JP2016156678A - 粉体の付着力測定方法及び恒温恒湿空間形成冶具 - Google Patents

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香 渡辺
尚宏 挾間
Naohiro Hazama
尚宏 挾間
優人 細野
Yuto Hosono
優人 細野
幹夫 酒井
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【課題】粉体の付着力を精度良く測定することができる粉体の付着力測定方法を提供する。【解決手段】原子間力顕微鏡2を用いて粉体7,13の付着力を測定する粉体の付着力測定方法において、カンチレバー6の探針6aに前記粉体を取り付ける工程と、前記原子間力顕微鏡の測定領域18内に恒温恒湿空間20を形成するための恒温恒湿空間形成冶具12を前記原子間力顕微鏡に取り付ける工程と、前記粉体が固定された基材11を前記恒温恒湿空間内に配置する工程と、少なくとも前記カンチレバー及び前記基材を前記恒温恒湿空間内に収容し、前記恒温恒湿空間を密閉する工程と、前記恒温恒湿空間内の温度と湿度を制御する工程と、前記恒温恒湿空間内において、前記探針に取り付けられた前記粉体を前記基材上に固定された前記粉体に付着させた後に引き離すときの前記探針のたわみ量を検出する工程と、該検出結果に基づいて前記粉体の付着力を求める工程とを含む。【選択図】図1

Description

本発明は、原子間力顕微鏡を用いて粉体の付着力を測定する粉体の付着力測定方法及び原子間力顕微鏡の測定領域内に恒温恒湿空間を形成する恒温恒湿空間形成冶具に関するものである。
原子間力顕微鏡は、試料の表面粗さを測定する場合だけでなく、粉体の付着力を測定する場合にも利用されている。例えば特許文献1には、原子間力顕微鏡を用いてトナー等の粉体とトナー回収ローラなどの部材との付着力を測定する方法について開示されている。特許文献1記載の粉体の付着力測定方法によれば、カンチレバー先端に対象の粉体を取り付け、カンチレバー先端と対象の部材との離間、接触、離間を連続して行う。そして、カンチレバー先端と対象の部材との離間の瞬間のカンチレバーのたわみ量から、粉体と対象の部材との付着力を測定する。
特許第5263656号公報
ところで、粉体の付着力は湿度の影響を受け変化する。しかしながら、従来の原子間力顕微鏡においては、カンチレバー先端やカンチレバー先端が接触する部材などが配置されている測定領域は、密閉されておらず、原子間力顕微鏡が設置されている室内の雰囲気下にある。したがって、この雰囲気下で粉体の付着力の測定を行わなければならず、例えば季節等による湿度変化により測定結果が大きく変動する場合があった。また、湿度を制御するために例えば加湿された空気を測定領域に送り込んで粉体の付着力を測定した場合、気流の影響でカンチレバー先端等が振動するため、適切な測定結果を得ることができなかった。
本発明の目的は、粉体の付着力を精度良く測定することができる粉体の付着力測定方法及び恒温恒湿空間形成冶具を提供することである。
本発明者らは、鋭意検討の結果、原子間力顕微鏡の測定領域内に恒温恒湿空間を形成することにより、上記目的を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明によれば、
(1)原子間力顕微鏡を用いて粉体の付着力を測定する粉体の付着力測定方法において、カンチレバーの探針に前記粉体を取り付ける工程と、前記原子間力顕微鏡の測定領域内に恒温恒湿空間を形成するための恒温恒湿空間形成冶具を前記原子間力顕微鏡に取り付ける工程と、前記粉体が固定された基材を前記恒温恒湿空間内に配置する工程と、少なくとも前記カンチレバー及び前記基材を前記恒温恒湿空間内に収容し、前記恒温恒湿空間を密閉する工程と、前記恒温恒湿空間内の温度を制御する工程と、前記恒温恒湿空間内の湿度を制御する工程と、前記恒温恒湿空間内において、前記探針に取り付けられた前記粉体を前記基材上に固定された前記粉体に付着させ、前記探針に取り付けられた前記粉体を前記基材上に固定された前記粉体から引き離すときの前記探針のたわみ量を検出する工程と、前記検出する工程における検出結果に基づいて前記粉体の付着力を求める工程と、を含むことを特徴とする粉体の付着力測定方法、
