JP2016024155A - 異常検出装置 - Google Patents

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Daichi Hashimoto
大地 橋本
隆史 中澤
Takashi Nakazawa
隆史 中澤
晴彦 関野
Haruhiko Sekino
晴彦 関野
淳 朝倉
Atsushi Asakura
淳 朝倉
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Abstract

【課題】信号処理部に経年劣化または温度特性による特性変化が生じても、精度の高い異常検出を行える異常検出装置を提供すること。【解決手段】この異常検出装置は、検査信号を出力する信号出力部、および、出力された検査信号を入力する信号入力部を有する信号処理部と、負荷および電池を有する高電圧系回路と信号処理部とを接続するカップリングコンデンサと、信号処理部と高電圧系回路との接続を開閉する遮断スイッチと、異常検出の制御を行う制御部と、を備え、制御部は、遮断スイッチが閉のときに信号処理部に検査信号の出力と入力とを行わせ、入力された検査信号の大きさと絶縁抵抗異常を示す閾値との比較に基づいて高電圧系回路の絶縁抵抗異常を検査し、遮断スイッチが開のときに信号処理部に検査信号の出力と入力とを行わせ、入力された検査信号の大きさに基づいて閾値を修正する。【選択図】図9

Description

本発明は、負荷および電池を有する高電圧系回路へ接続されて異常を検出する異常検出装置に関する。
従来、負荷および電池を有する高電圧系回路へ接続されて絶縁抵抗の劣化を検出する絶縁異常検出装置がある。高電圧系回路としては、例えば、電気自動車またはハイブリッド自動車において電池の電力で走行を行う回路が適用される。
絶縁異常検出装置としては、検査信号の出力と入力とを行う信号処理部を、カップリングコンデンサとハーネスとを介して高電圧系回路へ接続する構成が採用される。高電圧系回路の絶縁抵抗が低下すると、信号処理部で出力された検査信号が高電圧系回路から絶縁抵抗を介してグラウンドへ流れるため、信号処理部で入力される検査信号の大きさ(例えば振幅)が小さくなる。これにより、高電圧系回路の絶縁抵抗の低下を検出することができる。
従来の絶縁異常検出装置では、信号処理部の故障を自己診断する回路を備えるものがある(特許文献1、2を参照)。自己診断の回路は、例えば、低下した擬似的な絶縁抵抗と、信号処理部に擬似的な絶縁抵抗を接続または切断できるスイッチとを有する。低下した擬似的な絶縁抵抗を接続し、信号処理部を作動させた場合に、信号処理部が絶縁抵抗の低下を検出できないと、信号処理部の故障と自己診断できる。
特開2013−61215号公報 特開2013−113710号公報
しかしながら、検査信号の出力と入力とを行う信号処理部に経年劣化、或いは、温度特性による特性変化が生じることが考えられる。しかしながら、上記従来の絶縁異常検出装置では、これらの経年劣化又は温度特性による変化によって、検出できる絶縁抵抗異常の精度が低下するという課題があった。
本発明の目的は、信号処理部に経年劣化または温度特性による特性変化が生じても、精度の高い異常検出を行える異常検出装置を提供することである。
本発明の一態様に係る異常検出装置は、
検査信号を出力する信号出力部、および、出力された前記検査信号を入力する信号入力部を有する信号処理部と、
負荷および電池を有する高電圧系回路と前記信号処理部とを接続するカップリングコンデンサと、
前記信号処理部と前記高電圧系回路との接続を開閉する遮断スイッチと、
異常検出の制御を行う制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記遮断スイッチが閉のときに前記信号処理部に前記検査信号の出力と入力とを行わせ、入力された前記検査信号の大きさと絶縁抵抗異常を示す閾値との比較に基づいて前記高電圧系回路の絶縁抵抗異常を検査し、
