JP2016081556A - データ記憶装置、データ記憶システム、方法、および装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ＨＡＭＲ障害を予測するために、ＨＡＭＲに特有のさまざまなパラメータを監視および記録してヘッド障害を予測することを提供する。【解決手段】本開示の装置は、読取／書込ヘッドに結合されるコントローラを含み、コントローラはさまざまな動作を実行するように構成される。より特定的には、コントローラは、読取／書込ヘッドの動作パラメータを監視し、動作パラメータに基づいて故障を検出するように構成される。故障は、書込有効化エネルギ源が書込動作時に誤作動していることを示す。コントローラはさらに、故障に応答して、書込動作に関連付けられるデータを保護する修復作業を行なうように構成される。【選択図】図３

Description

概要
本開示の装置は、データ記憶装置の読取／書込ヘッドに結合されるコントローラを含み、コントローラはさまざまな動作を実行するように構成される。より特定的には、コントローラは、読取／書込ヘッドの動作パラメータを監視し、動作パラメータに基づいて故障を検出するように構成される。故障は、書込有効化エネルギ源が書込動作時に誤作動していることを示す。コントローラはさらに、故障に応答して、書込動作に関連付けられるデータを保護する修復作業を行なうように構成される。

本開示のシステムは、エネルギ源と、読取／書込ヘッドと、読取／書込ヘッドに結合されるコントローラとを含むデータ記憶装置を含む。エネルギ源は、記録媒体を加熱するように構成される。読取／書込ヘッドは、書込動作時にエネルギ源が記録媒体を加熱しているか否かを検出するように構成される。コントローラは、読取／書込ヘッドの動作パラメータを監視し、読取／書込ヘッドの動作パラメータに基づいて故障を検出し、故障に応答して、書込動作に関連付けられるデータを保護する修復作業を行なうように構成される。故障は、記録媒体を加熱するために用いられるエネルギ源が書込動作時に誤作動していることを示す。

本開示の方法は、データの熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ）書込動作を開始することと、ＨＡＭＲ書込動作を有効にするのに十分な熱が提供されているか否かを検出することと、ＨＡＭＲ書込動作を有効にするのに十分な熱が提供されていない場合は故障を表示することと、書込動作に関連付けられるデータを保護することによって故障に応答することとを含む。

本開示の装置は、熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ）ヘッドに結合されるコントローラを含む。コントローラは、ＨＡＭＲヘッドの動作パラメータを監視し、動作パラメータがＨＡＭＲヘッドの故障を表示しているか否かを判断し、動作パラメータが故障を表示している場合は修復作業を開始するように構成される。

上記の概要は、各実施形態およびすべての実現例を記述することを意図していない。添付の図面とともに以下の詳細な説明および特許請求の範囲を参照することによって、より完全な理解が明らかになり認識されるであろう。

図面は必ずしも縮尺通りであるとは限らない。図中に用いられる同様の番号は同様の構成要素を指す。しかし、所与の図中の構成要素を指すための番号の使用は、同じ番号でラベル付けされている別の図中の構成要素を限定することを意図していないことが理解されるであろう。

ＨＡＭＲスライダの例を示す図である。 読取／書込ヘッド構成の例を示す図である。 書込動作に用いられる構成要素の例を示すブロック図である。 さまざまな実施形態に係るＨＡＭＲ予測故障監視の例を示すフローチャートの図である。 さまざまな実施形態に係るＨＡＭＲ予測故障監視の例を示すフローチャートの図である。

詳細な説明
サーマルアシスト磁気記録（thermal-assisted magnetic recording：ＴＡＭＲ）ディスクドライブとも称される熱アシスト磁気記録（heat-assisted magnetic recording：ＨＡＭＲ）ディスクドライブでは、熱エネルギが、磁気記録媒体に印加される磁界とともに用いられ、従来の磁気媒体の面密度を制限する超常磁性効果を克服する。ＨＡＭＲ記録装置では、情報ビットは高温で記憶層上に記録される。記憶層内の加熱領域がデータビット寸法を決定し、線記録密度はデータビット同士の間の磁気転移によって決定される。

