JP2016145745A - 磁気センサ - Google Patents

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Abstract

【課題】小型化が容易である新規な構成の磁気センサを提供する。【解決手段】基板10と、少なくとも2つの磁気検出部12と、を有し、磁気検出部12は、基板10に設けられた第1コイル31と、第1コイル31と重なって設けられた磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bと、を有し、第1コイル31は、視野において渦巻き状に巻回された導線であり、磁気抵抗効果素子21a〜21dは、第1コイル31の中心を通って設定される第1仮想線を挟んで第1仮想線の両側に配置されており、第1の磁気検出部12Aが有する第1磁気抵抗効果素子21aと第2の磁気検出部12Bが有する第2磁気抵抗効果素子21d、第1の磁気検出部12Aが有する第2磁気抵抗効果素子21bと第2の磁気検出部12Bが有する第1磁気抵抗効果素子21c、を直列接続して、第1の磁気検出部12Aと第2の磁気検出部12Bとで、差動回路を構成する磁気センサ。【選択図】図5

Description

本発明は、磁気センサに関するものである。
従来、基板上に磁界検出用素子である磁気抵抗効果素子を設けた磁気センサが知られている。例えば、巨大磁気抵抗効果素子(GMR(Giant Magneto Resistance)素子)のようなスピンバルブ型の磁気抵抗効果素子は、磁化が所定の方位に固定(ピン)されたピンド層と、磁化の方位が外部磁場に応じて変化するフリー層とを備え、ピンド層の磁化の方位と、フリー層の磁化の方位との相対的関係に応じて抵抗値が変化する。この抵抗値の変化を電気的に検知することで、外部磁場(磁界)の強度を把握することができる。
上述したような磁気センサとしては、磁気抵抗効果素子が検知したフリー層の磁化の方位を初期化する初期化手段を有するものが知られている。初期化手段としては、通電することで磁界を発生させるコイルが挙げられる。コイルは、基板の法線方向から基板を見た視野において、磁気抵抗効果素子と重なる位置に設けられる。
なお、以下の説明では、基板の法線方向から基板を見た視野のことを「平面視」と称することがある。また、基板の法線方向から対象物を見たときの対象物の面積のことを「平面視面積」と称することがある。
このようなコイルで生じた磁界は、フリー層の磁化の方位を所定の方向(初期状態)に向け、フリー層の磁化の方位を初期化する(例えば、特許文献1参照)。
特開2006−267119号公報
近年では、種々の分野において機器の小型化が進んでおり、そのような機器に実装される磁気センサも小型化が求められている。しかしながら、上記構成の磁気センサを小型化しようとすると、基板の平面視面積に対するコイルの平面視面積が相対的に大きくなり、小型化の障害となりやすい。一方で、基板の縮小に応じて等比でコイルを小型化すると、初期化のために必要な強度の磁界を発生させることが困難となる。
そのため、磁気センサの小型化を実現可能な新規な構成が求められていた。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、小型化が容易である新規な構成の磁気センサを提供することを目的とする。
上記の課題を解決するため、本発明の一態様は、基板と、前記基板に設けられた少なくとも2つの磁気検出部と、を有し、前記磁気検出部は、前記基板に設けられた第1コイルと、前記基板の法線方向からの視野において、前記第1コイルと重なって設けられた第1磁気抵抗効果素子および第2磁気抵抗効果素子と、を有し、前記第1コイルは、前記視野において渦巻き状に巻回された導線であり、前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子は、それぞれ磁化方向が固定されたピンド層と、磁化方向が外部磁場に応じて変化するフリー層と、が積層された構造を有し、前記第1コイルの中心を通って設定される第1仮想線を挟んで前記第1仮想線の両側に配置されており、第1の磁気検出部が有する前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子のうちいずれか一方と、第2の磁気検出部が有する前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子のうちいずれか一方と、を直列接続し、前記第1の磁気検出部が有する前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子のうち他方と、前記第2の磁気検出部が有する前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子のうち他方と、を直列接続して、前記第1の磁気検出部と前記第2の磁気検出部とで、差動回路を構成する磁気センサを提供する。
本発明の一態様においては、前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子は、前記第1仮想線に対して対称な位置に配置されている構成としてもよい。
