ方向とα方向とβ方向の相対位置調整を行う。
このほかの調整方法、接合方法は上記実施形態と同様である。光学フィルタ38を備えた分光計測装置5’においても同様に実施することができる。
複数の開口部から受光した複数の信号と、波長の異なる複数の単波長光源とにより、各回折像の光軸方向に対応する高さ方向とあおり方向のズレを正確に把握でき、製造時の厚み誤差やピッチ誤差を吸収でき、より高精度の接合が可能となる。
次にd2、d3、d4、d4’の値が所定の値となるようにZ方向とα方向とβ方向の相対位置調整を行う。
このほかの調整方法、接合方法は上記実施形態と同様である。光学フィルタ38を備えた分光計測装置5’においても同様に実施することができる。
複数の開口部から受光した複数の信号と、波長の異なる複数の単波長光源とにより、各回折像の光軸方向に対応する高さ方向とあおり方向のズレを正確に把握でき、製造時の厚み誤差やピッチ誤差を吸収でき、より高精度の接合が可能となる。
図26に第7の実施形態(画像形成装置)を示す。
画像形成装置本体60の中央部には、像担持体としての感光体ドラム62Y、62M、62C、62Kが配置されている。符号Yはトナーの色がイエローであることを、Mはトナーの色がマゼンタであることを、Cはトナーの色がシアンであることを、Kはトナーの色がブラックであることをそれぞれ示している。
各感光体ドラムの周囲には、帯電手段、現像手段、クリーニング手段、感光体初期化手段等が配置されており、周知の作像ユニットを構成している。
画像情報に基づいて露光装置64から各感光体ドラムに色別の走査光が照射され、静電潜像が形成される。各静電潜像は対応する色のトナーで現像され、可視像となる。
各感光体ドラム上に形成されたトナー像は、中間転写ベルト66上に重ね合わせて転写される。
画像形成装置本体60の中央部には、像担持体としての感光体ドラム62Y、62M、62C、62Kが配置されている。符号Yはトナーの色がイエローであることを、Mはトナーの色がマゼンタであることを、Cはトナーの色がシアンであることを、Kはトナーの色がブラックであることをそれぞれ示している。
各感光体ドラムの周囲には、帯電手段、現像手段、クリーニング手段、感光体初期化手段等が配置されており、周知の作像ユニットを構成している。
画像情報に基づいて露光装置64から各感光体ドラムに色別の走査光が照射され、静電潜像が形成される。各静電潜像は対応する色のトナーで現像され、可視像となる。
各感光体ドラム上に形成されたトナー像は、中間転写ベルト66上に重ね合わせて転写される。
画像形成装置本体60の下部には転写体としての用紙1が収容された給紙カセット68が設けられている。用紙1は最上のものから順に給紙され、レジストローラ対70でタイミングをとって二次転写部位72に搬送される。
用紙1は二次転写部位72で中間転写ベルト66上の重ね合わせ画像を転写された後、定着装置74に送られる。定着を終えた用紙1は排紙ローラ対76により画像形成装置本体60の上面に排出される。
定着装置74の用紙搬送方向下流側には、用紙1の画像面に対向するように分光計測装置5が配置されている。
分光計測装置5による計測データは制御手段78に送られる。制御手段78は画像評価装置として機能し、色再現性を向上させるべく評価結果に基づいて作像条件を調整する。
分光計測装置5で取得した分光特性から画像形成装置の画像形成条件を調整することにより、出力する画像の色が高精度で安定する。
用紙1は二次転写部位72で中間転写ベルト66上の重ね合わせ画像を転写された後、定着装置74に送られる。定着を終えた用紙1は排紙ローラ対76により画像形成装置本体60の上面に排出される。
定着装置74の用紙搬送方向下流側には、用紙1の画像面に対向するように分光計測装置5が配置されている。
分光計測装置5による計測データは制御手段78に送られる。制御手段78は画像評価装置として機能し、色再現性を向上させるべく評価結果に基づいて作像条件を調整する。
分光計測装置5で取得した分光特性から画像形成装置の画像形成条件を調整することにより、出力する画像の色が高精度で安定する。
市場には、プリンタ、複写機、それらと通信機能を有する高付加価値製品である複合機、商業用印刷機など多くの画像形成製品がある。画像形成方法においても、電子写真方式、インクジェット方式、感熱方式等様々である。
プロダクションプリンティング分野においても枚葉機、連帳機共にデジタル化が進み、電子写真方式、インクジェット方式などの製品が多く市場に投入されている。
ユーザーニーズもモノクロ印刷からカラー印刷への移行における画像の多次元化、高精細、高密度化が進んでいる。写真高画質プリント、カタログ印刷、請求書等への個人嗜好に対応した広告掲載等、消費者の手元に届くサービス形態の多様化が進み、高画質、個人情報の保証、色再現への要求も高まっている。
