JP2016134865A - マーク率ジッタ補正cdr回路 - Google Patents

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【課題】マーク率を予測し、かつ入力ビット毎に位相を変えることによりマーク率ジッタを削減するCDR回路を提供すること。【解決手段】本発明のCDR回路は、シリアルデータをリカバリクロックでサンプリングしリカバリデータを出力するサンプリング回路と、シリアルデータとリカバリクロックの位相差を出力する位相比較回路と、位相差とリカバリデータの入力に対して位相オフセット量を出力するオフセット量選択回路と、位相差と位相オフセット量からリカバリクロックの位相を選択する位相選択回路を備える。位相選択回路は、リカバリクロックを選択する際に、オフセット量選択回路がシリアルデータとシリアルデータのマーク率に対応した位相オフセット量だけオフセットしたクロック選択信号を出力する。【選択図】図1

Description

本発明は、CDR回路に関し、特にマーク率によって変化するジッタを補正するCDR回路に関する。
クロックデータリカバリ(CDR)回路はデータ信号の遷移タイミングからクロック信号を再生する回路である。これを利用したデータ通信はPCI Expressをはじめ広く利用されている。以下に従来の例を示す。
図4は一般的なCDR回路1の概略構成を示すブロック図である。図において、サンプリング回路2は、受信したシリアルデータの信号をリカバリクロックでサンプリングし、リカバリデータを出力する。位相比較回路3は、シリアルデータとリカバリクロックの位相差を出力する。位相選択回路4は、位相比較回路3が出力した位相差を入力として受け、該位相差からリカバリクロックの位相を選択する。このように、位相情報とリカバリクロックの位相差からクロックの位相を決定し、クロック選択信号をマルチプレクサ5に送信する。
通信線上でマーク率の変化によるジッタが生じるとエッジの推定に誤りが生じて、データを正しくサンプリングできない場合がある。なお、マーク率とは、シリアルデータ中の1の割合を表す値であり、例えば、0101ならマーク率50%、0111ならマーク率75%となる。
データが正しく受信されないと通信効率の低下や深刻な障害が発生する可能性があるため、データ通信路を設計する際には冗長性や時間余裕を持たせた設計を行うことが一般的である。しかしながら、冗長性や時間余裕は通信効率の低下に繋がるため、データエッジ位相のヒストグラムから最適な位相を選択するといったCDR回路が従来技術として提案されている(特許文献1,2)。
国際公開第2013/132716号 特許第5575082号公報
しかし、ジッタにはマーク率に依存して変化する成分があるため、受信信号に追従するとジッタの変化に遅れることになる。また、マーク率によりデューティ比が変化することがあるため、デューティ比を変えずに位相を変えるだけでは対応できない。
図2は、マーク率によってエッジ位相の分布が変化した場合の例である。マーク率が50%よりも悪くなることで、図に示すように、現在のリカバリデータが0か1かによって、ジッタの分布が変わって来る場合がある。CDR回路は、シリアルデータの内容によらずリカバリクロックの位相を、シリアルデータのエッジ位相に追従しようとするが、マーク率が40%や60%の場合、現在のリカバリデータの0/1によってエッジ位相の分布がピークを2つ持つので、エッジ位置が特定できず、追従性が悪くなる。
そこで本発明の目的は、マーク率を予測し、かつ入力ビット毎に位相を変えることによりマーク率ジッタを削減するCDR回路を提供することである。
本願の請求項1に係る発明は、シリアルデータを受信しリカバリデータとリカバリクロックを出力するCDR回路であって、前記シリアルデータを前記リカバリクロックでサンプリングし前記リカバリデータを出力するサンプリング回路と、前記シリアルデータと前記リカバリクロックの位相差を出力する位相比較回路と、前記位相差と前記リカバリデータの入力に対して位相オフセット量を出力するオフセット量選択回路と、前記位相差と前記位相オフセット量から前記リカバリクロックの位相を選択する位相選択回路を備え、前記位相選択回路は、前記リカバリクロックを選択する際に、前記オフセット量選択回路が前記シリアルデータと前記シリアルデータのマーク率に対応した前記位相オフセット量だけオフセットしたクロック選択信号を出力する、ことを特徴とするCDR回路である。
本願の請求項2に係る発明は、前記マーク率と前記位相オフセット量との関係を定義するプロファイルを予め記憶しておき、前記プロファイルに基づき、前記オフセット量選択回路が現在のマーク率に対応する前記位相オフセット量を決定する、ことを特徴とする請求項1に記載のCDR回路である。
