JP2016057194A - 情報処理装置、情報処理方法、プログラム - Google Patents
情報処理装置、情報処理方法、プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016057194A JP2016057194A JP2014184466A JP2014184466A JP2016057194A JP 2016057194 A JP2016057194 A JP 2016057194A JP 2014184466 A JP2014184466 A JP 2014184466A JP 2014184466 A JP2014184466 A JP 2014184466A JP 2016057194 A JP2016057194 A JP 2016057194A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- lines
- image
- captured image
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2536—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object using several gratings with variable grating pitch, projected on the object with the same angle of incidence
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/521—Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V20/00—Scenes; Scene-specific elements
- G06V20/60—Type of objects
- G06V20/64—Three-dimensional objects
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】複数の線と、線を識別するために線上または線の間に配置された識別情報と、複数の線の間に配置された特徴を含むパターンを計測対象物体500に投影した状態で、撮像装置400により撮像された撮像画像を取得し、画像に含まれる識別情報に基づいて、画像に含まれる線を識別し、識別された結果に基づいて、撮像画像内の線の間の第一の領域に対応するパターン内の第二の領域を探索するための探索範囲をパターン内に設定し、撮像画像に含まれる複数の線の間に配置された特徴に基づいて、第一の領域に対応する第二の領域を、パターン内に設定された探索範囲から探索して決定し、第一の領域と、決定手段によって決定された第二の領域とを対応づけることによって、計測対象物体の距離を算出する。
【選択図】図2
Description
本実施形態では、計測対象物体の三次元形状を高速に計測する方法を説明する。
M, Kimura, “Projector Calibration using Arbitrary Planes and Calibrated Camera” Computer Vision and Pattern Recognition, CVPR, 2007.
撮像装置400は、濃淡画像を撮像するカメラである。撮像装置400の焦点距離や主点位置、レンズ歪パラメータなどの内部パラメータ情報は予め校正しておく。校正方法は公知であり、例えば以下の文献に開示された方法で校正できる。
R. Y. Tsai, “A versatile camera calibration technique for high−accuracy 3D machine vision metrology using off−the−shelf TV cameras and lenses” IEEE Journal of Robotics and Automation, vol.RA−3, no.4, 1987.
パターン取得部210は、計測対象物体500に投影するためのパターン100の画像を取得する。取得するパターンは2次元の画像であり、図1に示すように、複数の特徴(ドット形状)と複数の計測線で構成される。複数のドットの配置方法は、例えば、所定の確率(A%)でランダムに配置する。計測線上に配置する切れ目は、同一線上の隣り合う切れ目の間隔がB+ΔBとなるように配置する。ここでΔBは[−ε〜ε]の範囲で発生する一様乱数、εはユーザーが指定する固定値とする。なお、図1のパターン100について、背景を白、計測線を黒として図示するが、パターンの光は、背景を低輝度、計測線およびドットを高輝度に投影するものとする。
パターン取得部210は、パターン100の画像を取得する。そして、不図示のインターフェースを介して、投影装置300に送出する。投影装置300はパターン取得部210からパターンを取得し、取得したパターンを計測対象物体500を含む空間に投影する。撮像装置400は、投影装置300が取得したパターンを計測対象物体500を含む空間に投影している間に、該空間を撮像する。
画像取得部220は、ステップ610で計測対象物体500にパターン100を投影した像を撮像装置300で撮像した画像700を取得する。図4(a)は、取得した画像700の例を表わす。
計測線識別出部230は、画像取得部220から画像700を取得し、画像700上で観測される計測線が、パターン100の何れの計測線によって投影された線であるかを識別する。この識別の方法について以下で詳述する。
探索範囲設定部240は、計測線識別部230による計測線の識別結果に基づいて、画像700上の各画素の位置(撮像画像内の第1の領域)についてパターン100の画像上で対応する画素の位置(パターン内の第2の領域)のとりうる範囲を設定する。
探索部250は、画像700上の各画素について、前記パターン100の画像で対応する画素の位置を、探索範囲設定部240で設定した範囲内で探索する。具体的には、画像700上で注目する画素kの位置を中心とするブロックと、パターン100のエピポーラ線106上のS1〜S2の範囲内で位置を変化させたブロックとの相関を計算する。そして、最も相関の高いブロックの中心位置を画素kに対応する画素の位置として決定する。ここで相関は、ブロックSSD(Sum of Squared Difference)を利用する。
距離算出部2600は、探索部250による探索結果に基づいて、前記画像上の各画素で観測される計測対象物体500の距離を算出する。
本変形例では、探索範囲設定部240で設定する範囲の計算方法のバリエーションについて説明する。
本変形例では、探索部250で、画像700と前記パターン100との対応の計算方法のバリエーションについて説明する。
本変形例では、パターン取得部210で取得するパターンの特徴のバリエーションについて説明する。
本変形例では、計測線識別部230における計測線の識別のバリエーションについて説明する。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。