本発明の一態様においては、前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子は、前記第1コイルの中心を通り前記第1仮想線と直交して設定される第2仮想線と重なって配置されている構成としてもよい。
本発明の一態様においては、前記第1磁気抵抗効果素子における前記ピンド層の磁化方向と、前記第2磁気抵抗効果素子における前記ピンド層の磁化方向とは、互いに同方向に設定されている構成としてもよい。
本発明の一態様においては、前記基板の法線方向からの視野において、前記第1コイルと隣り合って設けられた第1サブコイルおよび第2サブコイルを有し、前記第1サブコイルおよび前記第2サブコイルは、前記視野において渦巻き状に巻回された導線であり、前記第1コイルの中心を通り前記第1仮想線と直交して設定される第2仮想線と重なって配置され、前記第1磁気抵抗効果素子は、前記視野において前記第1コイルおよび前記第1サブコイルに重なり、前記第2磁気抵抗効果素子は、前記視野において前記第1コイルおよび前記第2サブコイルに重なる構成としてもよい。
本発明の一態様においては、前記第1サブコイルと前記第2サブコイルとは、同一の構成である構成としてもよい。
本発明によれば、小型化が容易である新規な構成の磁気センサを提供することができる。
第1実施形態に係る磁気センサの説明図である。 磁気抵抗効果素子の構成を示す模式図である。 磁気センサが有する磁気検出部の構成を示す模式図である。 磁気センサが有する磁気検出部の構成を示す模式図である。 磁気検出部についての回路構成を説明する説明図である。 磁気検出部についての回路構成を示す説明図である。 第2実施形態に係る磁気センサの説明図である。
[第1実施形態]
以下、図1〜図6を参照しながら、本発明の第1実施形態に係る磁気センサについて説明する。なお、以下の全ての図面においては、図面を見やすくするため、各構成要素の寸法、角度、比率などは適宜異ならせてある。
図1は、本実施形態に係る磁気センサ1の説明図である。図1(a)は、磁気センサ1の概略斜視図であり、図1(b)は磁気センサ1の概略平面図である。本実施形態に係る磁気センサは、外部から印加される外部磁場の磁界強度を、互いに直交する3軸の成分別に計測可能な3軸磁気センサである。
図に示すように、磁気センサ1は、基板10と、少なくとも2つの磁気検出部と、を有している。磁気検出部については後述する。磁気検出部は、基板10に設けられた複数の磁気抵抗効果素子21,22,23と、を有している。
以下の図では、xyz座標系を設定し、このxyz座標系を参照しつつ各部材の位置関係を説明する。xyz座標系において、基板10の表面内に設定するx軸方向に対し、表面内においてx軸と直交する方向をy軸方向、x軸方向とy軸方向のそれぞれと直交する方向をz軸方向とする。すなわち、基板10の表面と同じ面方向にxy平面が設定され、基板10の法線方向にz軸が設定されている。
また、本明細書において、「平面視」とは+z方向上方から−z方向に見たときの視野を指す。
基板10は、平面視で矩形の基板である。基板10は、例えば、SiO/Si、ガラス、石英を形成材料としている。図では、基板10は、4辺がx軸およびy軸と平行となるように配置されている。図では、基板10の4辺を10a、10b、10c、10dとし、x軸方向で対向する2辺を10a,10b、y軸方向で対向する2辺を10c,10dとしている。辺10a,10bはy軸に平行であり、辺10c,10dはx軸に平行である。
基板10の表面10xには、4つの溝部11(11a,11b,11c,11d)が形成されている。図では、溝部11a,11bは、x軸方向に隣り合い、辺10cに沿って形成されている。溝部11c,11dは、x軸方向に隣り合い、辺10dに沿って形成されている。
溝部11は、平面視矩形に形成され、一方の溝の幅が深さ方向(−z方向)に漸減している。そのため、溝部11は、それぞれ対向する一対の傾斜面を有している。
溝部11は、例えば、フォトリソグラフィ技術により表面10xをパターニングして、エッチングすることにより形成する。表面10xの形成材料が<100>の単結晶シリコンである場合、溝部11の傾斜面の角度(表面10xに対する傾斜面方向の俯角)は、54.7°である。
磁気抵抗効果素子21は、外部から印加される外部磁場の磁界強度のx軸の成分を検出する磁気抵抗効果素子21a,21b,21c,21dを有している。磁気抵抗効果素子21a,21bは、y軸方向に隣り合い、辺10aに沿って形成されている。磁気抵抗効果素子21c,21dは、y軸方向に隣り合い、辺10bに沿って形成されている。磁気抵抗効果素子21は、y軸方向を長手方向として形成されている。
磁気抵抗効果素子22は、外部から印加される外部磁場の磁界強度のy軸の成分およびz軸の成分を検出する磁気抵抗効果素子22a,22b,22c,22dを有している。磁気抵抗効果素子22aは、溝部11aの+y方向の俯角を有する傾斜面111に設けられている。同様に、磁気抵抗効果素子22b,22c,22dは、溝部11b,11c,11dの+y方向の俯角を有する傾斜面111に設けられている。磁気抵抗効果素子22は、x軸方向を長手方向として形成されている。
