JP2015536551A - 小型x線源のためのファームウェアを介した動的に調整可能なフィラメント制御 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (28)
- X線ビーム制御システムであって、
変調回路を含み、制御信号を生成するフィードバック制御ループ回路と、
管電流対フィラメント温度の非線形なフィラメント応答プロファイルを有するX線管と、
前記制御信号を受け取り、且つ前記フィラメント応答プロファイルとマッチングされた補償関数に従って前記制御信号を修正する補償回路と、を含み、
前記変調回路は、修正された制御信号を受け取り、駆動信号を生成し、
前記X線管は、そのフィラメントにおいて前記駆動信号を受け取り、前記制御信号に対して線形応答を有する管電流信号を出力し、
前記フィードバック制御ループ回路は、前記管電流信号を受け取る、X線ビーム制御システム。 - 前記フィードバック制御ループ回路は、PID制御ループ回路である、請求項1に記載のX線ビーム制御システム。
- 前記変調回路は、パルス幅変調回路である、請求項1に記載のX線ビーム制御システム。
- 前記補償関数は、前記フィラメント応答プロファイルとマッチングされた逆伝達関数である、請求項1に記載のX線ビーム制御システム。
- 前記補償回路は、前記X線管の前記フィラメント応答プロファイルを測定する、且つ前記補償関数を導き出すコントローラを含み、
前記コントローラは、前記補償関数に従って、修正された制御信号を生成する、請求項1に記載のX線ビーム制御システム。 - 前記コントローラは、前記補償関数の値をルックアップテーブルに記憶するメモリを含む、請求項5に記載のX線ビーム制御システム。
- 高電流フィラメント及び精密電流フィラメントを含む群から選択されるモード設定を更に含む、請求項1に記載のX線ビーム制御システム。
- 前記コントローラは、異なる時間に前記X線管の第1及び第2のフィラメント応答プロファイルを取得し、
前記コントローラは、前記第1のフィラメント応答プロファイル及び前記第2のフィラメント応答プロファイルを受け取って比較し且つフィラメントの健全性指標を生成するコンパレータを更に含む、請求項5に記載のX線ビーム制御システム。 - 前記変調回路は、一連のデューティサイクル信号を前記X線管に印加し、
前記コントローラは、前記第1及び前記第2のフィラメント応答プロファイルを記憶する、請求項8に記載のX線ビーム制御システム。 - 前記コントローラによる前記X線管の第1及び第2のフィラメント応答プロファイルの取得がユーザ起動される、請求項8に記載のX線ビーム制御システム。
- 前記コントローラによる第1及び第2の電流フィラメント応答プロファイルの取得が所定の動作間隔で行われる、請求項8に記載のX線ビーム制御システム。
- サンプルの組成を分析するための携帯分光計であって、
手持ち式ハウジングを備え、この手持ち式ハウジングは、
変調回路を含み、制御信号を生成するフィードバック制御ループ回路を含む回路と、
管電流対フィラメント温度の非線形なフィラメント応答プロファイルを有し、前記サンプルの少なくとも一部における点を照明するための貫通放射ビームを生成し、それによって、前記サンプルからの応答信号を生成するX線管と、
前記制御信号を受け取り、且つ前記フィラメント応答プロファイルとマッチングされた補償関数に従って前記制御信号を修正する補償回路と、
前記応答信号を受け取り、出力信号を生成する検出器と、
前記出力信号を受け取り分析するスペクトル分析器と、を収容し、
前記変調回路は、修正された制御信号を受け取り、駆動信号を生成し、
前記X線管は、そのフィラメントにおいて前記駆動信号を受け取り、前記制御信号に対して線形応答を有する管電流信号を出力し、
前記フィードバック制御ループ回路は、前記管電流信号を受け取る、携帯分光計。 - 高電流フィラメント及び精密電流フィラメントを含む群から選択されるモード設定を更に含む、請求項12に記載の携帯分光計。
- 前記補償関数は、前記非線形な応答とマッチングされた逆伝達関数である、請求項12に記載の携帯分光計。
- 前記補償回路は、前記X線管の前記フィラメント応答プロファイルを測定する、且つ前記補償関数を導き出すコントローラを含み、
前記コントローラは、前記補償関数に従って、修正された制御信号を生成する、請求項12に記載の携帯分光計。 - 前記コントローラは、前記補償伝達関数の値をルックアップテーブルに記憶するメモリを含む、請求項15に記載の携帯分光計。