前記遮断スイッチが開のときに前記信号処理部に前記検査信号の出力と入力とを行わせ、入力された前記検査信号の大きさに基づいて前記閾値を修正する、
構成を採る。
本発明によれば、信号処理部に経年劣化または温度特性による変化が生じた場合でも、精度の高い異常検出を行うことができる。
高電圧系回路と実施形態1の異常検出装置とを示す回路図 異常検出処理の一例を示すフローチャート 第1自己診断&初期設定処理の一例を示すフローチャート 通常検査処理の一例を説明するフローチャート ΔV更新処理の一例を説明するフローチャート 第2自己診断処理の一例を示すフローチャート 絶縁抵抗異常閾値の初期設定を説明する波形図 振幅基準値Vrefの測定を説明する波形図 絶縁抵抗異常閾値の修正と異常検査処理とを説明する波形図 第2自己診断処理を説明する波形図 高電圧系回路と実施形態2の異常検出装置とを示す回路図 フライングキャパシタ方式の電圧測定部を有する高電圧系回路に適用した実施形態3の異常検出装置を示す回路図
以下、本発明の各実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
(実施の形態1)
図1は、高電圧系回路と実施形態1の異常検出装置とを示す回路図である。
高電圧系回路100は、負荷120と、電池130とを備えている。負荷120は、例えば、電気自動車またはハイブリッド自動車における走行用のモータである。電池130は走行用の高電圧を供給する。高電圧系回路100は、接地点との間に絶縁性が確保される。高電圧系回路100の絶縁抵抗140は、例えば数MΩ以上など高い値に設定されている。
実施形態1の異常検出装置は、異常検出回路10と、制御部50とから構成される。異常検出回路10は、検査信号の出力および入力を行う信号処理部20と、第1自己診断回路30と、第1カップリングコンデンサC1と、遮断スイッチSWBと、第2自己診断回路40とを備えている。
信号処理部20は、検査信号の出力と入力とを行う。信号処理部20は、信号出力部21と、検出抵抗22と、フィルタ部24と、信号入力部23とを有する。信号出力部21は、所定の周波数の検査信号を生成し出力する。検出抵抗22は、絶縁抵抗140との分圧により、検査信号の振幅の変動に寄与する。フィルタ部24は、ノイズの除去および信号の波形整形を行って検査信号を信号入力部23へ送る。信号入力部23は、検出信号の振幅値を計測して振幅値の情報を制御部50へ送る。
カップリングコンデンサC1は、信号処理部20と、高電圧系回路100とを交流的に結合する。具体的には、信号処理部20のノードn1(検出抵抗22とフィルタ部24との接合ノード)と、高電圧系回路100の陰極とが、ハーネス(第1の電線に相当)h1とカップリングコンデンサC1とを介して接続されている。図1の例では、カップリングコンデンサC1は、信号処理部20に近い側に設けられているが、ハーネスh1の高電圧系回路100に近い側に設けられていてもよい。
第1自己診断回路30は、信号処理部20のノードn1と接地点との間に、抵抗31と、第1自己診断スイッチSW1とを直列に接続して構成される。抵抗31は、例えば、絶縁抵抗140の異常閾値と同一の抵抗値に設定される。第1自己診断スイッチSW1は、開閉して、閉のときに、信号処理部20の検査信号の一部を、抵抗31を介して接地点へ流す。
遮断スイッチSWBは、信号処理部20と高電圧系回路100とを接続するハーネスh1の経路を開閉する。図1の例では、遮断スイッチSWBは、信号処理部20に近い側に設けられているが、ハーネスh1の高電圧系回路100に近い側に設けられていてもよい。遮断スイッチSWBとカップリングコンデンサC1との位置を入れ替えてもよい。
第2自己診断回路40は、電池130の陽極と接地点との間に、カップリングコンデンサC2、抵抗41、および、第2自己診断スイッチSW2を直列に接続して構成される。カップリングコンデンサC2は、高電圧系回路100と第2自己診断回路40とを交流的に接続し、且つ、直流的に切り離す。第2自己診断スイッチSW2は、開閉して、閉のときに、高電圧系回路100と抵抗41とを介して検査信号の一部を接地点へ流す。