本発明では、まず、計測対象物体を観測する画像上の計測線を識別した後、計測線の識別結果に基づいて、画像とパターンとの対応を求めるための探索範囲を設定することで、探索にかかる時間を低減させる。これにより、計測対象物体の三次元形状を高速に計測できる。
本実施形態において、パターン取得部で取得するパターンは、特徴と1つ以上の計測線と、画像上で観測される計測線を識別するための識別情報で構成されるパターンであれば、どのようなパターンでも良い。特徴は、画像上で計測線とは異なる信号で観測される特徴であれば、どのような特徴でも良い、複数のドットで構成された特徴でも良いし、パターン上の輝度を変調して特徴としても良い。識別情報は、画像上で観測される計測線を識別できる情報であれば、どのような識別情報でも良い。計測線上或いは線間に符号を配置し、その符号を識別情報としても良いし、計測線或いは線間の色を識別情報としても良い。
Claims (15)
- 複数の線と、前記線を識別するために該線上または線の間に配置された識別情報と、前記複数の線の間に配置された特徴を含むパターンを計測対象物体に投影した状態で、撮像装置により撮像された撮像画像を取得する取得手段と、
前記画像に含まれる識別情報に基づいて、前記投影されるパターンに含まれる線と前記撮像された撮像画像に含まれる線とを対応づけることによって、前記画像に含まれる線を識別する識別手段と、
前記識別手段によって識別された結果に基づいて、前記撮像画像内の前記線の間の第一の領域に対応する前記パターン内の第二の領域を探索するための探索範囲を前記パターン内に設定する設定手段と、
前記撮像画像に含まれる前記複数の線の間に配置された特徴に基づいて、前記第一の領域に対応する前記第二の領域を、前記パターン内に設定された探索範囲から探索して決定する決定手段と、
前記第一の領域と、前記決定手段によって決定された第二の領域とを対応づけることによって、前記計測対象物体の距離を算出する算出手段とを備えることを特徴とする情報処理装置。 - 前記撮像画像の中で前記第一の領域に最も近い線である第一の線を検出する検出手段を更に備え、
前記設定手段は、
前記識別手段によって識別された結果に基づいて、前記第一の線に対応する線を前記パターンの中から特定し、該特定された線の近傍に前記探索範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記設定手段は、前記特定された線の近傍であり、かつ前記撮像画像で前記第一の線に対して前記第一の領域が存在する側に、前記探索範囲を設定することを特徴とする請求項2に記載の情報処理装置。
- 前記決定手段は、前記設定手段によって設定された探索範囲内に含まれる領域と、前記第一の領域との相関を計算し、該計算された相関に基づいて前記第二の領域を決定することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記第一の領域は、前記撮像画像の各画素の領域、または前記撮像画像の複数の画素の領域であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記第一の領域は、前記撮像画像に含まれるパターンの特徴が占める画素の領域であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記パターンに含まれる前記識別情報は、前記パターンに含まれる線の切れであることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記パターンに含まれる前記識別情報は、前記パターンに含まれる線上の色、輝度、前記線の間の色、輝度のうち少なくともいずれかであることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記パターンに含まれる前記特徴は、ドット形状であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 更に、前記パターンを前記計測対象物体に投影する投影手段と、
前記パターンが投影された計測対象物体を撮像する撮像手段とを備えることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 複数の線と、前記線を識別するために該線上に配置された識別情報と、前記複数の線の間に配置された特徴を含むパターンを計測対象物体に投影した状態で、撮像装置により撮像された撮像画像を取得する取得手段と、
前記画像に含まれる識別情報に基づいて、前記投影されるパターンに含まれる線と前記撮像された撮像画像に含まれる線とを対応づけることによって、前記画像に含まれる線を識別する識別手段と、
前記識別手段によって識別された結果に基づいて、前記パターン内の第二の領域に対応する前記撮像画像内の前記線の間の第一の領域を探索するための探索範囲を前記撮像画像内に設定する設定手段と、
前記撮像画像に含まれる前記複数の線の間に配置された特徴に基づいて、前記第二の領域に対応する前記第一の領域を前記撮像画像内に設定された探索範囲から探索して決定する決定手段と、
前記第一の領域と、前記特定された第二の領域とを対応づけることによって、前記計測対象物体の距離を算出する算出手段とを備えることを特徴とする情報処理装置。 - 複数の線と、前記線を識別するために該線上または線の間に配置された識別情報と、前記複数の線の間に配置された特徴を含むパターンを計測対象物体に投影した状態で、撮像装置により撮像された撮像画像を取得する取得工程と、
前記画像に含まれる識別情報に基づいて、前記投影されるパターンに含まれる線と前記撮像された撮像画像に含まれる線とを対応づけることによって、前記画像に含まれる線を識別する識別工程と、
前記識別手段によって識別された結果に基づいて、前記撮像画像内の前記線の間の第一の領域に対応する前記パターン内の第二の領域を探索するための探索範囲を前記パターン内に設定する設定工程と、
前記撮像画像に含まれる前記複数の線の間に配置された特徴に基づいて、前記第一の領域に対応する前記第二の領域を、前記パターン内に設定された探索範囲から探索して決定する決定工程と、
前記第一の領域と、前記決定手段によって決定された第二の領域とを対応づけることによって、前記計測対象物体の距離を算出する算出工程とを備えることを特徴とする情報処理方法。 - 複数の線と、前記線を識別するために該線上に配置された識別情報と、前記複数の線の間に配置された特徴を含むパターンを計測対象物体に投影した状態で、撮像装置により撮像された撮像画像を取得する取得工程と、
前記画像に含まれる識別情報に基づいて、前記投影されるパターンに含まれる線と前記撮像された撮像画像に含まれる線とを対応づけることによって、前記画像に含まれる線を識別する識別工程と、
前記識別手段によって識別された結果に基づいて、前記パターン内の第二の領域に対応する前記撮像画像内の前記線の間の第一の領域を探索するための探索範囲を前記撮像画像内に設定する設定工程と、
前記撮像画像に含まれる前記複数の線の間に配置された特徴に基づいて、前記第二の領域に対応する前記第一の領域を前記撮像画像内に設定された探索範囲から探索して決定する決定工程と、
