JP2016114523A - テラヘルツ波測定装置、測定方法、及び測定用具 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 100
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 47
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 23
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 3
- SEIGJEJVIMIXIU-UHFFFAOYSA-J aluminum;sodium;carbonate;dihydroxide Chemical compound [Na+].O[Al+]O.[O-]C([O-])=O SEIGJEJVIMIXIU-UHFFFAOYSA-J 0.000 claims 1
- CSJLBAMHHLJAAS-UHFFFAOYSA-N diethylaminosulfur trifluoride Substances CCN(CC)S(F)(F)F CSJLBAMHHLJAAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 142
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 24
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 19
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 14
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 14
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 10
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 3
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 3
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 3
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 3
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004699 Ultra-high molecular weight polyethylene Substances 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 229910000154 gallium phosphate Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229920000785 ultra high molecular weight polyethylene Polymers 0.000 description 2
- SDACGHLXIUCCIC-UHFFFAOYSA-N 2-[3-[2-(4-hydroxyphenyl)ethenyl]-5,5-dimethylcyclohex-2-en-1-ylidene]propanedinitrile Chemical compound N#CC(C#N)=C1CC(C)(C)CC(C=CC=2C=CC(O)=CC=2)=C1 SDACGHLXIUCCIC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000089 Cyclic olefin copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229910003327 LiNbO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- LWFNJDOYCSNXDO-UHFFFAOYSA-K gallium;phosphate Chemical compound [Ga+3].[O-]P([O-])([O-])=O LWFNJDOYCSNXDO-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- -1 polydimethylsiloxane Polymers 0.000 description 1
- WYOHGPUPVHHUGO-UHFFFAOYSA-K potassium;oxygen(2-);titanium(4+);phosphate Chemical compound [O-2].[K+].[Ti+4].[O-]P([O-])([O-])=O WYOHGPUPVHHUGO-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- WQGWDDDVZFFDIG-UHFFFAOYSA-N pyrogallol Chemical compound OC1=CC=CC(O)=C1O WQGWDDDVZFFDIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000013076 target substance Substances 0.000 description 1
- JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N toluene-4-sulfonic acid Chemical compound CC1=CC=C(S(O)(=O)=O)C=C1 JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
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Abstract
Description
図1に示すように、第1の実施の形態に係るテラヘルツ波測定装置10は、励起光を発生させる励起光発生装置20と、励起光を集光する集光レンズ22と、集光された励起光をテラヘルツ波発生部30へ導光するミラー24と、励起光により発生したテラヘルツ波が試料に入射されるテラヘルツ波発生部30と、テラヘルツ波発生部30を透過したテラヘルツ波を導光する一対の放物面鏡42A、42Bと、導光されたテラヘルツ波の強度を検出する検出器50と、テラヘルツ波の検出結果を処理する処理部52とを含んで構成されている。
次に、第2の実施の形態について説明する。なお、第2の実施の形態に係るテラヘルツ波測定装置において、第1の実施の形態に係るテラヘルツ波測定装置10と同様の構成については、同一符号を付して詳細な説明を省略する。
次に、本発明の効果を説明するための比較検証実験に関する実施例について説明する。
遮蔽率=(銀線なしのTHz−銀線ありのTHz)/銀線なしのTHz