所望のデータ密度を達成するために、スライダとしても公知のＨＡＭＲ記録ヘッドは、たとえばレーザダイオードなどのエネルギ源からの光エネルギを記録媒体上の熱に誘導し、集中させ、変換する光学部品を含む。記録媒体上のＨＡＭＲ媒体ホットスポットは、光の半波長よりも小さい必要があり得る。しかし、回折限界として公知であるもののために、光学部品はこのスケールで集光することができない。光の半波長よりも小さい、非常に小さい閉じ込められたホットスポットを達成する１つの方法は、光学近接場トランスデューサ（ＮＦＴ）、たとえばプラズモン光学アンテナを用いることである。ＮＦＴは、所望の波長で表面プラズモン共鳴を提供する。共鳴すると、電子の集団振動のために高電界がＮＦＴを取囲む。電界の一部は記憶媒体内にトンネルして吸収され、記録のために媒体の温度を局所的にキュリー点よりも高く上昇させる。熱エネルギの存在がなければ、媒体はキュリー点未満のままであり、消去または再磁化は起こり得ない。

ＨＡＭＲ記録ヘッドに特有の固有の構成部品、たとえば、レーザダイオード、ＮＦＴ、光導波路および関連の電気的接続およびプリアンプ電子機器のため、ＨＡＭＲ記録ヘッドでは垂直記録ヘッドとは異なる方法で障害が起こりやすい。ゆえに、ＨＡＭＲ障害を予測するために、本開示は、ＨＡＭＲに特有のさまざまなパラメータを監視および記録してヘッド障害を予測することを提供する。例示的な実施形態では、１つ以上のパラメータが監視され、それらの値が周期的に記録され、当該値が閾値と比較される。閾値を超えると通知が与えられ、修正作業が行われ得る。ＨＡＭＲに特有の構成部品に関するさらなる詳細、およびその構成部品が予測故障監視においてどのように実現され得るのかを以下に述べる。

ＨＡＭＲスライダの例示的な構成が図１に示される。ＨＡＭＲスライダ１００は、近接場トランスデューサ（ＮＦＴ）１０６の光学アンテナ１１２に通電するレーザ光を生成するように構成される、たとえばレーザダイオードなどのエネルギ源１０２を含む。エネルギ源１０２によって生成されるレーザ光は、光導波路１１０を通ってＮＦＴ１０６に誘導される。空気軸受面（ＡＢＳ）としても公知のヘッド媒体インターフェイス（ＨＭＩ）が項目番号１０８で示されている。

ＨＡＭＲスライダ１００の内部に含まれる例示的な読取／書込ヘッド構成１２０の詳細図が図２に与えられる。読取／書込ヘッド構成１２０は、ＡＢＳ１０８が磁気媒体１２２に近接した状態で位置決めされる。読取／書込ヘッド構成１２０は、磁気媒体１２２からデータを読取るためのＡＢＳ１０８に近接した磁気読取センサ１２４と、磁気媒体１２２に書込むための磁気ライタ構成１２６とを含む。磁気ライタ構成１２６は、ＮＦＴ１０６、中間光導波路１１０、書込ポール１２８および書込コイル１３２を含む。ＮＦＴ１０６が発する光によって生じるホットスポット１３３が、磁気媒体１２２の内部に示されている。読取／書込ヘッド構成１２０はヒータ１３４をさらに含み、さまざまな他のセンサをさらに含んでもよい。説明のため、読取／書込ヘッド構成１２０の内部の可能な配置場所を示す多数のセンサである、センサ１３６ａ，１３６ｂおよび１３６ｃが示されている。

センサ１３６ａ，１３６ｂおよび１３６ｃは、たとえば、抵抗温度係数（ＴＣＲ）を有するセンサ、バリスタ、または熱電対を含む任意のさまざまなセンサを含んでもよい。ＴＣＲセンサの一例は、デュアルエンド型抵抗温度係数センサ（dual-ended temperature coefficient of resistance sensor：ＤＥＴＣＲ）である。ＴＣＲセンサの別の例は、２つのＴＣＲセンサが同一のまたは異なるバイアス源と接地との間に並列結合される接地分割抵抗温度係数センサ（ground-split temperature coefficient of resistance sensor：ＧＳＴＣＲ）である。ＴＣＲセンサは、センサの両端の抵抗変化または抵抗の変化率を測定することによって温度変化を測定し、したがって、とりわけ空気圧、間隙、ヘッド動作、および接触からのすべての熱的条件変化によって引起こされるＡＢＳ１０８における温度変化を測定することができる。上述のように、ＴＣＲセンサはＨＡＭＲスライダ１００内の温度を監視するために用いられ得るが、それはさらに、製造時にヘッド−ディスク間隔を設定するために用いられてもよく、および／またはサーマルアスペリティ（ＴＡ）検出のために用いられてもよい。