磁気抵抗効果素子21は、外部から印加される外部磁場の磁界強度のy軸の成分およびz軸の成分を検出する磁気抵抗効果素子23a,23b,23c,23dと、を有している。磁気抵抗効果素子23aは、溝部11aの−y方向の俯角を有する傾斜面112に設けられている。同様に、磁気抵抗効果素子23b,23c,23dは、溝部11b,11c,11dの−y方向の俯角を有する傾斜面112に設けられている。磁気抵抗効果素子23は、x軸方向を長手方向として形成されている。
磁気抵抗効果素子21,22,23としては、GMR(Giant Magneto-Resistance、巨大磁気抵抗)素子、TMR(Tunnel Magneto-Resistance、トンネル磁気抵抗)素子などを挙げることができる。本実施形態では、磁気抵抗効果素子21,22,23として、GMR素子を用いることとして説明する。
なお、図では磁気抵抗効果素子21,22,23をそれぞれ直方体状の構成として1つずつ示しているが、より詳細には次のような構成となっている。
図2は、磁気抵抗効果素子21,22,23の構成を示す模式図であり、図2(a)は平面図、図2(b)は図2(a)の線分IIb−IIbにおける概略断面図である。
図2(a)に示すように、磁気抵抗効果素子21,22,23は、平面視矩形の帯状部201と、帯状部201の両端に設けられた配線層202と、を有している。磁気抵抗効果素子21,22,23は、配線層202により外部の回路と電気的に接続される。例えば、配線層202には、それぞれ図示しない定電圧源の正極及び負極等が接続される。この定電圧源による所定の電源電圧(例えば、3V)及び接地電圧(例えば、0V)の印加に応じて、一対の配線層202の間に電流が流れる。
図2(b)に示すように、帯状部201は、反強磁性材料からなるピニング層201a、ピニング層201aにより磁化の方位が固定されたピンド層201b、非磁性材料からなるスペーサ層201c、および、磁化の方位が外部磁場に応じて変化するフリー層201d、が積層され、スピンバルブ構造を成している。
図に示す磁気抵抗効果素子21,22,23では、平面視で長手方向に直交する方向にピンド層の磁化の向きが固定されている。図では、ピンド層の磁化の向きを符号P(ピンド層の磁化方向P)で示す矢印で示している。また、外部磁場を検出する前の初期状態におけるフリー層の磁化の向きを符号F(フリー層の磁化方向F)で示す矢印で示している。
また、磁気抵抗効果素子21,22,23では、磁界無印加時において、フリー層の磁化方向Fが平面視で長手方向と同方向となっている。フリー層の磁化方向Fはピンド層の磁化方向Pと直交している。
このスピンバルブ構造により、磁気抵抗効果素子21,22,23は、測定対象とする外部磁場に応じて一対の配線層202間の抵抗値が変化し、当該外部磁場の強度を検出することができる。
なお、図2に示した磁気抵抗効果素子21,22,23の構造は一例であって、その構造は、スピンバルブの機能を発揮できる限度において適宜変更可能である。例えば、フリー層201dと、ピンド層201b及びピニング層201aと、の成膜順序は入れ替え可能であり、さらに、磁気抵抗効果素子としての特性改善のため、上記以外の層が挿入されていてもよい。
図1(b)には、それぞれの磁気抵抗効果素子21,22,23における、外部磁場を検出する前の初期状態におけるピンド層の磁化方向Pと、フリー層の磁化方向Fと、を示している。
図3は、磁気センサ1が有する磁気検出部12の構成を示す模式図である。磁気検出部12は、基板10に設けられた第1コイル31と、基板10の法線方向からの視野(平面視)において第1コイル31と重なって設けられた第1磁気抵抗効果素子と第2磁気抵抗効果素子と、を有している。図では、例として、磁気抵抗効果素子21aを「第1磁気抵抗効果素子」、磁気抵抗効果素子21bを「第2磁気抵抗効果素子」とする磁気検出部について示している。
第1コイル31は、平面視において、外周側から内周側に向けて時計回りに巻回された導線である。第1コイル31は、例えば、基板10の内部において配線を引き回す層に設けられている。図では、第1コイル31は、x軸方向またはy軸方向に延在する直線部分と、延在方向が変化する屈曲部分とを有する略矩形の渦巻き形状として示している。
第1コイル31は、外周側の端部が電源電圧VDDに接続され、内周側の端部が接地電圧GNDに接続される。これにより第1コイル31には、符号ECで示す矢印方向に電流が流れ、流れる電流が符号Hで示す白矢印方向に磁場を形成する。
磁気抵抗効果素子21aは、第1コイル31の中心Oに対して+y軸方向において、x軸方向に延在する直線部分(導線)と重なって配置している。磁気抵抗効果素子21aは、第1コイル31を構成する複数本の直線部分と直交するように配置している。
磁気抵抗効果素子21bは、第1コイル31の中心Oに対して−y軸方向において、x軸方向に延在する直線部分(導線)と重なって配置している。磁気抵抗効果素子21bは、第1コイル31を構成する複数本の直線部分と直交するように配置している。
磁気抵抗効果素子21aが重なる第1コイル31の直線部分の本数と、磁気抵抗効果素子21bが重なる第1コイル31の直線部分の本数とは、同数(図では5本)となっている。