前記第一の領域と、前記特定された第二の領域とを対応づけることによって、前記計測対象物体の距離を算出する算出工程とを備えることを特徴とする情報処理方法。 - 複数の線と、前記線を識別するために該線上または線の間に配置された識別情報と、前記複数の線の間に配置された特徴を含むパターンを計測対象物体に投影した状態で、撮像装置により撮像された撮像画像を取得する取得工程と、
前記画像に含まれる識別情報に基づいて、前記投影されるパターンに含まれる線と前記撮像された撮像画像に含まれる線とを対応づけることによって、前記画像に含まれる線を識別する識別工程と、
前記識別手段によって識別された結果に基づいて、前記撮像画像内の前記線の間の第一の領域に対応する前記パターン内の第二の領域を探索するための探索範囲を前記パターン内に設定する設定工程と、
前記撮像画像に含まれる前記複数の線の間に配置された特徴に基づいて、前記第一の領域に対応する前記第二の領域を、前記パターン内に設定された探索範囲から探索して決定する決定工程と、
前記第一の領域と、前記決定手段によって決定された第二の領域とを対応づけることによって、前記計測対象物体の距離を算出する算出工程とをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。 - 複数の線と、前記線を識別するために該線上に配置された識別情報と、前記複数の線の間に配置された特徴を含むパターンを計測対象物体に投影した状態で、撮像装置により撮像された撮像画像を取得する取得工程と、
前記画像に含まれる識別情報に基づいて、前記投影されるパターンに含まれる線と前記撮像された撮像画像に含まれる線とを対応づけることによって、前記画像に含まれる線を識別する識別工程と、
前記識別手段によって識別された結果に基づいて、前記パターン内の第二の領域に対応する前記撮像画像内の前記線の間の第一の領域を探索するための探索範囲を前記撮像画像内に設定する設定工程と、
前記撮像画像に含まれる前記複数の線の間に配置された特徴に基づいて、前記第二の領域に対応する前記第一の領域を前記撮像画像内に設定された探索範囲から探索して決定する決定工程と、
前記第一の領域と、前記特定された第二の領域とを対応づけることによって、前記計測対象物体の距離を算出する算出工程とをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014184466A JP6452361B2 (ja) | 2014-09-10 | 2014-09-10 | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム |
US14/849,422 US9739604B2 (en) | 2014-09-10 | 2015-09-09 | Information processing apparatus, information processing method, and storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014184466A JP6452361B2 (ja) | 2014-09-10 | 2014-09-10 | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016057194A true JP2016057194A (ja) | 2016-04-21 |
JP6452361B2 JP6452361B2 (ja) | 2019-01-16 |
Family
ID=55437216
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014184466A Active JP6452361B2 (ja) | 2014-09-10 | 2014-09-10 | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9739604B2 (ja) |
JP (1) | JP6452361B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017002831A1 (ja) * | 2015-06-29 | 2017-01-05 | 国立大学法人 宮崎大学 | 計測システム及び計測方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6244061B2 (ja) * | 2015-03-30 | 2017-12-06 | 富士フイルム株式会社 | 距離画像取得装置及び距離画像取得方法 |
JP2020153718A (ja) * | 2019-03-18 | 2020-09-24 | 株式会社リコー | 測定装置及び造形装置 |
CN111397537B (zh) * | 2020-04-03 | 2021-01-19 | 西安交通大学 | 一种投影系统主点像素坐标求解方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01274007A (ja) * | 1988-04-26 | 1989-11-01 | Mitsubishi Electric Corp | 3次元計測装置 |
JP2004198413A (ja) * | 2002-12-04 | 2004-07-15 | Techno Network Shikoku Co Ltd | 相対距離計測方法及びその装置 |
US20090221874A1 (en) * | 2005-11-28 | 2009-09-03 | 3Shape A/S | Coded structure light |
JP2009270915A (ja) * | 2008-05-07 | 2009-11-19 | Kagawa Univ | 3次元形状の計測方法および装置 |
US20100118123A1 (en) * | 2007-04-02 | 2010-05-13 | Prime Sense Ltd | Depth mapping using projected patterns |
JP2013088260A (ja) * | 2011-10-17 | 2013-05-13 | Canon Inc | 三次元計測装置、三次元計測装置の制御方法、情報処理装置、情報処理装置の制御方法、およびプログラム |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1537322A (en) * | 1975-01-30 | 1978-12-29 | Agency Ind Science Techn | Apparatus for recognition of approximate shape of an article |
-
2014
- 2014-09-10 JP JP2014184466A patent/JP6452361B2/ja active Active
-
2015
- 2015-09-09 US US14/849,422 patent/US9739604B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01274007A (ja) * | 1988-04-26 | 1989-11-01 | Mitsubishi Electric Corp | 3次元計測装置 |
