JP2016045031A - 抵抗値測定装置および抵抗値測定方法 - Google Patents

抵抗値測定装置および抵抗値測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2016045031A
JP2016045031A JP2014168158A JP2014168158A JP2016045031A JP 2016045031 A JP2016045031 A JP 2016045031A JP 2014168158 A JP2014168158 A JP 2014168158A JP 2014168158 A JP2014168158 A JP 2014168158A JP 2016045031 A JP2016045031 A JP 2016045031A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistance value
measuring
current
pair
tip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014168158A
Other languages
English (en)
Inventor
清二 津田
Seiji Tsuda
清二 津田
光明 中尾
Mitsuaki Nakao
光明 中尾
泰一 小山
Taiichi Koyama
泰一 小山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2014168158A priority Critical patent/JP2016045031A/ja
Publication of JP2016045031A publication Critical patent/JP2016045031A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

【課題】より再現性の高い抵抗値の測定を可能とする抵抗値測定装置および抵抗値測定方法を提供する。【解決手段】本発明の抵抗値測定装置20は一対の電圧測定子21と、一対の電流測定子22と、一対の電圧測定子21および一対の電流測定子22と電気的に接続して抵抗値を測定する測定部25と、を備え、電圧測定子21は抵抗器10と接触する針状の先端部21Aを有し、電流測定子22は電圧測定子21の先端部21Aよりも幅が広く抵抗器10と接触する先端部22Aを有し、抵抗値測定の再現性を高めることができる。【選択図】図1