このような構成の磁気検出部12では、第1コイル31で磁場Hを形成すると、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bに、同強度の磁場Hが加わる。磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bのフリー層の磁化方向Fは、第1コイル31で形成される磁場方向に配向する。これにより、外部磁場の影響を受け磁化方向が変化したフリー層の磁化方向Fを、第1コイル31で形成される所定の磁場方向に揃えることができる。
本明細書では、上述のような「フリー層の磁化方向を第1コイル31で形成される所定の磁場方向に揃えること」を初期化と称することがある。また、「フリー層の磁化方向が初期化された状態」を初期状態と称することがある。
磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bは、第1コイル31の中心Oを通って設定される第1仮想線VL1を挟んで、第1仮想線VL1の両側に配置されている。図では、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bは、第1仮想線VL1に対して対称に配置されている。また、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bの中心軸は、第1コイル31の中心Oを通り第1仮想線VL1と直交して設定される第2仮想線VL2と重なって配置されている。
また、磁気抵抗効果素子21aにおけるピンド層の磁化方向Pと、磁気抵抗効果素子21bにおけるピンド層の磁化方向Pとは、互い同方向に設定されている。
さらに磁気検出部12では、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bのフリー層の磁化方向Fとピンド層の磁化方向Pとが直交している。また、磁気抵抗効果素子21aと磁気抵抗効果素子21bとは、フリー層の磁化方向Fが逆方向となっている。
このような磁気検出部12では、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bが1つの第1コイル31を共有することとなるため、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bが初期化のための個別のコイルを有する場合と比べ、コイルの設置面積を低減することができる。そのため、磁気センサ1の小型化に適した構成となっている。
また、図に示す磁気検出部12では、初期状態における、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bの磁化の状態が、第1仮想線VL1、第2仮想線VL2に対して対称となる。そのため、外部磁場に対するフリー層の磁化方向の変化が検出しやすく、好感度な磁気センサとすることができる。
なお、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bの配置位置が理想状態からずれており、第1仮想線VL1に対して対称ではない場合であっても、外部磁場の検出は可能であり、磁気センサ1の小型化に適した磁気検出部12となる。
同様に、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bの中心軸が、第2仮想線VL2とずれている場合であっても、外部磁場の検出は可能であり、磁気センサ1の小型化に適した磁気検出部12となる。また、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bのピンド層の磁化方向Pが同方向でなく、ずれが生じていたとしても、外部磁場の検出は可能であり、磁気センサ1の小型化に適した磁気検出部12となる。
詳細な説明は省略するが、磁気抵抗効果素子21cおよび磁気抵抗効果素子21dは、不図示のコイル(第1コイル)と平面視で重なって設けられており、磁気検出部を構成している。
同様に、磁気抵抗効果素子22aおよび磁気抵抗効果素子22bと、不図示のコイル(第1コイル)とで、磁気検出部を構成している。
磁気抵抗効果素子22cおよび磁気抵抗効果素子22dと、不図示のコイル(第1コイル)とで、磁気検出部を構成している。
磁気抵抗効果素子23aおよび磁気抵抗効果素子23bと、不図示のコイル(第1コイル)とで、磁気検出部を構成している。
磁気抵抗効果素子23cおよび磁気抵抗効果素子23dと、不図示のコイル(第1コイル)とで、磁気検出部を構成している。
いずれの磁気検出部においても、コイルに通電することで発生する磁場により、磁気抵抗効果素子のフリー層の磁化方向を初期化する。
また、各磁気検出部が有するコイル(第1コイル)は、上述した第1コイル31と同様に、基板10の内部において配線を引き回す層に設けられている。各コイルは、共通する工程で同時に形成することができる。
なお、図4に示すように、辺10cに沿って設けられている4つの磁気抵抗効果素子22a,22b,23a,23bは、共通する1つの第1コイル31と重なって磁気検出部を構成することとしてもよい。辺10dに沿って設けられている4つの磁気抵抗効果素子22c,22d,23c,23dも同様である。
