JP2016159401A - Cutter - Google Patents
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Abstract
Description
本願発明は、ダイヤモンドカッター等のカッターに関する。 The present invention relates to a cutter such as a diamond cutter.
例えば、4型(φ105)〜8型(φ203)のダイヤモンドカッターは、給水のない乾式により、コンクリートの建物、橋脚、護岸等の構造物や、コンクリートブロック、墓石、石材建材等の石材、瓦、煉瓦等の窯業製品の切断に用いられる。 For example, diamond cutters of type 4 (φ105) to type 8 (φ203) are made by dry methods without water supply, such as concrete buildings, piers, revetments, etc., stone blocks such as concrete blocks, gravestones, stone building materials, tiles, Used for cutting ceramic products such as bricks.
ここで、押圧力を一定とした場合、ダイヤモンドカッターとワーク(被切断物)との接触面積の大小が、切断スピードに影響を及ぼす。当然、ダイヤモンドカッターは、接触面積を小さくした方が、切断スピードが速くなる。例えば、特許文献1,2に記載のダイヤモンドカッター9は、接触面積を小さくするため、外周部に形成されたチップ91よりも薄い基板(薄刃基板)90を採用したものである(図8参照)。
Here, when the pressing force is constant, the size of the contact area between the diamond cutter and the work (cut object) affects the cutting speed. Naturally, the diamond cutter has a higher cutting speed when the contact area is reduced. For example, the diamond cutter 9 described in
しかし、前記した従来技術は、チップ91に合わせて基板90を薄くしたため、基板90の強度が不足する。その結果、前記した従来技術は、基板90の推力(基板90を切断方向に押す力)が弱くなり、切れ味が低下する。一方、基板90を厚くすると、クリアランスCが少なくなり、切断時に基板90の基板面(側面)とワークとが擦れて抵抗となり、基板90が摩擦熱で加熱されて腰抜けや熱割れを引き起こし、切れ味も低下する。
なお、クリアランスCとは、基板90の基板面とチップ91の側面との厚みの差である。
However, in the above-described conventional technology, since the
The clearance C is a difference in thickness between the substrate surface of the
そこで、本願発明は、薄く、切れ味が良いカッターを提供することを課題とする。 Then, this invention makes it a subject to provide a cutter with thin and good sharpness.
前記した課題に鑑みて、本願第1発明に係るカッターは、中央に電動工具に接続する軸孔が設けられた円板状の基板と、前記基板の外周部に設けられたチップとを備えるカッターにおいて、前記基板は、前記チップに向かって板厚が薄くなるように傾斜させたテーパーが含まれる構成とした。 In view of the problems described above, a cutter according to the first invention of the present application includes a disk-shaped substrate provided with a shaft hole connected to an electric tool at the center, and a chip provided on an outer peripheral portion of the substrate. The substrate includes a taper that is inclined so that the thickness of the substrate decreases toward the chip.
かかる構成によれば、カッターは、基板にテーパーを形成したので、基板の中央部を厚く、かつ、基板の外周部を薄くできるので、基板の強度を維持しつつ、クリアランスを確保することができる。 According to such a configuration, since the taper is formed on the substrate, the center portion of the substrate can be thickened and the outer peripheral portion of the substrate can be thinned, so that the clearance can be secured while maintaining the strength of the substrate. .
本願第2発明に係るカッターは、前記基板が、前記軸孔から所定の切り込み深さよりも前記軸孔に近い側まで形成された平坦部と、前記平坦部から前記チップまで形成された前記テーパーと、を備えることを特徴とする。
かかる構成によれば、カッターは、基板の基板面とワークとの接触を低減することができる。
The cutter according to the second invention of the present application includes a flat portion in which the substrate is formed from the shaft hole to a side closer to the shaft hole than a predetermined cutting depth, and the taper formed from the flat portion to the chip. It is characterized by providing.
According to this configuration, the cutter can reduce contact between the substrate surface of the substrate and the workpiece.
