JP2016150097A - スキャン条件決定装置、磁気共鳴装置、スキャン条件決定方法、およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】所望のスキャン時間の指定を受け付ける受付手段と、前記指定の前に設定されている第1のスキャン条件を基に、スキャン時間またはスキャンにより得られる信号の信号雑音比に影響を及ぼすパラメータの値を調整することにより、スキャン時間が前記所望のスキャン時間と許容範囲内にて近似または一致し、かつ、前記信号の相対的な信号雑音比の最低値が前記第1のスキャン条件に基づいて見積もられた前記信号の相対的な信号雑音比の最低値と許容範囲内にて近似または一致するような第2のスキャン条件を探索する探索手段と、を備えたスキャン条件決定装置を提供する。前記パラメータは、例えば、加算回数、y軸方向解像度、繰返時間、およびデータ収集パス回数のいずれかを含む。
【選択図】図1
Description
所望のスキャン時間の指定を受け付ける受付手段と、
前記指定の前に設定されている第1のスキャン条件を基に、スキャン時間またはスキャンにより得られる信号の信号雑音比に影響を及ぼすパラメータの値を調整することにより、スキャン時間が前記所望のスキャン時間と許容範囲内にて近似または一致し、かつ、前記信号の相対的な信号雑音比(SN比、S/N、またはSNRと同義)の最低値が前記第1のスキャン条件に基づいて見積もられた前記信号の相対的な信号雑音比の最低値と許容範囲内にて近似または一致するような第2のスキャン条件を探索する探索手段と、を備えたスキャン条件決定装置を提供する。
前記パラメータが、加算回数、y軸方向解像度、繰返時間、およびデータ収集パス回数(data acquisition path time or acquisition)の少なくとも1つを含む、上記第1の観点のスキャン条件決定装置を提供する。
前記探索手段が、
前記第1のスキャン条件に基づいて、該第1のスキャン条件にてスキャンした場合に得られる信号の相対的な信号雑音比の最低値を見積もる第1の見積手段と、
前記第1のスキャン条件を初期状態とし、その後更新される暫定的なスキャン条件に基づいて、該スキャン条件にてスキャンした場合のスキャン時間を見積もる第2の見積手段と、
前記暫定的なスキャン条件に基づいて、該スキャン条件にてスキャンした場合に得られる信号の相対的な信号雑音比の最低値を見積もる第3の見積手段と、
前記暫定的なスキャン条件によるスキャン時間と前記所望のスキャン時間との差分が許容範囲内に収まり、かつ、前記暫定的なスキャン条件による相対的な信号雑音比の最低値と前記第1のスキャン条件による相対的な信号雑音比の最低値との差分が許容範囲内に収まるまで、前記暫定的なスキャン条件に含まれる、加算回数、y軸方向解像度、繰返時間およびデータ収集パス回数の調整を繰返す繰返手段とを有する、上記第2の観点のスキャン条件決定装置を提供する。
前記第1のスキャン条件が、拡散強調画像を得るためのスキャン条件である、上記第3の観点のスキャン条件決定装置を提供する。
前記第3の見積手段が、次式を用いて相対的な信号雑音比の値を求める、上記第4の観点のスキャン条件決定装置を提供する。
前記暫定的なスキャン条件が、対応するb値が互いに異なる複数のスキャンを行うためのものであり、
前記第2の見積手段が、前記複数のスキャンの各々に対するスキャン時間の合算値を前記暫定的なスキャン条件によるスキャン時間として見積もり、
前記第3の見積手段が、前記複数のスキャンの各々に対する相対的な信号雑音比の値を求め、該求められた相対的な信号雑音比の値の中で最も低い値を前記暫定的なスキャン条件による相対的な信号雑音比の最低値として見積もる、上記第4の観点または第5の観点のスキャン条件決定装置を提供する。
前記繰返手段が、
前記所望のスキャン時間が前記第1のスキャン条件によるスキャン時間より小さい場合に、相対的な信号雑音比の値が最も高いb値に対応するスキャンの加算回数を減らし、前記第3の見積手段により見積もられた相対的な信号雑音比の最低値が前記第1のスキャン条件による相対的な信号雑音比の最低値に近づくよう、前記y軸方向解像度を調整し、スキャン時間が短くなるよう繰返時間とデータ収集パス回数とを調整するという処理を繰り返す、上記第6の観点のスキャン条件決定装置を提供する。