図5は、磁気検出部12の回路構成を説明する説明図である。図5(a)は、磁気検出部12を構成する磁気抵抗効果素子21a,21b,21c,21dの配置を説明する図であり、図5(b)は磁気検出部12の回路構成を説明する模式図である。
図5(a)に示すように、辺10aに沿って配置された磁気検出部12(第1の磁気検出部12A)が有する磁気抵抗効果素子(第1磁気抵抗効果素子)21aと、辺10bに沿って配置された磁気検出部12(第2の磁気検出部12B)が有する磁気抵抗効果素子(第2磁気抵抗効果素子)21dとは、初期状態において、フリー層の磁化方向Fとピンド層の磁化方向Pのいずれも逆方向になっている。
また、第1の磁気検出部12Aが有する磁気抵抗効果素子(第2磁気抵抗効果素子)21bと、第2の磁気検出部12Bが有する磁気抵抗効果素子(第1磁気抵抗効果素子)21cとは、初期状態において、フリー層の磁化方向Fとピンド層の磁化方向Pのいずれも逆方向になっている。
本実施形態の磁気センサ1では、磁気抵抗効果素子21aと磁気抵抗効果素子21dとを直列接続し、磁気抵抗効果素子21cと磁気抵抗効果素子21bとを直列接続して、第1の磁気検出部12Aと第2の磁気検出部12Bとで、差動回路を構成している。
すなわち、図5(b)に示すように、第1の磁気検出部12Aの磁気抵抗効果素子21a、磁気抵抗効果素子21b、第2の磁気検出部12Bの磁気抵抗効果素子21c、磁気抵抗効果素子21dは、配線接続されブリッジ回路B1を形成する。
図5(b)に示すブリッジ回路B1において、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21dは、電源端子Q1と接地端子Q2との間に直列に接続される。このとき、磁気抵抗効果素子21aの一端が電源端子Q1と接続され、磁気抵抗効果素子21dの一端が接地端子Q2と接続される。
また、磁気抵抗効果素子21cおよび磁気抵抗効果素子21bは、電源端子Q1と接地端子Q2との間に直列に接続される。このとき、磁気抵抗効果素子21cの一端が電源端子Q1と接続され、磁気抵抗効果素子21bの一端が接地端子Q2と接続される。
電源端子Q1、接地端子Q2には図示しない定電圧源の正極、負極がそれぞれ接続され、電源端子Q1には電源電圧(例えば、3V)が印加され、接地端子Q2には接地電圧(例えば、0V)が印加される。これにより、ブリッジ回路B1は、磁気抵抗効果素子21aと磁気抵抗効果素子21dとの間の電位と、磁気抵抗効果素子21cと磁気抵抗効果素子21bとの間の電位と、の電位差である出力電圧V1を出力する。
磁気センサ1は、ブリッジ回路B1の出力電圧V1から、印加される外部磁場の±X方向の成分Hxを算出することができる。具体的には、外部磁場の±X方向の成分Hxは、下記の式(1)により求めることができる。
Hx=kx・V1 …(1)
ここで、感度係数kxは、出力電圧V1に対する、外部磁場の±X方向の成分Hx(±X方向の磁界強度)の比例定数である。
なお、例えば、第2の磁気検出部12Bの第1コイルに通電する方向を逆にし、初期状態におけるフリー層の磁化方向Fを図5とは逆方向にした場合には、第1の磁気検出部12Aの磁気抵抗効果素子21aと第2の磁気検出部12Bの磁気抵抗効果素子21dとを直列接続し、第1の磁気検出部12Aの磁気抵抗効果素子21bと第2の磁気検出部12Bの磁気抵抗効果素子21cとを直列接続して、差動回路を構成するとよい。
図6は、磁気抵抗効果素子22および磁気抵抗効果素子23を含む磁気検出部についての回路構成を示す説明図であり、図5(b)に対応する図である。
すなわち、図6(a)に示すように、第1の磁気検出部12Aの磁気抵抗効果素子(第1磁気抵抗効果素子)22a、磁気抵抗効果素子(第2磁気抵抗効果素子)22b、第2の磁気検出部12Bの磁気抵抗効果素子(第1磁気抵抗効果素子)22c、磁気抵抗効果素子(第2磁気抵抗効果素子)22dは、配線接続されブリッジ回路B2を形成する。
図6(a)に示すブリッジ回路B2において、磁気抵抗効果素子22aおよび磁気抵抗効果素子22dは、電源端子Q1と接地端子Q2との間に直列に接続される。このとき、磁気抵抗効果素子22aの一端が電源端子Q1と接続され、磁気抵抗効果素子22dの一端が接地端子Q2と接続される。
また、磁気抵抗効果素子22cおよび磁気抵抗効果素子22bは、電源端子Q1と接地端子Q2との間に直列に接続される。このとき、磁気抵抗効果素子22cの一端が電源端子Q1と接続され、磁気抵抗効果素子22bの一端が接地端子Q2と接続される。
同様に、図6(b)に示すように、第1の磁気検出部12Aの磁気抵抗効果素子(第1磁気抵抗効果素子)23a、磁気抵抗効果素子(第2磁気抵抗効果素子)23b、第2の磁気検出部12Bの磁気抵抗効果素子(第1磁気抵抗効果素子)23c、磁気抵抗効果素子(第2磁気抵抗効果素子)23dは、配線接続されブリッジ回路B3を形成する。
図6(b)に示すブリッジ回路B3において、磁気抵抗効果素子23aおよび磁気抵抗効果素子23dは、電源端子Q1と接地端子Q2との間に直列に接続される。このとき、磁気抵抗効果素子23aの一端が電源端子Q1と接続され、磁気抵抗効果素子23dの一端が接地端子Q2と接続される。