センサ１３６ａ，１３６ｂおよび１３６ｃは、代替的におよび／または付加的に、フォトダイオード、光検出器、フォトトランジスタまたはボロメータなどの光出力検出センサを含む任意のさまざまなセンサを含んでもよい。光出力検出センサは、たとえばレーザダイオードなどのエネルギ源１０２の出力パワーを調節するためのフィードバック機構として、エネルギ源１０２の光出力を測定するために用いられ得る。

図２のセンサ１３６ａ，１３６ｂおよび１３６ｃの場所は、あるセンサについての可能な場所を表している。他のセンサ場所を所望に応じてまたは適宜用いてもよい。たとえば、フォトダイオードは、記録ヘッド製造の複雑さを軽減するためにレーザダイオードに近接して位置してもよい。さらに、読取／書込ヘッド構成１２０は１つのセンサまたは１つの種類のセンサに限定される必要はなく、むしろ複数のセンサおよび複数のセンサ種類を所望に応じてまたは適宜用いてもよい。センサを有しない読取／書込ヘッド構成１２０も考えられ、特定の用途に従って好適であり得る。

次に図３を参照して、ブロック図は、書込動作時にＨＡＭＲドライブによって用いられる典型的な構成要素の例を示している。構成要素は、ホスト１４０、コントローラ特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）１４２、プリアンプ１４４、および書込ヘッド１４６を含む。ホスト１４０は一般にデジタルデータ記憶を必要とする装置、たとえばコンピュータであり、ＳＡＴＡ、ＳａＳ、ＳＣＳＩ、ＰＣＩｅなどのホストプロトコルおよびインターフェイスを介してＨＡＭＲデータ記憶装置に結合され得る。コントローラＡＳＩＣ１４２は一般に、ファームウェア１５０の制御下で動作するコントローラマイクロプロセッサ１４８、フォーマッタロジックを利用するフォーマッタ１５２、および書込チャネル１５４を含む。プリアンプ１４４はレーザドライバ１５６およびライタドライバ１５８を含み、書込ヘッド１４６はレーザダイオード１０２（図１参照）およびライタコイル１３２（図２参照）を含む。しばしば、ドライブは２つ以上の書込ヘッドを含み、プリアンプは信号を選択して所望のヘッドにルーティングするための多重化回路（図示せず）を含む。他の実施形態は２つ以上のプリアンプを含む。

動作時、ホスト１４０は書込動作を開始し、これはコントローラＡＳＩＣ１４２に、具体的にはコントローラマイクロプロセッサ１４８に通信される。コントローラマイクロプロセッサ１４８は、ファームウェア１５０を介して、ホスト命令により動作し、フォーマッタ１５２への書込要求を生成し、磁気媒体１２２（図２参照）上の所望のトラック／位置を探すようにプログラム化されている。フォーマッタ１５２は書込チャネル１５４へのＷｒＧａｔｅ信号をアサートし、これはプリアンプ１４４のレーザドライバ１５６およびライタドライバ１５８を有効にする。この場合、書込チャネル１５４はレーザパルス信号をレーザドライバ１５６に与え、書込データは書込ドライバ１５８に与えられる。ドライバ１５６および１５８の各々からの電流はレーザダイオード１０２およびライタコイル１３２をそれぞれ起動し、書込ヘッド１４６が書込動作を完了することを可能にする。

上述のように、ＨＡＭＲ読取／書込ヘッドは、記録処理を助けるためにレーザおよびＮＦＴを用いて媒体を加熱してもよい。光エネルギ発生および伝送経路の非効率性の結果、レーザおよびＮＦＴはヘッド／スライダ全体も加熱する。この加熱は、ＮＦＴ、光供給光学部品に、および／またはレーザ自体に起因し得る。これらの構成要素に吸収されたエネルギは熱に変換され得、熱は周囲の材料に伝導される。この熱は、たとえば差動エンド型抵抗率温度係数（differential-ended temperature coefficient of resistivity：ＤＥＴＣＲ）センサなどの、記録ヘッド内部のセンサによって検出され得る。ＤＥＴＣＲセンサは、媒体とのヘッド接触検出を検知するために用いられ得る。ＤＥＴＣＲセンサは、温度変化によって生じる抵抗変化を用いて接触を検出する。ＤＥＴＣＲセンサは製造時にヘッド−ディスク間隔を設定するために用いられることが多く、サーマルアスペリティ検出のために用いられることもある。本開示においては、ＤＥＴＣＲセンサはＨＡＭＲ予測故障監視のために用いられ得る。

