JP2016024169A - 渦電流探傷プローブ - Google Patents

渦電流探傷プローブ Download PDF

Info

Publication number
JP2016024169A
JP2016024169A JP2014150888A JP2014150888A JP2016024169A JP 2016024169 A JP2016024169 A JP 2016024169A JP 2014150888 A JP2014150888 A JP 2014150888A JP 2014150888 A JP2014150888 A JP 2014150888A JP 2016024169 A JP2016024169 A JP 2016024169A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flaw detection
eddy current
detection
coil
tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014150888A
Other languages
English (en)
Inventor
秀彦 末次
Hidehiko Suetsugu
秀彦 末次
豊和 多田
Toyokazu Tada
豊和 多田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Chemical Co Ltd filed Critical Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority to JP2014150888A priority Critical patent/JP2016024169A/ja
Publication of JP2016024169A publication Critical patent/JP2016024169A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

【課題】管内で探傷部本体を回転させる必要がなく、一度の挿入で管の周方向の探傷を行うことができる、渦電流検出プローブを提供する。【解決手段】被検査体である管100に挿入される渦電流探傷プローブ10において、円柱状の探傷部本体1と、探傷部本体1の周面に巻回された励磁コイル2と、励磁コイル2上に設けられた検出コイル3と、を備えており、検出コイル3は、探傷部本体1の周方向全周に亘って複数配設されていることを特徴とする。【選択図】図1