前記繰返手段が、
前記所望のスキャン時間が前記第1のスキャン条件によるスキャン時間より大きい場合に、前記特徴量の値が最も低いb値に対応するスキャン条件の加算回数を増やし、前記第3の見積手段により見積もられた前記特徴量の最低値が前記第1のスキャン条件による前記特徴量の最低値に近づくよう、前記y軸方向解像度を調整し、スキャン時間が短くなるよう繰返時間とデータ収集パス回数とを調整するという処理を繰り返す、上記第6の観点または第7の観点のスキャン条件決定装置を提供する。
前記第1のスキャン条件が、予め記憶されているスキャン条件である、上記第1の観点から第8の観点のいずれか一つの観点のスキャン条件決定装置を提供する。
上記第1の観点から第9の観点のいずれか一つの観点のスキャン条件装置を備えた磁気共鳴装置を提供する。
所望のスキャン時間の指定を受け付ける受付ステップ(step)と、
前記指定の前に設定されている第1のスキャン条件を基に、スキャン時間またはスキャンにより得られる信号の信号雑音比に影響を及ぼすパラメータの値を調整することにより、スキャン時間が前記所望のスキャン時間と許容範囲内にて近似または一致し、かつ、スキャンにより得られる信号の相対的な信号雑音比の最低値が前記第1のスキャン条件に基づいて見積もられた前記信号の相対的な信号雑音比の最低値と許容範囲内にて近似または一致するような第2のスキャン条件を探索する探索ステップと、を有するスキャン条件決定方法を提供する。
所望のスキャン時間の指定を受け付ける受付処理と、
前記指定の前に設定されている第1のスキャン条件を基に、スキャン時間またはスキャンにより得られる信号の信号雑音比に影響を及ぼすパラメータの値を調整することにより、スキャン時間が前記所望のスキャン時間と許容範囲内にて近似または一致し、かつ、スキャンにより得られる信号の相対的な信号雑音比の最低値が前記第1のスキャン条件に基づいて見積もられた前記信号の相対的な信号雑音比の最低値と許容範囲内にて近似または一致するような第2のスキャン条件を探索する探索処理と、をコンピュータ(computer)に実行させるためのプログラム(program)を提供する。
ここで、minは最小値を取る関数である。
2 磁場発生装置
3 テーブル
4 クレードル
5 受信コイル
6 シーケンサ
7 送信器
8 勾配磁場電源
9 受信器
10 中央処理装置
11 入力装置
12 表示装置
13 被検体
14 操作者
21 ボア
22 超伝導コイル
23 勾配コイル
24 送信コイル
101 スキャン条件記憶部
102 スキャン条件呼出部
103 スキャン時間指定受付部
104 スキャン条件探索部
105 基準SNR見積部
106 暫定スキャン時間見積部
107 暫定SNR見積部
108 パラメータ調整繰返部
Claims (12)
- 所望のスキャン時間の指定を受け付ける受付手段と、
前記指定の前に設定されている第1のスキャン条件を基に、スキャン時間またはスキャンにより得られる信号の信号雑音比に影響を及ぼすパラメータの値を調整することにより、スキャン時間が前記所望のスキャン時間と許容範囲内にて近似または一致し、かつ、前記信号の相対的な信号雑音比の最低値が前記第1のスキャン条件に基づいて見積もられた前記信号の相対的な信号雑音比の最低値と許容範囲内にて近似または一致するような第2のスキャン条件を探索する探索手段と、を備えたスキャン条件決定装置。 - 前記パラメータは、加算回数、y軸方向解像度、繰返時間、およびデータ収集パス回数の少なくとも1つを含む、請求項1に記載のスキャン条件決定装置。
- 前記探索手段は、
前記第1のスキャン条件に基づいて、該第1のスキャン条件にてスキャンした場合に得られる信号の相対的な信号雑音比の最低値を見積もる第1の見積手段と、
前記第1のスキャン条件を初期状態とし、その後更新される暫定的なスキャン条件に基づいて、該スキャン条件にてスキャンした場合のスキャン時間を見積もる第2の見積手段と、
前記暫定的なスキャン条件に基づいて、該スキャン条件にてスキャンした場合に得られる信号の相対的な信号雑音比の最低値を見積もる第3の見積手段と、