本願第3発明に係るカッターは、前記基板が、前記軸孔から所定の切り込み深さよりも前記軸孔に近い側まで形成された平坦部と、前記平坦部から段差を設けて形成された、前記チップより薄い薄肉部と、前記薄肉部から前記チップまで形成された前記テーパーと、を備えることを特徴とする。
かかる構成によれば、カッターは、基板の基板面とワークとの接触を低減することができる。
In the cutter according to the third invention of the present application, the substrate is formed by providing a flat portion formed from the shaft hole to a side closer to the shaft hole than a predetermined cutting depth, and a step from the flat portion. It is characterized by comprising a thin part thinner than the chip and the taper formed from the thin part to the chip.
According to this configuration, the cutter can reduce contact between the substrate surface of the substrate and the workpiece.
本願第4発明に係るカッターは、前記基板に、片面又は両面に前記テーパーが形成されたことを特徴とする。
かかる構成によれば、カッターは、容易なテーパー加工により製造することができる。
The cutter according to the fourth invention of the present application is characterized in that the taper is formed on one side or both sides of the substrate.
According to this configuration, the cutter can be manufactured by an easy taper process.
本願発明によれば、以下のような優れた効果を奏する。
本願第1発明に係るカッターは、基板の強度を維持しつつ、クリアランスを確保できるので、薄く、切れ味を良くすることができる。
According to the present invention, the following excellent effects can be obtained.
Since the cutter according to the first invention of the present application can secure the clearance while maintaining the strength of the substrate, the cutter can be made thin and sharp.
本願第2,3発明に係るカッターは、切断時に基板の基板面とワークとの接触を低減できるので、切れ味をより向上させ、切断スピードを速くすることができる。
本願第4発明に係るカッターは、テーパー加工が容易なため、製造コストを抑えることができる。
Since the cutter according to the second and third inventions of the present application can reduce the contact between the substrate surface of the substrate and the workpiece at the time of cutting, the sharpness can be further improved and the cutting speed can be increased.
Since the cutter according to the fourth invention of the present application is easy to taper, the manufacturing cost can be reduced.
以下、本願発明の各実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各実施形態において、同一の部材には同一の符号を付し、説明を省略した。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as appropriate. In each embodiment, the same member is denoted by the same reference numeral, and the description thereof is omitted.
(第1実施形態)
図1を参照し、本願発明の第1実施形態に係るダイヤモンドカッター(カッター)1について説明する。
図1のように、ダイヤモンドカッター1は、コンクリート、石材、瓦、タイル等のワークW(図4)を切断するものであり、基板10と、チップ20とを備える。
(First embodiment)
A diamond cutter (cutter) 1 according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 1, the
基板10は、円板状の薄い鋼板とし、中央にはディスクグラインダ(電動工具)100のスピンドル101に接続する軸孔11が形成されている(図4)。また、基板10は、外周部12に一定間隔で切欠き13が12個形成されている。
なお、基板10の詳細は、後記する。
The
Details of the
チップ20は、基板10の外周部12に形成される。本実施形態では、チップ20は、切欠き13の間に形成されている。例えば、チップ20は、ダイヤモンド粒子を焼結したダイヤモンド含有焼結チップである。
The
<基板の構造>
図2,図3を参照し、基板10の構造について説明する(適宜図1参照)。
図2のように、基板10は、両面が平坦な平坦部14と、チップ20に向かって板厚が薄くなるように傾斜させたテーパー15とを備える。
<Substrate structure>
The structure of the
As shown in FIG. 2, the