また、磁気抵抗効果素子23cおよび磁気抵抗効果素子23bは、電源端子Q1と接地端子Q2との間に直列に接続される。このとき、磁気抵抗効果素子23cの一端が電源端子Q1と接続され、磁気抵抗効果素子23bの一端が接地端子Q2と接続される。
電源端子Q1、接地端子Q2には図示しない定電圧源の正極、負極がそれぞれ接続され、電源端子Q1には電源電圧が印加され、接地端子Q2には接地電圧が印加される。これにより、ブリッジ回路B2は、磁気抵抗効果素子22aと磁気抵抗効果素子22dとの間の電位と、磁気抵抗効果素子22cと磁気抵抗効果素子22bとの間の電位と、の電位差である出力電圧V2を出力する。また、ブリッジ回路B3は、磁気抵抗効果素子23aと磁気抵抗効果素子23dとの間の電位と、磁気抵抗効果素子23cと磁気抵抗効果素子23bとの間の電位と、の電位差である出力電圧V3を出力する。
磁気センサ1は、ブリッジ回路B2の出力電圧V2と、ブリッジ回路B3の出力電圧V3と、を組み合わせることで、印加される外部磁場の±Y方向成分及び±Z方向成分を分離して算出することができる。具体的には、外部磁場の±Y方向の成分Hyは、下記の式(2)により求めることができる。
Hy=ky(V2+V3) …(2)
ここで、感度係数kyは、出力電圧V2、V3に対する、外部磁場の±Y方向の成分Hy(±Y方向の磁界強度)の比例定数である。
さらに、外部磁場の±Z方向の成分Hzは、下記の式(3)により求めることができる。
Hz=kz(V2−V3) …(3)
ここで、感度係数kzは、出力電圧V2、V3に対する、外部磁場の±Z方向の成分Hz(±Z方向の磁界強度)の比例定数である。
本実施形態の磁気センサ1は、以上のような構成となっている。
以上のような構成の磁気センサ1によれば、各磁気抵抗効果素子21,22,23が初期化のための個別のコイルを有する場合と比べ、コイルの設置面積を低減することができる。そのため、小型化に適した新規な構成の磁気センサを提供することができる。
[第2実施形態]
図7は、本発明の第2実施形態に係る磁気センサの説明図である。本実施形態の磁気センサは、第1実施形態の磁気センサ1と一部共通しており、磁気検出部が有するコイルの構成が異なっている。したがって、本実施形態において第1実施形態と共通する構成要素については同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。
図7は、本実施形態の磁気センサが有する磁気検出部13の構成を示す模式図である。磁気検出部13は、磁気抵抗効果素子21a、磁気抵抗効果素子21b、第1コイル41、第1サブコイル51、第2サブコイル52を有している。
第1コイル41は、平面視において、外周側から内周側に向けて時計回りに巻回された導線である。第1コイル41は、例えば、基板10の内部において配線を引き回す層に設けられている。図では、第1コイル41は、x軸方向またはy軸方向に延在する直線部分と、延在方向が変化する屈曲部分とを有する略矩形の渦巻き形状として示している。
第1サブコイル51および第2サブコイル52は、平面視において第1コイル41と隣り合って設けられ、第1コイル41の中心O1を通り第1仮想線VL1と直交して設定される第2仮想線VL2と重なって配置されている。
第1サブコイル51および第2サブコイル52は、平面視において、外周側から内周側に向けて反時計回りに巻回された導線である。第1サブコイル51および第2サブコイル52は、基板10の内部において第1コイル41と同じ層に設けられている。図では、第1サブコイル51および第2サブコイル52は、x軸方向またはy軸方向に延在する直線部分と、延在方向が変化する屈曲部分とを有する略矩形の渦巻き形状として示している。
第1サブコイル51と第2サブコイル52とは、図に示すように同一の構成となっていることが好ましい。ここで、「同一の構成」とは、外形(形状、大きさ)が同じであることに加え、電源電圧および接地電圧に接続したときに同量の電流が流れるようにサブコイルを構成する導線全体の電気抵抗値も同じになっていることを意味する。同じ形成材料を用いて第1サブコイル51および第2サブコイル52を形成した場合には、外形が同じであればよい。
なお、第1サブコイル51および第2サブコイル52は、第1コイル41よりも小さいコイルであることとして示しているが、第1コイル41と同じ大きさであってもよく、第1コイル41よりも大きくてもよい。
磁気抵抗効果素子21aは、第1コイル41の中心O1と第1サブコイル51の中心O2との間において、x軸方向に延在する第1コイル41の直線部分(導線)および第1サブコイル51の直線部分(導線)と重なって配置している。
磁気抵抗効果素子21bは、第1コイル41の中心O1と第2サブコイル52の中心O3との間において、x軸方向に延在する第1コイル41の直線部分(導線)および第2サブコイル52の直線部分(導線)と重なって配置している。