前記暫定的なスキャン条件によるスキャン時間と前記所望のスキャン時間との差分が許容範囲内に収まり、かつ、前記暫定的なスキャン条件による相対的な信号雑音比の最低値と前記第1のスキャン条件による相対的な信号雑音比の最低値との差分が許容範囲内に収まるまで、前記暫定的なスキャン条件に含まれる、加算回数、y軸方向解像度、繰返時間およびデータ収集パス回数の調整を繰返す繰返手段とを有する、請求項2に記載のスキャン条件決定装置。 - 前記第1のスキャン条件は、拡散強調画像を得るためのスキャン条件である、請求項3に記載のスキャン条件決定装置。
- 前記第3の見積手段は、次式を用いて相対的な信号雑音比の値を求める、請求項4に記載のスキャン条件決定装置。
ここで、eは指数関数、bはb値、Dは拡散係数、NEXは加算回数、yresはy軸方向解像度をそれぞれ表している。 - 前記暫定的なスキャン条件は、対応するb値が互いに異なる複数のスキャンを行うためのものであり、
前記第2の見積手段は、前記複数のスキャンの各々に対するスキャン時間の合算値を前記暫定的なスキャン条件によるスキャン時間として見積もり、
前記第3の見積手段は、前記複数のスキャンの各々に対する相対的な信号雑音比の値を求め、該求められた相対的な信号雑音比の値の中で最も低い値を前記暫定的なスキャン条件による相対的な信号雑音比の最低値として見積もる、請求項4または請求項5に記載のスキャン条件決定装置。 - 前記繰返手段は、
前記所望のスキャン時間が前記第1のスキャン条件によるスキャン時間より小さい場合に、相対的な信号雑音比の値が最も高いb値に対応するスキャンの加算回数を減らし、前記第3の見積手段により見積もられた相対的な信号雑音比の最低値が前記第1のスキャン条件による相対的な信号雑音比の最低値に近づくよう、前記y軸方向解像度を調整し、スキャン時間が短くなるよう繰返時間とデータ収集パス回数とを調整するという処理を繰り返す、請求項6に記載のスキャン条件決定装置。 - 前記繰返手段は、
前記所望のスキャン時間が前記第1のスキャン条件によるスキャン時間より大きい場合に、前記特徴量の値が最も低いb値に対応するスキャン条件の加算回数を増やし、前記第3の見積手段により見積もられた前記特徴量の最低値が前記第1のスキャン条件による前記特徴量の最低値に近づくよう、前記y軸方向解像度を調整し、スキャン時間が短くなるよう繰返時間とデータ収集パス回数とを調整するという処理を繰り返す、請求項6または請求項7に記載のスキャン条件決定装置。 - 前記第1のスキャン条件は、予め記憶されているスキャン条件である、請求項1から請求項8のいずれか一項に記載のスキャン条件決定装置。
- 請求項1から請求項9のいずれか一項に記載のスキャン条件装置を備えた磁気共鳴装置。
- 所望のスキャン時間の指定を受け付ける受付ステップと、
前記指定の前に設定されている第1のスキャン条件を基に、スキャン時間またはスキャンにより得られる信号の信号雑音比に影響を及ぼすパラメータの値を調整することにより、スキャン時間が前記所望のスキャン時間と許容範囲内にて近似または一致し、かつ、前記信号の相対的な信号雑音比の最低値が前記第1のスキャン条件に基づいて見積もられた前記信号の相対的な信号雑音比の最低値と許容範囲内にて近似または一致するような第2のスキャン条件を探索する探索ステップと、を有するスキャン条件決定方法。 - 所望のスキャン時間の指定を受け付ける受付処理と、
前記指定の前に設定されている第1のスキャン条件を基に、スキャン時間またはスキャンにより得られる信号の信号雑音比に影響を及ぼすパラメータの値を調整することにより、スキャン時間が前記所望のスキャン時間と許容範囲内にて近似または一致し、かつ、前記信号の相対的な信号雑音比の最低値が前記第1のスキャン条件に基づいて見積もられた前記信号の相対的な信号雑音比の最低値と許容範囲内にて近似または一致するような第2のスキャン条件を探索する探索処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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