平坦部14は、軸孔11から連続して、切り込み深さDよりも軸孔11に近い側まで形成されている。本実施形態では、平坦部14は、チップ20と同じ厚みを有するように形成されている。
なお、切り込み深さDとは、チップ20の先端を基準として、基板10の半径方向にダイヤモンドカッター1をワークWに切り込ませることができる最大の深さである。
The
The cutting depth D is the maximum depth at which the
テーパー15は、基板10の両面に、軸孔11の側で基板10が厚くなり、外周部12の側で基板10が薄くなるように形成されている。また、テーパー15は、軸孔11の側で平坦部14に接続され、外周部12にチップ20が形成されている。図3のように、テーパー15は、平坦部14での平坦面(基板面)に対し、傾斜角θだけ傾斜している。
The
本実施形態では、テーパー15は、切り込み深さDよりも軸孔11に近い側から形成されている。
ここで、基板10は、軸孔11に近い程、その基板面とワークWとの接触が少なく、外周部12に近い程、基板面とワークWとの接触が多くなる。このため、テーパー15は、ディスクグラインダ100に接続するためのフランジ(不図示)と、切り込み深さDとの間から形成してもよい。
In the present embodiment, the
Here, the closer the
例えば、ダイヤモンドカッター1の直径がφ105であり、切り込み深さDが25mmであることとする。この場合、基板10の直径がφ91であり、軸孔11の直径がφ20であり、チップ20の厚さが1.2mmである。また、軸孔11の中心からφ50の位置まで平坦部14が形成され、平坦部14の厚さが1.2mmである。さらに、φ50の位置からφ91の位置まで、テーパー15が形成される。このテーパー15は、外周部12における厚さが0.8mmであり、傾斜角θが0.56°である。
For example, it is assumed that the diameter of the
<ダイヤモンドカッターの使用法>
図4,図5を参照し、ダイヤモンドカッター1の使用法について説明する(適宜図2参照)。
図4のように、ダイヤモンドカッター1は、接続用の軸孔11にディスクグラインダ100のスピンドル101が挿入され、ナット102で固定される。そして、ベース(不図示)の上にワークWを固定し、回転起動のスイッチを入れてダイヤモンドカッター1を回転させる。そして、ディスクグラインダ100に取り付けたダイヤモンドカッター1の刃先をワークWに切り込んでいくと、ダイヤモンドカッター1のチップ20によりワークWが切断される。
<Usage of diamond cutter>
The usage of the
As shown in FIG. 4, in the
図5のように、ダイヤモンドカッター1は、切り込み深さDよりもテーパー15が軸孔11の側まで形成されているため、切断時、クリアランスを維持でき、基板10がワークWに接触することが少ない。これにより、ダイヤモンドカッター1は、切断時に受ける摩擦抵抗が減少し、切断スピートが速くなる。さらに、ダイヤモンドカッター1は、発熱(蓄熱)が減少するので基板10の強度を維持できると共に、熱歪も減少するので切断線に沿った正確な切断が可能となる。
As shown in FIG. 5, in the
さらに、ダイヤモンドカッター1は、軸孔11の側が厚く、外周部12の側が薄くなっているので、基板10の強度が高く、推力を維持することができる。このように、ダイヤモンドカッター1は、基板10の薄さと、切れ味の良さとを両立することができる。
Furthermore, since the
(第2実施形態)
図6を参照し、本願発明の第2実施形態に係るダイヤモンドカッター1Bについて、第1実施形態と異なる点を説明する(適宜図2参照)。
本実施形態では、片面のみにテーパー15Bを形成した点が、第1実施形態と異なる。
(Second Embodiment)
With reference to FIG. 6, a different point from 1st Embodiment is demonstrated about the
This embodiment is different from the first embodiment in that the
図6のように、ダイヤモンドカッター1Bは、平坦部14がチップ20Bよりも薄くなっている。また、テーパー15Bは、基板10の片面に、切り込み深さDよりも軸孔11に近い側から形成されている。そして、ダイヤモンドカッター1Bは、テーパー15Bが形成されていない側の基板面がワークWに接触しないように、クリアランスCが設けられている。
As shown in FIG. 6, in the
例えば、ダイヤモンドカッター1Bの直径がφ105であり、切り込み深さが25mmであることとする。この場合、チップ20Bの厚さが1.4mmであり、平坦部14の厚さが1.2mmである。従って、クリアランスCが0.2mmとなる。また、テーパー15Bは、外周部12における厚さが0.8mmであり、傾斜角が1.12°である。
For example, the diameter of the
以上のように、本願発明の第2実施形態に係るダイヤモンドカッター1Bは、第1実施形態と同様の効果を奏する。
さらに、ダイヤモンドカッター1Bは、片面のみにテーパー15Bを形成すればよいので、製造が容易であり、コストが抑えられる。
As described above, the
Furthermore, since the
(第3実施形態)
図7を参照し、本願発明の第3実施形態に係るダイヤモンドカッター1Cについて、第1実施形態と異なる点を説明する(適宜図2参照)。
本実施形態では、平坦部14とテーパー15との間に薄肉部16を形成した点が、第1実施形態と異なる。
(Third embodiment)
With reference to FIG. 7, a different point from 1st Embodiment is demonstrated about the
The present embodiment is different from the first embodiment in that a
図7のように、薄肉部16は、基板10の両面に、平坦部14から段差を設けて形成されている。つまり、薄肉部16は、基板10の板厚を平坦部14よりも一段薄くしたものである。また、薄肉部16は、軸孔11の側で平坦部14に接続され、外周部12の側でテーパー15に接続されている。
As shown in FIG. 7, the