Description

本発明は、被検査体である管に挿入される渦電流探傷プローブに関するものである。
従来、被検査体である管に挿入され、前記管の傷を探傷する、渦電流探傷プローブでは、探傷部本体の周面に励磁コイルが配置され、前記励磁コイル上に検出コイルが配置されている。そして、管に渦電流探傷プローブを挿入し、励磁コイルに電流を流して渦電流を発生させる。ここで、管の励磁コイル上に位置する部分に傷が存在すると、渦電流に変化が生じ、その変化を検出コイルで検出することによって、渦電流探傷プローブは、管の傷を探傷するようになっている。例えば、特許文献1では、金属材料の水素脆化を渦電流探傷法で探傷する際の渦電流探傷プローブが開示されており、この渦電流探傷プローブは、励磁コイルの外周面に単一の検出コイルが配置されるようになっている。
特開2010−54414号公報
しかし、特許文献1のような渦電流探傷プローブでは、管の周方向の全域に亘って探傷するためには、探傷部本体を、検出コイルの周方向位置を変化させて複数回管の内部に挿入して探傷する、又は、探傷部本体を、管に挿入後、管内で管の周方向に回転させて探傷する、という必要がある。ここで、探傷部本体を複数回管の内部に挿入する場合、探傷部本体の挿入、引き抜きの回数が増加し、取り扱いの複雑化、探傷時間の増加が見込まれる。一方、探傷部本体を管内で回転させる場合、渦電流探傷プローブの構造が複雑化し、渦電流探傷プローブのコストの増加が見込まれる。
そこで本発明の目的は、管内で探傷部本体を回転させる必要がなく、一度の挿入で管の周方向の探傷を行うことができる、渦電流検出プローブを提供することである。
本発明は、被検査体である管に挿入される渦電流探傷プローブにおいて、円柱状の探傷部本体と、前記探傷部本体の周面に巻回された励磁コイルと、前記励磁コイル上に設けられた検出コイルと、を備えており、前記検出コイルは、前記探傷部本体の周方向全周に亘って複数配設されていることを特徴とする。
前記構成によれば、検出コイルが探傷部本体の周方向全周に亘って複数配設されているので、被検査体である管内で探傷部本体を回転させる必要がなく、一度の挿入で管の周方向の探傷を行うことができる。
本発明は、更に、次のような構成を備えるのが好ましい。
(1)前記検出コイルは、前記探傷部本体の周方向において、前記検出コイル間に隙間がないように配設されている。
(2)前記検出コイルは、前記探傷部本体の周方向において、軸方向から見て、一部が重なるように配設されている。
(3)前記検出コイルは、前記探傷部本体の周方向において、千鳥配置で配設されている。
(4)前記検出コイルは、6個設けられている。
(5)前記渦電流探傷プローブは、前記管の水素脆化を検出するようになっている。
前記構成(1)によれば、探傷部本体の周方向において、検出コイル間に隙間がないので、管の周方向における探傷の精度を向上させることができる。
前記構成(2)によれば、検出コイルは、探傷部本体の周方向において、軸方向から見て、一部が重なるように配設されているので、管の周方向における探傷の精度を向上させることができる。
前記構成(3)は、検出コイルの配置の具体例であり、本構成によれば、管の周方向における探傷の精度を向上させることができる。
前記構成(4)は、検出コイルの具体的な個数であり、本構成によれば、適当な検出コイルの個数で、管の周方向における探傷の精度を確保できる。
前記構成(5)は、渦電流探傷プローブの具体的な使用形態である。水素脆化による傷は、通常の割れと比べて渦電流の変化が小さく検出が難しいが、本構成によれば、検出の難しい水素脆化をより精度良く検出することができる。
要するに本発明によると、管内で探傷部本体を回転させる必要がなく、一度の挿入で管の周方向の探傷を行うことができる、渦電流検出プローブを提供できる。
本発明の第1実施形態に係る渦電流探傷プローブを備えた渦電流探傷装置の概略図である。 図1の励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図である。 図2のIII-III断面図である。 本発明の第2実施形態に係る渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図である。 本発明の第3実施形態に係る渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図である。 図5のVI-VI断面図である。 検出コイルが2個設けられる場合の渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図である。 図7のVIII-VIII断面図である。 検出コイルが4個設けられる場合の渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図である。 図9のX-X断面図である。 検出コイルが8個設けられる場合の渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図である。 図11のXII-XII断面図である。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係る渦電流探傷プローブを備えた渦電流探傷装置の概略図である。図1に示されるように、渦電流探傷プローブ10は、被検査体である管100の管内に挿入され、管100の内面を走査するようになっている。渦電流探傷プローブ10は、円柱状の探傷部本体1と、探傷部本体1の周面に巻回された励磁コイル2と、励磁コイル2上に設けられた検出コイル3と、を備えている。渦電流探傷装置90は、渦電流探傷プローブ10と、渦電流探傷プローブ10の励磁コイル2に励磁電流を供給する励磁器91と、渦電流探傷プローブ10の検出コイル3から検出信号を取得して被検査体である管100の傷を検出する検出器92と、を備えており、渦電流探傷プローブ10と励磁器91、検出器92とは、ケーブル93で接続されている。
探傷部本体1の軸方向両端部には摺動材4、5が取り付けられている。摺動材4、5は、探傷部本体1の外径に対して適当なギャップを有する内径を備えており、前記ギャップによって、励磁コイル2部を保護し、さらに、渦電流探傷プローブ10による安定した探傷を確保できるようになっている。なお、摺動材4、5によって、渦電流探傷プローブ全体の外形を規定するようになっている。渦電流探傷プローブ10は、全体として円柱形状を有しており、軸方向の全長は約150mm、直径は約15.5mmである。
渦電流探傷プローブ10は、特に、被検査体である管100の水素脆化を検出するためのプローブである。水素脆化を渦電流探傷によって検出するためには、渦電流探傷プローブ10を含む渦電流探傷装置90を校正するために、基準試験材を用いることが必要である。この基準試験材としては、特許文献1に記載されているように、基準となる吸蔵水素量の水素脆化部のリサージュ波形と同等のリサージュ波形を示す欠陥の形状を求め、この形状の人工欠陥を設けた試験材を用いることが好ましい。