プロダクションプリンティング分野においても枚葉機、連帳機共にデジタル化が進み、電子写真方式、インクジェット方式などの製品が多く市場に投入されている。
ユーザーニーズもモノクロ印刷からカラー印刷への移行における画像の多次元化、高精細、高密度化が進んでいる。写真高画質プリント、カタログ印刷、請求書等への個人嗜好に対応した広告掲載等、消費者の手元に届くサービス形態の多様化が進み、高画質、個人情報の保証、色再現への要求も高まっている。
高画質化に対応した技術として、電子写真方式では中間転写体や感光体上の定着前のトナー濃度を検知する濃度センサを搭載してトナー供給量を安定化するものが知られている。
個人情報の保証では画像形成方式によらず出力画像をカメラ等で撮像し文字認識や画像間差分による差異検出で検査するものが知られている。
色再現ではカラーのトナーパターンを出力し、分光計測装置で一点又は複数点の色計測を実行し、キャリブレーションを行うもの等が市場に投入されている。
これらの技術は、ページ間、ページ内での画像変動に対応するため、上記のように、画像全域で実行されることが望ましい。
個人情報の保証では画像形成方式によらず出力画像をカメラ等で撮像し文字認識や画像間差分による差異検出で検査するものが知られている。
色再現ではカラーのトナーパターンを出力し、分光計測装置で一点又は複数点の色計測を実行し、キャリブレーションを行うもの等が市場に投入されている。
これらの技術は、ページ間、ページ内での画像変動に対応するため、上記のように、画像全域で実行されることが望ましい。
以上、本発明の好ましい実施の形態について説明したが、本発明はかかる特定の実施形態に限定されるものではなく、上述の説明で特に限定しない限り、特許請求の範囲に記載された本発明の趣旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
本発明の実施の形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を例示したに過ぎず、本発明による効果は、本発明の実施の形態に記載されたものに限定されるものではない。
本発明の実施の形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を例示したに過ぎず、本発明による効果は、本発明の実施の形態に記載されたものに限定されるものではない。
1 転写体としての用紙
2 光照射手段としての照明ユニット
5、5’ 分光計測装置
20 分光計測ユニット
21 開口部としてのピンホールアレイ
22 結像手段としてのレンズアレイ
23 回折手段としての回折素子
24 受光手段としての撮像素子
30 アライメントマーク
38 フィルタ
62 像担持体としての感光体ドラム
2 光照射手段としての照明ユニット
5、5’ 分光計測装置
20 分光計測ユニット
21 開口部としてのピンホールアレイ
22 結像手段としてのレンズアレイ
23 回折手段としての回折素子
24 受光手段としての撮像素子
30 アライメントマーク
38 フィルタ
62 像担持体としての感光体ドラム
Claims (11)
- 光照射手段から計測対象に照射された光の反射光が通過する開口部と、前記開口部を通過した光が結像する結像手段と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第一の工程と、
前記結像手段により結像された反射光を回折させて回折像を形成する回折手段と、前記回折像を複数の画素に相当する複数の受光素子で受光する受光手段と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第二の工程と、
第一の工程で接合された部材と、第二の工程で接合された部材と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第三の工程と、を有し、
第一の工程では、前記開口部と前記結像手段とにそれぞれ形成されたアライメントマークを撮像手段で撮像しながら前記開口部と前記結像手段との位置合わせをした後接合する分光計測装置の製造方法。 - 光照射手段から計測対象に照射された光の反射光が通過する開口部と、前記開口部を通過した光が結像する結像手段と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第一の工程と、