磁気抵抗効果素子21aが重なる第1コイル41の直線部分の本数と、磁気抵抗効果素子21bが重なる第1コイル41の直線部分の本数とは同数(図では3本)となっている。また、磁気抵抗効果素子21aが重なる第1サブコイル51の直線部分の本数と、磁気抵抗効果素子21bが重なる第2サブコイル52の直線部分の本数とは同数(図では2本)となっている。すなわち、磁気抵抗効果素子21aが重なる第1コイル41の直線部分と第1サブコイル51の直線部分の合計本数と、磁気抵抗効果素子21bが重なる第1コイル41の直線部分と第2サブコイル52の直線部分の合計本数とは、同数(図では5本)となっている。
このような磁気検出部13においては、第1コイル41、第1サブコイル51および第2サブコイル52は、外周側の端部が電源電圧VDDに接続され、内周側の端部が接地電圧GNDに接続される。これにより第1コイル41、第1サブコイル51および第2サブコイル52には、それぞれ符号EC1、EC2,EC3で示す矢印方向に電流が流れ、流れる電流が磁場を形成する。
第1コイル41に電流EC1を流すと、電流EC1は磁場H1を形成する。磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bには、同じ大きさで逆向きの磁場H1が加わる。
第1サブコイル51および第2サブコイル52は、電源電圧および接地電圧に接続したときに同量の電流EC2,EC3が流れるため、生じる磁場H2,H3の強度が同じになる。したがって、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bには、同じ大きさで逆向きの磁場H2、H3が加わる。
これらの結果、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bには、同じ強度の磁場が加わり、精度よくフリー層の初期化をすることができる。
なお、初期化のためのコイルとしては、時計回りに巻回するコイルと半時計回りに巻回するコイルとを外周で接続して一体とした、「ダブルスパイラル型」と呼ばれる構成のものが知られている。例えば、磁気検出部13において、第1コイル41と第1サブコイル51とを、ダブルスパイラル型のコイルと置き換えることが可能のようにも思えるが、上述したように、第1コイル41と第1サブコイル51とを別体で構成するほうが好ましい。
すなわち、ダブルスパイラル型のコイルを用いた場合、ダブルスパイラル型のコイルにおける第1サブコイル51に該当する部分と、第2サブコイル52とに流す電流量を一致させ、それぞれ同じ大きさの磁場を発生させることが困難である。一方で、本実施形態のように第1サブコイル51と第2サブコイル52とを別体として形成すると、第1サブコイル51と第2サブコイル52とを同一の構成とすることで、特別な電気的制御を要することなく、同じ大きさの磁場を発生させることができるため、精度よくフリー層の初期化をすることができる。
このような磁気検出部13では、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bが重なるコイル(第1コイル、第1サブコイル、第2サブコイル)の直線部分の本数は、第1実施形態の磁気検出部12と同様に各5本となっているが、各コイルの巻回数は、第1実施形態の第1コイル31よりも少ない。そのため、第1コイル41、第1サブコイル51、第2サブコイル52の設置領域は、第1コイル31と比べてx軸方向の広がりが小さくなる。磁気検出部13において、各コイルのx軸方向に広がった部分は、磁気抵抗効果素子21aおよび磁気抵抗効果素子21bとは重ならず、初期化には不要な部分であるため、各コイルのx軸方向への広がりを小さくすることで、コイル全体の設置面積を低減することができる。そのため、磁気センサ1の小型化に適した構成となっている。
以上のような構成の磁気センサによれば、各磁気抵抗効果素子21,22,23が初期化のための個別のコイルを有する場合と比べ、コイルの設置面積を低減することができる。そのため、小型化に適した新規な構成の磁気センサを提供することができる。
以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施の形態例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。
1…磁気センサ、10…基板、12,13…磁気検出部、12A…第1の磁気検出部、12B…第2の磁気検出部、21,22,23…磁気抵抗効果素子、21a,21c,22a,22c,23a,23c…磁気抵抗効果素子(第1磁気抵抗効果素子)、21b,21d,22b,22d,23b,23d…磁気抵抗効果素子(第2磁気抵抗効果素子)、31,41…第1コイル、51…第1サブコイル、52…第2サブコイル、111,112…傾斜面、201b…ピンド層、201d…フリー層、VL1…第1仮想線、VL2…第2仮想線、F,P…磁化方向、H,H1,H2,H3…磁場、O,O1,O2,O3…中心

Claims (6)

  1. 基板と、
    前記基板に設けられた少なくとも2つの磁気検出部と、を有し、
    前記磁気検出部は、前記基板に設けられた第1コイルと、
    前記基板の法線方向からの視野において、前記第1コイルと重なって設けられた第1磁気抵抗効果素子および第2磁気抵抗効果素子と、を有し、