本願の請求項3に係る発明は、前記オフセット量選択回路は、前記位相比較回路が前記位相差を検出した際に、前記リカバリデータと前記リカバリデータのマーク率に対応付けて前記位相差を記録し、前記リカバリデータと前記リカバリデータのマーク率に対応付けて記録した前記位相差に基づき、現在の前記リカバリデータと前記リカバリデータのマーク率に対応する前記位相オフセット量を決定する、ことを特徴とする請求項1に記載のCDR回路である。
本発明により、マーク率毎に位相差を保存し、また補正することで、ジッタのうちマーク率に依存する成分を削減することが可能となり、そのCDR回路のデータ受信エラーを低減することが可能となる。これにより、通信効率の向上や障害発生の抑制が可能となる。
本発明の実施形態におけるCDR回路の概略構成を示すブロック図である。 受信データに発生するジッタの分布を示す図である。 本発明を適用することにより改善された受信データに発生するジッタの分布を示す図である。 従来技術におけるCDR回路の概略構成を示すブロック図である。 マーク率の変化に応じて受信データに発生するジッタの分布を説明する図である。
以下、本発明の実施の形態を図面と共に説明する。なお、従来技術と同一または類似する構成は同じ符号を用いて説明する。
図1は、本発明のマーク率ジッタ補正CDR回路の概略構成を示すブロック図である。本発明のCDR回路1は、サンプリング回路2、位相比較回路3、位相選択回路4、マルチプレクサ5に加えて、オフセット量選択回路6を備える。
サンプリング回路2は、受信したシリアルデータの信号をリカバリクロックでサンプリングし、リカバリデータを出力する。また、位相比較回路3は、シリアルデータとリカバリクロックの位相差を出力する。
位相選択回路4は、位相比較回路3が出力した位相差と、後述するオフセット量選択回路6が出力した位相オフセット量を入力として受け、該位相差と該位相オフセット量からリカバリクロックの位相を選択し、クロック選択信号をマルチプレクサ5に送信する。
本発明の特徴的構成であるオフセット量選択回路6は、リカバリデータのマーク率とリカバリデータの現在の値(0又は1)を観測し、観察したリカバリデータのマーク率と現在のリカバリデータの値に対して位相差を対応付けて記録すると共に、リカバリデータのマーク率と現在のリカバリデータの値に対応する位相オフセット量を出力する。
例えば、マーク率Mを持つシリアルデータを受信する場合、オフセット量選択回路6は、マーク率M、現在のリカバリデータの値X及び該信号のエッジ位相情報を記録すると共に、マーク率がMかつ現在のリカバリデータの値がXの場合のオフセット量tMXを決定する。
すなわち、サンプリング回路2がマーク率Mのリカバリデータを出力したとき、オフセット量選択回路6はマーク率M、及び現在のリカバリデータの値Xを検出し位相差と関連付けて記録すると同時に、位相選択回路4にマーク率M、及び現在のリカバリデータの値Xに対応する位相オフセット量tMXを通知する。
この様に構成することで、図5のようにエッジ位相の分布がピークを2つ持つ場合であっても、次のビットを受信する際にはマーク率及び現在のリカバリデータ毎にオフセットを持ったリカバリクロックが選択されるため、マーク率ジッタの低減が可能となる。
図2に本発明を適用する前の受信データのジッタを示す。本発明を適用する前は、マーク率が悪い場合(50%から外れた場合)、図に示すようにリカバリデータが0か1かによって、ジッタの分布が中心からマーク率に応じてオフセットした複数のピークを持つ。
本発明を適用することにより、前もってその関係を測定して記録したプロファイルを作成し、オフセット量選択回路6が、測定したマーク率とその時のリカバリデータの値およびプロファイルによってオフセット量を決定することができるようになる。
実際にはマーク率の値は送受信しているデータによって刻一刻変化するので、オフセット量選択回路6が、マーク率の移動平均を計算してこれを現在のマーク率とするように構成し、このマーク率を元に算出されたオフセット量を、位相比較回路3の出力に加えて位相を選択するようにすることで、あたかも、図5に示すように、ジッタが無くなったかのように見え、より適切な位相選択が可能である。
なお、上の文章ではマーク率の計算に移動平均を用いる例を示したが、その時々の大まかなマーク率を求めることができるのであれば、他の方法でも構わない。
また、通信に使用しているデバイスの個体差等により、前もって測定したマーク率とジッタの関係と、実際の関係との乖離が大きい場合は、オフセット量選択回路6が、実機上でマーク率とジッタとの関係を記録して、プロファイルを作成してもよい。
1 CDR回路
2 サンプリング回路
3 位相比較回路
4 位相選択回路
5 マルチプレクサ
6 オフセット量選択回路