第一の工程で接合された部材と、前記結像手段により結像された反射光を回折させて回折像を形成する回折手段と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第二の工程と、
第二の工程で接合された部材と、前記回折像を複数の画素に相当する複数の受光素子で受光する受光手段と、を前記反射光の進行方向に重ね合わせて接合する第三の工程と、を有し、
第一の工程では、前記開口部と前記結像手段とにそれぞれ形成されたアライメントマークを撮像手段で撮像しながら前記開口部と前記結像手段との位置合わせをした後接合する分光計測装置の製造方法。 - 請求項1又は2に記載の分光計測装置の製造方法において、
第三の工程では、前記光照射手段から照射された光の反射光を前記受光手段で受光しながら、受光光量に応じた信号に基づいて位置合わせをした後接合する分光計測装置の製造方法。 - 請求項3に記載の分光計測装置の製造方法において、
前記光照射手段から単波長の光を照射する分光計測装置の製造方法。 - 請求項4に記載の分光計測装置の製造方法において、
前記光照射手段は波長の異なる単波長光源を複数備えており、前記受光手段で受光した、それぞれの波長ごとの信号に基づいて前記反射光の進行方向の位置合わせをする分光計測装置の製造方法。 - 請求項5に記載の分光計測装置の製造方法において、
前記複数の開口部から前記受光手段で受光した複数の信号と、それぞれの波長ごとの信号とに基づいて前記反射光の進行方向とあおり方向の位置合わせをする分光計測装置の製造方法。 - 光照射手段と、
前記光照射手段から照射された光の反射光を受光する分光計測ユニットと、
を有し、
前記分光計測ユニットは、前記光照射手段から計測対象に照射された光の反射光が通過する開口部と、前記開口部を通過した光が結像する結像手段と、前記結像手段により結像された反射光を回折させて回折像を形成する回折手段と、前記回折像を複数の画素で受光する受光手段と、を備え、前記開口部、結像手段、回折手段及び受光手段がそれぞれ相対的に位置決めされた状態で前記反射光の進行方向に積層されて一体化され、
前記光照射手段は単波長光源を備えている分光計測装置。 - 請求項7に記載の分光計測装置において、
前記光照射手段は、波長の異なる単波長光源を複数備えている分光計測装置。 - 請求項7に記載の分光計測装置において、
前記光照射手段は、白色光源と、所定の波長の光のみを透過させるフィルタとを備えている分光計測装置。 - 請求項7に記載の分光計測装置において、
前記光照射手段は、分光測定波長域の両端部の波長の光を射出する分光計測装置。 - 像担持体と、
前記像担持体に形成された画像が転写される転写体と、
前記画像が転写された前記転写体の表面に光を照射し、前記転写体からの反射光を受光して前記転写体の表面の分光特性を取得する分光計測装置と、
を有し、
前記分光計測装置が、請求項7〜10のいずれか1つに記載のものである画像形成装置。
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ID=56983667
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015096702A Pending JP2016170158A (ja) | 2014-12-02 | 2015-05-11 | 分光計測装置の製造方法、分光計測装置及び画像形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016170158A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020153814A (ja) * | 2019-03-20 | 2020-09-24 | 株式会社リコー | 分光特性取得装置 |
JP2021021704A (ja) * | 2019-07-30 | 2021-02-18 | 株式会社リコー | 分光素子、分光計測装置、画像評価装置および画像形成装置 |
-
2015
- 2015-05-11 JP JP2015096702A patent/JP2016170158A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020153814A (ja) * | 2019-03-20 | 2020-09-24 | 株式会社リコー | 分光特性取得装置 |
JP2021021704A (ja) * | 2019-07-30 | 2021-02-18 | 株式会社リコー | 分光素子、分光計測装置、画像評価装置および画像形成装置 |
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