図2は、図1の励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図であり、図3は、図2のIII-III断面図である。図1〜図3に示されるように、励磁コイル2は、探傷部本体1の軸方向中央部において、探傷部本体1の周面に、直径約0.2mmの巻線を、周方向に略均等かつ略平行に約200回巻回して2層巻きで形成されている。また、励磁コイル2は、軸方向に約24mmの幅を有している、ボビン型コイルである。
検出コイル3は、パンケーキ型コイルであり、励磁コイル2の軸方向中央部上に、探傷部本体1の周方向全周に亘って複数配設されている。検出コイル3は、直径約0.03mmの巻線を140回巻回して円形となるように形成されており、検出コイル3の直径は約3mm、励磁コイル2からの高さは約0.3mmである。そして、検出コイル3は、探傷部本体1の周方向において、検出コイル3間に隙間がないように配設されている。
渦電流探傷プローブ10による被検査体である管100の傷を検出する方法について、以下に説明する。
渦電流探傷プローブ10は、被検査体である管100の管内に挿入され、管100の内面を走査する。渦電流探傷装置90は、渦電流探傷プローブ10の励磁コイル2へ励磁器91から励磁電流(交流電流)を供給して励磁磁場を形成し、この励磁磁場によって管100の内面に渦電流を発生させる。管100の内面に傷がある場合、この渦電流が傷によって変化するので、渦電流の分布の変化による2次的な磁場の変化を検出コイル3が検出することによって、検出コイル3の検出信号から検出器92が管100の傷を検出する。
本実施形態によれば、次のような効果を発揮できる。
(1)検出コイル3が探傷部本体1の周方向全周に亘って複数配設されているので、被検査体である管100の管内で探傷部本体1を回転させる必要がなく、一度の挿入で管100の周方向の探傷を行うことができる。
(2)探傷部本体1の周方向において、検出コイル3間に隙間がないので、管100の周方向における探傷の精度を向上させることができる。
(3)渦電流探傷プローブ10によって水素脆化をより精度良く検出することができる。
(第2実施形態)
図4は、本発明の第2実施形態に係る渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図である。本実施形態と前記第1実施形態とは、検出コイル3の配置が異なっており、その他の構成は同じである。このため、本実施形態の説明においては、前記第1実施形態と同じ部品及び部分には同じ符号を付し、それらの内容については詳しい説明を省略する。
図4に示されるように、検出コイル3は、探傷部本体1の周方向において、軸方向から見て、一部が重なるように千鳥配置で配設されている。具体的には、探傷部本体1の周方向において隣り合う検出コイル3は、探傷部本体1の軸方向に所定量A(例えば検出コイル3の直径分の距離以下)ずれて配置されるようになっている。
本実施形態によれば、次のような効果を発揮できる。
(1)検出コイル3は、探傷部本体1の周方向において、軸方向から見て、一部が重なるように千鳥配置で配設されているので、管100の周方向における探傷の精度を向上させることができる。
(2)探傷部本体1の周方向において、検出コイル3間に隙間がないように設ける場合と比べて、管100の周方向における探傷の精度を向上させながら、検出コイル3の寸法を大きくすることができる。
(第3実施形態)
図5は、本発明の第3実施形態に係る渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図であり、図6は、図5のVI-VI断面図である。本実施形態と前記第1実施形態及び前記第2実施形態とは、検出コイル3の配置が異なっており、その他の構成は同じである。このため、本実施形態の説明においては、前記第1実施形態及びと同じ部品及び部分には同じ符号を付し、それらの内容については詳しい説明を省略する。
図5及び図6に示されるように、検出コイル3は、探傷部本体1の周方向において、6個設けられている。渦電流探傷プローブ10の直径が15.5mm程度であり、そして、検出コイル3の直径が3〜5mm程度であり、検出コイル3が6個設けられる場合、探傷部本体1の周方向において、検出コイル3間に隙間Dが形成されることとなるが、隙間Dが検出コイル3の直径程度以下である場合、管100の周方向における探傷の精度を確保できる。
本実施形態によれば、次のような効果を発揮できる。
検出コイル3は、6個設けられているので、検出コイル3の数を適当な数に抑制しながら、管100の周方向における探傷の精度を確保できる。
(その他の変形例)
図7は、検出コイルが2個設けられる場合の渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図であり、図8は、図7のVIII-VIII断面図である。図9は、検出コイルが4個設けられる場合の渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図であり、図10は、図9のX-X断面図である。図11は、検出コイルが8個設けられる場合の渦電流探傷プローブの励磁コイル及び検出コイル部分の拡大図であり、図12は、図11のXII-XII断面図である。なお、検出コイル3の数は2個以上が好ましく、検出精度の観点からは、探傷部本体1の周方向において、検出コイル3間に隙間がないことが好ましい。
上記実施形態では、検出コイル3は、パンケーキ型コイルであるが、それに限定されず、矩形コイルや楕円形コイルであっても良い。また、検出コイルは、これらのコイル形状を組み合わせたものでも良い。ただし、複数の検出コイルは、それぞれ同じ形状を備えていることが好ましい。
上記実施形態では、渦電流探傷プローブ10は、被検査体である管100の水素脆化を検出するためのプローブであるが、それに限定されず、疲労によるき裂や孔食等を検出するものであっても良い。
本発明は、上記実施形態で説明した構成には限定されず、特許請求の範囲に記載した内容を逸脱することなく、当業者が考え得る各種変形例を含むことができる。
本発明では、管内で探傷部本体を回転させる必要がなく、一度の挿入で管の周方向の探傷を行うことができる、渦電流検出プローブを提供できるので、産業上の利用価値が大である。
1 探傷部本体
2 励磁コイル
3 検出コイル
4 摺動材
5 摺動材
10 渦電流探傷プローブ
11 ケーブル
90 渦電流探傷装置
91 励磁器
92 検出器
93 ケーブル
100 管