たとえば、ＤＥＴＣＲ抵抗は周期的に監視され、記録され、閾値と比較され得、その結果、閾値を流すと故障表示がもたらされる。同様に、ＤＥＴＣＲは、書込動作時に温度／抵抗の増加を検知するために用いられ得、それによって、熱的加熱が検出されない場合は故障が表示される。さらに、ＤＥＴＣＲは、たとえば記録ヘッドの表面上の汚染蓄積を検出するためのヘッド−媒体インターフェイスヘルスモニタとして用いられ得る。

ＨＡＭＲドライブのエネルギ生成および供給システムの性能は、ドライブの寿命にわたって変化し得る。たとえば、レーザダイオードの半導体ｐ−ｎ接合は、経時変化のため、ドライブの寿命にわたって変化し得る。別の例として、ＮＦＴの物理的形状は、記録媒体とのサーマルアスペリティ衝突から変化し得る。これらの印加エネルギ変化の影響は、さまざまな方法で検知され得る。理想的には、ドライブのデータ回復能力を最終的に劣化させる変化は、たとえばレーザダイオードの電気的特性の変化を直接監視することによって迅速に検出される。印加エネルギ変化はさらに、たとえば、リードバックエラー、リードバック信号の質の低さ、フォトダイオード信号変化があるかを監視することによって、データを回復するのに必要なエラー回復ステップの量等によって、間接的に検出され得る。これらのような間接的に検出される変化は、媒体に印加されるＨＡＭＲドライブのエネルギが変化する結果である。媒体に印加されるエネルギが弱くなると、これは書込トラックに対する書込不良につながり得る。逆に、印加エネルギが強くなると、これは（隣接トラック消去のために）書込トラックに隣接するトラック上に記憶されるデータの劣化につながり得る。

エネルギ生成および／またはエネルギ供給性能が変化すると、記録ヘッドは使用可能なままであり得るが、変化に対応するために、印加されるアクティブレーザ電流などのレーザパラメータの再較正が必要となり得る場合が多い。この再較正は一般に、予約セクタまたは試験トラックに書込み、さまざまなレーザ電流についてビットエラー性能を測定し、最良のビットエラーレート（ＢＥＲ）性能を有するレーザ電流を選択することによって行なわれる。この再較正を行なう際、まず中心のセクタ／トラックに書込み、隣接する両方のセクタ／トラックに書込んだ後、中心トラックのＢＥＲを測定することが最良である。これは、隣接トラック消去によって課される影響に適応するのに役立つ。

本開示のＨＡＭＲ予測故障監視システムでは、レーザダイオードバイアス電流およびレーザアクティブ電流が故障検出パラメータとして用いられ得る。レーザバイアス電流は周期的に監視され、記録され、閾値と比較され得、それによって、閾値を流すと故障が表示され、レーザバイアス電流の調整がもたらされる。レーザアクティブ電流は周期的に監視され、記録され、閾値と比較され得、それによって、閾値を流すと故障が表示され、レーザアクティブ電流の調整がもたらされる。また、周期的に監視され、記録され、閾値と比較され得る故障検出パラメータとして、レーザ順電圧降下を用いてもよい。レーザ順電圧降下は、レーザにバイアスが印加されている間、かつ、レーザがアクティブである間の両方において監視することができ、各々が別個の記録、閾値および比較を有する。これらを用いても、記録ヘッド内の故障を予測することができる。

レーザダイオードパラメトリックの変化が閾値を超えた場合、さまざまな修復作業を行うことができる。すぐ行なうことができる修復ステップは、検証リードアフターライト（ＲＡＷ）を実行して、データが依然として読取可能に書込まれていることを保証することである。記録ヘッドのビットエラーレート（隣接トラック消去の影響を含む）を再測定することは、別の可能な修復ステップである。さらに別の修復ステップは、上述のような記録ヘッドのためのレーザ電流の再較正を実行することである。これは直ちに、またはＲＡＷ障害もしくは悪いＢＥＲがそれを必要であると示した場合など、他の試験後に行なわれ得る。最後に、すべての修復ステップが失敗した場合、ドライブは、ヘッドを、ヘッドまたは代替的にドライブに送られるすべての書込コマンドがホストに戻されるエラーになる「書込保護」状態にすることができる。