(2)前記温度を制御する工程は、前記恒温恒湿空間内の温度を温度制御された水を用いて制御することを特徴とする(1)記載の粉体の付着力測定方法、
(3)前記湿度を制御する工程は、前記恒温恒湿空間内の湿度を塩を用いて制御することを特徴とする(1)または(2)記載の粉体の付着力測定方法、
(4)原子間力顕微鏡を用いて粉体の付着力を測定する際に前記原子間力顕微鏡の測定領域内に恒温恒湿空間を形成するための恒温恒湿空間形成冶具であって、前記恒温恒湿空間内の温度を制御する温度制御部と、前記恒温恒湿空間内の湿度を制御する湿度制御部と、少なくとも前記粉体が取り付けられた探針を有するカンチレバー及び前記粉体が固定された基材を前記恒温恒湿空間内に収容した状態で、前記恒温恒湿空間を密閉する密閉部と、を備えることを特徴とする恒温恒湿空間形成冶具、
(5)前記温度制御部は、温度制御された水を供給する給水部と、前記恒温恒湿空間の周囲に配置され前記給水部より供給された前記水を循環させる循環管と、前記循環管内を循環した前記水を排出する排水部と、を備えることを特徴とする(4)記載の恒温恒湿空間形成冶具、
(6)前記湿度制御部は、前記基材の近傍に塩を配置する配置部を備えることを特徴とする(4)または(5)記載の恒温恒湿空間形成冶具、
(7)前記湿度制御部は、湿度制御された空気を前記恒温恒湿空間内に供給する供給部と、前記恒温恒湿空間内の空気を排出する排出部とを備えることを特徴とする(4)または(5)記載の恒温恒湿空間形成冶具、
が提供される。
本発明によれば、粉体の付着力を精度良く測定することができる粉体の付着力測定方法及び恒温恒湿空間形成冶具を提供することができる。
実施の形態に係る原子間力顕微鏡の概略構成を示す図である。 実施の形態に係る恒温恒湿空間形成冶具の構成を示す斜視図である。 実施の形態に係る恒温恒湿空間形成冶具の構成を示す平面図である。 カンチレバーの位置と粉体の付着力との関係を示すグラフである。 実施の形態に係る他の恒温恒湿空間形成冶具の構成を示す平面図である。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態に係る粉体の付着力測定方法及び恒温恒湿空間形成冶具について説明する。この実施の形態に係る粉体の付着力測定方法においては、原子間力顕微鏡を用いて粉体の付着力を測定する。また、この実施の形態に係る恒温恒湿空間形成冶具は、原子間力顕微鏡を用いて粉体の付着力を測定する際に原子間力顕微鏡の測定領域内に恒温恒湿空間を形成するためのものである。
図1は、この実施の形態に係る原子間力顕微鏡の概略構成を示す図である。図1に示すように、原子間力顕微鏡2は、レーザ光を射出する光源4、カンチレバー6、カンチレバーを保持するホルダー8、フォトダイオード10、及び恒温恒湿空間形成冶具12を載置するベース台14を備えている。カンチレバー6の一方の端部はホルダー8により固定されており、カンチレバー6の他方の端部の先端には探針6aが設けられている。探針6aの下側には、粉体7が固着されている。また、カンチレバー6の探針6aが設けられている側の背面には、反射面(図示せず)が形成されている。ホルダー8は、図1に示す矢印aの方向に移動可能に構成されている。
フォトダイオード10は、例えばカンチレバー6が移動する方向(矢印aの方向)に配列された2つの受光部(図示せず)を備えている。フォトダイオード10は、光源2から射出し、カンチレバー6の反射面により反射され、2つの受光部それぞれに入射するレーザ光の強度を検出する。カンチレバー6の探針6aのたわみ量(変位量)は、フォトダイオード10の2つの受光部により検出されるレーザ光の強度差から求められ、粉体の付着力は、探針6aのたわみ量に基づいて求められる。
光源4、カンチレバー6、ホルダー8及びフォトダイオード10は、下部が開放されているハウジング16内に収容されており、ハウジング16とベース台14との間には、恒温恒湿空間形成冶具12が設置されている。恒温恒湿空間形成冶具12は、原子間力顕微鏡2を用いて粉体の付着力を測定する際に原子間力顕微鏡2の測定領域18内に恒温恒湿空間20を形成する。
図2はこの実施の形態に係る恒温恒湿空間形成冶具12の構成を示す斜視図、図3はその平面図である。恒温恒湿空間形成冶具12は、図1〜図3に示すように、環状の壁部21及び円形の透明な底部22により形成される収容部23を備えている。収容部23には基材11等が収容され、その上部は開放されている。また、底部22には、基材11等を載置する載置面22aが設けられている。なお、載置面22aに載置される基材11上には、粉体13が固定されている。