本実施形態では、薄肉部16は、切り込み深さDよりも軸孔11に近い側から形成されている。さらに、薄肉部16は、前記したフランジと、切り込み深さDとの間から形成してもよい。
In the present embodiment, the
例えば、ダイヤモンドカッター1Cの直径がφ105であり、切り込み深さDが25mmであることとする。この場合、軸孔11の中心からφ40の位置まで平坦部14が形成され、平坦部14の厚さが1.2mmである。また、φ40の位置からφ60の位置まで薄肉部16が形成され、薄肉部16の厚さが1.1mmである。さらに、φ60の位置からφ91の位置まで、テーパー15が形成される。このテーパー15は、外周部12における厚さが0.8mmであり、傾斜角θが0.56°である。
For example, the diameter of the
以上のように、本願発明の第3実施形態に係るダイヤモンドカッター1Cは、第1実施形態と同様の効果を奏する。
さらに、ダイヤモンドカッター1Cは、薄肉部16を形成したことで、切断時に基板とワークとの接触を大幅に低減できる。これにより、ダイヤモンドカッター1Cは、切れ味をより向上させ、切断スピードを速くすることができる。
As described above, the
Furthermore, the
(実施例)
以下、本願発明の実施例として、本願発明の第1実施形態に係るダイヤモンドカッターの座屈測定試験及び切断試験の結果について説明する。
(Example)
Hereinafter, the results of the buckling measurement test and the cutting test of the diamond cutter according to the first embodiment of the present invention will be described as examples of the present invention.
下記の表1のとおり、4種類の基板に対し、座屈測定試験及び切断試験を行った。
テーパーを形成した基板(テーパ基板)を実施例1とし、実施例1に焼入れ処理を加えた基板(焼入れテーパ基板)を実施例2とする。この実施例1、2における基板の構造、寸法は、第1実施形態で例示したものと同寸である。また、実施例2では、850℃で焼入れを行った後、焼き戻しを行った。
As shown in Table 1 below, a buckling measurement test and a cutting test were performed on four types of substrates.
A substrate on which a taper is formed (taper substrate) is referred to as Example 1, and a substrate (quenched taper substrate) obtained by adding a quenching process to Example 1 is referred to as Example 2. The structures and dimensions of the substrates in Examples 1 and 2 are the same as those exemplified in the first embodiment. In Example 2, tempering was performed after quenching at 850 ° C.
また、実施例1,2との比較対象として、下記の比較例1,2についても、座屈測定試験及び切断試験を行った。
軸孔から外周部までが同一の板厚の基板(一般基板)を比較例1とし、比較例1よりも板厚が薄い基板(薄刃基板)を比較例2とする。
Moreover, the buckling measurement test and the cutting test were also performed on the following comparative examples 1 and 2 as comparison objects with the examples 1 and 2.
A substrate (general substrate) having the same plate thickness from the shaft hole to the outer peripheral portion is referred to as Comparative Example 1, and a substrate (thin blade substrate) having a plate thickness smaller than that of Comparative Example 1 is referred to as Comparative Example 2.
座屈測定試験では、基板の座屈強度を測定した。このとき、座屈測定器として、株式会社島津製作所の万能測定器(AG−25TA)を用いた。そして、座屈測定治具に基板を設置した状態で、万能測定器を60秒あたり1mm動かして基板の半径方向から圧縮荷重を加え、そのときの降伏点を測定した。
なお、座屈測定試験は、基板にチップが形成されていない状態で試験を行った。
In the buckling measurement test, the buckling strength of the substrate was measured. At this time, a universal measuring instrument (AG-25TA) manufactured by Shimadzu Corporation was used as a buckling measuring instrument. Then, with the substrate placed on the buckling measurement jig, the universal measuring instrument was moved 1 mm per 60 seconds to apply a compressive load from the radial direction of the substrate, and the yield point at that time was measured.
The buckling measurement test was performed in a state where no chip was formed on the substrate.