JP2004198413A (ja) * | 2002-12-04 | 2004-07-15 | Techno Network Shikoku Co Ltd | 相対距離計測方法及びその装置 |
US20090221874A1 (en) * | 2005-11-28 | 2009-09-03 | 3Shape A/S | Coded structure light |
US20100118123A1 (en) * | 2007-04-02 | 2010-05-13 | Prime Sense Ltd | Depth mapping using projected patterns |
JP2009270915A (ja) * | 2008-05-07 | 2009-11-19 | Kagawa Univ | 3次元形状の計測方法および装置 |
JP2013088260A (ja) * | 2011-10-17 | 2013-05-13 | Canon Inc | 三次元計測装置、三次元計測装置の制御方法、情報処理装置、情報処理装置の制御方法、およびプログラム |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017002831A1 (ja) * | 2015-06-29 | 2017-01-05 | 国立大学法人 宮崎大学 | 計測システム及び計測方法 |
JP2017015456A (ja) * | 2015-06-29 | 2017-01-19 | 国立大学法人 宮崎大学 | 計測システム及び計測方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6452361B2 (ja) | 2019-01-16 |
US20160069669A1 (en) | 2016-03-10 |
US9739604B2 (en) | 2017-08-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6566768B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム | |
US9613425B2 (en) | Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program | |
US10024653B2 (en) | Information processing apparatus, information processing method, and storage medium | |
JP6844692B2 (ja) | 学習データ生成装置、学習データ生成方法、およびプログラム | |
US10163027B2 (en) | Apparatus for and method of processing image based on object region | |
US10430962B2 (en) | Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, and storage medium that calculate a three-dimensional shape of an object by capturing images of the object from a plurality of directions | |
JP2007129709A (ja) | イメージングデバイスをキャリブレートするための方法、イメージングデバイスの配列を含むイメージングシステムをキャリブレートするための方法およびイメージングシステム | |
US9064178B2 (en) | Edge detection apparatus, program and method for edge detection | |
US10181202B2 (en) | Control apparatus, robot, and control method | |
JP2015210192A (ja) | 計測装置およびその方法 | |
JP6452361B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム | |
US20160292888A1 (en) | Image measurement device, and recording medium | |
JP2014186520A (ja) | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム | |
US20190304114A1 (en) | Information processing apparatus, information processing method, and storage medium | |
KR101705330B1 (ko) | 스테레오 카메라 이미지에서 물체의 기울어진 각도를 찾기 위한 특징점 선택 방법 | |
JP2018109824A (ja) | 電子制御装置、電子制御システムおよび電子制御方法 | |
JP2014191685A (ja) | 画像処理装置および画像処理方法 | |
JP6482589B2 (ja) | カメラ校正装置 | |
JP5727969B2 (ja) | 位置推定装置、方法、及びプログラム | |
KR101300166B1 (ko) | 홍채 검출 장치 및 방법 | |
JP6570321B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム | |
EP3688407A1 (en) | Light projection systems | |
KR102035245B1 (ko) | 타겟 마커 위치 추정 장치 및 방법 | |
JP2005251122A (ja) | 画像処理装置および画像処理方法 | |
JP2006113051A (ja) | 画像認識装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170906 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180718 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180724 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180913 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181113 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181211 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6452361 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |