JP2016142739A - フィルムの検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
フィルムの検査方法
偏光フィルムに対して自動光学検査を行い、群集性輝点欠陥、一糸欠陥、輝点欠陥、スター欠陥、スクラッチ欠陥、ブラック筋欠陥、糊ピンホール欠陥、気泡性欠陥、異物気泡欠陥、白点異物欠陥及び異物欠陥を検出した。
フィルムの検査方法
偏光フィルムに対して自動光学検査を行い、群集性輝点欠陥、一糸欠陥、輝点欠陥、スター欠陥、スクラッチ欠陥、ブラック筋欠陥、糊ピンホール欠陥、気泡性欠陥、異物気泡欠陥、白点異物欠陥及び異物欠陥を検出した。
フィルムの検査方法
偏光フィルムに対して自動光学検査を行い、群集性輝点欠陥、一糸欠陥、輝点欠陥、スター欠陥、スクラッチ欠陥、ブラック筋欠陥、糊ピンホール欠陥、気泡性欠陥、異物気泡欠陥、白点異物欠陥及び異物欠陥を検出した。
Claims (11)
- 分類された複数の欠陥グループからの各単一欠陥画像情報を多次元ベクトルに変換する段階と、
前記ベクトルを多次元座標系にマッピングし、前記ベクトルを前記欠陥グループによって区分する最適超平面を決定する段階と、
判定対象のフィルムで検出された欠陥から得られた欠陥画像情報を多次元ベクトルに変換後、変換された多次元ベクトルを前記最適超平面が決定された多次元座標系にマッピングし、該当する欠陥グループを得る段階と、を含むフィルムの検査方法。 - 前記最適超平面を決定する段階は、互いに異なる種類の前記欠陥グループから得られたベクトルの境界に超平面を形成し、前記超平面のうち、互いに異なる前記欠陥グループから得られた最近接の2つのベクトルからの距離の和が最大となる前記超平面を前記最適超平面として決定する、請求項1に記載のフィルムの検査方法。
- 前記欠陥画像情報は、ピーク(peak)、面積(area)、デルタX(dx)、デルタY(dy)、密度(density)、厚さ(thickness)及び陰影(shading)からなるパラメータより選択される2種以上であり、前記欠陥画像情報が前記多次元ベクトルの成分として含まれる、請求項1に記載のフィルムの検査方法。
- 前記欠陥画像情報は、ピーク(peak)、面積(area)、デルタX(dx)、デルタY(dy)、密度(density)、厚さ(thickness)及び陰影(shading)であり、前記欠陥画像情報が前記多次元ベクトルの成分として含まれる、請求項1に記載のフィルムの検査方法。
- 前記欠陥画像情報は、欠陥として認識された部分を中央に含む長方形のピクセルグループにおける各ピクセルの明るさ値であり、前記欠陥画像情報が前記多次元ベクトルの成分として含まれる、請求項1に記載のフィルムの検査方法。
- 前記各ピクセルの位置情報が前記多次元ベクトルの各軸に変換され、前記各ピクセルの明るさ値が前記ベクトルの各成分に変換される、請求項5に記載のフィルムの検査方法。
- 前記長方形のピクセルグループにおいて欠陥として認識された部分と背景に該当する部分とを分離し、背景に該当する部分のみを含むピクセルの明るさ値を0に設定する段階をさらに含む、請求項5に記載のフィルムの検査方法。
- 2ピクセル以下のサイズのノイズを含むピクセルの明るさ値を0に設定する段階をさらに含む、請求項5に記載のフィルムの検査方法。
- 欠陥として認識された部分を中央に含む長方形のピクセルグループにおいて、各ピクセルごとに下記の数式1又は数式2で表される値によって前記ベクトルにおける軸が定まり、dx及びdyと比例する所定値によって当該軸の成分が決まる、請求項1に記載のフィルムの検査方法。
- 前記欠陥画像情報を正規化して前記多次元ベクトルに変換する、請求項1に記載のフィルムの検査方法。
- 前記判定対象のフィルムで検出された欠陥の前記欠陥グループごとに良品判定基準が異なるように設定してフィルムの良否を判定する、請求項1に記載のフィルムの検査方法。
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