第2自己診断回路40は、ハーネスh2(第2の電線に相当)を介して高電圧系回路100と接続される。ハーネスh2は、信号処理部20と高電圧系回路100とを接続するハーネスh1と別に設けられる。
制御部50は、信号入力部23から検査信号の振幅の情報を得て、主に、高電圧系回路100の絶縁抵抗140の劣化を検出する。制御部50は、第1自己診断スイッチSW1、第2自己診断スイッチSW2、および、遮断スイッチSWBの開閉制御、ならびに、信号出力部21に検査信号の出力指令を出力して、異常検出処理を実行する。
[異常検出処理]
図2は、異常検出処理の一例を示すフローチャートである。図3は、第1自己診断&初期設定処理(S1)のフローチャートである。図4は、通常検査処理(S3)のフローチャートである。図5は、ΔV更新処理(S5)のフローチャートである。図6は、第2自己診断処理(S7)のフローチャートである。
図7は、絶縁抵抗異常閾値の初期設定を説明する波形図である。図8は、振幅基準値Vrefの測定を説明する波形図である。図9は、絶縁抵抗異常閾値の修正と異常検査処理とを説明する波形図である。図10は、第2自己診断処理を説明する波形図である。
異常検出処理は、異常検出装置の電源投入時に制御部50により開始される。異常検出処理は、例えば車両などの電源投入時、または、その他の任意の条件で開始するようにしてもよい。異常検出装置は、車両以外のその他の装置で用いられてもよい。
図2のステップS1では、第1自己診断&初期設定処理が、実行される。図3に示すように、制御部50は、先ず、遮断スイッチSWBを開(ステップS10)、第1自己診断スイッチSW1を閉(ステップS11)とし、第1の自己診断として、信号処理部20から検査信号の出力および入力を行う(ステップS12)。次に、制御部50は、信号入力部23で入力した検査信号の振幅が規定範囲であるか判別する(ステップS13)。
ステップS12において、検査信号は、一部が検出抵抗22と抵抗31とを通って接地点に流れ、残りが信号入力部23に入力される。よって、図7に示すように、信号入力部23に入力された検査信号Sig1の振幅は、検出抵抗22と抵抗31とによって決定される大きさとなる。制御部50は、振幅が許容誤差を含めた規定範囲R1にあれば、第1の自己診断が正常であると見なす。振幅が規定範囲R1になければ、第1の自己診断が異常として、異常の報知を行い(ステップS14)、異常検出処理を終了する。
図7に示すように、検査信号Sig1の振幅が正常であれば、制御部50は、この振幅V1を、絶縁抵抗異常の閾値Vth0として初期設定する(ステップS15)。これは、抵抗31の抵抗値が、絶縁抵抗140の異常を示す閾抵抗値に設定されているためにできる。抵抗31の抵抗値が、絶縁抵抗140の異常を示す閾抵抗値と異なる場合には、検査信号Sig1の振幅V1と、抵抗31の抵抗値とから、演算により、絶縁抵抗異常の振幅を表わす閾値Vth0を求めてもよい。
次いで、制御部50は、遮断スイッチSWBは開のまま、第1自己診断スイッチSW1を開とし(ステップS16)、信号処理部20に検査信号の出力と入力とを行わせて、検査信号の振幅基準値Vrefを測定する(ステップS17)。
ステップS17において、検査信号は、高電圧系回路100、第1自己診断回路30、および、第2自己診断回路40に出力されることがなく、最大の振幅で信号入力部23に入力される。よって、図8に示すように、信号入力部23に入力された検査信号Sig2の振幅は大きくなる。このときの振幅値を振幅基準値Vrefと呼ぶ。制御部50は、振幅基準値Vrefが信号処理部20の許容誤差を含めた規定範囲R2であるか判別する(ステップS18)。その結果、規定範囲R2から逸脱していれば、何らかの回路異常があると判定し、異常を報知して(ステップS14)、処理を終了する。
一方、図8に示すよう、振幅基準値Vrefが規定範囲R2にあれば、制御部50は、ステップS15で初期設定された絶縁抵抗異常閾値Vth0と、ステップS17の振幅基準値Vrefとの差を、振幅差ΔVとして設定する(ステップS19)。