また、壁部21の上部には、ハウジング16の開放されている下部と収容部23の開放されている上部との間を密閉するための環状のパッキン24が配置されている。恒温恒湿空間形成冶具12は、パッキン24によりハウジング16の下部と収容部23の上部との間を密閉することにより、光源4、カンチレバー6、ホルダー8及びフォトダイオード10をハウジング16内に、基材11及び後述するウエス15を収容部23内に収容した状態で、密閉された恒温恒湿空間20を形成する。
また、恒温恒湿空間形成冶具12は、恒温恒湿空間20内の温度を制御するための温度制御部を備えている。温度制御部は、水を供給するための給水部26、給水部26から供給された水を循環させるための循環管28、及び循環させた水を排出するための排水部30を備えて構成されている。給水部26は、壁部21より突出した第1突出部25から給水口26aを露出させた状態で第1突出部25の内部に形成されている。同様に、排水部30は、第1突出部25から排水口30aを露出させた状態で第1突出部25の内部に形成されている。循環管28は、図2及び図3に示すように、第1突出部25及び壁部21の内部に折り返された状態で形成されており、一方の端部が給水部26と、他方の端部が排水部30と接続されている。温度制御された水が給水部26から供給され循環管28内を循環して排水部30から排出されることにより恒温恒湿空間20内の温度は一定に保たれる。
また、恒温恒湿空間形成冶具12は、恒温恒湿空間20内の湿度を制御するための湿度制御部を備えており、湿度制御部は、載置面22a上であって基材11の近傍に塩を含んだウエス15を配置する配置部32を備えて構成されている。ここで、塩の種類、温度及び湿度は、所定温度に保たれた所定空間内に所定の塩を配置すると所定空間内が所定湿度になるという関係を有している。したがって、この塩の種類、温度及び湿度の関係に基づいて所望の温度下で所望の湿度になる塩を選択し、選択した塩を含んだウエス15を配置部32に配置することにより恒温恒湿空間20内の湿度は一定に保たれる。
また、恒温恒湿空間形成冶具12は、温度湿度計36を恒温恒湿空間20内に挿入するための温度湿度計挿入管34を備えている。温度湿度計挿入管34は、壁部21より突出した第二突出部27に形成されている。温度湿度計36の感温感湿部は、温度湿度計挿入管34を介して外部から恒温恒湿空間20内に挿入され、温度湿度計36は、恒温恒湿空間20内の温度及び湿度を計測する。
次に、この実施の形態に係る粉体の付着力測定方法について説明する。この実施の形態に係る粉体の付着力測定方法においては、原子間力顕微鏡2を用いて粉体の付着力を測定する。
まず、カンチレバー6の探針6aの下側に粉体7を取り付け、固着させる。次に、原子間力顕微鏡2の測定領域18内に恒温恒湿空間20を形成するための恒温恒湿空間形成冶具12を取り付ける。次に、基材11上に粉体13を固定し、粉体13が固定された基材11を収容部23の開放されている上部から挿入し、載置面22a上に配置し、固定する。
次に、恒温恒湿空間20内を所望の温度にしたときに所望の湿度になる塩を選択し、選択した塩をウエス15に含ませ、配置部32に配置する。そして、光源4、カンチレバー6、ホルダー8、フォトダイオード10、基材11及びウエス15を恒温恒湿空間20内に収容した状態で、恒温恒湿空間20を密閉する。
次に、密閉された恒温恒湿空間20内を所望の温度にするために、温度制御された水を給水部26に供給する。給水部26に供給された水は、循環管28内を循環し、排水部30から排出される。温度制御された水を給水部26に供給し続けることにより、恒温恒湿空間20内を所望の温度にすることができる。また、配置部32にウエス15を配置させた状態で恒温恒湿空間20を密閉したため、恒温恒湿空間20内を所望の湿度にすることができる。なお、温度湿度計36を用いて恒温恒湿空間20内の温度及び湿度を計測することにより恒温恒湿空間20内が所望の温度及び湿度になっているかどうかを確認することができる。