Description

本発明は、抵抗器などの電子部品や、電子機器の抵抗値を測定する抵抗値測定装置および抵抗値測定法に関する。
抵抗値の測定方法として、一対の電圧測定子と一対の電流測定子とを用いた方法、所謂4端子測定方法は知られている。4端子測定方法による抵抗値測定は、電圧測定子と電流測定子とを共用する2端子の測定方法に比べて精度よく抵抗値の測定をすることができる。
特開2006−261144号公報
近年、電子機器の発達や高性能化に伴い、抵抗値に要求される精度も高くなってきている。例えば、抵抗器の分野においては、抵抗器の抵抗値を目標とする抵抗値に近づけるために、抵抗体をトリミングする抵抗値修正工程が行われている。この抵抗値修正工程においては、抵抗体の抵抗値を測定しながら、トリミングを行なう。このときの抵抗値の測定精度が低いと、抵抗値修正工程を実施しても高精度の抵抗値を得ることはできない。
特に、近年、電流測定などの用途として、電圧降下や損失の少ない低抵抗の抵抗器が注目されている。抵抗値としては数mオーム、或いは1mΩ以下の抵抗器も用いられるようになってきた。今後も、更なる低抵抗化が予想される。
一方、抵抗値の測定には再現性が求められる。測定毎に全く同一の測定値を得ることが好ましいが、測定には誤差が付きまとうものであるので、測定毎に抵抗値はばらつく。このばらつきが、許容範囲であれば問題はない。
しかし、上記のような非常に低い抵抗値の抵抗器において、非常に高い抵抗値精度を求めると、従来であれば問題にならなかった測定の再現性が問題となってくることを発明者らは見出した。
本発明は、上記従来技術の課題を解決するものであり、より再現性の高い抵抗値の測定を可能とする抵抗値測定装置および抵抗値測定方法を提供する。
本発明の抵抗値測定器は、一対の電圧測定子と、一対の電流測定子と、前記一対の電圧測定子および前記一対の電流測定子と電気的に接続して抵抗値を測定する測定部と、を備え、前記電圧測定子は被測定物と接触する針状の先端部を有し、前記電流測定子は前記電圧測定子の先端部よりも幅が広く前記被測定物と接触する先端部を有する。
本発明の抵抗値の測定方法は、上記抵抗値測定装置を用いた抵抗値測定方法であって、前記一対の電流測定子の前記先端部を互いに対向させて前記被測定物に接触させ、前記一対の電圧測定子の先端部を前記一対の電流測定子が向かい合う内側に互いに対向させて前記被測定物に接触させ、前記一対の電流測定子間に電流を流すと共に、前記電流の電流値を測定し、前記一対の電圧測定子間の電圧を測定し、前記測定部にて抵抗値を測定する。
本発明は、より再現性の高い抵抗値の測定を可能とするという効果を奏する。
本発明の一実施の形態における抵抗値測定方法の上面図 図1のAA断面図 本発明の一実施の形態における抵抗値測定器の概略図 図2のB部拡大図 (a)本発明の一実施の形態における抵抗値測定方法の部分拡大図、(b)改良した同実施の形態における抵抗値測定方法の部分拡大図、(c)さらに改良した同実施の形態における抵抗値測定方法の部分拡大図 本発明の一実施の形態における抵抗値測定器の電流測定子のバリエーションの断面図
(実施の形態1)
本発明の一実施の形態における抵抗値測定器および抵抗値測定方法について図面を用いて説明する。
図1は本発明の一実施の形態における抵抗値測定方法の上面図、図2は本発明の一実施の形態における抵抗値測定方法の正面断面図、図3は本発明の一実施の形態における抵抗値測定器の概略図である。
抵抗器10は抵抗値を測定する対象物である被測定物である。被測定物としては、抵抗器10に限られるものではない。抵抗器10は基板11と一対の電極12と抵抗体13とを有している。基板11はアルミナ等の絶縁体からなる。一対の電極12は基板11上に形成されている。電極12は銅などの導電性に優れた導体を主成分とすることが多いが、これに限られるものではない。抵抗体13は基板11に形成され、一対の電極12間にまたがっている。抵抗体13は、その抵抗値や使用用途に応じて、様々な材料から選択される。例えば、抵抗体13は金属自体、または金属とガラスとの混合物などである。抵抗体13の製造方法は、例えば、厚膜工法であり、または薄膜工法である。
なお、抵抗器10は、上記のようなチップ形でなくてもよく、所謂金属板抵抗器であってもよい。
図1に示すように基板11の幅をW0、電極の幅をW1とする。本実施の形態において「幅」とは一対の電極12が対向する方向に対する直角方向の長さを言う。
抵抗値測定装置20は一対の電圧測定子21、一対の電流測定子22、および測定部25を有する。一対の電圧測定子21はそれぞれ先端部21Aを有する。先端部21Aは針状の形状にすることができる。抵抗値測定の際にはそれぞれの先端部21Aを一対の電極12に接触させる。電圧測定子21は測定部25と電気的に接続している。
一対の電流測定子22はそれぞれ先端部22Aを有し、さらに先端部22Aはそれぞれ切欠き22Bを有する。電流測定子22の先端部22Aは、電圧測定子21の先端部21Aより幅が広い。ここで、図1に示すように電流測定子22の先端部22Aの幅はW、電圧測定子21の先端部21Aの幅はW2である。切欠き22Bの幅は電圧測定子21の先端部21Aよりも大きい。図1に示すように切欠き22Bの幅はW3である。
抵抗値を測定する際には、一対の電流測定子22の切欠き22Bは互いに対向するように配置される。電圧測定子21の先端部21Aは、電流測定子22の先端部22Aよりも一対の電極12が対向する方向における内側に位置させる。さらに、電圧測定子21の先端部21Aは、幅方向において電流測定子22の切欠き22B内に含まれるように配置される。電圧測定子21の先端部21Aが電流測定子22の切欠き22Bに含まれることが可能な大きさのときには、電圧測定子21の先端部21Aを切欠き22Bに位置させてもよい。抵抗値の測定は電流測定子22間に定電流が流れているときに行なうのが好ましい。電流を流し始めて定電流になるまでの立ち上がりの状態では、電流の流れが安定していない可能性があるからである。