図2のステップS2では、制御部50は、通常検査タイミングになったかを判別し、通常検査タイミングであれば、ステップS3で通常検査処理を実行する。通常検査タイミングは、例えば、例えば車両などの動作中も含めて比較的に高い頻度で設定される。
通常検査処理では、図4に示すように、制御部50は、遮断スイッチSWBを開とし(ステップS20)、信号処理部20に検査信号の出力と入力とを行わせて、振幅基準値Vrefを測定する(ステップS21)。ここで、自己診断スイッチSW1,SW2は開のままである。
図9の検査信号Sig3、Sig5に示すように、複数回の通常検査処理で、複数回の検査信号の振幅基準値Vrefを測定すると、振幅基準値Vrefは変化する。これは、信号処理部20の経年劣化又は温度特性による特性変化に起因する。
制御部50は、ステップS21で得た振幅基準値Vrefから、図3のステップS19で設定した振幅差ΔVを減算して、修正された絶縁抵抗異常閾値Vthを算出する(ステップS22)。
図9に示すように、複数回の通常検査処理で振幅基準値Vrefが変化すると、振幅差ΔVは一定なので、絶縁抵抗異常閾値Vthも変化する。例えば、信号処理部20の温度特性による特性変化があって、信号出力部21が出力する検査信号の出力振幅が小さくなれば、これに応じて絶縁抵抗異常閾値Vthも低く修正される。
次いで、制御部50は、遮断スイッチSWBを閉とし(ステップS23)、信号処理部20に検査信号の出力と入力とを行わせ(ステップS24)、入力された検査信号の振幅と絶縁抵抗異常閾値Vthとを比較する(ステップS25)。その結果、閾値Vthより振幅が小さければ、絶縁抵抗140が劣化したと判断して、異常の報知を行って(ステップS26)、処理を終了する。絶縁抵抗異常閾値Vthより振幅が大きければ、正常と判断する。
図9の検査信号Sig4,Sig6に示すように、複数回の通常検査処理で絶縁抵抗異常閾値Vthが変化すると、変化した閾値Vthに基づき比較が行われて、絶縁抵抗140の劣化が判断される。絶縁抵抗140の大きさが変わらなくても、信号処理部20の経年劣化または温度特性による特性変化があれば、入力された検査信号Sig4,Sig6の振幅が変化する場合がある。しかし、信号処理部20の変化に応じて、絶縁抵抗異常閾値Vthが変化するので、絶縁抵抗140の劣化を正確に判定できる。
ステップS25で正常と判断された場合には、制御部50は、振幅値から絶縁抵抗140の抵抗値を算出する(ステップS27)。抵抗値は、ステップS21(遮断スイッチSWBが開)で測定した振幅基準値Vrefと、ステップS24(遮断スイッチSWBが閉)で測定した検査信号の振幅値とを用いて補正される。これにより、信号処理部20の経年変化または温度特性による変化があっても、正確な絶縁抵抗140の抵抗値を算出することができる。なお、本実施形態では、制御部50は、正常と判断された場合に振幅値から絶縁抵抗140の抵抗値を算出したが、ステップS25で異常と判断された場合にも算出するようにしてもよい。
図2のステップS4では、振幅差ΔVの更新タイミングになったか判別され、このタイミングであれば、ステップS5の振幅差ΔVの更新処理が実行される。更新タイミングは、通常検査タイミングと比較して非常に低い頻度に設定される。
振幅差ΔVの更新処理では、図5に示すように、制御部50は、遮断スイッチSWBを開、第1自己診断スイッチSW1を閉とし(ステップS30)、信号処理部20に検査信号の出力と入力とを行わせる(ステップS31)。そして、このときの検査信号の振幅値を絶縁抵抗異常の閾値Vth0として設定する(ステップS32)。
次に、制御部50は、遮断スイッチSWBを開、第1自己診断スイッチSW1を開とし(ステップS33)、信号処理部20に検査信号の出力と入力とを行わせる(ステップS34)。そして、このときの検査信号の振幅値を振幅基準値Vrefとして設定する(ステップS35)。
続いて、制御部50は、ステップS35の振幅基準値Vrefから絶縁抵抗異常閾値Vth0を減算して、振幅差ΔVとして更新する(ステップS36)。