Claims (6)

  1. 被検査体である管に挿入される渦電流探傷プローブにおいて、
    円柱状の探傷部本体と、
    前記探傷部本体の周面に巻回された励磁コイルと、
    前記励磁コイル上に設けられた検出コイルと、を備えており、
    前記検出コイルは、前記探傷部本体の周方向全周に亘って複数配設されていることを特徴とする、渦電流探傷プローブ。
  2. 前記検出コイルは、前記探傷部本体の周方向において、前記検出コイル間に隙間がないように配設されている、請求項1記載の渦電流探傷プローブ。
  3. 前記検出コイルは、前記探傷部本体の周方向において、軸方向から見て、一部が重なるように配設されている、請求項1記載の渦電流探傷プローブ。
  4. 前記検出コイルは、前記探傷部本体の周方向において、千鳥配置で配設されている、請求項1〜3のいずれか1つに記載の渦電流探傷プローブ。
  5. 前記検出コイルは、6個設けられている、請求項1〜4のいずれか1つに記載の渦電流探傷プローブ。
  6. 前記渦電流探傷プローブは、前記管の水素脆化を検出するようになっている、請求項1〜5のいずれか1つに記載の渦電流探傷プローブ。
JP2014150888A 2014-07-24 2014-07-24 渦電流探傷プローブ Pending JP2016024169A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014150888A JP2016024169A (ja) 2014-07-24 2014-07-24 渦電流探傷プローブ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014150888A JP2016024169A (ja) 2014-07-24 2014-07-24 渦電流探傷プローブ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2016024169A true JP2016024169A (ja) 2016-02-08

Family

ID=55271016

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014150888A Pending JP2016024169A (ja) 2014-07-24 2014-07-24 渦電流探傷プローブ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2016024169A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200030327A (ko) * 2018-09-12 2020-03-20 한국수력원자력 주식회사 기울어진 코일을 갖는 배열형 와전류 탐촉자
CN115718106A (zh) * 2022-11-25 2023-02-28 湖南旗滨医药材料科技有限公司 一种旋转管自动化探伤装置、方法及其应用

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200030327A (ko) * 2018-09-12 2020-03-20 한국수력원자력 주식회사 기울어진 코일을 갖는 배열형 와전류 탐촉자
KR102185877B1 (ko) 2018-09-12 2020-12-02 한국수력원자력 주식회사 기울어진 코일을 갖는 배열형 와전류 탐촉자
CN115718106A (zh) * 2022-11-25 2023-02-28 湖南旗滨医药材料科技有限公司 一种旋转管自动化探伤装置、方法及其应用

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kobayashi et al. Remote field eddy current testing for steam generator inspection of fast reactor
JP2009069090A (ja) 検査対象物の探傷方法および装置ならびに渦流探傷用プローブ
KR20150048141A (ko) 와류 탐상용 프로브 및 와류 탐상 검사 장치
US20190178844A1 (en) Differential magnetic evaluation for pipeline inspection
JP5940401B2 (ja) 渦電流探傷装置
JP2016024169A (ja) 渦電流探傷プローブ
JP2011117872A (ja) 渦電流探傷プローブおよびそれを用いた渦電流探傷試験装置
JP2011203092A (ja) センサ、検査装置、および検査方法
JP5607192B2 (ja) 渦電流探傷プローブおよびそれを用いた渦電流探傷試験装置
JP2013185951A (ja) 電磁気探傷用プローブ
JP5140214B2 (ja) 回転渦電流探傷プローブ
JP6378554B2 (ja) 非破壊検査装置および非破壊検査方法
JP2013242223A (ja) 渦電流探傷装置及び方法
JP5259511B2 (ja) リモートフィールド渦電流探傷プローブ
JP2007121050A (ja) 探傷装置
JP5911749B2 (ja) 渦電流探傷試験装置、及び方法
JP6715570B2 (ja) 配管探傷装置及び配管探傷方法
JP2017125709A (ja) 漏洩磁束探傷装置
JP6373472B1 (ja) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
CN106770632A (zh) 一种适用于ω焊缝的基于收发式线圈的直流磁化探头
JP3165804U (ja) 管端部検査用渦流探傷プローブ
JP2016133459A (ja) 渦流探傷プローブ、渦流探傷装置
JP2016065813A (ja) 磁気センサアレイ校正方法および磁気センサアレイ校正装置
JP2015161628A (ja) 渦電流探傷プローブ、渦電流探傷装置および渦電流探傷方法
JP5978661B2 (ja) 電磁気探傷用プローブ