レーザの出力パワーは、フォトダイオードを用いて監視され得る。フォトダイオードは、レーザの光エネルギのごく一部が衝突する光導波管内の一点に位置することが多い。フォトダイオードは、レーザパワーに比例する出力を提供し得る。ＮＦＴを介して伝達されるエネルギが変化すると、フォトダイオードが受信するエネルギも変化し得る。たとえば、ＮＦＴの出力における反射率の変化によって、フォトダイオードが受信するパワーの差が生じ得る。したがって、フォトダイオードもＨＡＭＲ予測故障監視のために用いられ得る。一例では、たとえば電流または電圧測定値などのフォトダイオード／光検出器応答値が周期的に監視され、記録され、閾値と比較され、それによって、閾値を流すと故障表示がもたらされる。別の例では、フォトダイオードの電流または電圧が周期的に監視され、記録され、閾値と比較され、それによって、フォトダイオード信号の非連続性が、望ましくないモードホッピング、およびしたがって故障表示の検出を示す。

記録ヘッドのマイクロジョグは、ヘッド内のライタとリーダとの間のクロストラックおよびダウントラック間隔差を補償するために必要な調整と定義される。記録ヘッド内の読取センサおよびライタは同一場所に配置されないため、データの書込および読取時に適合させなければならないクロストラックおよびダウントラックのオフセットが存在する。ＨＡＭＲディスクドライブでは、書込データの場所は記録ヘッドのＮＦＴの場所によって決定されるため、適合させなければならないのは、ＮＦＴとリーダとの間のオフセットである。さらに、ＮＦＴは、摩耗および損傷とともに変形し得る材料からなるため、ＨＡＭＲディスクドライブでは、記録ヘッドのマイクロジョグはドライブの寿命にわたって変化し得る。マイクロジョグの絶対変化は周期的に監視され、記録され、閾値と比較され得、それによって、閾値を流すと故障が表示される。

いくつかのＨＡＭＲの実施形態では、パルス化として公知の技術を用いてレーザを制御してもよい。パルス化は、ライタコイルからの磁気遷移と同期してレーザをフラッシュさせる。パルス化のサポートは、プリアンプ内の制御ピンおよび回路を追加し、これは付加的な障害点を追加する。ゆえに、プリアンプおよびその関連の回路は、ＨＡＭＲ予測故障監視において有用であり得る。

本開示のＨＡＭＲヘッドの予測故障監視のための別のパラメータは、ビットエラーレート（ＢＥＲ）を含む。一例では、ヘッドごとのリードオンリーＢＥＲが周期的に監視され、記録され、閾値と比較され、それによって、閾値を流すと故障表示がもたらされる。別の例では、いくつかの記録ゾーンごとに、ヘッドごとの書込および／または読取ＢＥＲが周期的に監視され、記録され、閾値と比較され、それによって、閾値を流すと故障表示がもたらされる。

監視され、記録され、閾値と比較され得るＨＡＭＲパラメータの概要が以下の表１に与えられる。上述のように、閾値範囲外に逸脱すると、故障表示、または換言すれば予測障害が生じ、修復作業が開始され得る。閾値は、予め定められた閾値、閾値範囲、および／または、誤った故障表示を防止するようにスライドし得、ＨＡＭＲヘッドの経時変化に対応するようにスライドし得る、もしくはＨＡＭＲヘッドの自然な摩耗に対応するために必要な他の方法でスライドし得るスライド閾値を含み得ることに留意すべきである。