Claims (3)

  1. シリアルデータを受信しリカバリデータとリカバリクロックを出力するCDR回路であって、
    前記シリアルデータを前記リカバリクロックでサンプリングし前記リカバリデータを出力するサンプリング回路と、
    前記シリアルデータと前記リカバリクロックの位相差を出力する位相比較回路と、
    前記位相差と前記リカバリデータの入力に対して位相オフセット量を出力するオフセット量選択回路と、
    前記位相差と前記位相オフセット量から前記リカバリクロックの位相を選択する位相選択回路を備え、
    前記位相選択回路は、前記リカバリクロックを選択する際に、前記オフセット量選択回路が前記シリアルデータと前記シリアルデータのマーク率に対応した前記位相オフセット量だけオフセットしたクロック選択信号を出力する、
    ことを特徴とするCDR回路。
  2. 前記マーク率と前記位相オフセット量との関係を定義するプロファイルを予め記憶しておき、
    前記プロファイルに基づき、前記オフセット量選択回路が現在のマーク率に対応する前記位相オフセット量を決定する、
    ことを特徴とする請求項1に記載のCDR回路。
  3. 前記オフセット量選択回路は、前記位相比較回路が前記位相差を検出した際に、前記リカバリデータと前記リカバリデータのマーク率に対応付けて前記位相差を記録し、前記リカバリデータと前記リカバリデータのマーク率に対応付けて記録した前記位相差に基づき、現在の前記リカバリデータと前記リカバリデータのマーク率に対応する前記位相オフセット量を決定する、
    ことを特徴とする請求項1に記載のCDR回路。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59178833A (ja) * 1983-03-29 1984-10-11 Fujitsu Ltd クロツク再生回路
JPH11331280A (ja) * 1998-05-11 1999-11-30 Sony Corp 直流リカバリ回路
US20060002497A1 (en) * 2004-07-02 2006-01-05 Broadcom Corporation Phase adjustment method and circuit for dll-based serial data link transceivers
WO2007116696A1 (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Anritsu Corporation データ識別装置および誤り測定装置
JP2012044279A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Fujitsu Semiconductor Ltd クロックデータ再生回路およびクロックデータ再生方法
JP2014183578A (ja) * 2013-03-15 2014-09-29 Lsi Corp クロック・データ・リカバリ装置及びその方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59178833A (ja) * 1983-03-29 1984-10-11 Fujitsu Ltd クロツク再生回路
JPH11331280A (ja) * 1998-05-11 1999-11-30 Sony Corp 直流リカバリ回路
US20060002497A1 (en) * 2004-07-02 2006-01-05 Broadcom Corporation Phase adjustment method and circuit for dll-based serial data link transceivers
WO2007116696A1 (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Anritsu Corporation データ識別装置および誤り測定装置
JP2012044279A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Fujitsu Semiconductor Ltd クロックデータ再生回路およびクロックデータ再生方法
JP2014183578A (ja) * 2013-03-15 2014-09-29 Lsi Corp クロック・データ・リカバリ装置及びその方法

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