切断試験では、カッターでワークを切断する速度を測定した。このとき、ワークとして、呼び強度30N、横100cm、縦30cm、奥行き15cmのコンクリートを用いた。また、切り込み深さは、奥行き方向に25mmとした。そして、このワークを縦方向に30cm切断するのに要する時間を測定した。この試験を60回繰り返し、合計18mの切断を行った。そして、30cmの切断に要した秒数を60回分平均し、切断時間として求めた。
なお、切断試験は、基板の外周部にチップが形成された状態で試験を行った。また、各基板に形成したチップは、同一のダイヤモンド含有焼結チップである。
In the cutting test, the speed at which the workpiece was cut with a cutter was measured. At this time, concrete having a nominal strength of 30 N, a width of 100 cm, a length of 30 cm, and a depth of 15 cm was used. The depth of cut was 25 mm in the depth direction. Then, the time required to cut the workpiece 30 cm in the vertical direction was measured. This test was repeated 60 times, and a total of 18 m was cut. Then, the number of seconds required for cutting 30 cm was averaged for 60 times to obtain the cutting time.
The cutting test was performed in a state where chips were formed on the outer peripheral portion of the substrate. Moreover, the chip | tip formed in each board | substrate is the same diamond containing sintering chip | tip.
表1のように、実施例1,2及び比較例1,2について、試験対象の材質、外形、基板厚み、硬度、座屈測定試験での降伏点及び降伏点比率、切断試験での切断時間を示した。
実施例1,2では、基板厚みは、テーパー先端の厚みが0.8mmであり、平坦部の厚みが1.2mmであることを表している。
また、降伏点比率は、比較例1を基準とした比較例2及び実施例1,2の降伏点の比率を表している。
As shown in Table 1, with respect to Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2, the material to be tested, the outer shape, the substrate thickness, the hardness, the yield point in the buckling measurement test and the yield point ratio, the cutting time in the cutting test showed that.
In Examples 1 and 2, the substrate thickness indicates that the taper tip has a thickness of 0.8 mm and the flat portion has a thickness of 1.2 mm.
The yield point ratio represents the ratio of the yield points of Comparative Example 2 and Examples 1 and 2 with Comparative Example 1 as a reference.
座屈測定試験では、実施例1,2及び比較例1,2の何れも、切欠きの先端部で基板10が折れ曲がった。
比較例1は、基板が最も厚いので降伏点が高く、比較例2と比べて、降伏点が約2倍になった。また、比較例1は、基板の推力が高いことから、切断時間も速くなった。
比較例2は、基板が最も薄いため、降伏点が最低となった。また、比較例2は、基板の推力が低いことから、切断時間が遅くなった。
In the buckling measurement test, in each of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2, the
In Comparative Example 1, the yield point was high because the substrate was the thickest, and the yield point was about twice that of Comparative Example 2. Moreover, since the comparative example 1 had the high thrust of a board | substrate, the cutting time became quick.
In Comparative Example 2, since the substrate was the thinnest, the yield point was the lowest. In Comparative Example 2, the cutting time was delayed because the thrust of the substrate was low.
実施例1は、基板先端が0.8mmと薄いにも関わらず、テーパーの効果により降伏点が、比較例1に対して約0.9倍、比較例2に対しては約1.8倍となった。また、実施例1は、基板の推力が高いことから、切断時間も速くなった。
実施例2は、焼入れの効果により硬度が向上し、実施例1よりも降伏点が高くなった。また、実施例2は、実施例1と同等の切断時間になった。
以上のように、実施例1,2は、比較例1,2と比べて、基板の薄さと、切れ味の良さとを両立できることが分かった。
In Example 1, although the tip of the substrate is as thin as 0.8 mm, the yield point is about 0.9 times that of Comparative Example 1 and about 1.8 times that of Comparative Example 2 due to the taper effect. It became. In Example 1, since the thrust of the substrate was high, the cutting time was also fast.
In Example 2, the hardness was improved by the effect of quenching, and the yield point was higher than in Example 1. In addition, the cutting time of Example 2 was the same as that of Example 1.
As described above, it was found that Examples 1 and 2 can achieve both a thin substrate and good sharpness as compared with Comparative Examples 1 and 2.