この振幅差ΔVの更新処理により、第1自己診断回路30(例えば抵抗31又は第1自己診断スイッチSW1のオン抵抗など)に、僅かな変化が生じたときに、この補正を行うことができる。
図2のステップS6では、第2自己診断タイミングになったか判別され、このタイミングであれば、ステップS7の第2自己診断の処理が実行される。第2自己診断タイミングは、通常検査タイミングと比較して非常に低い頻度に設定される。第2自己診断タイミングは、車両に搭乗者がいないときに設定されるとよい。
第2自己診断タイミングでは、図6に示すように、制御部50は、遮断スイッチSWBを閉(ステップS40)、第2自己診断スイッチSW2を閉とし(ステップS41)、信号処理部20に検査信号の出力と入力とを行わせる(ステップS42)。ここで、第1自己診断スイッチSW1は開のままである。
ここで、検査信号は、一部が検出抵抗22、ハーネスh1、カップリングコンデンサC1、遮断スイッチSWB、高電圧系回路、ハーネスh2、カップリングコンデンサC2、抵抗41、および、第1自己診断スイッチSW1を通って接地点に流れる。また、検査信号の残りが信号入力部23に入力される。よって、図10に示すように、信号入力部23に入力された検査信号Sig7の振幅は、主に検出抵抗22と抵抗41とによって決定される大きさとなる。よって、検査信号Sig7の振幅が、許容誤差を含めた規定範囲R3にあれば、第2の自己診断が正常であると判断できる。
制御部50は、検査信号の振幅が規定範囲にあるか判別し(ステップS43)、振幅が規定範囲にあれば正常とみなし、振幅が規定範囲になければ、第2の自己診断が異常とみなす。第2の自己診断が異常となる場合は、ハーネスh1の断線、遮断スイッチSWBのオープン故障、カップリングコンデンサC1,C2の容量劣化などが原因として含まれる。異常と判定された場合には、異常の報知を行い(ステップS44)、処理を終了する。
以上のように、実施形態の異常検査装置によれば、信号処理部20の経年劣化または温度特性による変化があっても、この変化に応じて絶縁抵抗異常閾値Vthを修正して、正確な絶縁抵抗140の劣化判断を行うことができる。
また、第2自己診断回路40により、ハーネスh1、遮断スイッチSWB、カップリングコンデンサC1の異常が生じていないか自己診断を行うことができる。
(実施形態2)
図11は、高電圧系回路と実施形態2の異常検出装置とを示す回路図である。
実施形態2の異常検出装置は、第2自己診断回路40の接続先を異ならせた例である。実施形態1と同様の構成は、同一符号を振って、詳細な説明を省略する。
第2自己診断回路40は、ハーネスh2aを介して、高電圧系回路100の陰極に接続されている。ハーネスh2aと、信号処理回路20を高電圧系回路100と接続するハーネスh1とは、別のハーネスを用いている。
このような接続としても、第2の自己診断処理により、ハーネスh1、遮断スイッチSWB、カップリングコンデンサC1の異常を検出することができる。
(実施形態3)
図12は、フライングキャパシタ方式の電圧測定部を有する高電圧系回路に適用した実施形態3の異常検出装置を示す回路図である。
図12の高電圧系回路100Aは、電池130の電圧を測定する測定部として、電池電圧を保持するフライングキャパシタであるキャパシタC10と、キャパシタC10の電圧を測定部に伝えるためのスイッチSW12a,SW12bと、キャパシタC10の電圧を測定するためのアンプ150および信号入力部152とを有している。また、高電圧系回路100Aは、電池130の各ブロック130a,130bの電圧をキャパシタC10に個別に伝えるためのスイッチSW10a,SW10b、SW11a,SW11bを有している。
実施形態3の異常検出装置は、実施形態1の遮断スイッチSWBとして、スイッチSW10bを流用している。その他の構成は、実施形態1と同様である。
このような構成によれば、新たに遮断スイッチSWBを追加せずに、実施形態1の作用効果を得ることができる。