本開示のＨＡＭＲ予測故障監視システムは、故障表示のための、または故障表示を判断するために他のメトリックと組合わせて用いられる、ＨＡＭＲ非閾値型パラメータをさらに用いてもよい。ＨＡＭＲ非閾値型パラメータは、単独で測定されて障害分析のためにログ記録される値を含み得る。この追加データの収集は、将来のファームウェア更新において、またはＳＭＡＲＴ閾値の調整のために用いられ得る。非閾値パラメータの一例はドライブ温度を含む。高温のみでは故障を表示することはできないが、それはドライブ内の一定の障害メカニズムを誘発し得る。これらのメカニズムは、新たなドライブ製品が最初に製造されるときは分かっていない場合があるが、ドライブが障害分析のために戻されるとそれらが学習され得る。製造業者はその後、より良い故障予測のために改訂されたファームウェアまたは閾値を提供することができる。別の例はライタパワーオン時間を含み、ログ記録時間数が増加するにつれてヘッドが障害に近づく。書込まれるバックグラウンドセクタおよび書込まれるシステム記録ゾーンセクタは、別の非閾値型パラメータである。これらのパラメータはＨＡＭＲ書込動作のアクティブ時間に寄与するため、ホストセクタ書込ワークロードを管理するのに適用されない書込パワーオン時間を増加させる。

本開示のＨＡＭＲ予測故障監視システムのＨＡＭＲ閾値およびＨＡＭＲ非閾値パラメータについての修正または修復作業の例は、データが書込まれた後に当該データを読取ることによって適切な書込動作を検証する（「リードアフターライト」すなわちＲＡＷ）こと、記録サブシステムのビットエラーレート（ＢＥＲ）を測定すること、ホストコンピュータに警告を与えること、または特定のコマンド動作においてホストコンピュータに状態メッセージを返すことを含むが、これらに限定されない。実際のＨＡＭＲ書込動作時の故障の検出の場合、修復作業は、書込に関連付けられるデータの保護に向けられ得、たとえば、書込を再開すること、または書込を再開し、続いて読取検証を行なうことを含み得る。

本開示のＨＡＭＲ予測故障監視の例示的な方法が図４のフローチャートに示される。ＨＡＭＲ閾値パラメータの場合、閾値パラメータを監視し２０２、閾値と比較する２０４。パラメータが閾値外である場合２０６、故障／障害が起こっており、修正作業を行なう２０８。パラメータが閾値内である場合２０６、パラメータの監視を継続する２０２。ＨＡＭＲ非閾値パラメータの場合、非閾値パラメータを監視し２１０、次の故障または障害を表示するために測定、ログ記録および／または分析する２１２。分析が潜在的なまたは実際の故障／障害を示す場合２１４は、修正作業を行う２０８。分析が故障／障害を示さない場合２１４は、非閾値パラメータの監視を継続する２１０。

ＨＡＭＲ予測故障監視の方法のより具体的な例が図５に示されており、データのＨＡＭＲ書込動作を開始すること２２０、ＨＡＭＲ書込動作を有効にするのに十分な熱が提供されているか否かを検出すること２２２、ＨＡＭＲ書込動作を有効にするのに十分な熱が提供されていない場合は故障を表示し、書込動作に関連付けられるデータを保護することによって故障に応答すること２２４を含む。ＨＡＭＲ書込動作を有効にするのに十分な熱が提供されている場合、書込動作を継続して完了する２２６。

本明細書に開示されるシステム、装置または方法は、本明細書に記載される特徴構造、方法の１つ以上、またはその組合せを含んでもよい。たとえば、上記の特徴および／または処理の１つ以上を含むように装置または方法が実現されてもよい。そのような装置または方法は、本明細書に記載されるすべての特徴および／または処理を含む必要はなく、有用な構造および／または機能性を提供する選択された特徴および／または処理を含むように実現されてもよいことが意図される。

上述の開示された実施形態に対してさまざまな修正および追加がなされてもよい。したがって、本開示の範囲は上述の特定の実施形態によって限定されるべきでなく、以下に記載される特許請求の範囲およびその均等物によってのみ規定されるべきである。

Claims (20)