測定部25は一対の電圧測定子21、および一対の電流測定子22と電気的に接続している。測定部25は一対の電流測定子22間に電流を流し、その電流値と一対の電圧測定子21から得られる電位差とから被測定物である抵抗器10の測定値を算出することで抵抗値を測定する。
本実施の形態の抵抗値測定装置20および抵抗値の測定方法は、電流測定子22の先端部22Aの幅が広いので、従来の針状の測定子の場合に比べて、電極12の幅方向において一様な電流が流れやすい。従って、従来の針状の電流測定子のように測定子を電極12
に接触させる箇所による測定値の依存性を少なくすることができ、再現性の高い抵抗値測定を行なうことができる。さらに、測定の再現性が高い抵抗値測定が可能となると、高精度の抵抗値修正工程が可能となり、最終的に抵抗値の精度の高い抵抗器10を得ることができる。
なお、電流測定子22の先端部22Aは、図1に示すように上面視にて長方形に切欠き22Bを設けた形状にすることができる。切欠き22Bは先端部22Aの幅方向における中央部に設けることができる。
ここで、電流測定子22の先端部22Aの幅Wは、電極12の幅W1より大きいことが好ましい。これは、電極12内により一様の電流を流すために、電極12は幅方向の全域において電流測定子22の先端部22Aと接触していることが好ましいからである。
1枚の大きなアルミナ基板から複数個の抵抗器10を得る工法を採用する場合であって、基板11を個片に分割する前に1枚の大きなアルミナ基板上に設けられた複数の抵抗体13の抵抗値を測定する場合には、電流測定子22の先端部22Aの幅Wは、基板11の幅W0より小さい方が好ましい。測定を行なう抵抗器10に隣接する別の抵抗器10の電極12に接触することを防止するためである。
図4は図2のB部拡大図、図5(a)は本発明の一実施の形態における抵抗値測定方法の部分拡大図、図5(b)は改良した同実施の形態における抵抗値測定方法の部分拡大図、図5(c)はさらに改良した同実施の形態における抵抗値測定方法の部分拡大図である。これらの図は、それぞれ電流測定子22の先端部22Aと電極12の表面を示しているが、説明のために表面の凹凸を誇張している。
図4に示すように一般的に電流測定子22の先端部22Aと電極12の表面は凹凸を有している。図5(a)では、電流測定子22の先端部22Aの表面を鏡面仕上げにして平滑にした場合を示している。電極12の表面も平滑であれば電流測定子22の先端部22Aの表面が平滑であることは好ましいが、一般的に電極12の表面は凹凸を有しており、このような場合には、電流測定子22の先端部22Aと電極12とが接触する点は非常に少なくなってしまう。
図5(b)は電流測定子22の先端部22Aの表面に凹凸を設けた場合を示している。この場合には、ある程度規則性が見られる表面の凹凸であり、通常の加工で生じる凹凸を想定している。図5(a)に比べると、電流測定子22の先端部22Aと電極12とが接触する点が増える可能性が高くなる。
図5(c)は電流測定子22の先端部22Aの表面に凹凸を設けた場合であって、図5(b)よりも不規則な凹凸を設けている。この場合には、意図的に電流測定子22の先端部22Aの表面を荒らす粗面化処理を行なっている凹凸を想定している。この場合には、図5(c)よりも電流測定子22の先端部22Aと電極12とが接触する点が増える可能性が高くなる。
従って、電流測定子22の先端部22Aの表面の凹凸を不規則な凹凸にするように粗面化することが好ましい。
図6は本発明の一実施の形態における抵抗値測定器の電流測定子のバリエーションの断面図である。電流測定子22は先端部22Aを弾性変形可能な物質で作られる。例えば、フレキシブルプリント基板などが好適である。剛体部22Cは弾性体の先端部22Aに比べて剛性の高い物質で作られる。弾性部22Dは先端部22Aを電極12に沿わすように変形させるための押圧力を先端部22Aに加える機能を有し、例えばスポンジなどが用いられる。剛体部22Cと弾性部22Dにより押圧機構を構成する。このような構成にすると、電流測定子22の先端部22Aと電極12とが接触する点が増加し、電極12により一様の電流を流すことができる。
なお、電流測定子22の先端部22Aが切欠き22Bを有していない場合には、抵抗値を測定する際には、一対の電圧測定子21の先端部21Aは一対の電流測定子22の先端部22Aより内側に配置される。電流測定子22の先端部22Aが切欠き22Bを有している場合には、図2に示すように正面視すると電圧測定子21の先端部21Aと電流測定子22の先端部22Aとが重ならせることが可能となるので、一対の電極12が互いに向かい合う方向に対する電極12の長さ、即ち図2における紙面左右方向の電極12の長さが小さいときにも測定が可能である点で好ましい。
本実施の形態は抵抗器10は基板11、電極12、および抵抗体13から構成されているが、これに限定させるものではない。抵抗器10は、裏面電極、端面電極などの構成要素を有していてもよいし、抵抗体13を覆う保護膜を有していてもよい。
本実施の形態は被測定物として抵抗器10を例に挙げたが、本発明は抵抗器以外の電子部品や電子機器などへの適用できる。
本発明の抵抗値測定器および抵抗値測定方法は抵抗器などの抵抗値を測定する物、或いは方法に適用できる。
10 抵抗器
11 基板
12 電極
13 抵抗体
20 抵抗値測定装置
21 電圧測定子
21A 先端部
22 電流測定子
22A 先端部
22B 切欠き
22C 剛体部
22D 弾性部
25 測定部