以上、本発明の各実施の形態について説明した。
なお、上記実施の形態では、検査信号の大きさとして、振幅を適用した例を説明したが、電力値または電流値などを用いて信号の大きさを表してもよい。また、検査信号の波形は矩形波、正弦波、その他の種々な波形など、適宜選定可能である。また、高電圧系回路の負荷および電池の種類は適宜変更可能である。
また、上記実施の形態では、第1自己診断回路30を用いて絶縁抵抗異常閾値Vth0の初期設定と、振幅差ΔVの算出とを行っているが、絶縁抵抗異常閾値の初期値および振幅差の一方または両方を固定としたり、或いは、別の方法で算出したりしてもよい。
また、上記実施の形態では、ステップS24,S25の絶縁抵抗異常の検出処理の際に、ステップS22の絶縁抵抗異常閾値Vthの補正を毎回行う構成を示したが、補正の頻度は少なくしてもよい。
また、上記実施の形態では、第2自己診断回路40、および、第2自己診断処理(図2のS7)を含んだ構成としているが、これらは省いてもよい。
本発明は、高電圧系回路の絶縁抵抗異常を検出する異常検出装置に適用できる。
10 異常検出回路
20 信号処理部
21 信号出力部
22 検出抵抗
23 信号入力部
24 フィルタ部
30 第1自己診断回路
31 抵抗
SW1 第1自己診断スイッチ
40 第2自己診断回路
41 抵抗
SW2 第2自己診断スイッチ
SWB 遮断スイッチ
C1,C2 カップリングコンデンサ
50 制御部
h1,h2,h2a ハーネス(第1の電線、第2の電線)
100,100A 高電圧系回路
120 負荷
130 電池
140 絶縁抵抗
Sig1〜Sig7 検査信号
Vref 振幅基準値
ΔV 振幅差
Vth0,Vth 絶縁抵抗異常閾値

Claims (6)

  1. 検査信号を出力する信号出力部、および、出力された前記検査信号を入力する信号入力部を有する信号処理部と、
    負荷および電池を有する高電圧系回路と前記信号処理部とを接続するカップリングコンデンサと、
    前記信号処理部と前記高電圧系回路との接続を開閉する遮断スイッチと、
    異常検出の制御を行う制御部と、
    を備え、
    前記制御部は、
    前記遮断スイッチが閉のときに前記信号処理部に前記検査信号の出力と入力とを行わせ、入力された前記検査信号の大きさと絶縁抵抗異常を示す閾値との比較に基づいて前記高電圧系回路の絶縁抵抗異常を検査し、
    前記遮断スイッチが開のときに前記信号処理部に前記検査信号の出力と入力とを行わせ、入力された前記検査信号の大きさに基づいて前記閾値を修正する、
    異常検出装置。
  2. 前記信号処理部には、開閉して、開のときに、前記信号出力部と前記信号入力部との間から抵抗に信号を流す第1の自己診断スイッチを備え、
    前記制御部は、
    前記遮断スイッチを開、前記第1の自己診断スイッチを閉として、前記信号処理部に前記検査信号の出力と入力とを行わせ、入力された前記検査信号の大きさに基づいて、前記閾値を初期設定する、
    請求項1記載の異常検出装置。
  3. 前記制御部は、
    前記遮断スイッチを開、前記第1の自己診断スイッチを開として、前記信号処理部に前記検査信号の出力と入力とを行わせ、入力された前記検査信号の大きさを基準値とし、
    前記基準値が変化した場合に、変化に応じて前記閾値を修正する、
    請求項2記載の異常検出装置。
  4. 前記制御部は、前記基準値と前記検査信号の振幅値に基づいて絶縁抵抗値を算出する
    請求項3記載の異常検出装置。
  5. 前記電池の電圧を測定する測定部と前記電池との接続を開閉するスイッチを備え、
    前記遮断スイッチは前記スイッチと兼用されている、
    請求項1記載の異常検出装置。
  6. 前記電池の電圧を保持するフライングキャパシタをさらに備え、前記スイッチは、前記フライングキャパシタに前記電池の電圧を伝える、
    請求項5記載の異常検出装置。
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