1. データ記憶装置であって、
   ＨＡＭＲ読取／書込ヘッドに結合されるコントローラを備え、前記コントローラは、
   前記ＨＡＭＲ読取／書込ヘッドの動作パラメータを監視し、
   前記ＨＡＭＲ読取／書込ヘッドの前記動作パラメータに基づいて故障を検出するように構成され、前記故障は、書込有効化エネルギ源が書込動作時に誤作動していることを示し、前記コントローラはさらに、
   前記故障に応答して、前記書込動作に関連付けられるデータを保護する修復作業を行うように構成される、装置。
2. 前記動作パラメータは、フォトダイオードの動作パラメータを含む、請求項１に記載の装置。
3. 前記動作パラメータは、温度センサの動作パラメータを含む、請求項１に記載の装置。
4. 前記修復作業は、故障状態をホストに報告することを含む、請求項１に記載の装置。
5. 前記修復作業は、前記書込動作を再開し、続いて読取検証を行なうことを含む、請求項１に記載の装置。
6. 前記故障は、前記エネルギ源が所望の動作範囲内で動作することに基づいてトリガされ、前記所望の動作範囲は、誤表示を防止するように調整可能である、請求項１に記載の装置。
7. 前記所望の動作範囲は、前記装置の経時変化に対応するように調整可能である、請求項６に記載の装置。
8. データ記憶システムであって、
   記録媒体を加熱するように構成されるエネルギ源と、
   前記エネルギ源が書込動作時に前記記録媒体を加熱しているか否かを検出するように構成される読取／書込ヘッドと、
   前記読取／書込ヘッドに結合されるコントローラとを備え、前記コントローラは、
   前記読取／書込ヘッドの動作パラメータを監視し、
   前記読取／書込ヘッドの前記動作パラメータに基づいて故障を検出するように構成され、前記故障は、前記記録媒体を加熱するために用いられる前記エネルギ源が前記書込動作時に誤作動していることを示し、前記コントローラはさらに、
   前記故障に応答して、前記書込動作に関連付けられるデータを保護する修復作業を行うように構成される、システム。
9. 前記動作パラメータは、フォトダイオードおよび温度センサの少なくとも一方の動作パラメータを含む、請求項８に記載のシステム。
10. 前記修復作業は、前記書込動作を再開し、続いて読取検証を行なうことを含む、請求項８に記載のシステム。
11. 前記故障は、前記エネルギ源が所望の動作範囲内で動作することに基づいてトリガされ、前記所望の動作範囲は、誤表示を防止するように、または前記装置の経時変化に対応するように調整可能である、請求項８に記載のシステム。
12. データの熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ）書込動作を開始することと、
    前記ＨＡＭＲ書込動作を有効にするのに十分な熱が提供されているか否かを検出することと、
    前記ＨＡＭＲ書込動作を有効にするのに十分な熱が提供されていない場合、故障を表示することと、
    前記書込動作に関連付けられるデータを保護することによって前記故障に応答することとを備える、方法。
13. 前記検出することは、前記ＨＡＭＲ書込動作を有効にするのに十分な熱が提供されているか否かを判断するために、光を検出すること、温度を検出すること、または光および温度の両方を検出することを含む、請求項１２に記載の方法。
14. 前記故障を報告することをさらに備える、請求項１２に記載の方法。
15. 前記書込動作を再開し、その後の読取検証動作を開始することによって、前記故障に応答することをさらに備える、請求項１２に記載の方法。
16. 前記故障は、検出した前記熱が所望の動作範囲に収まることに基づいてトリガされ、前記所望の動作範囲は、誤表示を防止するように調整可能である、請求項１２に記載の方法。
17. 熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ）ヘッドに結合されるコントローラを備える装置であって、前記コントローラは、
    前記ＨＡＭＲヘッドの動作パラメータを監視し、
    前記動作パラメータが前記ＨＡＭＲヘッドの故障を表示しているか否かを判断し、
    前記動作パラメータが故障を表示している場合、修復作業を開始するように構成される、装置。
18. 前記動作パラメータは閾値パラメータを含み、前記動作パラメータは、前記動作パラメータが閾値外である場合に故障を表示していると判断される、請求項１７に記載の装置。
19. 前記閾値パラメータは、レーザバイアス電流、レーザアクティブ電流、レーザ順電圧降下、レーザ較正値、フォトダイオード／光検出器応答値、フォトダイオード非連続性、差動エンド型抵抗率温度係数（ＤＥＴＣＲ）抵抗、書込時のＤＥＴＣＲ温度、ＤＥＴＣＲインターフェイスヘルスモニタ、ヘッドごとのリードオンリービットエラーレート（ＢＥＲ）、またはヘッドおよびゾーンごとの書込もしくは読取ＢＥＲを含む、請求項１８に記載の装置。
20. 前記動作パラメータは非閾値パラメータを含み、前記非閾値パラメータは、ドライブ温度、ライタパワーオン時間数、書込まれるバックグラウンドセクタの種類、システムゾーン書込の種類、または開始された書込動作の数を含む、請求項１７に記載の装置。

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