(変形例)
以上、本願発明の各実施形態を詳述してきたが、本願発明は前記した実施形態に限られるものではなく、本願発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
(Modification)
As mentioned above, although each embodiment of this invention was explained in full detail, this invention is not limited to above-described embodiment, The design change etc. of the range which does not deviate from the summary of this invention are also included.
本願発明に係るカッターは、4型(φ105)〜8型(φ203)に限定されないことは言うまでもない。例えば、本願発明に係るカッターは、4型以下又は8型以上であってもよい。 Needless to say, the cutter according to the present invention is not limited to 4 type (φ105) to 8 type (φ203). For example, the cutter according to the present invention may be 4 type or less or 8 type or more.
本願発明に係るカッターは、平坦部の厚さが制限されず、チップより薄く又は厚くてもよい。
本願発明に係るカッターは、チップの厚さが限定されず、例えば、1.4mmであってもよい。
In the cutter according to the present invention, the thickness of the flat portion is not limited, and may be thinner or thicker than the chip.
The thickness of the tip of the cutter according to the present invention is not limited, and may be 1.4 mm, for example.
本願発明に係るカッターは、切欠きの形状が限定されず、例えば、ストレート状であってもよい。
本願発明に係るカッターは、切欠きの個数が限定されず、例えば、8個であってもよい。さらに、本願発明に係るカッターは、切欠きを基板に形成しなくともよい。
The cutter according to the present invention is not limited to the shape of the notch, and may be, for example, a straight shape.
The number of notches in the cutter according to the present invention is not limited, and may be eight, for example. Furthermore, the cutter according to the present invention does not need to form a notch in the substrate.
前記した第3実施形態では、平坦部と薄肉部との境界が直角に形成されているが、本願発明に係るカッターは、これに限定されない。
例えば、本願発明に係るカッターは、平坦部と薄肉部との境界をテーパー又は曲線で形成してもよい。これにより、本願発明に係るカッターは、平坦部と薄肉部との境界への応力集中を抑制できるので、基板の疲労強度が増加し、基板の寿命を延ばすことができる。
In the above-described third embodiment, the boundary between the flat portion and the thin portion is formed at a right angle, but the cutter according to the present invention is not limited to this.
For example, the cutter according to the present invention may form a boundary between the flat portion and the thin portion with a taper or a curve. Thereby, since the cutter concerning this invention can suppress the stress concentration to the boundary of a flat part and a thin part, the fatigue strength of a board | substrate can increase and the lifetime of a board | substrate can be extended.
1,1B,1C ダイヤモンドカッター(カッター)
10 基板
11 軸孔
12 外周部
13 切欠き
14 平坦部
16 薄肉部
15,15B テーパー
20,20B チップ
1,1B, 1C Diamond cutter (cutter)
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記基板は、前記チップに向かって板厚が薄くなるように傾斜させたテーパーが含まれることを特徴とするカッター。 In a cutter comprising a disk-shaped substrate provided with a shaft hole connected to an electric tool in the center, and a chip provided on the outer peripheral portion of the substrate,
The cutter is characterized in that the substrate includes a taper that is inclined so that the plate thickness becomes thinner toward the chip.
前記軸孔から所定の切り込み深さよりも前記軸孔に近い側まで形成された平坦部と、
前記平坦部から前記チップまで形成された前記テーパーと、を備えることを特徴とする請求項1に記載のカッター。 The substrate is
A flat portion formed from the shaft hole to a side closer to the shaft hole than a predetermined cutting depth;
The cutter according to claim 1, further comprising: the taper formed from the flat portion to the tip.
前記軸孔から所定の切り込み深さよりも前記軸孔に近い側まで形成された平坦部と、
前記平坦部から段差を設けて形成された、前記チップより薄い薄肉部と、
前記薄肉部から前記チップまで形成された前記テーパーと、を備えることを特徴とする請求項1に記載のカッター。 The substrate is
A flat portion formed from the shaft hole to a side closer to the shaft hole than a predetermined cutting depth;
A thin portion formed thinner than the chip, formed with a step from the flat portion,
The cutter according to claim 1, further comprising: the taper formed from the thin portion to the tip.
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2015
- 2015-03-03 JP JP2015041025A patent/JP2016159401A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP7441563B1 (en) | 2023-03-27 | 2024-03-01 | 株式会社エアテックジャパン | Roughing tool |
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