JP2016016051A5 - - Google Patents

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本実施形態に係るMRI装置は、RF信号を増幅してRFコイルに出力する増幅器と、前記増幅器の非線形入出力特性を補償するように、前記増幅器に入力されるRF信号のエンベロープを補正するエンベロープ補正部と、備え、前記エンベロープ補正部は、撮像条件ごとに準備された複数の補正情報の中から、前記補正に用いる補正情報を選択して、選択した前記補正情報を用いて補正を行う

Claims (14)

  1. RF信号を増幅してRFコイルに出力する増幅器と、
    前記増幅器の非線形入出力特性を補償するように、前記増幅器に入力されるRF信号のエンベロープを補正するエンベロープ補正部と、
    を備え、
    前記エンベロープ補正部は、撮像条件ごとに準備された複数の補正情報の中から、前記補正に用いる補正情報を選択して、選択した前記補正情報を用いて補正を行う、
    MRI装置。
  2. 前記撮像条件は、パルスシーケンスにおけるRF信号のデューティ比である、
    請求項1に記載のMRI装置。
  3. 前記撮像条件は、パルスシーケンスの種類である、
    請求項1に記載のMRI装置。
  4. 前記撮像条件は、パルスシーケンスにおけるRF信号の出力間隔である、
    請求項1に記載のMRI装置。
  5. 前記エンベロープ補正部は、シーケンサから前記RF信号の波形情報と共に前記撮像条件に関する情報を受け取り、前記補正に用いる補正情報を選択する、
    請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載のMRI装置。
  6. 前記増幅器から出力された出力RF信号を検波し、検出RF信号として出力する検波器をさらに備え、
    前記増幅器には、デジタル信号に基づいて生成される基準RF信号が入力され、前記基準RF信号を増幅して前記出力RF信号を前記RFコイルに出力し、
    前記エンベロープ補正部は、被検体の撮影時に出力される前記出力RF信号のエンベロープが前記基準RF信号のエンベロープと一致するように、前記選択した補正情報を用いて前記増幅器に入力される前記基準RF信号のエンベロープを補正す
    請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のMRI装置。
  7. 前記被検体の撮影前に、前記基準RF信号と前記検出RF信号との差から前記増幅器のゲインリニアリティを測定するリニアリティ測定部をさらに備え、
    前記複数の補正情報のそれぞれは、前記ゲインリニアリティの測定結果に基づいて生成される
    請求項に記載のMRI装置。
  8. 前記撮像条件ごとに異なる前記ゲインリニアリティに基づいて、前記撮像条件ごとに前記増幅器の非線形入出力特性を補償する補正関数を、前記複数の補正情報のそれぞれとして生成する補正関数生成部をさらに備え、
    前記エンベロープ補正部は、前記補正に用いる補正関数を選択して、選択した前記補正関数を用いて前記基準RF信号を補正する、
    請求項に記載のMRI装置。
  9. 前記撮像条件ごとに異なる前記ゲインリニアリティに基づいて、前記撮像条件ごとに前記増幅器の非線形入出力特性を補償する補正テーブルを、前記複数の補正情報のそれぞれとして生成する補正テーブル生成部をさらに備え、
    前記エンベロープ補正部は、前記補正に用いる補正テーブルを選択して、選択した前記補正テーブルを用いて前記基準RF信号を補正する、
    請求項に記載のMRI装置。
  10. 前記補正関数生成部は、前記基準RF信号のデューティ比に応じて複数の異なる前記補正関数を生成する、
    ことを特徴とする請求項に記載のMRI装置。
  11. 前記補正テーブル生成部は、前記基準RF信号のデューティ比に応じて複数の異なる前記補正テーブルを生成する、
    ことを特徴とする請求項に記載のMRI装置。
  12. 前記補正関数生成部は、前記撮影時において実行されるパルスシーケンスの種類に応じて複数の異なる前記補正関数を生成する、
    請求項に記載のMRI装置。
  13. 前記補正テーブル生成部は、前記撮影時において実行されるパルスシーケンスの種類に応じて複数の異なる前記補正テーブルを生成する、
    請求項に記載のMRI装置。
  14. 前記リニアリティ測定部は、前記MRI装置の据え付け時、被検体の撮影前に行われるプリスキャン時、および、前記被検体を撮影するためのパルスシーケンスが実行される直前、のうち少なくともいずれか1つのタイミングで、前記複数の補正情報を生成する、
    請求項乃至13のいずれか1項に記載のMRI装置。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105717471B (zh) * 2016-02-03 2018-05-11 惠仁望都医疗设备科技有限公司 一种磁共振射频激发能量自动校正的方法
JP7169795B2 (ja) * 2018-07-11 2022-11-11 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 磁気共鳴イメージング装置および高周波増幅回路
KR102258269B1 (ko) * 2019-03-07 2021-05-31 주식회사 지에스인스텍 자기공명영상장치의 무선주파수 전력증폭장치
CN112285620B (zh) * 2019-07-24 2024-09-06 通用电气精准医疗有限责任公司 Rf发射系统和方法、mri系统及其预扫描方法以及存储介质
JP7406937B2 (ja) * 2019-08-07 2023-12-28 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 磁気共鳴イメージング装置及びコイルユニット
CN113534018A (zh) * 2020-04-14 2021-10-22 通用电气精准医疗有限责任公司 射频放大器的线性补偿方法与装置以及磁共振成像系统

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4327834A (en) * 1980-08-01 1982-05-04 O. K. Partnership Document retrieval system
JPH02297338A (ja) * 1989-05-11 1990-12-07 Yokogawa Medical Syst Ltd Mri装置
JPH02305548A (ja) 1989-05-18 1990-12-19 Toshiba Corp Mri装置の送信系
JPH04292139A (ja) * 1991-03-20 1992-10-16 Hitachi Ltd 核磁気共鳴イメージング装置
JPH04327834A (ja) * 1991-04-30 1992-11-17 Shimadzu Corp 磁気共鳴イメージング装置
JPH0560849A (ja) * 1991-09-05 1993-03-12 Jeol Ltd 関数パルス発生装置
JPH11253416A (ja) * 1998-03-09 1999-09-21 Toshiba Corp 磁気共鳴イメージング装置
JP2003000567A (ja) * 2001-06-25 2003-01-07 Toshiba Corp 磁気共鳴イメージング装置
US8461842B2 (en) * 2003-07-18 2013-06-11 Mks Instruments, Inc. Methods and systems for stabilizing an amplifier
DE102004002009B4 (de) * 2004-01-14 2006-07-06 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb eines Magnetresonanzsystems, Magnetresonanzsystem und Computerprogrammprodukt
US7382128B2 (en) * 2006-02-24 2008-06-03 Kenergy, Inc. Magnetic resonance imaging system with a Class-E radio frequency amplifier
CN101675354A (zh) 2007-05-04 2010-03-17 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于mri的具有数字反馈的rf发射器
JP5611661B2 (ja) * 2009-06-04 2014-10-22 株式会社東芝 磁気共鳴イメージング装置

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