    前記第1コイルは、前記視野において渦巻き状に巻回された導線であり、
    前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子は、それぞれ磁化方向が固定されたピンド層と、磁化方向が外部磁場に応じて変化するフリー層と、が積層された構造を有し、前記第1コイルの中心を通って設定される第1仮想線を挟んで前記第1仮想線の両側に配置されており、
    第1の磁気検出部が有する前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子のうちいずれか一方と、第2の磁気検出部が有する前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子のうちいずれか一方と、を直列接続し、
    前記第1の磁気検出部が有する前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子のうち他方と、前記第2の磁気検出部が有する前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子のうち他方と、を直列接続して、
    前記第1の磁気検出部と前記第2の磁気検出部とで、差動回路を構成する磁気センサ。
  2. 前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子は、前記第1仮想線に対して対称な位置に配置されている請求項1に記載の磁気センサ。
  3. 前記第1磁気抵抗効果素子および前記第2磁気抵抗効果素子は、前記第1コイルの中心を通り前記第1仮想線と直交して設定される第2仮想線と重なって配置されている請求項1または2に記載の磁気センサ。
  4. 前記第1磁気抵抗効果素子における前記ピンド層の磁化方向と、前記第2磁気抵抗効果素子における前記ピンド層の磁化方向とは、互いに同方向に設定されている請求項1から3のいずれか1項に記載の磁気センサ。
  5. 前記基板の法線方向からの視野において、前記第1コイルと隣り合って設けられた第1サブコイルおよび第2サブコイルを有し、
    前記第1サブコイルおよび前記第2サブコイルは、前記視野において渦巻き状に巻回された導線であり、前記第1コイルの中心を通り前記第1仮想線と直交して設定される第2仮想線と重なって配置され、
    前記第1磁気抵抗効果素子は、前記視野において前記第1コイルおよび前記第1サブコイルに重なり、
    前記第2磁気抵抗効果素子は、前記視野において前記第1コイルおよび前記第2サブコイルに重なる請求項1から4のいずれか1項に記載の磁気センサ。
  6. 前記第1サブコイルと前記第2サブコイルとは、同一の構成である請求項5に記載の磁気センサ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020197491A (ja) * 2019-06-05 2020-12-10 Tdk株式会社 磁気センサおよび磁気センサシステム
CN113960508A (zh) * 2020-07-21 2022-01-21 Tdk株式会社 磁传感器
JP2023010557A (ja) * 2021-07-08 2023-01-20 Tdk株式会社 磁気センサ装置および磁気センサシステム
US11686788B2 (en) 2021-07-08 2023-06-27 Tdk Corporation Magnetic sensor device and magnetic sensor system

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020197491A (ja) * 2019-06-05 2020-12-10 Tdk株式会社 磁気センサおよび磁気センサシステム
JP7063307B2 (ja) 2019-06-05 2022-05-09 Tdk株式会社 磁気センサおよび磁気センサシステム
CN113960508A (zh) * 2020-07-21 2022-01-21 Tdk株式会社 磁传感器
CN113960508B (zh) * 2020-07-21 2024-05-24 Tdk株式会社 磁传感器
JP2023010557A (ja) * 2021-07-08 2023-01-20 Tdk株式会社 磁気センサ装置および磁気センサシステム
US11686788B2 (en) 2021-07-08 2023-06-27 Tdk Corporation Magnetic sensor device and magnetic sensor system
JP7332738B2 (ja) 2021-07-08 2023-08-23 Tdk株式会社 磁気センサ装置および磁気センサシステム
US11946989B2 (en) 2021-07-08 2024-04-02 Tdk Corporation Magnetic sensor device and magnetic sensor system

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