である。なお、上記式の「THz」はテラヘルツ波強度を表している。また、検出されるテラヘルツ波のノイズフロアは6.6mVである。
20 励起光発生装置
22 集光レンズ
24 ミラー
30 テラヘルツ波発生部
32 測定用具
32A テラヘルツ波発生素子
32B、232B 微細加工構造体
32C、232C マイクロ流路
32D シート
42A、42B 放物面鏡
50 検出器
52 処理部
54 移動機構
Claims (9)
- 異なる複数の波長成分の光を含む励起光であって、ビーム径が所定サイズとなるように集光された励起光が入射され、入射された前記励起光に基づく差周波発生により、テラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生素子と、テラヘルツ波を透過する構造体と、前記構造体を透過したテラヘルツ波の強度を検出する検出器を備え、
前記構造体は、試料を保持する所定の幅の試料保持部を備え、前記テラヘルツ波発生素子と密着または接合されている
テラヘルツ波測定装置。 - 前記励起光のビーム径の所定サイズが前記試料保持部の幅よりも短いことを特徴とする請求項1記載のテラヘルツ波測定装置。
- 前記テラヘルツ波発生素子に対する前記励起光の入射位置が一次元または二次元に走査されるように、前記励起光の光路または前記構造体を移動させる移動部を含み、
前記検出器は、前記テラヘルツ波発生素子に対する前記励起光の入射位置に応じたテラヘルツ波の強度を検出する
請求項1または請求項2記載のテラヘルツ波測定装置。 - 前記テラヘルツ波発生素子を、差周波発生における位相整合を満たす非線形光学結晶とした請求項1〜請求項3のいずれか1項記載のテラヘルツ波測定装置。
- 前記非線形光学結晶を、有機非線形光学結晶であるDAST結晶、DASC結晶、またはOH1結晶とした請求項4記載のテラヘルツ波測定装置。
- 異なる複数の波長成分の光を含む励起光であって、ビーム径が所定サイズとなるように集光された励起光が入射され、入射された前記励起光に基づく差周波発生により、テラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生素子と、テラヘルツ波を透過する構造体と、前記構造体を透過したテラヘルツ波の強度を検出する検出器を備えたテラヘルツ波測定装置を用いたテラヘルツ波測定方法であって、
前記構造体は、試料を保持する所定の幅の試料保持部備え、前記テラヘルツ波発生素子と密着または接合され、
前記構造体を透過したテラヘルツ波の強度を検出する
テラヘルツ波測定方法。 - 測定対象の試料について検出されたテラヘルツ波の強度と、既知の濃度の既知の試料について予め検出されたテラヘルツ波の強度とを比較して、前記測定対象の試料の濃度を測定する請求項6記載のテラヘルツ波測定方法。
- 測定対象の試料について検出されたテラヘルツ波の強度と、既知の種類の試料について予め検出されたテラヘルツ波の強度の各々とを比較して、前記測定対象の試料の種類を同定する請求項6記載のテラヘルツ波測定方法。
- 異なる複数の波長成分の光を含む励起光であって、ビーム径が所定サイズとなるように集光された励起光が入射され、入射された前記励起光に基づく差周波発生により、テラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生素子と、テラヘルツ波を透過する構造体とを備え、
前記構造体は、試料を保持する所定の幅の試料保持部の幅を備え、前記テラヘルツ波発生素子と密着または接合されている
テラヘルツ波測定用具。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014254392A JP2016114523A (ja) | 2014-12-16 | 2014-12-16 | テラヘルツ波測定装置、測定方法、及び測定用具 |
US14/965,972 US9784610B2 (en) | 2014-12-16 | 2015-12-11 | Terahertz wave measuring device, measuring method, and measuring rig |
CN201510930890.0A CN105699315B (zh) | 2014-12-16 | 2015-12-15 | 太赫兹波测量装置、测量方法以及测量仪器 |
EP15200071.7A EP3035033B1 (en) | 2014-12-16 | 2015-12-15 | Terahertz wave measuring device and measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014254392A JP2016114523A (ja) | 2014-12-16 | 2014-12-16 | テラヘルツ波測定装置、測定方法、及び測定用具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016114523A true JP2016114523A (ja) | 2016-06-23 |
JP2016114523A5 JP2016114523A5 (ja) | 2017-12-07 |
Family
ID=54936809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014254392A Pending JP2016114523A (ja) | 2014-12-16 | 2014-12-16 | テラヘルツ波測定装置、測定方法、及び測定用具 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9784610B2 (ja) |
EP (1) | EP3035033B1 (ja) |
JP (1) | JP2016114523A (ja) |
CN (1) | CN105699315B (ja) |
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-
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- 2015-12-15 EP EP15200071.7A patent/EP3035033B1/en active Active
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---|---|
US9784610B2 (en) | 2017-10-10 |
EP3035033A1 (en) | 2016-06-22 |
CN105699315B (zh) | 2019-12-03 |
CN105699315A (zh) | 2016-06-22 |
EP3035033B1 (en) | 2018-06-13 |
US20160169735A1 (en) | 2016-06-16 |
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