Claims (5)

  1. 一対の電圧測定子と、
    一対の電流測定子と、
    前記一対の電圧測定子および前記一対の電流測定子と電気的に接続して抵抗値を測定する測定部と、
    を備え、
    前記電圧測定子は被測定物と接触する針状の先端部を有し、
    前記電流測定子は前記電圧測定子の先端部よりも幅が広く前記被測定物と接触する先端部を有する、
    抵抗値測定装置。
  2. 前記電流測定子の前記先端部は前記電圧測定子の前記先端部の幅よりも広い幅の切欠きを有する請求項1記載の抵抗値測定装置。
  3. 前記電流測定子の前記先端部は弾性体であり、
    前記電流測定子は前記電流測定子の先端部を前記被測定物の表面に沿わすように押し付ける押圧機構を有する請求項1記載の抵抗値測定装置。
  4. 請求項1記載の抵抗値測定装置を用いた抵抗値測定方法であって、
    前記一対の電流測定子の前記先端部を互いに対向させて前記被測定物に接触させ、
    前記一対の電圧測定子の先端部を前記一対の電流測定子が向かい合う内側に互いに対向させて前記被測定物に接触させ、
    前記一対の電流測定子間に電流を流すと共に、前記電流の電流値を測定し、
    前記一対の電圧測定子間の電圧を測定し、
    前記測定部にて抵抗値を測定する、
    抵抗値測定方法。
  5. 請求項2記載の抵抗値測定装置を用いた抵抗値測定方法であって、
    前記一対の電流測定子の前記先端部の切欠きを互いに対向するように前記先端部を前記被測定物に接触させ、
    前記一対の電圧測定子の先端部を前記一対の電流測定子の先端部の切欠きに位置するように互いに対向させて前記被測定物に接触させ、
    前記一対の電流測定子間に電流を流すと共に、前記電流の電流値を測定し、
    前記一対の電圧測定子間の電圧を測定し、
    前記測定部にて抵抗値を測定する、
    抵抗値測定方法。
JP2014168158A 2014-08-21 2014-08-21 抵抗値測定装置および抵抗値測定方法 Pending JP2016045031A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014168158A JP2016045031A (ja) 2014-08-21 2014-08-21 抵抗値測定装置および抵抗値測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014168158A JP2016045031A (ja) 2014-08-21 2014-08-21 抵抗値測定装置および抵抗値測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2016045031A true JP2016045031A (ja) 2016-04-04

Family

ID=55635735

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014168158A Pending JP2016045031A (ja) 2014-08-21 2014-08-21 抵抗値測定装置および抵抗値測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2016045031A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105203847B (zh) 一种薄层材料方块电阻和连接点接触电阻测试方法
JP5325085B2 (ja) 接続装置
JP2015090335A (ja) 検査治具
JP2011137774A (ja) シート抵抗測定用端子およびこれを用いた測定リード
TW201310011A (zh) 力量感測器及力量感測器之阻值變化量的量測方法
JP2006284198A (ja) 抵抗器ならびにそれを用いた電流測定装置および方法
KR20150090996A (ko) 대전류용 프로브
TW200819755A (en) Electronic component inspection probe
JP2008241653A (ja) 半導体検査装置
JP2007221006A (ja) 抵抗体を有する抵抗器及び抵抗器による抵抗値検査方法
JP2016045031A (ja) 抵抗値測定装置および抵抗値測定方法
KR20180033684A (ko) 습도 센서
JP2008076268A (ja) 検査用治具
US20230326633A1 (en) Structure of resistor device and system for measuring resistance of same
JP5445193B2 (ja) 抵抗器、抵抗器の実装方法、抵抗器の測定方法
JP2004259750A (ja) 配線基板、接続配線基板及びその検査方法、電子装置及びその製造方法、電子モジュール並びに電子機器
JP2008157681A (ja) 回路基板の検査装置
JP2006038760A (ja) 表面抵抗率計測用プローブ及び表面抵抗率の計測方法
JP6295410B2 (ja) チップ抵抗器の抵抗値測定方法およびチップ抵抗器の実装方法
JP2018204987A (ja) 抵抗値測定冶具および抵抗値測定装置
JP4474874B2 (ja) アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置
JP2010091314A (ja) 基板検査治具及び検査用プローブ
JP2014016300A (ja) 基板検査装置および基板検査方法
JPS5917259A (ja) 半導体素子の測定方法
JP2707119B2 (ja) 基板用プローブ

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20160520