次に、密閉された恒温恒湿空間20内を所望の温度及び湿度にした状態で、探針6aに取り付けられた粉体7を基材11上に固定された粉体13に付着させ、粉体7を粉体13から引き離すときの探針6aのたわみ量を検出し、検出結果に基づいて粉体7と粉体13との付着力を求める。ここで、探針6aのたわみ量は、粉体7と粉体13との間に働く力により変化する。また、粉体7と粉体13との付着力は、粉体7を粉体13から引き離す瞬間に粉体7と粉体13との間に働く力である。したがって、粉体7を粉体13から引き離す瞬間の探針6aのたわみ量から粉体7と粉体13との付着力を算出することができる。
具体的には、まずホルダー8を基材11に近付く方向(以下、下方向という。)に移動させることによりカンチレバー6を下方向に移動させ、探針6aに取り付けられた粉体7を基材11上に固定された粉体13に付着させる。図4は、カンチレバー6の位置及び粉体の付着力の関係を示すグラフであり、基準位置からのカンチレバー6の距離を横軸とし、粉体同士の間に働く力を縦軸に示したグラフである。図4のグラフに示すように、カンチレバー6が下方向に移動している間であって、粉体7が粉体13に付着する前においては、探針6aはたわむことはない。即ち、粉体7と粉体13との間に働く力は0である(図4のA)。
そして、更にカンチレバー6を下方向に移動させ、粉体7が粉体13に付着する瞬間、探針6aは少し下方向にたわむ。即ち、粉体7と粉体13との間に下方向の力が少し働く(図4のB)。なお、図4のグラフにおいては、基材11から遠退く方向(以下、上方向という。)に働く力を+、下方向に働く力を−で示す。その後更にカンチレバー6を下方向に移動させると、探針6aは上方向にたわむ。即ち、粉体7と粉体13との間に上方向の力が働く(図4のC)。
次に、探針6aに取り付けられた粉体7を基材11上に固定された粉体13から引き離すために、ホルダー8を上方向に移動させることによりカンチレバー6を上方向に移動させる。カンチレバー6を上方向に移動させている間であって、粉体7が粉体13から引き離される前においては、探針6aは上方向にたわんだ状態から徐々に上方向へのたわみが減少し、たわみが0となってから徐々に下方向にたわみ始める。そして、粉体7が粉体13から引き離される瞬間に、探針6aは下方向に大きくたわむ。即ち、粉体7と粉体13との間に働く力が最大となる(図4のD)。この粉体7と粉体13との間に働く最大の力が粉体7と粉体13との付着力である。
粉体7を粉体13から引き離した後、カンチレバー6が移動を開始する前の位置までカンチレバー6を上方向に移動させる。カンチレバー6は、粉体7を粉体13から引き離した直後、反動により振動するが(図4のE)、その後たわむことなく移動を開始する前の位置まで移動する。
この実施の形態に係る恒温恒湿空間形成冶具12によれば、光源4、カンチレバー6、ホルダー8、フォトダイオード10、基材11及びウエス15を恒温恒湿空間20内に収容した状態で、恒温恒湿空間20を密閉することができ、密閉された恒温恒湿空間20内の温度及び湿度を制御することができる。また、この実施の形態に係る粉体の付着力測定方法によれば、恒温恒湿空間形成冶具12を用いて密閉された恒温恒湿空間20を形成し、密閉された恒温恒湿空間20内を所望の温度及び湿度とした状態で、粉体の付着力を測定することができる。したがって、季節等による湿度変化の影響を受けることなく、恒温恒湿下で粉体の付着力を測定することができるため、湿度変化による測定結果の変動を防止することができる。また、気流等によるカンチレバー6の振動を防止することができるため、粉体の付着力を精度良く測定することができる。
なお、この実施の形態においては、恒温恒湿空間20内の配置部32にウエス15を配置することにより恒温恒湿空間20内の湿度を制御しているが、外部から恒温恒湿空間内の湿度を制御してもよい。例えば図5に示すような恒温恒湿空間形成冶具40を用いて、外部から湿度制御された空気を恒温恒湿空間内に供給することにより恒温恒湿空間内の湿度を制御するようにしてもよい。恒温恒湿空間形成冶具40は、図5に示すように、湿度制御部として、湿度制御された空気を恒温恒湿空間内に供給するための供給部42と、恒温恒湿空間内の空気を排出するための排出部44とを備えている。恒温恒湿空間形成冶具40の湿度制御部は、恒温恒湿空間内の湿度制御されていない空気を排出部44から排出し、外部で湿度制御した空気(例えば加湿空気等)を供給部42から恒温恒湿空間に供給することにより、恒温恒湿空間内の湿度を制御する。この場合には、異なる湿度を有する空気を供給部42から恒温恒湿空間に供給することにより、恒温恒湿空間の密閉を維持した状態で恒温恒湿空間内の湿度を変更することができる。
この実施の形態に係る粉体の付着力測定方法を用いて、電極活物質を含む複合粒子、その他粉体の付着力を測定することができる。
また、上述の実施の形態に係る恒温恒湿空間形成冶具12,40においては、光源4、カンチレバー6、ホルダー8、フォトダイオード10及び基材11等を恒温恒湿空間20内に収容し密閉しているが、少なくともカンチレバー6及び基材11を収容し密閉する構成であってもよい。例えばハウジング16の下部に、光源4からのレーザ光を透過する透明なガラス等が配置されており、光源4及びフォトダイオード10がハウジング16内に密閉されている場合等においては、恒温恒湿空間形成冶具12,40は、カンチレバー6、ホルダー8及び基材11を恒温恒湿空間20内に収容し密閉する。
2…原子間力顕微鏡、4…光源、6…カンチレバー、6a…探針、7,13…粉体、8…ホルダー、10…フォトダイオード、11…基材、12,40…恒温恒湿空間形成冶具、14…ベース台、15…ウエス、16…ハウジング、18…測定領域、20…恒温恒湿空間、21…壁部、22…底部、23…収容部、24…パッキン、25…第1突出部、26…給水部、27…第2突出部、28…循環管、30…排水部、32…配置部、34…温度湿度計挿入管、36…温度湿度計。

Claims (7)

  1. 原子間力顕微鏡を用いて粉体の付着力を測定する粉体の付着力測定方法において、
    カンチレバーの探針に前記粉体を取り付ける工程と、
    前記原子間力顕微鏡の測定領域内に恒温恒湿空間を形成するための恒温恒湿空間形成冶具を前記原子間力顕微鏡に取り付ける工程と、
    前記粉体が固定された基材を前記恒温恒湿空間内に配置する工程と、
    少なくとも前記カンチレバー及び前記基材を前記恒温恒湿空間内に収容し、前記恒温恒湿空間を密閉する工程と、
    前記恒温恒湿空間内の温度を制御する工程と、
    前記恒温恒湿空間内の湿度を制御する工程と、
    前記恒温恒湿空間内において、前記探針に取り付けられた前記粉体を前記基材上に固定された前記粉体に付着させ、前記探針に取り付けられた前記粉体を前記基材上に固定された前記粉体から引き離すときの前記探針のたわみ量を検出する工程と、
    前記検出する工程における検出結果に基づいて前記粉体の付着力を求める工程と、
    を含むことを特徴とする粉体の付着力測定方法。
  2. 前記温度を制御する工程は、前記恒温恒湿空間内の温度を温度制御された水を用いて制御することを特徴とする請求項1記載の粉体の付着力測定方法。
  3. 前記湿度を制御する工程は、前記恒温恒湿空間内の湿度を塩を用いて制御することを特徴とする請求項1または2記載の粉体の付着力測定方法。
  4. 原子間力顕微鏡を用いて粉体の付着力を測定する際に前記原子間力顕微鏡の測定領域内に恒温恒湿空間を形成するための恒温恒湿空間形成冶具であって、
    前記恒温恒湿空間内の温度を制御する温度制御部と、
    前記恒温恒湿空間内の湿度を制御する湿度制御部と、
    少なくとも前記粉体が取り付けられた探針を有するカンチレバー及び前記粉体が固定された基材を前記恒温恒湿空間内に収容した状態で、前記恒温恒湿空間を密閉する密閉部と、
    を備えることを特徴とする恒温恒湿空間形成冶具。
  5. 前記温度制御部は、温度制御された水を供給する給水部と、前記恒温恒湿空間の周囲に配置され前記給水部より供給された前記水を循環させる循環管と、前記循環管内を循環した前記水を排出する排水部と、を備えることを特徴とする請求項4記載の恒温恒湿空間形成冶具。
  6. 前記湿度制御部は、前記基材の近傍に塩を配置する配置部を備えることを特徴とする請求項4または5記載の恒温恒湿空間形成冶具。
  7. 前記湿度制御部は、湿度制御された空気を前記恒温恒湿空間内に供給する供給部と、前記恒温恒湿空間内の空気を排出する排出部とを備えることを特徴とする請求項4または5記載の恒温恒湿空間形成冶具。
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