- 高電流フィラメント及び精密電流フィラメントを含む群から選択されるパラメータであるモード設定を更に含み、
各モード設定用に、補償関数が、前記フィラメント応答プロファイル及び前記パラメータとマッチングする、請求項12に記載の携帯分光計。 - 前記コントローラは、異なる時間に前記X線管の第1及び第2のフィラメント応答プロファイルを取得し、
前記制御システムは、前記第1のフィラメント応答プロファイル及び前記第2のフィラメント応答プロファイルを受け取って比較し且つフィラメントの健全性指標を生成するコンパレータを更に含む、ことを更に含む請求項12に記載の携帯分光計。 - 前記変調回路は、一連のデューティサイクル信号を前記X線管に印加し、
前記コントローラは、前記第1及び前記第2のフィラメント応答プロファイルを記憶する、請求項18に記載の携帯分光計。 - 前記コントローラによる前記X線管の第1及び第2のフィラメント応答プロファイルの取得がユーザ起動される、請求項18に記載の携帯分光計。
- 前記コントローラによる第1及び第2の電流フィラメント応答プロファイルの取得が所定の動作間隔で行われる、請求項18に記載の携帯分光計。
- X線ビーム制御システムを制御するための方法であって、
フィードバック制御ループによって制御信号を生成するステップと、
X線管用に、管電流対フィラメント温度の非線形なフィラメント応答プロファイルを取得するステップと、
前記フィラメント応答プロファイルとマッチングされた補償関数に従って、前記制御信号を修正するステップと、
修正された制御信号に応じて駆動信号を生成するステップと、
前記X線管のフィラメントにおいて前記駆動信号を受け取るステップと、
前記X線管が、前記制御信号に対して線形応答を有する管電流を出力するステップと、
前記フィードバック制御ループ回路によって前記管電流信号を受け取るステップと、
を含む方法。 - 前記補償関数は、前記フィラメント応答プロファイルとマッチングされた逆伝達関数である、請求項22に記載のX線ビーム制御システムを制御するための方法。
- 管電流対フィラメント温度のフィラメント応答プロファイルを取得するステップは、
前記X線管の前記フィラメント応答プロファイルを測定するステップと、
前記補償関数を導き出すステップと、
を含む、請求項22に記載のX線ビーム制御システムを制御するための方法。 - 前記補償関数の値をルックアップテーブルに記憶するステップを含む、請求項22に記載のX線ビーム制御システムを制御するための方法。
- 前記X線管の第1及び第2のフィラメント応答プロファイルを異なる時間に取得するステップと、
前記第1のフィラメント応答プロファイルと前記第2のフィラメント応答プロファイルを比較するステップと、
フィラメントの健全性指標を生成するステップと、
を更に含む、請求項22に記載のX線ビーム制御システムを制御するための方法。 - 第1及び第2のフィラメント応答プロファイルを異なる時間に取得するステップが、
一連のデューティサイクル信号を前記X線管に印加するステップと、
前記第1及び前記第2のフィラメント応答プロファイル、並びに前記第1及び前記第2のフィラメント応答プロファイルとマッチングされた補償関数を記憶するステップと、
を含む、請求項26に記載のX線ビーム制御システムを制御するための方法。 - プロセッサにX線ビーム制御システムを制御する動作を実行させるための機械可読命令のプログラムを記憶する非一時的なコンピュータ可読記憶媒体であって、前記動作が、
前記X線ビーム制御システムのフィードバック制御ループによって制御信号を生成するステップと、
前記X線ビーム制御システムのX線管用に、管電流対フィラメント温度の非線形なフィラメント応答プロファイルを取得するステップと、
前記フィラメント応答プロファイルとマッチングされた補償関数に従って、前記制御信号を修正するステップと、
修正された制御信号に応じて駆動信号を生成するステップと、
前記X線管のフィラメントにおいて前記駆動信号を受け取るステップと、
前記X線管により前記制御信号に対して線形応答を有する管電流を出力するステップと、
前記フィードバック制御ループによって前記管電流信号を受け取るステップと、
を含む、非一時的なコンピュータ可読記憶媒体。
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